JP4597354B2 - Mos型イメージセンサ - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、MOS型イメージセンサに関し、動作時での配線間で相互にカップリングノイズによる影響の低減に関する。
【0002】
【従来の技術】
MOS型イメージセンサは、特に専用プロセスが必要なCCDイメージセンサと違い、標準MOSプロセスで作製可能なために、低電圧・単一電源動作により低消費電力なこと、および周辺ロジックやマクロがワンチップ化できる利点があり、近年注目を浴びている。
【0003】
図3は、MOS型イメージセンサのピクセル部回路構成図の一例を示す構成ブロック図である。ピクセルとは、ディスプレイ上の画面を構成する最小単位の点で、画素とも言う。図において、ピクセルは、光入力を電気信号に光電変換するフォトダイオード31と、フォトダイオード31のカソード部電位を初期化するリセットトランジスタ32と、フォトダイオード31で光電変換された信号を増幅するためのトランジスタ33と、トランジスタ33で増幅された信号を読み出すための行選択トランジスタ34とを有している。
【0004】
図4は、図3のMOS型イメージセンサの読み出しタイミングを示す波形図である。信号リセット線41が活性化されることによりフォトダイオードのカソード部が初期化され、露光が開始される。任意の露光時間経過後、行選択線42が活性化され、露光量に応じ光電変換された信号が読み出される。行選択線42活性化時には、信号リセット線41が一時的に活性化され、この信号リセット線活性化後には、行選択線42はまだ活性化されているため、引き続きフォトダイオードのカソード部の初期化された信号が読み出される。これは、ピクセル毎固有のリファレンス信号として、信号の補正に用いられる。
【0005】
以上の動作を、走査方向に従って、最上行から最下行までに渡って繰り返すことにより、1フレーム分の画像信号が読み出される。また、この走査を、最下行まで行った後、引き続き最上行に戻って、連続して続けることにより、複数フレームに渡った動画像信号を得ることもできる。このとき、任意の行について、あるフレームの読み出しから次のフレームの読み出しまでの間の任意の時間で、信号リセット線41のみを一時的に活性化することにより、電子的に露光時間を可変にする電子シャッター効果を得ることも可能である。
【0006】
図5はE、R、Fossum等による従来のMOS型イメージセンサのピクセル部レイアウト例を示す構成図である(E、R、Fossum、SPIE、1900、pp2-14、1993)。この例では、信号リセット線Rと、行選択線Sとが光電変換部PGの一端に隣り合って配置されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、この従来例では、信号リセット線Rと行選択線Sとが隣接して配置され、かつ両者は同一配線素材で配線の太さ・厚さもほぼ同一なため、読み出しタイミング図4において、信号の立ち上がり立下り時に、配線間容量によりお互いがカップリングノイズ43を受けてしまう。特に、行選択線Sの活性化時に、信号リセット線Rがカップリングノイズ43により誤動作してしまうと、光電変換部PGで光電変換された信号が破壊されてしまうという問題がある。
【0008】
また、本発明とは逆に、行選択線と信号リセット線とを、水平方向選択線の走査方向に対し上側を信号リセット線、下側を行選択線とし、それらをピクセルの光電変換部を挟んでピクセルの上下に配置する例を考えると、読み出し前のピクセルの信号リセット線にカップリングノイズが生ずると、読み出し前に光電変換部で光電変換された信号が破壊されてしまうという問題がある。
【0009】
本発明は上述する課題を解決するもので、読み出し動作時に光電変換された信号が破壊されない構造のMOS型イメージセンサを提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決する本発明のMOS型イメージセンサは、行方向に対して直交する列方向を予め定められた走査方向とし、行列状に配置された複数のピクセルを有するMOS型イメージセンサの各ピクセルにおいて、該列方向に第1及び第2ピクセルが隣接配置され、前記第1及び第2ピクセルの中央にそれぞれ配置され、光電変換した信号を出力する第1及び第2光電変換部と、前記第1光電変換部に対して前記走査方向の上流に離され、前記行方向に配設された第1行選択線と、前記第1光電変換部に対して前記走査方向の下流に離され、前記行方向に配設された第1信号リセット線と、前記第2光電変換部に対して前記走査方向の上流に離され、前記行方向に配設された第2行選択線と、前記第2光電変換部に対して前記走査方向の下流に離され、前記行方向に配設された第2信号リセット線と、を備え、前記第1信号リセット線と前記第2行選択線とは近接配置されており、前記第2行選択線が選択されている期間は、前記第1リセット線が非選択とされていることを特徴とするものである。
【0011】
また、本発明は、前記第2ピクセルの前記光電変換部が出力する前記信号は、前記第1ピクセルが選択されている際に、既に読み出されていることを特徴とするMOS型イメージセンサである。
また、本発明は、前記第1及び第2行選択線を前記第1及び第2信号リセット線よりも高抵抗とすることを特徴とするMOS型イメージセンサである。
また、本発明は、前記第1及び第2行選択線を多結晶ポリシリコン系の配線とし、前記第1及び第2信号リセット線をアルミニウム系の配線とすることを特徴とするMOS型イメージセンサである。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明の一実施の形態を説明するピクセル部のレイアウト構成図である。図において、ピクセル6を横切る2本の水平方向配線、行選択線2および信号リセット線3のうち、水平方向選択線の走査方向に対し上側を行選択線2、下側を信号リセット線3とし、それらをピクセルの光電変換部5を挟んでピクセル6の上下に配置する。
【0013】
図中のピクセル6において、行選択線2、信号リセット線3、および光電変換部5以外には、電源線、読み出し線、増幅アンプ、リセットスイッチ、選択スイッチ等が実際にはレイアウトされるが、それらの構成は当業者にとってよく知られており、また本発明とは直接関係しないので、その詳細な構成は省略する。
【0014】
このように構成された装置の動作を次に説明する。以下、本実施例の動作について説明する。図2は図1の装置における信号タイミング図である。MOS型イメージセンサでは、走査方向に従って水平方向配線が順次選択され、信号のリセットおよび行選択が行われていく。信号線の立ち上がり立下り時には配線間の相互作用でカップリングノイズ7が生じる。図1の配置のように、行選択線2と信号リセット線3を配置することによって、ピクセル6内では行選択線2と信号リセット線3とは光電変換部5を挟んで配置されているため、距離的に遠く相互にカップリングノイズ7を生ずることがない。
【0015】
隣接するピクセル間では、走査方向に対し上側ピクセルの信号リセット線1が行選択線2と近接し、また、走査方向に対し下側ピクセルの行選択線4が信号リセット線3と近接し、それらは動作時に相互にカップリングノイズ7を生ずる場合がある。しかし、ピクセル6が選択されている時、上側のピクセルは既に信号が読み出された後であり、信号リセット線1にカップリングノイズ7を生じても1画面静止画読み出しおよび電子シャッター併用の動画読み出し時には問題とならない。また、このとき、下側のピクセルは信号読み出し前になるが、行選択線4にカップリングノイズ7を生じたとしても、読み出し前のピクセルの信号が破壊されることがないので、やはり問題とはならない。
【0016】
本発明の他の実施例として、その基本的構成は上記の通りであるが、行選択線2および信号リセット線3について、行選択線2を信号リセット線3より高抵抗とすることにより、さらに工夫している。これは、たとえば、行選択線2を多結晶ポリシリコン系の配線、信号リセット線3をアルミニウム系の配線とすることにより、容易に実現可能である。このように構成することにより、信号リセット線1へのカップリングノイズ7を小さくすることが可能であり、電子シャッターを併用しない動画読み出し時にも問題が生じにくくなる。
【0017】
尚、上記実施例においては行選択線2と信号リセット線3とは、同一層の配線とする場合は配線層節約の観点からは好ましいが、本発明はこれに限定されるものではなく、異なった層の配線で形成してもよい。また、配線の素材についても、一般にはアルミニウム系の素材が用いられているが、他の導電性材料であっても良い。
【0018】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、このように、ピクセルを横切る2本の水平方向配線、行選択線および信号リセット線のうち、水平方向選択線の走査方向に対し上側を行選択線、下側を信号リセット線とし、それらをピクセルの光電変換部を挟んでピクセルの上下に配置しているので、動作時に、配線間で相互にカップリングノイズが生じたとしても、信号破壊の問題は生じない。
【0019】
たとえば、信号リセット線にカップリングノイズを生じても、上側のピクセルは既に信号が読み出された後であるから、1画面静止画読み出しおよび電子シャッター併用の動画読み出し時には支障を生じない。また、行選択線にカップリングノイズを生じたとしても、読み出し前のピクセルの信号が破壊されることがないので、やはり支障を生じない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施の形態を説明するピクセル部のレイアウト構成図である。
【図2】 図1の装置における信号タイミング図である。
【図3】 MOS型イメージセンサのピクセル部回路構成図の一例を示す構成ブロック図である。
【図4】 図3のMOS型イメージセンサの読み出しタイミングを示す波形図である。
【図5】 従来のMOS型イメージセンサのピクセル部レイアウト例を示す構成図である。
【符号の説明】
2、4 行選択線
1、3 信号リセット線
5 光電変換部
6 ピクセル
Claims (4)
- 行方向に対して直交する列方向を予め定められた走査方向とし、行列状に配置された複数のピクセルを有するMOS型イメージセンサの各ピクセルにおいて、
該列方向に第1及び第2ピクセルが隣接配置され、前記第1及び第2ピクセルの中央にそれぞれ配置され、光電変換した信号を出力する第1及び第2光電変換部と、
前記第1光電変換部に対して前記走査方向の上流に離され、前記行方向に配設された第1行選択線と、
前記第1光電変換部に対して前記走査方向の下流に離され、前記行方向に配設された第1信号リセット線と、
前記第2光電変換部に対して前記走査方向の上流に離され、前記行方向に配設された第2行選択線と、
前記第2光電変換部に対して前記走査方向の下流に離され、前記行方向に配設された第2信号リセット線と、
を備え、
前記第1信号リセット線と前記第2行選択線とは近接配置されており、
前記第2行選択線が選択されている期間は、前記第1リセット線が非選択とされていることを特徴とするMOS型イメージセンサ。 - 前記第2ピクセルの前記第2光電変換部が出力する前記信号は、前記第1ピクセルが選択されている際に、既に読み出されていることを特徴とする請求項1に記載のMOS型イメージセンサ。
- 前記第1及び第2行選択線を前記第1及び第2信号リセット線よりも高抵抗とすることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のMOS型イメージセンサ。
- 前記第1及び第2行選択線を多結晶ポリシリコン系の配線とし、前記第1及び第2信号リセット線をアルミニウム系の配線とすることを特徴とする請求項3に記載のMOS型イメージセンサ。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000387134A JP4597354B2 (ja) | 2000-12-20 | 2000-12-20 | Mos型イメージセンサ |
| KR1020010075233A KR20020050101A (ko) | 2000-12-20 | 2001-11-30 | 금속 산화막 반도체형 이미지 센서 |
| US10/012,405 US7274395B2 (en) | 2000-12-20 | 2001-12-12 | MOS-type image sensor configured to reduce coupling noise |
| TW090131416A TW548970B (en) | 2000-12-20 | 2001-12-18 | MOS-type image sensor |
| FR0116462A FR2818441A1 (fr) | 2000-12-20 | 2001-12-19 | Capteur d'image de type mos |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000387134A JP4597354B2 (ja) | 2000-12-20 | 2000-12-20 | Mos型イメージセンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002190585A JP2002190585A (ja) | 2002-07-05 |
| JP4597354B2 true JP4597354B2 (ja) | 2010-12-15 |
Family
ID=18854124
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000387134A Expired - Fee Related JP4597354B2 (ja) | 2000-12-20 | 2000-12-20 | Mos型イメージセンサ |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7274395B2 (ja) |
| JP (1) | JP4597354B2 (ja) |
| KR (1) | KR20020050101A (ja) |
| FR (1) | FR2818441A1 (ja) |
| TW (1) | TW548970B (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100561003B1 (ko) * | 2003-09-30 | 2006-03-16 | 동부아남반도체 주식회사 | 이미지 센서 및 그 제조방법 |
Family Cites Families (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5115293A (en) * | 1989-12-11 | 1992-05-19 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Solid-state imaging device |
| JP2614123B2 (ja) * | 1989-12-11 | 1997-05-28 | 富士写真フイルム株式会社 | 固体撮像装置 |
| JP3697769B2 (ja) * | 1995-02-24 | 2005-09-21 | 株式会社ニコン | 光電変換素子及び光電変換装置 |
| US5614744A (en) | 1995-08-04 | 1997-03-25 | National Semiconductor Corporation | CMOS-based, low leakage active pixel array with anti-blooming isolation |
| JP3579194B2 (ja) * | 1996-09-17 | 2004-10-20 | 株式会社東芝 | 固体撮像装置の駆動方法 |
| US5789737A (en) * | 1997-01-22 | 1998-08-04 | Xerox Corporation | High dynamic range segmented pixel sensor array |
| TW393777B (en) * | 1997-09-02 | 2000-06-11 | Nikon Corp | Photoelectric conversion devices and photoelectric conversion apparatus employing the same |
| JP3466886B2 (ja) * | 1997-10-06 | 2003-11-17 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置 |
| JP3546985B2 (ja) * | 1997-12-15 | 2004-07-28 | シャープ株式会社 | 増幅型光電変換素子、増幅型固体撮像装置及びその駆動方法 |
| US6492694B2 (en) * | 1998-02-27 | 2002-12-10 | Micron Technology, Inc. | Highly conductive composite polysilicon gate for CMOS integrated circuits |
| JPH11307752A (ja) * | 1998-04-21 | 1999-11-05 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
| US6097022A (en) * | 1998-06-17 | 2000-08-01 | Foveon, Inc. | Active pixel sensor with bootstrap amplification |
| JP3571924B2 (ja) * | 1998-07-09 | 2004-09-29 | 株式会社東芝 | 固体撮像装置 |
| US6466266B1 (en) * | 1998-07-28 | 2002-10-15 | Eastman Kodak Company | Active pixel sensor with shared row timing signals |
| JP3011208B1 (ja) * | 1998-11-09 | 2000-02-21 | 日本電気株式会社 | イメージセンサ及びその製作方法 |
| US6218656B1 (en) * | 1998-12-30 | 2001-04-17 | Eastman Kodak Company | Photodiode active pixel sensor with shared reset signal row select |
| JP3576033B2 (ja) | 1999-03-31 | 2004-10-13 | 株式会社東芝 | 固体撮像装置 |
| US6333205B1 (en) * | 1999-08-16 | 2001-12-25 | Micron Technology, Inc. | CMOS imager with selectively silicided gates |
| JP3420144B2 (ja) * | 1999-12-03 | 2003-06-23 | Necエレクトロニクス株式会社 | イメージセンサ及びその製造方法 |
-
2000
- 2000-12-20 JP JP2000387134A patent/JP4597354B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-11-30 KR KR1020010075233A patent/KR20020050101A/ko not_active Ceased
- 2001-12-12 US US10/012,405 patent/US7274395B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-12-18 TW TW090131416A patent/TW548970B/zh not_active IP Right Cessation
- 2001-12-19 FR FR0116462A patent/FR2818441A1/fr active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20020075390A1 (en) | 2002-06-20 |
| FR2818441A1 (fr) | 2002-06-21 |
| KR20020050101A (ko) | 2002-06-26 |
| TW548970B (en) | 2003-08-21 |
| JP2002190585A (ja) | 2002-07-05 |
| US7274395B2 (en) | 2007-09-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20071016 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071016 |
|
| RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20080421 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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|
| RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425 Effective date: 20090626 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20100507 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100629 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100630 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100826 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100914 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100922 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131001 Year of fee payment: 3 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |