JP3666545B2 - 導電回路基板の製造方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、優れた精細度の高導電回路をオルガノポリシラン膜を利用して製造する導電回路基板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】
オルガノポリシランは、炭素に比べてそのケイ素の持つ金属性と電子非局在性、高い耐熱性と柔軟性、良好な薄膜形成特性から非常に興味深いポリマーであり、アミノ基を側鎖に持つオルガノポリシランをヨウ素で酸化する方法や、塩化第二鉄蒸気で酸化する方法により、高導電性の材料が得られている。また、様々な極微細なパターンを高精度で形成するフォトレジストの開発を目的として、オルガノポリシランを用いた研究も活発に行われており(例えば、特開平6−291273号、同7−114188号公報)、中でも、特開平5−72694号公報においては、半導体集積回路の製造方法として、導電層にオルガノポリシランやヨウ素等でドーピングしたオルガノポリシランを用い、絶縁層に光照射によりオルガノポリシランから変換したシロキサン層を用いる提案がなされている。
【0003】
しかし、腐食性のあるヨウ素等を用いることは、電子材料へ応用するときの大きな障害になっていた。しかも、大気中の酸素等により容易にシロキサンに変化しうるオルガノポリシランそのものを導電材料として用いることは、特に信頼性を必要とする電子材料に応用することに非常な困難が伴っていた。
【0004】
また、特開昭57−11339号公報においては、Si−Si結合を有する化合物を露光後、金属塩溶液と接触させることによる金属画像の形成方法を報告している。この方法は、Si−Si結合を有する化合物と金属塩溶液を接触させる時、無条件で金属塩が金属まで還元される必要があるが、オルガノポリシランと銀塩で同様な画像の形成を行おうとしても、ポリマーであるが故に非常に良好な微細回路が紫外線の光により形成できるのにも拘らず、共有結合からなる非極性なオルガノポリシランによるイオン結合からなる銀塩の還元が速やかには進まず、精密な微細回路形成はできなかった。
【0005】
本発明は上記事情に鑑みなされたもので、安価で簡便な工程により、優れた精細度の高導電回路を形成することができる導電回路基板の製造方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段及び発明の実施の形態】
本発明者は、上記目的を達成するため鋭意検討を行った結果、オルガノポリシラン膜を酸素の存在下に光照射した場合、十分に光照射することにより、その光照射部分はSiO結合を形成し、これが有機溶剤に容易に溶解すること、一方、極く弱い光を照射することによってオルガノポリシラン膜の表面にSiO結合を形成させた場合、その表面が非極性から極性に変化し、これに接触させた銀塩、特に1価の銀塩は非常に容易に還元して銀粒子が生成し、これにより安定な電気的導電性が保たれることを見出し、この知見に基づいて本発明をなすに至った。
【0007】
即ち、本発明は、基板上に形成されたオルガノポリシラン膜に、酸素の存在下に選択的に光照射を行い、光照射部にSiO結合を持つパターンを形成し、次いで光未照射部のオルガノポリシラン膜を溶解させず、SiO結合を持つパターン部のみを溶解させる溶剤を用いて、上記パターン部を溶解し、上記光未照射部のオルガノポリシラン膜のみを基板に残した後、このオルガノポリシラン膜に酸素の存在下に光照射を行って、オルガノポリシラン膜の表面にSiO結合を形成し、これに銀塩を接触、還元させて、銀導電層を形成させることを特徴とする導電回路基板の製造方法を提供する。
【0008】
以下、本発明につき更に詳しく説明すると、本発明の導電回路基板の製造方法は、まず、基板上にオルガノポリシラン膜を形成する。
【0009】
ここで、基板としては、ガラス、セラミック、プラスチック等の絶縁体、シリコン等の半導体、アルミニウム等の導体が挙げられ、導電回路の使用目的などに応じて適宜選定される。
【0010】
また、上記基板上に形成されるオルガノポリシラン膜としては、H−Si結合無含有のオルガノポリシランであって、有機溶剤に可溶なものを使用することができるが、より好ましくは下記式(1)
(R1 mR2 nXpSi)q (1)
で示されるオルガノポリシランが用いられる。
【0011】
上記式(1)において、R1及びR2はそれぞれ置換もしくは非置換の脂肪族、脂環式又は芳香族1価炭化水素基であり、脂肪族又は脂環式炭化水素基は、好ましくは炭素数1〜12、より好ましくは1〜8のものが好適であり、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等のアルキル基やシクロアルキル基などが挙げられる。また、芳香族炭化水素基としては、好ましくは炭素数6〜14、より好ましくは6〜10のものが好適であり、例えばフェニル基、トリル基、キシリル基、ナフチル基、ベンジル基、フェネチル基等のアリール基やアラルキル基などが挙げられる。なお、置換炭化水素基としては、上記に例示した非置換の炭化水素基の水素原子の一部又は全部をハロゲン原子、アルコキシ基、アミノ基、アミノアルキル基などで置換したもの、例えばp−ジメチルアミノフェニル基、m−ジメチルアミノフェニル基等が挙げられる。
【0012】
XはR1と同様の基、アルコキシ基又はハロゲン原子であり、アルコキシ基としてはメトキシ基、エトキシ基等の炭素数1〜4のもの、ハロゲン原子としては、塩素原子、臭素原子等が挙げられ、通常塩素原子、メトキシ基、エトキシ基が用いられる。このXは、オルガノポリシラン膜の基板に対する剥離を防止し、密着性を改善するためのものである。
【0013】
mは0.1≦m≦1、特に0.5≦m≦1、nは0.1≦n≦2、特に0.5≦n≦1.5、pは0≦p≦0.5、特に0≦p≦0.2であり、かつ1≦m+n+p≦2.2、特に1.5≦m+n+p≦2.2を満足する数であり、qは10≦q≦100,000、特に10≦q≦10,000の範囲の整数である。
【0014】
本発明の導電回路基板を得る場合は、上述したように、まず基板上に上記オルガノポリシラン膜を形成するが、この場合、オルガノポリシラン膜の膜厚は0.01〜100μm、特に0.1〜20μmとすることが好ましい。
【0015】
オルガノポリシラン膜の形成方法としては、特に限定されず、スピンコート法、ディッピング法、キャスト法、真空蒸着法、LB法(ラングミュアー・ブロジット法)などの通常のオルガノポリシラン薄膜形成法が採用できる。特に、オルガノポリシランの溶液を高速で回転させながら成形するスピンコート法が好適に用いられる。オルガノポリシランを溶解させる溶媒の例としては、ベンゼン、トルエン、キシレンなどの芳香族系炭化水素、テトラヒドロフラン、ジブチルエーテルなどのエーテル系溶剤が好適に用いられる。この後、しばらく乾燥雰囲気下で静置したり、或いは減圧下で40〜60℃程度の温度に放置し乾燥することが効果的である。オルガノポリシラン溶液の濃度は、1〜20重量%が好適に用いられ、これにより0.01〜100μmの範囲の膜厚のオルガノポリシラン薄膜を形成することができる。
【0016】
なお、オルガノポリシラン膜は、光によるシロキサンの生成効率を高めるため、オルガノポリシランに少量の光増感性色素やトリアジン類を配合したものにて形成することができる。
【0017】
本発明においては、上記オルガノポリシラン膜を形成した基板を用いてパターン形成を行う場合、次の工程を採用する。
(1)基板上に形成されたオルガノポリシラン膜に、酸素の存在下に選択的光照射を行い、光照射部にSiO結合を持つパターンを形成させる工程。
(2)オルガノポリシラン部を溶解させず、SiO結合を持つパターン部のみを溶解させる溶剤を用いて、オルガノポリシラン部のみを基板に残す工程。
(3)工程(2)の基板に、酸素の存在下に非選択的光照射を行い、オルガノポリシラン部の表面に不完全にSiO結合を形成させる工程。
(4)工程(3)の基板に、銀塩を接触させ、上記SiO結合を有するオルガノポリシラン部のみに銀の導電層を形成させる工程。
【0018】
これを更に詳述すると、上記オルガノポリシラン膜を形成させた基板の上から、酸素の存在下、パターンが形成されたマスクを通して光を照射する。この場合、500nm以下の波長を有する光を用いることが好ましい。これにより、光が当たった部分のみは、Si−Si結合がSi−O−Si結合やSi−OH結合に変換せしめられる。光源としては、水素放電管、希ガス放電管、タングステンランプ、ハロゲンランプのような連続スペクトル光源でも、各種レーザー、水銀灯のような不連続スペクトル光源でもよいが、安価で取り扱いが容易な水銀灯が好適に用いられ、オルガノポリシランの厚さ1μm当たり0.01〜100J/cm2の光量が好適に用いられる。これにより、パターンに応じてSiO結合が形成された潜像を持つ基板が作成される。
【0019】
次に、未露光のオルガノポリシラン膜を溶解させず、SiO結合を持つパターン部のみを溶解させる溶剤を用いて、該オルガノポリシラン膜のみを基板に残す工程を行う。こうした溶剤は、メタノール、エタノールのようなアルコール類、アセトン、メチルエチルケトンのようなアセトン類、酢酸エチル、乳酸のようなエステル類が好適に用いられる。こうした溶媒に露光後のオルガノポリシラン膜基板を1秒〜10分程度浸漬して、シロキサンとなった露光部を完全に溶解除去する。
【0020】
次に、酸素の存在下に非選択的光照射を行い、上記未露光のオルガノポリシラン部の表面に不完全にSiO結合を形成させる工程を行う。この工程は、(1)の工程と同じ装置を用いてもよいが、意図するところは、全く異なっており、Si−Si結合を残す必要がある。そのためには、光の照射時間を短時間にする、或いはエネルギーの高い300nm以下の光をガラス等のマスクにより遮蔽するのも効果的である。オルガノポリシランの厚さ1μm当たり0.001〜0.1J/cm2の光量が好適に用いられる。これにより、オルガノポリシランの表面にSiO結合が形成され、銀塩と速やかに反応し得るようになった基板が作成される。
【0021】
次いで、これに銀塩を接触させ、銀イオンを還元して銀導電層を形成する。銀塩としては、1価の銀イオンAg+を含むものが好ましく、通常Ag−Zの形で表し得る。Zとしては、パークロレート、テトラメチルボレート、ペンタフルオロホスフェート、トリフルオロメタンスルフォネート、テトラフルオロボレート、テトラフェニルボレート、硝酸基等が用いられる。銀塩の例としては、AgBF4,AgClO4,AgPF6,AgBPh4,Ag(CF3SO3),AgNO3等が好適に用いられる。
【0022】
接触方法として、銀塩の蒸気雰囲気下にこのオルガノポリシラン膜表面のSiO結合部をさらす所謂気相法及び銀塩を溶解させた溶液をこのSiO結合部に接触させる溶液法が用いられる。
【0023】
気相法では、一般に温度は50〜300℃の範囲で行われる。50℃未満では接触速度が遅く、また300℃を超えると接触時にポリマーの劣化を招くおそれがある。圧力は、通常0.001mmHg〜1気圧の範囲で行われる。0.001mmHgより低くすることは、その圧力に達するまでに長時間かかり経済的ではなく、また1気圧を超えると接触速度は非常に遅い。
【0024】
溶液法では、銀塩をよく溶解させ、潜像を形成させたオルガノポリシランのパターンを壊さない溶媒が用いられる。このようなものとしては、オルガノポリシランの側鎖基の種類により溶解性が異なるため一概には言えないが、水、或いはアセトン、メチルエチルケトンのようなケトン類、酢酸エチルのようなエステル類、メタノール、エタノールのようなアルコール類、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、ヘキサメチルホスホリックトリアミドのような非プロトン性極性溶媒、その他、ニトロメタン、アセトニトリル等が挙げられる。特に、フェニルメチルポリシランの場合、アルコール類が好適に用いられる。
【0025】
この銀塩を含む溶液をオルガノポリシラン膜上に展開、或いはこの溶液にオルガノポリシラン膜を浸漬し、その後乾燥することで、オルガノポリシラン部表面のSiO結合部により銀塩が銀粒子に還元され、パターニングされた導電体を得ることができる。
【0026】
次いで、乾燥を行うことが好ましいが、乾燥温度は、通常0〜150℃、常圧又は減圧で行うのが好ましい。また必要に応じて50〜600℃の温度で窒素、アルゴン等の非酸化性雰囲気下で熱処理することにより、銀塩から銀への還元が促進され、導電性のより向上が見られる。
【0027】
【発明の効果】
本発明により、安価で簡便な工程により、高い導電率の導電層を持ち、導電性の経時変化が少なく、優れたパターン精細度の高導電回路を得ることができる。これにより、各種フレキシブルスイッチ、バッテリー電極、太陽電池、センサー、帯電防止用保護膜、電磁シールド用筐体、集積回路、モーター用筐体等に応用可能な有用な導電回路の形成方法として、電気、電子、通信分野に広く用いることができる。
【0028】
【実施例】
以下、合成例と実施例を示し、本発明を具体的に説明するが、本発明は下記の実施例に制限されるものではない。
【0029】
〔合成例〕
窒素気流下に、金属ナトリウム5.06g(220mmol)をトルエン60ml中に添加し、高速で撹拌しながら110℃に加熱し分散させた。これにフェニルメチルジクロルシラン19.1g(100mmol)を撹拌下にゆっくり滴下した。原料が消失するまで4時間撹拌し、反応を完結させた。次いで、放冷後、塩を濾過し濃縮して、ポリシラン粗生成物10.0g(粗収率83%)を得た。このポリマーは再度30mlのトルエンに溶解させ、その溶液にヘキサン120mlを添加し析出分離して、重量平均分子量45000のフェニルメチルポリシラン6.6g(収率55%)を得た。
【0030】
〔実施例〕
上で製造したフェニルメチルポリシランをトルエンに溶解して10重量%のポリシラン溶液を調製した。ガラス板上にこのポリシラン溶液を3000rpm,10秒でスピンコートし、2mmHg/50℃で乾燥させて、厚さ0.5μmの薄膜を形成し、これをパターン形成用基板とした。
【0031】
この基板上に所用のパターンが形成されたフォトマスクを重ね、空気中で20Wの低圧水銀灯を用いて254nmの紫外線を5J/cm2の光量で照射し、ポリシランの未露光層とポリシロキサンの露光層というパターン形成された膜を持つガラス基板を作成した。
【0032】
次に、銀テトラフルオロボレートの10重量%エタノール溶液を作成し、以下(1)〜(4)の方法で、ポリシラン膜基板と接触させ、銀の導電回路層の形成を行った。この導電率のデータを下記に示す。
(1):潜像が形成されたポリシラン膜を持つガラス基板に、エタノール溶液を3000rpm,2秒でスピンコートし、2mmHg/50℃で乾燥させた。これによりシロキサン層が除去された。
(2):(1)のガラス基板に対し、空気中で20Wの低圧水銀灯を用いて254nmの紫外線を0.1J/cm2の光量で照射し、ポリシランの全面露光を行い、表面改質した膜を持つガラス基板を作成した。
(3):(2)のガラス基板を銀テトラフルオロボレートの10重量%エタノール溶液に10秒浸漬後、溶液から取り出し、2mmHg/50℃で乾燥させた。これにより、銀塩は還元され、銀の回路が形成された。
(4):(3)をエタノールに2秒浸漬後、溶液から取り出し、2mmHg/50℃で乾燥させた。これにより、露光部に付着していた銀塩が完全に除去された。
(5):(4)を200℃で30分加熱し、放冷により室温まで温度を下げた後、未露光部と露光部の電気特性を測定したところ、以下の通り1か月後でも変化しない電気特性であった。
導電回路作成直後の電気特性
未露光部の導電率:1×103S/cm
露光部の導電率 :1×10-15S/cm
導電部と絶縁部の導電率の比:1018
導電回路作成1か月後の電気特性
未露光部の導電率:1×103S/cm
露光部の導電率 :1×10-15S/cm
導電部と絶縁部の導電率の比:1018
Claims (2)
- 基板上に形成されたオルガノポリシラン膜に、酸素の存在下に選択的に光照射を行い、光照射部にSiO結合を持つパターンを形成し、次いで光未照射部のオルガノポリシラン膜を溶解させず、SiO結合を持つパターン部のみを溶解させる溶剤を用いて、上記パターン部を溶解し、上記光未照射部のオルガノポリシラン膜のみを基板に残した後、このオルガノポリシラン膜に酸素の存在下に光照射を行って、オルガノポリシラン膜の表面にSiO結合を形成し、これに銀塩を接触、還元させて、銀導電層を形成させることを特徴とする導電回路基板の製造方法。
- オルガノポリシランが、下記式(1)
(R1 mR2 nXpSi)q (1)
(式中、R1及びR2はそれぞれ炭素数1〜12の脂肪族もしくは脂環式炭化水素基又は炭素数6〜14の芳香族炭化水素基、XはR1又はアルコキシ基もしくはハロゲン原子を示し、mは0.1≦m≦1、nは0.1≦n≦2、pは0≦p≦0.5であり、かつ1≦m+n+p≦2.2を満足する数、qは10≦q≦100,000の整数である。)
で示されるものである請求項1記載の導電回路基板の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32701097A JP3666545B2 (ja) | 1996-11-20 | 1997-11-12 | 導電回路基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32452996 | 1996-11-20 | ||
| JP8-324529 | 1996-11-20 | ||
| JP32701097A JP3666545B2 (ja) | 1996-11-20 | 1997-11-12 | 導電回路基板の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10209586A JPH10209586A (ja) | 1998-08-07 |
| JP3666545B2 true JP3666545B2 (ja) | 2005-06-29 |
Family
ID=26571510
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32701097A Expired - Fee Related JP3666545B2 (ja) | 1996-11-20 | 1997-11-12 | 導電回路基板の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3666545B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3539234B2 (ja) * | 1998-10-22 | 2004-07-07 | 信越化学工業株式会社 | 金属パターン用被膜形成用ポリシラン組成物及び金属パターン形成方法 |
-
1997
- 1997-11-12 JP JP32701097A patent/JP3666545B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10209586A (ja) | 1998-08-07 |
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| JPH0456975B2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040922 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041118 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20041118 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050316 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050329 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080415 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110415 Year of fee payment: 6 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |