JP4676352B2

JP4676352B2 - Storage device testing equipment

Info

Publication number: JP4676352B2
Application number: JP2006038717A
Authority: JP
Inventors: 茂伸込山
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 2006-02-16
Filing date: 2006-02-16
Publication date: 2011-04-27
Anticipated expiration: 2026-02-16
Also published as: JP2007219772A

Description

本発明は、試験機とリレー装置を備え、大型コンピュータ用の記憶装置を被試験装置とし、記憶装置にリレー装置を介して試験機を接続し、試験機からの試験信号によりリレー装置を動作させることで記憶装置の電源投入切断試験を行う記憶装置の試験装置に関する。 The present invention comprises a testing machine and a relay device, a storage device for a large computer is used as a device under test, the testing device is connected to the storage device via a relay device, and the relay device is operated by a test signal from the testing machine. The present invention relates to a storage device test apparatus that performs a power-on / off test of the storage device.

(1) ：従来例１
図７は従来例１の説明図である。以下、図７に基づいて従来例１を説明する。この例は、大型コンピュータに使用する大型の記憶装置（この例では、大型磁気記憶装置）の電源投入切断試験を行う例である。 (1): Conventional example 1
FIG. 7 is an explanatory diagram of the first conventional example. Hereinafter, Conventional Example 1 will be described with reference to FIG. This example is an example in which a power-on / off test is performed on a large storage device (in this example, a large magnetic storage device) used in a large computer.

この試験では、ホストコンピュータ１として大型コンピュータを使用し、このホストコンピュータ１と被試験装置である大型の記憶装置５（この例では大型磁気記憶装置として、大型磁気ディスク装置を使用）を電源制御用ケーブルとデータ転送用インタフェース（インタフェースケーブル）で接続して試験を行う。 In this test, a large computer is used as the host computer 1 and the host computer 1 and a large storage device 5 (a large magnetic disk device is used as a large magnetic storage device in this example) as a device under test for power control. Connect the cable with the interface for data transfer (interface cable) and perform the test.

この場合、ホストコンピュータ１には、記憶装置５の電源制御を行うための電源制御部２が設けてある。なお、ホストコンピュータ１の他の各部は図示省略してある。また、記憶装置５には、データの記憶を行うための記憶部６と、記憶部６に対する各種制御を行う制御部７と、記憶装置５の各部に電源供給を行うための電源部８と、電源部８に対する制御を行う電源制御部９と、電源制御部９を制御するための信号等をホストコンピュータ１から入力するための電源制御入力部１０等が設けてある。この場合、電源部８には、外部からＡＣ２００Ｖ又はＡＣ１００Ｖの商用電源電圧を供給する。 In this case, the host computer 1 is provided with a power control unit 2 for performing power control of the storage device 5. The other parts of the host computer 1 are not shown. The storage device 5 includes a storage unit 6 for storing data, a control unit 7 for performing various controls on the storage unit 6, a power supply unit 8 for supplying power to each unit of the storage device 5, and A power supply control unit 9 for controlling the power supply unit 8 and a power supply control input unit 10 for inputting a signal for controlling the power supply control unit 9 from the host computer 1 are provided. In this case, commercial power supply voltage of AC200V or AC100V is supplied to the power supply unit 8 from the outside.

そして、ホストコンピュータ１と前記制御部７との間をデータ転送用インタフェース（インタフェースケーブル）で接続し、前記ホストコンピュータ１の電源制御部２と記憶装置５の電源制御入力部１０との間を電源制御用ケーブルにより接続する。この状態でホストコンピュータ１の制御により記憶装置５の電源投入切断試験を行う。 The host computer 1 and the control unit 7 are connected by a data transfer interface (interface cable), and the power supply control unit 2 of the host computer 1 and the power control input unit 10 of the storage device 5 are powered. Connect with control cable. In this state, a power-on / off test of the storage device 5 is performed under the control of the host computer 1.

(2) ：従来例２
図８は従来例２の説明図である。以下、図８に基づいて従来例２を説明する。この例は、大型コンピュータに使用する大型の記憶装置（この例では、大型磁気記憶装置）の記憶部に対して試験を行う例である。 (2): Conventional example 2
FIG. 8 is an explanatory diagram of the second conventional example. Hereinafter, Conventional Example 2 will be described with reference to FIG. In this example, a test is performed on a storage unit of a large storage device (in this example, a large magnetic storage device) used for a large computer.

この試験では、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）からなる試験機２０を使用し、従来例１で説明した大型の記憶装置５の記憶部６と電源部８を使用して試験を行う。この場合、外部の商用電源からＡＣ２００Ｖ又はＡＣ１００Ｖの交流電源を電源部８に供給し、電源部８から記憶部６に電源を供給している状態で試験を行う。 In this test, a test machine 20 composed of a PC (personal computer) is used, and the test is performed using the storage unit 6 and the power supply unit 8 of the large-sized storage device 5 described in the first conventional example. In this case, the test is performed in a state where AC 200 V or AC 100 V AC power is supplied from an external commercial power source to the power source unit 8 and power is supplied from the power source unit 8 to the storage unit 6.

試験を行うには、試験機（ＰＣ）２０からデータ転送用インタフェースを介して試験データを転送し、記憶部６に対してデータのライトやリードを繰り返すことにより試験を行う。 In order to perform the test, the test data is transferred from the test machine (PC) 20 via the data transfer interface, and the test is performed by repeatedly writing and reading data to and from the storage unit 6.

(3) ：従来例３
以下、特許文献１を従来例３として説明する。従来例３には次のような内容が記載されている。 (3): Conventional example 3
Hereinafter, Patent Document 1 will be described as Conventional Example 3. Conventional Example 3 describes the following contents.

「機器の異常を当該機器から離れた場所において表示する機器異常表示システムにおいて、前記機器には、当該機器の異常を検出する異常検出手段と、この異常検出手段が異常を検出した場合に、ｎバイト分の連続する「１」または「０」のデータをシリアル伝送するデータ伝送手段とが備えられ、異常表示が行われる場所には、前記データ伝送手段より送られてくるデータを受けてｎバイト分の連続する「１」または「０」であるか否かを検出する検出手段と、この検出手段の検出結果に基づき異常表示を行う表示手段を備えさせたことを特徴とする。」・・・（公報第２頁右上欄第１行目〜第２頁右上欄第１５行目参照）
特開平４−２０５５３２号公報 “In a device abnormality display system that displays an abnormality of a device at a location away from the device, the device includes an abnormality detection unit that detects an abnormality of the device, and when the abnormality detection unit detects an abnormality, n Data transmission means for serially transmitting bytes of continuous “1” or “0” data, and at a place where an abnormality is displayed, the data sent from the data transmission means is received and received by n bytes It is characterized by comprising detection means for detecting whether or not the minutes are consecutive "1" or "0", and display means for displaying an abnormality based on the detection result of the detection means. "... (see the second page, upper right column, line 1 to page 2, upper right column, line 15)"
JP-A-4-205532

(1) ：従来例１で説明したように、大型磁気記憶装置の電源投入切断試験を行う場合、ホストコンピュータとして大型コンピュータを必要とするため、設備費用がかかっていた。また、大型コンピュータを使用すると、その立ち上げに時間がかかり、試験効率が悪かった。 (1): As described in the first conventional example, when a power-on / off test of a large-sized magnetic storage device is performed, a large-scale computer is required as a host computer, so that equipment costs are incurred. In addition, when a large computer was used, it took time to start up and the test efficiency was poor.

(2) ：従来例２で説明したような大型磁気記憶装置の記憶部単体での試験において、記憶部に対してデータライトやリード試験と、従来例２で説明したような電源投入切断試験を連動させて実施する手段が無く、不便であった。 (2): In the test of the storage unit alone of the large magnetic storage device as described in the conventional example 2, the data write / read test for the storage unit and the power-on / off test as described in the conventional example 2 are performed. There was no means to carry out in conjunction and it was inconvenient.

本発明は前記の課題を解決し、次のことを目的とする。 The present invention solves the above-mentioned problems and aims at the following.

(a) ：大型コンピュータの電源制御部の機能をパーソナルコンピュータ等で構成した試験機で擬似的に行い、記憶装置の電源投入切断試験を単体で行うことにより、前記課題(1) の解決を図ることで、試験効率を改善する。 (a): The function (1) of the large-sized computer is simulated by a test machine configured with a personal computer or the like, and the storage device power-on / off test is performed alone, thereby solving the problem (1). This improves the test efficiency.

(b) ：記憶部単体でのデータのライト／リード試験と、大型磁気記憶装置の電源投入切断試験を連動して行えるようにする前記課題(2) の解決を図ることで、試験効率の改善を図る。 (b): Improving test efficiency by solving the above problem (2) that enables the data write / read test of the storage unit alone and the power-on / off test of the large magnetic storage device to be linked. Plan.

(c) ：前記(a) と(b) を同一のシステムで実現することで、設備費用を少なくし、効率の良い試験ができるようにする。 (c): By realizing (a) and (b) in the same system, equipment costs can be reduced and efficient testing can be performed.

本発明は前記の目的を達成するため、次のように構成した。 In order to achieve the above object, the present invention is configured as follows.

(1) ：試験機と、リレー装置と、該リレー装置に装着するＡＣ用アタッチメントを備え、大型コンピュータ用の記憶装置を被試験装置とし、前記記憶装置の電源部に対し前記ＡＣアタッチメントを装着したリレー装置を介して前記試験機を接続すると共に、前記接続とは別に前記試験機と前記記憶装置の記憶部との間をデータ転送用インタフェースで接続し、前記試験機からの試験信号により前記リレー装置を動作させ、更にＡＣアタッチメントを駆動することで前記記憶装置の電源投入切断試験を行うと共に、前記試験機からデータ転送用インタフェースを介して前記記憶部とのデータ転送を行うことで、前記記憶部のデータライト／リード試験を行う記憶装置の試験装置であって、前記試験機は前記電源投入切断試験及び記憶部単体のデータライト／リード試験の制御を行う試験制御部を備え、前記試験制御部からの試験信号により前記リレー装置を動作させて変換した信号により前記ＡＣアタッチメントを制御してＡＣ電源を駆動制御することで行う、前記記憶装置の電源投入切断試験と、前記電源投入切断試験の電源投入状態で、前記試験機からデータ転送用インタフェースを介して前記記憶部とのデータ転送を行うことで、前記記憶部のデータライト／リード試験を連動させて行う機能を備えている。 (1) : A testing machine, a relay device, and an AC attachment to be attached to the relay device, a storage device for a large computer as a device under test, and the AC attachment to the power supply unit of the storage device the relay with the the connection connected separately between the storage portion of the tester and the memory device in the data transfer interface, the test signals from the tester to connect the tester via the relay device device is operated, further performs power-off testing of the storage device by driving the AC attachment, by performing data transfer between said memory unit through an interface for data transfer from said tester, said storage A storage device testing apparatus for performing a data write / read test of a storage unit, wherein the testing machine is configured to perform the power-on / off test and the data of a storage unit alone. Comprising a test control unit for controlling the motor write / read test, by the drive control of the AC power by controlling the AC attachment by signal converted by operating the relay device by the test signal from the test control unit Performing data transfer with the storage unit via the data transfer interface from the testing machine in the power-on / off test of the storage device and in the power-on state of the power-on / off test. It has a function to perform data write / read test in conjunction.

(2) ：前記(1) の記憶装置の試験装置において、前記試験機はパーソナルコンピュータにより構成され、前記試験制御部は前記電源投入切断試験を行うための試験プログラムとタイマで構成されると共に、前記試験プログラムは、同一試験プログラム上にデータ転送と電源投入切断用の命令を記述することで、前記タイマに設定された電源投入切断時間及び電源投入切断制御に必要なオン／オフレベル信号を含むＲＳ２３２Ｃ用の試験信号を生成して前記リレー装置へ出力する機能と、前記電源投入切断試験と連動させて前記データライト／リード試験を行う機能を備えている。 (2) : In the storage device test apparatus according to (1) , the test machine is configured by a personal computer, and the test control unit is configured by a test program and a timer for performing the power-on / off test, The test program includes an on / off level signal necessary for power on / off control and a power on / off control set in the timer by describing data transfer and power on / off instructions on the same test program. It has a function of generating a test signal for RS232C and outputting it to the relay device, and a function of performing the data write / read test in conjunction with the power-on / off test.

(3) ：前記(1) の記憶装置の試験装置において、前記リレー装置は、前記試験機からのＲＳ２３２Ｃ用の試験信号を入力し、該入力信号に含まれる電源投入切断制御に必要なオン／オフレベル信号に応じてオン信号電圧を変換する第１の手段及びオフ信号電圧を変換する第２の手段と、前記電圧変換したオン信号及びオフ信号を基に、電源をオン／オフ制御するためのオン／オフ制御信号を作成する第３の手段と、前記オン／オフ制御信号を基に、電源線の２点間の開放と接触を制御する第４の手段を含んでいる。 (3) : In the storage device test device according to (1) , the relay device inputs an RS232C test signal from the tester and is turned on / off necessary for power-on / off control included in the input signal. On / off control of the power supply based on the first means for converting the on-signal voltage in accordance with the off-level signal, the second means for converting the off-signal voltage, and the on-signal and off-signal that have been converted to voltage. third means for creating the on / off control signal, based on the on / off control signal comprises a fourth means for controlling the contact with the opening between the two points of the power line.

（作用）
以下、図１を参照しながら前記構成に基づく本発明の作用を説明する。 (Function)
The operation of the present invention based on the above configuration will be described below with reference to FIG.

(a) ：前記(3) の作用
図１のＡ図において、先ず、試験機２０の操作により各種設定情報を入力すると、試験制御部２５（試験プログラムとタイマ）は、この入力情報を内部の所定部分に設定する。次に、試験制御部２５は、被試験装置５の電源をオフにする信号をリレー装置２３へ送ると、リレー装置２３を介して電源制御入力部１０へ電源オフの信号が入力し、電源制御部９の制御で電源部８がオフになる。 (a): Operation of (3) In FIG. 1A, first, when various setting information is input by the operation of the testing machine 20, the test control unit 25 (test program and timer) Set to a predetermined part. Next, when the test control unit 25 sends a signal to turn off the power of the device under test 5 to the relay device 23, the power off signal is input to the power control input unit 10 via the relay device 23, and the power control is performed. The power supply unit 8 is turned off under the control of the unit 9.

このようにして被試験装置の電源をオフにした後、試験制御部２５は、設定された時間（オン時間）を用いて試験信号をリレー装置２３へ送る。すなわち、試験制御部２５は、設定された時間を用いて試験信号をリレー装置２３へ送出する。この信号により、リレー装置２３を介して電源制御入力部１０へ電源オンの信号が入力し、電源制御部９の制御で電源部８が所定時間オンになる。次に、試験制御部２５は、予め決めた試験回数に達していなければ、電源をオフにして前記の動作を繰り返す。このようにして予め決めた試験回数に達したら、この試験を終了する。 After turning off the power of the device under test in this way, the test control unit 25 sends a test signal to the relay device 23 using the set time (ON time). That is, the test control unit 25 sends a test signal to the relay device 23 using the set time. With this signal, a power-on signal is input to the power supply control input unit 10 via the relay device 23, and the power supply unit 8 is turned on for a predetermined time under the control of the power supply control unit 9. Next, if the predetermined number of tests has not been reached, the test control unit 25 turns off the power and repeats the above operation. When the predetermined number of tests is reached in this way, this test is terminated.

このようにすれば、大型コンピュータの電源制御部の機能をパーソナルコンピュータ等で構成した試験機２０で擬似的に行い、大型コンピュータ用の大型記憶装置の電源投入切断試験を、大型記憶装置単体で行なえるようにして、前記課題(1) の解決を図り、試験効率を改善する。 In this way, the function of the power control unit of the large computer can be simulated by the testing machine 20 composed of a personal computer or the like, and the power-on / off test of the large memory device for the large computer can be performed by the large memory device alone. Thus, the problem (1) is solved and the test efficiency is improved.

すなわち、従来は大型コンピュータを使用して電源投入切断試験を行っていたため、設備費用がかかっていたが、本発明では、大型コンピュータの代わりにパーソナルコンピュータで実現できるため、設備費用が極めて小さくなる。また、従来のように大型コンピュータを使用すると、その立ち上げに時間がかかり試験効率が悪かったが、本発明では、パーソナルコンピュータで実現できるため、その立ち上がりも早くなり、試験効率が改善できる。 That is, since the power-on / off test was conventionally performed using a large computer, equipment costs were incurred. However, in the present invention, the equipment cost can be extremely reduced because it can be realized by a personal computer instead of a large computer. Further, when a large computer is used as in the prior art, it takes a long time to start up and the test efficiency is poor. However, in the present invention, since it can be realized by a personal computer, the start-up becomes quick and the test efficiency can be improved.

(b) ：前記(1) 、(2) 、(3) の作用
図１のＢ図において、先ず、試験機２０によりオペレータの操作で各種設定情報（電源オン／オフ時間、試験回数等）を入力すると、試験制御部２５（試験プログラムとタイマ）は、この入力情報を内部の所定部分に設定する。次に、試験制御部２５は、被試験装置５の電源をオフにする信号をリレー装置２３へ送ると、リレー装置２３はＡＣ用アタッチメント２４を駆動して電源部８をオフにする。 (b): Operation of the above (1), (2), (3) In FIG. 1B, first, various setting information (power on / off time, number of tests, etc.) is operated by the operator with the testing machine 20. When input, the test control unit 25 (test program and timer) sets this input information in a predetermined portion inside. Next, when the test control unit 25 sends a signal for turning off the power supply of the device under test 5 to the relay device 23, the relay device 23 drives the AC attachment 24 to turn off the power supply unit 8.

このようにして被試験装置の電源をオフにした後、試験制御部２５は、設定された時間（オン時間）を用いて試験信号をリレー装置２３へ送る。すなわち、試験制御部２５は、設定された時間を用いて試験信号をリレー装置２３へ送出する。この信号により、リレー装置２３はＡＣ用アタッチメント２４を駆動して、電源部８を所定時間オンにする。 After turning off the power of the device under test in this way, the test control unit 25 sends a test signal to the relay device 23 using the set time (ON time). That is, the test control unit 25 sends a test signal to the relay device 23 using the set time. With this signal, the relay device 23 drives the AC attachment 24 to turn on the power supply unit 8 for a predetermined time.

このようにして電源部８がオン状態の時に、試験制御部２５は、記憶装置５の記憶部６へデータ転送用インタフェースを介して試験データを転送する。このようにして、電源の試験と連動させてデータライト／リード試験を行う。次に、試験制御部２５は、予め決めた試験回数に達していなければ、電源をオフにして前記の動作を繰り返す。このようにして予め決めた試験回数に達したら、この試験を終了する。 In this way, when the power supply unit 8 is on, the test control unit 25 transfers test data to the storage unit 6 of the storage device 5 via the data transfer interface. In this way, the data write / read test is performed in conjunction with the power supply test. Next, if the predetermined number of tests has not been reached, the test control unit 25 turns off the power and repeats the above operation. When the predetermined number of tests is reached in this way, this test is terminated.

このようにして、記憶部単体でのデータのライト／リード試験と、大型磁気記憶装置の電源投入切断試験を連動して行えるため、試験効率の改善を図ることができる。 In this way, since the data write / read test in the storage unit alone and the power-on / off test of the large-sized magnetic storage device can be performed in conjunction with each other, the test efficiency can be improved.

すなわち、本発明では、試験機としてパーソナルコンピュータを使用し、このパーソナルコンピュータ内の試験プログラムとタイマで構成した試験制御部により、大型磁気記憶装置の電源投入切断試験と記憶部に対するデータライト／リード試験を連動させて行えるため、試験効率が極めて良くなると共に、設備費用を少なくすることができる。 That is, in the present invention, a personal computer is used as a test machine, and a test control unit composed of a test program and a timer in the personal computer is used to turn on and off a large-sized magnetic storage device and to perform a data write / read test on the storage unit. Since this can be performed in conjunction with each other, the test efficiency is extremely improved and the equipment cost can be reduced.

本発明は前記の構成により次のような効果がある。 The present invention has the following effects by the above configuration.

(a) ：大型コンピュータの電源制御部の機能をパーソナルコンピュータ等で構成した試験機で擬似的に行い、大型コンピュータ用の大型記憶装置の電源投入切断試験を、大型記憶装置単体で行なえるようにして、前記課題(1) の解決を図り、試験効率を改善する。 (a): The function of the power control unit of a large computer is simulated by a testing machine composed of a personal computer, etc., so that a large storage device for a large computer can be turned on and off by itself. Thus, the problem (1) is solved and the test efficiency is improved.

(b) ：記憶部単体でのデータのライト／リード試験と、大型磁気記憶装置の電源投入切断試験を連動して行えるため前記課題(2) の解決を図り、試験効率の改善を図ることができる。 (b): Since the data write / read test of the storage unit alone and the power-on / off test of the large-sized magnetic storage device can be performed in conjunction with each other, the problem (2) can be solved and the test efficiency can be improved. it can.

§１：例１のシステム構成の説明
図２は例１のシステム構成図である。このシステムは、大型コンピュータ用の大型磁気記憶装置に対し、試験機とリレー装置を使用して電源投入切断試験を行うシステム例である。 §1: Description of System Configuration of Example 1 FIG. 2 is a system configuration diagram of Example 1. This system is an example of a system that performs a power-on / off test on a large-sized magnetic storage device for a large-sized computer by using a tester and a relay device.

前記システムにおいて、被試験装置である大型磁気記憶装置（以下、単に「記憶装置」と記す）５には、データのライト／リードを行いデータを記憶する記憶部６と、記憶部６に対する各種制御（データのライト／リード等の制御）を行う制御部７と、装置内の電源を供給する電源部８と、電源部８の制御を行う電源制御部９と、電源制御部９に対する電源制御信号を入力する電源制御入力部１０等が設けてある。そして、前記電源部８には、ＡＣ２００Ｖ又はＡＣ１００Ｖの商用電源を接続して使用する。 In the system, a large-sized magnetic storage device (hereinafter simply referred to as “storage device”) 5 as a device under test includes a storage unit 6 for writing / reading data and storing the data, and various controls for the storage unit 6. A control unit 7 that performs (control of data writing / reading), a power source unit 8 that supplies power in the apparatus, a power source control unit 9 that controls the power source unit 8, and a power control signal for the power source control unit 9 The power supply control input unit 10 and the like are provided. The power supply unit 8 is connected to a commercial power supply of AC200V or AC100V.

また、前記試験機２０はパーソナルコンピュータ（ＰＣ：パーソナルコンピュータ）で構成し、その内部には、試験プログラム２１とタイマ２２を設ける。なお、前記試験プログラム２１とタイマ２２で図１に示した試験制御部２５を構成している。そして、試験機２０とリレー装置２３の間は、ケーブルＡ（ＲＳ２３２Ｃ用のケーブル）で接続し、リレー装置２３と記憶装置５の電源制御入力部１０との間は電源制御用ケーブル（図７の電源制御用ケーブルと同じ）により接続して試験用のシステムが構成される。 The test machine 20 is constituted by a personal computer (PC: personal computer), and a test program 21 and a timer 22 are provided therein. The test program 21 and the timer 22 constitute the test control unit 25 shown in FIG. The test machine 20 and the relay device 23 are connected by a cable A (RS232C cable), and a power control cable (in FIG. 7) is connected between the relay device 23 and the power control input unit 10 of the storage device 5. The same system as the power control cable is used to configure the test system.

前記のシステムにおいて、大型コンピュータ用の記憶装置５に対し、試験機（ＰＣ）２０とリレー装置２３を使用して電源投入切断試験を行うには、試験機２０内の試験プログラム２１を起動し、該試験プログラム２１によりタイマ２２を使用して試験信号を送出する。この時、ケーブルＡを介して送られた試験信号によりリレー装置２３を動作させ、更に、リレー装置２３から電源制御用ケーブルを介して電源制御入力部１０へ電源制御信号を送出することで試験を行う。 In the above system, in order to perform a power-on / off test for the storage device 5 for a large computer using the test machine (PC) 20 and the relay device 23, the test program 21 in the test machine 20 is started, The test program 21 sends a test signal using the timer 22. At this time, the relay device 23 is operated by the test signal sent via the cable A, and further the test is performed by sending a power control signal from the relay device 23 to the power control input unit 10 via the power control cable. Do.

§２：例２のシステム構成の説明
図３は例２のシステム構成図である。このシステムは、試験機２０と、リレー装置２３と、リレー装置２３に装着するＡＣ用アタッチメント２４を備え、大型コンピュータ用の記憶装置５を被試験装置とし、記憶装置５の電源部６に対しＡＣ用アタッチメント２４を装着したリレー装置２３を介して試験機２０を接続すると共に、試験機２０と記憶装置５の記憶部６との間をデータ転送用インタフェースで接続し、試験機２０からの試験信号によりリレー装置２３を動作させ、更にＡＣ用アタッチメント２４を駆動することで記憶装置５の電源投入切断試験を行うと共に、試験機２０からデータ転送用インタフェースを介して記憶部６にデータを転送することで、記憶部６のデータ転送試験を連動させて行うシステム例である。 §2: Description of System Configuration of Example 2 FIG. 3 is a system configuration diagram of Example 2. This system includes a test machine 20, a relay device 23, and an AC attachment 24 attached to the relay device 23. The storage device 5 for a large computer is used as a device under test, and the power supply unit 6 of the storage device 5 is connected to an AC. The test machine 20 is connected via the relay device 23 to which the attachment 24 is attached, and the test machine 20 and the storage unit 6 of the storage device 5 are connected by a data transfer interface. By operating the relay device 23 and driving the AC attachment 24, the power-on / off test of the storage device 5 is performed and the data is transferred from the test machine 20 to the storage unit 6 via the data transfer interface. In this example, the data transfer test of the storage unit 6 is performed in conjunction with each other.

このシステムにおいて、試験機２０はパーソナルコンピュータ（ＰＣ）で構成し、その内部には、試験プログラム２１とタイマ２２（図１の試験制御部２５に対応）を設ける。そして、試験機２０とリレー装置２３の間は、ケーブルＡ（ＲＳ２３２Ｃ用のケーブル）で接続し、リレー装置２３には、ＡＣ用アタッチメント２４を接続して使用する。この場合、ＡＣ用アタッチメント２４には、ＡＣ２００Ｖ又はＡＣ１００Ｖの商用電源を接続して試験を行う。 In this system, the test machine 20 is constituted by a personal computer (PC), and a test program 21 and a timer 22 (corresponding to the test control unit 25 in FIG. 1) are provided therein. The test machine 20 and the relay device 23 are connected by a cable A (RS232C cable), and an AC attachment 24 is connected to the relay device 23 for use. In this case, the AC attachment 24 is connected to an AC200V or AC100V commercial power supply for testing.

また、リレー装置２３と記憶装置５の電源部８との間はＡＣ供給ケーブルにより接続し、試験機２０と記憶部６との間は、データ転送用インタフェースで接続してデータ転送試験を行う。 The relay device 23 and the power supply unit 8 of the storage device 5 are connected by an AC supply cable, and the tester 20 and the storage unit 6 are connected by a data transfer interface to perform a data transfer test.

更に詳しくは次の通りである。試験機２０は電源投入切断試験及び記憶部６単体のデータ転送試験の制御を行う試験プログラム２１とタイマ２２（図１の試験制御部２５に対応）を備え、試験プログラム２１からの試験信号によりリレー装置２３を動作させて変換した信号によりＡＣ用アタッチメント２４を駆動し、ＡＣ電源を駆動制御することで行う、前記記憶装置５の電源投入切断試験と、前記電源投入切断試験の電源投入状態で、試験機２０からデータ転送用インタフェースを介して記憶部６にデータを転送することで行う、記憶部６のデータ転送試験を連動させて行う機能を備えている。 Further details are as follows. The testing machine 20 includes a test program 21 for controlling a power-on / off test and a data transfer test of the storage unit 6 and a timer 22 (corresponding to the test control unit 25 in FIG. 1), and relays according to a test signal from the test program 21. In the power-on / off test of the storage device 5 and the power-on / off test performed by driving the AC attachment 24 with the signal converted by operating the device 23 and controlling the AC power supply, It has a function to perform a data transfer test of the storage unit 6 in conjunction with the data transfer test performed by transferring data from the test machine 20 to the storage unit 6 via the data transfer interface.

この場合、試験機２０はパーソナルコンピュータにより構成され、試験プログラム２１は、同一試験プログラム上にデータ転送と電源投入切断用の命令を記述することで、タイマ２２に設定された電源投入切断時間及び電源投入切断制御に必要なオン／オフレベル信号を含むＲＳ２３２Ｃ用の試験信号を生成して、リレー装置２３へ出力する機能と、前記電源投入切断試験と連動させて前記データ転送試験を行う機能を備えている。 In this case, the test machine 20 is constituted by a personal computer, and the test program 21 describes the data transfer and power-on / off commands set in the timer 22 by writing instructions for data transfer and power-on / off on the same test program. A function for generating a test signal for RS232C including an on / off level signal necessary for on / off control and outputting it to the relay device 23 and a function for performing the data transfer test in conjunction with the power on / off test are provided. ing.

§３：リレー装置の詳細構成の説明
図４はリレー装置の詳細構成図である。リレー装置２３には、Ａ１乃至Ａ６の各手段が設けてある。前記各手段は次の通りである。すなわち、Ａ１はオン信号電圧変換部、Ａ２はオン信号反転部、Ａ３はオフ信号電圧変換部、Ａ４はオフ信号反転部、Ａ５はオン・オフ制御部、Ａ６はリレー部である。また、前記Ａ５には手動反転スイッチによりスイッチ動作のオン・オフ反転が手動操作で行えるようになっている。 §3: Description of detailed configuration of relay device FIG. 4 is a detailed configuration diagram of the relay device. The relay device 23 is provided with means A1 to A6. Each means is as follows. That is, A1 is an on signal voltage conversion unit, A2 is an on signal inversion unit, A3 is an off signal voltage conversion unit, A4 is an off signal inversion unit, A5 is an on / off control unit, and A6 is a relay unit. In A5, the switch operation can be turned on and off manually by a manual reversing switch.

この場合、リレー装置２３は、試験機２０からのＲＳ２３２Ｃ試験信号を入力し、該入力信号に含まれる電源投入切断制御に必要なオン／オフレベル信号に応じて、オン信号電圧を変換する第１の手段（Ａ１、Ａ２）及びオフ信号電圧を変換する第２の手段（Ａ３、Ａ４）と、前記電圧変換したオン信号及びオフ信号を基に、電源をオン／オフ制御するためのオン／オフ制御信号（オン／オフ命令）を作成する第３の手段（オン・オフ制御部Ａ５）と、前記オフ／オン制御信号を基に、電源線の２点間の開放と接触を制御する第４の手段（リレー部Ａ６）を含んでいる。 In this case, the relay device 23 receives the RS232C test signal from the test machine 20 and converts the on signal voltage according to the on / off level signal necessary for the power on / off control included in the input signal. Means (A1, A2) and second means (A3, A4) for converting the off-signal voltage, and on / off for controlling the power supply on / off based on the voltage-converted on-signal and off-signal. A third means (on / off control unit A5) for generating a control signal (on / off command) and a fourth for controlling opening and contact between two points of the power supply line based on the off / on control signal. Means (relay part A6).

§４：例１の試験プログラムの処理説明
図５は例１の試験プログラムの処理フローチャートである。以下、図５に基づいて、例１の試験プログラムの処理を説明する。なお、図５中、Ｓ１〜Ｓ５は各処理ステップを示す。 §4: Explanation of processing of test program of example 1 FIG. 5 is a flowchart of processing of the test program of example 1. Hereinafter, the processing of the test program of Example 1 will be described with reference to FIG. In FIG. 5, S1 to S5 indicate processing steps.

オペレータ（試験担当者等）が試験機２０を操作して試験プログラム２１を起動すると、試験プログラム２１が動作して次の処理を開始する。 When an operator (tester or the like) operates the test machine 20 to start the test program 21, the test program 21 operates to start the next process.

先ず、試験機２０において、オペレータのオペレーションにより各種設定情報（電源オン／オフ時間、試験回数等）を入力すると、試験プログラム２１は、このオペレーションによる入力情報を内部の所定部分（例えば、タイマ２２、或いはワークメモリ等）に設定する（Ｓ１）。次に、試験プログラム２１は、被試験装置５の電源をオフにする信号をリレー装置２３へ送ると、リレー装置２３を介して電源制御入力部１０へ電源オフの信号が入力し、電源制御部９の制御で電源部８がオフになる（Ｓ２）。 First, in the testing machine 20, when various setting information (power on / off time, number of tests, etc.) is input by an operator's operation, the test program 21 inputs the input information by this operation into a predetermined part (for example, timer 22, Alternatively, it is set to a work memory or the like (S1). Next, when the test program 21 sends a signal for turning off the power of the device under test 5 to the relay device 23, the power off signal is input to the power control input unit 10 via the relay device 23. The power supply unit 8 is turned off by the control of 9 (S2).

このようにして被試験装置の電源をオフにした後、試験プログラム２１は、タイマ２２に設定された時間（オン時間）を用いて試験信号をリレー装置２３へ送る（Ｓ３）。すなわち、試験プログラム２１は、タイマ２２に設定された時間を用いて試験信号をリレー装置２３へ送出する。この信号により、リレー装置２３を介して電源制御入力部１０へ電源オンの信号が入力し、電源制御部９の制御で電源部８が所定時間オンになる（Ｓ４）。 After turning off the power of the device under test in this way, the test program 21 sends a test signal to the relay device 23 using the time set in the timer 22 (ON time) (S3). That is, the test program 21 sends a test signal to the relay device 23 using the time set in the timer 22. With this signal, a power-on signal is input to the power supply control input unit 10 via the relay device 23, and the power supply unit 8 is turned on for a predetermined time under the control of the power supply control unit 9 (S4).

次に、試験プログラム２１は、予め決めた試験回数に達したかを判断し（Ｓ５）、予め決めた試験回数に達していなければ、Ｓ２の処理へ移行する。また、予め決めた試験回数に達していたら、この処理を終了する。 Next, the test program 21 determines whether or not the predetermined number of tests has been reached (S5). If the predetermined number of tests has not been reached, the process proceeds to S2. If the predetermined number of tests has been reached, this process is terminated.

§５：例２の試験プログラムの処理説明
図６は例２の試験プログラムの処理フローチャートである。以下、図６に基づいて、例２の試験プログラムの処理を説明する。なお、図６中、Ｓ１１〜Ｓ１７は各処理ステップを示す。 §5: Explanation of processing of test program of example 2 FIG. 6 is a flowchart of processing of the test program of example 2. Hereinafter, based on FIG. 6, the process of the test program of Example 2 is demonstrated. In FIG. 6, S11 to S17 indicate processing steps.

先ず、試験機２０において、オペレータのオペレーションにより各種設定情報（電源オン／オフ時間、試験回数等）を入力すると、試験プログラム２１は、このオペレーションによる入力情報を内部の所定部分（例えば、タイマ２２、或いはワークメモリ等）に設定する（Ｓ１１）。次に、試験プログラム２１は、被試験装置５の電源をオフにする信号をリレー装置２３へ送ると、リレー装置２３を介して電源制御入力部１０へ電源オフの信号が入力し、電源制御部９の制御で電源部８がオフになる（Ｓ１２）。 First, in the testing machine 20, when various setting information (power on / off time, number of tests, etc.) is input by an operator's operation, the test program 21 inputs the input information by this operation into a predetermined part (for example, timer 22, Alternatively, it is set to work memory or the like (S11). Next, when the test program 21 sends a signal for turning off the power of the device under test 5 to the relay device 23, the power off signal is input to the power control input unit 10 via the relay device 23. The power supply unit 8 is turned off by the control of 9 (S12).

このようにして被試験装置の電源をオフにした後、試験プログラム２１は、タイマ２１に設定された時間（オン時間）を用いて試験信号をリレー装置２３へ送る（Ｓ１３）。すなわち、試験プログラム２１は、タイマ２２に設定された時間（オン時間）を用いて試験信号をリレー装置２３へ送る送出する。この信号により、リレー装置２３を介して電源制御入力部１０へ電源オンの信号が入力し、電源制御部９の制御で電源部８が所定時間オンになる（Ｓ１４）。 After turning off the power of the device under test in this way, the test program 21 sends a test signal to the relay device 23 using the time (on time) set in the timer 21 (S13). That is, the test program 21 sends a test signal to the relay device 23 using the time (ON time) set in the timer 22. With this signal, a power-on signal is input to the power supply control input unit 10 via the relay device 23, and the power supply unit 8 is turned on for a predetermined time under the control of the power supply control unit 9 (S14).

このようにして電源部８がオン状態にある状態で、試験プログラム２１は、記憶装置５の記憶部６へデータ転送用インタフェースを介して試験データを転送する。そして、電源の試験と連動させて記憶部６に対するデータ転送試験を行う（Ｓ１５）。 In this way, the test program 21 transfers the test data to the storage unit 6 of the storage device 5 via the data transfer interface while the power supply unit 8 is in the on state. Then, a data transfer test for the storage unit 6 is performed in conjunction with the power supply test (S15).

次に、試験プログラム２１は、予め決めた試験回数に達したかを判断し（Ｓ１６）、予め決めた試験回数に達していなければ、Ｓ１２の処理へ移行する。また、予め決めた試験回数に達していたら、試験結果を集計し（Ｓ１７）、この処理を終了する。 Next, the test program 21 determines whether or not the predetermined number of tests has been reached (S16). If the predetermined number of tests has not been reached, the process proceeds to S12. If the predetermined number of tests has been reached, the test results are totaled (S17), and this process is terminated.

本発明の原理説明図であり、Ａ図は試験装置１の説明図、Ｂ図は試験装置２を示す。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a diagram for explaining the principle of the present invention. FIG. 実施の形態における例１のシステム構成図である。It is a system configuration figure of example 1 in an embodiment. 実施の形態における例２のシステム構成図である。It is a system configuration figure of example 2 in an embodiment. 実施の形態におけるリレー装置の詳細構成図である。It is a detailed block diagram of the relay apparatus in embodiment. 実施の形態における例１の試験プログラムの処理フローチャートである。It is a process flowchart of the test program of Example 1 in an embodiment. 実施の形態における例２の試験プログラムの処理フローチャートである。It is a process flowchart of the test program of Example 2 in an embodiment. 従来例１の説明図である。It is explanatory drawing of the prior art example 1. FIG. 従来例２の説明図である。It is explanatory drawing of the prior art example 2. FIG.

Explanation of symbols

１ホストコンピュータ
２電源制御部
５記憶装置
６記憶部
７制御部
８電源部
９電源制御部
１０電源制御入力部
２０試験機
２１試験プログラム
２２タイマ
２３リレー装置
２４ＡＣアタッチメント
２５試験制御部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Host computer 2 Power supply control part 5 Memory | storage device 6 Storage part 7 Control part 8 Power supply part 9 Power supply control part 10 Power supply control input part 20 Test machine 21 Test program 22 Timer 23 Relay apparatus 24 AC attachment 25 Test control part

Claims

A testing machine, a relay device, and an AC attachment to be attached to the relay device, a storage device for a large computer as a device under test, and via a relay device to which the AC attachment is attached to the power supply unit of the storage device And connecting the test machine and connecting the test machine and the storage unit of the storage device separately from the connection by a data transfer interface,
Wherein the test signal from the tester to operate the relay device, and further performs power-off testing of the storage device by driving the AC attachment, the storage unit through the interface for data transfer from said tester A storage device testing device that performs a data write / read test of the storage unit by performing data transfer of
The tester includes a test controller for controlling data write / read test of a single said power-off test and the storage unit,
A power-on / off test of the storage device, which is performed by controlling the AC attachment according to a signal converted by operating the relay device according to a test signal from the test control unit, and driving and controlling an AC power source;
The function of performing the data write / read test of the storage unit in conjunction with the data transfer with the storage unit from the tester via the data transfer interface in the power-on state of the power-on / off test. A test apparatus for a storage device, comprising:

The test machine is constituted by a personal computer, and the test control unit is constituted by a test program and a timer for performing the power-on / off test,
The test program includes an on / off level signal necessary for power on / off control and a power on / off control set in the timer by describing data transfer and power on / off instructions on the same test program. A function of generating a test signal for RS232C and outputting the test signal to the relay device;
Test device of the storage device according to claim 1, characterized in that it comprises a function of performing the data write / read test in conjunction with the power on off test.

The relay device receives a test signal for RS232C from the testing machine, and converts the on signal voltage according to an on / off level signal required for power-on / off control included in the input signal. And a second means for converting the off signal voltage;
A third means for creating an on / off control signal for on / off control of the power supply based on the voltage-converted on signal and off signal;
Wherein based on on / off control signal, the test device of the memory device according to claim 1, characterized in that it comprises a fourth means for controlling the contact with the opening between the two points of the power line.