JP3534894B2 - 連続検査精整ラインにおける間ピッチ制御方法および装置 - Google Patents
連続検査精整ラインにおける間ピッチ制御方法および装置Info
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- JP3534894B2 JP3534894B2 JP12178495A JP12178495A JP3534894B2 JP 3534894 B2 JP3534894 B2 JP 3534894B2 JP 12178495 A JP12178495 A JP 12178495A JP 12178495 A JP12178495 A JP 12178495A JP 3534894 B2 JP3534894 B2 JP 3534894B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、各種材料について検査
あるいは精整の複数工程を連続して行う連続検査精整ラ
インにおいて、材料供給の間ピッチを制御する方法およ
び装置に関するものである。
あるいは精整の複数工程を連続して行う連続検査精整ラ
インにおいて、材料供給の間ピッチを制御する方法およ
び装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】各種材料の製造工程において、材質検査
や欠陥検出等の検査工程、および研磨や切断等を行う精
整工程には、多くの種類があり、材料に応じて、各種検
査や精整工程を組合わせた作業が行われる。このような
作業の効率化のため、各検査装置あるいは精整装置の前
後に給材装置および払出装置を設けて検査精整設備を構
成し、材料に応じて、必要な検査精整設備を通すことが
行われる。
や欠陥検出等の検査工程、および研磨や切断等を行う精
整工程には、多くの種類があり、材料に応じて、各種検
査や精整工程を組合わせた作業が行われる。このような
作業の効率化のため、各検査装置あるいは精整装置の前
後に給材装置および払出装置を設けて検査精整設備を構
成し、材料に応じて、必要な検査精整設備を通すことが
行われる。
【０００３】検査装置や精整装置には単一のもののほ
か、複数の検査装置、複数の精整装置、あるいは検査装
置と精整装置を組合わせて連続的に配置したものもあ
り、本明細書では、これらを総称して検査精整装置とい
う。そして、その前後に給材装置および払出装置を設け
たものを、検査精整設備という。また、これら検査精整
設備を複数連続して配置したものを、連続検査精整ライ
ンという。
か、複数の検査装置、複数の精整装置、あるいは検査装
置と精整装置を組合わせて連続的に配置したものもあ
り、本明細書では、これらを総称して検査精整装置とい
う。そして、その前後に給材装置および払出装置を設け
たものを、検査精整設備という。また、これら検査精整
設備を複数連続して配置したものを、連続検査精整ライ
ンという。
【０００４】このような連続検査精整ラインの例を図２
に示す。材料は、まず検査精整設備Ａの給材装置１に供
給され、検査精整装置２および払出装置３を順に搬送さ
れて処理される。ついで検査精整設備Ｂの給材装置１、
検査精整装置２および払出装置３を搬送され、さらに検
査精整設備Ｃの給材装置１、検査精整装置２および払出
装置３を搬送されて、それぞれの処理が行われる。図２
において、検査精整設備Ｂには、検査精整装置２が２種
あり、払出装置３の下流側にリジェクト材搬出装置４が
設けてある。
に示す。材料は、まず検査精整設備Ａの給材装置１に供
給され、検査精整装置２および払出装置３を順に搬送さ
れて処理される。ついで検査精整設備Ｂの給材装置１、
検査精整装置２および払出装置３を搬送され、さらに検
査精整設備Ｃの給材装置１、検査精整装置２および払出
装置３を搬送されて、それぞれの処理が行われる。図２
において、検査精整設備Ｂには、検査精整装置２が２種
あり、払出装置３の下流側にリジェクト材搬出装置４が
設けてある。
【０００５】ところで、各検査精整装置２の処理能力は
異なり、また、つぎつぎに供給され順番に搬送される材
料の種類やサイズが変動することもあるため、ライン全
体の処理能力を最も効率的に発揮させることを目的とし
て、シーケンサにより最適な間ピッチの設定制御が行わ
れる。すなわち、各検査精整設備Ａ，Ｂ，Ｃにおいて、
先行材と次行材が干渉することなく、給材、検査精整お
よび払出の作業が行えるための、材料供給時間間隔の最
短時間を設定し、その制御が行われる。
異なり、また、つぎつぎに供給され順番に搬送される材
料の種類やサイズが変動することもあるため、ライン全
体の処理能力を最も効率的に発揮させることを目的とし
て、シーケンサにより最適な間ピッチの設定制御が行わ
れる。すなわち、各検査精整設備Ａ，Ｂ，Ｃにおいて、
先行材と次行材が干渉することなく、給材、検査精整お
よび払出の作業が行えるための、材料供給時間間隔の最
短時間を設定し、その制御が行われる。
【０００６】連続検査精整ラインの各検査精整設備Ａ，
Ｂ，Ｃにおいて、例えば材料の長さ方向に検査あるいは
精整が行われる場合の間ピッチ制御は、つぎのようにし
て行われる。給材所要時間Ｔs 、検査精整所要時間Ｔk
、および払出所要時間Ｔe を、材料の長さＬと、材料
のサイズ情報より決定される各設備の搬送速度Ｖからそ
れぞれ演算し、各設備Ａ，Ｂ，Ｃについて、 Ｔs ＝（Ｌ／α1 Ｖ）＋Ｋ1 （１） Ｔk ＝（Ｌ／Ｖ）＋Ｋ2 （２） Ｔe ＝（Ｌ／α2 Ｖ）＋Ｋ3 （３） を求める。ここで、 Ｔs ：給材所要時間；給材装置から搬送装置に切出し移
載開始されてから、次行材が切出し移載開始可能となる
までの時間 Ｔk ：検査精整所要時間；先行材が検査精整装置に進入
開始してから次行材が進入開始可能となるまでの時間 Ｔe ：払出所要時間；先行材が払出し位置に進入開始し
てから、払出しの移載動作が終了し、次行材が進入可能
となるまでの時間 Ｋ1 ：給材装置から搬送装置（キッカー、トランスファ
ー、ウォーキングビーム等）に切出し移載する所要時間 Ｋ2 ：検査精整装置の機長分搬送する所要時間 Ｋ3 ：搬送装置から払出装置に切出し移載する所要時間 Ｌ ：材料長さ Ｖ ：検査精整装置通過時の材料搬送速度 α1 ：先行材と次行材の材料間隔を詰めるための搬送速
度のリード率 α2 ：払出移載時間Ｋ3 を確保するための搬送速度のリ
ード率 である。
Ｂ，Ｃにおいて、例えば材料の長さ方向に検査あるいは
精整が行われる場合の間ピッチ制御は、つぎのようにし
て行われる。給材所要時間Ｔs 、検査精整所要時間Ｔk
、および払出所要時間Ｔe を、材料の長さＬと、材料
のサイズ情報より決定される各設備の搬送速度Ｖからそ
れぞれ演算し、各設備Ａ，Ｂ，Ｃについて、 Ｔs ＝（Ｌ／α1 Ｖ）＋Ｋ1 （１） Ｔk ＝（Ｌ／Ｖ）＋Ｋ2 （２） Ｔe ＝（Ｌ／α2 Ｖ）＋Ｋ3 （３） を求める。ここで、 Ｔs ：給材所要時間；給材装置から搬送装置に切出し移
載開始されてから、次行材が切出し移載開始可能となる
までの時間 Ｔk ：検査精整所要時間；先行材が検査精整装置に進入
開始してから次行材が進入開始可能となるまでの時間 Ｔe ：払出所要時間；先行材が払出し位置に進入開始し
てから、払出しの移載動作が終了し、次行材が進入可能
となるまでの時間 Ｋ1 ：給材装置から搬送装置（キッカー、トランスファ
ー、ウォーキングビーム等）に切出し移載する所要時間 Ｋ2 ：検査精整装置の機長分搬送する所要時間 Ｋ3 ：搬送装置から払出装置に切出し移載する所要時間 Ｌ ：材料長さ Ｖ ：検査精整装置通過時の材料搬送速度 α1 ：先行材と次行材の材料間隔を詰めるための搬送速
度のリード率 α2 ：払出移載時間Ｋ3 を確保するための搬送速度のリ
ード率 である。
【０００７】つぎに、この３つの値を比較して最も大き
な値Ｔm を求める。得られたＴm が、その検査精整設備
の最短間ピッチとして登録される。そして、図２のよう
な連続検査精整ラインにおける各検査精整設備Ａ，Ｂ，
Ｃの最短間ピッチＴma，Ｔmb，Ｔmcのうち、最大の値
が、先行材と次行材がライン内で干渉しないための、最
初の検査精整設備Ａへの給材の最短間ピッチＰとして設
定される。
な値Ｔm を求める。得られたＴm が、その検査精整設備
の最短間ピッチとして登録される。そして、図２のよう
な連続検査精整ラインにおける各検査精整設備Ａ，Ｂ，
Ｃの最短間ピッチＴma，Ｔmb，Ｔmcのうち、最大の値
が、先行材と次行材がライン内で干渉しないための、最
初の検査精整設備Ａへの給材の最短間ピッチＰとして設
定される。
【０００８】従来の間ピッチ制御においては、以上の演
算処理を、シーケンサにおいて行っており、各検査精整
設備Ａ，Ｂ，Ｃそれぞれに個別の演算プログラムを使用
していた。そのフローの例を示すと、図４のように、検
査精整設備ＡについてはプログラムＡにより、給材所要
時間Ｔsa、検査精整所要時間Ｔka、払出所要時間Ｔea
を、それぞれ演算してその最大時間Ｔmaを決定し、検査
精整設備ＢおよびＣについても、それぞれプログラムＢ
およびＣにより演算して、最大時間ＴmbおよびＴmcを決
定する。そして、Ｔma，Ｔmb，Ｔmcを比較して、最大の
値Ｔm を最短間ピッチとし、これを最初の検査精整設備
Ａへの間ピッチＰとして設定していた。
算処理を、シーケンサにおいて行っており、各検査精整
設備Ａ，Ｂ，Ｃそれぞれに個別の演算プログラムを使用
していた。そのフローの例を示すと、図４のように、検
査精整設備ＡについてはプログラムＡにより、給材所要
時間Ｔsa、検査精整所要時間Ｔka、払出所要時間Ｔea
を、それぞれ演算してその最大時間Ｔmaを決定し、検査
精整設備ＢおよびＣについても、それぞれプログラムＢ
およびＣにより演算して、最大時間ＴmbおよびＴmcを決
定する。そして、Ｔma，Ｔmb，Ｔmcを比較して、最大の
値Ｔm を最短間ピッチとし、これを最初の検査精整設備
Ａへの間ピッチＰとして設定していた。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】連続検査精整ラインに
おけるこのような従来の間ピッチ制御では、シーケンス
プログラムの設計に際して、複数の検査精整設備それぞ
れに対して最短間ピッチの演算プログラムを組込む必要
があり、連続して行う検査精整設備が多くなるにつれ
て、シーケンサに対するプログラムのボリュームが大き
くなり、コストおよび演算処理時間が増大するという問
題があった。
おけるこのような従来の間ピッチ制御では、シーケンス
プログラムの設計に際して、複数の検査精整設備それぞ
れに対して最短間ピッチの演算プログラムを組込む必要
があり、連続して行う検査精整設備が多くなるにつれ
て、シーケンサに対するプログラムのボリュームが大き
くなり、コストおよび演算処理時間が増大するという問
題があった。
【００１０】本発明は、給材と検査精整と払出が順に行
われる検査精整設備が複数連続して配置された連続検査
精整ラインにおいて、各設備の最短間ピッチを演算し、
切り出しタイミングを制御するにあたり、プログラムの
ボリュームを増大することなく、制御を行うための方法
および装置を提供することを目的とする。
われる検査精整設備が複数連続して配置された連続検査
精整ラインにおいて、各設備の最短間ピッチを演算し、
切り出しタイミングを制御するにあたり、プログラムの
ボリュームを増大することなく、制御を行うための方法
および装置を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明方法は、給材と検査精整と払出が順に行われる
検査精整設備が複数連続して配置された連続検査精整ラ
インの制御方法であって、ライン全体の材料の動作を制
御するシーケンサを設けるとともに、間ピッチ用コンピ
ュータを設け、該コンピュータにおいて、前記各検査精
整設備に共通の最短間ピッチ演算プログラムにより、前
記シーケンサの内部データを使用して、前記各検査精整
設備の最短間ピッチを求め、得られた各最短間ピッチの
うち最大の値を、最初の検査精整設備における給材の間
ピッチとして、前記シーケンサに設定することを特徴と
する、連続検査精整ラインにおける間ピッチ制御方法で
ある。
の本発明方法は、給材と検査精整と払出が順に行われる
検査精整設備が複数連続して配置された連続検査精整ラ
インの制御方法であって、ライン全体の材料の動作を制
御するシーケンサを設けるとともに、間ピッチ用コンピ
ュータを設け、該コンピュータにおいて、前記各検査精
整設備に共通の最短間ピッチ演算プログラムにより、前
記シーケンサの内部データを使用して、前記各検査精整
設備の最短間ピッチを求め、得られた各最短間ピッチの
うち最大の値を、最初の検査精整設備における給材の間
ピッチとして、前記シーケンサに設定することを特徴と
する、連続検査精整ラインにおける間ピッチ制御方法で
ある。
【００１２】また、上記目的を達成するための本発明装
置は、給材と検査精整と払出が順に行われる検査精整設
備が複数連続して配置された連続検査精整ラインの制御
装置であって、ライン全体の材料の動作を制御するシー
ケンサを設けるとともに、前記各検査精整設備に共通の
最短間ピッチ演算プログラムを有し、前記シーケンサの
内部データを使用して、前記各検査精整設備の最短間ピ
ッチを求める間ピッチ用コンピュータを設けたことを特
徴とする、連続検査精整ラインにおける間ピッチ制御装
置である。
置は、給材と検査精整と払出が順に行われる検査精整設
備が複数連続して配置された連続検査精整ラインの制御
装置であって、ライン全体の材料の動作を制御するシー
ケンサを設けるとともに、前記各検査精整設備に共通の
最短間ピッチ演算プログラムを有し、前記シーケンサの
内部データを使用して、前記各検査精整設備の最短間ピ
ッチを求める間ピッチ用コンピュータを設けたことを特
徴とする、連続検査精整ラインにおける間ピッチ制御装
置である。
【００１３】
【作用】本発明の対象とする各検査精整設備において、
給材装置の方式やアクチュエータの種類、検査精整装置
の種類や方式、払出装置の方式やアクチュエータの種類
が、それぞれ多種多様であっても、また、処理する材料
の種類やサイズが多くても、個々の組合せについて、材
料処理の所要時間を定量的に定めるにあたり、本発明で
は、定型化した共通のプログラムを使用する。
給材装置の方式やアクチュエータの種類、検査精整装置
の種類や方式、払出装置の方式やアクチュエータの種類
が、それぞれ多種多様であっても、また、処理する材料
の種類やサイズが多くても、個々の組合せについて、材
料処理の所要時間を定量的に定めるにあたり、本発明で
は、定型化した共通のプログラムを使用する。
【００１４】本発明法は、図１に示すように、連続検査
精整ライン１１全体の材料の動作を制御するシーケンサ
１２を設けるとともに、間ピッチ用コンピュータ１４を
設け、該コンピュータ１４において、連続検査精整ライ
ン１１を構成する各検査精整設備Ａ，Ｂ，Ｃ・・・Ｘに
共通の最短間ピッチ演算プログラムにより、シーケンサ
１２の内部データを使用して、各検査精整設備Ａ，Ｂ，
Ｃ・・・Ｘの最短間ピッチを求める。シーケンサ１２の
内部データは、リンクユニット１３を介してコンピュー
タ１４のＣＰＵ１５に入力され、キーボード１６から材
料情報等の条件設定登録を行う。
精整ライン１１全体の材料の動作を制御するシーケンサ
１２を設けるとともに、間ピッチ用コンピュータ１４を
設け、該コンピュータ１４において、連続検査精整ライ
ン１１を構成する各検査精整設備Ａ，Ｂ，Ｃ・・・Ｘに
共通の最短間ピッチ演算プログラムにより、シーケンサ
１２の内部データを使用して、各検査精整設備Ａ，Ｂ，
Ｃ・・・Ｘの最短間ピッチを求める。シーケンサ１２の
内部データは、リンクユニット１３を介してコンピュー
タ１４のＣＰＵ１５に入力され、キーボード１６から材
料情報等の条件設定登録を行う。
【００１５】たとえば、図２のような連続検査精整ライ
ンで、長さＬの材料を、長さ方向に検査精整する場合、
前記（１），（２），（３）式を使用した、図３に示す
ような共通のプログラムにより、各検査精整設備Ａ，
Ｂ，Ｃについて、給材所要時間Ｔs 、検査精整所要時間
Ｔk および払出所要時間Ｔe を求める。そして、これら
の時間から、一つの検査精整設備の最短間ピッチを求め
る。図２の例のような連続検査精整ラインの、たとえば
検査精整設備Ａの給材装置１に、次行材を供給できる可
能なタイミングは、先行材が給材動作範囲に存在しなく
なった時点、すなわち給材所要時間Ｔsa経過後である。
また、次行材が検査精整装置２に進入可能なタイミング
は、先行材の検査精整所要時間Ｔka経過後である。さら
に、先行材が払出された後、すなわち払出所要時間Ｔea
経過後でなければ、次行材は払出装置３に進入できな
い。したがって、検査精整設備Ａに材料を供給できる最
短間ピッチは、該設備Ａにおける給材所要時間Ｔsaと、
検査精整所要時間Ｔkaと、払出所要時間Ｔeaの内の最大
の時間Ｔmaである。つまり、該設備Ａに、Ｔmaの間隔で
材料を供給すれば、先行材と次行材が衝突することな
く、最も処理能力の高い操業を行うことになる。
ンで、長さＬの材料を、長さ方向に検査精整する場合、
前記（１），（２），（３）式を使用した、図３に示す
ような共通のプログラムにより、各検査精整設備Ａ，
Ｂ，Ｃについて、給材所要時間Ｔs 、検査精整所要時間
Ｔk および払出所要時間Ｔe を求める。そして、これら
の時間から、一つの検査精整設備の最短間ピッチを求め
る。図２の例のような連続検査精整ラインの、たとえば
検査精整設備Ａの給材装置１に、次行材を供給できる可
能なタイミングは、先行材が給材動作範囲に存在しなく
なった時点、すなわち給材所要時間Ｔsa経過後である。
また、次行材が検査精整装置２に進入可能なタイミング
は、先行材の検査精整所要時間Ｔka経過後である。さら
に、先行材が払出された後、すなわち払出所要時間Ｔea
経過後でなければ、次行材は払出装置３に進入できな
い。したがって、検査精整設備Ａに材料を供給できる最
短間ピッチは、該設備Ａにおける給材所要時間Ｔsaと、
検査精整所要時間Ｔkaと、払出所要時間Ｔeaの内の最大
の時間Ｔmaである。つまり、該設備Ａに、Ｔmaの間隔で
材料を供給すれば、先行材と次行材が衝突することな
く、最も処理能力の高い操業を行うことになる。
【００１６】つぎに、このような検査精整設備が複数連
続して配置された連続検査精整ラインに材料を供給でき
る最短の間ピッチは、各検査精整設備に材料を供給でき
る最短間ピッチＴm の内の最大時間である。図２の例で
は、設備Ａの最短間ピッチＴma、設備Ｂの最短間ピッチ
Ｔmb、設備Ｃの最短間ピッチＴmcの最大値がこのライン
の最短間ピッチＰとなる。したがって、ラインを構成す
る各装置の情報および処理材料の情報に基づき、演算に
よりラインの最短間ピッチＰを求め、該ピッチＰを、ラ
イン構成の最初の検査精整設備Ａにおける給材の間ピッ
チとする制御を行うことで、最も効率的な操業を行うこ
とができる。
続して配置された連続検査精整ラインに材料を供給でき
る最短の間ピッチは、各検査精整設備に材料を供給でき
る最短間ピッチＴm の内の最大時間である。図２の例で
は、設備Ａの最短間ピッチＴma、設備Ｂの最短間ピッチ
Ｔmb、設備Ｃの最短間ピッチＴmcの最大値がこのライン
の最短間ピッチＰとなる。したがって、ラインを構成す
る各装置の情報および処理材料の情報に基づき、演算に
よりラインの最短間ピッチＰを求め、該ピッチＰを、ラ
イン構成の最初の検査精整設備Ａにおける給材の間ピッ
チとする制御を行うことで、最も効率的な操業を行うこ
とができる。
【００１７】本発明法において、間ピッチ用コンピュー
タ１４により最短間ピッチを求めるにあたり、シーケン
サ１２から吸い上げるデータとしては、検査精整装置の
搬送速度Ｖ、搬送リード率α1 およびα2 、材料長さＬ
等がある。また、コンピュータ１４に入力するデータと
しては、給材切出時間Ｋ1 、検査精整固定時間Ｋ2 、払
出し時間Ｋ3 、材料長さ補正値等がある。なお、図１に
おいて１７は、入力データ表を示すとともに、各検査精
整設備の最短間ピッチの演算結果を表示するためのＣＲ
Ｔである。
タ１４により最短間ピッチを求めるにあたり、シーケン
サ１２から吸い上げるデータとしては、検査精整装置の
搬送速度Ｖ、搬送リード率α1 およびα2 、材料長さＬ
等がある。また、コンピュータ１４に入力するデータと
しては、給材切出時間Ｋ1 、検査精整固定時間Ｋ2 、払
出し時間Ｋ3 、材料長さ補正値等がある。なお、図１に
おいて１７は、入力データ表を示すとともに、各検査精
整設備の最短間ピッチの演算結果を表示するためのＣＲ
Ｔである。
【００１８】本発明装置は、図１に示すように、連続検
査精整ライン１１全体の材料の動作を制御するシーケン
サ１２を設けるとともに、各検査精整設備Ａ，Ｂ，Ｃ・
・・Ｘに共通の最短間ピッチ演算プログラムを有し、シ
ーケンサ１２の内部データを使用して、各検査精整設備
Ａ，Ｂ，Ｃ・・・Ｘの最短間ピッチを求める間ピッチ用
コンピュータ１４を設けたことを特徴とする。その作用
は、上記本発明法で説明したとおりである。
査精整ライン１１全体の材料の動作を制御するシーケン
サ１２を設けるとともに、各検査精整設備Ａ，Ｂ，Ｃ・
・・Ｘに共通の最短間ピッチ演算プログラムを有し、シ
ーケンサ１２の内部データを使用して、各検査精整設備
Ａ，Ｂ，Ｃ・・・Ｘの最短間ピッチを求める間ピッチ用
コンピュータ１４を設けたことを特徴とする。その作用
は、上記本発明法で説明したとおりである。
【００１９】
【実施例】図２に示すような連続検査精整ラインにおい
て、本発明例として、図１のような構成の本発明装置に
より、図３のフローで間ピッチの演算制御を行った。間
ピッチ用コンピュータ１４では、シーケンサ１２の内部
データに基づき、共通のプログラムで演算を実行させる
ため、キーボード１６から表１に示すような入力フォー
マットのデータを入力した。なお、給材所要時間Ｔs 、
検査精整所要時間Ｔk 、払出所要時間Ｔe は（１），
（２），（３）式により演算し、材料の軌跡は図５の実
線に示すとおりである。
て、本発明例として、図１のような構成の本発明装置に
より、図３のフローで間ピッチの演算制御を行った。間
ピッチ用コンピュータ１４では、シーケンサ１２の内部
データに基づき、共通のプログラムで演算を実行させる
ため、キーボード１６から表１に示すような入力フォー
マットのデータを入力した。なお、給材所要時間Ｔs 、
検査精整所要時間Ｔk 、払出所要時間Ｔe は（１），
（２），（３）式により演算し、材料の軌跡は図５の実
線に示すとおりである。
【００２０】従来例として、図４のフローで行った場合
には、間ピッチ演算処理のみで約８Ｋステップのプログ
ラムが必要であり、処理速度も５０ms／スキャン以上で
あったが、上記本発明例では、間ピッチ制御はインター
フェイスのプログラムだけとなり、全体の負荷が軽減
し、処理速度も３０ms／スキャンを維持することが可能
となった。また、シーケンサ負荷率は、従来例では９０
〜９５％であったのに対し、本発明例では６８〜７５％
に軽減された。
には、間ピッチ演算処理のみで約８Ｋステップのプログ
ラムが必要であり、処理速度も５０ms／スキャン以上で
あったが、上記本発明例では、間ピッチ制御はインター
フェイスのプログラムだけとなり、全体の負荷が軽減
し、処理速度も３０ms／スキャンを維持することが可能
となった。また、シーケンサ負荷率は、従来例では９０
〜９５％であったのに対し、本発明例では６８〜７５％
に軽減された。
【００２１】
【表１】
【００２２】
【発明の効果】本発明は、給材と検査精整と払出が順に
行われる検査精整設備が複数連続して配置された連続検
査精整ラインにおいて、ライン全体の材料の動作を制御
するシーケンサとは別に、間ピッチ用コンピュータを設
け、各検査精整設備に共通のプログラムにより、シーケ
ンサの内部データを使用して、各検査精整設備の最短間
ピッチの演算を行うので、検査精整設備が多数連続した
場合でも、プログラムのボリュームが増大せず、演算処
理時間の短縮、それに伴う高速制御が達成され、さらに
ソフト面でのコスト低減が可能である。
行われる検査精整設備が複数連続して配置された連続検
査精整ラインにおいて、ライン全体の材料の動作を制御
するシーケンサとは別に、間ピッチ用コンピュータを設
け、各検査精整設備に共通のプログラムにより、シーケ
ンサの内部データを使用して、各検査精整設備の最短間
ピッチの演算を行うので、検査精整設備が多数連続した
場合でも、プログラムのボリュームが増大せず、演算処
理時間の短縮、それに伴う高速制御が達成され、さらに
ソフト面でのコスト低減が可能である。
【図１】本発明装置の構成例を示す説明図である。
【図２】本発明の対象とする連続検査精整設備の例を示
す説明図である。
す説明図である。
【図３】本発明法の例を示すフロー図である。
【図４】従来法の例を示すフロー図である。
【図５】本発明法および従来法における材料の軌跡を示
す説明図である。
す説明図である。
１…給材装置
２…検査精整装置
３…払出装置
４…リジェクト材搬出装置
１１…連続検査精整ライン
１２…シーケンサ
１３…リンクユニット
１４…間ピッチ用コンピュータ
１５…ＣＰＵ
１６…キーボード
１７…ＣＲＴ
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｘ…検査精整設備
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
B65G 43/00 - 43/10
B65G 47/52 - 47/62
Claims (2)
- 【請求項１】 給材と検査精整と払出が順に行われる検
査精整設備が複数連続して配置された連続検査精整ライ
ンの制御方法であって、ライン全体の材料の動作を制御
するシーケンサを設けるとともに、間ピッチ用コンピュ
ータを設け、該コンピュータにおいて、前記各検査精整
設備に共通の最短間ピッチ演算プログラムにより、前記
シーケンサの内部データを使用して、前記各検査精整設
備の最短間ピッチを求め、得られた各最短間ピッチのう
ち最大の値を、最初の検査精整設備における給材の間ピ
ッチとして、前記シーケンサに設定することを特徴とす
る、連続検査精整ラインにおける間ピッチ制御方法。 - 【請求項２】 給材と検査精整と払出が順に行われる検
査精整設備が複数連続して配置された連続検査精整ライ
ンの制御装置であって、ライン全体の材料の動作を制御
するシーケンサを設けるとともに、前記各検査精整設備
に共通の最短間ピッチ演算プログラムを有し、前記シー
ケンサの内部データを使用して、前記各検査精整設備の
最短間ピッチを求める間ピッチ用コンピュータを設けた
ことを特徴とする、連続検査精整ラインにおける間ピッ
チ制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12178495A JP3534894B2 (ja) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | 連続検査精整ラインにおける間ピッチ制御方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12178495A JP3534894B2 (ja) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | 連続検査精整ラインにおける間ピッチ制御方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08310639A JPH08310639A (ja) | 1996-11-26 |
| JP3534894B2 true JP3534894B2 (ja) | 2004-06-07 |
Family
ID=14819814
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12178495A Expired - Fee Related JP3534894B2 (ja) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | 連続検査精整ラインにおける間ピッチ制御方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3534894B2 (ja) |
-
1995
- 1995-05-19 JP JP12178495A patent/JP3534894B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08310639A (ja) | 1996-11-26 |
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