JP4863291B2

JP4863291B2 - Cross-connect path test system and path test method used therefor

Info

Publication number: JP4863291B2
Application number: JP2007112510A
Authority: JP
Inventors: 雅也藤村
Original assignee: NEC Engineering Ltd
Current assignee: NEC Engineering Ltd
Priority date: 2007-04-23
Filing date: 2007-04-23
Publication date: 2012-01-25
Anticipated expiration: 2027-04-23
Also published as: JP2008271264A

Description

本発明は、クロスコネクト装置のパス状態を試験するクロスコネクトパス試験システム及びパス試験方法に関し、特に、ＩＴＵ−Ｔ規格であるＳＤＨ（Snnchronous Digital Hierarchn）装置又はＰＤＨ（Plesiochronous Digital Hierarchn）装置で用いるクロスコネクト装置のパス状態を試験する試験システム及び試験方法に関する。 The present invention relates to a cross-connect path test system and a path test method for testing a path state of a cross-connect device, and in particular, a cross used in an SDH (Snnchronous Digital Hierarchn) device or PDH (Plesiochronous Digital Hierarchn) device that is an ITU-T standard. The present invention relates to a test system and a test method for testing a path state of a connection device.

従来、クロスコネクト装置のパス状態を試験するクロスコネクトパス試験システムとして、種々のものが提案されている。 Conventionally, various types of cross-connect path test systems for testing the path state of a cross-connect device have been proposed.

図１９は、Ｎ個の入力端子IN１〜IN＿Ｎと、Ｎ個の出力端子OUT１〜OUT＿Ｎとを有するＮ×Ｎクロスコネクト装置１０のパス状態を試験するクロスコネクトパス試験システムの従来例を示す構成図である。このクロスコネクトパス試験システム１００は、被試験装置であるクロスコネクト装置１０と、試験用のパルス信号６０を発生するパルスジェネレータ３０と、パルスジェネレータ３０をクロスコネクト装置１０の入力端子IN１〜IN＿Ｎに選択的に接続する第１スイッチ試験機８０と、クロスコネクト装置１０のパスエラーを検出するパルスディテクタ４０と、クロスコネクト装置１０の出力端子OUT１〜OUT＿Ｎをパルスディテクタ４０に選択的に接続する第２スイッチ試験機９０と、クロスコネクトパス試験システム１００全体の動作を制御する制御装置５０とから構成される。 FIG. 19 is a configuration diagram showing a conventional example of a cross-connect path test system for testing a path state of an N × N cross-connect device 10 having N input terminals IN1 to IN_N and N output terminals OUT1 to OUT_N. It is. This cross-connect path test system 100 selects a cross-connect device 10 as a device under test, a pulse generator 30 that generates a test pulse signal 60, and the pulse generator 30 as input terminals IN1 to IN_N of the cross-connect device 10. First switch testing machine 80 connected in series, pulse detector 40 for detecting a path error of the cross-connect device 10, and a second switch for selectively connecting the output terminals OUT1 to OUT_N of the cross-connect device 10 to the pulse detector 40 The tester 90 includes a control device 50 that controls the operation of the entire cross-connect path test system 100.

第１スイッチ試験機８０は、クロスコネクト装置１０の入力端子IN１〜IN＿Ｎに対応して、Ｎ個のスイッチ８０＿１〜８０＿Ｎを有し、各スイッチ８０＿１〜８０＿Ｎは、パルスジェネレータ３０とクロスコネクト装置１０の入力端子IN１〜IN＿Ｎとの間を、導通／非導通状態に切り替える機能を有する。また、第２スイッチ試験機９０も、クロスコネクト装置１０の出力端子OUT１〜OUT＿Ｎに対応して、Ｎ個のスイッチ９０＿１〜９０＿Ｎを有し、各スイッチ９０＿１〜９０＿Ｎは、クロスコネクト装置１０の出力端子OUT１〜OUT＿Ｎとパルスディテクタ４０との間を、導通／非導通状態に切り替える機能を有する。 The first switch testing machine 80 has N switches 80_1 to 80_N corresponding to the input terminals IN1 to IN_N of the cross-connect device 10, and each of the switches 80_1 to 80_N corresponds to the pulse generator 30 and the cross-connect device 10. It has a function of switching between the input terminals IN1 to IN_N to a conductive / nonconductive state. The second switch testing machine 90 also has N switches 90_1 to 90_N corresponding to the output terminals OUT1 to OUT_N of the cross-connect device 10, and each of the switches 90_1 to 90_N is an output terminal of the cross-connect device 10. It has a function of switching between OUT1 to OUT_N and the pulse detector 40 to a conductive / nonconductive state.

制御装置５０は、クロスコネクト装置１０、第１スイッチ試験機８０、第２スイッチ試験機９０及びパルスディテクタ４０に対し、クロスコネクト制御信号５２、第１スイッチ制御信号５３、第２スイッチ制御信号５６及びエラーリセット信号５４を出力し、各回路の動作を制御する。また、制御装置５０は、パルスディテクタ４０からのエラー結果５５を取り込み、クロスコネクト装置１０のパス状態が良好な場合にＯＫ表示をし、不良の場合にＮＧ表示をする。 The control device 50 provides a cross-connect control signal 52, a first switch control signal 53, a second switch control signal 56, and a cross-connect control signal 52, a first switch test device 80, a second switch test device 90, and a pulse detector 40. An error reset signal 54 is output to control the operation of each circuit. Further, the control device 50 takes in the error result 55 from the pulse detector 40, displays OK when the path state of the cross-connect device 10 is good, and displays NG when it is defective.

次に、上記クロスコネクトパス試験システム１００を用いたパス試験方法について、図１９及び図２０を参照して説明する。 Next, a path test method using the cross-connect path test system 100 will be described with reference to FIGS.

パス試験にあたっては、まず、第１スイッチ試験機８０を制御し、パルスジェネレータ３０とクロスコネクト装置１０の入力端子IN＿１とを接続する（ステップＳ８１（ｉ）、Ｓ８２）。尚、図２０の「ｙ」は、１〜Ｎのうちの何れかであり、入力端子IN（ｙ）とは、入力端子IN１〜IN＿Ｎのうちの何れかの入力端子であることを意味する。また、このとき、パルスジェネレータ３０と接続した入力端子IN＿１以外の入力端子については、パルスジェネレータ３０との接続を遮断する。 In the path test, first, the first switch tester 80 is controlled to connect the pulse generator 30 and the input terminal IN_1 of the cross-connect device 10 (steps S81 (i) and S82). Note that “y” in FIG. 20 is any one of 1 to N, and the input terminal IN (y) means any one of the input terminals IN1 to IN_N. At this time, the input terminals other than the input terminal IN_1 connected to the pulse generator 30 are disconnected from the pulse generator 30.

次いで、クロスコネクト装置１０を制御し、パルスジェネレータ３０と接続された入力端子IN＿１を出力端子OUT＿１に接続するようにパスを構成する（ステップＳ８３（ｉ）、Ｓ８４）。尚、図中の「ｘ」は、「ｙ」と同様に、１〜Ｎのうちの何れかであり、出力端子OUT（ｘ）とは、出力端子OUT１〜OUT＿Ｎのうちの何れかの出力端子であることを意味する。 Next, the cross-connect device 10 is controlled, and a path is configured to connect the input terminal IN_1 connected to the pulse generator 30 to the output terminal OUT_1 (steps S83 (i) and S84). Note that “x” in the figure is any one of 1 to N, similarly to “y”, and the output terminal OUT (x) is any output terminal of the output terminals OUT1 to OUT_N. It means that.

次に、第２スイッチ試験機９０を制御し、クロスコネクト装置１０の出力端子OUT＿１をパルスディテクタ４０に接続する（ステップＳ８５）。次いで、パルスディテクタ４０をエラーリセット制御した後に（ステップＳ８６）、パルスジェネレータ３０からパルス信号６０を出力し、パルスディテクタ４０で入力端子IN＿１及び出力端子OUT＿１間の導通状態を確認する。一定の測定時間を待った後に、パルスディテクタ４０のエラー結果５５を制御装置５０に取り込み（ステップＳ８７）、パス状態が不良の場合には（ステップＳ８８：Ｎｏ）、ＮＧ表示をしてパス試験を中断する（ステップＳ８９）。 Next, the second switch tester 90 is controlled to connect the output terminal OUT_1 of the cross-connect device 10 to the pulse detector 40 (step S85). Next, after performing error reset control of the pulse detector 40 (step S86), the pulse signal 60 is output from the pulse generator 30, and the conduction state between the input terminal IN_1 and the output terminal OUT_1 is confirmed by the pulse detector 40. After waiting for a certain measurement time, the error result 55 of the pulse detector 40 is fetched into the control device 50 (step S87). If the pass state is bad (step S88: No), the pass test is interrupted by displaying NG. (Step S89).

これに対し、パス状態が良好な場合には（ステップＳ８８：Ｙｅｓ）、次の出力端子OUT（ｘ＋１）を試験対象として選択し、ステップＳ８４〜Ｓ８８の処理を繰り返してパス状態を確認する（ステップＳ８３（ｉ）〜Ｓ８３（ｏ））。入力端子IN＿１と全ての出力端子OUT１〜OUT＿Ｎとの間のパス状態を確認すると、次の入力端子IN（ｙ＋１）を選択し、上記と同様にして、全ての出力端子OUT１〜OUT＿Ｎとの間のパス状態を順番に確認する（ステップＳ８１（ｉ）〜Ｓ８１（ｏ））。そして、入力端子IN１〜IN＿Ｎと出力端子OUT１〜OUT＿Ｎとの間の全てのパスについて、パス状態の確認が終了し、パス状態が良好であれば、ＯＫ表示をしてパス試験を終了する（ステップＳ９０）。 On the other hand, when the pass state is good (step S88: Yes), the next output terminal OUT (x + 1) is selected as a test target, and the process of steps S84 to S88 is repeated to check the pass state (step S83 (i) to S83 (o)). When the path state between the input terminal IN_1 and all the output terminals OUT1 to OUT_N is confirmed, the next input terminal IN (y + 1) is selected, and in the same manner as described above, between all the output terminals OUT1 to OUT_N. The path status is confirmed in order (steps S81 (i) to S81 (o)). Then, for all the paths between the input terminals IN1 to IN_N and the output terminals OUT1 to OUT_N, the confirmation of the path state is completed, and if the path state is good, OK display is performed and the path test is terminated (step) S90).

また、従来のクロスコネクトパス試験システムとして、図１９及び図２０に示したクロスコネクトパス試験システム１００の他、信号をシリアルデータ化してタイムスロットの順番を入れ替えて試験するクロスコネクトパス試験システムも提案されている（例えば、特許文献１及び２参照）。
特開２００５−１５１４７８号公報特開平７−０４６３１３号公報 In addition to the cross-connect path test system 100 shown in FIGS. 19 and 20, as a conventional cross-connect path test system, a cross-connect path test system for converting signals into serial data and changing the order of time slots is also proposed. (For example, see Patent Documents 1 and 2).
JP 2005-151478 A Japanese Unexamined Patent Publication No. 7-046313

しかしながら、図１９及び図２０の従来のクロスコネクトパス試験システム１００においては、入出力端子の接続を１つずつ順番に変更し、パスの各々について導通状態を確認する必要があるため、入出力端子のチャネル数が膨大になると、パス試験の作業工数及び作業時間が大幅に増大するという問題があった。 However, in the conventional cross-connect path test system 100 of FIGS. 19 and 20, it is necessary to change the connection of the input / output terminals one by one in order and check the conduction state of each path. When the number of channels becomes enormous, there has been a problem that the man-hour and work time of the pass test are greatly increased.

また、特許文献１及び２のクロスコネクトパス試験システムにおいても、チャネル数が大きくなると、高密度に多重化し、タイムスロットを任意に制御する複雑な回路が必要となるため、速度的な制約を受けるとともに、制御の難易度が高くなり、膨大なチャネル数を有するクロスコネクト装置のパス試験には不向きであった。 Also, in the cross-connect path test systems of Patent Documents 1 and 2, when the number of channels is increased, a complicated circuit that multiplexes at a high density and arbitrarily controls the time slot is required. At the same time, the difficulty of control is increased, and it is not suitable for the path test of the cross-connect device having a huge number of channels.

そこで、本発明は、上記従来の技術における問題点に鑑みてなされたものであって、クロスコネクト装置が多数のチャネル数を有する場合でも、短い作業時間と少ない作業工数でパス状態を試験することができるクロスコネクトパス試験システム等を提供することを目的とする。 Therefore, the present invention has been made in view of the problems in the above-described conventional technology, and even when the cross-connect device has a large number of channels, the path state can be tested with a short work time and a small work man-hour. The purpose is to provide a cross-connect path test system and the like.

上記目的を達成するため、本発明は、複数のチャネルを有するクロスコネクト装置と、試験信号を出力するパルス発生手段と、前記クロスコネクト装置のパス状態を検出する検出手段とを備え、前記クロスコネクト装置のパス状態を試験するクロスコネクトパス試験システムであって、所定のチャネル番号の入力端子を前記パルス発生手段に接続し、前記所定のチャネル番号の出力端子を前記検出手段に接続するとともに、他のチャネル番号の入出力端子を経由しながら、前記パルス発生手段に接続された入力端子から前記検出手段に接続された出力端子までを連続的に繋ぐパスを前記クロスコネクト装置に設定する第１パス設定と、前記所定のチャネル番号の入力端子を前記所定のチャネル番号の出力端子に折り返し接続するパスを前記クロスコネクト装置に設定する第２パス設定とを、前記複数のチャネルの各々について実行し、前記クロスコネクト装置のパス状態を試験し、前記複数のチャネルのチャネル数をＮとし、１からＮまでの値を１ずつインクリメントする変数をｍとし、入出力端子のチャネル番号をＡ（ｍ）とし、前記所定のチャネル番号をＡ（０）としたときに、前記第１パス設定の前記他のチャネル番号の入出力端子を繋ぐパスは、前記変数ｍの値が１つインクリメントする都度、前記クロスコネクト装置に１つのパスを構成し、前記変数ｍの値が１からＮ−１である場合に、前記チャネル番号Ａ（ｍ）をＡ（ｍ−１）＋ｍとすると共に、該Ａ（ｍ−１）＋ｍの値が前記チャネル数Ｎを超えたときに、前記Ａ（ｍ）を前記Ａ（ｍ−１）＋ｍの値から前記チャネル数Ｎを減算した値とし、前記変数ｍの値がＮである場合に、前記チャネル番号Ａ（ｍ）を前記所定のチャネル番号とし、チャネル番号がＡ（ｍ−１）の入力端子を、チャネル番号がＡ（ｍ）の出力端子に接続する条件を満足することを特徴とする。 In order to achieve the above object, the present invention comprises a cross-connect device having a plurality of channels, pulse generation means for outputting a test signal, and detection means for detecting a path state of the cross-connect device, A cross-connect path test system for testing a path state of an apparatus, wherein an input terminal having a predetermined channel number is connected to the pulse generating means, an output terminal having the predetermined channel number is connected to the detecting means, and others A first path for setting a path connecting the input terminal connected to the pulse generating means to the output terminal connected to the detecting means in the cross-connect device via the input / output terminal of the channel number A path for setting and connecting the input terminal of the predetermined channel number to the output terminal of the predetermined channel number is connected to the clock. The second path setting and for setting the Sukonekuto device, performed for each of the plurality of channels, the tested path status of the cross-connect device, the number of channels of the plurality of channels is N, the value from 1 to N When the variable for incrementing by 1 is m, the channel number of the input / output terminal is A (m), and the predetermined channel number is A (0), the other channel number of the first path setting is The path connecting the input / output terminals constitutes one path for the cross-connect device every time the value of the variable m is incremented by one, and the channel is set when the value of the variable m is 1 to N−1. When the number A (m) is A (m−1) + m and the value of A (m−1) + m exceeds the number of channels N, the A (m) is changed to the A (m−1). ) From the value of + m When the value of the variable m is N, the channel number A (m) is the predetermined channel number, and the input terminal with the channel number A (m-1) is the channel. The condition for connecting to the output terminal with the number A (m) is satisfied .

そして、本発明によれば、第１及び第２パス設定からなる２通りのパス設定を、チャネル数だけ繰り返すことにより、クロスコネクト装置のパス状態を試験することができ、クロスコネクト装置が多数のチャネル数を有する場合でも、短い作業時間と少ない作業工数でパス状態を試験することが可能となる。
また、本発明によれば、前記条件を満足するようにクロスコネクト装置のパス設定を制御すれば、第１パス設定を効率的に形成することが可能となる。 According to the present invention, the path state of the cross-connect device can be tested by repeating two path settings including the first and second path settings as many as the number of channels. Even in the case of having the number of channels, it is possible to test the path state with a short work time and a small work man-hour.
Further, according to the present invention, if the path setting of the cross-connect device is controlled so as to satisfy the above condition, the first path setting can be efficiently formed.

前記クロスコネクトパス試験システムにおいて、前記第１パス設定の前記他のチャネル番号の入出力端子を繋ぐパスが、入力端子及び出力端子の一方を隣り合うチャネル番号以外のチャネル番号の入力端子及び出力端子の他方に繋ぐパスを含むように構成することができる。この構成によれば、隣り合うチャネル番号の出力端子に入力端子を繋ぐようなパスのみならず、チャネル番号を１以上飛び越す出力端子に入力端子を繋ぐようなパスも漏れなく試験することができる。 In the cross-connect path test system, a path connecting the input / output terminals of the other channel numbers set in the first path has an input terminal and an output terminal having a channel number other than the adjacent channel number at one of the input terminal and the output terminal. It can comprise so that the path | route connected to the other may be included. According to this configuration, not only a path in which an input terminal is connected to an output terminal of an adjacent channel number but also a path in which an input terminal is connected to an output terminal that jumps one or more channel numbers can be tested without omission.

また、本発明は、複数のチャネルを有するクロスコネクト装置に、試験信号を出力するパルス発生手段と、前記クロスコネクト装置のパス状態を検出する検出手段とを接続して、前記クロスコネクト装置のパス状態を試験するクロスコネクトパス試験方法であって、所定のチャネル番号の入力端子を前記パルス発生手段に接続し、前記所定のチャネル番号の出力端子を前記検出手段に接続するとともに、他のチャネル番号の入出力端子を経由しながら、前記パルス発生手段に接続された入力端子から前記検出手段に接続された出力端子までを連続的に繋ぐパスを前記クロスコネクト装置に設定する第１パス設定と、前記所定のチャネル番号の入力端子を前記所定のチャネル番号の出力端子に折り返し接続するパスを前記クロスコネクト装置に設定する第２パス設定とを、前記複数のチャネルの各々について実行し、前記クロスコネクト装置のパス状態を試験し、前記複数のチャネルのチャネル数をＮとし、１からＮまでの値を１ずつインクリメントする変数をｍとし、入出力端子のチャネル番号をＡ（ｍ）とし、前記所定のチャネル番号をＡ（０）としたときに、前記第１パス設定の前記他のチャネル番号の入出力端子を繋ぐパスは、前記変数ｍの値が１つインクリメントする都度、前記クロスコネクト装置に１つのパスを構成し、前記変数ｍの値が１からＮ−１である場合に、前記チャネル番号Ａ（ｍ）をＡ（ｍ−１）＋ｍとすると共に、該Ａ（ｍ−１）＋ｍの値が前記チャネル数Ｎを超えたときに、前記Ａ（ｍ）を前記Ａ（ｍ−１）＋ｍの値から前記チャネル数Ｎを減算した値とし、前記変数ｍの値がＮである場合に、前記チャネル番号Ａ（ｍ）を前記所定のチャネル番号とし、チャネル番号がＡ（ｍ−１）の入力端子を、チャネル番号がＡ（ｍ）の出力端子に接続する条件を満足することを特徴とする。本発明によれば、前記発明と同様に、クロスコネクト装置が多数のチャネル数を有する場合でも、短い作業時間と少ない作業工数でパス状態を試験することが可能となる。
また、本発明によれば、前記発明と同様に、前記条件を満足するようにクロスコネクト装置のパス設定を制御すれば、第１パス設定を効率的に形成することが可能となる。 According to another aspect of the present invention, there is provided a cross-connect device having a plurality of channels, wherein a pulse generation unit that outputs a test signal and a detection unit that detects a path state of the cross-connect device are connected to each other. A cross-connect path test method for testing a state, wherein an input terminal of a predetermined channel number is connected to the pulse generation means, an output terminal of the predetermined channel number is connected to the detection means, and another channel number A first path setting for setting in the cross-connect device a path continuously connecting from the input terminal connected to the pulse generation means to the output terminal connected to the detection means, while passing through the input / output terminal of A path connecting the input terminal of the predetermined channel number to the output terminal of the predetermined channel number is connected to the cross-connect device. A second path setting to the constant, executed for each of the plurality of channels, the tested path status of the cross-connect device, the number of channels of the plurality of channels is N, one of the values from 1 to N When the variable to be incremented is m, the channel number of the input / output terminal is A (m), and the predetermined channel number is A (0), the input / output terminal of the other channel number of the first path setting Each time the value of the variable m is incremented by one, one path is formed in the cross-connect device, and when the value of the variable m is 1 to N−1, the channel number A ( m) is set to A (m-1) + m, and when the value of A (m-1) + m exceeds the number of channels N, the A (m) is set to the value of A (m-1) + m. Value obtained by subtracting the number of channels N from the value When the value of the variable m is N, the channel number A (m) is the predetermined channel number, the input terminal having the channel number A (m−1), and the channel number A (m) The condition for connecting to the output terminal is satisfied . According to the present invention, similarly to the above-described invention, even when the cross-connect device has a large number of channels, it is possible to test the path state with a short work time and a small work man-hour.
Further, according to the present invention, similarly to the above-described invention, the first path setting can be efficiently formed by controlling the path setting of the cross-connect device so as to satisfy the above condition.

前記クロスコネクトパス試験方法において、前記第１パス設定の前記他のチャネル番号の入出力端子を繋ぐパスが、入力端子及び出力端子の一方を隣り合うチャネル番号以外のチャネル番号の入力端子及び出力端子の他方に繋ぐパスを含むように構成することができる。 In the cross-connect path test method, an input terminal and an output terminal having a channel number other than a channel number adjacent to one of the input terminal and the output terminal are connected to the input / output terminal having the other channel number in the first path setting. It can comprise so that the path | route connected to the other may be included.

以上のように、本発明によれば、クロスコネクト装置が多数のチャネル数を有する場合でも、短い作業時間と少ない作業工数でパス状態を試験することが可能となる。 As described above, according to the present invention, even when the cross-connect device has a large number of channels, it is possible to test the path state with a short work time and a small work man-hour.

次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。 Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図１は、本発明にかかるクロスコネクトパス試験システムの一実施の形態を示す全体構成図である。尚、同図において、図１９の従来のクロスコネクトパス試験システム１００と同一の構成要素については、同一の符号を付す。 FIG. 1 is an overall configuration diagram showing an embodiment of a cross-connect path test system according to the present invention. In the figure, the same components as those of the conventional cross-connect path test system 100 of FIG.

クロスコネクトパス試験システム１は、Ｎ個の入力端子IN１〜IN＿Ｎと、Ｎ個の出力端子OUT１〜OUT＿Ｎとを有するＮ×Ｎクロスコネクト装置１０のパス状態を試験するためのものであり、試験用のパルス信号６０を発生するパルスジェネレータ３０と、クロスコネクト装置１０のパスエラーを検出するパルスディテクタ４０と、パルスジェネレータ３０及びパルスディテクタ４０に、クロスコネクト装置１０の入出力端子IN１〜IN＿Ｎ、OUT１〜OUT＿Ｎを選択的に接続するスイッチ試験機２と、クロスコネクトパス試験システム１全体の動作を制御する制御装置３とから構成される。 The cross-connect path test system 1 is for testing a path state of an N × N cross-connect device 10 having N input terminals IN1 to IN_N and N output terminals OUT1 to OUT_N. The pulse generator 30 for generating the pulse signal 60, the pulse detector 40 for detecting the path error of the cross-connect device 10, and the pulse generator 30 and the pulse detector 40 are connected to the input / output terminals IN1 to IN_N, OUT1 to the cross-connect device 10. The switch tester 2 selectively connects OUT_N and the control device 3 that controls the operation of the entire cross-connect path test system 1.

スイッチ試験機２は、クロスコネクト装置１０の入出力端子IN１〜IN＿Ｎ、OUT１〜OUT＿Ｎに対応して、Ｎ個のスイッチ２＿１〜２＿Ｎを有し、各スイッチ２＿１〜２＿Ｎは、図２に示すように、クロスコネクト装置１０の入力端子IN＿１〜IN＿Ｎへの入力信号を切り替えるための第１スイッチ部２１と、クロスコネクト装置１０の出力端子OUT＿１〜OUT＿Ｎからの出力信号を切り替える第２スイッチ部２２とを備える。 The switch testing machine 2 has N switches 2_1 to 2_N corresponding to the input / output terminals IN1 to IN_N and OUT1 to OUT_N of the cross-connect device 10, and each of the switches 2_1 to 2_N is as shown in FIG. The first switch unit 21 for switching input signals to the input terminals IN_1 to IN_N of the cross-connect device 10 and the second switch unit 22 for switching output signals from the output terminals OUT_1 to OUT_N of the cross-connect device 10 are provided. .

第１スイッチ部２１には、パルスジェネレータ３０の出力と接続された入力端子２１ａと、第２スイッチ部２２の出力端子２２ｂに接続された入力端子２１ｂと、入力端子２１ａ、２１ｂの何れかをクロスコネクト装置１０の入力端子IN＿１〜IN＿Ｎに接続する出力端子２１ｃとが設けられる。一方、第２スイッチ部２２には、パルスディテクタ４０の入力に接続された出力端子２２ａと、第１スイッチ部２１の入力端子２１ｂに接続され、折り返し経路を形成する出力端子２２ｂと、クロスコネクト装置１０の出力端子OUT＿１〜OUT＿Ｎを出力端子２２ａ、２２ｂの何れかに接続する入力端子２２ｃとが設けられる。 The first switch unit 21 crosses either the input terminal 21a connected to the output of the pulse generator 30, the input terminal 21b connected to the output terminal 22b of the second switch unit 22, or any of the input terminals 21a and 21b. Output terminals 21c connected to the input terminals IN_1 to IN_N of the connecting device 10 are provided. On the other hand, the second switch unit 22 includes an output terminal 22a connected to the input of the pulse detector 40, an output terminal 22b connected to the input terminal 21b of the first switch unit 21 and forming a return path, and a cross-connect device. An input terminal 22c that connects the ten output terminals OUT_1 to OUT_N to any one of the output terminals 22a and 22b is provided.

以下の説明においては、図２（ａ）に示すように、パルスジェネレータ３０をクロスコネクト装置１０の入力端子IN＿１〜IN＿Ｎに接続し、クロスコネクト装置１０の出力端子OUT＿１〜OUT＿Ｎをパルスディテクタ４０に接続する接続態様を「１接続」と称し、図２（ｂ）に示すように、クロスコネクト装置１０の出力端子OUT１〜OUT＿Ｎを入力端子IN１〜IN＿Ｎに折り返し接続する接続態様を「２接続」と称する。 In the following description, the pulse generator 30 is connected to the input terminals IN_1 to IN_N of the cross-connect device 10 and the output terminals OUT_1 to OUT_N of the cross-connect device 10 are connected to the pulse detector 40 as shown in FIG. The connection mode to be connected is referred to as “1 connection”, and the connection mode in which the output terminals OUT1 to OUT_N of the cross-connect device 10 are connected back to the input terminals IN1 to IN_N as illustrated in FIG. 2B is referred to as “2 connection”. .

図１に戻り、制御装置３は、各回路の動作を制御するものであり、クロスコネクト装置１０、スイッチ試験機２及びパルスディテクタ４０に対して、クロスコネクト制御信号５２、スイッチ制御信号３３及びエラーリセット信号５４を出力するとともに、パルスディテクタ４０からのエラー結果５５に基づいて、ＯＫ表示及びＮＧ表示をする。また、制御装置３は、接続設定テーブル３１を作成し、接続設定テーブル３１に従ってパス試験時のクロスコネクト装置１０のパス構成を設定する。 Returning to FIG. 1, the control device 3 controls the operation of each circuit. For the cross-connect device 10, the switch tester 2, and the pulse detector 40, the cross-connect control signal 52, the switch control signal 33, and the error A reset signal 54 is output, and OK display and NG display are performed based on the error result 55 from the pulse detector 40. Further, the control device 3 creates a connection setting table 31 and sets the path configuration of the cross-connect device 10 at the time of the path test according to the connection setting table 31.

接続設定テーブル３１は、クロスコネクト装置１０の入出力端子IN＿１〜IN＿Ｎ、OUT＿１〜OUT＿Ｎの接続設定を規定するものであり、図３（ａ）に示すデータ構成を有する。同図において、「ｍ」及び「ｎ」は、各々、接続の順序を示す番号（以下、「接続番号」という）、及び試験対象のチャネル番号を示す番号（以下、「試験番号」という）であり、各セルの値（Ａ（０，１）、Ａ（１，１）・・・）は、入出力端子IN＿１〜IN＿Ｎ、OUT＿１〜OUT＿Ｎのチャネル番号である。例えば、図３（ｂ）に示すように、試験番号ｎ＝１の行に、「１」、「２」、「３」及び「４」を設定している場合には、入力端子IN＿１を出力端子OUT＿２に接続するパスと、入力端子IN＿２を出力端子OUT＿３に接続するパスと、入力端子IN＿３を出力端子OUT＿４に接続するパスとを順次構成すべきことを示す。 The connection setting table 31 defines connection settings for the input / output terminals IN_1 to IN_N and OUT_1 to OUT_N of the cross-connect device 10, and has a data configuration shown in FIG. In the figure, “m” and “n” are a number indicating the order of connection (hereinafter referred to as “connection number”) and a number indicating the channel number to be tested (hereinafter referred to as “test number”). Yes, the value (A (0,1), A (1,1)...) Of each cell is the channel number of the input / output terminals IN_1 to IN_N and OUT_1 to OUT_N. For example, as shown in FIG. 3B, when “1”, “2”, “3” and “4” are set in the row of the test number n = 1, the input terminal IN_1 is output. This indicates that a path connecting the terminal OUT_2, a path connecting the input terminal IN_2 to the output terminal OUT_3, and a path connecting the input terminal IN_3 to the output terminal OUT_4 should be configured sequentially.

また、図３（ａ）において、「ヘアピン」の列（Ｂ（１）、Ｂ（２）・・・）は、折り返し接続のチャネル番号を示し、例えば、図３（ｂ）に示すように、「１」を設定している場合には、入力端子IN＿１を出力端子OUT＿１に折り返し接続すべきことを示す。 In FIG. 3A, the “hairpin” column (B (1), B (2)...) Indicates the channel number of the loopback connection. For example, as shown in FIG. When “1” is set, it indicates that the input terminal IN_1 should be connected back to the output terminal OUT_1.

次に、図１のクロスコネクトパス試験システム１を用いたパス試験方法について、図１〜図１１を参照して説明する。尚、下記に示すパス試験方法は、クロスコネクト装置１０のチャネル数Ｎが２の累乗である場合に好適なパス試験方法であり、以下の説明においては、チャネル数Ｎが４である場合を例にとって説明する。 Next, a path test method using the cross-connect path test system 1 of FIG. 1 will be described with reference to FIGS. The path test method shown below is a suitable path test method when the number of channels N of the cross-connect device 10 is a power of 2. In the following description, the case where the number of channels N is 4 is an example. I will explain to you.

パス試験に際しては、図４に示すように、まず、接続設定テーブル３１（図３参照）を作成し（ステップＳ１）、その後、接続設定テーブル３１に従ってクロスコネクト装置１０のパスを構成して導通状態を確認する（ステップＳ２）。尚、接続設定テーブル３１の作成は、１回目のパス試験時にのみ行われ、２回目以降のパス試験では、１回目のパス試験時に作成した接続設定テーブル３１を用いて試験を行う。 In the path test, as shown in FIG. 4, first, the connection setting table 31 (see FIG. 3) is created (step S1), and then the path of the cross-connect device 10 is configured according to the connection setting table 31 to be in a conductive state. Is confirmed (step S2). The connection setting table 31 is created only during the first pass test, and the second and subsequent pass tests are performed using the connection setting table 31 created during the first pass test.

接続設定テーブル３１の作成にあたっては、図５に示すように、試験番号ｎを「１」に設定するとともに（ステップＳ１−１（ｉ））、接続番号ｍを「０」に設定する（ステップＳ１−２）。次いで、変数ａ（０，ｎ）の値と、接続設定テーブル３１の設定値Ａ（０、ｎ）の値とに、試験番号ｎの値を代入する（ステップＳ１−３、Ｓ１−４）。ここでは、ｎの値が１であるため、変数ａ（０，１）＝設定値Ａ（０，１）＝１となり、図６の３１ａに示すように、接続設定テーブル３１のＡ（０，１）に「１」が設定される。尚、変数ａ（ｍ、ｎ）は、後述する設定値Ａ（ｍ，ｎ）の算出に用いる変数である。 In creating the connection setting table 31, as shown in FIG. 5, the test number n is set to “1” (step S1-1 (i)), and the connection number m is set to “0” (step S1). -2). Next, the value of test number n is substituted into the value of variable a (0, n) and the value of setting value A (0, n) in connection setting table 31 (steps S1-3, S1-4). Here, since the value of n is 1, the variable a (0,1) = the set value A (0,1) = 1, and as shown by 31a in FIG. 1) is set to “1”. The variable a (m, n) is a variable used for calculating a set value A (m, n) described later.

次いで、接続番号ｍの値を１とし（ステップＳ１−５（ｉ））、変数ａ（ｍ−１，ｎ）＋ｍの値を変数ａ（ｍ、ｎ）の値に代入する（ステップＳ１−６）。接続番号ｍ＝１、試験番号ｎ＝１であるため、「変数ａ（０，１）の値＋１」が変数ａ（１，１）の値に代入され、変数ａ（０，１）＝１に１を加算した値「２」が、変数ａ（１，１）の値とされる。 Next, the value of the connection number m is set to 1 (step S1-5 (i)), and the value of the variable a (m-1, n) + m is substituted for the value of the variable a (m, n) (step S1-6). ). Since connection number m = 1 and test number n = 1, “value of variable a (0, 1) +1” is substituted into the value of variable a (1, 1), and variable a (0, 1) = 1. A value “2” obtained by adding 1 to is used as the value of the variable a (1, 1).

次に、変数ａ（ｍ，ｎ）の値がチャネル数Ｎ以下であるか否かを判定する（ステップＳ１−７）。上記のとおり、変数ａ（１，１）の値は２であり、チャネル数Ｎ＝４より小さいため、ステップＳ１−８に移行し、変数ａ（ｍ，ｎ）の値を設定値Ａ（ｍ，ｎ）の値に代入する。その結果、変数ａ（１，１）＝設定値Ａ（１，１）＝２となり、図６の３１ｂに示すように、接続設定テーブル３１のＡ（１，１）に「２」が設定される。 Next, it is determined whether or not the value of the variable a (m, n) is equal to or less than the number of channels N (step S1-7). As described above, since the value of the variable a (1, 1) is 2 and is smaller than the number of channels N = 4, the process proceeds to step S1-8, and the value of the variable a (m, n) is changed to the set value A (m , N). As a result, variable a (1,1) = set value A (1,1) = 2, and “2” is set in A (1,1) of the connection setting table 31 as shown by 31b in FIG. The

その後、接続番号ｍをインクリメントしながら、ｍ＝Ｎ−１（Ｎ＝４）となるまで、ステップＳ１−６〜Ｓ１−８の処理を繰り返し、上記と同様にして、接続設定テーブル３１のＡ（２，１）、Ａ（３，１）を設定する（ステップＳ１−５（ｉ）〜Ｓ１−５（ｏ））。尚、接続番号ｍ＝３のときは、ステップＳ１−６の変数ａ（ｍ−１，ｎ）＋ｍの値が７となり、チャネル数Ｎより大きくなるため（ステップＳ１−７：Ｎｏ）、ステップＳ１−９において、変数ａ（３，１）＝７から信号数Ｎ＝４を減算し、変数ａ（３，１）の値を３に置き換える。そのため、接続設定テーブル３１のＡ（３，１）には、図６の３１ｃに示すように「３」が設定される。 Thereafter, while incrementing the connection number m, the processes of steps S1-6 to S1-8 are repeated until m = N-1 (N = 4), and in the same manner as described above, A ( 2, 1) and A (3, 1) are set (steps S1-5 (i) to S1-5 (o)). When the connection number m = 3, the value of the variable a (m-1, n) + m in step S1-6 is 7, which is larger than the number of channels N (step S1-7: No), so step S1 At -9, the number of signals N = 4 is subtracted from the variable a (3, 1) = 7, and the value of the variable a (3, 1) is replaced with 3. Therefore, “3” is set in A (3, 1) of the connection setting table 31 as indicated by 31c in FIG.

接続設定テーブル３１のＡ（０，１）〜Ａ（３，１）の設定が終了すると、試験番号ｎの値を、設定値Ａ（Ｎ，ｎ）及び設定値Ｂ（Ｎ）の値に各々代入する（ステップＳ１−１０、Ｓ１−１１）。試験番号ｎ＝１であるため、図６の３１ｄ、３１ｅに示すように、接続設定テーブル３１のＡ（４，１）及びＢ（１）の各々に「１」が設定される。 When the setting of A (0,1) to A (3,1) in the connection setting table 31 is completed, the value of the test number n is changed to the setting value A (N, n) and the setting value B (N), respectively. Substitute (Steps S1-10, S1-11). Since the test number n = 1, “1” is set in each of A (4, 1) and B (1) of the connection setting table 31 as indicated by 31d and 31e in FIG.

次いで、試験番号ｎの値をインクリメントしながら、ｎ＝Ｎとなるまで、ステップＳ１−２〜Ｓ１−１１の処理を繰り返し（ステップＳ１−１（ｉ）〜Ｓ１−１（ｏ））、上記と同様にして、接続設定テーブル３１のｎ＝２の行の設定値（Ａ（０，２）〜Ｂ（２））、ｎ＝３の行の設定値（Ａ（０，３）〜Ｂ（３））、及び、ｎ＝４の行の設定値（Ａ（０、４）〜Ｂ（４））を順次設定する（図６参照）。 Subsequently, while incrementing the value of the test number n, the processing of steps S1-2 to S1-11 is repeated until n = N (steps S1-1 (i) to S1-1 (o)). Similarly, the setting values (A (0,2) to B (2)) for the row n = 2 and the setting values (A (0,3) to B (3) for the row n = 3 in the connection setting table 31. )) And the set values (A (0, 4) to B (4)) of n = 4 rows are sequentially set (see FIG. 6).

以上のようにして、設定値が設定された接続設定テーブル３１では、図６の太枠で囲ったように、始点と終点が同じチャネル番号となり、それ以外はチャネル番号が重複しないタンデム設定となる。こうして、接続設定テーブル３１の作成が終了すると、次に、作成した接続設定テーブル３１に基づいてパスを構成して導通確認を行う。 In the connection setting table 31 in which the setting values are set as described above, the start point and the end point are the same channel number as shown in the thick frame in FIG. . When the creation of the connection setting table 31 is completed in this way, a path is configured based on the created connection setting table 31 and continuity is confirmed.

導通確認処理に際しては、図７に示すように、まず、試験番号ｎ＝１及び接続番号ｍ＝１として（ステップＳ２−１（ｉ）、Ｓ２−２（ｉ））、クロスコネクト装置１０のパス構成を、接続設定テーブル３１の設定値Ａ（ｍ−１，ｎ）から設定値Ａ（ｍ，ｎ）に接続するように制御する（ステップＳ２−３）。図６の接続設定テーブル３１では、設定値Ａ（０，１）の値が「１」、設定値Ａ（１，１）の値が「２」であるため、図８（ａ）に示すように、入力端子IN＿１を出力端子OUT＿２に繋ぐパス１０ａが構成される。 In the continuity check process, as shown in FIG. 7, first, the test number n = 1 and the connection number m = 1 (steps S2-1 (i) and S2-2 (i)), and the path of the cross-connect device 10 is set. The configuration is controlled so as to connect from the setting value A (m-1, n) of the connection setting table 31 to the setting value A (m, n) (step S2-3). In the connection setting table 31 of FIG. 6, since the value of the setting value A (0, 1) is “1” and the value of the setting value A (1, 1) is “2”, as shown in FIG. In addition, a path 10a connecting the input terminal IN_1 to the output terminal OUT_2 is configured.

その後、接続番号ｍの値をインクリメントしながら、接続番号ｍ＝Ｎ（Ｎ＝４）となるまで、ステップＳ２−３の処理を繰り返し、他の入出力端子に関するパスを構成する（ステップＳ２−２（ｉ）〜Ｓ２−２（ｏ））。図６の接続設定テーブル３１では、設定値Ａ（２，１）、Ａ（３，１）及びＡ（４，１）の値が「４」、「３」、「１」であるため、図８（ａ）に示すように、入力端子IN＿２を出力端子OUT＿４に繋ぐパス１０ｂ、入力端子IN＿４を出力端子OUT＿３に繋ぐパス１０ｃ、入力端子IN＿３を出力端子OUT＿１に繋ぐパス１０ｄが構成される。 Thereafter, while incrementing the value of the connection number m, the process of step S2-3 is repeated until the connection number m = N (N = 4), and paths related to other input / output terminals are configured (step S2-2). (I) to S2-2 (o)). In the connection setting table 31 of FIG. 6, the values of the setting values A (2, 1), A (3, 1) and A (4, 1) are “4”, “3”, “1”. As illustrated in FIG. 8A, a path 10b connecting the input terminal IN_2 to the output terminal OUT_4, a path 10c connecting the input terminal IN_4 to the output terminal OUT_3, and a path 10d connecting the input terminal IN_3 to the output terminal OUT_1 are configured.

次いで、スイッチ試験機２の切り替え構成を制御し、スイッチ２＿ｎを「１接続」とし、それ以外のスイッチを「２接続」とする（ステップＳ２−４）。試験番号ｎ＝１であるため、図８（ａ）に示すように、スイッチ２＿１が、「１接続」とされ、パルスジェネレータ３０の出力をクロスコネクト装置１０の入力端子IN＿１に接続し、出力端子OUT＿１をパルスディテクタ４０に接続するスイッチ設定とされる。その一方で、スイッチ２＿２〜２＿Ｎは、「２接続」とされ、クロスコネクト装置１０の出力端子OUT＿２〜OUT＿Ｎからの入力を折り返して、同一のチャネル番号の入力端子IN＿２〜IN＿Ｎに出力するスイッチ設定とされる。 Next, the switching configuration of the switch testing machine 2 is controlled, the switch 2_n is set to “1 connection”, and the other switches are set to “2 connection” (step S2-4). Since test number n = 1, as shown in FIG. 8A, the switch 2_1 is set to “1 connection”, the output of the pulse generator 30 is connected to the input terminal IN_1 of the cross-connect device 10, and the output terminal The switch setting for connecting OUT_1 to the pulse detector 40 is set. On the other hand, the switches 2_2 to 2_N are “2 connected”, and the switch settings are made so that the inputs from the output terminals OUT_2 to OUT_N of the cross-connect device 10 are folded and output to the input terminals IN_2 to IN_N having the same channel number. Is done.

以上のようなパス設定及びスイッチ設定により、図８（ａ）に示すように、クロスコネクト装置１０の入力端子IN＿１及び出力端子OUT＿１をパルスジェネレータ３０及びパルスディテクタ４０に各々接続するとともに、他の入出力端子IN＿２〜IN＿４、OUT＿２〜OUT＿４を経由しながら、入力端子IN＿１から出力端子OUT＿１までを繋ぐルートが形成される。また、入出力端子IN＿２〜IN＿４、OUT＿２〜OUT＿４を繋ぐルートにおいては、チャネル番号順で入出力端子を接続するパス１０ａ、１０ｃの他、チャネル番号を跨いで入出力端子を繋ぐパス１０ｂ、１０ｄも形成される。 By the path setting and the switch setting as described above, the input terminal IN_1 and the output terminal OUT_1 of the cross-connect device 10 are connected to the pulse generator 30 and the pulse detector 40, respectively, as shown in FIG. A route connecting the input terminal IN_1 to the output terminal OUT_1 is formed through the output terminals IN_2 to IN_4 and OUT_2 to OUT_4. In the route connecting the input / output terminals IN_2 to IN_4 and OUT_2 to OUT_4, there are paths 10b and 10d that connect the input / output terminals across the channel numbers in addition to the paths 10a and 10c that connect the input / output terminals in the order of the channel numbers. It is formed.

次いで、パルスディテクタ４０をエラーリセット制御した後に（ステップＳ２−５）、パルスジェネレータ３０からパルス信号６０を出力し、形成したルートの導通状態をパルスディテクタ４０で確認する。一定の測定時間を待った後に、パルスディテクタ４０のエラー結果５５を制御装置３に取り込み（ステップＳ２−６）、導通していない場合には（ステップＳ２−７：Ｎｏ）、ＮＧ表示をしてパス試験を中断する（ステップＳ２−８）。 Next, after performing error reset control of the pulse detector 40 (step S2-5), the pulse signal 60 is output from the pulse generator 30, and the conduction state of the formed route is confirmed by the pulse detector 40. After waiting for a certain measurement time, the error result 55 of the pulse detector 40 is taken into the control device 3 (step S2-6). If it is not conductive (step S2-7: No), an NG display is displayed and a pass is made. The test is interrupted (step S2-8).

これに対し、導通している場合には（ステップＳ２−７：Ｙｅｓ）、パス試験を継続し、今度は、接続設定テーブル３１のヘアピン設定値Ｂ（ｎ）に基づいてクロスコネクト装置１０のパス設定を行う（ステップＳ２−９）。図６の接続設定テーブル３１では、設定値Ｂ（１）の値が「１」であるため、図８（ｂ）に示すように、クロスコネクト装置１０の入力端子IN＿１を出力端子OUT＿１に折り返すパス１０ｅが構成される。 On the other hand, when it is conducting (step S2-7: Yes), the path test is continued, and this time the path of the cross-connect device 10 is based on the hairpin setting value B (n) of the connection setting table 31. Setting is performed (step S2-9). In the connection setting table 31 of FIG. 6, since the value of the setting value B (1) is “1”, as shown in FIG. 8B, the path for turning the input terminal IN_1 of the cross-connect device 10 back to the output terminal OUT_1. 10e is configured.

次いで、上記のステップＳ２−５〜Ｓ２−７と同様にして、図８（ｂ）のルートの導通状態を確認する（ステップＳ２−１０〜Ｓ２−１２）。その結果、導通していない場合には（ステップＳ２−１２：Ｎｏ）、ＮＧ表示をしてパス試験を中断し（ステップＳ２−８）、導通している場合には（ステップＳ２−１２：Ｙｅｓ）、パス試験を継続する。 Next, in the same manner as steps S2-5 to S2-7, the conduction state of the route in FIG. 8B is confirmed (steps S2-10 to S2-12). As a result, when it is not conductive (step S2-12: No), the NG display is displayed and the pass test is interrupted (step S2-8), and when it is conductive (step S2-12: Yes). ) Continue the pass test.

その後、試験番号ｎの値をインクリメントしながら、試験番号ｎ＝Ｎ（Ｎ＝４）となるまで、上記のステップＳ２−２（ｉ）〜Ｓ２−１２までの処理を繰り返し、順次、図９（ａ）、（ｂ）、図１０（ａ）、（ｂ）及び図１１（ａ）、（ｂ）のルートを形成して、導通確認を行う（ステップＳ２−１（ｉ）〜Ｓ２−１（ｏ））。そして、何れのルートにおいても、導通している場合には、ＯＫ表示をして処理を終了する（ステップＳ２−１３）。このような導通確認により、４×４＝１６通りの全てのクロスコネクトパスの導通を漏れなく確認することができる。 Thereafter, while incrementing the value of the test number n, the above steps S2-2 (i) to S2-12 are repeated until the test number n = N (N = 4). a), (b), FIG. 10 (a), (b) and the route of FIG. 11 (a), (b) are formed, and continuity confirmation is performed (steps S2-1 (i) to S2-1 ( o)). If any route is connected, OK is displayed and the process is terminated (step S2-13). With such continuity confirmation, continuity of all 4 × 4 = 16 cross-connect paths can be confirmed without omission.

以上のパス試験によれば、Ａ（ｍ，ｎ）の接続及びＢ（ｎ）の接続からなる２つのパス設定をチャネル数Ｎの数だけ繰り返すのみで、Ｎ×Ｎ通りの全てのパスの導通確認を行うことができる。すなわち、２×Ｎ回の接続変更回数でクロスコネクト装置１０のパス試験を行うことでき、パス試験に要する作業工数や作業時間を大幅に短縮することが可能となる。従って、クロスコネクト装置１０が多数のチャネル数を有する場合でも、短い作業時間と少ない作業工数でパス状態を試験することが可能となる。 According to the above path test, the continuity of all N × N paths can be established only by repeating the two path settings including the connection of A (m, n) and the connection of B (n) by the number N of channels. Confirmation can be made. That is, the path test of the cross-connect device 10 can be performed with the number of connection changes of 2 × N times, and the work man-hours and work time required for the path test can be greatly reduced. Therefore, even when the cross-connect device 10 has a large number of channels, it is possible to test the path state with a short work time and a small work man-hour.

尚、上述の説明では、チャネル数Ｎ＝４の場合を例に挙げたが、Ｎが２の累乗であれば、Ｎ＝４以外の場合にも、上記と同様にして、パスの設定及び導通確認を行うことができる。例えば、Ｎ＝１６とした場合には、接続設定テーブル３１は、図１２に示す設定状態となり、この図１２の接続設定テーブル３１でも、始点及び終点を同じチャネル番号の入出力端子で接続し、それ以外では、チャネル番号が重複しないタンデム設定の条件を満たす。よって、Ｎ＝４の場合と同様に、少ない接続変更回数で、全てのクロスコネクトパスの導通を漏れなく確認することができる。 In the above description, the case where the number of channels N = 4 has been described as an example. However, if N is a power of 2, the setting and conduction of the path are performed in the same manner as described above even when N = 4. Confirmation can be made. For example, when N = 16, the connection setting table 31 is in the setting state shown in FIG. 12. In the connection setting table 31 of FIG. 12, the start point and the end point are connected by the input / output terminals having the same channel number. In other cases, the condition of tandem setting in which channel numbers do not overlap is satisfied. Therefore, as in the case of N = 4, the continuity of all cross-connect paths can be confirmed without omission with a small number of connection changes.

図１３〜図１５は、本発明にかかるクロスコネクトパス試験システム１で用いるパス試験方法の他の例を示すフローチャートである。同図に示すパス試験方法は、クロスコネクト装置１０のチャネル数Ｎが２の累乗の場合に限らず、チャネル数Ｎが２の累乗以外の場合にも好適なパス試験方法である。このパス試験方法においても、クロスコネクトパス試験システムのハード的な構成に関しては、接続設定テーブルの設定値が異なる点を除き、図１のクロスコネクトパス試験システム１と同一である。 FIGS. 13 to 15 are flowcharts showing other examples of the path test method used in the cross-connect path test system 1 according to the present invention. The path test method shown in the figure is not limited to the case where the number of channels N of the cross-connect device 10 is a power of 2, but is also a suitable path test method when the number of channels N is other than a power of 2. Also in this path test method, the hardware configuration of the cross-connect path test system is the same as that of the cross-connect path test system 1 of FIG. 1 except that the setting values of the connection setting table are different.

図１３に示したフローチャートは、接続設定テーブル３１を作成するための算出アルゴリズムをフローチャート化したものであり、クロスコネクト装置１０の入力数Ｎから２の累乗のＫを算出するステップＳ３１と、試験番号ｎ＝１〜Ｋの間で、ステップＳ３３〜Ｓ４７の処理をＫ回に亘ってループするステップＳ３２（ｉ）〜Ｓ３２（ｏ）と、試験番号ｎとチャネル数Ｎを比較し、Ｎ以下であれば、試験番号ｎをそのまま設定値Ａ（０，ｎ）に代入し、Ｎより大きい場合には、０を設定値Ａ（０，ｎ）に代入するステップＳ３４〜Ｓ３６と、接続番号ｍ＝１〜Ｋ−１の間で、ステップＳ３８〜Ｓ４３の処理をＫ−１回に亘ってループするステップＳ３７（ｉ）〜Ｓ３７（ｏ）と、変数ａ（ｍ−１，ｎ）にｍを加算して変数ａ（ｍ，ｎ）に代入するステップＳ３８と、変数ａ（ｍ，ｎ）とＫを比較して、Ｋより大きい場合には、変数ａ（ｍ，ｎ）−Ｋの結果を変数ａ（ｍ，ｎ）に代入し、Ｋ以下の場合には、ステップＳ４１に移行するステップＳ３９〜Ｓ４０と、変数ａ（ｍ，ｎ）とＮを比較して、Ｎ以下の場合には、変数ａ（ｍ，ｎ）を設定値Ａ（ｍ，ｎ）に代入し、Ｎより大きい場合には、設定値Ａ（ｍ−１，ｎ）を設定値Ａ（ｍ，ｎ）に代入するステップＳ４１〜Ｓ４３と、試験番号ｎとチャネル数Ｎを比較して、Ｎ以下の場合には、試験番号ｎを設定値Ａ（Ｋ，ｎ）に代入し、Ｎより大きい場合には、設定値Ａ（Ｋ−１，ｎ）を設定値Ａ（Ｋ，ｎ）に代入するステップＳ４４〜Ｓ４６と、ヘアピン設定のため、試験番号ｎを設定値Ｂ（ｎ）に代入するステップＳ４７とを有する。 The flowchart shown in FIG. 13 is a flowchart of a calculation algorithm for creating the connection setting table 31. Step S31 for calculating a power of 2 from the number N of inputs of the cross-connect device 10, and a test number Steps S32 (i) to S32 (o) for looping the process of steps S33 to S47 between n = 1 to K, and the test number n and the number of channels N are compared. For example, the test number n is directly substituted for the set value A (0, n), and if it is greater than N, steps S34 to S36 for substituting 0 for the set value A (0, n), and the connection number m = 1. In step S37 (i) to S37 (o) that loops the process in steps S38 to S43 K-1 times between m and K-1, and m is added to the variable a (m-1, n). Instead of variable a (m, n) In step S38, the variable a (m, n) and K are compared. If the value is greater than K, the result of the variable a (m, n) -K is substituted into the variable a (m, n). In the following cases, Steps S39 to S40 that proceed to Step S41 are compared with the variable a (m, n) and N. If N or less, the variable a (m, n) is set to the set value A ( m, n) and if greater than N, steps S41 to S43 for substituting the set value A (m-1, n) for the set value A (m, n), the test number n and the number of channels N If N or less, the test number n is substituted for the set value A (K, n), and if it is greater than N, the set value A (K-1, n) is set to the set value A ( K, n) and steps S44 to S46, and a step S47 for substituting the test number n into the set value B (n) for hairpin setting. That.

また、図１４及び図１５に示したフローチャートは、設定した接続設定テーブル３１に従ってクロスコネクト装置１０のパスを構成して導通状態を確認するためのものであり、試験番号ｎ＝１〜Ｋの間で、ステップＳ５２〜Ｓ６５の処理をＫ回に亘ってループするステップＳ５１（ｉ）〜Ｓ５１（ｏ）と、０を変数Ｍに代入するステップＳ５２と、接続番号ｍ＝１〜Ｋの間で、ステップＳ５４〜Ｓ６０の処理をＫ回に亘ってループするステップＳ５３（ｉ）〜Ｓ５３（ｏ）と、設定値Ａ（ｍ，ｎ）と設定値Ａ（ｍ−１，ｎ）を比較して、等しい場合には、ステップＳ５５に移行し、異なる場合には、ステップＳ５７に移行するステップＳ５４と、接続番号ｍと変数Ｋを比較して、等しい場合には、変数Ｍを設定値Ａ（Ｋ，ｎ）に代入し、異なる場合には、ステップＳ５３（ｏ）に移行するステップＳ５５〜Ｓ５６と、ステップＳ５４で設定値Ａ（ｍ，ｎ）と設定値Ａ（ｍ−１，ｎ）が異なる場合に、さらに変数Ｍと０を比較して、変数Ｍが０より大きいときには、ステップＳ６０に移行し、それ以外のときには、設定値Ａ（ｍ−１，ｎ）を変数Ｍに代入するステップＳ５７〜Ｓ５８と、変数ａ（ｍ−１，ｎ）と０を比較して、０より大きい場合には、ステップＳ６０に移行し、それ以外のときには、ステップＳ５３（ｏ）に移行するステップＳ５９と、クロスコネクト装置１０において接続元Ａ（ｍ−１，ｎ）から接続先Ａ（ｍ，ｎ）に接続するクロスコネクト設定を制御するステップＳ６０と、スイッチ試験機２のスイッチ２＿Ｍのみ「１接続」を選択し、それ以外のスイッチで「２接続」を選択制御するステップＳ６１と、パルスディテクタ４０をエラーリセット制御するステップＳ６２と、パルスディテクタ４０からエラー結果５５を収集するステップＳ６３と、導通している場合には、ステップＳ５１（ｏ）に移行し、導通不良の場合には、ＮＧ表示をするステップＳ６４〜Ｓ６５と、ステップＳ５１（ｉ）〜Ｓ５１（ｏ）のループを抜けた後に、試験番号ｎ＝１〜Ｎの間で、ステップＳ６７〜Ｓ７２の処理をＮ回に亘ってループするステップＳ６６（ｉ）〜Ｓ６６（ｏ）と、クロスコネクト装置１０において接続元Ｂ（ｎ）から接続先Ｂ（ｎ）に折り返し接続するクロスコネクト設定を制御するステップＳ６７と、スイッチ試験機２のスイッチ２＿ｎのみ「１接続」を選択し、それ以外のスイッチで「２接続」を選択制御するステップＳ６８と、パルスディテクタ４０をエラーリセット制御するステップＳ６９と、パルスディテクタ４０からエラー結果５５を収集するステップＳ７０と、導通している場合には、ステップＳ６６（ｏ）に移行し、導通不良の場合には、ＮＧ表示をするステップＳ７１〜Ｓ７２と、全てのパスで導通状態を確認したらＯＫ表示をするステップＳ７３とを有する。 14 and 15 are for configuring the path of the cross-connect device 10 according to the set connection setting table 31 and confirming the continuity state, and between the test numbers n = 1 to K. Thus, between steps S51 (i) to S51 (o) for looping the processing of steps S52 to S65 K times, step S52 for substituting 0 into the variable M, and connection numbers m = 1 to K. Steps S53 (i) to S53 (o) that loop the process of steps S54 to S60 over K times are compared with the set value A (m, n) and the set value A (m-1, n). If they are equal, the process proceeds to step S55. If they are different, step S54 proceeds to step S57, and the connection number m is compared with the variable K. If they are equal, the variable M is set to the set value A (K, n) and assign In this case, if the set value A (m, n) and the set value A (m-1, n) are different in steps S55 to S56 and the step S54, the variable M and 0 are further changed. If the variable M is greater than 0, the process proceeds to step S60. Otherwise, the process proceeds to steps S57 to S58 in which the set value A (m-1, n) is substituted for the variable M, and the variable a (m −1, n) and 0 are compared, and if greater than 0, the process proceeds to step S60; otherwise, step S59 proceeds to step S53 (o) and the connection source A in the cross-connect device 10 In step S60 for controlling the cross-connect setting to connect to the connection destination A (m, n) from (m−1, n), select “1 connection” only for the switch 2_M of the switch testing machine 2, and use the other switches. Step S61 for selecting and controlling “two connections”, step S62 for performing error reset control of the pulse detector 40, step S63 for collecting the error result 55 from the pulse detector 40, and step S51 (o) when conducting. In the case of poor continuity, after passing through the loop of steps S64 to S65 for displaying NG and steps S51 (i) to S51 (o), the test number n = 1 to N Steps S66 (i) to S66 (o) for looping the processing of S67 to S72 N times, and a cross-connect setting for making a return connection from the connection source B (n) to the connection destination B (n) in the cross-connect device 10 Select “1 connection” only for switch 2_n of switch testing machine 2 and “2 connection” with other switches. Step S68 for selection control, Step S69 for error reset control of the pulse detector 40, Step S70 for collecting the error result 55 from the pulse detector 40, and if conducting, the process proceeds to Step S66 (o), In the case of poor continuity, there are steps S71 to S72 for displaying NG, and step S73 for displaying OK when the continuity state is confirmed in all paths.

次に、チャネル数Ｎ＝３の場合を例にとって、上記のパス試験方法を説明する。図１６は、チャネル数Ｎ＝３の場合の接続設定テーブル３１の状態を示す図である。 Next, the above path test method will be described by taking the case where the number of channels N = 3 as an example. FIG. 16 is a diagram showing the state of the connection setting table 31 when the number of channels N = 3.

図１３において、ステップＳ３１で、「２^s-1＜Ｎ（＝３）≦２^s＝Ｋ」の条件式から、２の累乗のＫの値「４」を算出する。試験番号ｎ＝１のステップＳ３２を実行するときは、まず、ステップＳ３３により、試験番号ｎ（＝１）を変数ａ（０，１）に代入し、次に、ステップＳ３４において、試験番号ｎ（＝１）と、チャネル数Ｎ（＝３）とを比較する。このとき、ｎ≦Ｎなので、試験番号ｎ（＝１）を設定値Ａ（０，１）に代入する（図１６の３１ｆ参照）。 In FIG. 13, in step S31, the value “4” of the power of 2 is calculated from the conditional expression “2 ^s−1 <N (= 3) ≦ 2 ^s = K”. When executing step S32 of test number n = 1, first, in step S33, test number n (= 1) is substituted into variable a (0, 1), and then in step S34, test number n ( = 1) and the number of channels N (= 3). At this time, since n ≦ N, the test number n (= 1) is substituted into the set value A (0, 1) (see 31f in FIG. 16).

次に、接続番号ｍ＝１のステップＳ３７のループを実行し、ステップＳ３８において、変数ａ（０，１）＋ｍ（＝１）＝２を変数ａ（１，１）に代入する。次いで、ステップＳ３９において、変数ａ（１，１）が２の累乗のＫ（＝４）を超えていないかを判定し、超えていないので、ステップＳ４１に移行する。次に、ステップＳ４１において、変数ａ（１，１）がチャネル数Ｎ（＝３）を超えていないかを判定し、超えていないので、そのまま、変数ａ（１，１）の値である２を設定値Ａ（１，１）に代入する（図１６の３１ｇ参照）。 Next, the loop of step S37 with the connection number m = 1 is executed. In step S38, the variable a (0, 1) + m (= 1) = 2 is substituted into the variable a (1, 1). Next, in step S39, it is determined whether or not the variable a (1, 1) exceeds K that is a power of 2 (= 4). Since it does not exceed, it proceeds to step S41. Next, in step S41, it is determined whether or not the variable a (1, 1) exceeds the number of channels N (= 3). Since it does not exceed, the value of the variable a (1, 1) is 2 as it is. Is substituted into the set value A (1, 1) (see 31 g in FIG. 16).

次いで、接続番号ｍ＝２のステップＳ３７のループを実行し、ステップＳ３８において、変数ａ（１，１）＋２＝４を変数ａ（２，１）に代入する。次に、ステップＳ３９において、変数ａ（２，１）がＫ（＝４）を超えていないかを判定し、超えていないので、ステップＳ４１に移行する。ステップＳ４１において、変数ａ（２，１）がチャネル数Ｎ（＝３）を超えていないかを判定し、超えているので、ステップＳ４３において、設定値Ａ（１，１）を設定値Ａ（２，１）へ代入する（図１６の３１ｈ参照）。 Next, the loop of step S37 with connection number m = 2 is executed, and variable a (1, 1) + 2 = 4 is substituted into variable a (2, 1) in step S38. Next, in step S39, it is determined whether the variable a (2, 1) does not exceed K (= 4). Since it does not exceed, the process proceeds to step S41. In step S41, it is determined whether or not the variable a (2, 1) exceeds the number of channels N (= 3). Since this is exceeded, in step S43, the set value A (1, 1) is changed to the set value A ( 2, 1) (see 31h in FIG. 16).

次に、接続番号ｍ＝３のステップＳ３７のループを実行し、ステップＳ３８において、変数ａ（２，１）＋３＝７を変数ａ（３，１）に代入する。次いで、ステップＳ３９において、変数ａ（３，１）が２の累乗のＫ（＝４）を超えていないかを判定し、超えているので、ステップＳ４０において、７−４＝３を変数ａ（３，１）に代入する。次に、ステップＳ４１において、変数ａ（３，１）がチャネル数Ｎ（＝３）を超えていないかを判定し、超えていないので、ステップＳ４２において、そのまま、変数ａ（３，１）の値「３」を設定値Ａ（３，１）に代入する（図１６の３１ｉ参照）。 Next, the loop of step S37 with connection number m = 3 is executed, and variable a (2, 1) + 3 = 7 is substituted into variable a (3, 1) in step S38. Next, in step S39, it is determined whether or not the variable a (3, 1) exceeds K to the power of 2 (= 4). Since it exceeds, in step S40, 7-4 = 3 is set to the variable a ( Substitute into 3,1). Next, in step S41, it is determined whether the variable a (3, 1) does not exceed the number of channels N (= 3). Since it does not exceed, the variable a (3, 1) remains unchanged in step S42. The value “3” is substituted into the set value A (3, 1) (see 31i in FIG. 16).

次いで、ステップＳ３７のループを抜け、ステップＳ４４において、試験番号ｎ（＝１）がチャネル数Ｎ（＝３）を超えていないかを判定し、超えていないので、ステップＳ４５において、試験番号ｎ（＝１）を設定値Ａ（４，１）に代入する（図１６の３ｊ参照）。次に、ステップＳ４７において、試験番号ｎ（＝１）を設定値Ｂ（１）に代入する（図１６の３１ｋ参照）。 Next, the loop of step S37 is exited. In step S44, it is determined whether or not the test number n (= 1) exceeds the number of channels N (= 3). = 1) is substituted into the set value A (4, 1) (see 3j in FIG. 16). Next, in step S47, the test number n (= 1) is substituted for the set value B (1) (see 31k in FIG. 16).

その後は、ステップＳ３２（ｉ）〜Ｓ３２（ｏ）のループを、試験番号ｎ＝２，３，４まで繰り返し、Ｋ（＝４）回に亘って実行する。これにより、試験番号ｎ＝２〜４の行についても、図１６に示すように、設定値を設定していく。図１６に示す接続設定テーブル３１では、始点及び終点以外のチャネル番号が重複しないこと、及び、後述の変数Ｍ値を求めることにより、タンデムの始点と終点を同じチャネル番号にすることを満足している。 Thereafter, the loop of steps S32 (i) to S32 (o) is repeated until the test number n = 2, 3, and 4, and is executed K (= 4) times. As a result, as shown in FIG. 16, set values are set for the rows of test numbers n = 2 to 4. In the connection setting table 31 shown in FIG. 16, it is satisfied that the channel numbers other than the start point and the end point are not duplicated, and that the tandem start point and end point are set to the same channel number by obtaining a variable M value described later. Yes.

続いて、図１６の接続設定テーブル３１を用いてクロスコネクト設定し、導通を確認する手順を説明する。図１４において、ステップＳ５１は、試験番号ｎ＝１から１刻みで、ステップＳ５１（ｉ）〜Ｓ５１（ｏ）内の処理を４回に亘って繰り返す。 Next, a procedure for performing cross-connect setting using the connection setting table 31 of FIG. 16 and confirming continuity will be described. In FIG. 14, step S51 repeats the processes in steps S51 (i) to S51 (o) four times at intervals of 1 from test number n = 1.

図１４に示すように、まず、試験番号ｎ＝１のステップＳ５１のループを実行し、ステップＳ５２において、０を変数Ｍに代入する。次に、接続番号ｍ＝１から１刻みで、ステップＳ５３（ｉ）〜Ｓ５３（ｏ）内の処理を４回に亘って繰り返す。 As shown in FIG. 14, first, the loop of step S51 with the test number n = 1 is executed, and 0 is substituted into the variable M in step S52. Next, the processing in steps S53 (i) to S53 (o) is repeated four times at intervals of 1 from the connection number m = 1.

接続番号ｍ＝１のときには、ステップＳ５４において、設定値Ａ（１，１）と設定値Ａ（０，１）を比較し、等しくないので、ステップＳ５７に移行する。次に、ステップＳ５７において、変数Ｍと０を比較し、Ｍ（＝０）＞０が成り立たないので、設定値Ａ（０，１）の値（＝１）を変数Ｍに代入する。その後、ステップＳ５９において、設定値Ａ（０，１）と０を比較し、１＞０なので、ステップＳ６０において、クロスコネクト装置１０に対し、接続元Ａ（０，１）から接続先Ａ（１，１）に接続するクロスコネクト設定を制御する。 When the connection number m = 1, in step S54, the set value A (1, 1) is compared with the set value A (0, 1). Since they are not equal, the process proceeds to step S57. Next, in step S57, the variable M is compared with 0, and M (= 0)> 0 does not hold, so the value (= 1) of the set value A (0, 1) is substituted into the variable M. Thereafter, in step S59, the setting value A (0, 1) is compared with 0, and 1> 0. Therefore, in step S60, the connection source A (0, 1) is connected to the connection destination A (1). , 1) is controlled.

次に、接続番号ｍ＝２のステップＳ５３のループを実行し、ステップＳ５４において、Ａ（２，１）とＡ（１，１）を比較し、等しいので、ステップＳ５５に移行する。次いで、ステップＳ５５において、接続番号ｍ（＝２）とＫ（＝４）を比較し、等しくないため、クロスコネクト装置１０のパス設定を制御することなく、次の接続番号ｍ＝３のステップＳ５３のループに進む。 Next, the loop of step S53 with the connection number m = 2 is executed. In step S54, A (2,1) and A (1,1) are compared and equal to each other, and the process proceeds to step S55. Next, in step S55, the connection numbers m (= 2) and K (= 4) are compared. Since they are not equal, step S53 of the next connection number m = 3 is performed without controlling the path setting of the cross-connect device 10. Go to the loop.

次いで、接続番号ｍ＝３のステップＳ５３のループを実行し、ステップＳ５４において、設定値Ａ（３，１）と設定値Ａ（２，１）を比較し、等しくないので、ステップＳ５７に移行する。次に、ステップＳ５７において、変数Ｍと０を比較し、Ｍ（＝１）＞０であるため、ステップＳ６０において、クロスコネクト装置１０に対し、接続元Ａ（２，１）から接続先Ａ（３，１）に接続するクロスコネクト設定を制御する。 Next, the loop of step S53 with the connection number m = 3 is executed. In step S54, the set value A (3, 1) is compared with the set value A (2, 1). Since they are not equal, the process proceeds to step S57. . Next, in step S57, the variable M is compared with 0, and M (= 1)> 0. Therefore, in step S60, the connection source A (2, 1) to the connection destination A ( 3. Controls the cross-connect setting connected to 1).

次いで、接続番号ｍ＝４のステップＳ５３のループを実行し、ステップＳ５４において、設定値Ａ（４，１）と設定値Ａ（３，１）を比較し、等しくないので、ステップＳ５７に移行する。次に、ステップＳ５７において、変数Ｍと０を比較し、変数Ｍ（＝１）＞０であるため、ステップＳ６０において、クロスコネクト装置１０に対し、接続元Ａ（３，１）から接続先Ａ（４，１）に接続するクロスコネクト設定を制御する。 Next, the loop of step S53 with the connection number m = 4 is executed. In step S54, the set value A (4, 1) is compared with the set value A (3, 1). . Next, in step S57, the variable M is compared with 0, and since the variable M (= 1)> 0, the connection source A (3, 1) is connected to the connection destination A in step S60. Controls the cross-connect setting connected to (4, 1).

以上のような処理により、クロスコネクト装置１０に対し、１→２、２→３、３→１のクロスコネクト設定を制御する。 Through the processing as described above, the cross-connect settings of 1 → 2, 2 → 3, 3 → 1 are controlled for the cross-connect device 10.

次に、ステップＳ５３のループを抜け、ステップＳ６１において、スイッチ試験機２のスイッチ２＿Ｍのみ「接続１」を選択し、それ以外のスイッチで「２接続」を選択制御し、ステップＳ６２において、パルスディテクタ４０をエラーリセット制御し、ステップＳ６３において、パルスディテクタ４０からエラー結果５５を収集し、導通している場合には、次のループに移行し、導通不良の場合には、ＮＧ表示をして処理を中断する。その後は、ステップＳ５１（ｉ）〜Ｓ５１（ｏ）のループをｎ＝２，３，４まで繰り返し、Ｋ（＝４）回に亘って実行する。 Next, the loop of step S53 is exited. In step S61, only the switch 2_M of the switch testing machine 2 selects “connection 1”, and other switches select and control “2 connection”. In step S62, the pulse detector is selected. In step S63, the error result 55 is collected from the pulse detector 40, and if it is conductive, the process proceeds to the next loop. Interrupt. Thereafter, the loop of steps S51 (i) to S51 (o) is repeated until n = 2, 3, and 4, and is executed K (= 4) times.

次いで、図１５に示すように、試験番号＝１から１刻みで、ステップＳ６６（ｉ）〜Ｓ６６（ｏ）内の処理を３回に亘って繰り返す。 Next, as shown in FIG. 15, the processes in steps S66 (i) to S66 (o) are repeated three times from the test number = 1 in increments of 1.

まず、試験番号ｎ＝１のステップＳ６６のループを実行し、ステップＳ６７において、クロスコネクト装置１０に対し、接続元Ｂ（１）から接続先Ｂ（１）に折り返し接続するようにクロスコネクト設定を制御する。次いで、ステップＳ６８において、スイッチ試験機２のスイッチ２−１のみ「１接続」を選択する。その後、ステップＳ６９において、パルスディテクタ４０をエラーリセット制御し、一定の測定時間を待って、ステップＳ７０において、パルスディテクタ４０のエラー結果５５を制御装置３に取り込む。次に、ステップＳ７１において、導通している場合には、ステップＳ６６の次のループに移行し、導通不良の場合には、ＮＧ表示をして処理を中断する。 First, the loop of step S66 with test number n = 1 is executed, and in step S67, the cross-connect setting is performed so that the cross-connect device 10 is connected back from the connection source B (1) to the connection destination B (1). Control. Next, in step S <b> 68, “1 connection” is selected only for the switch 2-1 of the switch testing machine 2. After that, in step S69, the pulse detector 40 is subjected to error reset control, and after waiting for a certain measurement time, the error result 55 of the pulse detector 40 is taken into the control device 3 in step S70. Next, in step S71, when it is conducting, the process proceeds to the next loop of step S66, and in the case of poor conduction, NG is displayed and the process is interrupted.

その後は、試験番号Ｎ＝２、３、４まで、ステップＳ６６（ｉ）〜Ｓ６６（ｏ）のループを３回に亘って実行し、全てのパスの導通を確認したら、ステップＳ７３において、ＯＫ表示をして処理を終了する。 Thereafter, the loop of steps S66 (i) to S66 (o) is executed three times up to test numbers N = 2, 3, and 4, and if all the paths are confirmed to be conductive, OK is displayed in step S73. To finish the process.

以上のように、接続設定テーブル３１に従ってクロスコネクト装置１０のパス構成を設定するに際し、２の累乗であるＮのタンデムルートを設定した接続設定テーブル３１から、入出力端子が無い不要な組み合わせをスキップしつつ、始点及び終点を同じチャネル番号の入出力端子で接続することにより、全てのルートについて漏れなく、導通状態を確認することが可能となる。 As described above, when setting the path configuration of the cross-connect device 10 according to the connection setting table 31, an unnecessary combination having no input / output terminal is skipped from the connection setting table 31 in which N tandem routes that are powers of 2 are set. However, by connecting the start point and the end point with the input / output terminals having the same channel number, it is possible to check the conduction state without omission for all routes.

尚、上述の説明では、チャネル数Ｎ＝３の場合を例に挙げたが、Ｎ＝３以外の場合にも、上記と同様にして、パスの設定及び導通確認を行うことができる。例えば、Ｎ＝６とした場合には、接続設定テーブル３１は、図１７に示す設定状態となり、この図１７の接続設定テーブル３１でも、図１６の接続設定テーブル３１と同様の条件を満たす。 In the above description, the case where the number of channels N = 3 has been described as an example. However, in cases other than N = 3, path setting and conduction confirmation can be performed in the same manner as described above. For example, when N = 6, the connection setting table 31 is in the setting state shown in FIG. 17, and the connection setting table 31 in FIG. 17 satisfies the same conditions as the connection setting table 31 in FIG.

最後に、ＳＤＨ伝送装置で使用するＮ＝７６８のクロスコネクト装置を試験対象とし、図１３〜図１６に示すパス試験方法と、図１９及び図２０に示す従来のパス試験方法との導通確認時間の比較結果を図１８に示す。 Finally, N = 768 cross-connect devices used in the SDH transmission device are tested, and the continuity confirmation time between the path test method shown in FIGS. 13 to 16 and the conventional path test method shown in FIGS. The comparison result is shown in FIG.

図１８に示すように、従来のパス試験方法では、パス試験を行うのにＮ²回の接続変更が必要であるのに対し、図１３〜図１６に示すパス試験方法では、２×Ｎ回の接続変更回数でパス試験を行うことができる。このため、１回の測定に１秒間の時間を要するとした場合、従来のパス試験方法では、測定時間が５８９，８２４秒（６．８日）必要になるのに対し、図１３〜図１６に示すパス試験方法では、約３０分で済む。この結果から分かるように、図１３〜図１６に示すパス試験方法を用いれば、作業時間が３／１０００（０．３％）になり、作業工数及び時間の大幅な短縮が可能となる。また、クロストークや同時動作による誤動作試験については、従来のパス試験方法では、別途の確認処理が必要となるが、図１３〜図１６に示すパス試験方法では、導通確認と同時に行うことができる。 As shown in FIG. 18, the conventional path test method requires N ² connection changes to perform the path test, whereas the path test method shown in FIGS. The pass test can be performed with the number of connection changes. For this reason, when one second is required for one measurement, the conventional pass test method requires a measurement time of 589,824 seconds (6.8 days), whereas FIGS. In the pass test method shown in FIG. As can be seen from these results, when the pass test method shown in FIGS. 13 to 16 is used, the work time becomes 3/1000 (0.3%), and the work man-hours and time can be greatly reduced. In addition, the malfunction test due to the crosstalk and the simultaneous operation requires a separate confirmation process in the conventional path test method, but the path test method shown in FIGS. 13 to 16 can be performed simultaneously with the continuity confirmation. .

本発明にかかるクロスコネクトパス試験システムの一実施の形態を示す全体構成図である。1 is an overall configuration diagram showing an embodiment of a cross-connect path test system according to the present invention. 図１のスイッチ試験機を示す構成図である。It is a block diagram which shows the switch testing machine of FIG. 図１の接続設定テーブルのデータ構成を示す図である。It is a figure which shows the data structure of the connection setting table of FIG. パス試験の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of a pass test. 接続設定テーブルの作成手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the preparation procedure of a connection setting table. Ｎ＝４とした場合の接続設定テーブルのデータ構成を示す図である。It is a figure which shows the data structure of the connection setting table in the case of N = 4. 導通確認処理の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of a continuity confirmation process. クロスコネクト装置のパス構成を示す図である。It is a figure which shows the path | pass structure of a cross-connect apparatus. クロスコネクト装置のパス構成を示す図である。It is a figure which shows the path | pass structure of a cross-connect apparatus. クロスコネクト装置のパス構成を示す図である。It is a figure which shows the path | pass structure of a cross-connect apparatus. クロスコネクト装置のパス構成を示す図である。It is a figure which shows the path | pass structure of a cross-connect apparatus. Ｎ＝１６とした場合の接続設定テーブルのデータ構成を示す図である。It is a figure which shows the data structure of the connection setting table in the case of N = 16. 本発明にかかるクロスコネクトパス試験システムで用いるパス試験方法の他の例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the other example of the path | pass test method used with the cross-connect path | pass test system concerning this invention. 本発明にかかるクロスコネクトパス試験システムで用いるパス試験方法の他の例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the other example of the path | pass test method used with the cross-connect path | pass test system concerning this invention. 本発明にかかるクロスコネクトパス試験システムで用いるパス試験方法の他の例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the other example of the path | pass test method used with the cross-connect path | pass test system concerning this invention. Ｎ＝３とした場合の接続設定テーブルのデータ構成を示す図である。It is a figure which shows the data structure of the connection setting table in the case of N = 3. Ｎ＝６とした場合の接続設定テーブルのデータ構成を示す図である。It is a figure which shows the data structure of the connection setting table in the case of N = 6. 本発明にかかるクロスコネクトパス試験システムと、従来のクロスコネクトパス試験システムとの導通確認時間の比較結果を示す図である。It is a figure which shows the comparison result of the conduction confirmation time of the cross-connect path test system concerning this invention, and the conventional cross-connect path test system. 従来のクロスコネクトパス試験システムを示す全体構成図である。It is a whole block diagram which shows the conventional cross-connect path | pass test system. 図１９のクロスコネクトパス試験システムで用いるパス試験方法を示すフローチャートである。20 is a flowchart showing a path test method used in the cross-connect path test system of FIG.

Explanation of symbols

１クロスコネクトパス試験システム
２スイッチ試験機
２＿１〜２＿Ｎスイッチ
３制御装置
１０クロスコネクト装置
２１第１スイッチ部
２１ａ、２１ｂ入力端子
２１ｃ出力端子
２２第２スイッチ部
２２ａ、２２ｂ出力端子
２２ｃ入力端子
３０パルスジェネレータ
３１接続設定テーブル
３１ａ〜３１ｋ設定値
３３スイッチ制御信号
４０パルスディテクタ
５０制御装置
５２クロスコネクト制御信号
５３第１スイッチ制御信号
５４エラーリセット信号
５５エラー結果
５６第２スイッチ制御信号
６０パルス信号
８０第１スイッチ試験機
８０＿１〜８０＿Ｎスイッチ
９０第２スイッチ試験機
９０＿１〜９０＿Ｎスイッチ
１００クロスコネクトパス試験システム
IN＿１〜IN＿Ｎ入力端子
OUT＿１〜OUT＿Ｎ出力端子 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Cross-connect path test system 2 Switch test machine 2_1-2_N Switch 3 Control apparatus 10 Cross-connect apparatus 21 1st switch part 21a, 21b Input terminal 21c Output terminal 22 2nd switch part 22a, 22b Output terminal 22c Input terminal 30 Pulse generator 31 Connection setting tables 31a to 31k Setting value 33 Switch control signal 40 Pulse detector 50 Controller 52 Cross-connect control signal 53 First switch control signal 54 Error reset signal 55 Error result 56 Second switch control signal 60 Pulse signal 80 First switch Test machines 80_1 to 80_N switch 90 Second switch test machines 90_1 to 90_N switch 100 Cross-connect path test system
IN_1 to IN_N input terminals
OUT_1 to OUT_N output terminals

Claims

A cross-connect path test for testing a path state of the cross-connect device, comprising: a cross-connect device having a plurality of channels; a pulse generating means for outputting a test signal; and a detecting means for detecting a path state of the cross-connect device. A system,
An input terminal having a predetermined channel number is connected to the pulse generating means, an output terminal having the predetermined channel number is connected to the detecting means, and the pulse generating means is passed through an input / output terminal having another channel number. A first path setting for setting in the cross-connect device a path that continuously connects the input terminal connected to the output terminal connected to the detection means, and the input terminal having the predetermined channel number is set to the predetermined channel Performing a second path setting for setting a path to be connected back to the output terminal of the number in the cross-connect device for each of the plurality of channels, testing a path state of the cross-connect device ,
The number of channels of the plurality of channels is N, the variable that increments the value from 1 to N by 1 is m, the channel number of the input / output terminal is A (m), and the predetermined channel number is A (0). And when
The path connecting the input / output terminals of the other channel numbers in the first path setting constitutes one path in the cross-connect device each time the value of the variable m is incremented by one,
When the value of the variable m is 1 to N-1, the channel number A (m) is set to A (m-1) + m, and the value of A (m-1) + m is the number of channels N. A (m) is a value obtained by subtracting the number of channels N from the value of A (m−1) + m,
When the value of the variable m is N, the channel number A (m) is the predetermined channel number,
A cross-connect path test system characterized by satisfying a condition for connecting an input terminal having a channel number A (m-1) to an output terminal having a channel number A (m) .

The path connecting the input / output terminals of the other channel numbers of the first path setting includes a path connecting one of the input terminal and the output terminal to the other of the input terminal and the output terminal of the channel number other than the adjacent channel number. The cross-connect path test system according to claim 1.

A cross-connect for testing a path state of the cross-connect device by connecting a pulse generating means for outputting a test signal and a detecting unit for detecting a path state of the cross-connect device to a cross-connect device having a plurality of channels Pass test method,
An input terminal having a predetermined channel number is connected to the pulse generating means, an output terminal having the predetermined channel number is connected to the detecting means, and the pulse generating means is passed through an input / output terminal having another channel number. A first path setting for setting in the cross-connect device a path that continuously connects the input terminal connected to the output terminal connected to the detection means, and the input terminal having the predetermined channel number is set to the predetermined channel Performing a second path setting for setting a path to be connected back to the output terminal of the number in the cross-connect device for each of the plurality of channels, testing a path state of the cross-connect device ,
The number of channels of the plurality of channels is N, the variable that increments the value from 1 to N by 1 is m, the channel number of the input / output terminal is A (m), and the predetermined channel number is A (0). And when
The path connecting the input / output terminals of the other channel numbers in the first path setting constitutes one path in the cross-connect device each time the value of the variable m is incremented by one,
When the value of the variable m is 1 to N-1, the channel number A (m) is set to A (m-1) + m, and the value of A (m-1) + m is the number of channels N. A (m) is a value obtained by subtracting the number of channels N from the value of A (m−1) + m,
When the value of the variable m is N, the channel number A (m) is the predetermined channel number,
A cross-connect path test method characterized by satisfying a condition of connecting an input terminal having a channel number A (m-1) to an output terminal having a channel number A (m) .

The path connecting the input / output terminals of the other channel numbers of the first path setting includes a path connecting one of the input terminal and the output terminal to the other of the input terminal and the output terminal of the channel number other than the adjacent channel number. The cross-connect path test method according to claim 3 .