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JP4252240B2 - Liquid crystal display element - Google Patents
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JP4252240B2 JP2001399558A JP2001399558A JP4252240B2 JP 4252240 B2 JP4252240 B2 JP 4252240B2 JP 2001399558 A JP2001399558 A JP 2001399558A JP 2001399558 A JP2001399558 A JP 2001399558A JP 4252240 B2 JP4252240 B2 JP 4252240B2
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は液晶表示素子に関する。
【0002】
【従来の技術】
図5は従来の液晶表示素子の一部の等価回路的透過平面図を示したものである。この液晶表示素子は、アクティブ基板1とその上に対向配置された対向基板2とがほぼ方形枠状のシール材3を介して貼り合わされ、シール材3の内側における両基板1、2間に液晶(図示せず)が封入されたものからなっている。この場合、アクティブ基板1の右辺部および左辺部は対向基板2から突出されている。以下、これらの突出部を右辺突出部1a、下辺突出部1bという。
【0003】
アクティブ基板1上においてシール材3の内側には、複数の画素電極4およびこれらの画素電極4にそれぞれ接続された薄膜トランジスタ5がマトリクス状に設けられている。また、アクティブ基板1上においてシール材3の内側には、各薄膜トランジスタ5に走査信号を供給するための複数の走査ライン6が行方向に延びて設けられ、各薄膜トランジスタ5にデータ信号を供給するための複数のデータライン7が列方向に延びて設けられ、各画素電極4との間で補助容量部Csを形成する複数の補助容量ライン8が行方向に延びて設けられている。
【0004】
各走査ライン6の右端部は、アクティブ基板1の右辺突出部1a上の点線で示す半導体チップ搭載領域9内に設けられた出力パッド10に接続されている。各データライン7の下端部は、アクティブ基板1の下辺突出部1b上の点線で示す半導体チップ搭載領域11内に設けられた出力パッド12に接続されている。各補助容量ライン8の左端部はほぼL字状の共通ライン13に接続されている。
【0005】
共通ライン13の右端部および第1行目の補助容量ライン8の右端部は、シール材3下におけるアクティブ基板1上の所定の2箇所に設けられた基板間導通用パッド14、15に接続されている。一方の基板間導通用パッド14および半導体チップ搭載領域9、11内にそれぞれ設けられた入力パッド16、17は、アクティブ基板1の所定の端部上に設けられた外部接続端子18に引き回し線19を介して接続されている。
【0006】
右側の半導体チップ搭載領域9上には、走査ライン6に走査信号を供給する走査ライン駆動回路が内蔵された、LSI等からなる走査ライン駆動用の半導体チップ(図示せず)が搭載されている。下側の半導体チップ搭載領域11上には、データライン7にデータ信号を供給するデータライン駆動回路が内蔵された、LSI等からなるデータライン駆動用の半導体チップ(図示せず)が搭載されている。
【0007】
2つの基板間導通用パッド14、15は、対向基板2下にベタ状に設けられた対向電極(図示せず)に、シール材3中に混入された導電性粒子からなる基板間導通材(図示せず)を介して接続されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記従来の液晶表示素子では、走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路の電源を落とさずに、走査ライン駆動回路の出力電位をローレベル状態とし、データライン駆動回路の入力をハイインピーダンス状態とするスタンバイモードの状態がある。この状態では、画素電極4が対向電極と同電位となり、例えば、ノーマリホワイトの場合には、表示領域全体が、電源オフの場合と同様に白表示となる。しかしながら、このような場合、データライン駆動回路の入力はハイインピーダンス状態であるので、データライン28は基本的にフローティング状態であり、各画素電極4は、それぞれ、スタンバイモード直前の電荷が残留された状態となっている。この各画素電極4に残留された電荷は、一部は液晶または各駆動回路を介してリークされるが、その量は極めて小さいため、表示領域全体の白表示が不均一に変化するという問題があった。
そこで、この発明は、各画素電極に残留する電荷を速やかにリークすることができる構造を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の発明は、アクティブ基板と対向基板とがほぼ方形枠状のシール材を介して貼り合わされ、前記アクティブ基板に、マトリクス状に配置された複数の画素電極、これらの画素電極にそれぞれ接続された薄膜トランジスタ、前記各薄膜トランジスタに走査信号を供給するための複数の走査ライン、前記各薄膜トランジスタにデータ信号を供給するための複数のデータライン、前記各画素電極との間で補助容量部を形成し且つ互いに接続された複数の補助容量ラインが設けられ、前記対向基板に対向電極が設けられた液晶表示素子において、前記各データラインのそれぞれに一方の電極が接続された複数のリーク素子と、前記各補助容量ラインと平行に配置され、前記各リーク素子の他方の電極が接続された共通ラインと、を備え、前記各走査ラインと前記各補助容量ラインとが同一の第一層として形成され、前記共通ラインと前記データラインとが同一の層で、且つ、前記第一層とは異なる上層側の第二層として形成され、前記共通ラインは、前記各データラインの延伸方向に対して直交する方向に延伸配置されるとともに、基板間導通材を介して前記対向電極に接続され、前記各補助容量ラインは、前記基板間導通材とは別の基板間導通材を介して前記対向電極に接続され、前記共通ラインと前記各補助容量ラインは、前記アクティブ基板側で直接的に接続されることなく、前記対向電極を介して電気的に接続され、前記各リーク素子は、前記走査ラインを駆動する駆動回路の出力電位をローレベル状態とし前記データラインを駆動する駆動回路の入力をハイインピーダンス状態とするスタンバイモードの状態において、前記各画素電極に残留する電荷をリークさせるものであることを特徴とするものである。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記リーク素子の一方の電極、他方の電極および前記共通ラインは、前記データラインと同一層に形成されていることを特徴とするものである。
請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の発明において、前記リーク素子の一方の電極、他方の電極および前記共通ラインは、前記データラインと同一材料で同一の厚さに形成されていることを特徴とするものである。
請求項4に記載の発明は、請求項1〜3のいずれかに記載の発明において、前記各基板間導通材は前記シール材中に混入された弾性変形可能な導電性粒子からなることを特徴とするものである。
そして、この発明によれば、スタンバイモード時に各画素電極電位がリーク素子等を介して少なくともすべての補助容量ラインまたは対向電極に速やかにリークされ、従って各画素電極に残留する電荷をリーク素子等を介して速やかにリークすることができる。
【0010】
【発明の実施の形態】
図1はこの発明の一実施形態における液晶表示素子の要部の等価回路的透過平面図を示したものである。この液晶表示素子は、アクティブ基板21とその上に対向配置された対向基板22とがほぼ方形枠状のシール材23を介して貼り合わされ、シール材23の内側における両基板21、22間に液晶24(図2参照)が封入されたものからなっている。この場合、アクティブ基板21の所定の2辺部は対向基板22から突出されている。以下、これらの突出部を右辺突出部21a、下辺突出部21bという。
【0011】
アクティブ基板21上においてシール材23の内側には、複数の画素電極25およびこれらの画素電極25にそれぞれ接続された薄膜トランジスタ26がマトリクス状に設けられている。また、アクティブ基板21上においてシール材23の内側には、各薄膜トランジスタ26に走査信号を供給するための複数の走査ライン27が行方向に延びて設けられ、各薄膜トランジスタ26にデータ信号を供給するための複数のデータライン28が列方向に延びて設けられ、各画素電極25との間で補助容量部Csを形成する複数の補助容量ライン29が行方向に延びて設けられている。
【0012】
各走査ライン27の右端部は、アクティブ基板21の右辺突出部21a上の点線で示す半導体チップ搭載領域30内に設けられた出力パッド31に接続されている。各データライン28の下端部は、アクティブ基板21の下辺突出部21b上の点線で示す半導体チップ搭載領域32内に設けられた出力パッド33に接続されている。各補助容量ライン29の左端部はほぼL字状の共通ライン34に接続されている。
【0013】
共通ライン34の右端部および第1行目の補助容量ライン29の右端部は、シール材23下におけるアクティブ基板21上の所定の2箇所に設けられた接続パッド35、36に接続されている。一方の接続パッド35および半導体チップ搭載領域30、32内にそれぞれ設けられた入力パッド37、38は、アクティブ基板21の所定の端部上に設けられた外部接続端子39に引き回し線40を介して接続されている。
【0014】
右側の半導体チップ搭載領域30上には、走査ライン27に走査信号を供給する走査ライン駆動回路が内蔵された、LSI等からなる走査ライン駆動用の半導体チップ(図示せず)が搭載されている。下側の半導体チップ搭載領域32上には、データライン28にデータ信号を供給するデータライン駆動回路が内蔵された、LSI等からなるデータライン駆動用の半導体チップ(図示せず)が搭載されている。
【0015】
アクティブ基板21上のシール材23の内側において第1行目の補助容量ライン29の上側(つまり、下側の半導体チップ搭載領域32に対し、画素電極25の配置領域からなる表示領域を挟んで、その反対側)には複数のリーク素子41が設けられている。このリーク素子41は、空間電荷制限電流(Space Charge Limited Current)で電圧特性が規定されるもので、非線形な電圧電流特性を持つものである。
【0016】
各リーク素子41の一方の電極は各データライン28に接続されている。各リーク素子41の他方の電極は、その上側におけるアクティブ基板21上に行方向に延びて設けられた共通ライン42に接続されている。詳細は、後述するが、各リーク素子41の一方の電極、他方の電極および共通ライン42は、出力パッド33を含むデータライン28の形成と同時に形成されるものであり、同一の材料、同一の厚さの金属膜で構成されている。
【0017】
共通ライン42には、特に限定する意味ではないが、他方の接続パッド36の近傍で、シール材23下におけるアクティブ基板21上の所定の箇所に配置された接続パッド43が一体的に形成されている。3つの接続パッド35、36、43は、対向基板22下にベタ状に設けられた対向電極44(図2参照)に、シール材23中に混入された弾性変形可能な導電性粒子からなる基板間導通材45(図2参照)を介して接続されている。
【0018】
従って、共通ライン42は、接続パッド43、接続パッド43と対向電極44との間に介在された基板間導通材45、対向電極44、対向電極44と接続パッド36(35)との間に介在された基板間導通材45および接続パッド36(35)を介して、第1行目の補助容量ライン29(共通ライン34)に接続されている。この場合、共通ライン42を第1行目の補助容量ライン29に直接接続していないが、その理由については後で説明する。
【0019】
このように、この液晶表示素子では、第1行目の補助容量ライン29(共通ライン34)に接続された共通ライン42と各データライン28との間にそれぞれリーク素子41を設けている。
【0020】
この結果、スタンバイモードにし、走査ライン駆動回路の出力電位をローレベル状態とし、データライン駆動回路の入力をハイインピーダンス状態とすると、画素電極電位は、薄膜トランジスタ26、データライン28、リーク素子41、共通ライン42、接続パッド43、接続パッド43と対向電極44との間に介在された基板間導通材45を介して対向電極44にリークされ、さらに対向電極44と接続パッド36(35)との間に介在された基板間導通材45および接続パッド36(35)を介してすべての補助容量ライン29および共通ライン34にリークされる。この場合、各画素電極電位は、リーク素子41を介して速やかにリークされ、対向電極44と同電位となる。従って、ノーマリホワイトの場合、表示領域全体を均一な白表示とすることができる。
【0021】
次に、この液晶表示素子の一部の具体的な構造について、図2を参照して説明する。この場合、図2の左側には薄膜トランジスタ26を図示し、中央にはリーク素子41を図示し、右側には接続パッド36、43の部分を図示している。
【0022】
まず、薄膜トランジスタ26について説明する。アクティブ基板21の上面の所定の箇所には、図1に示す走査ライン27から延出されたゲート電極51が設けられている。ゲート電極51等を含むアクティブ基板21の上面にはゲート絶縁膜52が設けられている。
【0023】
ゲート電極51上におけるゲート絶縁膜52の上面の所定の箇所には真性アモルファスシリコンからなる半導体薄膜53が設けられている。半導体薄膜53の上面ほぼ中央部にはチャネル保護膜54が設けられている。チャネル保護膜54の上面両側およびその両側における半導体薄膜53の上面にはn型アモルファスシリコンからなるオーミックコンタクト層55、56が設けられている。
【0024】
一方のオーミックコンタクト層55の上面にはドレイン電極57が設けられている。他方のオーミックコンタクト層56の上面にはソース電極58が設けられている。両電極57、58等を含むゲート絶縁膜52の上面にはオーバーコート膜59が設けられている。
【0025】
オーバーコート膜59のソース電極58の所定の箇所に対応する部分にはコンタクトホール60が設けられている。オーバーコート膜59の上面の所定の箇所には画素電極25が設けられている。画素電極25はコンタクトホール60を介してソース電極58に接続されている。
【0026】
そして、薄膜トランジスタ26は、ゲート電極51、ゲート絶縁膜52、半導体薄膜53、チャネル保護膜54、オーミックコンタクト層55、56、ソース電極58およびドレイン電極57により構成されている。
【0027】
次に、リーク素子41について説明するアクティブ基板21の上面にはゲート絶縁膜52が設けられており、ゲート絶縁膜52の上面の所定の箇所には真性アモルファスシリコンからなる半導体薄膜62が設けられている。半導体薄膜62の上面ほぼ中央部には保護膜63が設けられている。保護膜63の上面両側およびその両側における半導体薄膜62の上面にはn型アモルファスシリコンからなるオーミックコンタクト層64、65が設けられている。
【0028】
一方のオーミックコンタクト層64の上面には、データライン28に接続される一方の電極66が設けられている。他方のオーミックコンタクト層65の上面には、共通ライン42に接続される他方の電極67が設けられている。両電極66、67等を含むゲート絶縁膜52の上面にはオーバーコート膜59が設けられている。
【0029】
そして、リーク素子41は、ゲート絶縁膜52、半導体薄膜62、保護膜63、オーミックコンタクト層64、65、一方の電極66および他方の電極67により構成されている。
【0030】
ここで、薄膜トランジスタ26とリーク素子41を構成する各薄膜は、共通のプロセスで形成され、対応する各薄膜の材料および厚さは同一である。すなわち、先ず、アクティブ基板21上にアルミニウム系金属材料等を成膜し、フォトリソグラフィ法により、出力パッド31を含む走査ライン27、入力パッド37および外部接続端子39を含む引き回し線40の一部、接続パッド35、36を含む補助容量ライン29、および補助容量ライン29を相互に接続する共通ライン34を形成する。次に、これらの端子や配線上にゲート絶縁膜52、半導体薄膜、チャネル形成用保護膜を連続して成膜し、フォトリソグラフィ法により、チャネル保護膜54、保護膜63、半導体薄膜53、半導体薄膜62を形成する。次に、n型アモルファスシリコンおよびアルミニウム系等の金属膜を成膜し、フォトリソグラフィ法により、オーミックコンタクト層55、56、64、65を形成するとともに、この上に積層されるソース電極58、ドレイン電極57、一方の電極66、他方の電極67、データライン28、出力パッド33を含むデータライン28、共通ライン42、入力パッド38および外部接続端子39を含む引き回し線40の一部を形成するのである。
【0031】
次に、接続パッド36、43の部分について説明する。アクティブ基板21の上面の所定の箇所には接続パッド36が設けられている。接続パッド36を含むアクティブ基板21の上面にはゲート絶縁膜52が設けられている。
【0032】
ゲート絶縁膜52の上面の所定の箇所にはn型アモルファスシリコンからなる下層配線71が設けられている。下層配線71は、オーミックコンタクト層65を延出したものであり、下層配線71には、上述の如く、接続パッド43およびこの接続パッド43に接続された共通ライン42が積層されている。
【0033】
共通ライン42等を含むゲート絶縁膜52の上面にはオーバーコート膜59が設けられている。オーバーコート膜59およびゲート絶縁膜52の接続パッド36に対応する部分には開口部72が設けられている。オーバーコート膜59の接続パッド43に対応する部分には開口部73が設けられている。
【0034】
対向基板22の下面には対向電極44が設けられている。各開口部72、73を介して露出された接続パッド36、43と対向電極44との間には、シール材23に混入された弾性変形可能な導電性粒子からなる基板間導通材45が介在されている。
【0035】
ここで、リーク素子41は薄膜トランジスタ26の形成と同時に形成することができるものであり、しかも、一方の電極66、他方の電極67は、データライン28および共通ライン42と同一層(同一平面)に形成されるので、接続のためにスルーホール等を形成する必要がなく、従って、製造プロセスが大変効率的である。
【0036】
さらに、一方の開口部73は、オーバーコート膜59にのみ形成しているので、コンタクトホール60の形成と同時に形成することができる。他方の開口部73は、オーバーコート膜59およびゲート絶縁膜52に形成しているので、オーバーコート膜59にコンタクトホール60を形成するためのドライエッチングをある程度続行すればよい。従って、製造工程数が増加することはない。
【0037】
ところで、上述の如く、共通ライン42は第1行目の補助容量ライン29に直接接続していない。その理由は、直接接続する場合には、下層配線71等を形成するためのn型アモルファスシリコン膜を成膜する前に、ゲート絶縁膜52の第1行目の補助容量ライン29の右端部に対応する部分にコンタクトホールを形成する必要があり、製造工程数が増加するので、これを回避するためである。
【0038】
なお、上記実施形態では、リーク素子41として、2端子素子を用いているが、これに限らず、図3に示すこの発明の他の実施形態のように、ゲート電極が補助容量ライン29に接続され、ドレイン電極がデータライン28に接続され、ソース電極が共通ライン42に接続された薄膜トランジスタ型の非線形素子を用いても良い。
【0039】
また、上記実施形態では、図2に示すように、2つの接続パッド36、43間を、2つ(または3つ以上)の基板間導通材45および対向電極44を介して接続しているが、これに限らず、図4に示すこの発明のさらに他の実施形態のように、基板間導通材45のみを介して接続するようにしてもよい。この場合、2つの接続パッド36、43と対向する領域に対向電極44はなくてもよい。すなわち、接続パッド43は、基板間導通材45を介して接続パッド36のみに接続するようにしてもよい。また、接続パッド43は、基板間導通材45を介して対向電極44のみに接続するようにしてもよい。
【0040】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明によれば、各画素電極に残留する電荷をリーク素子等を介して速やかにリークすることができるので、例えば、スタンバイモード時などにおける表示状態を良好なものとすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施形態としての液晶表示素子の要部の等価回路的透過平面図。
【図2】図1に示す液晶表示素子の一部の具体的な構造を示す断面図。
【図3】この発明の他の実施形態としての液晶表示素子の要部の等価回路的透過平面図。
【図4】この発明のさらに他の実施形態としての液晶表示素子の一部の断面図。
【図5】従来の液晶表示素子の一部の等価回路的透過平面図。
【符号の説明】
21 アクティブ基板
22 対向基板
23 シール材
24 液晶
25 画素電極
26 薄膜トランジスタ
27 走査ライン
28 データライン
29 補助容量ライン
34 共通ライン
35、36 接続パッド
41 リーク素子
42 共通ライン
43 接続パッド
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a liquid crystal display element.
[0002]
[Prior art]
FIG. 5 shows an equivalent circuit transmission plan view of a part of a conventional liquid crystal display element. In this liquid crystal display element, an active substrate 1 and a counter substrate 2 disposed on the active substrate 1 are bonded together via a substantially rectangular frame-shaped sealing material 3, and a liquid crystal is disposed between both substrates 1 and 2 inside the sealing material 3. (Not shown) is enclosed. In this case, the right side and the left side of the active substrate 1 protrude from the counter substrate 2. Hereinafter, these protrusions are referred to as a right side protrusion 1a and a lower side protrusion 1b.
[0003]
A plurality of pixel electrodes 4 and thin film transistors 5 respectively connected to the pixel electrodes 4 are provided in a matrix on the active substrate 1 inside the sealing material 3. A plurality of scanning lines 6 for supplying scanning signals to the thin film transistors 5 are provided on the active substrate 1 inside the sealing material 3 so as to extend in the row direction so as to supply data signals to the thin film transistors 5. The plurality of data lines 7 are provided so as to extend in the column direction, and the plurality of auxiliary capacitance lines 8 that form the auxiliary capacitance portion Cs between each pixel electrode 4 are provided so as to extend in the row direction.
[0004]
The right end portion of each scanning line 6 is connected to an output pad 10 provided in a semiconductor chip mounting region 9 indicated by a dotted line on the right side protruding portion 1 a of the active substrate 1. A lower end portion of each data line 7 is connected to an output pad 12 provided in a semiconductor chip mounting region 11 indicated by a dotted line on the lower side protruding portion 1 b of the active substrate 1. The left end of each auxiliary capacitance line 8 is connected to a substantially L-shaped common line 13.
[0005]
The right end portion of the common line 13 and the right end portion of the auxiliary capacitance line 8 in the first row are connected to inter-substrate conduction pads 14 and 15 provided at two predetermined locations on the active substrate 1 below the sealing material 3. ing. The inter-substrate conduction pad 14 and the input pads 16 and 17 provided in the semiconductor chip mounting areas 9 and 11 are respectively routed to an external connection terminal 18 provided on a predetermined end of the active substrate 1. Connected through.
[0006]
On the semiconductor chip mounting area 9 on the right side, there is mounted a scanning line driving semiconductor chip (not shown) made of LSI or the like, in which a scanning line driving circuit for supplying a scanning signal to the scanning line 6 is built. . On the lower semiconductor chip mounting area 11, a data line driving semiconductor chip (not shown) made of LSI or the like, in which a data line driving circuit for supplying a data signal to the data line 7 is built, is mounted. Yes.
[0007]
The two inter-substrate conduction pads 14 and 15 are made of conductive particles mixed in the sealing material 3 on the counter electrode (not shown) provided in a solid shape under the counter substrate 2. (Not shown).
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in the above conventional liquid crystal display element, the output potential of the scanning line driving circuit is set to the low level state and the input of the data line driving circuit is set to the high impedance state without turning off the power of the scanning line driving circuit and the data line driving circuit. There is a standby mode status. In this state, the pixel electrode 4 has the same potential as that of the counter electrode. For example, in the case of normally white, the entire display region is displayed in white as in the case where the power is turned off. However, in such a case, since the input of the data line driving circuit is in a high impedance state, the data line 28 is basically in a floating state, and the charge immediately before the standby mode remains in each pixel electrode 4. It is in a state. A part of the charge remaining in each pixel electrode 4 is leaked through the liquid crystal or each driving circuit, but since the amount thereof is extremely small, there is a problem that the white display in the entire display region changes unevenly. there were.
Accordingly, an object of the present invention is to provide a structure capable of quickly leaking charge remaining in each pixel electrode.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
According to the first aspect of the present invention, the active substrate and the counter substrate are bonded to each other via a substantially rectangular frame-shaped sealing material, and a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix form on the active substrate. Thin film transistors connected to each other, a plurality of scanning lines for supplying a scanning signal to each of the thin film transistors, a plurality of data lines for supplying a data signal to each of the thin film transistors, and an auxiliary capacitance unit between the pixel electrodes A plurality of auxiliary capacitance lines formed and connected to each other, and a liquid crystal display element in which a counter electrode is provided on the counter substrate; and a plurality of leak elements each having one electrode connected to each of the data lines; A common line arranged in parallel with each auxiliary capacitance line and connected to the other electrode of each leakage element. Each scanning line and each auxiliary capacitance line are formed as the same first layer, the common line and the data line are the same layer, and an upper second layer different from the first layer The common line is extended and arranged in a direction orthogonal to the extending direction of each data line, and is connected to the counter electrode via an inter-substrate conductive material. wherein the inter-substrate conductive material is connected to the counter electrode via another inter-substrate conduction members, the common line and the respective storage capacitor lines are directly connected without being in the active substrate, the opposing Each leak element is electrically connected via an electrode, and the output potential of the drive circuit for driving the scan line is set to a low level state, and the input of the drive circuit for driving the data line is set to high impedance. In the state of the standby mode to impedance state, is characterized in that the one in which to leak charge remaining in each pixel electrode.
The invention according to claim 2 is the invention according to claim 1, wherein one electrode, the other electrode and the common line of the leak element are formed in the same layer as the data line. To do.
According to a third aspect of the present invention, in the invention of the second aspect, the one electrode, the other electrode, and the common line of the leak element are formed of the same material and the same thickness as the data line. It is characterized by being.
According to a fourth aspect of the present invention, in the invention according to any one of the first to third aspects, the inter-substrate conductive material is made of elastically deformable conductive particles mixed in the seal material. It is what.
According to the present invention, in the standby mode, each pixel electrode potential is quickly leaked to at least all the auxiliary capacitance lines or the counter electrodes via the leak element, and therefore, the electric charge remaining in each pixel electrode is passed through the leak element. Can leak quickly.
[0010]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
FIG. 1 is an equivalent circuit transmission plan view of a main part of a liquid crystal display element according to an embodiment of the present invention. In this liquid crystal display element, an active substrate 21 and a counter substrate 22 disposed on the active substrate 21 are bonded to each other via a substantially rectangular frame-shaped sealing material 23, and a liquid crystal is interposed between the substrates 21 and 22 inside the sealing material 23. 24 (see FIG. 2) is enclosed. In this case, two predetermined sides of the active substrate 21 protrude from the counter substrate 22. Hereinafter, these protrusions are referred to as a right side protrusion 21a and a lower side protrusion 21b.
[0011]
A plurality of pixel electrodes 25 and thin film transistors 26 respectively connected to the pixel electrodes 25 are provided in a matrix on the active substrate 21 inside the sealing material 23. A plurality of scanning lines 27 for supplying scanning signals to the thin film transistors 26 are provided on the active substrate 21 inside the sealing material 23 so as to extend in the row direction so as to supply data signals to the thin film transistors 26. The plurality of data lines 28 are provided so as to extend in the column direction, and the plurality of auxiliary capacitance lines 29 that form the auxiliary capacitance portion Cs between each pixel electrode 25 are provided so as to extend in the row direction.
[0012]
The right end portion of each scanning line 27 is connected to an output pad 31 provided in a semiconductor chip mounting region 30 indicated by a dotted line on the right side protruding portion 21 a of the active substrate 21. A lower end portion of each data line 28 is connected to an output pad 33 provided in a semiconductor chip mounting region 32 indicated by a dotted line on the lower side protruding portion 21 b of the active substrate 21. The left end of each auxiliary capacitance line 29 is connected to a substantially L-shaped common line 34.
[0013]
The right end of the common line 34 and the right end of the auxiliary capacitance line 29 in the first row are connected to connection pads 35 and 36 provided at two predetermined locations on the active substrate 21 below the seal material 23. One connection pad 35 and input pads 37 and 38 provided in the semiconductor chip mounting regions 30 and 32 are respectively connected to an external connection terminal 39 provided on a predetermined end of the active substrate 21 via a lead line 40. It is connected.
[0014]
On the semiconductor chip mounting area 30 on the right side, a scanning line driving semiconductor chip (not shown) made of an LSI or the like, in which a scanning line driving circuit for supplying a scanning signal to the scanning line 27 is built, is mounted. . On the lower semiconductor chip mounting area 32, a data line driving semiconductor chip (not shown) made of LSI or the like, in which a data line driving circuit for supplying a data signal to the data line 28 is built, is mounted. Yes.
[0015]
Inside the sealing material 23 on the active substrate 21, an upper side of the auxiliary capacitance line 29 in the first row (that is, a lower semiconductor chip mounting region 32, sandwiching a display region composed of the arrangement region of the pixel electrode 25, On the opposite side), a plurality of leak elements 41 are provided. The leak element 41 has a voltage characteristic defined by a space charge limited current and has a non-linear voltage-current characteristic.
[0016]
One electrode of each leak element 41 is connected to each data line 28. The other electrode of each leak element 41 is connected to a common line 42 provided on the upper side of the active substrate 21 so as to extend in the row direction. As will be described in detail later, one electrode, the other electrode, and the common line 42 of each leak element 41 are formed at the same time as the formation of the data line 28 including the output pad 33. It consists of a thick metal film.
[0017]
Although not particularly limited, the common line 42 is integrally formed with a connection pad 43 disposed at a predetermined position on the active substrate 21 below the seal material 23 in the vicinity of the other connection pad 36. Yes. The three connection pads 35, 36, and 43 are substrates made of elastically deformable conductive particles mixed in the sealing material 23 on the counter electrode 44 (see FIG. 2) provided in a solid shape under the counter substrate 22. They are connected via an inter-conductor 45 (see FIG. 2).
[0018]
Therefore, the common line 42 is interposed between the connection pad 43, the inter-substrate conductive material 45 interposed between the connection pad 43 and the counter electrode 44, the counter electrode 44, and between the counter electrode 44 and the connection pad 36 (35). The inter-substrate conductive material 45 and the connection pad 36 (35) are connected to the auxiliary capacitance line 29 (common line 34) in the first row. In this case, the common line 42 is not directly connected to the auxiliary capacitance line 29 in the first row. The reason will be described later.
[0019]
As described above, in this liquid crystal display element, the leak elements 41 are provided between the common line 42 connected to the auxiliary capacitance line 29 (common line 34) in the first row and the data lines 28, respectively.
[0020]
As a result, when the standby mode is set, the output potential of the scanning line driving circuit is set to the low level state, and the input of the data line driving circuit is set to the high impedance state, the pixel electrode potential is the thin film transistor 26, the data line 28, the leak element 41, Leaked to the counter electrode 44 through the line 42, the connection pad 43, and the inter-substrate conductive material 45 interposed between the connection pad 43 and the counter electrode 44, and further between the counter electrode 44 and the connection pad 36 (35). The leakage current is leaked to all the auxiliary capacitance lines 29 and the common line 34 through the inter-substrate conductive material 45 and the connection pads 36 (35) interposed therebetween. In this case, each pixel electrode potential is quickly leaked through the leak element 41 and becomes the same potential as the counter electrode 44. Therefore, in the case of normally white, the entire display area can be displayed uniformly in white.
[0021]
Next, a specific structure of a part of the liquid crystal display element will be described with reference to FIG. In this case, the thin film transistor 26 is illustrated on the left side of FIG. 2, the leak element 41 is illustrated on the center, and the connection pads 36 and 43 are illustrated on the right side.
[0022]
First, the thin film transistor 26 will be described. A gate electrode 51 extending from the scanning line 27 shown in FIG. 1 is provided at a predetermined location on the upper surface of the active substrate 21. A gate insulating film 52 is provided on the upper surface of the active substrate 21 including the gate electrode 51 and the like.
[0023]
A semiconductor thin film 53 made of intrinsic amorphous silicon is provided at a predetermined position on the upper surface of the gate insulating film 52 on the gate electrode 51. A channel protective film 54 is provided at substantially the center of the upper surface of the semiconductor thin film 53. Ohmic contact layers 55 and 56 made of n-type amorphous silicon are provided on both sides of the upper surface of the channel protective film 54 and on the upper surface of the semiconductor thin film 53 on both sides thereof.
[0024]
A drain electrode 57 is provided on the upper surface of one ohmic contact layer 55. A source electrode 58 is provided on the upper surface of the other ohmic contact layer 56. An overcoat film 59 is provided on the upper surface of the gate insulating film 52 including both electrodes 57 and 58.
[0025]
A contact hole 60 is provided in a portion corresponding to a predetermined portion of the source electrode 58 of the overcoat film 59. A pixel electrode 25 is provided at a predetermined position on the upper surface of the overcoat film 59. The pixel electrode 25 is connected to the source electrode 58 through the contact hole 60.
[0026]
The thin film transistor 26 includes a gate electrode 51, a gate insulating film 52, a semiconductor thin film 53, a channel protective film 54, ohmic contact layers 55 and 56, a source electrode 58 and a drain electrode 57.
[0027]
Next, a gate insulating film 52 is provided on the upper surface of the active substrate 21 to explain the leak element 41, and a semiconductor thin film 62 made of intrinsic amorphous silicon is provided at a predetermined position on the upper surface of the gate insulating film 52. Yes. A protective film 63 is provided almost at the center of the upper surface of the semiconductor thin film 62. Ohmic contact layers 64 and 65 made of n-type amorphous silicon are provided on both sides of the upper surface of the protective film 63 and on the upper surface of the semiconductor thin film 62 on both sides thereof.
[0028]
One electrode 66 connected to the data line 28 is provided on the upper surface of the one ohmic contact layer 64. The other electrode 67 connected to the common line 42 is provided on the upper surface of the other ohmic contact layer 65. An overcoat film 59 is provided on the upper surface of the gate insulating film 52 including both electrodes 66 and 67.
[0029]
The leak element 41 includes a gate insulating film 52, a semiconductor thin film 62, a protective film 63, ohmic contact layers 64 and 65, one electrode 66, and the other electrode 67.
[0030]
Here, the thin films constituting the thin film transistor 26 and the leak element 41 are formed by a common process, and the materials and thicknesses of the corresponding thin films are the same. That is, first, an aluminum-based metal material or the like is formed on the active substrate 21, and a part of the lead line 40 including the scanning line 27 including the output pad 31, the input pad 37, and the external connection terminal 39 is formed by photolithography. The auxiliary capacitance line 29 including the connection pads 35 and 36 and the common line 34 connecting the auxiliary capacitance lines 29 to each other are formed. Next, a gate insulating film 52, a semiconductor thin film, and a channel forming protective film are successively formed on these terminals and wirings, and a channel protective film 54, a protective film 63, a semiconductor thin film 53, and a semiconductor are formed by photolithography. A thin film 62 is formed. Next, an n-type amorphous silicon and aluminum-based metal film is formed, and ohmic contact layers 55, 56, 64, and 65 are formed by photolithography, and the source electrode 58 and drain that are stacked thereon are formed. Since the electrode 57, one electrode 66, the other electrode 67, the data line 28, the data line 28 including the output pad 33, the common line 42, the input pad 38, and a part of the lead line 40 including the external connection terminal 39 are formed. is there.
[0031]
Next, the connection pads 36 and 43 will be described. Connection pads 36 are provided at predetermined locations on the upper surface of the active substrate 21. A gate insulating film 52 is provided on the upper surface of the active substrate 21 including the connection pads 36.
[0032]
A lower layer wiring 71 made of n-type amorphous silicon is provided at a predetermined position on the upper surface of the gate insulating film 52. The lower layer wiring 71 extends the ohmic contact layer 65, and the connection pad 43 and the common line 42 connected to the connection pad 43 are laminated on the lower layer wiring 71 as described above.
[0033]
An overcoat film 59 is provided on the upper surface of the gate insulating film 52 including the common line 42 and the like. An opening 72 is provided in a portion corresponding to the connection pad 36 of the overcoat film 59 and the gate insulating film 52. An opening 73 is provided in a portion corresponding to the connection pad 43 of the overcoat film 59.
[0034]
A counter electrode 44 is provided on the lower surface of the counter substrate 22. Between the connection pads 36 and 43 exposed through the openings 72 and 73 and the counter electrode 44, an inter-substrate conductive material 45 made of elastically deformable conductive particles mixed in the seal material 23 is interposed. Has been.
[0035]
Here, the leak element 41 can be formed simultaneously with the formation of the thin film transistor 26, and the one electrode 66 and the other electrode 67 are formed in the same layer (same plane) as the data line 28 and the common line 42. Since it is formed, it is not necessary to form a through hole or the like for connection, and therefore the manufacturing process is very efficient.
[0036]
Furthermore, since one opening 73 is formed only in the overcoat film 59, it can be formed simultaneously with the formation of the contact hole 60. Since the other opening 73 is formed in the overcoat film 59 and the gate insulating film 52, dry etching for forming the contact hole 60 in the overcoat film 59 may be continued to some extent. Therefore, the number of manufacturing processes does not increase.
[0037]
As described above, the common line 42 is not directly connected to the auxiliary capacitance line 29 in the first row. The reason is that in the case of direct connection, the n-type amorphous silicon film for forming the lower layer wiring 71 and the like is formed at the right end portion of the auxiliary capacitance line 29 in the first row of the gate insulating film 52. This is because a contact hole needs to be formed in the corresponding portion, and the number of manufacturing steps increases, which is avoided.
[0038]
In the above embodiment, a two-terminal element is used as the leak element 41. However, the present invention is not limited to this, and the gate electrode is connected to the auxiliary capacitance line 29 as in the other embodiment of the present invention shown in FIG. Alternatively, a thin film transistor type nonlinear element having a drain electrode connected to the data line 28 and a source electrode connected to the common line 42 may be used.
[0039]
In the above embodiment, as shown in FIG. 2, the two connection pads 36 and 43 are connected via two (or three or more) inter-substrate conductive members 45 and counter electrodes 44. However, the present invention is not limited to this, and the connection may be made only through the inter-substrate conductive member 45 as in still another embodiment of the present invention shown in FIG. In this case, the counter electrode 44 may not be provided in a region facing the two connection pads 36 and 43. That is, the connection pad 43 may be connected only to the connection pad 36 via the inter-substrate conductive material 45. Further, the connection pad 43 may be connected only to the counter electrode 44 via the inter-substrate conductive material 45.
[0040]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the charge remaining in each pixel electrode can be quickly leaked through the leak element or the like, so that the display state in, for example, the standby mode is improved. be able to.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an equivalent circuit transmission plan view of a main part of a liquid crystal display device as one embodiment of the present invention.
2 is a cross-sectional view showing a specific structure of part of the liquid crystal display element shown in FIG.
FIG. 3 is an equivalent circuit transmission plan view of a main part of a liquid crystal display device as another embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a partial cross-sectional view of a liquid crystal display device as still another embodiment of the present invention.
FIG. 5 is an equivalent circuit transmission plan view of a part of a conventional liquid crystal display element.
[Explanation of symbols]
21 active substrate 22 counter substrate 23 sealing material 24 liquid crystal 25 pixel electrode 26 thin film transistor 27 scanning line 28 data line 29 auxiliary capacity line 34 common line 35, 36 connection pad 41 leak element 42 common line 43 connection pad

Claims (4)

アクティブ基板と対向基板とがほぼ方形枠状のシール材を介して貼り合わされ、
前記アクティブ基板に、マトリクス状に配置された複数の画素電極、これらの画素電極にそれぞれ接続された薄膜トランジスタ、前記各薄膜トランジスタに走査信号を供給するための複数の走査ライン、前記各薄膜トランジスタにデータ信号を供給するための複数のデータライン、前記各画素電極との間で補助容量部を形成し且つ互いに接続された複数の補助容量ラインが設けられ、
前記対向基板に対向電極が設けられた液晶表示素子において、
前記各データラインのそれぞれに一方の電極が接続された複数のリーク素子と、
前記各補助容量ラインと平行に配置され、前記各リーク素子の他方の電極が接続された共通ラインと、を備え、
前記各走査ラインと前記各補助容量ラインとが同一の第一層として形成され、
前記共通ラインと前記データラインとが同一の層で、且つ、前記第一層とは異なる上層側の第二層として形成され、
前記共通ラインは、前記各データラインの延伸方向に対して直交する方向に延伸配置されるとともに、基板間導通材を介して前記対向電極に接続され、
前記各補助容量ラインは、前記基板間導通材とは別の基板間導通材を介して前記対向電極に接続され、
前記共通ラインと前記各補助容量ラインは、前記アクティブ基板側で直接的に接続されることなく、前記対向電極を介して電気的に接続され、
前記各リーク素子は、前記走査ラインを駆動する駆動回路の出力電位をローレベル状態とし前記データラインを駆動する駆動回路の入力をハイインピーダンス状態とするスタンバイモードの状態において、前記各画素電極に残留する電荷をリークさせるものであることを特徴とする液晶表示素子。
The active substrate and the counter substrate are bonded together through a substantially rectangular frame-shaped sealing material,
A plurality of pixel electrodes arranged in a matrix on the active substrate, thin film transistors connected to the pixel electrodes, a plurality of scanning lines for supplying scanning signals to the thin film transistors, and data signals to the thin film transistors A plurality of data lines for supply, a plurality of auxiliary capacitance lines that are connected to each other and that form an auxiliary capacitance portion between the pixel electrodes,
In the liquid crystal display element in which the counter electrode is provided on the counter substrate,
A plurality of leakage elements each having one electrode connected to each of the data lines;
A common line arranged in parallel with each auxiliary capacitance line and connected to the other electrode of each leakage element,
Each scanning line and each auxiliary capacitance line are formed as the same first layer,
The common line and the data line are formed in the same layer and as a second layer on the upper layer side different from the first layer,
The common line is extended and arranged in a direction perpendicular to the extending direction of each data line, and is connected to the counter electrode via an inter-substrate conductive material,
Each auxiliary capacitance line is connected to the counter electrode via a substrate-to-substrate conductive material different from the substrate-to-substrate conductive material,
The common line and each auxiliary capacitance line are electrically connected via the counter electrode without being directly connected on the active substrate side ,
Each leakage element remains in each pixel electrode in a standby mode state in which an output potential of a driving circuit for driving the scanning line is in a low level state and an input of the driving circuit for driving the data line is in a high impedance state. A liquid crystal display element characterized by leaking charge to be leaked .
請求項1に記載の発明において、前記リーク素子の一方の電極、他方の電極および前記共通ラインは、前記データラインと同一層に形成されていることを特徴とする液晶表示素子。  2. The liquid crystal display element according to claim 1, wherein one electrode, the other electrode, and the common line of the leak element are formed in the same layer as the data line. 請求項2に記載の発明において、前記リーク素子の一方の電極、他方の電極および前記共通ラインは、前記データラインと同一材料で同一の厚さに形成されていることを特徴とする液晶表示素子。  3. The liquid crystal display element according to claim 2, wherein one electrode, the other electrode, and the common line of the leak element are formed of the same material and the same thickness as the data line. . 請求項1〜3のいずれかに記載の発明において、前記各基板間導通材は前記シール材中に混入された弾性変形可能な導電性粒子からなることを特徴とする液晶表示素子。 4. The liquid crystal display element according to claim 1, wherein each inter-substrate conducting material is made of elastically deformable conductive particles mixed in the sealing material.
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