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JP4846744B2 - 一方向導通装置 - Google Patents
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JP4846744B2 - 一方向導通装置 - Google Patents

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Description

本発明は、一方向に電流を流し、またその逆の方向の電流を阻止する一方向導通ユニットを複数備えた一方向導通装置に関するものである。
例えば、複数のダイオードが直列に接続された直列冗長回路において、各ダイオードにそれぞれバイパス回路を並列に接続するとともに、検出回路によりダイオードの開放故障や短絡故障を検出して、当該故障したダイオードに並列に接続されたバイパス回路に電流を迂回させ、運転の継続を可能とするものがある(例えば、特許文献1参照)。
特開2005−129691公報(段落番号0028、0046、図1及び図7)
上記のような複数のダイオードを使用した冗長系を含むシステム等、特に複数のダイオードが使用される用途では、接続数分だけ順方向電圧に比例して損失が増加し、全体の効率に影響を与えるという問題点があった。この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたものであり、損失を低減できるとともに故障を検出して適切な処置をとりうる一方向導通装置を得ることを目的とする。
この発明に係る一方向導通装置においては、
接続端子を有しこの接続端子を介して少なくとも直列又は並列回路の一方を構成するように接続された複数の一方向導通ユニットと、故障検出装置とを備え
一方向導通ユニットは、接続端子としての陽極端子と陰極端子との2端子と、2端子間に接続されゲートにより駆動制御される半導体スイッチング素子と、陽極側が陽極端子側になるようにして半導体スイッチング素子に並列に接続された並列ダイオードと、2端子間が導通した時に2端子間に発生する導通電圧を所定の電圧に昇圧して出力する昇圧回路と、上記2端子間の導通状態を継続できるように昇圧回路の出力を電源として半導体スイッチング素子のゲートに駆動信号を出力する駆動制御回路とを有するものであり、
故障検出装置は半導体スイッチング素子の故障を検出するものである。
この発明は、接続端子を有しこの接続端子を介して少なくとも直列又は並列回路の一方を構成するように接続された複数の一方向導通ユニットと、故障検出装置とを備え
一方向導通ユニットは、接続端子としての陽極端子と陰極端子との2端子と、2端子間に接続されゲートにより駆動制御される半導体スイッチング素子と、陽極側が陽極端子側になるようにして半導体スイッチング素子に並列に接続された並列ダイオードと、2端子間が導通した時に2端子間に発生する導通電圧を所定の電圧に昇圧して出力する昇圧回路と、昇圧回路の出力を電源として半導体スイッチング素子のゲートに駆動信号を出力する駆動制御回路とを有するものであり、
故障検出装置は半導体スイッチング素子の故障を検出するものであるので、
損失を低減できるとともに故障を検出して適切な処置をとりうる一方向導通装置を得ることができる。
実施の形態1.
図1〜図7は、この発明を実施するための実施の形態1を示すものであり、図1は一方向導通装置を用いた太陽光発電システムの構成を示す構成図、図2は一方向導通装置の構成を示す構成図、図3は一方向導通ユニットの構成を示すブロック図、図4はこの実施の形態における一方向導通ユニットと従来のダイオードとの電力損失の比較を示す比較図である。図5は一方向導通ユニットの故障検出回路の動作を説明するための説明図、図6及び図7は動作を説明するための波形図である。
図1において、太陽電池150は一方向導通装置100を介して図示しない電力システム(電圧Vout)に接続されている。一方向導通装置100は、後述する一方向導通ユニットとしての整流装置10をそれぞれ用いた一方向導通ユニット101a及び101bを直列に接続して直列回路101を構成し、外部接続端子111,112を設けて、ひとつのパッケージに搭載したものである。
図2において、一方向導通装置100は直列回路101と故障検出回路105と外部接続端子111と外部接続端子112と警報出力端子119とを有する。直列回路101は、同一の整流装置10を用いた一方向導通ユニット101a,101bを有し、一方向導通ユニット101aの陽極端子16が外部接続端子111に接続され、一方向導通ユニット101aの陰極端子17が一方向導通ユニット101bの陽極端子16に接続され、一方向導通ユニット101bの陰極端子17が外部接続端子112に接続されている。
故障検出回路105は、一方向導通ユニット101aの陽極端子16、陰極端子17の端子間電圧及び一方向導通ユニット101bの陽極端子16、陰極端子17の端子間電圧を監視して、一方向導通ユニット101a及び101bの故障を検出し、警報出力端子119を介して故障検出信号SF1,SF2を外部へ発信するとともに、所定時間後に導通を停止する停止信号ST1,ST2を一方向導通ユニット101aあるいは一方向導通ユニット101bへ送出する。一方向導通ユニット101a及び101bとして使用される整流装置10は、図2に示すように、ゲート制御回路1、昇圧回路2、MOSFET9、陽極端子16、陰極端子17を有する。整流装置10の詳細構成については、後述する。
一方向導通装置100の動作の説明に先立ち、まず整流装置10の詳細構成及び単独の動作について図3によって説明する。図3において、整流装置10は、ソース・ドレイン間に寄生ダイオード9aを内蔵したnチャネル型パワーMOSFET9(以下、単にMOSFET9と称す)と、MOSFET9を駆動制御するゲート制御回路1と、ゲート制御回路1の電源電圧を生成する昇圧回路2と、電源切替回路3と、逆電圧保護回路としての保護回路4〜7とを備える。また、外部端子を、陽極端子16、陰極端子17の2端子とし、MOSFET9はソースを陽極端子16(A)に、ドレインを陰極端子17(K)に接続する。昇圧回路2の昇圧用コンデンサ8は、保護回路7を介してMOSFET9のソース及びドレインに接続されている。
次に、動作を説明する。動作開始前には、ゲート制御回路1及び昇圧回路2とも停止状態で、MOSFET9はオフ状態である。この状態で、陽極端子16から陰極端子17に電流が流れると、寄生ダイオード9a(図3)に順方向電流が流れ、ソース・ドレイン間に寄生ダイオード9aの順方向電圧が発生する。この電圧は、ドレインを電位基準とする正の電圧であり、昇圧回路2に供給され、昇圧回路2を起動させる。昇圧回路2は、陽極端子16から陰極端子17に電流が流れる時にソース・ドレイン間に発生する電圧、この場合、寄生ダイオードの順方向電圧を昇圧し、昇圧用コンデンサ8を所定の電圧に充電する。
昇圧用コンデンサ8の電圧は、ゲート制御回路1に電源電圧(駆動電圧)として供給されて、ゲート制御回路1はMOSFET9のゲート駆動信号を生成する。ゲート制御回路1は、MOSFET9のソース・ドレイン間の電圧がドレインを電位基準として正の電圧であることを検出して、即ちソース・ドレイン間の導通を検出して、ゲートを駆動するようにゲート駆動信号を生成しMOSFET9をオンする。また、昇圧用コンデンサ8が所定の電圧に充電されると、電源切替回路3が動作して、昇圧用コンデンサ8の電圧が昇圧回路2の電源電圧として供給されるようになる。
MOSFET9がオンすると、陽極端子16から陰極端子17にMOSFET9を介して電流が流れ、この電流とMOSFET9のオン抵抗による電圧降下が発生して、ソース・ドレイン間に電圧が発生する。このソース・ドレイン間の電圧はドレインを電位基準とする正の電圧であり、昇圧回路2に入力され、昇圧回路2は昇圧動作を行い、昇圧された電圧は昇圧回路2とゲート制御回路1の双方に電源電圧として供給される。そしてゲート制御回路1はMOSFET9のゲート駆動信号を生成しMOSFET9をオンオフ制御する。
以上の動作を繰り返し、MOSFET9の導通時にソース・ドレイン間に発生する電圧を昇圧し、昇圧された電圧を昇圧回路2とゲート制御回路1の双方に給電しながらMOSFET9を連続的に駆動するように動作する。
ここでMOSFET9がオフの状態、例えば陽極端子16よりも陰極端子17の電位が高い逆電圧の場合、MOSFET9には寄生ダイオード9aが存在するために逆電圧となり電流は流れない。また、図示しないダイオードで構成された保護回路4はゲート制御回路1に逆電圧が印加されるのを阻止し、保護回路6は昇圧回路2に逆電圧が印加されるのを阻止する。また、保護回路5,7を設けたことにより逆電圧状態で陰極端子17から陽極端子16へ電流が流れる経路を絶つことができる。このように逆電圧保護のための保護回路4〜7を設けたため、昇圧回路2及びゲート制御回路1の破壊を防ぐことがきる。
以上のように、MOSFET9の導通時にソース・ドレイン間に発生する電圧を昇圧し、昇圧された電圧を昇圧回路2とゲート制御回路1の双方に給電しながらMOSFET9を連続的に駆動する。このため、MOSFET9のゲートを駆動するための駆動電圧、例えば5Vの電圧を外部から供給する必要がなく、ゲート制御回路1はMOSFET9を連続的に駆動制御できる。このように、外部からの電源供給が不要であるため、従来の2端子のダイオードとの置き換えが容易である。
MOSFET9のオン抵抗は耐圧、形状、性能等によりそれぞれ異なるが、例えば低い抵抗値だと数10mΩ程度の素子が存在する。一方、ダイオードはこれよりもずっと導通抵抗が大きい。両者の比較を図4に示す。図4において、ダイオードDioはダイオードの電流対電力損失特性曲線、Recはこの実施の形態における整流装置10の電流対電力損失特性曲線であり、電流A1を流したときの、損失低減量はDifとなる。
さらに、具体的な値をあげれば、仮にMOSFET9のオン抵抗を20mΩと仮定すると、陽極端子16から陰極端子17に流れる電流値が例えば10Aの場合、ドロップ電圧は0.2Vとなる。一方10Aの電流を流したときのダイオードの順方向電圧は耐圧の低いSBD(ショットキダイオード)で0.6〜1.0V、耐圧の高いFRD(ファーストリカバリーダイオード)では1.0V〜3.0Vが一般的であり、これらダイオードと比較するとMOSFET9によるドロップ電圧は小さく低損失である。このため、この実施の形態に用いられる整流装置10は、2端子のダイオードとの置き換えが容易であるとともに、ダイオードよりも導通時の損失が低減され高効率な整流装置となる。
また、昇圧回路2は、寄生ダイオード9aに順方向電流が流れた時にソース・ドレイン間に発生する順方向電圧により起動し、その後、昇圧回路2自身の出力が電源になるように電源切替回路3により切り替えられる。このため、外部からの電源供給なしに起動し、効率的で安定した昇圧動作を継続できる。
ところで、MOSFETは従来、一般的にソースを電位基準として回路構成し、ソース・ゲート間に駆動電圧を印加して駆動するものであった。これに対し、この実施の形態では、MOSFET9をnチャネル型とし、ドレインを電位基準として回路構成し、ドレイン・ゲート間に正の駆動電圧を印加するようにした。そして、昇圧回路2は、入力電圧であるソース・ドレイン間の電圧をドレインを電位基準とする正の電圧とし、昇圧により正の駆動電圧となる例えば5V程度まで昇圧する。このように、昇圧回路2の入出力電圧にドレインを電位基準とした正電圧だけを扱うようにし、ゲート制御回路1は、昇圧された電圧をそのまま電源電圧及び駆動電圧として用いる。このため昇圧回路2及びゲート制御回路1が容易に構成でき、小型化、簡略化を図ることができる。
なお、ゲート制御回路1はMOSFET9のオン動作を継続させるように制御動作を行うもので、MOSFET9のオン時のソース・ドレイン間のドロップ電圧はそもそも小さい値である。このため、ドレインを電位基準とした駆動電圧は、ソースを電位基準にした場合とほぼ同等の電圧として扱うことができる。
ここで、一方向導通装置100の動作の説明をする。一方向導通装置100が太陽電池150に接続され所定の電流が流れているときは、図5に示すように一方向導通ユニット101a及び101bの各端子(A−K)間電圧はそれぞれVds1,Vds2であり、外部接続端子111、外部接続端子112間の電圧Vds(以下、一方向導通装置100の端子間電圧という)はVds=Vds1+Vds2である。ここで、図6における時間t1において、一方向導通ユニット101bが開放故障しMOSFETがオフしたとすると、一方向導通ユニット101bの端子間電圧が増加するため一方向導通装置100の端子間電圧も図6(b)の端子間電圧曲線B1のように上昇し、Vds=Vds1+Vf2となる。なお、図6(b)におけるVf1,Vf2は、それぞれ一方向導通ユニット101a、一方向導通ユニット101bが開放故障したときのそれぞれの端子電圧である。
故障検出回路105は一方向導通ユニット101a及び101bの端子間電圧を監視しており、時間t2において一方向導通ユニット101bの端子間電圧が所定値を越える(図6(b)のC1点)と警報出力端子119から故障検出信号SF1(図6(c))を発すると、一方向導通装置100の外部に設けられた図示しない報知装置に、例えば一方向導通ユニット101bの開放故障を表示するとともに当該報知装置において警報ブザーを鳴らすなどの適切な処置を取る。
さらに、一方向導通ユニット101bの開放故障が発生した後、時間t3において停止信号ST1(図6(d))を一方向導通ユニット101aに発し、健全な一方向導通ユニット101aを停止させる。システムの電圧Vout(図1参照)は、一方向導通ユニット101bが開放故障したとき図6(a)に示す曲線B2のように時間t1から低下し始め、時間t3において一方向導通ユニット101aに停止信号ST1が出され一方向導通ユニット101aの開路にともないさらに低下する。これは、一方向導通ユニット101aの開路にともない一方向導通ユニット101aの端子間電圧Vds1が大きくなり1Vf1となるためである。なお、一方向導通装置100の端子間電圧が上昇し、システムの電圧Voutが所定値を越えて低下すると、図示しない保護装置が動作し、例えばシステムを停止させるなどの保護動作を行う。
次に、一方向導通ユニット101bが短絡故障した場合について説明する。図7における時間t5において、一方向導通ユニット101bが短絡故障したとすると、Vds2はほぼ零となるので、一方向導通ユニット101bの端子間電圧が減少するため一方向導通装置100の端子間電圧も図7(b)の端子間電圧E1のように低下し、VdsはVds1にほぼ等しくなる。故障検出回路105は、時間t6において一方向導通ユニット101bの端子間電圧が所定値を下回る(F1点)と警報出力端子119から故障検出信号SF2(図7(c))を発すると、一方向導通装置100の外部に設けられた図示しない報知装置において、例えば一方向導通ユニット101bの短絡故障を表示するとともに警報ブザーを鳴らすなどの適切な処置を取る。
さらに、一方向導通ユニット101bの短絡故障が発生した後、時間t7において停止信号ST2(図7(d))を一方向導通ユニット101aに発し、健全な一方向導通ユニット101aを停止させる。システムの電圧Voutは、一方向導通ユニット101bが短絡故障したとき図7(a)に示す曲線E2のように時間t5から上昇を開始するが、時間t7において一方向導通ユニット101aに停止信号ST2が出され一方向導通ユニット101aの開路にともない低下する。これは、一方向導通ユニット101aの開路にともない一方向導通ユニット101aの端子間電圧Vds1が大きくなりVf1となるためである。
なお、一方向導通装置100の端子間電圧が上昇し、システムの電圧Voutが所定値を越えて低下すると、図示しない保護装置が動作し、例えばシステムを停止させるなどの保護動作を行う。さらに、一方向導通ユニット101bが短絡故障した場合、一方向導通ユニット101a単独で動作に支障がない場合は時間t7を充分に大きく例えば数日間にとり、その間に一方向導通ユニット101bの修復を行い一方向導通ユニット101aの停止を回避するなど、システムの要請に応じて適宜対処することができる。
以上のようにこの実施の形態によれば、従来のダイオードに代えて整流装置10を使用したので、整流装置10の開放制御が可能であり必要に応じて開放することができ、かつダイオードに比較して低損失であり、冗長接続による導通損失を低減できる。また、故障検出回路105を設けて故障検出信号SF1,SF2を発するようにしたので、どの整流装置10(一方向導通ユニット101a,101b)が故障したのかを知ることができる。そして、その内容に応じて適切な処置を行うことができる。
なお上記では故障検出信号のうち開放故障時の検出信号をSF1、短絡故障時の検出信号をSF2としたが、一方向導通ユニット101a、101b個別に検出信号SF1a、SF1b、あるいはSF2a、SF2bを設けることにより、どの一方向導通ユニット101すなわちどの整流装置10が故障したかを容易に特定でき、より適切な処置を行うことができる。
実施の形態2.
図8〜図10は、実施の形態2を示すものであり、図8は一方向導通装置を用いた太陽光発電システムの構成を示す構成図、図9は一方向導通装置の構成を示す構成図、図10は一方向導通装置の動作を説明するための波形図である。図8において、一方向導通装置200は、整流装置10を用いた一方向導通ユニット201a及び201bを並列に接続して並列回路201を構成し、それぞれのアノード及びカソードに接続した外部接続端子211,212を設けて、ひとつのパッケージに搭載したものである。
図8において、太陽光発電装置150の一方の出力端子が一方向導通装置200の外部接続端子211に接続され、他方の端子は接地されている。太陽光発電装置150は一方向導通装置200の外部接続端子212を介して図示しない電力システム(電圧Vout)に接続される。一方向導通装置200は、図9に示すように図3に示した整流装置10を用いた一方向導通ユニット201aと一方向導通ユニット201bとを、そのアノードA側を共通にして外部接続端子211にそれぞれ接続し、カソードK側を共通にして外部接続端子212に接続している。
故障検出回路205は、一方向導通ユニット201aのアノードAとカソードK間の電圧を監視し、その故障を検出し警報出力端子219を介して故障検出信号SF21を発して報知し、また停止信号ST21を一方向導通ユニット201a及び201bに発し、健全な一方向導通ユニット201aあるいは一方向導通ユニット201bを停止するのは、図2に示した故障検出回路105と同様である。
次に、動作を図10により説明する。一方向導通ユニット201a及び201bが並列に接続されており、一方向導通装置200に所定の電流が流れているときの外部接続端子211と外部接続端子212間の端子間電圧VdsをVdsp(以下、一方向導通装置200の端子間電圧という)とする、ここで、図10における時間t21において、一方向導通ユニット201bが開放故障したとすると、通電経路は一方向導通ユニット201aだけとなるために一方向導通装置200の通電抵抗が倍増し一方向導通装置200の端子間電圧Vdsが図10(b)の端子間電圧H1のように増加し、Vds=2×Vdspとなる。
故障検出回路205は一方向導通ユニット201a(及び一方向導通ユニット201b)の端子間電圧を監視しており、時間t22において一方向導通ユニット201aの端子間電圧が所定値を越える(J1点)と警報出力端子219から故障検出信号SF21(図10(c))を発すると、一方向導通装置100の外部に設けられた図示しない報知装置において、例えば開放故障を表示するとともに、警報ブザーを鳴らすなどの適切な処置をとる。なお、この場合、一方向導通ユニット201a、一方向導通ユニット201bのいずれが開放故障したかは分別できない。
さらに、一方向導通ユニット201bの開放故障が継続した場合、時間t23において停止信号ST21(図10(d)を一方向導通ユニット201a及び201bに発し、健全な一方向導通ユニット201aあるいは一方向導通ユニット201bを停止させる。システムの電圧Vout(図8参照)は、一方向導通ユニット201bが開放故障したとき図10(a)に示す曲線H2のように時間t21から低下し始め、時間t23において一方向導通ユニット201a及び201bに停止信号ST21が出され一方向導通ユニット201aあるいは一方向導通ユニット201bの開路にともないさらに低下する。一方向導通ユニット201a及び201b双方の開路にともない端子間電圧Vdsが大きくなるためである。なお、システムの電圧Voutが所定値を越えて低下すると、図示しない保護装置が動作し、例えばシステムを停止させるなどの保護動作を行う。
次に、一方向導通ユニット201bが短絡故障した場合、一方向導通装置200の端子間電圧Vdsが減少するので、故障検出回路205はこれを検出して故障検出信号SF22を発する。また、この場合、一方向導通ユニット201aが健全であっても一方向導通装置200は一方向導通機能を喪失するので、必要に応じて後備保護など然るべき処置をする。
以上のように、この実施の形態によれば、一方向導通装置200を構成する一方向導通ユニット201a,201b(整流装置10)の一方が開放故障した場合でも、必要な時間運転を継続することができる。
実施の形態3.
図11は、実施の形態3を示す一方向導通装置を用いた太陽光発電装置の並列運転システムの構成を示す構成図である。図11において、一方向導通装置300は、整流装置10を用いた一方向導通ユニット301a及び301bを直列に接続して直列回路301を構成し、整流装置10を用いた一方向導通ユニット302a及び302bを直列に接続して直列回路302を構成し、直列回路301のアノードAが接続される外部接続端子311、直列回路302のアノードAが接続される外部接続端子312、直列回路301及び直列回路302のカソードKが共通に接続される外部接続端子313、故障検出回路305を設け、ひとつのパッケージに搭載したものである。
図11において、太陽光発電装置150の一方の出力端子がそれぞれ一方向導通装置300の外部接続端子311及び外部接続端子312に接続され、他方の端子は接地されている。一方向導通装置300を介して並列に接続された2組の太陽光発電装置150は外部接続端子313を介して図示しない電力システムに接続されている。故障検出回路305は実施の形態1及び2で述べた故障検出回路105,205を複合した動作をするものであり、直列回路301、直列回路302、一方向導通ユニット301a,301b,302a,302bのいずれの故障か及び開放故障かあるいは短絡故障かを判定し、報知する。また、故障の態様に応じて、直列回路301、302、一方向導通ユニット301a,301b,302a,302bの停止(開放)などの保護動作を行う。
このような、太陽光発電装置などを複数接続して必要な電力を確保するシステムにおいて、太陽光発電装置の出力側にダイオードの直列冗長回路を挿入し、複数台の太陽光発電装置が並列運転されているシステムを考えたとき、太陽光発電装置の出力は従来ダイオードを使用した場合従来ダイオードの順方向電圧Vvf分低下し、加えて、電流Ifが流れることによる損失が発生する。仮に、直並列に運転されている台数をn台とした場合、システム全体でVvf×If×n台分の損失が発生することになる。
今、順方向電圧Vvfが約0.7Vの従来ダイオードが使用された直並列冗長系システムの場合、導通時の電圧降下は、各出力において約0.7Vであり、順方向に流れる電流Ifが例えば3Aである時の個々の導通損失は、0.7V×3A(W)となる。さらにシステム全体では、使用されたダイオードの数だけの損失が発生する。4個使用の場合は、0.7V×3A×4=8.4Wとなる。
一方、この実施の形態によれば、整流装置10を直列接続して構成した一方向導通装置300においては、整流装置10は例えばオン抵抗Rdsonが0.1ΩであるようなMOSFET9とした場合、個々の整流装置10(一方向導通ユニット301a,301b,302a,302b)を流れる電流が3Aである場合、導通時の順方向の電圧降下は約0.1オーム×3Aであり、このときの導通損失は、0.3V×3A(W)となる。さらにシステム全体では、使用されるダイオードの数だけの損失が発生するので、0.3×3×4=3.6Wの電力損失となる。従って、本実施の形態によれば、従来ダイオードを適用した場合に比較して、損失を約43%に低減できる。
以上のように、整流装置10を使用することによって、例えばこの実施の形態のように複数の電源である太陽光発電装置を並列運転し負荷に必要な電力を供給する場合や、ひとつの電源が故障しても別の電源から電力を供給する場合のような、並列冗長システム等において、電力損失を大幅に低減することができる。
なお、図11において、直列回路301,302を構成する整流装置10の直列接続数や直列回路(直列回路301,302)の数をもっと増やした場合においても、同様に大幅な電力損失の低減を図ることができる。また、故障検出装置を設けて直列回路301、一方向導通ユニット301a,301b、直列回路302、一方向導通ユニット302a、一方向導通ユニット302bの故障の有無及び開放故障か短絡故障かなど故障の状態(故障モード)を検知し、電力システムへ故障を報知することにより、同システムは故障の状態を判別することにより、故障の状態に応じて運転の継続、バックアップ装置を用いての運転、所定時間後に停止、直ちに停止など適切な処置を講じることができる。
実施の形態4.
図12は、実施の形態4である一方向導通装置の構成を示す構成図である。図12において、一方向導通装置400は、次のように構成されている。一方向導通ユニット401a,401b,402a、402b,403a,403bはそれぞれ整流装置10を用いたもので、一方向導通ユニット401a,401bが直列接続された直列回路401、一方向導通ユニット402a,402bが直列接続された直列回路402、一方向導通ユニット403a,403bが直列接続された直列回路403が、そのアノードA側が外部接続端子411に共通に接続され、各直列回路401〜403のカソードK側はそれぞれ外部接続端子412、外部接続端子413、外部接続端子414に接続されたものと、故障検出回路405をひとつのパッケージに搭載したものであり、1入力多端子出力形の一方向導通装置である。
故障検出回路405は、図11の故障検出回路305と同様の動作をするものであり、直列回路401、直列回路402、直列回路403、一方向導通ユニット401a,401b,402a,402b,403a,403bのいずれの故障か及び開放故障かあるいは短絡故障かを判定し、図示しない電力システムの保護装置や報知装置などに知らせる。また、故障の態様に応じて、直列回路401,402,403、一方向導通ユニット401a,401b,402a,402b,403a,403bの停止(開放)などの保護動作を行う。
実施の形態5.
図13〜図15は、実施の形態5を示すものであり、図13は一方向導通装置を用いた単相全波整流装置の構成を示す構成図、図14は一方向導通装置を用いた三相全波整流装置の構成を示す構成図、図15は一方向導通装置の構成を示す構成図である。図13において、単相全波整流装置は、後述する一方向導通装置500を4組、図示のように単相ブリッジ接続し、交流側端子550,560から入力される交流を単相全波整流して、直流側端子570,580から出力する。図14において、三相全波整流装置は、後述する一方向導通装置500を6組、図示のように三相ブリッジ接続し、交流側端子663,664,665から入力される三相交流を三相全波整流して、直流側端子661,662から出力する。
一方向導通装置500は、図15に示すように、整流装置10を用いた一方向導通ユニット501a及び501bを直列に接続した直列回路501及び一方向導通ユニット502a及び502bを直列に接続した直列回路502を、さらに並列に接続して整流装置10を直並列冗長接続し、外部接続端子511,512及び故障検出回路505を設けてひとつのパッケージに搭載したものである。故障検出回路505の動作は図11の故障検出回路305と同様である。
以上のように、この発明における整流装置10を用いて様々な結線をした一方向導通装置により、電力損失を大幅に低減できる。電力損失低減により、回路の効率が向上し、回路の発熱が軽減されるため冷却構造が小型化できるとともに、電力システムの省電力化、小型化、軽量化が可能となる。したがって、例えば、電気自動車の電気回路に適用すれば、軽量化、高効率化による燃費向上、排出ガスの低減を図ることができる。さらに、宇宙衛星など省電力、小型、軽量化が重要な機器などに最適である。また、故障検出回路505を設けて一方向導通装置を構成する個々の整流装置10の故障の有無や故障モードを検出するようにしたので、故障の態様に応じて適切な対応を行うことができ、全体の信頼性向上を図ることができる。
実施の形態6.
図16は、実施の形態6である一方向導通ユニットの構成を示す回路図であり、実施の形態1における図3に示した一方向導通ユニットを具体的な回路で構成した例を示すものである。図16に示すように、整流装置20は、図3におけるゲート制御回路1としてコンパレータCOMPを用い、昇圧回路2は、ブーストコンバータBCOM、昇圧用コイルL1、昇圧用コンデンサC1、昇圧用スイッチS2及び昇圧用ダイオードD1で構成し、電源切替回路3は、電源切替用ダイオードD2及び電源切替用抵抗R2で構成する。
また、保護回路4を構成する逆電圧保護用素子として制御回路用保護素子DS3(ダイオード)、DZ1(ツェナーダイオード)と、保護回路6を構成する逆電圧保護用素子として昇圧回路用保護素子DZ2(ツェナーダイオード)、D3(ダイオード)とを備える。また、保護回路5を構成する逆電流防止用素子として逆電流防止素子DS1(ダイオード)と、保護回路7を構成する逆電流防止素子として逆電流防止スイッチDS2とを備える。逆電流防止スイッチDS2は寄生ダイオードDS2aを有する。また、寄生ダイオードDS2aと導通方向が同方向になるようにして並列ダイオードD4が並列に接続されている。さらに、コンパレータCOMPの電源供給を制御する制御用半導体スイッチング素子として電源供給制御スイッチS3を備える。なお、R1は電圧検出用抵抗、R3はMOSFET9の誤動作防止用抵抗、R4、R5は電源供給制御スイッチS3の制御用抵抗である。
次に、動作の詳細について説明する。
動作開始前には、コンパレータCOMP及びブーストコンバータBCOMとも停止状態で、MOSFET9はオフ状態である。この状態で、陽極端子16から陰極端子17に電流が流れると、MOSFET9の寄生ダイオードに順方向電流が流れ、ソース・ドレイン間に寄生ダイオードの順方向電圧が発生する。この電圧は、ドレインを電位基準とする正の電圧であり、ブーストコンバータBCOMに供給される。
ここで、MOSFET9の寄生ダイオード9aの順方向電圧と逆電流防止素子DS1の順方向電圧との差電圧がブーストコンバータBCOMの起動電圧以上に設定されており、ブーストコンバータBCOMを起動させる。ブーストコンバータBCOMは起動後発振し始め昇圧用スイッチS2を駆動して昇圧動作を開始し、昇圧用コンデンサC1が所定の電圧に充電される。逆電流防止スイッチDS2は、コンパレータCOMPの駆動信号で制御されるスイッチであり、逆電流防止スイッチDS2の寄生ダイオードDS2a及び並列ダイオードD4の順方向電圧は、MOSFET9の寄生ダイオード9aの順方向電圧よりも低く設定されている。この逆電流防止スイッチDS2は、ブーストコンバータBCOMの起動時にはオフしているが、寄生ダイオードDS2aを介して昇圧用コイルL1に正の電圧が入力される。
MOSFET9と、逆電流防止スイッチDS2とは共にコンパレータCOMPの駆動信号で制御されるが、逆電流防止スイッチDS2はMOSFET9と同等の性能あるいはそれ以上の性能のMOSFET9を単独あるいはダイオードと並列に挿入し、MOSFET9と同等あるいは早いタイミングでオン動作をするものとする。これにより、昇圧回路の昇圧経路でのドロップ電圧を減らすことができ、MOSFET9のオン動作時、またオンした後も、昇圧用コイルL1に正の電圧が入力され昇圧動作の維持が可能になる。
ブーストコンバータBCOMは、起動するとMOSFET9の寄生ダイオード9aの順方向電圧から昇圧用コイルL1に入力される電圧を昇圧し、昇圧用コンデンサC1は所定の電圧、例えば5Vに充電される。昇圧用コンデンサC1が所定の電圧に充電されると電源供給制御スイッチS3がオンし、コンパレータCOMPに電源電圧(駆動電圧)として5Vの電圧が供給される。コンパレータCOMPは、MOSFET9のソース・ドレイン間の電圧がドレインを電位基準として正の電圧であることを検出して、すなわちソース・ドレイン間の導通を検出して、ゲートにゲート駆動信号となるHi信号を印加してMOSFET9をオンさせる。
MOSFET9をオンさせるためには、通常ソース・ゲート間に一定の電圧を印加する必要があるが、その値は一般的なMOSFETで2〜4Vである。コンパレータCOMPはMOSFET9のドレイン・ゲート間に電源電圧である5Vと同じHi信号を出力することで、MOSFET9を十分にオンさせることができる。
また、昇圧用コンデンサC1が所定の電圧に充電されると、電源切替用ダイオードD2及び電源切替用抵抗R2を利用して昇圧用コンデンサC1の電圧がブーストコンバータBCOMの電源電圧として供給されるようになる。このため、MOSFET9のオン後にソース・ドレイン間の電位差が小さくなり、それによって逆電流防止素子DS1を経由してブーストコンバータBCOMに入力される電圧が低くなってしまった場合でも、電源切替用ダイオードD2及び電源切替用抵抗R2を介した電源電圧を利用して昇圧動作を安定して行うことができる。この動作によりコンパレータCOMPにも安定して電源電圧が供給されることになる。
MOSFET9がオンすると、陽極端子16から陰極端子17にMOSFET9を介した電流が流れ、この電流とMOSFET9のオン抵抗による電圧降下が発生して、ソース・ドレイン間に電圧が発生する。このソース・ドレイン間の電圧はドレインを電位基準とする正の電圧であり、上述したように昇圧用コイルL1に正の電圧が入力され、ブーストコンバータBCOMは昇圧用スイッチS2を駆動して昇圧用コンデンサC1に電荷を蓄積する。
昇圧用コンデンサC1に蓄積された電荷は、上述したようにブーストコンバータBCOMとコンパレータCOMPとの双方に電源として供給される。そしてコンパレータCOMPはMOSFET9のゲート駆動信号を生成しMOSFET9がオンする。
以上の動作を繰り返し、MOSFET9の導通時にソース・ドレイン間に発生する電圧を昇圧し、昇圧された電圧をブーストコンバータBCOMとコンパレータCOMPとの双方に給電しながらMOSFET9を連続的に駆動するように動作する。
ここでMOSFET9がオフの状態、例えば陽極端子16よりも陰極端子17の電位が高い逆特性の場合、MOSFET9については寄生ダイオード9aに逆電圧が印加され電流は流れない。また、制御回路用保護素子DS3、DZ1によりコンパレータCOMPの入力電圧の逆電圧が阻止される。また、昇圧回路用保護素子DZ2によりブーストコンバータBCOMに、昇圧回路用保護素子D3により昇圧用スイッチS2に、それぞれ逆電圧が印加されるのが阻止される。また、逆電圧状態で陰極端子17から陽極端子16へ昇圧回路用保護素子DZ2を介して電流が流れる経路を、逆電流防止素子DS1により遮断できる。また、MOSFET9がオフの時は逆電流防止スイッチDS2もオフであり、逆電圧状態で陰極端子17から陽極端子16へ昇圧回路用保護素子D3を介して電流が流れる経路を、逆電流防止スイッチDS2により遮断できる。
また陽極端子16よりも陰極端子17の電位が高い逆特性に、正特性から切り替わるタイミングにおいて、昇圧用コンデンサC1の電圧が低下すると電源供給制御スイッチS3がオフするため、コンパレータCOMPへの電源供給が遮断される。これにより、逆特性時にはコンパレータCOMPによるMOSFET9の駆動制御を完全に停止させ、制御遅れや誤動作によりMOSFET9をオンさせることがなく、逆電圧状態で陰極端子17から陽極端子16へ電流を流すことが確実に防止できる。
なお、この実施の形態においては、電源供給制御スイッチS3はpチャネル型MOSFETを用い、オン・オフ制御用に抵抗R4、R5を用いたが、オン・オフ制御用にICを用いても良く、同様の効果を得ることができる。
また、ゲート制御回路1としてコンパレータCOMPを用いたものを示したが、オペアンプを使用すれば同等の制御が可能である。またこれらに、ノンインバータバッファIC等を使用すればゲート駆動能力が向上する。この場合、逆電流防止スイッチDS2をMOSFET9よりも早いタイミングでオン動作させるような制御も可能であり、またMOSFET9を複数のMOSFETにて構成することもできる。
また、昇圧回路2にブーストコンバータBCOMを用いたが、例えばチャージポンプ等他の昇圧回路を適用しても良く、同様の効果を得ることができる。
実施の形態7.
図17は、実施の形態7である一方向導通ユニットの構成を示す構成図である。図17において、整流装置30は、MOSFET9と、マイクロパワーコンバータ部31と、駆動制御回路としてのゲート制御回路40とを備え、外部端子として陽極端子36、陰極端子37の2端子が設けられている。この場合、MOSFET9はnチャネル型MOSFETであり寄生ダイオード9aを有し、ソースを陽極端子36に、ドレインを陰極端子37に接続する。このような整流装置30を、実施の形態1〜6で示した整流装置10,20の代わりに使用する。
図17に示すように、マイクロパワーコンバータ部31、ゲート制御回路40は、それぞれMOSFET9のソース・ドレイン間に接続されている。マイクロパワーコンバータ部31は、主にクロック発生回路としての発振器32とチャージポンプ33と充放電コンデンサ34とで構成されている昇圧回路部と、このチャージポンプ33の後段に配されるDC/DCコンバータ35とを備える。また、DC/DCコンバータ35は、リアクトル、ダイオード及びスイッチから成る昇圧チョッパ回路などで構成される。
ゲート制御回路40は、端子間電圧検出部41及びゲートドライバ42により構成され、マイクロパワーコンバータ部31より供給される電圧を電源として動作する。ゲートドライバ42の出力はMOSFET9のゲートに接続される。またこれら端子間電圧検出部41及びゲートドライバ42は低消費電流回路で構成されている。
次に、動作を説明する。図17に示すように、マイクロパワーコンバータ部31、ゲート制御回路40は、それぞれMOSFET9のソース・ドレイン間に接続されている。動作開始前には、マイクロパワーコンバータ部31及びゲート制御回路40とも停止状態で、MOSFET9が導通していない開放状態である。この状態で、陽極端子36から陰極端子37に電流iが流れる場合は、寄生ダイオード9aに順方向電流が流れる。これにより整流装置30は動作開始し、寄生ダイオード9aの順方向電圧特性により、MOSFET9のソース・ドレイン間に寄生ダイオード9aの両端電圧である数100mVの電位差が発生し、この電位差による微小電圧によりマイクロパワーコンバータ部31が起動して昇圧動作を開始する。
マイクロパワーコンバータ部31は、陽極端子36から陰極端子37へ電流iが流れる導通時に両端子間に発生する電圧であるソース・ドレイン間の電圧Vdsを所定の電圧まで昇圧する。この昇圧動作により生成された電圧は、ゲート制御回路40に電源電圧として供給され、ゲート制御回路40はMOSFET9のゲート駆動信号(駆動電圧Vg)を生成する。これによりMOSFET9がオンして導通すると、陽極端子36から陰極端子37にMOSFET9を介した電流iが流れる。ここでMOSFET9を流れる電流iは、寄生ダイオード9aを介するものではなく、MOSFET9がオンしてチャネルを流れる本来のスイッチ電流である。
MOSFET9に電流iが流れると、この電流iとMOSFET9の内部抵抗による電圧降下が発生し、MOSFET9のソース・ドレイン間に例えば0.3Vの電圧Vdsが発生する。このソース・ドレイン間の電圧Vdsはマイクロパワーコンバータ部31に供給され、マイクロパワーコンバータ部31は昇圧動作を行い、昇圧された電圧はゲート制御回路40に電源電圧として供給される。そしてゲート制御回路40はMOSFET9のゲート駆動信号を生成し、MOSFET9が導通する。
以上の動作を繰り返し、MOSFET9の導通時にソース・ドレイン間に発生する導通電圧Vdsを昇圧し、昇圧された電圧をゲート制御回路40に給電しながらMOSFET9を連続的に駆動するように動作する。
実施の形態8.
図18、図19は、実施の形態8を示すものであり、図18は一方向導通ユニットの構成を示す構成図、図19は動作を説明するための説明図である。図18において、整流装置50は、MOSFET9、抵抗素子52、ダイオード回路53、陽極端子56、陰極端子57、ゲート制御回路60を備える。このような整流装置50を、実施の形態1〜5で示した整流装置10の代わりに使用する。以下では、便宜上、陽極端子56を電位基準とする。MOSFET9は、ソースが陽極端子56に接続され、ドレインが陰極端子57に接続されている。抵抗素子52とダイオード回路53とは直列に接続されて直列回路を構成し、陽極端子56と陰極端子57との間に接続されている。
抵抗素子52は、一方の端子52aが陽極端子56に接続され、他方の端子52bがダイオード回路53の陽極端子に接続されている。ダイオード回路53は、抵抗素子52の一方の端子52b及び陰極端子57に接続された1個若しくは複数個の逆耐圧保護用のダイオード53a(図18では2個並列)からなる。本実施の形態において、MOSFET9は、ソース・ドレイン間の耐圧が陽極端子56に入力される交流電圧の最大値を上回るように設計される。また、ダイオード回路53においても、逆方向バイアス状態における耐圧が陽極端子56に入力される交流電圧の最大値を上回るように設計される。
ゲート制御回路60は、入力端子62,64と、入力回路70と、発振回路72と、チャージポンプ回路74と、スイッチ素子76と、出力端子66とを有する。入力端子62は、抵抗素子52の一方の端子52aに接続されている。従って、入力端子62は、該一方の端子52aを介して陽極端子56に接続されているため、ゲート制御回路60における電位基準となる。入力端子64は、抵抗素子52の他方の端子52bに接続されている。これにより、ゲート制御回路60には、入力端子62,64を介して抵抗素子52の両端子間に発生する端子間電圧が電源電圧として供給される。
ゲート制御回路60は、電源電圧を受けて起動すると、以下に述べる方法によって抵抗素子52の端子52a,52b間に発生した電圧を所定の電圧に昇圧してMOSFET9のゲート駆動電圧を生成する。詳細には、入力回路70は、入力端子62,64を介して抵抗素子52の両端子52a,52b間に発生する端子間電圧が入力される。そして、当該端子間電圧を発振回路72、チャージポンプ回路74及びスイッチ素子76に出力する。
発振回路72は、詳細構成は図示しないが例えばRC型発振回路により構成される。発振回路72は、抵抗素子52の端子間電圧を電源電圧として受け、ゲート制御回路60の動作タイミングを指定するためのクロック信号CLK,CLKBを生成する。そして、発振回路72は、その生成したクロック信号CLK,CLKBをチャージポンプ回路74へ出力する。なお、クロック信号CLKBは、クロック信号CLKと逆位相にされている。
チャージポンプ回路74は、発振回路72から供給されるクロック信号CLK,CLKBに同期して図示しない容量素子のチャージポンプ動作を行うことにより、抵抗素子52の端子間電圧を所定の電圧(たとえば5V程度)に昇圧する。チャージポンプ回路74の出力端子は、ゲート制御回路60の出力端子66に接続され、かつ、出力端子66は、MOSFET9のゲートに接続されている。従って、昇圧後の電圧は、出力端子66を介してMOSFET9のゲート−ソース間に印加される。これにより、MOSFET9は、ソース(陽極端子56に相当)及びゲート(出力端子66に相当)間の電圧Vgをゲート駆動電圧として駆動される。
スイッチ素子76は、入力端子62と出力端子66との間に設けられ、入力回路70から与えられる抵抗素子52の他方の端子52bの電位に応じてオン/オフする。具体的には、スイッチ素子76は、しきい値電圧Vth=0Vのnチャネル型MOSトランジスタからなる。そのため、抵抗素子52の他方の端子52b(入力端子64)の電位が入力端子62の電位(陽極端子56の電位に相当)よりも低い場合、すなわち、抵抗素子52の端子間電圧が陽極端子56を電位基準として負の電圧となる場合には、ソースを電位基準としてMOSFET9のゲート・ソース間の電圧が負となり、しきい値電圧Vth(=0V)を下回るため、スイッチ素子76はオフ状態となる。この場合には、入力端子62と出力端子66とは電気的に開路される。
一方、抵抗素子52の他方の端子52bの電位が入力端子62の一方の端子52aの電位(陽極端子56の電位に相当)以上となる場合、すなわち、抵抗素子52の端子間電圧が陽極端子56を電位基準として0V以上となる場合には、スイッチ素子76のソースを電位基準としてゲート・ソース間の電圧がしきい値電圧Vth(=0V)以上となるため、スイッチ素子76はオン状態となる。この場合には、入力端子62及び出力端子66が電気的に接続されているため、MOSFET9のゲートには、入力端子62の電位、すなわち、陽極端子56の電位が印加される。従って、MOSFET9は、ソースを電位基準としてソース及びゲート間の電圧Vgが0Vとなるため、オフ状態となる。
なお、本実施の形態において、ゲート制御回路60は、標準的なCMOS(Complementary MOS)トランジスタの製造プロセスを用いて、5V以下の電源電圧に対応可能となるように製造される。但し、入力回路70、発振回路72及びチャージポンプ回路74については、抵抗素子52の端子間の電圧(たとえば0.3V程度)を電源電圧として動作する必要があるため、しきい値電圧Vthの絶対値が0.2〜0.3Vとなるように製造される。また、スイッチ素子76については、上述したように、しきい値電圧Vthが0Vとなるように製造される。
すなわち、ゲート制御回路60は、Vth=0.2Vのnチャネル型MOSトランジスタ及びVth=−0.2Vのpチャネル型MOSトランジスタと、Vth=0Vのnチャネル型MOSトランジスタとを有するように、CMOSトランジスタの製造プロセスにより製造される。
次に、図19を参照しながら本実施の形態による整流装置50の動作について説明する。図19において、整流装置50は、陽極端子56が図示しない交流電源に接続され、陰極端子57が同じく図示しない負荷抵抗に接続されているとする。交流電源は、たとえば商用電源であり、周波数60Hzの商用交流電圧(AC100V)を出力する。整流装置50は、陽極端子56に入力される商用交流電圧(外部電圧)を半波整流して陰極端子57から負荷抵抗へ出力する。
なお、整流装置50において、MOSFET9及びダイオード回路53は、商用交流電圧の波高値141Vを充分に上回る耐圧(たとえば約200V)を有するように設計される。動作開始前には、ゲート制御回路60は停止状態であり、MOSFET9はオフ状態である。この状態で、まず、陽極端子56の電位が0Vから140Vまで上昇する場合について説明する。
この場合においては、陽極端子56の電位が0Vから上昇するに従って陽極端子56が陰極端子57よりも高電位となるため、寄生ダイオード9aに順方向電流が流れる。これにより、整流装置50では、図中のラインL1に示される電流経路を通って交流電源から負荷抵抗に電流が流れる。このとき、陽極端子56及び陰極端子57の間には、寄生ダイオード9aの順方向電圧が発生する。この順方向電圧は、寄生ダイオード9aのサイズに依存しており、たとえば0.8〜1.0V程度である。さらに、寄生ダイオード9aに順方向電流が流れるのと並行して、図19中のラインL2に示されるように、抵抗素子52及びダイオード回路53にも微小の電流が流れる。そして、この微小電流によって、抵抗素子52の端子間には電位差が発生する。
なお、本実施の形態において、抵抗素子52の端子間に発生する電位差は、抵抗素子52の一方の端子52a(陽極端子56に相当)を電位基準として−0.3V程度となる。言い換えれば、本実施の形態では、−0.3V程度の電位差が発生するように、抵抗素子52の抵抗値及びダイオード回路53における逆耐圧保護用のダイオード53aの仕様や並列接続個数が決定されている。そして、抵抗素子52の端子間に発生した電位差(−0.3V)は、入力端子62,64を介してゲート制御回路60に入力される。ゲート制御回路60は、抵抗素子52の端子間の電位差(−0.3V)を電源電圧として起動し、当該電位差を所定の電圧(5.0V程度)に昇圧する。そして、ゲート制御回路60は、昇圧後の電圧(5.0V程度)をゲート駆動電圧として、出力端子66を介してMOSFET9のゲートに印加する。
詳細には、上述のように、入力回路70は、一方の端子70aに陽極端子56の電位(基準電位に相当)を受け、他方の端子70bに抵抗素子52の他方の端子52bの電位(=−0.3V)を受けると、該他方の端子52bの電位(−0.3V)を発振回路72、チャージポンプ回路74及びスイッチ素子76に出力する。発振回路72は、該他方の端子52bの電位を受けて起動し、周波数が例えば約1MHzのクロック信号CLK,CLKBを生成する。
チャージポンプ回路74は、発振回路72から供給されるクロック信号CLK,CLKBに同期して図示しない容量素子のチャージポンプ動作を行うことにより、抵抗素子52の他方の端子52bの電位(−0.3V)を所定の電位(5.0V程度)に昇圧する。そして、チャージポンプ回路74は、昇圧後の電位(5.0V)を、出力端子66を介してMOSFET9のゲートに印加する。
これにより、MOSFET9は、ソース及びゲートの間に5.0Vのゲート駆動電圧を受けてオンされる。そして、MOSFET9がオンしたことによって、陽極端子56と陰極端子57との間には、図中のラインL3に示される電流経路が形成される。ここで、当該電流経路においては、陽極端子56及び陰極端子57の間、すなわちMOSFET9のソース・ドレイン間に導通電圧が発生する。なお、導通電圧は、ソース・ドレイン間に流れる電流とMOSFET9のオン抵抗との積で表される。このときの導通電圧は、MOSFET9の低いオン抵抗に起因して、寄生ダイオード9aに発生する順方向電圧(0.8〜1.0V)から減少し、0.4〜0.6V程度となる。
なお、ゲート制御回路60において、抵抗素子52の他方の端子52bの電位(約−0.3V)を所定の電位(約5.0V)に昇圧するのに要する時間は、1ms程度と短い。従って、整流装置50が導通時の順方向電圧は、陽極端子56の電位が0Vから上昇し始めた初期のタイミングでは、寄生ダイオード9aの順方向電圧である0.8〜1.0Vを示すが、約1ms経過後にはMOSFET9がオンすることによって0.4〜0.6Vにまで低下する。そして、整流装置50の導通時には、陽極端子56及び陰極端子57の間に発生する導通電圧と該2端子間を流れる電流との積で表される導通損失が発生する。本実施の形態によれば、導通電圧は、ダイオードの0.8〜1.0Vよりも0.4V低くなる。このため、整流装置50の導通損失を、この電圧低下分だけ低減することができる。
以上のように、MOSFET9のソース・ドレイン間が導通すると、ゲート制御回路60は、抵抗素子52の端子間に発生した電位差からゲート駆動電圧を生成してMOSFET9の導通を継続しようとする。このとき、ゲート制御回路60は、ソース・ドレイン間の導通により抵抗素子52の端子間に発生する電圧の絶対値が若干低下するものの、その電圧を電源電圧として連続して昇圧動作を行う。
これにより、MOSFET9が導通している間は、ゲート制御回路60はゲート駆動電圧を生成してMOSFET9を駆動することにより、整流装置50は自己給電しながら導通状態を継続することができる。このため、MOSFET9のゲート駆動電圧、たとえば5Vの電圧を外部から供給する必要なく、MOSFET9を連続的に駆動制御できる。このように、外部からの電源供給が不要であるため、2端子のダイオードとの置き換えが容易であり、該ダイオードよりも導通損失を低減して高効率な整流装置を実現することができる。
次に、陽極端子56の電位が0Vから低下する場合について説明する。
この場合においては、陽極端子56の電位が0Vから低下するに従って陰極端子57が陽極端子56よりも高電位となるため、寄生ダイオード9aは、逆方向電圧が印加されて電流が流れない。また、抵抗素子52及びダイオード回路53においても電流が流れないため、抵抗素子52の端子間には電位差が発生しない。これにより、ゲート制御回路60においては、入力端子62,64を介する電源電圧が供給されないために、発振回路72及びチャージポンプ回路74が停止状態となり、昇圧動作が実行されない。
その一方で、スイッチ素子76は、Vth=0VのnチャネルMOSトランジスタのゲートに印加される電位(抵抗素子52の他方の端子52bの電位に相当)が、ソースに印加される入力端子62の電位(陽極端子56の電位に相当)よりも高くなる。これにより、nチャネルMOSトランジスタのゲート・ソース間の電圧がしきい値電圧Vthを上回るため、スイッチ素子76はオン状態となる。MOSFET9は、ゲートに陽極端子56の電位が印加されることによって、ソースを電位基準としてソース及びゲート間の電圧Vgが0Vとなるため、オフされる。
以上に説明したように、陽極端子56の電位が0Vから正側に変化した場合には、最初にMOSFET9の寄生ダイオード9aが導通し、寄生ダイオード9aが導通したタイミングから約1ms経過後に、MOSFET9がオンする。そして、陽極端子56の電位が正側から負側に変化したタイミングで、MOSFET9がオフする。整流装置50は、一連の陽極端子56の電位に応じたオン/オフ動作を繰り返すことによって、交流電圧の半波整流を実行する。このような動作の繰り返しによって、陰極端子Kからは半波整流された交流電圧が出力されて負荷抵抗に供給される。
以上のように、この実施の形態によれば、MOSFET9と並列に抵抗素子52とダイオード53との直列回路を接続するようにし、抵抗素子52の端子間電圧を昇圧回路の電源として用いるようにし、MOSFET9のゲート駆動電圧は、抵抗素子52の端子間に発生する微小な電位差0.3Vから生成されるようにした。かかる構成は、陰極端子57の電位を直接的にゲート駆動電圧とするそれぞれ実施の形態1の図3、実施の形態6の図16、実施の形態7の図17に示した整流装置10、整流装置20、整流装置30とは異なっている。この実施の形態によれば、抵抗素子52とダイオード53の順方向導通抵抗とで整流装置50の順方向降下電圧を任意に分圧できるとともに、MOSFET9がオフであるときMOSFET9に印加される逆電圧は、ダイオード53で阻止されるので、抵抗素子52及びダイオード53を要請に合わせて選ぶことにより、任意の外部電圧特に高電圧回路例えば数十〜数百Vに至る任意の高電圧回路に適用でき、適用可能な外部電圧が、MOSFET9のゲート駆動電圧によって制限されることがない。従って、この実施の形態における整流装置50を一方向導通装置に用いれば、低損失でかつ一方向導通ユニットの故障の状態を知ることができる一方向導通装置を得ることができる。
なお、上記各実施の形態では、整流装置に用いる電界効果型トランジスタとして、寄生ダイオードを内蔵したnチャネル型パワーMOSトランジスタを用いたが、SiCトランジスタなど、ゲートで駆動制御される他の電界効果型トランジスタでもよい。また、寄生ダイオードを利用しない場合は、MOSFET9に並列に任意の導通抵抗を有するダイオードを接続してもよい。
また、この発明の特許請求の範囲における構成要素と以上の各実施の形態における構成要素との対応関係は、以下の通りである。
陽極端子:陽極端子16,36,56、
陰極端子:陰極端子17,37,57、
一方向導通ユニット:整流装置10,20,30,50、
故障検出装置:故障検出回路105,205,305,405,505、
半導体スイッチング素子:MOSFET9、
並列ダイオード:寄生ダイオード9a、
昇圧回路:昇圧回路2、マイクロコンバータ部31、チャージポンプ回路74、
駆動制御回路:ゲート制御回路1,40、スイッチ素子76、
コンデンサ:コンデンサ8、
電源切替回路:電源切替回路3、
抵抗素子:抵抗素子52、
ダイオード:ダイオード回路53、
一方向導通装置:一方向導通装置100,200,300,500。
この発明の実施の形態1である一方向導通装置を用いた太陽光発電システムの構成を示す構成図である。 一方向導通装置の構成を示す構成図である。 一方向導通ユニットの構成を示すブロック図である。 図1の一方向導通ユニットと従来のダイオードとの電力損失の比較を示す比較図である。 一方向導通ユニットの故障検出回路の動作を説明するための説明図である。 一方向導通ユニットの動作を説明するための波形図である。 一方向導通ユニットの動作を説明するための波形図である。 この発明の実施の形態2である一方向導通装置を用いた太陽光発電システムの構成を示す構成図である。 一方向導通装置の構成を示す構成図である。 一方向導通装置の動作を説明するための波形図である。 この発明の実施の形態3である一方向導通装置を用いた太陽光発電装置の並列運転システムの構成を示す構成図である。 この発明の実施の形態4である一方向導通装置の構成を示す構成図である。 この発明の実施の形態5である一方向導通装置を用いた単相全波整流装置の構成を示す構成図である。 この発明の実施の形態5である一方向導通装置を用いた三相全波整流装置の構成を示す構成図である。 図13及び図14の一方向導通装置の構成を示す構成図である。 この発明の実施の形態6である一方向導通ユニットの構成を示す回路図である。 この発明の実施の形態7である一方向導通ユニットの構成を示す構成図である。 この発明の実施の形態8である一方向導通ユニットの構成を示す構成図である。 図18の一方向導通ユニットの動作を説明するための説明図である。
符号の説明
1 ゲート制御回路、2 昇圧回路、9 MOSFET、
10,20,30 整流装置、31 マイクロパワーコンバータ部、
40 ゲート制御回路、50 整流装置、52 抵抗素子、
53a 逆耐圧保護用のダイオード、74 チャージポンプ回路、76 スイッチ素子、
100,200,300,400,500 一方向導通装置、
101a,101b 一方向導通ユニット、
201a,201b,301a,301b,302a,302b 一方向導通ユニット、
401a,401b,402a,402b,403a,403b 一方向導通ユニット、
501a,501b,502a,502b 一方向導通ユニット、
105,205,305,405,505 故障検出回路。

Claims (11)

  1. 接続端子を有しこの接続端子を介して少なくとも直列又は並列回路の一方を構成するように接続された複数の一方向導通ユニットと、故障検出装置とを備え
    上記一方向導通ユニットは、接続端子としての陽極端子と陰極端子との2端子と、上記2端子間に接続されゲートにより駆動制御される半導体スイッチング素子と、陽極側が上記陽極端子側になるようにして上記半導体スイッチング素子に並列に接続された並列ダイオードと、上記2端子間が導通した時に上記2端子間に発生する導通電圧を所定の電圧に昇圧して出力する昇圧回路と、上記2端子間の導通状態を継続できるように上記昇圧回路の出力を電源として上記半導体スイッチング素子の上記ゲートに駆動信号を出力する駆動制御回路とを有するものであり、
    上記故障検出装置は上記半導体スイッチング素子の故障を検出するものである
    一方向導通装置。
  2. 上記昇圧回路は、自身の出力を上記昇圧回路を動作させる電源電圧に用い、動作開始時には上記並列ダイオードの両端に発生する順方向電圧により動作することを特徴とする請求項1に記載の一方向導通装置。
  3. 上記半導体スイッチング素子は、ドレインが上記陰極端子に接続されソースが上記陽極端子に接続されたMOSFETであり、
    上記昇圧回路は、上記MOSFETのソースとドレイン間に発生する電圧を所定の電圧に昇圧して出力するものであることを特徴とする請求項1に記載の一方向導通装置。
  4. 上記半導体スイッチング素子は、ソース・ドレイン間に寄生ダイオードが内蔵され、ドレインが上記陰極端子に接続されソースが上記陽極端子に接続されたnチャネル型MOSFETであり、
    上記昇圧回路は、上記2端子間が導通時に上記nチャネル型パワーMOSFETのソースとドレイン間に発生する上記ドレインを電位基準とした正の電圧を上記所定の電圧に昇圧して出力するものであり、
    上記駆動制御回路は、上記ドレインを電位基準とした正の電圧を上記駆動信号として出力するものであることを特徴とする請求項1に記載の一方向導通装置。
  5. 上記昇圧回路は、昇圧した電圧により充電されるコンデンサと、上記コンデンサの電圧を上記昇圧回路自身の電源に用いるための電源切替回路とを有し、起動時には上記寄生ダイオードの両端に発生する順方向電圧により動作し、起動後は上記コンデンサの電圧を上記昇圧回路自身の電源に用いるよう上記電源切替回路にて切り替えるものであることを特徴とする請求項4に記載の一方向導通装置。
  6. 上記昇圧回路は、抵抗素子とダイオードとが上記2端子間に直列に接続された直列回路を有するものであって、上記2端子間の導通時に上記抵抗素子の端子間に発生する電圧を上記所定の電圧に昇圧して出力するものであることを特徴とする請求項1に記載の一方向導通装置。
  7. 上記ゲート制御回路は、上記抵抗素子の端子間電圧が上記陽極端子を電位基準として負の電圧であるときには上記抵抗素子の端子間電圧の昇圧動作を行なう一方で、上記抵抗素子の端子間電圧が上記陽極端子を電位基準として零以上の電圧であるときには上記昇圧動作を停止するとともに、上記陽極端子の電位を上記駆動信号として出力するものであることを特徴とする請求項6に記載の一方向導通装置。
  8. 上記2端子は交流電源に接続されるものであって、上記半導体スイッチング素子及び上記ダイオードは、上記交流電源の最大出力電圧を上回る耐圧を有するものであることを特徴とする請求項6又は請求項7に記載の一方向導通装置。
  9. 上記故障検出回路は、上記半導体スイッチング素子の短絡または開放状態を検出するものであることを特徴とする請求項1に記載の一方向導通装置。
  10. 上記故障検出回路は、上記半導体スイッチング素子の短絡または開放状態に応じて検出信号を出力するものであることを特徴とする請求項9に記載の一方向導通装置。
  11. 上記故障検出回路は、上記半導体スイッチング素子の短絡または開放状態を検出すると、上記一方向導通ユニットの上記昇圧回路及び上記駆動制御回路の少なくとも一方の動作を停止するものであることを特徴とする請求項9に記載の一方向導通装置。
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