JP5410510B2 - 撮像装置、外部閃光検出方法、プログラムおよび集積回路 - Google Patents

Description

本発明は、スチルカメラ等のフラッシュがビデオ用の動画の撮影時に及ぼす白帯状の妨害を緩和できる撮像装置に関する。

近年、小型、低消費電力、高速撮像等の特徴をもつＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサを用いた撮像装置が、民生用ビデオカメラ及び業務用ビデオカメラの分野で躍進してきている。
ＣＭＯＳイメージセンサは、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）イメージセンサに比べて種々の特徴を有しており、ＣＭＯＳイメージセンサとＣＣＤイメージセンサとでは、フォトダイオード（Ｐｈｏｔｏ Ｄｉｏｄｅ：以降「ＰＤ」と記載）に蓄積される電荷の読み出し方式も異なる。
ＣＣＤイメージセンサでは、ＰＤの電荷読み出しを全画素で同一タイミングで行う、所謂グローバルシャッター方式により行う。一方、ＣＭＯＳイメージセンサでは、ライン（画素）単位で読出しタイミングがずれていく所謂ローリングシャッター方式によりＰＤの電荷読み出しを行う。このため、ＣＭＯＳイメージセンサでは、蓄積電荷の読出しタイミングがずれ、各画素の蓄積期間のタイミングがずれることに起因して、ＣＣＤイメージセンサにない弊害が発生する。

その問題の一つに、スチルカメラ等のフラッシュ光が焚かれている被写体をＣＭＯＳイメージセンサのビデオカメラで撮像すると、撮像画面上に白帯状の妨害が発生するという現象が挙げられる。「白帯状の妨害」とは、ここでは撮像した画像のあるフレームの一部だけがフラッシュ光の影響を受け、途中のラインから上（画面上部）、または下（画面下部）だけが明るくなる現象を指す。
以下、この現象について、図３４および図３５を用いて説明する。
図３４は、ビデオカメラとスチルカメラが混在する撮影風景、例えば記者会見等の撮影風景を模式的に示す図である。
図３４は、ビデオカメラ１００と、その撮像信号を映すモニター１０１、スチルカメラ１０２、１０３、および被写体１０４より構成される撮影風景を模式的に示している。ビデオカメラ１００は、ＣＭＯＳイメージセンサを用いている。

このような撮影風景において、スチルカメラ１０２、１０３でフラッシュが焚かれると、ビデオカメラ１００の撮像信号を映すモニター１０１の画面に白帯状の妨害が発生する。以下、その原理を説明する。
図３５は、ビデオカメラ１００の蓄積期間（露光期間）と、読出しタイミング、読出し期間、および走査期間を模式化した図である。
図３５において、画面（ビデオカメラ１００による撮像画像）を構成する各走査ラインの電荷蓄積期間およびその電荷を読み出すための走査期間を、時間軸を横軸に取って表している。走査ラインの総数は、ＨＤカメラを想定して１１２５ラインとする。また、図３５に示す「モニター画面０期間」とは、フレーム０の撮像信号をモニター画面等に出力する期間であり、ここでは１／６０秒とする。「モニター画面１期間」等についても同様である。

ビデオカメラ１００において、例えば、画面の一番上のラインであるライン１（ライン１を形成する映像信号を取得するためのＣＭＯＳイメージセンサの撮像素子面上の１ライン分の画素（それぞれの画素にＰＤが設置されている。））については、ちょうどモニター画面０期間の開始タイミングと共にフレーム１のＰＤ蓄積（ＰＤでの電荷蓄積）を開始し、１フレーム期間、すなわちモニター画面０期間の終了タイミングと共にＰＤ蓄積を終了する。蓄積されたライン１のＰＤ信号は、この直後に（ＰＤ蓄積が終了した直後に）、蓄積電荷の読み出し（なお、「蓄積電荷の読み出し」を、単に「読み出し」ということがある。）の走査が開始されると同時に、次のフレーム２のＰＤ蓄積が開始される。ＰＤ信号の読み出し走査の期間は、１フレーム期間（１／６０秒）に１１２５本のラインを走査することから、１／６０／１１２５≒１．４８×１０^-5秒となる。

次に、ライン２については、ライン１のフレーム０に対するＰＤ読み出し走査の期間終了タイミングにあわせてＰＤ蓄積を開始する。すなわち、ライン２については、ライン１に対してＰＤ読み出し走査期間分遅れてＰＤ蓄積および読み出しの動作が行われることになる。ライン３以降についても上記と同様の動作が行われる。
このようにローリングシャッター方式においては、１フレームを構成する各ラインの電荷蓄積期間が図３５に示すように上から下へと少しずつずれている。これに伴い、各ラインの走査期間、すなわちＰＤ信号の読み出しタイミングも図３５に示すように各ラインの電荷蓄積期間の直後となる。つまり、ＣＭＯＳイメージセンサを用いたビデオカメラ１００では、ライン１のＰＤ信号を読み出したら、次に、ライン２のＰＤ信号を読み出すというように、ライン順に、順次、ＰＤ信号の読み出し処理が行われる。

ここで、図３５に示すように、モニター画面１期間の中央付近（図３５に「フラッシュ発光期間」で示した期間）でフラッシュが焚かれると、フレーム１後半の電荷蓄積期間とフレーム２前半の電荷蓄積期間にフラッシュの明るい光が影響する。モニター画面１の期間に光ったフラッシュは、図３５に示すように、ラインＸおよびラインＹでフレーム１とフレーム２との電荷蓄積、電荷読出しタイミングを跨ぐ。
つまり、図３５に示した場合におけるフラッシュの明るい光の影響は、以下のようになる。
（フレーム１のラインａ１（図３５に「ａ１」で示した部分に属するライン））：
フレーム１では、ラインＸより前のラインａ１の部分は、フラッシュ光の影響は受けない（電荷蓄積期間はすでに終わっている）。
（フレーム１のラインＸ〜ラインＹ（図３５に「ａ２」で示した部分に属するライン））：
ラインＸとラインＹの間の期間のラインａ２部分は、フレーム１ではフラッシュ光の影響を受け、徐々に蓄積光量が増える。
（フレーム１のラインＹ以降（図３５に「ａ３」で示した部分に属するライン））：
ラインＹ以降のラインａ３の部分では、フラッシュ光の全光量の影響を受ける。
（フレーム２のラインｂ１（図３５に「ｂ１」で示した部分に属するライン））：
フレーム２では、逆に、ラインＸより前のラインｂ１の部分では、フラッシュ光の全光量の影響を受ける。
（フレーム２のラインＸ〜ラインＹ（図３５に「ｂ２」で示した部分に属するライン））：
ラインＸとラインＹの間の期間のラインｂ２の部分は徐々にフラッシュ光の影響が小さくなる。
（フレーム２のラインＹ以降（図３５に「ｂ３」で示した部分に属するライン））：
ラインＹ以降のラインｂ３の部分ではまだ蓄積期間が始まっていないので、フラッシュ光の影響は受けない。

したがって、フラッシュ光の発光期間が一瞬であり、図３５のａ２、ｂ２部分のトランジェント期間が存在しないものとするとモニター画面は、概略として図３５の下部に示すようにモニター画面１（フレーム１の撮像信号により形成される画面（画像））の下半分が明るく、そしてモニター画面２（フレーム２の撮像信号により形成される画面（画像））の上半分が明るくなり、これが白帯状の妨害として映像表示装置に映し出される。ＣＣＤイメージセンサを用いる撮像装置の場合は、ＣＭＯＳイメージセンサとは異なり１フレームを構成する全ラインの電荷蓄積タイミングが同じであるために、このような問題は発生せず、フラッシュ発光時には全体が明るくなった自然な画像が映し出される。
以上のように、ＣＭＯＳイメージセンサを用いる撮像装置では、フラッシュ光等の外部の閃光が入ると、撮像信号により形成される映像に白帯状の妨害が発生するという第１の課題がある。また、ＣＭＯＳイメージセンサを用いる撮像装置において、映像に発生する白帯状の妨害に対する適切な処理を行うために、外部閃光の影響により白帯状の妨害が発生しているか否かを適切に検出しなければならないという第２の課題がある。

まず、第１の課題を解決する従来技術について、説明する。
第１の課題を解決する従来の撮像装置として、特許文献１に記載された撮像装置がある。
図３６は、従来の撮像装置９００の構成例を示すブロック図である。この撮像装置９００は、所謂静止画像を主に記録するデジタルスチルカメラである。
図３６に示すように、撮像装置９００は、撮像部１１３、画像処理部１１４、記録表示処理部１１６、バッファ１１７、評価部１２０、記憶部１２１および制御部１２３を備えている。
撮像部１１３は、図示しない撮像素子、ＣＤＳ（Ｃｏｒｒｅｌａｔｅｄ Ｄｏｕｂｌｅ Ｓａｍｐｌｉｎｇ）回路、Ａ／Ｄ（Ａｎａｌｏｇ／Ｄｉｇｉｔａｌ）回路、シグナルジェネレータ（ＳＧ）およびタイミングジェネレータ（ＴＧ）などを備え、被写体を撮像し、その結果得られる画像を画像処理部１１４に供給する。

撮像素子は、例えばＣＣＤイメージセンサやＣＭＯＳイメージセンサ等で構成され、入射する被写体からの光を受光して光電変換することにより、電気信号としての画像信号を取得し、取得した画像信号を出力する。撮像素子は、受光した光の量に応じて電荷を蓄積する複数の画素が、格子状の配置で平面状に敷き詰められて構成されており、タイミングジェネレータから供給される水平駆動信号と垂直駆動信号にしたがって、所定の露光時間だけ光を受光する。撮像素子の各画素には受光した光の量に応じた電荷が蓄積され、撮像素子は、その電荷をアナログの画像信号としてＣＤＳ回路に供給する。
ＣＤＳ回路は、撮像素子から供給されたアナログの画像信号のノイズ成分を、相関２重サンプリングを施すことによって除去する。
ＣＤＳ回路は、ノイズ成分を除去した画像信号をＡ／Ｄ回路に供給する。

Ａ／Ｄ回路は、ＣＤＳ回路からのアナログの画像信号をＡ／Ｄ変換し、その結果得られるデジタルの画像データを画像処理部１１４に供給する。
シグナルジェネレータは、制御部１２３の制御に基づいて、水平同期信号と垂直同期信号を、それぞれ発生させ、タイミングジェネレータに出力する。
タイミングジェネレータは、シグナルジェネレータから供給された水平同期信号と垂直同期信号に基づいて、撮像素子を駆動させるための水平駆動信号と垂直駆動信号を、それぞれ発生させ、撮像素子に供給する。
画像処理部１１４は、図示しないＹ−Ｃ分離回路、フィルタ回路、ＷＢ（Ｗｈｉｔｅ Ｂａｌａｎｃｅ）回路およびアパコンガンマ回路などを備え、撮像部１１３のＡ／Ｄ回路から供給される画像データに、所定の画像処理を施す。

画像処理部１１４は、画像処理を施した画像（画像データ）を、記録表示処理部１１６および評価部１２０に供給する。
Ｙ−Ｃ分離回路は、撮像部１１３からの画像データを、輝度信号（Ｙ信号）とクロマ信号（Ｃ信号）とに分離するＹ−Ｃ分離処理を行う。
フィルタ回路は、撮像部１１３からの画像データをフィルタリングし、その画像データに含まれるノイズ成分をカットするノイズリダクション処理を行う。
ＷＢ回路は、例えば、白い被写体のＲ，Ｇ，Ｂレベルが等しくなるように撮像部１１３からの画像データにゲインを乗算し、画像のホワイトバランスを調整する処理を行う。
アパコンガンマ回路は、撮像部１１３からの画像データに対して、画像のエッジ部分を強調するアパーチャ補正や画像の色合いを調整するガンマ補正等の画質を調整する処理を行う。

記録表示処理部１１６には、画像処理部１１４から画像処理が施された画像（データ）が供給され、その画像を図示しない記録部や表示部に出力する出力制御を行う。
バッファ１１７には、記録表示処理部１１６が出力制御を行う際に、一時的に記憶させる必要があるデータが記憶される。
評価部１２０は、画像の明るさや色の分布を検波する図示しない検波回路を備え、撮像素子により撮像された画像が画像処理部１１４から供給される。
検波回路は、画像処理部１１４から供給された画像を検波し、その結果得られる情報、例えば、画像の所定の部分の明るさや色の分布を示す情報や、画像の所定の部分の空間周波数を示す情報等を、撮像素子により撮像された画像に対する評価値として出力する。
評価部１２０は、検波回路が出力する評価値を、制御部１２３に供給する。

記憶部１２１は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、またはＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ ａｎｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）等からなり、制御部１２３の図示しないＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）が実行するプログラムや、制御部１２３が処理を行う上で必要なデータ、撮像装置の電源がオフにされたときも保持しておく必要があるデータ等を記憶する。
制御部１２３は、図示しないＣＰＵと、差分値を演算する演算回路とを備えている。制御部１２３には、撮像素子により撮像された画像に対する評価値が評価部１２０から供給され、評価部１２０から供給される評価値を記憶部１２１に一時的に記憶させる。
演算回路は、所定の２つの評価値どうしの差分値を演算する。そして、制御部１２３は、演算回路により算出された差分値に基づいて、撮像装置の各部を制御する。

従来の撮像装置９００では、このような構成により、例えば、ユーザの操作に応じて撮像部１１３により静止画像または動画像が撮像された場合、撮像された画像は、画像処理部１１４にて所定の画像処理が施された後、記録表示処理部１１６および評価部１２０に供給される。
記録表示処理部１１６では、画像処理部１１４にて所定の画像処理が施された後の画像をバッファ１１７にバッファリングし、評価部１２０では、検波回路によりこの画像に対する評価値を生成して制御部１２３に供給する。そして、制御部１２３は、この評価値を記憶部１２１に一時的に記憶させる。
制御部１２３の演算回路では、この評価値と記憶部１２１に既に記憶されていた評価値、即ち、１フレーム前の画像から生成された評価値との差分値を算出する。そして、この差分値が予め設定されている基準値以上であれば、外部閃光による悪影響を受けた画像と判断し、基準値未満であれば、外部閃光による影響がない画像と判断する。その結果に応じて制御部１２３は、撮像装置の各部を制御し、外部の閃光による悪影響を受けた画像と判断した場合、その画像を排除し、外部の閃光による悪影響を受けていない画像であると判断した場合、その画像を出力させる。

これにより、従来の撮像装置９００では、外部の閃光による白帯状の妨害の課題を解決している。
次に、第２の課題を解決する従来技術について、説明する。
第２の課題を解決する従来技術として、特許文献２に記載された技術がある。
この従来技術では、映像を適当な大きさのブロックに分割し、前のフィールドと比べて同じ位置のブロックにおける明るさが増加したかどうかを調べることによって、撮像信号に、フラッシュ（外部閃光）の影響があるか否かを判断する。すなわち、図３７に示すように、入力撮像信号ＶＩを遅延部１１０１にて１フィールド遅延させた信号と入力撮像信号ＶＩとの差分を差分部１１０２にて算出し、その差分を累算部１１０３にて画面を所定の数に分割したブロックごとに累算し、その累算値がαより大きいブロックをカウンタ１１０５で数え、その数がβ以上かつγ以下のとき、フラッシュ（外部閃光）が入った（撮像信号に外部閃光の影響がある）と判断している。この従来技術により、撮像信号に外部閃光の影響があるか否かを判断することができる。

特開２００７−３０６２２５号公報 特開平１１−３４１３０５号公報

しかしながら、従来技術では、以下の問題点がある。
第１の課題を解決する上記従来の撮像装置９００では、撮像された画像の評価値として、例えば、全画面の輝度レベルの平均値を算出する方法を採用することが考えられる。その場合、撮像装置９００では、評価部１２０にて、順次フレーム毎に輝度信号を積算して平均化した平均輝度レベル値を、制御部１２３を介して記憶部１２１に一時的に記憶させておき、次のフレームの画像が入力されたタイミングで同様に平均輝度レベルを算出して、記憶部１２１に記憶されている前のフレームの平均輝度レベルと比較することで、外部閃光による影響の有無を判断する。
しかしながらこの方法では、画面の下部のわずかな部分、仮に最下位ラインにのみに外部閃光の影響がある場合、全画面の平均輝度レベルは、外部閃光の影響のないフレームの平均輝度レベルと明確な差異が見られず、外部閃光の影響の有無の判断をするのは困難である。

また、撮像された画像の評価値として、例えば、画面の一部分のみの輝度レベルの平均値を算出する場合、外部閃光の影響は、任意のライン以降に発生するため、どの部分の平均輝度レベルを算出すべきかを事前に特定するのは困難である。
また、従来の撮像装置９００では、前のフレームの画像を記憶しておき、外部閃光の影響が発生した時点で平均輝度レベルを算出すべき部分を決定して、前のフレームと現在のフレームとで評価値を比較することは可能であるが、その場合、前のフレームを記憶しておくフレームメモリなどが必要となり回路規模の増大を招くことになる。
また、第２の課題を解決する従来技術では、高輝度被写体が移動したときにも、フラッシュであると誤判断され（撮像信号が形成する画像（フレーム画像あるいはフィールド画像）に外部閃光の影響があると誤判断され）、フラッシュの補正（外部閃光の影響を排除する補正）が実行されることがある。例えば、図３２のように縦１６ブロック、横２４ブロックに分けた画面に対して、高輝度である被写体が斜線部に存在したとする。この被写体が次のフィールドで上に１ブロック程度移動すると、図３３のようになる。このとき、図３３の１０段目の斜線部のブロックでは、前のフィールドより明るくなるため、フラッシュが入ったものと判断される（外部閃光の影響ありと誤判断される）。

一方で、動き検出という技術があり、物体がどちらの方向にどれだけ動いたかを知ることができる。この動き検出の技術を利用すれば、図３２の高輝度被写体が図３３の位置に移動したことを知ることはでき、図３３の処理を行うときに、比較するブロックを前のフィールドの１段下のブロックと比較すれば、明るさの変化はないため、動きによる明るさの変化をフラッシュによる明るさの変化として間違うことはなくなる。
しかし、動き検出を回路で実現する場合、相当規模の大きな回路が必要になり、機器としてのコストアップや電力増加は避けられない。
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、回路規模の増大を招くことなく、任意のタイミングで発光される外部閃光による撮像信号への影響の有無を確実に判断することが可能な撮像装置、外部閃光検出方法、プログラムおよび集積回路を提供することを目的とする。

また、本発明は、外部閃光による明るい横帯のある不自然な画面に対して、動く高輝度被写体に対しても少ない回路規模で誤動作が少なく閃光の有無を検出できる撮像装置、外部閃光検出方法、プログラムおよび集積回路を提供することを目的とする。

第１の発明は、撮像部と、閃光検出部と、を備える撮像装置である。
撮像部は、被写体を撮像して撮像信号を取得する。閃光検出部は、撮像部により取得される撮像信号が、閃光の影響を受けているか否かを検出する。
これにより、外部閃光による撮像信号への影響の有無を判断することができる。
第２の発明は、第１の発明であって、閃光検出部は、ライン輝度情報値算出部と、フレーム差分演算部と、判断部と、を備える。
ライン輝度情報値算出部は、撮像信号が形成する画像の各ラインの輝度情報値を算出する。フレーム差分演算部は、処理対象となっている撮像信号が形成する現画像の各ラインの輝度情報値から、ライン毎に、１単位画像前の画像の同一ラインのライン輝度情報値を減算することで、各ラインのフレーム差分値を算出する。判断部は、フレーム差分値が所定の値である第１参照値より大きいか否かを判断することにより、撮像信号に対する外部閃光の影響の有無を判断する。

この撮像装置では、単位画像上の同一ラインについて、輝度の変化の有無を判断することで、撮像信号に対する外部閃光の影響の有無を判断する。したがって、この撮像装置では、回路規模の増大を招くことなく、任意のタイミングで発光される外部閃光による撮像信号への影響の有無を確実に判断することができる。
なお、「単位画像」とは、撮像信号を表示装置に表示させる画面を構成する画像のことであり、例えば、１フレーム画像や１フィールド画像がこれに相当する。したがって、「１単位画像前」とは、「単位画像」がフレーム画像である場合は、１フレーム画像前、すなわち、１フレーム画像に相当する時間だけ前という意味であり、「単位画像」がフィールド画像である場合は、１フィールド画像前、すなわち、１フィールド画像に相当する時間だけ前という意味である。

「第１参照値」は、この撮像装置のシステム性能（カメラ性能）を考慮し、外部閃光を適切に検出することができる値に設定すればよい。例えば、この撮像装置において、撮像部から出力される撮像信号（ＡＧＣ等の処理がなされ、標準状態（カメラシステムにおいて所望される所定のダイナミックレンジとなるように調整された映像信号の状態）となっている撮像信号）の所定の画像領域（撮像信号により形成される所定の画像領域）の平均輝度レベルに応じて、「第１参照値」を変化させるようにしてもよい（「第１参照値」を可変設定値としてもよい）。また、単位画像（例えば、フレーム）ごとに「第１参照値」を変化させるようにしてもよい（「第１参照値」を可変設定値としてもよい）。
第３の発明は、第２の発明であって、輝度情報値は、輝度レベルの平均値、輝度レベルの加算値、輝度レベルの２乗平均平方根値、輝度レベルの重付平均値のいずれか１つである。

第４の発明は、第２または第３の発明であって、判断部は、フレーム差分値が第１参照値と比較して大きいラインが連続する期間が１フレーム期間と略等しいときに、外部閃光の影響があると判断する。
これにより、この撮像装置では、外部閃光の影響のある期間が略１フレーム期間継続するという特性を利用し、判断部が、フレーム差分値の変化を監視することで、撮像信号に対する外部閃光の影響の有無を精度良く検出することができる。
なお、「１フレーム期間と略等しい」とは、厳密に１フレーム期間と等しい場合だけでなく、測定誤差や設計誤差に起因する誤差を含んだ範囲を含む概念である。例えば、測定対象の期間が１フレーム期間の１０％の範囲に含まれる場合、「１フレーム期間と略等しい」とみなすことができる。

第５の発明は、第２から第４のいずれかの発明であって、判断部は、フレーム差分値が第１参照値と比較して大きいラインが連続する期間の開始となるラインを、外部閃光の影響を受け始める開始ラインであると判断する。
第６の発明は、第２から第５のいずれかの発明であって、判断部は、フレーム差分値が所定の値である第２参照値と比較して小さいか否かを判断することにより、外部閃光の影響の終了を判断する。
この撮像装置では、判断部により、フレーム差分値が第２参照値より小さいとき、撮像信号に対する外部閃光の影響が終了したと判断される。したがって、この撮像装置では、撮像信号に対する外部閃光の影響の終了時を適切に判断（検出）することができる。
なお、「第２参照値」は、この撮像装置のシステム性能（カメラ性能）を考慮し、外部閃光を適切に検出することができる値に設定すればよい。例えば、この撮像装置において、撮像部から出力される撮像信号（ＡＧＣ等の処理がなされ、標準状態（カメラシステムにおいて所望される所定のダイナミックレンジとなるように調整された映像信号の状態）となっている撮像信号）の所定の画像領域（撮像信号により形成される所定の画像領域）の平均輝度レベルに応じて、「第２参照値」を変化させるようにしてもよい（「第２参照値」を可変設定値としてもよい）。また、単位画像（例えば、フレーム）ごとに「第２参照値」を変化させるようにしてもよい（「第２参照値」を可変設定値としてもよい）。

第７の発明は、第２から第６のいずれかの発明であって、判断部は、フレーム差分値が第２参照値と比較して小さいラインが連続する期間が１フレーム期間と略等しいときに、外部閃光の影響が終了したと判断する。
これにより、この撮像装置では、外部閃光の影響のある期間が略１フレーム期間継続するという特性を利用し、判断部が、フレーム差分値の変化を監視することで、撮像信号に対する外部閃光の影響の有無（特に、外部閃光の終了時点）を精度良く検出することができる。
第８の発明は、第２から第７のいずれかの発明であって、判断部は、フレーム差分値が第２参照値と比較して小さいラインが連続する期間の開始となるラインを、外部閃光の影響が終了する終了ラインであると判断する。

これにより、この撮像装置では、外部閃光の影響が終了する終了ラインを適切に検出することができる。
第９の発明は、第２、第３、第５から第８の発明のいずれかであって、撮像部は、電子シャッター機能を備える。判断部は、フレーム差分値が第１参照値と比較して大きいラインが連続する期間が電子シャッターのシャッター時間に応じた期間と略等しいときに、撮像信号に対する外部閃光の影響があると判断する。
これにより、この撮像装置では、電子シャッターのシャッター時間を考慮して、外部閃光の影響がある期間を適切に検出することができる。
なお、「略等しい」とは、厳密に等しい場合だけでなく、一定の許容範囲（測定誤差、設計誤差、装置の動作を保証するためのマージン等）を含む概念である。

第１０の発明は、第２から第９のいずれかの発明であって、ライン平均輝度レベル算出部で算出されたライン平均輝度レベルを記憶する記憶部をさらに備える。
第１１の発明は、撮像ステップと、閃光検出ステップと、ライン輝度情報値算出ステップと、フレーム差分演算ステップと、判断ステップと、を備える外部閃光検出方法である。
撮像ステップでは、被写体を撮像して撮像信号を取得する。閃光検出ステップでは、撮像ステップにより取得される撮像信号が、閃光の影響を受けているか否かを検出する。ライン輝度情報値算出ステップでは、撮像信号が形成する画像の各ラインの輝度情報値を算出する。フレーム差分演算ステップでは、処理対象となっている撮像信号が形成する現画像の各ラインの輝度情報値から、ライン毎に、１単位画像前の画像の同一ラインのライン輝度情報値を減算することで、各ラインのフレーム差分値を算出する。判断ステップでは、フレーム差分値が所定の値である第１参照値より大きいか否かを判断することにより、撮像信号に対する外部閃光の影響の有無を判断する。

これにより、第２の発明と同様の効果を奏する外部閃光検出方法を実現することができる。
第１２の発明は、被写体を撮像して撮像信号を取得する撮像部を備える撮像装置に用いられる外部閃光検出方法をコンピュータに実行させるためのプログラムである。外部閃光検出方法は、閃光検出ステップと、ライン輝度情報値算出ステップと、フレーム差分演算ステップと、判断ステップと、を備える。
閃光検出ステップでは、撮像部により取得される撮像信号が、閃光の影響を受けているか否かを検出する。ライン輝度情報値算出ステップでは、撮像信号が形成する画像の各ラインの輝度情報値を算出する。フレーム差分演算ステップでは、処理対象となっている撮像信号が形成する現画像の各ラインの輝度情報値から、ライン毎に、１単位画像前の画像の同一ラインのライン輝度情報値を減算することで、各ラインのフレーム差分値を算出する。判断ステップでは、フレーム差分値が所定の値である第１参照値より大きいか否かを判断することにより、撮像信号に対する外部閃光の影響の有無を判断する。

これにより、第２の発明と同様の効果を奏する外部閃光検出方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを実現することができる。
第１３の発明は、被写体を撮像して撮像信号を取得する撮像部を備える撮像装置に用いられる集積回路であって、閃光検出部と、ライン輝度情報値算出部と、フレーム差分演算部と、判断部と、を備える。
閃光検出部は、撮像部により取得される撮像信号が、閃光の影響を受けているか否かを検出する。ライン輝度情報値算出部は、撮像信号が形成する画像の各ラインの輝度情報値を算出する。フレーム差分演算部は、処理対象となっている撮像信号が形成する現画像の各ラインの輝度情報値から、ライン毎に、１単位画像前の画像の同一ラインのライン輝度情報値を減算することで、各ラインのフレーム差分値を算出する。判断部は、フレーム差分値が所定の値である第１参照値より大きいか否かを判断することにより、撮像信号に対する外部閃光の影響の有無を判断する。

これにより、第２の発明と同様の効果を奏する集積回路を実現することができる。
第１４の発明は、第１の発明であって、閃光検出部は、ライン判定部と、判定情報記憶部と、フレーム判定部と、を備える。
閃光検出部は、ライン判定部は、撮像信号により形成される画像の最上位ラインおよび最下位ラインに外部閃光の影響があるか否かを判定し、最上位ラインについての判定結果である最上位ライン判定情報と、最下位ラインについての判定結果である最下位ライン判定情報として出力する。判定情報記憶部は、最下位ライン判定情報を記憶する。フレーム判定部は、判定情報記憶部に記憶された最下位ライン判定情報が１フレーム前の撮像信号の最下位ラインに外部閃光の影響があることを示し、且つ、ライン判定部から出力される最上位ライン判定情報が現在の撮像信号の最上位ラインに外部閃光の影響があることを示している場合に、１フレーム前のフレーム画像を形成する撮像信号および現在のフレーム画像を形成する撮像信号に外部閃光の影響があると判断する。

この撮像装置では、画像（例えば、フレーム画像）上の最上位ラインおよび最下位ラインの変化（例えば、ライン平均輝度の変化）を調べることで、撮像信号に対する外部閃光の影響の有無を判断する。したがって、この撮像装置では、回路規模の増大を招くことなく、任意のタイミングで発光される外部閃光による撮像信号への影響の有無を確実に判断することができる。
第１５の発明は、第１４の発明であって、ライン判定部は、現在の撮像信号が形成する現在のフレーム画像の最上位ラインおよび最下位ラインに対して所定の方法で算出した評価値を評価値ＬＴ（ｎ）および評価値ＬＢ（ｎ）（ｎはフレーム番号）とし、１フレーム前の撮像信号が形成する１フレーム前のフレーム画像の最上位ラインおよび最下位ラインに対する評価値を評価値ＬＴ（ｎ−１）およびＬＢ（ｎ−１）（ｎ−１はフレーム番号）とし、所定量を所定量ｔｈ（ｔｈ＞０）としたとき、以下の（１）〜（４）の判定処理を行う。
（１）ＬＴ（ｎ）−ＬＴ（ｎ−１）≧ｔｈである場合、ライン判定部は、現在のフレーム画像の最上位ラインへの外部閃光の影響が開始されたと判定する。
（２）ＬＴ（ｎ）−ＬＴ（ｎ−１）≦−ｔｈ所定量以上小さい場合、ライン判定部は、現在のフレーム画像の最上位ラインへの外部閃光の影響が終了したと判定する。
（３）ＬＢ（ｎ）−ＬＢ（ｎ−１）≧ｔｈである場合、ライン判定部は、現在のフレーム画像の最下位ラインへの外部閃光の影響が開始されたと判定する。
（４）ＬＢ（ｎ）−ＬＢ（ｎ−１）≦−ｔｈである場合、ライン判定部は、現在のフレーム画像の最下位ラインへの外部閃光の影響が終了したと判定する。

これにより、この撮像装置では、画像（例えば、フレーム画像）上の最上位ラインおよび最下位ラインの変化（例えば、ライン平均輝度の変化）を調べることで、回路規模の増大を招くことなく、適切に、撮像信号に対する外部閃光の影響の有無を判断することができる。
なお、評価値を算出する「所定の方法」とは、外部閃光に起因して生じるラインごとの特性値を取得するための方法であり、例えば、ラインごとの輝度平均値や、輝度加算値等を取得するための方法がこれに相当する。
第１６の発明は、第１４の発明であって、ライン判定部は、現在の撮像信号が形成する現在のフレーム画像の最上位ラインおよび最下位ラインに対して所定の方法で算出した評価値を評価値ＬＴ（ｎ）および評価値ＬＢ（ｎ）（ｎはフレーム番号）とし、１フレーム前の撮像信号が形成する１フレーム前のフレーム画像の最上位ラインおよび最下位ラインに対する評価値を評価値ＬＴ（ｎ−１）およびＬＢ（ｎ−１）（ｎ−１はフレーム番号）とし、所定量を所定量ｔｈ（ｔｈ＞０）としたとき、以下の（１）、（２）の判定処理を行う。
（１）ＬＢ（ｎ）−ＬＴ（ｎ）≧ｔｈである場合、ライン判定部は、現在のフレーム画像の最下位ラインへの外部閃光の影響が開始されたと判定するとともに、現在のフレームの１フレーム後のフレーム画像の最上位ラインへの外部閃光の影響が開始されたと判定する。
（２）ＬＢ（ｎ）−ＬＴ（ｎ）≦−ｔｈである場合、ライン判定部は、現在のフレーム画像の最下位ラインへの外部閃光の影響が終了したと判定するとともに、現在のフレーム画像の１フレーム後のフレーム画像の最上位ラインへの外部閃光の影響が終了したと判定する。

これにより、この撮像装置では、同一画像（例えば、同一フレーム画像）上の最上位ラインおよび最下位ラインの変化（例えば、ライン平均輝度の変化）を調べることで、回路規模の増大を招くことなく、適切に、撮像信号に対する外部閃光の影響の有無を判断することができる。
第１７の発明は、第１４から第１６のいずれかの発明であって、判定情報記憶部は、ライン判定部が撮像信号が形成するフレーム画像の最上位ラインに外部閃光の影響があると判定した場合、判定結果を示す最上位ライン判定情報を記憶する。フレーム判定部は、最上位ライン判定情報が現在の撮像信号が形成する現在のフレーム画像の最上位ラインに外部閃光の影響があることを示し、且つ、ライン判定部が現在の撮像信号が形成する現在のフレーム画像の最下位ラインに外部閃光の影響があると判定した場合、現在の撮像信号が形成する現在のフレーム画像の全面に外部閃光の影響があると判断する。

これにより、この撮像装置では、画像（例えば、フレーム画像）上の最上位ラインおよび最下位ラインの変化（例えば、ライン平均輝度の変化）を調べることで、回路規模の増大を招くことなく、適切に、フレーム画像の全面に外部閃光の影響がある画像（例えば、フレーム画像）を検出することができる。
第１８の発明は、第１の発明であって、閃光検出部は、ライン評価値算出部と、ライン判定部と、フレーム判定部と、を備える。
撮像部は、被写体を撮像して撮像信号を取得する。ライン評価値算出部は、撮像信号により形成されフレームを構成することができる撮像画像の各ラインの評価値を算出する。
ライン判定部は、第Ｎフレーム（Ｎは整数）において、処理対象のラインの評価値が、処理対象のラインのａライン前（ａは正整数）の評価値と比較して所定量以上増加するラインを、第ｍラインとして検出し、第ｍラインのライン位置を示すライン位置情報ｍと、第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ）および第ｍラインよりａライン前の第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ）を記憶する。フレーム判定部は、ライン判定部に記憶されたライン位置情報ｍに対して、ライン判定部に記憶された第Ｎフレームの第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ）および第Ｎフレームの第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ）と、第Ｎフレーム以降のフレームにおける撮像信号の第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ＋α）（αは、自然数）および第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ＋α）とをライン間またはフレーム間で比較することにより、撮像信号が構成する各フレームに外部閃光の影響があるか否かを判断する。

この撮像装置では、ライン判定部により、最初にライン方向の評価値（ライン評価値）の急峻な変化を検出することで、着目すべきラインを特定し、以降はその特定したラインのみを（各フレーム画像において）監視することで、外部閃光の影響を受けている部分（撮像信号）を適切に検出することができる。
第１９の発明は、第１８の発明であって、フレーム判定部は、現在のフレームを第（Ｎ＋１）フレーム（Ｎは整数）としたとき、以下の（１）〜（３）の全てを満たす場合、１フレーム前のフレームである第Ｎフレームの撮像信号および現在のフレームである第（Ｎ＋１）フレームの撮像信号に外部閃光の影響があると判断する。
（１）ライン判定部に記憶されたライン位置情報ｍに対して、現在のフレームである第（Ｎ＋１）フレームの撮像信号の第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ＋１）が、現在のフレームである第（Ｎ＋１）フレームの撮像信号の第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ＋１）と比較して所定量Ｔ１以上減少する、すなわち、
（Ｌｍ−ａ（Ｎ＋１））−Ｌｍ（Ｎ＋１）≧（所定量Ｔ１）
を満たす場合。
（２）現在のフレームである第（Ｎ＋１）フレームの撮像信号の第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ＋１）がライン判定部に記憶された１フレーム前の撮像信号の第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ）と比較して所定量Ｔ２以上増加する、すなわち、
（Ｌｍ−ａ（Ｎ＋１））−Ｌｍ−ａ（Ｎ）≧（所定量Ｔ２）
を満たす場合。
（３）現在のフレームである第（Ｎ＋１）フレームの撮像信号の第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ＋１）がライン判定部に記憶された１フレーム前の撮像信号の第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ）と比較して所定量Ｔ３以上減少する、すなわち、
Ｌｍ（Ｎ）−Ｌｍ（Ｎ＋１）≧（所定量Ｔ３）
を満たす場合。

この撮像装置では、外部閃光が発光されるタイミングがどのようなタイミングであっても（どのラインから外部閃光の影響があった場合でも）、記憶する必要があるのはライン位置と評価値（ライン評価値）のみであるため、フレームメモリ等を必要とせず、フレーム間の評価値（ライン評価値）の比較ができ、また、フレーム画像（撮像画像）のライン方向とフレーム方向の両方の評価値（ライン評価値）の変化の規則性を利用することで、より確実に外部閃光の影響の有無を判定することができる。
第２０の発明は、第１９の発明であって、所定量Ｔ１、所定量Ｔ２および所定量Ｔ３は、
（所定量Ｔ１）＝（所定量Ｔ２）＝（所定量Ｔ３）
である関係を満たす。

この撮像装置では、所定量Ｔ１、所定量Ｔ２および所定量Ｔ３が同一であるため、単一の所定量により、判断処理を行うことができるので、より簡便に外部閃光の影響の有無を判定することができる。
第２１の発明は、第１８から第２０のいずれかの発明であって、フレーム判定部は、以下の（１）の場合、第Ｎフレームの撮像信号への外部閃光の影響が開始したと判断し、続いて（２）の場合、第（Ｎ＋α）フレームの撮像信号への外部閃光の影響が終了したと判断する。
（１）１フレーム前のフレームである第Ｎフレームの撮像信号において検出してライン判定部に記憶されたライン位置情報ｍに対して、現在のフレームである第（Ｎ＋１）フレームの撮像信号の第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ＋１）がライン判定部に記憶された１フレーム前のフレームである第Ｎフレームの撮像信号の第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ）と比較して所定量Ｔ４以上増加する場合、すなわち、
（Ｌｍ−ａ（Ｎ＋１））−（Ｌｍ−ａ（Ｎ））≧（所定量Ｔ４）
を満たす場合。
（２）１フレーム前のフレームである第Ｎフレームの撮像信号への外部閃光の影響が開始され、第Ｎフレーム以降のフレームである第（Ｎ＋α）フレーム（αは自然数）の撮像信号の第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ＋α）がライン記憶部に記憶された第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ）と比較して第Ｎフレーム以降のフレームで最初に所定量Ｔ５以上減少した場合、すなわち、
Ｌｍ（Ｎ）−Ｌｍ（Ｎ＋α）≧（所定量Ｔ５）
を満たす場合。

この撮像装置では、外部閃光の影響が開始されたフレームの撮像信号において特定されたラインのフレーム間での変化を監視することで影響の開始と終了のフレームを検出するため、外部閃光の影響が３フレーム以上に亘る場合にも影響があるフレームを適切に判定することができる。
第２２の発明は、第２１の発明であって、所定量Ｔ４および所定量Ｔ５は、
（所定量Ｔ４）＝（所定量Ｔ５）
である関係を満たす。
この撮像装置では、所定量Ｔ４および所定量Ｔ５が同一であるため、単一の所定量により、判断処理を行うことができるので、より簡便に外部閃光の影響の有無を判定することができる。

第２３の発明は、第１８から第２２のいずれかの発明であって、評価値は、撮像信号の各ラインの輝度信号の加算平均値である。
これにより、この撮像装置では、撮像信号の輝度レベルの変化から外部閃光の影響の有無を判定することができる。
第２４の発明は、第１８から第２３のいずれかの発明であって、撮像部は、被写体を撮像して複数チャンネルの原色信号を撮像信号として出力する撮像素子で構成される。評価値は、撮像信号の各ラインのチャンネル毎の加算平均値である。ライン判定部は、第Ｎフレーム（Ｎは整数）において、処理対象のラインが評価値をチャンネル毎に、処理対象のラインのａライン前の評価値と比較して全てのチャンネルの評価値が、各々の所定量以上増加するラインを、第ｍラインとして検出し、第ｍラインのライン位置を示すライン位置情報ｍと、第ｍラインの複数のチャンネルの評価値のベクトルデータＬｖｍ（Ｎ）および第ｍラインよりａライン前の第（ｍ−ａ）ラインの複数のチャンネルの評価値のベクトルデータＬｖｍ−ａ（Ｎ）を記憶する。フレーム判定部は、ライン判定部が検出したライン位置情報ｍに対して、ライン判定部に記憶された第ｍラインおよび第（ｍ−ａ）ラインの評価値のベクトルデータＬｖｍ（Ｎ）およびＬｖｍ−ａ（Ｎ）と、第Ｎフレーム以降のフレームにおける撮像信号の第ｍラインおよび第（ｍ−ａ）ラインの評価値のベクトルデータＬｖｍ（Ｎ＋α）およびＬｖｍ−ａ（Ｎ＋α）のライン間またはフレーム間の比較を複数のチャンネル毎に行い、
（１）全てのチャンネルの評価値が各々の所定量以上増加した場合に、第ｍラインおよび第（ｍ−ａ）ラインの評価値ＬｍおよびＬｍ−ａが増加したと判定し、
（２）全てのチャンネルの評価値が各々の所定量以上減少した場合に、第ｍラインおよび第（ｍ−ａ）ラインの評価値ＬｍおよびＬｍ−ａが減少したと判定する。

この撮像装置では、撮像部を、例えば、緑、青および赤の３チャンネルの原色信号を出力する３板式の撮像素子で構成する場合、フラッシュ等の発光（外部閃光）により３チャンネルの撮像信号が同一フレームの同一ラインから外部閃光の影響が開始され、別の同一フレームの同一ラインで外部閃光の影響が終了するため、検出する際に３チャンネル各々の評価値が同時に所定量以上増加または減少することを条件とすることにより、被写体によらず、より確実に外部閃光の影響の有無を判定することができる。
なお、ベクトルデータとは、複数の要素（スカラー値）をもつ多次元データである。例えば、第ｍラインのＲ（赤色）チャンネル信号の評価値をＬｒｍとし、第ｍラインのＧ（緑色）チャンネル信号の評価値をＬｇｍとし、第ｍラインのＢ（青色）チャンネル信号の評価値をＬｂｍとしたとき、第ｍラインのＲチャンネル、ＧチャンネルおよびＢチャンネルの評価値のベクトルデータＬｖｍは、
Ｌｖｍ＝（Ｌｒｍ，Ｌｇｍ，Ｌｂｍ）
となる。

そして、例えば、第ｍラインと第ｋラインの差分演算（ベクトル演算）は、下記のように行うことができる。
Ｌｖｍ−Ｌｖｋ＝（Ｌｒｍ，Ｌｇｍ，Ｌｂｍ）−（Ｌｒｋ，Ｌｇｋ，Ｌｂｋ）
＝（Ｌｒｍ−Ｌｒｋ，Ｌｇｍ−Ｌｇｋ，Ｌｂｍ−Ｌｂｋ）
また、（Ｌｖｍ−Ｌｖｋ）を、所定量のベクトルデータｔｈｖ＝（ｔｈｒ，ｔｈｇ，ｔｈｂ）と比較（大小比較）することも可能である。
例えば、
（Ｌｖｍ−Ｌｖｋ）＞ｔｈｖ
とは、
Ｌｒｍ−Ｌｒｋ＞ｔｈｒ
Ｌｇｍ−Ｌｇｋ＞ｔｈｇ
Ｌｂｍ−Ｌｂｋ＞ｔｈｂ
ということを意味する。

第２５の発明は、撮像部と、ライン評価値算出部と、ライン増加判定部と、ライン減少判定部と、フレーム判定部と、を備える撮像装置である。
撮像部は、被写体を撮像して撮像信号を出力する。ライン評価値算出部は、撮像信号により形成されフレームを構成することができる撮像画像の各ラインの評価値を算出する。ライン増加判定部は、処理対象のラインの評価値が、処理対象のラインのａライン前（ａは正整数）の評価値と比較して所定量以上増加するラインを、第ｍ１ラインとして検出する。ライン減少判定部は、処理対象のラインの評価値が、処理対象のラインのｂライン前（ｂは正整数）の評価値と比較して所定量以上減少するラインを、第ｍ２ラインとして検出する。フレーム判定部は、ライン増加判定部が現在のフレームである第Ｎフレームの撮像信号において第ｍ１ラインを検出した場合に、現在のフレームである第Ｎフレームの撮像信号から外部閃光の影響が開始され、ライン減少判定部が第Ｎフレーム以降のフレームの撮像信号において第ｍ２ラインを検出した場合に、第ｍ２ラインを検出したフレームである第（Ｎ＋α）フレーム（αは整数）の撮像信号で外部閃光の影響が終了したと判断する。

この撮像装置では、ライン方向の評価値の急峻な増加を検出することで外部閃光の影響が開始されるフレームを検出し、以降のフレームではライン方向の評価値の急峻な減少を検出することで外部閃光の影響が終了するフレームを検出する。このため、撮像装置では、外部閃光が発光されるタイミングがどのようなタイミングであっても（どのラインから外部閃光の影響があった場合でも）フレームメモリ等を必要とせず、外部閃光の影響の有無を判定することができる。
第２６の発明は、第２５の発明であって、評価値は、撮像信号の各ラインの輝度信号の加算平均値である。
これにより、この撮像装置では、撮像信号の輝度レベルの変化から外部閃光の影響の有無を判定することができる。

第２７の発明は、第２５または第２６の発明であって、撮像部は、被写体を撮像して複数チャンネルの原色信号を撮像信号として出力する撮像素子で構成される。評価値は、撮像信号の各ラインのチャンネル毎の加算平均値である。ライン増加判定部およびライン減少判定部は、評価値をチャンネル毎に、処理対象のラインのａライン前およびｂライン前の評価値と比較して、全てのチャンネルの評価値が、各々の所定量以上増加および減少する場合に、第ｍ１ラインおよび第ｍ２ラインを検出する。
この撮像装置では、撮像部を、例えば、緑、青および赤の３チャンネルの原色信号を出力する３板式の撮像素子で構成する場合、フラッシュ等の発光により３チャンネルの撮像信号が同一フレームの同一ラインから外部閃光の影響が開始され、別の同一フレームの同一ラインで外部閃光の影響が終了する。このため、この撮像装置では、検出する際に３チャンネル各々の評価値が同時に所定量以上増加または減少することを条件とすることにより、被写体によらず、より確実に外部閃光の影響の有無を判定することができる。

第２８の発明は、被写体を撮像して撮像信号を取得する撮像部を備える撮像装置に用いられる外部閃光検出方法であって、ライン評価値算出ステップと、ライン判定ステップと、フレーム判定ステップと、を備える外部閃光検出方法である。
ライン評価値算出ステップでは、撮像信号により形成されフレームを構成することができる撮像画像の各ラインの評価値を算出する。ライン判定ステップでは、第Ｎフレーム（Ｎは整数）において、処理対象のラインの評価値が、処理対象のラインのａライン前（ａは正整数）の評価値と比較して所定量以上増加するラインを、第ｍラインとして検出し、第ｍラインのライン位置を示すライン位置情報ｍと、第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ）および第ｍラインよりａライン前の第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ）を記憶する。フレーム判定ステップでは、ライン判定ステップにより記憶されたライン位置情報ｍに対して、ライン判定部に記憶された第Ｎフレームの第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ）および第Ｎフレームの第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ）と、第Ｎフレーム以降のフレームにおける撮像信号の第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ＋α）（αは、自然数）および第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ＋α）とをライン間またはフレーム間で比較することにより、撮像信号が構成する各フレームに外部閃光の影響があるか否かを判断する。

これにより、第１８の発明と同様の効果を奏する外部閃光検出方法を実現することができる。
第２９の発明は、被写体を撮像して撮像信号を取得する撮像部を備える撮像装置に用いられる外部閃光検出方法をコンピュータに実行させるプログラムである。外部閃光検出方法は、ライン評価値算出ステップと、ライン判定ステップと、フレーム判定ステップと、を備える。
ライン評価値算出ステップでは、撮像信号により形成されフレームを構成することができる撮像画像の各ラインの評価値を算出する。ライン判定ステップでは、第Ｎフレーム（Ｎは整数）において、処理対象のラインの評価値が、処理対象のラインのａライン前（ａは正整数）の評価値と比較して所定量以上増加するラインを、第ｍラインとして検出し、第ｍラインのライン位置を示すライン位置情報ｍと、第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ）および第ｍラインよりａライン前の第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ）を記憶する。フレーム判定ステップでは、ライン判定ステップにより記憶されたライン位置情報ｍに対して、ライン判定部に記憶された第Ｎフレームの第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ）および第Ｎフレームの第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ）と、第Ｎフレーム以降のフレームにおける撮像信号の第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ＋α）（αは、自然数）および第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ＋α）とをライン間またはフレーム間で比較することにより、撮像信号が構成する各フレームに外部閃光の影響があるか否かを判断する。

これにより、第１８の発明と同様の効果を奏する外部閃光検出方法をコンピュータに実行させるプログラムを実現することができる。
第３０の発明は、被写体を撮像して撮像信号を取得する撮像部を備える撮像装置に用いられる集積回路であって、ライン評価値算出部と、ライン判定部と、フレーム判定部と、を備える集積回路である。
ライン評価値算出部は、撮像信号により形成されフレームを構成することができる撮像画像の各ラインの評価値を算出する。ライン判定部は、第Ｎフレーム（Ｎは整数）において、処理対象のラインの評価値が、処理対象のラインのａライン前（ａは正整数）の評価値と比較して所定量以上増加するラインを、第ｍラインとして検出し、第ｍラインのライン位置を示すライン位置情報ｍと、第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ）および第ｍラインよりａライン前の第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ）を記憶する。フレーム判定部は、ライン判定部に記憶されたライン位置情報ｍに対して、ライン判定部に記憶された第Ｎフレームの第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ）および第Ｎフレームの第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ）と、第Ｎフレーム以降のフレームにおける撮像信号の第ｍラインの評価値Ｌｍ（Ｎ＋α）（αは、自然数）および第（ｍ−ａ）ラインの評価値Ｌｍ−ａ（Ｎ＋α）とをライン間またはフレーム間で比較することにより、撮像信号が構成する各フレームに外部閃光の影響があるか否かを判断する。

これにより、第１８の発明と同様の効果を奏する集積回路を実現することができる。
第３１の発明は、第１の発明であって、フラッシュ補正処理部をさらに備える。
閃光検出部は、撮像信号により形成される現在の単位画像である第Ｎ番目画像を、所定の大きさのブロックに分割し、分割したブロック毎の撮像信号の信号値の平均値を求め、現在の単位画像上の任意の位置（ｉ，ｊ）（ｉ行ｊ列目のブロックの位置）におけるブロックの平均値と現在の単位画像の１単位画像前の単位画像の同一位置（ｉ，ｊ）の近傍のブロックの平均値との比較に基づき、撮像信号により形成される現在の単位画像が閃光の影響を受けているか否かを検出する。フラッシュ補正処理部は、閃光検出部により、撮像信号が閃光の影響を受けていると判断した場合、撮像信号に存在する閃光の影響を補正する。

この撮像装置では、閃光検出部により、現在の単位画像上の任意の位置（ｉ，ｊ）（ｉ行ｊ列目のブロックの位置）におけるブロックの平均値と現在の単位画像の１単位画像前の単位画像の同一位置（ｉ，ｊ）の近傍のブロックの平均値との比較に基づき、撮像信号により形成される現在の単位画像が閃光の影響を受けているか否かが検出される。したがって、この撮像装置では、動き検出等の処理をすることなく、例えば、動く高輝度被写体に対して「外部閃光あり」との誤判断をすることなく、確実に、外部閃光の有無を検出することができる。
第３２の発明は、第３１の発明であって、閃光検出部は、単位画像上の任意の位置（ｉ，ｊ）におけるブロックの当該ブロックを構成する画素の画素値の平均値であるブロック平均値Ａｖｅ（ｉ，ｊ）と、１単位画像前の単位画像の同一位置（ｉ，ｊ）の近傍のブロックのうちブロック平均値Ａｖｅ（ｉ，ｊ）と最も近いブロック平均値を有するブロックのブロック平均値ＲＡｖｅとの差（Ａｖｅ（ｉ，ｊ）−ＲＡｖｅ）を検出する。そして、閃光検出部は、検出した差（Ａｖｅ（ｉ，ｊ）−ＲＡｖｅ）が所定の値以上になっているブロック数Ｎｕｍを取得する。そして、閃光検出部は、単位画像上の所定のエリア内において、ブロック数Ｎｕｍが、所定の個数以上存在するか否かを判定することにより、撮像信号が閃光の影響を受けているか否かを検出する。

これにより、この撮像装置では、動き検出等の処理をすることなく、例えば、動く高輝度被写体に対して「外部閃光あり」との誤判断をすることなく、確実に、外部閃光の有無を検出することができる。
第３３の発明は、第３１または第３２の発明であって、閃光検出部は、ブロックの平均値として、各ブロックの画素の値の総和をビットシフトした値を用いる。
これにより、ビットシフトにより、ブロックの平均値を求めることができる。

本発明によれば、回路規模の増大を招くことなく、任意のタイミングで発光される外部閃光による撮像信号への影響の有無を確実に判断することが可能な撮像装置、外部閃光検出方法、プログラムおよび集積回路を実現することができる。
また、本発明によれば、外部閃光による明るい横帯のある不自然な画面に対して、動く高輝度被写体に対しても少ない回路規模で誤動作が少なく閃光の有無を検出できる撮像装置、外部閃光検出方法、プログラムおよび集積回路を実現することができる。

第１実施形態における撮像装置の構成を示すブロック図 第１実施形態における撮像装置の外部閃光の検出動作を示す図 第１実施形態における撮像装置の垂直方向に移動する明るい被写体に対する検出動作を示す図 第１実施形態における撮像装置の２回の外部閃光の検出動作を示す図 第１実施形態における撮像装置の電子シャッター動作における外部閃光の検出動作を示す図 第２実施形態における撮像装置の概略構成を説明する図 第２実施形態における撮像装置のライン判定部の概略構成を説明する図 ＣＭＯＳイメージセンサを用いた撮像装置における外部閃光による撮像信号への影響を説明する図 ＣＭＯＳイメージセンサを用いた撮像装置における外部閃光による撮像信号への影響を説明する図 ＣＭＯＳイメージセンサを用いた撮像装置における外部閃光による撮像信号への影響を説明する図 ＣＭＯＳイメージセンサを用いた撮像装置における外部閃光による撮像信号への影響を説明する図 ＣＭＯＳイメージセンサを用いた撮像装置における外部閃光による撮像信号への影響を説明する図 ＣＭＯＳイメージセンサを用いた撮像装置における外部閃光による撮像信号への影響を説明する図 ＣＭＯＳイメージセンサを用いた撮像装置における外部閃光による撮像信号への影響を説明する図 ＣＭＯＳイメージセンサを用いた撮像装置における外部閃光による撮像信号への影響を説明する図 第５実施形態および第２実施形態における撮像装置の概略構成を説明する図 第５実施形態および第２実施形態における撮像装置のライン判定部の概略構成を説明する図 第５実施形態および第２実施形態における撮像装置のフレーム判定部の概略構成を説明する図 ＣＭＯＳイメージセンサを用いた撮像装置における外部閃光による撮像信号への影響を説明する図 ＣＭＯＳイメージセンサを用いた撮像装置における外部閃光による撮像信号への影響を説明する図 ＣＭＯＳイメージセンサを用いた撮像装置における外部閃光による撮像信号への影響を説明する図 第７実施形態および第８実施形態における撮像装置の概略構成を説明する図 第７実施形態および第８実施形態における撮像装置のライン増加判定部の概略構成を説明する図 第７実施形態および第８実施形態における撮像装置のライン減少判定部の概略構成を説明する図 第９実施形態の撮像装置のブロック図 第９実施形態の撮像装置各部の映像の様子を示す図 第９実施形態の閃光検出部の構成を示す図 第９実施形態の画面をブロックに分割した様子を示す図 第９実施形態の現フィールドの処理対象にするブロックを示した図 第９実施形態の前フィールドの処理に使用するブロックを示した図 第９実施形態の閃光の影響があると判断されたブロックを示した図 第９実施形態、従来の例で、前フィールドで高輝度被写体のあるブロックを示した図 第１実施形態、従来の例で、現フィールドで高輝度被写体のあるブロックを示した図 外部閃光により撮像信号に妨害が発生し得る撮影シーンを説明する図 ＣＭＯＳイメージセンサを用いた撮像装置における外部閃光による白帯状の妨害発生原理を説明図 従来の撮像装置の概略構成を説明する図 従来の閃光検出部の概略構成図

以下、実施形態について、図１から図５を用いて説明する。
［第１実施形態］
＜１．１：撮像装置の構成＞
図１は、第１実施形態の撮像装置１０００の概略構成を示す図である。
撮像装置１０００は、図１に示すように、撮像部１と、検出部２と、補正部３とを備える。
撮像部１は、ＣＭＯＳイメージセンサ等の撮像素子を含んで構成され、被写体を撮像して撮像信号（映像信号）を取得し、取得した撮像信号（映像信号）を検出部２および補正部３に出力する。なお、撮像信号により撮像画像（フレーム画像）が形成される。そして、複数のフレーム画像を表示装置に表示させることで、表示装置で撮像映像を表示させることができる。

検出部２は、図１に示すように、ライン平均部１１（ライン輝度情報算出部）と、記憶部１２と、フレーム差分演算部１３と、判断部１４とを備える。検出部２は、撮像部１から出力される撮像信号（映像信号）を入力とし、撮像信号により撮像画像（フレーム画像）が外部閃光の影響を受けているか否かを判断する。そして、検出部２は、判断結果を示す信号を補正部３に出力する。
ライン平均部１１は、撮像部１から出力される撮像信号（映像信号）を入力とし、入力される撮像信号（映像信号）について１ライン毎にその平均値（ライン平均値）を算出する。そして、ライン平均部１１は、算出したライン平均値（を示す信号）を記憶部１２およびフレーム差分演算部１３へ順次出力する。
記憶部１２は、ライン平均部１１から出力されるライン平均値（を示す信号）を入力とし、１画面分（撮像信号（映像信号）が形成する画面（フレーム画像）１つ分）のライン平均値を記憶する。そして、記憶部１２は、記憶したライン平均値を１フレーム期間後にフレーム差分演算部１３に供給（出力）する。

フレーム差分演算部１３は、ライン平均部１１から出力されるライン平均値Ａｖｅ（ｋ，Ｎ）（ｋはライン番号、Ｎはフレーム番号）（を示す信号）と、記憶部１２から出力されるライン平均値Ａｖｅ（ｋ，（Ｎ−１））（ｋはライン番号、Ｎはフレーム番号）（を示す信号）とを入力とする。フレーム差分演算部１３は、その時点のライン平均値から１フレーム前のライン平均値を減算することにより差分を演算する。すなわち、
Ｄｉｆｆ（ｋ，Ｎ）＝Ａｖｅ（ｋ，Ｎ）−Ａｖｅ（ｋ，（Ｎ−１））
により、差分Ｄｉｆｆ（ｋ，Ｎ）（第ｋ番目のラインにおける現フレームと１フレーム前のライン平均値の差分）を取得する。そして、フレーム差分演算部１３は、取得した差分（ライン平均値のフレーム差分）（を示す信号）を判断部１４に出力する。
判断部１４は、フレーム差分演算部１３から出力される差分（ライン平均値のフレーム差分）（を示す信号）を入力とし、当該差分（ライン平均値のフレーム差分）に基づいて、外部閃光の影響の有無について、判断する。そして、判断部１４は、判断結果を示す信号を補正部３に出力する。なお、判断部１４は、外部閃光の影響を受けている期間についての情報（例えば、外部閃光の影響を受けていると判断された開始ライン番号と終了ライン番号や、外部閃光の影響を受けていると判断されたフレーム番号）等を記憶する機能を有している。また、判断部１４は、外部閃光の影響の有無を判定するために、ライン平均差分値と比較するための閾値を設定する機能を有している。

補正部３は、撮像部１から出力される撮像信号（映像信号）および検出部２から出力される外部閃光の影響の有無に関する情報を示す信号を入力とし、外部閃光の影響の有無に関する情報に基づいて、撮像信号（映像信号）に対して補正処理（外部閃光の影響を排除する処理等）を行う。
＜１．２：撮像装置の動作＞
以上のように構成された撮像装置１０００の動作について、以下、説明する。
撮像部１により被写体を撮像して取得された撮像信号は、検出部２および補正部３へ出力される。撮像部１は、ＣＭＯＳ撮像素子を備えており、ライン単位で電荷蓄積、読み出しおよび撮像信号としての出力が行われる。
なお、本実施形態では、まず、電子シャッターを使用しない、すなわち、撮像部１の１フレームあたりの露光時間（信号電荷の蓄積時間）が、撮像フレームレートで決まる信号読み出し周期（１フレーム期間）と略等しいものとして説明する。例えば、撮像フレームレートが６０フレーム／秒であれば、１フレーム期間、信号読み出し周期および露光時間は、１／６０秒となる。

検出部２では、撮像部１から出力される撮像信号（映像信号）において、画像（当該撮像信号により形成される画像）に外部閃光の影響があるか否かが判定され、判定情報が補正部３へ出力される。
補正部３では、検出部２の判定情報に従い、撮像部１からの映像信号に画像の補正や加工等の処理が実行される。そして、補正部３により処理された映像信号は、補正部３の後段の機能部（不図示）に出力される。
補正部３での補正処理としては、例えば、以下のようなものが考えられる。
（１）補正部３が、外部閃光の影響を受けていない直前のフレームの撮像信号を外部閃光の影響を受けたフレームの撮像信号と置き換えて出力信号とすることで、外部閃光の影響を排除する補正処理。
（２）補正部３が、外部閃光の影響を受けている撮像信号を、あらかじめ決められた特定の撮像信号（例えば、全画素が特定の画素値（例えば、黒や白に相当する画素値）である撮像信号）に置き換えて出力信号とすることで、外部閃光の影響を排除する補正処理。

（１．２．１：検出部２の動作）
次に、検出部２の動作について、より詳細に説明する。
ライン平均部１１は、入力される映像信号について１ライン毎にその平均値（ライン平均値）Ａｖｅ（ｋ，Ｎ）（ｋはライン番号、Ｎはフレーム番号）を算出し、算出したライン平均値を記憶部１２とフレーム差分演算部１３へ順次出力する。
記憶部１２は、１画面分のライン平均値Ａｖｅ（ｋ，Ｎ）を記憶し、記憶したライン平均値を１フレーム期間後にフレーム差分演算部１３に供給する。
フレーム差分演算部１３には、現在の画面のライン平均値Ａｖｅ（ｋ，Ｎ）と１フレーム前の画面のライン平均値Ａｖｅ（ｋ，Ｎ−１）が入力され、フレーム差分演算部１３は、その差分Ｄｉｆｆ（ｋ，Ｎ）を、
Ｄｉｆｆ（ｋ，Ｎ）＝Ａｖｅ（ｋ，Ｎ）−Ａｖｅ（ｋ，Ｎ−１）
により、算出する。そして、フレーム差分演算部１３は、算出したライン平均値の差分Ｄｉｆｆ（ｋ，Ｎ）を判断部１４へ供給（出力）する。

判断部１４は、この差分Ｄｉｆｆ（ｋ，Ｎ）に基づいて、外部閃光の発生（外部閃光の影響の有無）を判断し、判断結果を判定情報として補正部３へ供給（出力）する。
次に、図２の場合における撮像装置１０００の動作について、説明する。
図２は、スチルカメラのフラッシュなどの外部閃光が発光された場合に、本実施形態の撮像装置１０００における撮像信号および表示画像への影響を示す図である。
図２（ａ）は、従来技術における図３５と同様に、撮像部１における電荷蓄積期間（露光期間）と、読み出しタイミング、走査期間を模式化した図であり、画面を構成する各走査ラインの電荷蓄積期間およびその電荷を読み出すための走査期間を、時間軸を横軸に取って表している。また、図２（ｂ）には、撮像部１から出力される撮像信号を各フレームの画面として図示している。

ここで、撮像部１が撮像素子からｎ−１番目のフレームの撮像信号を読み出している途中で、フラッシュのような外部閃光が発光された場合には、撮像部１から出力される撮像信号には、図２（ｂ）に示すように、ｎ−１番目のフレームの画像の下部（ラインαより下）、およびｎ番目のフレームの画像の上部（ラインαより上）に白帯状の妨害が発生する。
ここで、図２（ｃ）には、ライン平均部１１の出力であるライン平均値を、横軸を時間軸として模式的に図示している。なお、各フレームの画像は、画面の上部から下部へと読み出される。このため、図２（ｃ）では、左側が画面上部のライン平均値となり、右側が画面下部のライン平均値となる。例えば、図２（ｃ）のＲ１で示した範囲のライン平均値は、ｎ−１番目のフレームの上部（外部閃光の影響を受けていない部分）に対応するライン平均値であり、図２（ｃ）のＲ２で示した範囲のライン平均値は、ｎ−１番目のフレームの下部（外部閃光の影響を受けている部分）に対応するライン平均値である。

このライン平均値は、記憶部１２に供給されて、１フレーム遅延後にフレーム差分演算部１３へと出力される。フレーム差分演算部１３は、その時点のライン平均値Ａｖｅ（ｋ，Ｎ）から１フレーム前のライン平均値Ａｖｅ（ｋ，（Ｎ−１））を減算することにより差分を演算する。例えば、第ｎフレームの第ｋラインの差分値Ｄｉｆｆ（ｋ，ｎ）は、
Ｄｉｆｆ（ｋ，ｎ）＝Ａｖｅ（ｋ，ｎ）−Ａｖｅ（ｋ，ｎ−１）
により算出される。
このようにして算出されたライン平均値のフレーム差分を図２（ｄ）に示す。
（現フレームがｎ−２番目のフレームの場合）：
ここで、例えば、ｎ−２番目のフレームの撮像信号が検出部２に入力されたときには、ｎ−２番目のフレームとｎ−３番目のフレームとのライン平均値の差分が演算される。ここで、この両フレームは、外部閃光の影響を受けていないので、そのフレーム差分の絶対値は大きな値を持たず、あらかじめ設定した閾値β（β＞０）より小さな値となる。
（現フレームがｎ−１番目のフレームの場合）：
次に、ｎ−１番目のフレームの撮像信号が検出部２に入力されたときには、ｎ−１番目のフレームとｎ−２番目のフレームとのライン平均値の差分が演算される。ここで、ｎ−１番目のフレームのラインαより下部は外部閃光によりライン平均値が大きくなっているので、フレーム差分の絶対値は画面下部にて閾値βを超える値となる。判断部１４は、ライン平均値の差分が閾値βを超える期間が開始したときのフレームがｎ−１番目であり、ラインαｐｓがラインαであることを記憶しておく。
（現フレームがｎ番目のフレームの場合）：
次に、ｎ番目のフレームの撮像信号が検出部２に入力されたときには、ｎ番目のフレームとｎ−１番目のフレームとのライン平均値の差分が演算される。ここで、外部閃光の影響によって、ｎ−１番目のフレームでは下部にてライン平均値が大きくなり、ｎ番目のフレームでは上部にてライン平均値が大きくなっている。したがって、これらのフレームのフレーム差分値はラインαより上部にて閾値βを超える値となり、ラインαより下部では閾値−βより小さな値となる。判断部１４は、ライン平均値の差分が閾値βを超える期間が終了したときのフレームがｎ番目であり、ラインαｐｅがラインαであることを記憶しておく。なお、フレーム差分値が閾値−βより小さい期間が開始したときのフレームおよびラインαｎｓも同じく各々ｎ番目およびラインαである。
（現フレームがｎ＋１番目のフレームの場合）：
そして、ｎ＋１番目のフレームの撮像信号が検出部２に入力されたときには、ｎ＋１番目のフレームとｎ番目のフレームとのライン平均値の差分が演算される。ここで、外部閃光の影響によって、ｎ番目のフレームでは上部にてライン平均値が大きくなっているので、フレーム差分値は画面上部にて閾値−βより小さな値となり、画面下部では絶対値が閾値βより小さな値となる。ここで、フレーム差分値が閾値−βより小さい期間が終了したときのフレームはｎ＋１であり、ラインαｎｅはラインαである。

ここで、図２（ｄ）を参照すると明らかなように、外部閃光の発生により、フレーム差分値が閾値βを超える状態が、ｎ−１番目のフレームのラインαからｎ番目のフレームのラインαまで、略１フレーム期間連続している。
判断部１４は、ｎ−１番目のフレームのαｐｓから、ｎ番目のフレームのαｐｅまでのライン数が略１フレーム期間と等しいときに外部閃光の発生であると検出し、補正部３へと判定結果を供給する。すなわち、判断部１４は、（１）ライン平均値の差分が閾値βを超える期間が開始したフレームと、ライン平均値の差分が閾値βを超える期間が終了したフレームとが連続しており、かつ、（２）αｐｓ＝αｐｅとなるときに、これら連続する２フレームのうち前のフレーム（図２では、ｎ−１番目のフレームがこれに相当。）から外部閃光による妨害が開始していると検出する。

なお、「略１フレーム期間」とは、１フレーム期間±１０％以内（つまり、０．９〜１．１フレーム期間内）に含まれる任意の期間であることが好ましい。１フレーム期間とは異なる期間となる要因として、現実のフラッシュ（外部閃光）はその発光時間が一瞬ではなく一定の時間幅を有することや、ＣＭＯＳイメージセンサの構造上の制限により無効な電荷蓄積期間が生じることがある。
また、判断部１４による、αｐｓ＝αｐｅの判定処理において、多少の誤差を含んだ許容範囲を設定して判定処理を行うようにしてもよい。例えば、０．９αｐｅ＜αｐｓ＜１．１αｐｅであるときは、判断部１４は、上記条件（２）を満たすと判定するようにしてもよい。
また、フレーム差分値が閾値−βより小さい状態に着目すると、ｎ番目のフレームのラインαからｎ＋１番目のフレームのラインαまで、略１フレーム期間連続している。

判断部１４は、αｎｓからαｎｅまでのライン数が略１フレーム期間と等しいときに外部閃光の消滅であると検出し、補正部３へと判定結果を供給する。すなわち、判断部１４は、（１）ライン平均値の差分が閾値−βより小さい期間が開始したフレームと、ライン平均値の差分が閾値−βより小さい期間が終了したフレームとが連続しており、かつ、（２）αｎｓ＝αｎｅとなるときに、これら連続する２フレームのうち前のフレーム（図２では、ｎ番目のフレームがこれに相当）において外部閃光による妨害が終了していると検出する。
なお、「略１フレーム期間」とは、１フレーム期間±１０％以内（つまり、０．９〜１．１フレーム期間内）に含まれる任意の期間であることが好ましい。また、判断部１４による、αｎｓ＝αｎｅの判定処理において、多少の誤差を含んだ許容範囲を設定して判定処理を行うようにしてもよい。例えば、０．９αｎｅ＜αｎｓ＜１．１αｎｅであるときは、判断部１４は、上記条件（２）を満たすと判定するようにしてもよい。

なお、ｎ−１番目のフレームとｎ−２番目のフレームのライン平均値の差分を用いた演算の結果においてαｐｓ＝αであることから、判断部１４は、ｎ−１番目のフレームにおいてラインαを境界として画面下部が外部閃光の影響を受けている、と判断できる。また、ｎ番目のフレームとｎ−１番目のフレームのライン平均値の差分を用いた演算の結果においてαｎｓ＝αであることから、ラインαを境界として画面上部が外部閃光の影響を受けている、と判断できる。補正部３における画像の補正や加工等の処理において、外部閃光の影響を受けているか否かの境界線が必要となる場合、これらの判断部１４の判断結果を利用することができる。
（１．２．２：誤認識しやすい撮像信号に対する処理）
次に、外部閃光による妨害を受けていると誤認識しやすい撮像信号を例に取り、本実施形態の撮像装置１０００の動作を説明する。

図３は、外部閃光と誤認識しやすい例として、非常に明るい被写体が画面の下部から上方向に移動する場合を示す図である。ここで、例えば、ｎ−１番目のフレームだけに着目すると、図２の外部閃光の場合と非常によく似た画面となっており、図３（ｃ）のライン平均値も似ている。しかし、図３（ｄ）に示すようなフレーム差分値に着目すると、大きな絶対値を持つ期間は短くなっており、図２の場合のように１フレーム期間連続することはない。そのため、図３に示したような、明るい被写体が画面の垂直方向に移動する場合であっても、撮像装置１０００では、外部閃光の発生と間違って判断することはない。
（１．２．３：外部閃光が１フレーム期間以内の時間差をおいて複数回発生した場合の処理）
次に、外部閃光が１フレーム期間以内の時間差をおいて複数回発生した場合における、本実施形態の撮像装置１０００の動作を説明する。

図４は、１フレーム期間以内の時間差をおいて２回の外部閃光が発生した場合を示す。ここで、図４（ａ）は、撮像部における電荷蓄積期間（露光期間）と、読み出しタイミング、走査期間を模式化した図であり、図４（ｂ）には、撮像部１から出力される撮像信号を各フレームの画面として図示している。
ここで、ｎ−１番目のフレームの撮像信号を読み出している途中で、フラッシュのような外部閃光が発光されると、ｎ−１番目のフレームの画像の下部（ラインα１より下）には白帯状の妨害が発生する。
次に、図４に示すように、ｎ番目のフレームの撮像信号を読み出している途中で、２回目の外部閃光が発光されたとする。そして、図４に示すように、２回の外部閃光の発生の間隔（第１回目の外部閃光の発生時刻（ｎ−１番目のフレームのα１番目のラインの読み出しタイミング）から第２回目の外部閃光の発生時刻（ｎ番目のフレームのα２番目のラインの読み出しタイミング）までの期間）が１フレーム期間以内であるとする。この場合、両者の画面への影響が重なるので、ｎ番目のフレームの画像は、画面全体が外部閃光の影響を受ける。そして、ｎ＋１番目のフレームの画像は、その上部（ラインα２より上、ただし、α２＜α１とする。）に白帯状の妨害が発生する。

ここで、ライン平均部１１の出力であるライン平均値は、図４（ｃ）に示すように、２回の外部閃光の影響を受け、１フレーム期間以上の大きい数値を取る期間が存在する。そして、フレーム差分演算部１３の出力であるライン平均値のフレーム差分は、図４（ｄ）に示すような変化を示す。
すなわち、ｎ−１番目のフレームのラインα１からｎ番目のフレームのラインα１にかけて、フレーム差分が閾値βを超える値である状態が１フレーム期間連続する。
また、ｎ＋１番目のフレームのラインα２からｎ＋２番目のフレームのラインα２にかけて、フレーム差分が閾値−βより小さい値である状態が１フレーム期間連続する。
判断部１４は、ｎ−１番目のフレームにおいて、ライン平均値の差分が閾値βを超える期間が開始したときのラインαｐｓがラインα１であり、ｎ番目のフレームにおいてライン平均値の差分が閾値βを超える期間が終了したときのラインαｐｅがラインα１であることから、これら連続する２フレームのうち前のフレーム（ｎ−１番目のフレーム）から外部閃光による妨害が開始していると検出する。

また、ｎ＋１番目のフレームにおいてライン平均値の差分が閾値−βより小さい期間が開始したときのライン平均値αｎｓはラインα２であり、ｎ＋２番目のフレームにおいてライン平均値の差分が閾値−βより小さい期間が終了したときのラインαｎｅはラインα２であることから、これら連続する２フレームのうち前のフレーム（ｎ＋１番目のフレーム）において外部閃光による妨害が終了していると検出する。
ここで、図４（ｃ）、（ｄ）から明らかなように、外部閃光による妨害が発生している期間は、ライン平均値の差分が閾値βを越えた最初のラインαｐｓが開始ラインであり、ライン平均値の差分が閾値−βを越えた最初のラインαｎｓが終了ラインである。すわなち、αｐｓからαｎｓまでの時間幅によって、判断部１４は外部閃光による妨害が発生している期間を判断することができる。

以上より、２回の外部閃光が発生した場合においても、フレーム差分値が閾値βを超える状態が、ｎ−１番目のフレームのラインα１からｎ番目のフレームのラインα１まで、略１フレーム期間連続するので、判断部１４はｎ−１番目のフレームから外部閃光による妨害が開始されたことを検出することができる。また、フレーム差分値が閾値−βより小さい状態が、ｎ＋１番目のフレームのラインα２からｎ＋２番目のフレームのラインα２まで、略１フレーム期間連続するので、判断部１４はｎ＋１番目のフレームにおいて外部閃光による妨害が終了したことを検出することができる。
なお、ｎ−１番目のフレームとｎ−２番目のフレームのライン平均値の差分を用いた演算の結果においてαｐｓ＝α１であることから、判断部１４は、ｎ−１番目のフレームにおいてラインα１を境界として画面下部が外部閃光の影響を受けている、と判断する。また、判断部１４は、ｎ＋１番目のフレームとｎ番目のフレームとのライン平均値の差分を用いた演算の結果においてαｎｓ＝α２であることから、ｎ＋１番目のフレームにおいてラインα２を境界として画面上部が外部閃光の影響を受けている、と判断する。また、判断部１４は、外部閃光の影響を受け始めたフレームであるｎ−１番目のフレームと、外部閃光の影響がなくなった（終了した）フレームであるｎ＋１番目のフレームと、に囲まれるｎ番目のフレームは、画面全体が外部閃光の影響を受けている、と判断する。

補正部３における画像の補正や加工等の処理において、外部閃光の影響を受けているか否かの境界線が必要となる場合、撮像装置１０００では、これらの判断部１４の判断結果を利用することができる。
（１．２．４：電子シャッターを使用した場合の処理）
次に、撮像装置１０００において電子シャッターを使用した場合の動作について、説明する。
通常、撮像装置では、撮像素子の各画素における信号電荷の蓄積時間、すなわちシャッター時間は、撮像素子の各画素から信号（蓄積電荷）を読み出すときの読み出し周期に等しい。しかしながら、ＣＭＯＳイメージセンサ等の固体撮像素子を使用している撮像装置では、電子シャッターと呼ばれる技術により、信号電荷の蓄積時間を変えることができる。電子シャッターを用いた撮像装置では、フォトダイオードに蓄積した電荷を一旦捨てることにより、撮像フレームレートで決まる信号読み出し周期（例えば、テレビ方式の走査周期）より短い電荷蓄積時間による信号を取得することができる。

図５は、撮像装置１０００において、電子シャッターを動作させた撮影状態における、撮像信号および表示画像への外部閃光の影響を示す図である。図５（ａ）は、図２と同様に、撮像部１における電荷蓄積期間（露光期間）と、読み出しタイミング、走査期間を模式化した図であり、画面を構成する各走査ラインの電荷蓄積期間およびその電荷を読み出すための走査期間を、時間軸を横軸に取って表している。また、図５（ｂ）には、撮像部１から出力される撮像信号を各フレームの画面として図示している。
図５（ａ）において、斜線で示した部分は、電子シャッター動作により捨てた信号電荷に相当する部分である。図５（ｂ）は、撮像部１から出力される撮像信号を各フレームの画面として図示している。図５（ｂ）に示すように、ｎ−１番目のフレームの画像の下部（ラインα３より下）、および、ｎ番目のフレームの画像の上部（ラインα４より上）に白帯状の妨害が発生している。外部閃光の影響を受けた電荷が斜線部にかかる場合は、捨てられて撮像信号には影響が出ないので、ｎ番目のフレームの画像の上部における白帯状の妨害は、図２（ｂ）に示した電子シャッターを使用しない場合に比べてその面積が小さくなる。具体的には、外部閃光による妨害を受けるライン数は、電荷蓄積時間の信号読み出し周期に対する割合に応じて小さくなる。

撮像部１における信号読み出し周期をＴｒとし、撮像信号により形成されるフレーム画像の総ライン数をＬａとしたとき、電荷蓄積時間がＴｓであれば、外部閃光による妨害を受けるライン数Ｌは、
Ｌ＝Ｔｓ×Ｌａ／Ｔｒ （１）
と表せる。
ここで、図５（ｃ）に示すライン平均部１１の出力であるライン平均値は、図２（ｃ）と比較して、閾値βを超える期間が電子シャッター期間に応じて、１フレーム期間より短くなっている。そして、フレーム差分演算部１３の出力であるライン平均値のフレーム差分は、図５（ｄ）に示すような変化を示す。
ここで、図５（ｄ）を参照すると明らかなように、外部閃光の発生により、フレーム差分値が絶対値の大きい正の数値である状態が、１フレーム期間より短い期間連続している。このとき、外部閃光による妨害を受けているライン数Ｌは、図５に示すように、ラインαｐｓおよびラインαｐｅが隣接する異なるフレームに存在するときには
Ｌ＝Ｌａ＋αｐｅ−αｐｓ （２）
であるから、式（１）および式（２）より、
Ｌａ＋αｐｅ−αｐｓ＝Ｔｓ×Ｌａ／Ｔｒ （３）
となる。

また、ラインαｐｓおよびラインαｐｅが同一のフレームに存在するときには
Ｌ＝α４−α３ （４）
であるから、式（１）および式（４）より、
αｐｅ−αｐｓ＝Ｔｓ×Ｌａ／Ｔｒ （５）
となる。
よって、図５の場合では、ｎ−１番目のフレームにおいてライン平均値の差分が閾値βを超える期間が開始したときのラインαｐｓがラインα３であり、ｎ番目のフレームにおいてライン平均値の差分が閾値βを超える期間が終了したときのラインαｐｅがラインα４であることから、判断部１４は、αｐｓ＝α３、αｐｅ＝α４が式（３）を満たすとき、これら連続する２フレームのうち前のフレーム（ｎ−１番目のフレーム）から外部閃光による妨害が開始していると検出し、補正部３へ判定結果を供給（出力）する。

一方、αｐｓおよびαｐｅが同一フレームに存在するときには、判断部１４は、式（５）を満たすときに、当該フレームから外部閃光による妨害が開始していると判断し、補正部３へ判定結果を供給（出力）する。
なお、判断部１４における式（３）、（５）等を満たすか否かの判定処理は、誤差（測定誤差、設計誤差）や、動作保証のためのマージン等を考慮した許容範囲（例えば、判定対象の値の±１０％程度の誤差を含めた許容範囲）を設けて、判定するものであってもよい。
また、同様にαｎｓおよびαｎｅについても、図５に示すように、ラインαｎｓおよびラインαｎｅが隣接する異なるフレームに存在するときには、
Ｌａ＋αｎｅ−αｎｓ＝Ｔｓ×Ｌａ／Ｔｒ （６）
であり、ラインαｎｓおよびラインαｎｅが同一のフレームに存在するときには、
αｎｅ−αｎｓ＝Ｔｓ×Ｌａ／Ｔｒ （７）
である。

よって、図５の場合では、ｎ番目のフレームにおいてライン平均値の差分が閾値−βより小さい期間が開始したときのラインαｎｓがラインα３であり、ｎ＋１番目のフレームにおいてライン平均値の差分が閾値−βより小さい期間が終了したときのラインαｎｅがラインα４であることから、判断部１４は、αｎｓ＝α３、αｎｅ＝α４が式（６）を満たすとき、ラインαｐｅが存在するフレーム（ｎ番目のフレーム）において外部閃光による妨害が終了したと検出し、補正部３へと判定結果を供給（出力）する。
一方、αｎｓおよびαｎｅが同一フレームに存在するときには、判断部１４は、式（７）を満たすときに、当該フレームにおいて外部閃光による妨害が終了したと判断し、補正部３へ判定結果を供給（出力）する。
なお、判断部１４における式（６）、（７）等を満たすか否かの判定処理は、誤差（測定誤差、設計誤差等）を考慮した許容範囲（例えば、判定対象の値の±１０％程度の誤差を含めた許容範囲）を設けて、判定するものであってもよい。

また、撮像装置１０００において電子シャッターを使用しない場合には、電子シャッター使用時の説明における上記の各式においてＴｓ＝Ｔｒとすることにより、上記で説明した判断方法をそのまま適用できる。
以上のように、本実施形態によれば、ライン平均値のフレーム差分値が１フレーム期間連続して大きな絶対値を取ることを検出することにより、明るい被写体の移動などを外部閃光の影響と誤認識することなく、外部閃光の影響の有無を判定することができる。
［第２実施形態］
次に、第２実施形態について、図６から図１５を用いて説明する。
＜２．１：撮像装置の構成＞
図６は、第２実施形態の撮像装置２０００の概略構成を示す図である。

撮像装置２０００は、図６に示すように、撮像部１と、検出部４と、フラッシュ補正処理部５と、を備える。
撮像部１は、ＣＭＯＳイメージセンサ等の撮像素子を含んで構成され、被写体を撮像して撮像信号（映像信号）を取得し、取得した撮像信号（映像信号）を検出部４およびフラッシュ補正処理部５に出力する。なお、本実施形態においては、撮像部１の１フレームあたりの露光時間は、撮像フレームレートで決まる１フレーム期間と略等しいものとする。例えば、撮像フレームレートが６０フレーム／秒であれば、１フレーム期間および露光時間は、１／６０秒となる。
検出部４は、撮像部１から出力される撮像信号を入力とし、撮像信号により撮像画像（フレーム画像）が外部閃光の影響を受けているか否かを判断する。そして、検出部４は、判断結果を示す信号をフラッシュ補正処理部５に出力する。検出部４は、図６に示すように、ライン判定部４１と、判定情報記憶部４２と、フレーム判定部４３と、を備える。

ライン判定部４１は、撮像部１から出力される撮像信号を入力とする。ライン判定部４１は、各フレームにおいて撮像信号の最上位ラインおよび最下位ラインを監視して、各々のライン（各フレームの最上位ラインおよび最下位ライン）に外部閃光の影響があるか否かを判定し、最上位ライン判定情報をフレーム判定部４３に出力し、最下位ライン判定情報を判定情報記憶部４２に出力する。
判定情報記憶部４２は、ライン判定部４１から出力される最下位ライン判定情報を記憶する。判定情報記憶部４２は、少なくとも連続する過去１フレーム分の最下位ライン判定情報を記憶できるものとする。つまり、現フレーム（処理対象フレーム）がＮ番目のフレームである場合、判定情報記憶部４２は、少なくとも、（Ｎ−１）番目のフレームの最下位ライン判定情報を記憶できるものとする。判定情報記憶部４２は、記憶している１フレーム前の最下位ライン判定情報をフレーム判定部４３に出力する。

フレーム判定部４３は、判定情報記憶部４２に記憶された１フレーム前の最下位ライン判定情報が外部閃光の影響があることを示し、且つ、ライン判定部４１から出力される現在のフレームの最上位ライン判定情報が外部閃光の影響があることを示す場合に、１フレーム前の撮像信号および現在のフレームの撮像信号に外部閃光の影響があると判定する。そして、判定結果を示すフレーム判定情報をフラッシュ補正処理部５に出力する。
フラッシュ補正処理部５は、撮像部１から出力される撮像信号と、フレーム判定部４３から出力されるフレーム判定情報とを入力とする。フラッシュ補正処理部５は、フレーム判定部４３から出力されるフレーム判定情報を基に必要に応じて、撮像信号に対して外部閃光の影響を除去または抑制する処理を行い、出力信号として出力する。フラッシュ補正処理部５は、入力される撮像信号を一時的に記憶して１フレーム期間遅延させる遅延部（図示せず）を含んでおり、入力される撮像信号により形成されるフレーム画像の各ラインに対応する撮像信号を１フレーム期間遅延させた後、必要に応じて、１フレーム期間遅延させた撮像信号に対して補正処理を行ってから出力する。なお、フラッシュ補正処理部５に含まれる遅延部は、少なくとも１フレームと１ライン分（１Ｖ＋１Ｈ分）の撮像信号を記憶できる容量を持つものとする。

このような構成により、フラッシュ補正処理部５は、例えば、以下の方法により、外部閃光の影響を排除する補正処理を行うことができる。
（１）画面の下部に白帯が発生している１フレーム前の画像と画面の上部に白帯が発生している現在のフレームの画像とを加算して生成した、画面全体に外部閃光の影響を受けた画像で置換する方法。
（２）遅延部に記憶しておいた直近の外部閃光の影響を受けていない画像で置換する方法。
なお、撮像装置２０００において、外部閃光の影響が検出されるのは外部閃光の影響が開始されたフレームの次のフレームの最上位ラインが入力されたタイミングであり、その後に１フレーム前の最上位ラインから外部閃光による妨害を補正するため、ここでは、フラッシュ補正処理部５の内部に１フレームと１ライン分（１Ｖ＋１Ｈ分）の遅延部を含む構成として説明した。しかし、これに限定されることはなく、例えば、撮像装置２０００としてフラッシュ補正処理以外の信号処理、例えば、図３６の従来の撮像装置の画像処理部１１４で行われるような各種画像処理の他、フレーム間でのノイズ削減処理、映像フレームレートの変換処理および映像フォーマットの変換処理などが撮像部１とフラッシュ補正処理部５との間（図示せず）に含まれる場合には、これらの信号処理により映像信号の遅延が生じる。このため、撮像装置２０００において、フラッシュ補正処理用の遅延部は不要、もしくは前述の信号処理部と遅延部を共用することにより、フラッシュ補正処理部５の内部には遅延部を必要としない場合も考えられる。

例えば、撮像装置２０００において、外部閃光の影響があるフレームを、白く飛ばしたフレームや黒のフレームで置換することにより補正する場合には、元画像を記憶しておく必要はないため、前述のフラッシュ補正処理以外の信号処理等により上記に相当する遅延が生じていれば、フラッシュ補正専用のフレームメモリは不要となる。また、フレーム間でのノイズ削減処理などではフレームメモリを備えて１フレーム前の画像を記憶している場合が多いため、撮像装置２０００において、当該フレームメモリを共用して、前述のようにフラッシュ補正処理部５による補正処理を行うこともできる。
＜２．２：撮像装置の動作＞
以上のように構成された撮像装置２０００の動作について、以下、説明する。
撮像部１により被写体を撮像して取得された撮像信号は、検出部４およびフラッシュ補正処理部５へ出力される。撮像部１は、ＣＭＯＳイメージセンサを備えており、ライン単位で電荷蓄積、読み出しおよび撮像信号としての出力が行われる。

撮像部１から出力された撮像信号は、検出部４のライン判定部４１に入力される。
（２．２．１：ライン判定部４１における外部閃光による妨害の判定処理）
ここで、ライン判定部４１における外部閃光による妨害の判定処理について詳細に説明する。
図７は、図６の撮像装置２０００のライン判定部４１の概略構成を示す図である。
評価値生成部４１１は、入力された撮像信号により形成されるフレーム画像の最上位ラインおよび最下位ラインの輝度レベル等から各ライン（最上位ラインおよび最下位ライン）の評価値を生成する。ここでは、各ラインの平均輝度を求めて評価値とする。
評価値記憶部４１２は、評価値生成部４１１が生成した評価値を、少なくとも過去１フレーム分、一時的に記憶しておく。

評価値比較部４１３は、評価値記憶部４１２に記憶されている評価値と評価値生成部４１１で生成された現在の評価値とを比較して、最上位ラインおよび最下位ラインにおける外部閃光の影響の有無を判定し、判定結果を、各々最上位ライン判定情報および最下位ライン判定情報として、フレーム判定部４３に出力する。最上位ライン判定情報および最下位ライン判定情報は、そのラインに外部閃光の影響がある場合に「妨害あり」を示し、影響がない場合に「妨害なし」を示すものとする。また、以下では便宜上、ｎ番目のフレームにおける最上位ライン判定情報をＬＴ_n、最下位ライン判定情報をＬＢ_nと表記するものとする。また、評価値比較部４１３は、最上位ラインおよび最下位ラインにおける外部閃光の影響の有無の、現在の状態（最後に出力したＬＴ_nおよびＬＢ_n）を各々内部状態ＬＴＩおよびＬＢＩとして保持しているものとする。また、これらの初期値は、いずれも「妨害なし」であるものとする。

図８〜図１０は、撮像部１が撮像中にスチルカメラのフラッシュなどの外部閃光がそれぞれ異なるタイミングで発光された場合の、撮像信号および出力信号（モニターやビューファインダーへの表示画像）への影響を示す図である。
各図（ａ）は、撮像部１における撮像信号のライン単位の電荷蓄積期間を示す模式図である。
各図（ｂ）は、フラッシュ補正処理部５から出力される出力信号（モニター等への表示画像）の模式図である。これらは、図３５に示した模式図を簡略化したものに相当する。
各図（ｃ）は、評価値比較部４１３で評価する最上位ラインおよび最下位ラインの評価値（各ラインの平均輝度）の変化を示す模式図である。
各図（ｄ）は、評価値比較部４１３が出力する最上位ライン判定情報ＬＴ_nおよび最下位ライン判定情報ＬＢ_nを示す。

各図（ｅ）は、フレーム判定部４３が出力するフレーム判定情報を示す。
（２．２．２：ライン判定部４１の動作）
次に、ライン判定部４１の動作について図７〜図１０を用いて説明する。
撮像部１から出力された撮像信号は、ライン判定部４１に入力される。
ライン判定部４１の内部では、入力された各ラインの撮像信号（各ラインを形成する撮像信号）が順次、評価値生成部４１１に供給（入力）される。評価値生成部４１１は、最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号が入力されたタイミングで各ラインの輝度信号の加算平均値を算出して、算出した値を評価値とする。通常、外部閃光の影響を受けていない場合に比べて、外部閃光の影響を受けた場合には、相対的に撮像信号の輝度レベルが増加することになるため、最上位ラインおよび最下位ラインの評価値の、フレーム間の相対的な変化を検出することにより外部閃光の影響の有無を確認することができる。評価値記憶部４１２は、評価値生成部４１１で算出された最上位ラインおよび最下位ラインの評価値を一時的に記憶する。

≪図８の場合≫
図８は、撮像部１がｎ−１番目からｎ番目にかけてのフレームを撮像している途中に外部閃光（フラッシュ）が発光された状況を示している。この場合、図８（ａ）、（ｂ）に示すように、撮像部１から出力される撮像信号には、ｎ−１番目のフレームの画像の下部およびｎ番目のフレームの画像の上部に白帯状の妨害が発生する。図８に示すようなタイミングで外部閃光が発光された場合には、評価値生成部４１１で生成されたｎ−２番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値は、評価値記憶部４１２に記憶されると共に、評価値比較部４１３にも供給される。
（ｎ−１番目のフレームの処理）：
次に、ｎ−１番目のフレームの撮像信号が入力されたときも同様に、評価値生成部４１１で生成されたｎ−１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値は、評価値記憶部４１２および評価値比較部４１３に供給される。評価値比較部４１３では、このｎ−１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値を、評価値記憶部４１２に記憶しておいたｎ−２番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値と比較し、その変化量（増加量または減少量）が予め設定しておいた所定の閾値よりも大きいか否かを判定する。

図８（ｃ）に示すように、ｎ−２番目のフレームの最上位ラインの評価値に対するｎ−１番目のフレームの最上位ラインの評価値の変化量は、所定の閾値より小さく（以下、この場合を「不変」と表記する）、ｎ−２番目のフレームの最下位ラインの評価値に対するｎ−１番目のフレームの最下位ラインの評価値の変化量（増加量）は所定の閾値よりも大きくなる（以下、この場合を「増加」と表記する）。
直前の最上位ライン判定情報ＬＴ_n-2を保持する内部状態ＬＴＩは、「妨害なし」であり、最上位ラインは、その状態に変化がないため、ライン判定部４１は、最上位ライン判定情報ＬＴ_n-1として「妨害なし」を出力する。
また、最下位ライン判定情報ＬＢ_n-2を保持する内部状態ＬＢＩは、「妨害なし」であり、最下位ラインは、評価値が「増加」したため、ライン判定部４１は、最下位ライン判定情報ＬＢ_n-1として「妨害あり」を出力する。また、評価値比較部４１３は、内部状態ＬＢＩを「妨害なし」から「妨害あり」に変化させる。

なお、評価値比較部４１３での比較処理に用いられる上記閾値は、外部閃光の影響により、直前フレームの対応するラインと比較して輝度レベルに変化があるラインの評価値の変化量が閾値を超え、変化がないラインの評価値の変化量が閾値を超えないような値に設定される。閾値は、固定値（例えば、撮像装置２０００のシステム性能（カメラ性能）を考慮し、外部閃光を適切に検出することができる予め設定した固定値）として設定してもよいが、これに限定されることはなく、例えば、外部閃光の影響がなく補正処理が不要と判定された直前のフレーム全体の平均輝度に基づいて算出するようにしてもよい。
評価値記憶部４１２は、ｎ−２番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの評価値の代わりに、新たに供給されたｎ−１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの評価値を記憶する。
（ｎ番目のフレームの処理）：
次に、ｎ番目のフレームの撮像信号が入力されたときにも同様に、評価値生成部４１１で生成されたｎ番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値は、評価値記憶部４１２および評価値比較部４１３に供給される。

評価値比較部４１３では、このｎ番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値を、評価値記憶部４１２に記憶しておいたｎ−１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値と比較する。具体的には、ｎ−１番目のフレームの最上位ラインの評価値に対するｎ番目のフレームの最上位ラインの評価値の変化量が「増加」となり、ｎ−１番目のフレームの最下位ラインの評価値に対するｎ番目のフレームの最下位ラインの評価値の変化量（減少量）が所定の閾値より大きくなる（以下、この場合を「減少」と表記する）。評価値比較部４１３に保持されている内部状態ＬＴＩは、「妨害なし」であり、最上位ラインは評価値が「増加」したため、評価値比較部４１３は、最上位ライン判定情報ＬＴ_nとして「妨害あり」を出力すると共に、内部状態ＬＴＩを「妨害なし」から「妨害あり」に変化させる。また、内部状態ＬＢＩは「妨害あり」であり、最下位ラインは評価値が「減少」したため、評価値比較部４１３は、最下位ライン判定情報ＬＢ_nとして「妨害なし」を出力すると共に、内部状態ＬＢＩを「妨害あり」から「妨害なし」に変化させる。

評価値記憶部４１２は、ｎ−１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの評価値の代わりに、新たに供給されたｎ番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの評価値を記憶する。
（ｎ＋１番目のフレームの処理）：
さらに、ｎ＋１番目のフレームの撮像信号が入力されたときにも同様に、評価値生成部４１１で生成されたｎ＋１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値は、評価値記憶部４１２および評価値比較部４１３に供給される。
評価値比較部４１３では、このｎ＋１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値を、評価値記憶部４１２に記憶しておいたｎ番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値と比較する。具体的には、ｎ番目のフレームの最上位ラインの評価値に対するｎ＋１番目のフレームの最上位ラインの評価値の変化量が「減少」となり、ｎ番目のフレームの最下位ラインの評価値に対するｎ＋１番目のフレームの最下位ラインの評価値の変化量が「不変」となる。評価値比較部４１３に保持されている内部状態ＬＴＩは、「妨害あり」であり、最上位ラインは評価値が「減少」したため、評価値比較部４１３は、最上位ライン判定情報ＬＴ_n+1として「妨害なし」を出力すると共に、内部状態ＬＴＩを「妨害あり」から「妨害なし」に変化させる。また、内部状態ＬＢＩは「妨害なし」であり、最下位ラインは評価値が「不変」であるため、評価値比較部４１３は、最下位ライン判定情報ＬＢ_n+1として「妨害なし」を出力する。

評価値記憶部４１２では、ｎ番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの評価値の代わりに、新たに供給されたｎ＋１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの評価値を記憶する。
≪図９の場合≫
次に、図９に、示すようなタイミングで外部閃光が発光された場合について説明する。
図９は、ｎ番目のフレームを撮像している途中に外部閃光が発光され、さらに続けてｎ＋１番目のフレームを撮像している途中に外部閃光が発光された状況を示している。
（ｎ−２、ｎ−１番目のフレームの処理）：
ｎ−２、ｎ−１番目のフレームの撮像信号が入力されたときには、ライン判定部４１は、図８に示した例と同様に動作する。
（ｎ番目のフレームの処理）：
ｎ番目のフレームの撮像信号が入力されたときには、評価値生成部４１１で生成されたｎ番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値は、評価値記憶部４１２および評価値比較部４１３に供給される。

評価値比較部４１３では、このｎ番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値を、評価値記憶部４１２に記憶しておいたｎ−１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値と比較する。具体的には、ｎ−１番目のフレームの最上位ラインの評価値に対するｎ番目のフレームの最上位ラインの評価値の変化量が「増加」となり、ｎ−１番目のフレームの最下位ラインの評価値に対するｎ番目のフレームの最下位ラインの評価値の変化量が「不変」となる。評価値比較部４１３に保持されている内部状態ＬＴＩは、「妨害なし」であり、最上位ラインは評価値が「増加」したため、評価値比較部４１３は、最上位ライン判定情報ＬＴ_nとして「妨害あり」を出力すると共に、内部状態ＬＴＩを「妨害なし」から「妨害あり」に変化させる。また、内部状態ＬＢＩは「妨害あり」であり、最下位ラインは評価値が「不変」のため、評価値比較部４１３は、最下位ライン判定情報ＬＢ_nとして引き続き「妨害あり」を出力する。

評価値記憶部４１２では、ｎ−１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの評価値の代わりに、新たに供給されたｎ番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの評価値を記憶する。
（ｎ＋１番目のフレームの処理）：
次に、ｎ＋１番目のフレームの撮像信号が入力されたときには、評価値生成部４１１で生成されたｎ＋１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値は、評価値記憶部４１２および評価値比較部４１３に供給される。
評価値比較部４１３では、このｎ＋１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値を、評価値記憶部４１２に記憶しておいたｎ番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値と比較する。具体的には、ｎ番目のフレームの最上位ラインの評価値に対するｎ＋１番目のフレームの最上位ラインの評価値の変化量が「不変」となり、ｎ番目のフレームの最下位ラインの評価値に対するｎ＋１番目のフレームの最下位ラインの評価値の変化量が「減少」となる。評価値比較部４１３に保持されている内部状態ＬＴＩは、「妨害あり」であり、最上位ラインは評価値が「不変」のため、評価値比較部４１３は、最上位ライン判定情報ＬＴ_n+1として引き続き「妨害あり」を出力する。また、内部状態ＬＢＩは「妨害あり」であり、最下位ラインは評価値が「減少」であるため、評価値比較部４１３は、最下位ライン判定情報ＬＢ_n+1として「妨害なし」を出力すると共に、内部状態ＬＢＩを「妨害あり」から「妨害なし」に変化させる。

評価値記憶部４１２では、ｎ番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの評価値の代わりに、新たに供給されたｎ＋１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの評価値を記憶する。
（ｎ＋２番目のフレームの撮像信号が入力されたとき）：
さらに、ｎ＋２番目のフレームの撮像信号が入力されたときにも同様に、評価値生成部４１１で生成されたｎ＋２番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値は、評価値記憶部４１２および評価値比較部４１３に供給される。
評価値比較部４１３では、このｎ＋２番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値を、評価値記憶部４１２に記憶しておいたｎ＋１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値と比較する。具体的には、ｎ＋１番目のフレームの最上位ラインの評価値に対するｎ＋２番目のフレームの最上位ラインの評価値の変化量が「減少」となり、ｎ＋１番目のフレームの最下位ラインの評価値に対するｎ＋２番目のフレームの最下位ラインの評価値の変化量が「不変」となる。評価値比較部４１３に保持されている内部状態ＬＴＩは、「妨害あり」であり、最上位ラインは評価値が「減少」のため、評価値比較部４１３は、最上位ライン判定情報ＬＴ_n+2として「妨害なし」を出力すると共に、内部状態ＬＴＩを「妨害あり」から「妨害なし」に変化させる。また、内部状態ＬＢＩは「妨害なし」であり、最下位ラインは評価値が「不変」のため、評価値比較部４１３は、最下位ライン判定情報ＬＢ_n+2として引き続き「妨害なし」を出力する。

評価値記憶部４１２では、ｎ＋１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの評価値の代わりに、新たに供給されたｎ＋２番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの評価値を記憶する。
≪図１０の場合≫
図１０に示すようなタイミングで外部閃光が発光された場合にも、ライン判定部４１は、図８の場合と同様に動作し、ｎ番目のフレームでは、評価値比較部４１３は、ＬＴ_nおよびＬＢ_nとして「妨害あり」を出力し、ｎ＋１番目のフレームではＬＴ_nおよびＬＢ_nとして「妨害なし」を出力する。
（２．２．３：撮像装置２０００の全体動作）
次に、第２実施形態の撮像装置２０００の全体の動作について、図６、図８、図９および図１０を用いて説明する。

まず、図８に示すように、ｎ番目のフレームを撮像している途中に外部閃光が発光された場合について説明する。
（ｎ−２番目のフレームの処理）：
撮像信号に外部閃光の影響がないとき、例えば、ｎ−２番目のフレームの撮像信号がライン判定部４１に入力されたときには、ライン判定部４１は、ｎ−２番目のフレームの撮像信号に対する最上位ライン判定情報ＬＴ_n-2および最下位ライン判定情報ＬＢ_n-2として、共に「妨害なし」を出力する。
判定情報記憶部４２は、このうち少なくとも最下位ライン判定情報ＬＢ_n-2を記憶しておく。すなわち、この例では、判定情報記憶部４２は、「妨害なし」を記憶することになる。

フレーム判定部４３では、ｎ−２番目のフレームの最上位ライン判定情報ＬＴ_n-2と、１フレーム前、すなわちｎ−３番目のフレームの撮像信号が入力されたときに、判定情報記憶部４２に記憶されたｎ−３番目のフレームの最下位ライン判定情報ＬＢ_n-3（「妨害なし」が記憶されているものとする）が入力される。このとき、ＬＴ_n-2およびＬＢ_n-3は、共に「妨害なし」であるため、フレーム判定部４３は、少なくともｎ−３番目のフレームの撮像信号には、外部閃光の影響がないと判断し、「補正不要」を示す情報をフレーム判定情報として、フラッシュ補正処理部５に出力する（図８（ｅ））。
フラッシュ補正処理部５は、ｎ−２番目のフレームの撮像信号が入力されると、これを遅延部に記憶する。また、フレーム判定部４３から送られてくるフレーム判定情報が「補正不要」であるため、すでに遅延部に記憶されているｎ−３番目のフレームの撮像信号を補正せず、そのまま出力信号として出力する。
（ｎ−１番目のフレームの処理）：
次に、ｎ−１番目のフレームの撮像信号がライン判定部４１に入力されたときには、ライン判定部４１から出力されるｎ−１番目のフレームの撮像信号に対する最上位ライン判定情報ＬＴ_n-1は「妨害なし」を示し、最下位ライン判定情報ＬＢ_n-1は「妨害あり」を示す。

判定情報記憶部４２は、このうち少なくとも最下位ライン判定情報ＬＢ_n-1を記憶しておく。
フレーム判定部４３では、ｎ−１番目のフレームの最上位ライン判定情報ＬＴ_n-1と、同様に１フレーム前、すなわちｎ−２番目のフレームの撮像信号が入力されたときに判定情報記憶部４２に記憶されたｎ−２番目のフレームの最下位ライン判定情報ＬＢ_n-2が入力される。このとき、ＬＴ_n-1およびＬＢ_n-2は、共に「妨害なし」を示すため、フレーム判定部４３は、少なくともｎ−２番目のフレームの撮像信号には、外部閃光の影響がないと判断し、「補正不要」を示す情報をフレーム判定情報として、フラッシュ補正処理部５に出力する。
フラッシュ補正処理部５は、ｎ−１番目のフレームの撮像信号が入力されると、これを遅延部に記憶する。また、フレーム判定部４３から送られてくるフレーム判定情報が「補正不要」であるため、すでに遅延部に記憶されているｎ−２番目のフレームの撮像信号を補正せず、そのまま出力信号として出力する。
（ｎ番目のフレームの処理）：
次に、ｎ番目のフレームの撮像信号がライン判定部４１に入力されたときには、出力されるｎ番目のフレームの撮像信号に対する最上位ライン判定情報ＬＴ_nは「妨害あり」を示し、最下位ライン判定情報ＬＢ_nは「妨害なし」を示す。

判定情報記憶部４２は、このうち少なくとも最下位ライン判定情報ＬＢ_nを記憶しておく。
フレーム判定部４３では、ｎ番目のフレームの最上位ライン判定情報ＬＴ_nと、同様に１フレーム前、すなわちｎ−１番目のフレームの撮像信号が入力されたときに判定情報記憶部４２に記憶されたｎ−１番目のフレームの最下位ライン判定情報ＬＢ_n-1が入力される。このとき、ＬＴ_nおよびＬＢ_n-1が、共に「妨害あり」を示すため、フレーム判定部４３は、ｎ−１番目およびｎ番目のフレームの撮像信号には共に外部閃光の影響があると判断する。そして、このタイミングでは、ｎ−１番目のフレームの撮像信号に外部閃光の影響があるため、フレーム判定部４３は、「補正必要」を示す情報をフレーム判定情報として、フラッシュ補正処理部５に出力する。

フラッシュ補正処理部５は、ｎ番目のフレームの撮像信号が入力されると、これを遅延部に記憶する。また、フレーム判定部４３から送られてくるフレーム判定情報が「補正必要」のため、すでに遅延部に記憶されているｎ−１番目のフレームの撮像信号に対して、外部閃光の影響を除去または抑制するような補正処理を行い、出力信号として出力する。補正内容としては、１フレーム前のフレームであるｎ−２番目のフレームの撮像信号を出力信号とする方法や、あらかじめ決められた特定の撮像信号（例えば、全画素が特定の画素値（例えば、黒（Ｗ０％レベル）や白レベル（Ｗ１００％レベル）の画素値）を有する撮像信号）を出力信号とする方法等が考えられる。
（ｎ＋１番目のフレームの処理）：
さらに、ｎ＋１番目のフレームの撮像信号がライン判定部４１に入力されたときには、出力されるｎ＋１番目のフレームの撮像信号に対する最上位ライン判定情報ＬＴ_n+1および最下位ライン判定情報ＬＢ_n+1は、共に「妨害なし」を示す。

判定情報記憶部４２は、このうち少なくとも最下位ライン判定情報ＬＢ_n+1を記憶しておく。
フレーム判定部４３では、ｎ＋１番目のフレームの最上位ライン判定情報ＬＴ_n+1と、同様に１フレーム前、すなわちｎ番目のフレームの撮像信号が入力されたときに判定情報記憶部４２に記憶されたｎ番目のフレームの最下位ライン判定情報ＬＢｎが入力される。このとき、ＬＴ_n+1およびＬＢ_nは、共に妨害がないこと示すが、フレーム判定部４３は、先程の判定結果からｎ番目のフレームの撮像信号には、外部閃光の影響があるとすでに判断している。したがって、このタイミングでは、フレーム判定部４３は、ｎ番目のフレームの撮像信号に対する情報として、「補正必要」を示す情報をフレーム判定情報として、フラッシュ補正処理部５に出力する。

フラッシュ補正処理部５は、ｎ＋１番目のフレームの撮像信号が入力されると、これを遅延部に記憶する。また、フレーム判定部４３から送られてくるフレーム判定情報が「補正必要」であるため、すでに遅延部に記憶されているｎ番目のフレームの撮像信号を先程と同様に補正して、出力信号として出力する。
以上のように、撮像装置２０００において、フレーム判定部４３が、１フレーム前の撮像信号の最下位ラインに外部閃光の影響があり、且つ、現在のフレームの撮像信号の最上位ラインに外部閃光の影響があると判定した場合、フレーム判定部４３は、１フレーム前の撮像信号および現在のフレームの撮像信号に外部閃光の影響があると判断し、その判断結果をフレーム判定情報として、フラッシュ補正処理部５に出力する。そして、撮像装置２０００において、フラッシュ補正処理部５は、フレーム判定部４３から出力されたフレーム判定情報を基に、撮像信号に対して外部閃光の影響を除去または抑制する処理を行う。図８の例のように、ｎ番目のフレームを撮像している途中に外部閃光が発光された場合、フラッシュ補正処理部５は、上記のような判定によりｎ−１番目およびｎ番目のフレームの撮像信号に対して補正処理を行う。

≪図９の場合（複数の外部閃光が発光された場合）≫
次に、図９に示すような、ｎ番目のフレームを撮像している途中に外部閃光が発光され、撮像信号にその影響がある間にさらに続けて外部閃光が発光された場合、撮像部１から出力される撮像信号には、ｎ−１番目のフレームの画像の下部、ｎ番目のフレームの画面全体およびｎ＋１番目のフレームの画像の上部に、３フレームに亘って白帯状の妨害が発生する。
この場合も図８の場合と同様に、撮像装置２０００では、フレーム判定部４３により、１フレーム前の最下位ライン判定情報が外部閃光の影響があると判定され、且つ、現在のフレームの最上位ライン判定情報が外部閃光の影響があると判定された場合、フレーム判定部４３は、１フレーム前の撮像信号および現在のフレームの撮像信号に外部閃光の影響があると判断してフレーム判定情報を出力する。そして、フラッシュ補正処理部５は、フレーム判定部４３から出力されたフレーム判定情報を基に、撮像信号に対して外部閃光の影響を除去または抑制する処理を行う。より具体的には、ＬＴ_nおよびＬＢ_n-1が共に「妨害あり」であるため、ｎ−１番目およびｎ番目のフレームについてのフレーム判定情報は「補正必要」となり、ＬＴ_n+1およびＬＢ_nも共に「妨害あり」のため、ｎ番目およびｎ＋１番目のフレームについてのフレーム判定情報は「補正必要」となる。その結果、撮像装置２０００では、ｎ−１番目、ｎ番目およびｎ＋１番目のフレームについて、フラッシュ補正処理部５により、補正処理が実行される。

≪図１０の場合≫
また、ｎ番目のフレームの撮像信号の最下位ラインの電荷蓄積開始タイミングより後でかつ、ｎ番目のフレームの撮像信号の最上位ラインの蓄積終了タイミングより前に外部閃光が発光された場合には、図１０に示すように、撮像部１から出力されるｎ番目のフレームの撮像信号全体にのみ白帯状の妨害が発生する。
このような場合には、本実施形態の撮像装置２０００では、最上位ライン判定情報と１フレーム前の最下位ライン判定情報が共に外部閃光の影響を示すことはない。具体的には、ＬＢ_n-1は「妨害なし」となり、ＬＴ_nおよびＬＢ_nは「妨害あり」となり、ＬＴ_n+1は「妨害なし」となる。したがって、撮像装置２０００では、外部閃光の影響があるフレームの撮像信号は検出されず、フレーム判定部４３は、外部閃光の影響があることを示すフレーム判定情報を出力しない。このため、フラッシュ補正処理部５は、撮像信号に対して外部閃光の影響を除去または抑制する処理を行わない。つまり、図１０の場合に撮像装置２０００から出力される撮像信号（映像信号）により形成される映像を表示装置に表示させた場合、画面全体が一様に白くなり（明るくなり）、撮像素子をＣＣＤとした撮像装置で撮像した場合のようにかえって自然な画像となるため、撮像装置２０００において、特に処理を行う必要はない。

以上のように、本実施形態の撮像装置２０００では、検出部４が、各フレームとも画像の最上位ラインおよび最下位ラインへの外部閃光の影響の有無を判定することで、外部閃光の影響を受けたフレームを検出することができる。このため、撮像装置２０００では、検出のためのフレームメモリを必要とせず、外部閃光が発光されるタイミングによってどのラインから影響があった場合にも確実に外部閃光の影響の有無を判定することができる。
また、撮像装置２０００では、ライン判定部４１が、最上位ラインおよび最下位ラインへの外部閃光への影響の有無を判定する場合に、現在のフレームの撮像信号の評価値と１フレーム前の撮像信号の評価値とを比較してフレーム間での評価値の増減を検出することで、外部閃光の影響の開始と終了のフレームを検出する。このため、撮像装置２０００では、外部閃光の影響が３フレーム以上に亘る場合にも、影響があるフレームを判定できる。また、撮像装置２０００では、同一ライン同士の評価値を比較することで、被写体の種類による影響を軽減することができる。

［第３実施形態］
次に、第３実施形態について、説明する。
第３実施形態の撮像装置の構成は、第２実施形態の撮像装置２０００の構成と同様である。
以下、第３実施形態の撮像装置について、図６、図７、図１１、図１２および図１３を用いて説明する。
本実施形態における評価値記憶部４１２および評価値比較部４１３の動作は、以下の（１）、（２）の点で、第２実施形態におけるそれと異なっている。すなわち、
（１）評価値記憶部４１２は、生成された評価値の中で、最上位ラインの評価値を一時的に記憶しておく。
（２）評価値比較部４１３は、評価値記憶部４１２に記憶されている最上位ラインの評価値と評価値生成部４１１で生成された最下位ラインの評価値とを比較して、最上位ラインおよび最下位ラインにおける外部閃光の影響の有無を判定し、各々最上位ライン判定情報および最下位ライン判定情報として出力する。

図１１〜図１３は、撮像部１が撮像中にスチルカメラのフラッシュなどの外部閃光が、それぞれ、図８〜図１０と同様なタイミングで発光された場合の、撮像信号および出力信号（モニターやビューファインダーへの表示画像）への影響を示す図である。
各図（ａ）、（ｂ）、（ｄ）および各図（ｅ）は、図８〜図１０の各図（ａ）、（ｂ）、（ｄ）および（ｅ）と同様である。各図（ｃ）は、評価値比較部４１３で評価する最上位ラインに対する最下位ラインの評価値（各ラインの平均輝度）の変化を示す模式図である。
図６において、ライン判定部４１以外の動作については、第２実施形態で説明したものと同じであるため、ここでは、主にライン判定部４１の動作について説明する。
図６の撮像部１から出力された撮像信号は、ライン判定部４１に入力される。ライン判定部４１の内部では、入力された撮像信号により形成されるフレーム画像の各ラインに対応する撮像信号が順次、評価値生成部４１１に供給される。

評価値生成部４１１は、第２実施形態の場合と同様に動作して最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値を生成する。この最上位ラインおよび最下位ラインの評価値の、フレーム内の相対的な変化を検出することにより、本実施形態の撮像装置では、外部閃光の影響の有無を確認することができる。
評価値記憶部４１２は、最上位ラインの撮像信号に対する評価値を一時的に記憶する。
≪図１１の場合≫
例えば、図１１に示すようなタイミングで外部閃光が発光された場合には、評価値生成部４１１で順次生成されたｎ−２番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値の中で、最上位ラインの評価値は、評価値記憶部４１２に記憶され、最下位ラインの評価値は、評価値比較部４１３に供給される。

評価値比較部４１３では、ｎ−２番目のフレームの最下位ラインの映像信号に対する評価値を、評価値記憶部４１２に記憶しておいたｎ−２番目のフレームの最上位ラインの撮像信号に対する評価値と比較し、その変化量（増加量または減少量）が予め設定しておいた所定の閾値よりも大きいか否かを判定する。
図１１（ｃ）に示すように、ｎ−２番目のフレームの最上位ラインの評価値に対するｎ−２番目のフレームの最下位ラインの評価値の変化量は、所定の閾値より小さくなる（以下、この場合を「不変」と表記する）。直前の最下位ライン判定情報ＬＢ_n-3を保持する内部状態ＬＢＩは「妨害なし」であり、ｎ−２番目のフレームの映像信号の最上位ラインの評価値に対する最下位ラインの評価値は、その状態に変化がないため、最上位ライン判定情報ＬＴ_n-2および最下位ライン判定情報ＬＢ_n-2として「妨害なし」を出力する。また、内部状態ＬＢＩは「妨害なし」のままとする。

なお、評価値比較部４１３での比較処理に用いられる上記閾値は、外部閃光の影響により、輝度レベルに変化があるフレームの最上位ラインに対する最下位ラインの評価値の変化量が閾値を超え、変化がないフレームの最上位ラインに対する最下位ラインの評価値の変化量が閾値を超えないような値に設定される。閾値は、固定値（例えば、本実施形態の撮像装置のシステム性能（カメラ性能）を考慮し、外部閃光を適切に検出することができる予め設定した固定値）として設定してもよいが、これに限定されることはなく、例えば、外部閃光の影響がなく補正処理が不要と判定された直前のフレーム全体の平均輝度に基づいて算出するようにしてもよい。
（ｎ−１番目のフレームの処理）：
次に、ｎ−１番目のフレームの撮像信号が入力されたときにも同様に、評価値生成部４１１で生成されたｎ−１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値の中で、最上位ラインの評価値は、評価値記憶部４１２に記憶され、最下位ラインの評価値は、評価値比較部４１３に供給される。

評価値比較部４１３では、ｎ−１番目のフレームの最下位ラインの撮像信号に対する評価値を、評価値記憶部４１２に記憶しておいたｎ−１番目のフレームの最上位ラインの撮像信号に対する評価値と比較する。具体的には、ｎ−１番目のフレームの最上位ラインの評価値に対する最下位ラインの評価値の変化量（増加量）が所定の閾値より大きくなる（以下、この場合を「増加」と表記する）。ｎ−１番目のフレームで評価値が「増加」したため、評価値比較部４１３は、最上位ライン判定情報ＬＴ_n-1として「妨害なし」を出力し、最下位ライン判定情報ＬＢ_n-1として「妨害あり」を出力すると共に、内部状態ＬＢＩを「妨害あり」とする。
（ｎ番目のフレームの処理）：
次に、ｎ番目のフレームの撮像信号が入力されたときにも同様に、評価値生成部４１１で生成されたｎ番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値の中で、最上位ラインの評価値は、評価値記憶部４１２に記憶され、最下位ラインの評価値は、評価値比較部４１３に供給される。

評価値比較部４１３では、ｎ番目のフレームの最下位ラインの撮像信号に対する評価値を、評価値記憶部４１２に記憶しておいたｎ番目のフレームの最上位ラインの撮像信号に対する評価値と比較する。具体的には、ｎ番目のフレームの最上位ラインの評価値に対する最下位ラインの評価値の変化量（減少量）が所定の閾値より大きくなる（以下、この場合を「減少」と表記する）。ｎ番目のフレームで評価値が「減少」したため、評価値比較部４１３は、最上位ライン判定情報ＬＴ_nとして「妨害あり」を出力し、最下位ライン判定情報ＬＢ_nとして「妨害なし」を出力すると共に、内部状態ＬＢＩを「妨害なし」とする。
（ｎ＋１番目のフレームの処理）：
さらに、ｎ＋１番目のフレームの撮像信号が入力されたときにも同様に、評価値生成部４１１で生成されたｎ＋１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値の中で、最上位ラインの評価値は、評価値記憶部４１２に記憶され、最下位ラインの評価値は、評価値比較部４１３に供給される。

評価値比較部４１３では、ｎ＋１番目のフレームの最下位ラインの撮像信号に対する評価値を、評価値記憶部４１２に記憶しておいたｎ＋１番目のフレームの最上位ラインの撮像信号に対する評価値と比較する。具体的には、ｎ＋１番目のフレームの最上位ラインの評価値に対する最下位ラインの評価値の変化量が「不変」となる。内部状態ＬＢＩは「妨害なし」であり、ｎ＋１番目のフレームは評価値が「不変」であるため、評価値比較部４１３は、最上位ライン判定情報ＬＴ_n+1として「妨害なし」を出力し、最下位ライン判定情報ＬＢ_n+1として「妨害なし」を出力すると共に、内部状態ＬＢＩは「妨害なし」のままとする。
本実施形態の撮像装置の全体の動作について、説明する。本実施形態の撮像装置では、上記で説明したように評価値比較部４１３から出力された最上位ライン判定情報および最下位ライン判定情報を基に、図６の判定情報記憶部４２、フレーム判定部４３およびフラッシュ補正処理部５が第２実施形態で説明したのと同様に動作する。より具体的には、図１１の場合、本実施形態の撮像装置では、ライン判定部４１により、ＬＴ_nおよびＬＢ_n-1が共に「妨害あり」と判定され、フレーム判定部４３により、ｎ−１番目およびｎ番目のフレームについて「補正必要」と判定される。その結果、本実施形態の撮像装置では、フラッシュ補正処理部５により、ｎ−１番目およびｎ番目のフレームについて、補正処理が実行される。

≪図１２の場合≫
図１２に示すようなタイミングで外部閃光が発光された場合について説明する。
（ｎ−２、ｎ−１およびｎ＋２番目のフレームの処理）：
ｎ−２、ｎ−１およびｎ＋２番目のフレームの撮像信号が入力されたときには、ライン判定部４１は、各々図１１に示した例におけるｎ−２、ｎ−１およびｎ＋１番目のフレームと同様に動作する。
（ｎ番目のフレームの処理）：
ｎ番目のフレームの撮像信号が入力されたときには、評価値生成部４１１で生成されたｎ番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値の中で、最上位ラインの評価値は、評価値記憶部４１２に記憶され、最下位ラインの評価値は評価値比較部４１３に供給される。

評価値比較部４１３では、ｎ番目のフレームの最下位ラインの撮像信号に対する評価値を、評価値記憶部４１２に記憶しておいたｎ番目のフレームの最上位ラインの撮像信号に対する評価値と比較する。具体的には、ｎ番目のフレームの最上位ラインの評価値に対する最下位ラインの評価値の変化量が「不変」となる。内部状態ＬＢＩは「妨害あり」であり、ｎ番目のフレームは評価値が「不変」であるため、評価値比較部４１３は、最上位ライン判定情報ＬＴ_nとして「妨害あり」を出力し、最下位ライン判定情報ＬＢ_nとして「妨害あり」を出力すると共に、内部状態ＬＢＩは「妨害あり」のままとする。
（ｎ＋１番目のフレームの処理）：
次に、ｎ＋１番目のフレームの撮像信号が入力されたときにも同様に、評価値生成部４１１で生成されたｎ＋１番目のフレームの最上位ラインおよび最下位ラインの撮像信号に対する評価値の中で、最上位ラインの評価値は、評価値記憶部４１２に記憶され、最下位ラインの評価値は、評価値比較部４１３に供給される。

評価値比較部４１３では、ｎ＋１番目のフレームの最下位ラインの撮像信号に対する評価値を、評価値記憶部４１２に記憶しておいたｎ＋１番目のフレームの最上位ラインの撮像信号に対する評価値と比較する。具体的には、ｎ＋１番目のフレームの最上位ラインの評価値に対する最下位ラインの評価値の変化量が「減少」となる。ｎ＋１番目のフレームは評価値が「減少」であるため、評価値比較部４１３は、最上位ライン判定情報ＬＴ_n+1として「妨害あり」を出力し、最下位ライン判定情報ＬＢ_n+1として「妨害なし」を出力すると共に、内部状態ＬＢＩは「妨害なし」とする。
本実施形態の撮像装置の全体の動作について、説明する。本実施形態の撮像装置では、上記で説明したように評価値比較部４１３から出力された最上位ライン判定情報および最下位ライン判定情報を基に、図６の判定情報記憶部４２、フレーム判定部４３およびフラッシュ補正処理部５が第２実施形態で説明したのと同様に動作する。より具体的には、図１２の場合、本実施形態の撮像装置では、ライン判定部４１により、ＬＴ_nおよびＬＢ_n-1が共に「妨害あり」と判定され、フレーム判定部４３により、ｎ−１番目およびｎ番目のフレームについて「補正必要」と判定される。そして、本実施形態の撮像装置では、ライン判定部４１により、ＬＴ_n+1およびＬＢ_nも共に「妨害あり」と判定され、フレーム判定部４３により、ｎ番目およびｎ＋１番目のフレームについて「補正必要」と判定される。その結果、本実施形態の撮像装置では、フラッシュ補正処理部５により、ｎ−１番目、ｎ番目およびｎ＋１番目のフレームについて、補正処理が実行される。

≪図１３の場合≫
図１３に示すようなタイミングで外部閃光が発光された場合には、第３実施形態の撮像装置では、評価値比較部４１３は、最上位ラインおよび最下位ラインとも、常に外部閃光の影響がないと判定し、各々のフレームに対応するタイミングで最上位ライン判定情報および最下位ライン判定情報は、常に「妨害なし」を出力する。
撮像装置全体の動作について、説明する。本実施形態の撮像装置では、上記で説明したように評価値比較部４１３から出力された最上位ライン判定情報および最下位ライン判定情報を基に、図６の判定情報記憶部４２、フレーム判定部４３およびフラッシュ補正処理部５が第２実施形態で説明したのと同様に動作する。より具体的には、図１３の場合、本実施形態の撮像装置では、検出部４により、全てのフレームが「補正不要」と判定され、フラッシュ補正処理部５は、補正処理を行わない。つまり、図１３の場合に本実施形態の撮像装置から出力される撮像信号（映像信号）により形成される映像を表示装置に表示させた場合、画面全体が一様に白くなり（明るくなり）、撮像素子をＣＣＤとした撮像装置で撮像した場合のようにかえって自然な画像となるため、本実施形態の撮像装置において、特に処理を行う必要はない。

以上のように、本実施形態の撮像装置では、現在のフレームの撮像信号の最上位ラインと最下位ラインの評価値とを比較してフレーム内での評価値の増減を検出することにより、外部閃光の影響を受けたフレームを検出する。このため、本実施形態の撮像装置では、フレームメモリなどを必要とせず、外部閃光が発光されるタイミングによってどのラインから影響があった場合にも確実に外部閃光の影響の有無を判定することができる。
また、本実施形態の撮像装置では、ライン判定部４１が、同一フレーム内の最上位ラインと最下位ラインの評価値を比較して増減を検出することで外部閃光の影響の開始と終了のフレームを検出するため、外部閃光の影響が３フレーム以上に亘る場合にも影響があるフレームを判定できる。つまり、本実施形態の撮像装置では、同一フレーム内での評価値を比較するため、撮像装置のアイリスなどの設定条件に左右されず（撮像装置の設定はフレームの途中では変化させない）、また、前のフレームの評価値が不要なことから、より少ない遅延で外部閃光の影響の有無を判定することができる。

［第４実施形態］
第４実施形態の撮像装置の構成は、第２実施形態の撮像装置２０００の構成と同様である。
以下、第４実施形態の撮像装置について、図６〜図８、図１０、図１１、図１３〜図１５を用いて説明する。
本実施形態の撮像装置において、ライン判定部４１の動作、すなわち、図７の各部の動作については、第２実施形態または第３実施形態で説明したものと同じであるため、ここでは、主にライン判定部４１以外の動作について説明する。
撮像部１から出力された撮像信号は、ライン判定部４１に入力され、ライン判定部４１は、各フレームに対応して最上位ライン判定情報および最下位ライン判定情報を出力する。

判定情報記憶部４２は、第２実施形態と同様に、最下位ライン判定情報を記憶すると共に最上位ライン判定情報も記憶する。
フレーム判定部４３は、通常は、第２実施形態と同様に判定情報記憶部４２に記憶された１フレーム前の最下位ライン判定情報が外部閃光の影響があることを示し、且つ、ライン判定部４１から出力される現在のフレームの最上位ライン判定情報が外部閃光の影響があることを示す場合に、１フレーム前の撮像信号および現在のフレームの撮像信号に外部閃光の影響があると判定してフレーム判定情報を出力する動作を行う。
一方、フレーム判定部４３は、判定情報記憶部４２に記憶された現在のフレームの最上位ライン判定情報が外部閃光の影響があることを示し、且つ、ライン判定部４１から出力される現在のフレームの最下位ライン判定情報が外部閃光の影響があることを示す場合には、現在のフレームの撮像信号には、全面に外部閃光の影響があると判定してフレーム判定情報を出力する。

図８、図１０および図１４は、第４実施形態の撮像装置において、ライン判定部４１の動作が第２実施形態で説明したものと同じである場合に、撮像部１が撮像中にスチルカメラのフラッシュなどの外部閃光がそれぞれ異なるタイミングで発光された場合の、撮像信号および出力信号（モニターやビューファインダーへの表示画像）への影響を示す図である。
図１１、図１３および図１５は、第４実施形態の撮像装置において、ライン判定部４１の動作が第３実施形態で説明したものと同じである場合に、撮像部１が撮像中にスチルカメラのフラッシュなどの外部閃光がそれぞれ異なるタイミングで発光された場合の、撮像信号および出力信号（モニターやビューファインダーへの表示画像）への影響を示す図である。

いずれの場合も、各図（ａ）から各図（ｄ）については、第２実施形態および第３実施形態で説明したものと同様である。
ライン判定部４１から出力された、各図（ｄ）に示すような最上位ライン判定情報ＬＴ_nおよび最下位ライン判定情報ＬＢ_nは、順次、判定情報記憶部４２に記憶されると共に、フレーム判定部４３にも供給される。
フレーム判定部４３では、ライン判定部４１から現在のフレームの最上位ライン判定情報ＬＴ_nが入力されたタイミングで、判定情報記憶部４２に記憶されている１フレーム前の最下位ライン判定情報ＬＢ_n-1が入力される。そして、ＬＴ_nおよびＬＢ_n-1が共に「妨害あり」を示す場合、フレーム判定部４３は、１フレーム前および現在のフレームの撮像信号に外部閃光の影響があると判定することができるが、この時点では、フレーム判定部４３は、１フレーム前の撮像信号に対してのみ「補正必要」を示す情報をフレーム判定情報として出力する。具体的には、現在のフレームが図８、図１１、図１４および図１５のｎ番目のフレームである場合、フレーム判定部４３は、ｎ−１番目のフレームについては「補正必要」と判定する。

続いて、フレーム判定部４３では、ライン判定部４１から現在のフレームの最下位ライン判定情報ＬＢ_nが入力されたタイミングで、判定情報記憶部４２に記憶されている同じフレームの最上位ライン判定情報ＬＴ_nが入力され、ＬＴ_nは「妨害あり」を示しているが、ＬＢ_nが「妨害なし」を示す場合のみ、現在のフレームの撮像信号に対して「補正必要」を示す情報をフレーム判定情報として出力する。
具体的には、現在のフレームが図８および図１１のｎ番目のフレームである場合、フレーム判定部４３は、ｎ番目のフレームについては「補正必要」と判定する。
現在のフレームが図１４および図１５のｎ＋１番目のフレームである場合、フレーム判定部４３は、ｎ＋１番目のフレームについては「補正必要」と判定する。但し、ＬＴ_nと共にＬＢ_nも「妨害あり」を示す場合には、現在の撮像信号には全面に外部閃光の影響があるものとして、フレーム判定部４３は、現在のフレームの撮像信号に対しては「補正不要」を示す情報をフレーム判定情報として出力する。具体的には、現在のフレームが図１４および図１５のｎ番目のフレームである場合、フレーム判定部４３は、ｎ番目のフレームについては「補正不要」と判定する。

上記以外の場合には、フレーム判定部４３は、「補正不要」を示す情報をフレーム判定情報として出力する。
フラッシュ補正処理部５は、フレーム判定部４３から出力されるフレーム判定情報を基に、第２実施形態および第３実施形態と同様に、「補正必要」と判定されたフレームの撮像信号に対して外部閃光の影響を除去または抑制する処理を行う。
従って、フラッシュ補正処理部５は、画面の上部または下部にのみ白帯状の妨害が発生する場合には、フレーム判定情報を基に撮像信号に対して外部閃光の影響を除去または抑制する補正処理を行うが、画面全体が一様に白くなる場合には補正処理を行わない。
以上のように、本実施形態の撮像装置では、外部閃光の影響が３フレーム以上に亘る場合の中間フレームや、外部閃光が１フレーム前の撮像信号の最下位ラインの走査終了と現在のフレームの撮像信号の最上位ラインの走査開始の間に発光したときのフレームのように、撮像信号の画面全体に外部閃光の影響がある場合には、撮像素子をＣＣＤとした撮像装置で撮像した場合のようにかえって自然な画像を取得することができるため、処理（外部閃光の影響に対する補正処理）を行わず、撮像して得られた画像をそのまま生かすことが可能となる。

なお、第２〜第４実施形態において、各ラインの評価値を撮像信号の輝度レベルとして説明したが、これに限定されることはなく、外部閃光の影響の有無により変化するものであれば、例えば、撮像信号の色成分や周波数成分あるいはＳＮ比（Ｓｉｇｎａｌ ｔｏ Ｎｏｉｓｅ Ｒａｔｉｏ）など、他の信号成分や値を評価値としても構わない。
また、第２〜第４実施形態では、最上位ラインおよび最下位ラインへの外部閃光の影響の有無を所定の２ライン間の評価値の相対的な差分を基に判定する場合について、説明したが、これに限定されることはなく、例えば、各ライン個々の評価値の絶対的な大きさから判定しても構わない。
また、第２〜第４実施形態では、最上位ラインおよび最下位ラインとして各々１ラインから評価値を算出して比較する場合について説明したが、これに限定されることはなく、例えば、被写体の種類や動きによる影響やノイズの影響を軽減するために、画面の上端および下端の各々複数ラインから評価値を算出して比較してもよい。

また、評価値を算出するラインは、必ずしも画面の有効領域内のライン（例えば、総走査線数１１２５本のＨＤカメラであれば１０８０本）である必要はなく、外部閃光を受光可能なラインであれば有効領域内であっても、有効領域の外側のラインであっても構わない。
また、第２〜第４実施形態では、フレーム間またはフレーム内のいずれか一方で、評価値を比較することにより外部閃光の有無を判断する例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、同一の撮像装置で両方を実施することでより確実に判断するようにしても構わない。
また、第２〜第４実施形態では、１フレーム前の最下位ラインと現在のフレームの最上位ラインへの外部閃光の影響の有無から各フレームへの外部閃光の影響の有無を判断する場合について説明したが、これに限定されることはない。撮像装置において、より多くのフレームに亘って最下位ラインおよび最上位ラインへの外部閃光の影響の有無の変化を監視することにより、例えば、外部閃光の影響は任意のフレームの最下位ラインから先に開始され、次のフレームの最上位ラインにも影響が開始され、最下位ラインから先に影響が終了し、次のフレームの最上位ラインへの影響も終了するという規則性を利用して、より確実に各フレームへの外部閃光の影響の有無を判断するようにしてもよい。

［第５実施形態］
＜５．１：撮像装置の構成＞
次に、第５実施形態について、図１６から図２１を用いて説明する。
図１６は、第５実施形態の撮像装置５０００の概略構成を示す図である。
図１６に示すように、撮像装置５０００は、撮像部１と、検出部４Ａと、フラッシュ補正処理部５とを備える。そして、検出部４Ａは、ライン評価値算出部４４と、ライン判定部４５と、フレーム判定部４６と、を備える。
撮像部１は、ＣＭＯＳイメージセンサ等の撮像素子で構成され、被写体を撮像して撮像信号を取得し、取得した撮像信号をライン評価値算出部４４およびフラッシュ補正処理部５に出力する。なお、撮像信号により撮像画像（フレーム画像）が形成される。そして、複数のフレーム画像を表示装置に表示させることで、表示装置で撮像映像を表示させることができる。

ライン評価値算出部４４は、撮像部１から出力される撮像信号を入力とする。ライン評価値算出部４４は、各フレーム（撮像信号により形成される撮像映像の各フレーム）において、撮像信号の各ライン（撮像信号により形成される撮像画像の各ライン）の平均輝度レベル等から各ラインの評価値Ｌｎ（ｎはライン位置を示す正整数）を算出する。そして、ライン評価値算出部４４は、算出した評価値Ｌｎをライン判定部４５およびフレーム判定部４６に出力する。
ライン判定部４５は、ライン評価値算出部４４から出力される評価値Ｌｎを入力とする。ライン判定部４５は、ａライン前（ａは正整数）の評価値と比較して評価値が所定量以上増加するラインｍ（ｍはライン位置）を検出して、ライン位置情報ｍとラインｍおよびａライン前のラインｍ−ａの評価値ＬｍおよびＬｍ−ａを一時的に記憶する。そして、ライン判定部４５は、記憶・保持しているライン位置情報ｍ、評価値ＬｍおよびＬｍ−ａを、フレーム判定部４６に出力する。

フレーム判定部４６は、ライン評価値算出部４４から出力される評価値Ｌｎと、ライン判定部４５から出力されるライン位置情報ｍ、評価値ＬｍおよびＬｍ−ａと、を入力とする。フレーム判定部４６は、ライン判定部４５に記憶されたライン位置情報ｍに対して、ライン判定部４５に記憶されたラインｍおよびラインｍ−ａの評価値ＬｍおよびＬｍ−ａと、以降のフレームの撮像信号のラインｍおよびラインｍ−ａの評価値Ｌ’ｍおよびＬ’ｍ−ａと、をライン間またはフレーム間で比較することにより、各フレームに外部閃光の影響があるか否かを判断して結果を示すフレーム判定情報を取得する。そして、フレーム判定部４６は、取得したフレーム判定情報をフラッシュ補正処理部５に出力する。
フラッシュ補正処理部５は、撮像部１から出力される撮像信号と、フレーム判定部４６から出力されるフレーム判定情報と、を入力とする。フラッシュ補正処理部５は、フレーム判定情報を基に撮像信号に対して外部閃光の影響を除去または抑制する処理を行う。

（５．１．１：ライン判定部４５の概略構成）
まず、ライン判定部４５の概略構成について、説明する。
図１７は、図１６のライン判定部４５の概略構成を示す図である。
図１７に示すように、ライン判定部４５は、評価値シフトレジスタ部４５１と、評価値比較部４５２と、ラインカウンタ４５３と、ライン位置記憶部４５４と、ライン評価値記憶部４５５および４５６とを有する。
評価値シフトレジスタ部４５１は、ａ個のフリップフロップ等で構成されたシフトレジスタであり、図１６のライン評価値算出部４４において算出された各ラインの評価値Ｌｎが入力され、水平同期パルスに従って、入力された各ラインのライン評価値Ｌｎが１ライン毎に次段のレジスタに転送される。そして、評価値シフトレジスタ部４５１は、レジスタ転送して取得したライン評価値（例えば、ライン評価値Ｌｎ−ａ（ｎラインからａライン分前のライン評価値に相当））を評価値比較部４５２およびライン評価値記憶部４５６に出力する。

評価値比較部４５２は、ライン評価値算出部４４から出力されるライン評価値Ｌｎおよび評価値シフトレジスタ部４５１から出力されるライン評価値Ｌｎ−ａを入力とする。評価値比較部４５２は、各ライン毎に、処理対象となっているラインのライン評価値Ｌｎと、そのラインのａライン前のラインのライン評価値Ｌｎ−ａとを比較して、その差が所定量以上大きければ、トリガパルスを発生する。すなわち、
（ライン評価値Ｌｎ）−（ライン評価値Ｌｎ−ａ）≧（所定量）
であれば、評価値比較部４５２は、トリガパルスを発生させ、発生させたトリガパルスをライン位置記憶部４５４、ライン評価値記憶部４５５および４５６に出力する。なお、図１７では、ｎ＝ｍの場合を図示している。なお、上式の「所定量」は、外部閃光の有無を検出するのに十分な精度を確保できるように設定することが好ましく、撮像装置の特性を考慮して設定することが好ましい。

ラインカウンタ４５３は、水平同期パルスに従ってライン数をカウントする。そして、ラインカウンタ４５３は、ライン数のカウント情報をライン位置記憶部４５４に出力する。なお、水平同期パルスは、例えば、シグナルジェネレータ（不図示）およびタイミングジェネレータ（不図示）により生成されるパルス信号であり、水平同期を示すパルス信号である。
ライン位置記憶部４５４は、評価値比較部４５２から出力されるトリガパルスおよびラインカウンタ４５３から出力されるライン数のカウント情報（処理対象のラインのライン番号に相当）を入力とする。ライン位置記憶部４５４は、評価値比較部４５２が発生したトリガパルスに従って、ラインカウンタ４５３のカウンタ値すなわちラインｎおよびラインｎ−ａのライン評価値ＬｎおよびＬｎ−ａが前述の条件を満たすライン位置情報ｍ（ここでは、前述の条件を満たすライン位置がラインｍであるとする。）を一時的に記憶する。そして、ライン位置記憶部４５４は、一時的に記憶したライン位置情報ｍをフレーム判定部４６に出力する。以下では、ライン評価値ＬｎおよびＬｎ−ａが前述の条件を満たすライン位置がｍ（すなわち、ｎ＝ｍ）であるとして説明する。

ライン評価値記憶部４５５は、ライン評価値算出部４４から出力されるライン評価値Ｌｎを入力し、上記トリガパルス（ライン評価値ＬｎおよびＬｎ−ａが前述の条件を満たすときに発生されるトリガパルス）に従って、ラインｍのライン評価値Ｌｍを一時的に記憶する。そして、ライン評価値記憶部４５５は、一時的に記憶したライン評価値Ｌｍをフレーム判定部４６に出力する。
ライン評価値記憶部４５６は、評価値シフトレジスタ部４５１から出力されるライン評価値Ｌｎ−ａを入力し、上記トリガパルス（ライン評価値ＬｎおよびＬｎ−ａが前述の条件を満たすときに発生されるトリガパルス）に従って、ラインｍ−ａのライン評価値Ｌｍ−ａを一時的に記憶する。そして、ライン評価値記憶部４５６は、一時的に記憶したライン評価値Ｌｍ−ａをフレーム判定部４６に出力する。

（５．１．２：フレーム判定部４６の概略構成）
次に、フレーム判定部４６の概略構成について、説明する。
図１８は、図１６のフレーム判定部４６の概略構成を示す図である。
図１８に示すように、フレーム判定部４６は、ラインカウンタ４６１と、カウンタ値比較部４６２および４６３と、ライン評価値記憶部４６４および４６５と、評価値比較部４６６、４６７および４６８と、フレーム判定情報生成部４６９とを有する。
ラインカウンタ４６１は、水平同期パルスに従って、ライン数をカウントする。そして、ラインカウンタは、ライン数のカウント情報であるＣＮＴを、カウンタ値比較部４６２および４６３に出力する。
カウンタ値比較部４６２および４６３は、図１６のライン判定部４５に記憶されているライン位置情報ｍに対して、ラインカウンタ４６１のカウンタ値ＣＮＴが、それぞれ、ｍおよびｍ−ａとなるタイミングでトリガパルスを発生させる。そして、カウンタ値比較部４６２は、ラインｍのタイミングにおいて発生させたトリガパルスをライン評価値記憶部４６４に出力する。カウンタ値比較部４６３は、ラインｍ−ａのタイミングにおいて発生させたトリガパルスをライン評価値記憶部４６５に出力する。

ライン評価値記憶部４６４は、図１６のライン評価値算出部４４において算出された各ラインの評価値Ｌｎを入力とし、カウンタ値比較部４６２が発生するトリガパルスに従って、ラインｍのライン評価値Ｌ’ｍを一時的に記憶する。そして、ライン評価値記憶部４６４は、ライン評価値Ｌ’ｍを、評価値比較部４６６および評価値比較部４６８に出力する。
ライン評価値記憶部４６５は、図１６のライン評価値算出部４４において算出された各ラインの評価値Ｌｎを入力とし、カウンタ値比較部４６３が発生するトリガパルスに従って、ラインｍ−ａの評価値Ｌ’ｍ−ａを一時的に記憶する。そして、ライン評価値記憶部４６５は、ライン評価値Ｌ’ｍ−ａを、評価値比較部４６６および評価値比較部４６７に出力する。

なお、ライン評価値記憶部４６４および４６５は、例えば、トリガパルスにより動作するフリップフロップにより実現することができる。
評価値比較部４６６、４６７および４６８は、ライン評価値記憶部４６４および４６５に記憶されているライン評価値Ｌ’ｍおよびＬ’ｍ−ａと、図１６のライン判定部４５に記憶されているラインｍおよびラインｍ−ａのライン評価値ＬｍおよびＬｍ−ａとを、それぞれ、比較して所定の条件を満たす場合にフラグを立てる。例えば、評価値比較部４６６、４６７および４６８は、以下の条件を満たす場合に、フラグを立てる。
（評価値比較部４６６での条件判断）：
（ライン評価値Ｌ’ｍ−ａ）−（ライン評価値Ｌ’ｍ）≧（所定量）
を満たす場合、第１フラグＦ１を「１」にし、それ以外は「０」にする。
（評価値比較部４６７での条件判断）：
（ライン評価値Ｌ’ｍ−ａ）−（ライン評価値Ｌｍ−ａ）≧（所定量）
を満たす場合、第２フラグＦ２を「１」にし、それ以外は「０」にする。
（評価値比較部４６８での条件判断）：
（ライン評価値Ｌｍ）−（ライン評価値Ｌ’ｍ）≧（所定量）
を満たす場合、第３フラグＦ３を「１」にし、それ以外は「０」にする。

なお、上式の「所定量」は、外部閃光の有無を検出するのに十分な精度を確保できるように設定することが好ましく、撮像装置の特性を考慮して設定することが好ましい。また、上記３つの式の「所定量」は、同一にすることが好ましいが、それぞれ、異なる値に設定するようにしてもよい。
また、上記に示した３つの条件判断は、一例であり、これに限定されないのは言うまでもない。
なお、上記３つの式の「所定量」は、撮像装置５０００のシステム性能（カメラ性能）を考慮し、外部閃光を適切に検出することができる値に設定すればよい。例えば、撮像装置５０００において、撮像部１から出力される撮像信号（ＡＧＣ等の処理がなされ、標準状態（カメラシステムにおいて所望される所定のダイナミックレンジとなるように調整された映像信号の状態）となっている撮像信号）の所定の画像領域（撮像信号により形成される所定の画像領域）の平均輝度レベルに応じて、「所定量」を変化させるようにしてもよい（「所定量」を可変設定値としてもよい）。また、フレームごとに「所定量」を変化させるようにしてもよい（「所定量」を可変設定値としてもよい）。

評価値比較部４６６、４６７および４６８は、それぞれ、上式の判定結果を示すフラグＦ１、Ｆ２およびＦ３をフレーム判定情報生成部４６９に出力する。
フレーム判定情報生成部４６９は、評価値比較部４６６、４６７および４６８が発生したフラグが所定の条件を満たす場合にフレーム判定情報を生成し、いずれのフラグも立たない場合には、外部閃光の影響については基本的に前フレームの状態が継続しているものと判断する。すなわち、上記に示した３つの条件判断を採用する場合、Ｆ１＝０、かつ、Ｆ２＝０、かつ、Ｆ３＝０の場合、外部閃光の影響については、基本的に前フレームの状態が継続しているものと判断する。
そして、フレーム判定情報生成部４６９は、生成したフレーム判定情報を、フラッシュ補正処理部５に出力する。

＜５．２：撮像装置の動作＞
図１９、図２０および図２１は、撮像中にスチルカメラのフラッシュなどの外部閃光がそれぞれ異なるタイミングで発光された場合の撮像信号および表示画像（撮像信号により形成される画像）への影響を示す図である。
以下、第５実施形態の撮像装置５０００の動作について、図１６から図２１を用いて説明する。
撮像装置５０００において、Ｎ番目（Ｎは整数）のフレームを撮像している途中に外部閃光が発光された場合、図１９に示すように、撮像部１から出力される撮像信号には、Ｎ−１番目のフレームの画像の下部およびＮ番目のフレームの画像の上部に白帯状の妨害が発生する。

図１９に示すように、Ｎ−１番目のフレームでは、ｍ−ａライン目までは殆ど外部閃光の影響を受けず、ｍライン目以降は外部閃光のほぼ全光量の影響を受け、その間のライン（ｍ−ａライン目からｍライン目の間のライン）は、背景技術で説明したように外部閃光の発光期間に依存し、徐々に蓄積光量が増加するトランジェント期間となっている。
Ｎ番目のフレームでは、ｍ−ａライン目までは外部閃光のほぼ全光量の影響を受け、ｍライン目以降は殆ど外部閃光の影響を受けず、その間のライン（ｍ−ａライン目からｍライン目の間のライン）は、徐々に蓄積光量が減少するトランジェント期間となっている。
図１６に示す撮像部１からＮ−１番目のフレームの撮像信号が入力されたライン評価値算出部４４は、各ライン毎に、ライン評価値Ｌｎを算出してライン判定部４５およびフレーム判定部４６に供給する。

ライン判定部４５では、ライン評価値Ｌｎが図１７に示す評価値シフトレジスタ部４５１に入力されて次段のレジスタに１ライン毎に順次シフトされる。
評価値比較部４５２では、外部閃光の影響がない期間は、入力される２ラインの評価値の差は、予め適切に設定された所定量よりも小さいが、図１９に示すＮ−１番目のフレームの撮像信号のラインｍの評価値Ｌｍが入力されたときに、評価値比較部４５２に入力されるラインｍのライン評価値Ｌｍは、ラインｍ−ａのライン評価値Ｌｍ−ａと比較して所定値よりも大きくなる。すなわち、
（ライン評価値Ｌｍ）−（ライン評価値Ｌｍ−ａ）≧（所定量）
を満たす。したがって、この場合、撮像装置５０００は、外部閃光の影響を受け始めた（外部閃光の影響を受けている期間が開始された）ものとして、評価値比較部４５２は、トリガパルスを発生させる。

ラインカウンタ４５３は、１ライン毎にカウントアップされるカウンタであり、そのカウンタ値は、ライン判定部４５に入力される評価値Ｌｎを算出したラインの番号ｎに対応する。そして、評価値比較部４５２が発生させたトリガパルスに従って、ラインカウンタ４５３のカウンタ値ｍ（ｍは、トリガパルスが発生されたライン番号に相当）を、ライン位置記憶部４５４に記憶すると共に、ラインｍおよびラインｍ−ａのライン評価値ＬｍおよびＬｍ−ａを、各々ライン評価値記憶部４５５および４５６に記憶する。
図１６に示す撮像部１からＮ番目のフレームの撮像信号が入力されたライン評価値算出部４４は、同様に、各ライン毎にライン評価値Ｌｎを算出してライン判定部４５およびフレーム判定部４６に供給する。フレーム判定部４６では、ライン判定部４５に記憶されたライン位置（ライン位置情報）ｍ、ラインｍおよびラインｍ−ａのライン評価値ＬｍおよびＬｍ−ａを入力され、このライン位置情報ｍを基に、図１８に示すカウンタ値比較部４６２および４６３は、ラインカウンタ４６１のカウンタ値が、各々ｍおよびｍ−ａとなったタイミング、すなわち図１６のライン評価値算出部４４からラインｍおよびラインｍ−ａの評価値Ｌ’ｍおよびＬ’ｍ−ａが入力されたタイミングで、各々トリガパルスを発生させる。

ライン評価値記憶部４６４および４６５は、各々カウンタ値比較部４６２および４６３が発生したトリガパルスに従って、ラインｍおよびラインｍ−ａのライン評価値Ｌ’ｍおよびＬ’ｍ−ａを記憶する。つまり、ライン評価値Ｌｍ、Ｌｍ−ａがＫ番目（Ｋは整数）のフレームにおけるラインｍおよびラインｍ−ａでのライン評価値であるとすると、ライン評価値Ｌ’ｍ、Ｌ’ｍ−ａは、Ｋ＋１番目のフレームにおけるラインｍおよびラインｍ−ａでのライン評価値となる。
評価値比較部４６６は、Ｎ番目のフレームの撮像信号のラインｍのライン評価値Ｌ’ｍがラインｍ−ａのライン評価値Ｌ’ｍ−ａと比較して予め適切に設定された所定量よりも小さい場合、すなわち、
（ライン評価値Ｌ’ｍ−ａ）−（ライン評価値Ｌ’ｍ）≧（所定量）
である場合に、フラグを立てる。

評価値比較部４６７は、Ｎ番目のフレームの撮像信号のラインｍ−ａのライン評価値Ｌ’ｍ−ａが、Ｎ−１番目のフレームの撮像信号のラインｍ−ａのライン評価値Ｌｍ−ａと比較して予め適切に設定された所定量よりも大きい場合、すなわち、
（ライン評価値Ｌ’ｍ−ａ）−（ライン評価値Ｌｍ−ａ）≧（所定量）
である場合に、フラグを立てる。
評価値比較部４６８は、Ｎ番目のフレームの撮像信号のラインｍの評価値Ｌ’ｍがＮ−１番目のフレームの撮像信号のラインｍの評価値Ｌｍと比較して予め適切に設定された所定量よりも小さい場合、すなわち、
（ライン評価値Ｌｍ）−（ライン評価値Ｌ’ｍ）≧（所定量）
である場合に、フラグを立てる。

フレーム判定情報生成部４６９は、上記３つのフラグが全て立っている場合に、Ｎ−１番目およびＮ番目のフレームの撮像信号に外部閃光の影響があると判断してフレーム判定情報を生成し、生成したフレーム判定情報をフラッシュ補正処理部５に出力する。
そして、図１６に示すフラッシュ補正処理部５は、フレーム判定部４６が出力するフレーム判定情報を基に撮像信号に対して外部閃光の影響を除去または抑制する処理を行う。
≪外部閃光が２回入る場合≫
次に、撮像装置５０００に、外部閃光が２フレーム期間内に２回入る場合の撮像装置５０００の動作について、説明する。
Ｎ番目のフレームを撮像している途中に外部閃光が発光され、撮像信号にその影響がある間に、さらに外部閃光が発光された場合には、図２０に示すように、撮像部１から出力される撮像信号には、Ｎ−１番目のフレームの画像の下部、Ｎ番目のフレームの画面全体、およびＮ＋１番目のフレームの画像の上部に、３フレームに亘って白帯状の妨害が発生する。

図２０に示すように、Ｎ−１番目のフレームでは、ｍ−ａライン目までは殆ど外部閃光の影響を受けず、ｍライン目以降は外部閃光のほぼ全光量の影響を受け、その間のラインは背景技術で説明した、徐々に蓄積光量が増加するトランジェント期間となっている。
Ｎ番目のフレームでは、最初の外部閃光による影響が終了し始めるｍ−ａライン目を読み出す前に、次の外部閃光が発光するため、画面の途中から外部閃光の影響が終了することはない（外部閃光の影響が無くなることない）。
Ｎ＋１番目のフレームでは、ｍ−ａラインよりも前のライン（図２０に示すラインＬ１）までは、外部閃光のほぼ全光量の影響を受け、ｍライン目よりも前のライン（図２０に示すラインＬ２）で外部閃光の影響は終了している（外部閃光の影響が無くなる）。
この場合においても、本実施形態の撮像装置５０００では、図１６に示すフレーム判定部４６以外の部分は、前述の場合と同様に動作する。

図１６に示す撮像部１からＮ−１番目のフレームの撮像信号が入力されたときに、ライン判定部４５には、前述と同様にライン位置情報ｍ、ラインｍおよびラインｍ−ａのライン評価値ＬｍおよびＬｍ−ａが記憶される。
Ｎ番目のフレームの撮像信号が入力されたとき、フレーム判定部４６は、ライン判定部４５から入力されたライン位置情報ｍを基に、図１８の各部が、前述と同様に動作するが、Ｎ番目のフレームでは、画面の途中からライン評価値が所定値以上減少することはないため、評価値比較部４６７のみがフラグを立てる。この場合、フレーム判定情報生成部４６９は、Ｎ−１番目のフレームの撮像信号に外部閃光の影響が開始されたと判断し、Ｎ番目のフレームの撮像信号では外部閃光の影響が継続していると判断してフレーム判定情報を出力する。

Ｎ＋１番目のフレームの撮像信号が入力されたとき、フレーム判定部４６は、ライン判定部４５から入力されたライン位置情報ｍを基に、図１８の各部が前述と同様に動作するが、Ｎ＋１番目のフレームでは、ラインｍよりも前のラインでライン評価値が減少するため（図２０のラインＬ１からライン評価値が減少し始めるため）、評価値比較部４６８がフラグを立てる。つまり、Ｎ＋１番目のフレームのラインｍのタイミングにおいて、評価値比較部４６８は、フラグを立てる。
この場合、フレーム判定情報生成部４６９は、Ｎ＋１番目のフレームの撮像信号への外部閃光の影響が終了したと判断してフレーム判定情報を出力する。
つまり、撮像装置５０００では、図２０に示す、外部閃光が２フレーム期間内に２回入る場合、図２０に示すＡ点（Ｎ−１番目のフレームのラインｍ−ａ）からＢ点（Ｎ＋１番目のフレームのラインｍ）までの期間を、外部閃光の影響ありの期間として、検出することができる。

そして、図１６に示すフラッシュ補正処理部５は、フレーム判定部４６が出力するフレーム判定情報を基に撮像信号に対して外部閃光の影響を除去または抑制する処理を行う。
≪Ｎ−１番目フレームの最下位ラインの走査終了とＮ番目フレームの撮像信号の最上位ラインの走査開始の間に外部閃光が発光された場合≫
次に、撮像装置５０００において、Ｎ−１番目のフレームの撮像信号の最下位ラインの走査終了とＮ番目のフレームの撮像信号の最上位ラインの走査開始の間に外部閃光が発光された場合の撮像装置５０００の動作について、説明する。
Ｎ−１番目のフレームの撮像信号の最下位ラインの走査終了とＮ番目のフレームの撮像信号の最上位ラインの走査開始の間に外部閃光が発光された場合には、図２１に示すように、撮像部１から出力される撮像信号には、Ｎ番目のフレームの画面全体にのみ白帯状の妨害が発生する。

このような場合、本実施形態の撮像装置５０００では、図１６に示すライン判定部４５が、外部閃光の影響を示すラインを検出および記憶することはなく、フレーム判定部４６は、外部閃光の影響があることを示すフレーム判定情報は出力しない。このため、フラッシュ補正処理部５は、撮像信号に対して、外部閃光の影響を除去または抑制する処理を行わない。しかし、この場合、撮像装置５０００による撮像画像の画面全体が一様に白くなり、撮像素子をＣＣＤイメージセンサとした撮像装置で撮像した場合のように、かえって自然な画像となるため、撮像装置５０００では、特に処理を行う必要はない。
なお、本実施形態の撮像装置５０００、ライン判定部４５およびフレーム判定部４６について、図１６、図１７および図１８を用いて説明したが、発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜他の構成をとり得ることは言うまでもない。

なお、本実施形態において、各ラインの評価値を撮像信号の輝度レベルとしたが、これに限定されることはなく、外部閃光の影響の有無により変化するものであれば、例えば、撮像信号の色成分や周波数成分あるいはＳＮ比（Ｓｉｇｎａｌ ｔｏ Ｎｏｉｓｅ Ｒａｔｉｏ）など、他の信号成分や値を評価値としても構わない。
以上のように、本実施形態の撮像装置５０００では、最初にライン方向の評価値（ライン評価値）の急峻な変化を検出することで、着目すべきラインを特定し、以降はその特定したラインのみを監視することで、外部閃光の影響を受けている部分（撮像信号）を適切に検出することができる。つまり、撮像装置５０００では、外部閃光が発光されるタイミングがどのようなタイミングであっても（どのラインから外部閃光の影響があった場合でも）、記憶する必要があるのはライン位置とライン評価値のみであるため、フレームメモリ等を必要とせず、フレーム間の評価値（ライン評価値）の比較ができ、また、画像のライン方向とフレーム方向の両方の評価値（ライン評価値）の変化の規則性を利用することで、より確実に外部閃光の影響の有無を判定することができる。

［第６実施形態］
次に、第６実施形態について、説明する。
図１６、図１７および図１８は、第６実施形態の撮像装置、ライン判定部およびフレーム判定部の概略構成をも示す図である。図１６、図１７および図１８の各部の基本的な構成および動作については、第５実施形態で説明したものと同様であるため、ここでは相違部分について主に説明する。
図１６において、撮像部１は、原色信号Ｇ（緑）、Ｂ（青）およびＲ（赤）の３チャンネルのＣＭＯＳイメージセンサ等を用いる撮像素子で構成され、被写体を撮像して、３チャンネルの撮像信号を出力する。
ライン評価値算出部４４は、各フレームにおいて、３チャンネルの撮像信号の各ラインの平均信号レベル等から、それぞれ独立に、各ラインのライン評価値ＬＧｎ、ＬＢｎおよびＬＲｎ（ｎはライン位置）を算出する。

ライン判定部４５は、ａライン前（ａは正整数）のライン評価値と比較して３チャンネルのライン評価値が、全て、各々の所定量以上増加するラインｍ（ｍはライン位置）を検出して、ライン位置情報ｍと、ラインｍおよびａライン前のラインｍ−ａのライン評価値ＬＧｍ、ＬＢｍ、ＬＲｍおよびＬＧｍ−ａ、ＬＢｍ−ａ、ＬＲｍ−ａを、一時的に記憶する。
フレーム判定部４６は、ライン判定部４５に記憶されたライン位置情報ｍに対して、ライン判定部４５に記憶されたラインｍおよびラインｍ−ａのライン評価値ＬＧｍ、ＬＢｍ、ＬＲｍおよびＬＧｍ−ａ、ＬＢｍ−ａ、ＬＲｍ−ａと、以降のフレームの撮像信号のラインｍおよびラインｍ−ａの評価値ＬＧ’ｍ、ＬＢ’ｍ、ＬＲ’ｍおよびＬＧ’ｍ−ａ、ＬＢ’ｍ−ａ、ＬＲ’ｍ−ａと、をライン間またはフレーム間で比較することにより、各フレームに外部閃光の影響があるか否かを判断して結果を示すフレーム判定情報を出力する。

フラッシュ補正処理部５は、フレーム判定情報を基に撮像信号に対して外部閃光の影響を除去または抑制する処理を行う。
図１７は、図１６のライン判定部４５の概略構成を示す図である。
評価値シフトレジスタ部４５１は、ａ個のフリップフロップ等で構成されたシフトレジスタであり、図１６のライン評価値算出部４４において算出された各ラインのライン評価値ＬＧｎ、ＬＢｎおよびＬＲｎが入力され、水平同期パルスに従って、１ライン毎に次段のレジスタに転送される。
評価値比較部４５２は、各ライン毎に、ａライン前のラインの３チャンネルのライン評価値と比較して、全て各々の所定量以上大きければ、トリガパルスを発生する。
ライン位置記憶部４５４は、評価値比較部４５２が発生したトリガパルスに従って、ラインカウンタ４５３のカウンタ値すなわちラインｍおよびラインｍ−ａのライン評価値ＬＧｍ、ＬＢｍ、ＬＲｍおよびＬＧｍ−ａ、ＬＢｍ−ａ、ＬＲｍ−ａが、前述の条件を満たすライン位置情報ｍを一時的に記憶する。

ライン評価値記憶部４５５および４５６は、同様に、トリガパルスに従って、ラインｍおよびラインｍ−ａのライン評価値ＬＧｍ、ＬＢｍ、ＬＲｍおよびＬＧｍ−ａ、ＬＢｍ−ａ、ＬＲｍ−ａを一時的に記憶する。
図１８は、図１６のフレーム判定部４６の概略構成を示す図である。
カウンタ値比較部４６２および４６３は、図１６のライン判定部４５に記憶されているライン位置情報ｍに対して、ラインカウンタ４６１のカウンタ値が、各々ｍおよびｍ−ａとなるタイミングでトリガパルスを発生させる。
ライン評価値記憶部４６４および４６５は、図１６のライン評価値算出部４４において算出された各ラインのライン評価値ＬＧｎ、ＬＢｎおよびＬＲｎを入力とし、各々カウンタ値比較部４６２および４６３が発生するトリガパルスに従って、ラインｍおよびラインｍ−ａのライン評価値ＬＧ’ｍ、ＬＢ’ｍ、ＬＲ’ｍおよびＬＧ’ｍ−ａ、ＬＢ’ｍ−ａ、ＬＲ’ｍ−ａを一時的に記憶する。

評価値比較部４６６、４６７および４６８は、ライン評価値記憶部４６４および４６５に記憶されているライン評価値ＬＧ’ｍ、ＬＢ’ｍ、ＬＲ’ｍおよびＬＧ’ｍ−ａ、ＬＢ’ｍ−ａ、ＬＲ’ｍ−ａと、図１６のライン判定部４５に記憶されているラインｍおよびラインｍ−ａの評価値ＬＧｍ、ＬＢｍ、ＬＲｍおよびＬＧｍ−ａ、ＬＢｍ−ａ、ＬＲｍ−ａを、各々比較して、全てのチャンネルのライン評価値が所定の条件を満たす場合にフラグを立てる。所定の条件については、第５実施形態で説明したものと同様である。ただし、本実施形態では、Ｒ、Ｇ、Ｂの３チャンネル分について、ライン評価値が所定の条件により判断される点が、第５実施形態とは異なる。
フレーム判定情報生成部４６９は、評価値比較部４６６、４６７および４６８が発生したフラグが、所定の条件を満たす場合に、フレーム判定情報を生成し、いずれのフラグも立たない場合には、外部閃光の影響については、基本的に前フレームの状態が継続しているものと判断する。

本実施形態の撮像装置において、第５実施形態の撮像装置５０００との相違点は、ライン評価値を原色信号Ｇ、ＢおよびＲの３チャンネルから算出する点、そして、ライン判定部４５およびフレーム判定部４６の評価値比較部で、外部閃光の影響があると判断されるのは、３チャンネルのライン評価値全てが同時に所定の条件を満たす場合とする点である。第６実施形態の撮像装置において、図１９、図２０および図２１に示すタイミングで外部閃光が発光された場合の動作については、上記以外は第５実施形態で説明したのと同様である。外部閃光の影響は、原色信号の全てのチャンネルの撮像信号に対して、同じタイミングで開始および終了するため、本実施形態の撮像装置では、被写体の種類によらず外部閃光の影響の有無をより確実に判断することが可能となる。
なお、本実施形態の撮像装置、ライン判定部およびフレーム判定部について、図１６、図１７および図１８を用いて説明したが、発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜他の構成をとり得ることは言うまでもない。

なお、本実施形態において、各ラインの評価値を原色信号Ｇ、ＢおよびＲの信号レベルとしたが、これに限定されることはなく、外部閃光の影響の有無により変化するものであれば、例えば、撮像信号の色成分や周波数成分あるいはＳＮ比など、他の信号成分や値を評価値としても構わない。
また、上記では、ＲＧＢ３チャンネル分の撮像信号に対して、本発明を適用する場合について説明したが、これに限定されることはなく、例えば、減色系の成分であるイエロー、マジェンタ、シアンに、それぞれ対応する３チャンネル分の撮像信号に対して、本発明を適用してもよい。さらに、４チャンネル分（例えば、Ｒチャンネル、Ｇ１チャンネル、Ｇ２チャンネル、Ｂチャンネル）や、それ以上のチャンネル数の撮像信号に対して、本発明を適用するようにしてもよい。

以上のように、本実施形態の撮像装置では、最初にライン方向の評価値（ライン評価値）の急峻な変化を検出することで、着目すべきラインを特定し、以降はその特定したラインのみを監視することで、外部閃光の影響を受けている部分（撮像信号）を適切に検出することができる。つまり、本実施形態の撮像装置では、外部閃光が発光されるタイミングがどのようなものであっても（どのラインから影響があった場合でも）、記憶する必要があるのはライン位置とライン評価値のみであるため、フレームメモリ等を必要とせず、フレーム間の評価値（ライン評価値）の比較ができ、さらに、複数チャンネルの撮像信号のライン評価値を利用することで外部閃光の影響の誤検出を抑制し、また、画像のライン方向とフレーム方向の両方の評価値（ライン評価値）の変化の規則性を利用することで、より確実に外部閃光の影響の有無を判定することができる。

［第７実施形態］
次に、第７実施形態について、説明する。
＜７．１：撮像装置の構成＞
図２２は、第７実施形態の撮像装置７０００の概略構成を示す図である。
図２２に示すように、撮像装置７０００は、撮像部１と、検出部４Ｂと、フラッシュ補正処理部５とを備える。そして、検出部４Ｂは、ライン評価値算出部４４と、ライン増加判定部４７と、ライン減少判定部４８と、フレーム判定部４９と、を備える。なお、前述の実施形態と同様の部分については、同じ符号を付し、詳細な説明を省略する。
ライン増加判定部４７は、ａライン前（ａは正整数）のライン評価値と比較してライン評価値が所定量以上増加するラインｍ１（ｍ１はライン位置）を検出してフラグを立てる。すなわち、ライン増加判定部４７は、
（ライン評価値Ｌｎ）−（ライン評価値Ｌｎ−ａ）≧（所定量）
である場合、フラグを立てる。

ライン減少判定部４８は、ｂライン前（ｂは正整数）のライン評価値と比較してライン評価値が所定量以上減少するラインｍ２（ｍ２はライン位置）を検出してフラグを立てる。すなわち、ライン減少判定部４８は、
（ライン評価値Ｌｎ−ｂ）−（ライン評価値Ｌｎ）≧（所定量）
である場合、フラグを立てる。
フレーム判定部４９は、ライン増加判定部４７から出力されるフラグが立ったときに、そのフレームの撮像信号への外部閃光の影響が開始され、ライン減少判定部４８から出力されるフラグが立ったときに、そのフレームの撮像信号への外部閃光の影響が終了したと判断して、その判断結果を示すフレーム判定情報を、フラッシュ補正処理部５に出力する。

（７．１．１：ライン増加判定部４７の概略構成）
図２３は、ライン増加判定部４７の概略構成を示す図である。
図２３に示すように、ライン増加判定部４７は、評価値シフトレジスタ部４７１と、評価値比較部４７２と、を有する。
評価値シフトレジスタ部４７１は、図１７の評価値シフトレジスタ部４５１と同様に動作する。
評価値比較部４７２は、各ライン毎に、処理対象となっているラインのライン評価値が、ａライン前のラインのライン評価値と比較して所定量以上大きければフラグを立てる。
（７．１．２：ライン減少判定部４８の概略構成）
図２４は、ライン減少判定部４８の概略構成を示す図である。

図２４に示すように、ライン減少判定部４８は、評価値シフトレジスタ部４８１と、評価値比較部４８２とを有する。
評価値シフトレジスタ部４８１は、図１７の評価値シフトレジスタ部４５１と同様に動作する。
評価値比較部４８２は、各ライン毎に、処理対象となっているラインのライン評価値が、ｂライン前のラインのライン評価値と比較して所定量以上小さければフラグを立てる。
＜７．２：撮像装置の動作＞
以下、第７実施形態の撮像装置７０００の動作について、図２２から図２４、および図１９から図２１を用いて説明する。
撮像装置７０００に、図１９に示すようなタイミングで外部閃光が発光された場合、ライン増加判定部４７では、ライン評価値算出部４４から入力された評価値Ｌｎが、図２３に示す評価値シフトレジスタ部４７１に入力されて、次段のレジスタに１ライン毎に順次シフトされる。

評価値比較部４７２では、外部閃光の影響がない期間は、入力される２ラインのライン評価値の差は、予め適切に設定された所定量よりも小さいが、図１９に示すＮ−１番目のフレームの撮像信号のラインｍ（ここでは、ラインｍ１とする）のライン評価値Ｌｍ１が入力されたときに、評価値比較部４７２に入力されるラインｍ１のライン評価値Ｌｍ１は、ラインｍ１−ａのライン評価値Ｌｍ１−ａと比較して所定値よりも大きくなる。このため、この時点において、評価値比較部４７２は、外部閃光の影響が開始されたものとしてフラグ（ライン増加フラグ）を立てる。
そして、フレーム判定部４９は、このフラグ（ライン増加フラグ）に従って、Ｎ−１番目のフレームの撮像信号への外部閃光の影響が開始されたと判断して、フレーム判定情報を発生させる。

一方、ライン減少判定部４８では、ライン評価値算出部４４から入力された評価値Ｌｎが、図２４に示す評価値シフトレジスタ部４８１に入力されて、次段のレジスタに１ライン毎に順次シフトされる。
評価値比較部４８２では、図１９に示すＮ番目のフレームの撮像信号のラインｍ（ここでは、ラインｍ２とする）のライン評価値Ｌｍ２が入力されたときに、評価値比較部４８２に入力されるラインｍ２のライン評価値Ｌｍ２は、ラインｍ２−ｂのライン評価値Ｌｍ２−ｂと比較して所定値よりも小さくなるため、外部閃光の影響が終了したものとしてフラグ（ライン減少フラグ）を立てる。
そして、フレーム判定部４９は、このフラグ（ライン減少フラグ）に従って、Ｎ番目のフレームの撮像信号への外部閃光の影響が終了したと判断して、フレーム判定情報を発生させる。

図１９に示すようなタイミングで外部閃光が発光された場合には、通常、ライン位置情報ｍ１とｍ２は、同じラインとなる。
そして、図２２に示すフラッシュ補正処理部５は、フレーム判定部４９が出力するフレーム判定情報を基に撮像信号に対して外部閃光の影響を除去または抑制する処理を行う。
図２０に示すようなタイミングで外部閃光が発光された場合も同様に、ライン増加判定部４７は、Ｎ−１番目のフレームの撮像信号が入力されたとき、評価値比較部４７２では、ラインｍ（ここでは、ラインｍ１とする）のライン評価値Ｌｍ１が入力されたときにフラグ（ライン増加フラグ）を立てる。
そして、フレーム判定部４９は、このフラグ（ライン増加フラグ）に従って、Ｎ−１番目のフレームの撮像信号への外部閃光の影響が開始されたと判断して、フレーム判定情報を発生させる。

一方、ライン減少判定部４８は、Ｎ＋１番目のフレームの撮像信号が入力されたとき、評価値比較部４８２では、ラインｍ（ここでは、ラインｍ１とする）よりも前のラインｍ２のライン評価値Ｌｍ２が入力されたときに、それよりもｂライン前のラインのライン評価値Ｌｍ２−ｂと比較して所定値よりも小さくなるため、外部閃光の影響が終了したものとしてフラグ（ライン減少フラグ）を立てる。
そして、フレーム判定部４９は、このフラグ（ライン減少フラグ）に従って、Ｎ＋１番目のフレームの撮像信号への外部閃光の影響が終了したと判断して、フレーム判定情報を発生させる。
図２０に示すようなタイミングで外部閃光が発光された場合には、通常、ライン位置情報ｍ２は、ｍ１よりも前のラインとなる。

そして、図２２に示すフラッシュ補正処理部５は、フレーム判定部４９が出力するフレーム判定情報を基に撮像信号に対して外部閃光の影響を除去または抑制する処理を行う。
図２１に示すようなタイミングで外部閃光が発光された場合には、本実施形態の撮像装置７０００では、ライン増加判定部４７およびライン減少判定部４８が外部閃光の影響を示すラインを検出することはなく、フレーム判定部４９は、外部閃光の影響があることを示すフレーム判定情報は出力しない。このため、撮像装置７０００では、フラッシュ補正処理部５は、撮像信号に対して外部閃光の影響を除去または抑制する処理を行わない。しかし、この場合、撮像装置７０００による撮像画像の画面全体が一様に白くなり、撮像素子をＣＣＤイメージセンサとした撮像装置で撮像した場合のように、かえって自然な画像となるため、撮像装置７０００では、特に処理を行う必要はない。

なお、本実施形態の撮像装置、ライン増加判定部およびライン減少判定部について、図２２、図２３および図２４を用いて説明したが、発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜他の構成をとり得ることは言うまでもない。
なお、本実施形態において、各ラインの評価値を撮像信号の輝度レベルとしたが、これに限定されることはなく、外部閃光の影響の有無により変化するものであれば、例えば、撮像信号の色成分や周波数成分あるいはＳＮ比（Ｓｉｇｎａｌ ｔｏ Ｎｏｉｓｅ Ｒａｔｉｏ）など、他の信号成分や値を評価値としても構わない。
以上のように、本実施形態の撮像装置７０００では、ライン方向の評価値（ライン評価値）の急峻な増加を検出することで、外部閃光の影響が開始されるフレームを検出し、ライン方向の評価値（ライン評価値）の急峻な減少を検出することで、外部閃光の影響が終了するフレームを検出する。これにより、撮像装置７０００では、外部閃光が発光されるタイミングがどのようなタイミングであっても（どのラインから外部閃光の影響があった場合でも）、フレームメモリ等を必要とせず、また、前のフレームの評価値が不要なことから外部閃光の影響の有無の判定にフレーム遅延が発生せず、また、同一フレーム内で外部閃光の影響の有無を判定できる。このため、撮像装置７０００では、撮像装置のアイリスなどの設定条件に左右されずに、外部閃光の影響の有無を判定することができる。

［第８実施形態］
次に、第８実施形態について、説明する。
図２２、図２３および図２４は本発明の第８実施形態の撮像装置、ライン増加判定部およびライン減少判定部の概略構成をも示す図である。図２２、図２３および図２４の各部の基本的な構成および動作については第７実施形態で説明したものと同様であるため、ここでは相違部分について主に説明する。
図２２において、撮像部１は、原色信号Ｇ（緑）、Ｂ（青）およびＲ（赤）の３チャンネルのＣＭＯＳイメージセンサ等を用いる撮像素子で構成され、被写体を撮像して、３チャンネルの撮像信号を出力する。
ライン評価値算出部４４は、各フレームにおいて、３チャンネルの撮像信号の各ラインの平均信号レベル等から、それぞれ独立に、各ラインの評価値ＬＧｎ、ＬＢｎおよびＬＲｎ（ｎはライン位置）を算出する。

ライン増加判定部４７は、ａライン前（ａは正整数）のライン評価値と比較して３チャンネルのライン評価値が、全て、各々の所定量以上増加するラインｍ１（ｍ１はライン位置）を検出して、フラグ（ライン増加フラグ）を立てる。
ライン減少判定部４８は、ｂライン前（ｂは正整数）のライン評価値と比較して３チャンネルのライン評価値が、全て、各々の所定量以上減少するラインｍ２（ｍ２はライン位置）を検出して、フラグ（ライン減少フラグ）を立てる。
フレーム判定部４９は、ライン増加判定部４７から出力されるフラグ（ライン増加フラグ）が立ったときに、そのフレームの撮像信号への外部閃光の影響が開始され、ライン減少判定部４８から出力されるフラグ（ライン減少フラグ）が立ったときに、そのフレームの撮像信号への外部閃光の影響が終了したと判断して、判断結果を示すフレーム判定情報を出力する。

フレーム判定部４９は、ライン増加判定部４７およびライン減少判定部４８のいずれのフラグも立たない場合には、外部閃光の影響については基本的に前フレームの状態が継続しているものと判断する。
フラッシュ補正処理部５は、フレーム判定情報を基に撮像信号に対して外部閃光の影響を除去または抑制する処理を行う。
本実施形態の撮像装置において、第７実施形態の撮像装置７０００との相違点は、ライン評価値を原色信号Ｇ、ＢおよびＲの３チャンネルから算出する点、そして、ライン増加判定部４７およびライン減少判定部４８の評価値比較部で、外部閃光の影響が開始および終了したと判断されるのは、３チャンネルのライン評価値全てが同時に所定の条件を満たす場合とする点である。図１９、図２０および図２１に示すタイミングで外部閃光が発光された場合の動作については、上記以外は、第７実施形態で説明したのと同様である。外部閃光の影響は原色信号の全てのチャンネルの撮像信号に対して同じタイミングで開始および終了するため、本実施形態の撮像装置では、被写体の種類によらず外部閃光の影響の有無をより確実に判断することが可能となる。

なお、本実施形態の撮像装置、ライン増加判定部およびライン減少判定部について、図２２、図２３および図２４を用いて説明したが、発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜他の構成をとり得ることは言うまでもない。
なお、本実施形態において、各ラインの評価値を原色信号Ｇ、ＢおよびＲの信号レベルとしたが、これに限定されることはなく、外部閃光の影響の有無により変化するものであれば、例えば、撮像信号の色成分や周波数成分あるいはＳＮ比など、他の信号成分や値を評価値としても構わない。
また、上記では、ＲＧＢ３チャンネル分の撮像信号に対して、本発明を適用する場合について説明したが、これに限定されることはなく、例えば、減色系の成分であるイエロー、マジェンタ、シアンに、それぞれ対応する３チャンネル分の撮像信号に対して、本発明を適用してもよい。さらに、４チャンネル分（例えば、Ｒチャンネル、Ｇ１チャンネル、Ｇ２チャンネル、Ｂチャンネル）や、それ以上のチャンネル数の撮像信号に対して、本発明を適用するようにしてもよい。

以上のように、本実施形態の撮像装置では、ライン方向の評価値（ライン評価値）の急峻な増加を検出することで、外部閃光の影響が開始されるフレームを検出し、ライン方向の評価値の急峻な減少を検出することで、外部閃光の影響が終了するフレームを検出することにより、外部閃光の影響を受けている部分（撮像信号）を適切に検出することができる。つまり、本実施形態の撮像装置では、外部閃光が発光されるタイミングがどのようなものであっても（どのラインから影響があった場合でも）、フレームメモリ等を必要とせず、また、前のフレームの評価値が不要なことから外部閃光の影響の有無の判定にフレーム遅延が発生せず、また、同一フレーム内で外部閃光の影響の有無を判定できる。このため、本実施形態の撮像装置では、撮像装置のアイリスなどの設定条件に左右されず、さらに複数チャンネルの撮像信号の評価値（ライン評価値）を利用することで、外部閃光の影響の誤検出を抑制してより確実に外部閃光の影響の有無を判定することができる。

なお、上記実施形態において、評価値シフトレジスタ部４５１、４７１および４８１は、ａ個およびｂ個のフリップフロップで構成され、その出力は、最終段のフリップフロップの出力である場合について説明した。しかし、これに限定されることはなく、例えば、評価値シフトレジスタ部４５１、４７１および４８１を構成する複数のフリップフロップの任意の位置（任意のフリップフロップの出力）から出力される信号（ライン評価値）を、評価値シフトレジスタ部４５１、４７１および４８１の出力とするようにしてもよい。このようにすることで、外部閃光の有無を判定するときのパラメータであるライン数「ａ」および「ｂ」を変更することができる。
［第９実施形態］
次に、第９実施形態について、図面を参照しながら説明する。

＜９．１：撮像装置の構成＞
図２５に、第９実施形態の撮像装置９０００のブロック図（概略構成図）を示す。なお、以下では、説明便宜のため、フィールド単位での処理について説明する。
図２５に示すように、撮像装置９０００は、被写体を撮像して撮像信号ＶＩを生成する撮像部１と、撮像部１で生成した撮像信号ＶＩから外部閃光の有無をフィールド単位で検出し、検出結果の情報を含む閃光検出信号ＦＤを生成する閃光検出部４Ｃと、閃光検出部４Ｃにより生成された閃光検出信号ＦＤに従って外部閃光の影響を受けた撮像部１の出力撮像信号ＶＩを補正するフラッシュ補正処理部５と、を備える。
撮像部１は、ＣＭＯＳ型撮像素子（ＣＭＯＳ型イメージセンサ等）を含み、被写体からの光を集光し、集光した光を光電変換することにより撮像信号ＶＩとして取得する。撮像部１は、取得した撮像信号ＶＩを閃光検出部４Ｃおよびフラッシュ補正処理部５に出力する。

閃光検出部４Ｃは、撮像部１から出力される撮像信号ＶＩを入力とし、撮像信号ＶＩから外部閃光の影響の有無を検出し、画面下部に外部閃光の影響があるときは「１」となり、ないときは「０」となる閃光検出信号ＦＤを生成する。そして、閃光検出部４Ｃは、生成した閃光検出信号ＦＤをフラッシュ補正処理部５に出力する。
図２７は、閃光検出部４Ｃのより詳細な構成の一例を示す図である。
図２７に示すように、閃光検出部４Ｃは、ブロック平均値算出部３０１と、ブロック平均値記憶部３０２と、近傍ブロック差分部３０３と、乗算部３０４と、比較部３０５と、を備える。さらに、閃光検出部４Ｃは、第１カウンタ部３０６と、第１比較部３０７と、第２カウンタ部３０８と、第２比較部３０９とを備える。
フラッシュ補正処理部５は、撮像部１から出力される撮像信号ＶＩと、閃光検出部４Ｃから出力される閃光検出信号ＦＤとを入力とする。フラッシュ補正処理部５は、閃光検出信号ＦＤに基づいて、撮像信号ＶＩに対して、閃光補正処理及びノイズ除去処理を行い、閃光補正処理及びノイズ除去がなされた撮像信号ＶＯを出力する。例えば、図２６に示すように「フィールド２」と「フィールド３」にフラッシュ（外部閃光）による明るさの変化がある映像（フィールド画像）が存在するとき、フラッシュ補正処理部５は、この「フィールド２」と「フィールド３」の映像を加算平均する。すなわち、フラッシュ補正処理部５は、フラッシュにより明るくなり信号レベルが「１００」（例えば、Ｗ１００％の信号レベルを「１００」とする。）になっている部分と、フラッシュの影響を受けていない信号レベルが「２０」の部分を加算平均して、信号レベルが「６０」になった映像を生成する。そして、この加算平均した映像を、閃光検出信号ＦＤが１であるフィールドの「フィールド２」とその次のフィールドである「フィールド３」の代わりに撮像信号ＶＯとして出力する。ここで、フラッシュ補正処理部５の処理については本実施形態の主とするところではないので、詳細な説明は省略する。

＜９．２：撮像装置の動作＞
以上のように構成された撮像装置９０００の動作について、以下、説明する。
撮像部１により取得された撮像信号ＶＩは、閃光検出部４Ｃのブロック平均値算出部３０１およびフラッシュ補正処理部５に出力される。
ブロック平均値算出部３０１では、入力された撮像信号ＶＩにより形成される画像（フィールド画像）を所定の大きさに分割したブロック（図２８では、１６×２４個に分割したブロック）ごとの信号レベルの平均値（ブロックを構成する画素値の平均値）が算出される。そして、ブロック平均値算出部３０１により算出された各ブロックの平均値は、ブロック平均値記憶部３０２と、近傍ブロック差分部３０３とに出力される。
ブロック平均値記憶部３０２では、ブロック平均値算出部３０１から出力されるブロック平均値を記憶し、記憶したブロック平均値を、１フィールドに相当する時間（フレーム画像を単位として処理を行う場合は、１フレームに相当する時間）だけ遅延させて、近傍ブロック差分部３０３に出力する。

近傍ブロック差分部３０３では、以下の（１）〜（３）の処理が実行される。
（１）近傍ブロック差分部３０３は、ブロック平均値算出部３０１から出力される現フィールドの処理対象のブロック（これを「注目ブロック」という。）のブロック平均値Ａ０を取得する。
（２）近傍ブロック差分部３０３は、ブロック平均値記憶部３０２から出力される現フィールドの１フィールド前のフィールドにおいて、注目ブロックの周辺ブロックの中で、注目ブロックのブロック平均値Ａ０に最も近い値のブロック平均値を持つブロックを検出し、検出したブロックのブロック平均値を代表平均値ＲＡｖｅとする。
（３）近傍ブロック差分部３０３は、ブロック差分値Ｄｉｆｆを、
Ｄｉｆｆ＝Ａ０−ＲＡｖｅ
により算出する。

そして、近傍ブロック差分部３０３により算出されたブロック差分値Ｄｉｆｆは、比較部３０５に出力される。また、近傍ブロック差分部３０３により取得された代表平均値ＲＡｖｅは、乗算部３０４に出力される。
乗算部３０４では、代表平均値ＲＡｖｅに、所定の係数が乗算され、乗算結果がスレッシュ信号Ｔｈとして、比較部３０５に出力される。
比較部３０５では、近傍ブロック差分部３０３からブロック差分値Ｄｉｆｆが、乗算部３０４から出力されるスレッシュ信号Ｔｈと比較される。具体的には、比較部３０５は、
Ｄｉｆｆ＞Ｔｈ
である場合、「１」を、この不等式を満たさない場合、「０」を第１カウンタ部３０６に出力する。

第１カウンタ部３０６では、カウント対象を、撮像信号ＶＩが形成する画像（フィールド画像）における水平方向１段に含まれる全ブロック（図２８では、２４ブロック）とし、比較部３０５から出力される比較結果「１」をカウントする。そして、第１カウンタ部３０６により取得されたカウント値は、第１比較部３０７に出力される。なお、第１カウンタ部３０６は、撮像信号ＶＩが形成する画像（フィールド画像）における水平方向１段に含まれる全ブロック（図２８では、２４ブロック）についてのカウントが終了したら、カウント値をリセットする。
第１比較部３０７では、第１カウンタ部３０６により取得されたカウント値が所定の閾値（例えば、「６」）と比較される。具体的には、第１比較部３０７は、第１カウンタ部３０６により取得されたカウント値が所定の閾値以上である場合、「１」を、それ以外の場合は、「０」を、第２カウンタ部３０８に出力する。

第２カウンタ部３０８では、比較部３０５から出力される比較結果「１」をカウントする。そして、第２カウンタ部３０８により取得されたカウント値は、第２比較部３０９に出力される。なお、第２カウンタ部３０８は、１フィールド画像の指定エリア（図２８では、画面下部８×２４ブロック）を対象として、カウント処理が終了したら、カウント値をリセットする。
第２比較部３０９では、第２カウンタ部３０８により取得されたカウント値が所定の閾値（例えば、「２」）と比較される。具体的には、第２比較部３０９は、第２カウンタ部３０８により取得されたカウント値が所定の閾値以上である場合、「１」を、それ以外の場合は、「０」を、出力する。そして、第２比較部３０９の比較結果は、次のフィールドの間維持される形でフラッシュ検出結果の信号ＦＤとして閃光検出部４Ｃからフラッシュ補正処理部５に出力される。

≪図２６の場合（外部閃光ありの場合）≫
次に、図２６の「フィールド１」から「フィールド５」までの撮像信号ＶＩが、閃光検出部４Ｃに入力されたときのフラッシュの有無を検出する閃光検出部４Ｃの動作について説明する。なお、ここで、「フィールド１」の前のフィールドの映像を「フィールド０」とし、「フィールド０」では外部閃光の影響はないものとする。
撮像装置９０００により、図２９に示す楕円形の被写体を撮像しており、図２９に示す楕円形の被写体がフラッシュの影響を受けるとすると、「フィールド２」になったとき、この被写体の下半分がフラッシュの影響を受けて明るくなる。つまり、「フィールド２」の下部に相当する撮像信号ＶＩは、フラッシュの影響を受けて明るい（輝度の高い）信号となる。

撮像装置９０００では、図２８に示すように画面を縦１６個、横２４個のブロックに分割し、この分割したブロックを用いて閃光検出処理を行う。
ブロック平均値算出部３０１は、分割した各ブロックにおける入力撮像信号ＶＩの平均値を求める。ブロック平均値算出部３０１にて求めた各ブロックの平均値は、ブロック平均値記憶部３０２で記憶され、次のフィールドで１フィールド前のフィールドのブロックの平均値として使用される。
次に、近傍ブロック差分部３０３における図２９の斜線部で示すブロックに対する処理について説明する。なお、図５において、第ｉ行第ｊ列のｎ番目のフィールドのブロック平均値をＡｖｅ（ｉ，ｊ，ｎ）と表記するものとする。
ブロック平均値算出部３０１で生成された図２９の斜線部ブロック平均値に対して、ブロック平均値記憶部３０２に格納されている前のフィールドの各ブロックの平均値の中から、図３０の斜線部に示す同じ位置（１０，２）（第１０行第２列）の１フィールド前のフィールド（フィールド１）のブロックのブロック平均値Ａｖｅ（１０，２，１）とそのブロックを囲む周辺８ブロックの計９ブロックのブロック平均値、すなわち、Ａｖｅ（９，１，１）、Ａｖｅ（９，２，１）、Ａｖｅ（９，３，１）、Ａｖｅ（１０，１，１）、Ａｖｅ（１０，３，１）、Ａｖｅ（１１，１，１）、Ａｖｅ（１１，２，１）、Ａｖｅ（１１，３，１）の９個のブロック平均値から、図３０の斜線部のブロックの現フィールド（フィールド２）のブロック平均値Ａｖｅ（１０，２，２）に最も近い値を、１フィールド前のフィールドの近傍９ブロックの代表平均値ＲＡｖｅとする。

そして、近傍ブロック差分部３０３は、図３０の斜線部のブロックのブロック平均値Ａｖｅ（１０，２，２）から、その代表平均値ＲＡｖｅ（１０，１）を減算し、ブロック差分値Ｄｉｆｆ（１０，２）を生成する。すなわち、近傍ブロック差分部３０３は、ブロック差分値Ｄｉｆｆ（１０，２）を、
Ｄｉｆｆ（１０，２）＝Ａｖｅ（１０，２，２）−ＲＡｖｅ（１０，１）
により算出する。そして、近傍ブロック差分部３０３は、算出したブロック差分値Ｄｉｆｆを比較部３０５に出力する。
一方、この近傍９ブロックの代表平均値ＲＡｖｅ（１０，１）は、乗算部３０４にて４分の１倍にされる。すなわち、近傍ブロック差分部３０３は、スレッシュ値Ｔｈ（１０，２）を、
Ｔｈ（１０，２）＝１／４×ＲＡｖｅ（１０，１）
により算出する。そして、近傍ブロック差分部３０３は、算出したスレッシュ値Ｔｈを比較部３０５に出力する。

比較部３０５は、近傍ブロック差分部３０３から入力されるブロック差分値Ｄｉｆｆと乗算部３０４から入力されるスレッシュ値Ｔｈを比較し、ブロック差分値Ｄｉｆｆがスレッシュ値Ｔｈ以上のときは「１」を、それ以外のときは「０」を、第１カウンタ部３０６に出力する。
第１カウンタ部３０６は、比較部３０５での１段すなわち水平２４ブロックごとに比較結果が「１」になるブロックがいくつあるかを数え、その数を第１比較部３０７に出力する。第１比較部３０７は、１段すなわち水平２４ブロックにおいて、カウンタが６以上になったら「１」を、６未満なら「０」を、第２比較部３０８に出力する。すなわち、第１比較部３０７は、１段のブロックが１フィールド前のフィールドの近傍９ブロックのうち最も近い値のブロックと比べて明るさが１．２５倍（＝１＋１／４）以上のブロックが６個以上のとき「１」、６個未満のとき「０」を出力する。

次に、第１比較部３０７の出力が入力される第２カウンタ部３０８は、第１比較部３０７の出力が「１」である段が連続何段続くかをカウントする。図３１のような画面中央部に楕円形の被写体があり、この被写体がフラッシュにより画面下半分で１フィールド前のフィールドより明るくなると、上記の動作によって、図３１の斜線で示すブロックにおいて、比較部３０５から「１」が出力される。図３１の場合、画面下半分の最初の５段（図３１の第９段〜第１３段）において、１段あたり６個以上のブロックで比較部３０５から「１」が出力される。そして、９段目から連続５段（図３１の第９段〜第１３段）の間、第１比較部３０７から「１」が出力されるので、第２カウンタ部３０８は、「５」というカウント値を取得する。
そして、第２カウンタ部３０８により取得されたカウント値は、第２比較部３０９に入力される。第２比較部３０９は、１フィールドの間に、このカウント値が１回でも２以上になったとき「１」を、１回も２以上にならなかったとき「０」を出力する。従って、図３１の場合、撮像装置９０００では、第２カウンタ部３０８にて、「５」まで数える過程で「２」になったとき、第２比較部３０９は、「１」を出力する。すなわち、この場合、閃光検出部４Ｃにより、現フィールドを形成する撮像信号にフラッシュが入った（外部閃光の影響がある）と判断される。

≪図３２の場合（高輝度被写体が画面を移動する場合）≫
次に、高輝度被写体が画面を移動する場合（高輝度被写体が移動するシーンを撮像装置９０００で撮像する場合）について、説明する。すなわち、図３２の斜線部に示すような部分に高輝度な被写体が存在し、この高輝度な被写体以外の部分に対応するブロックは暗い映像を構成するブロックであり、この高輝度被写体が１フィールドで上に１ブロック分移動したシーンを撮像装置９０００で撮像する場合について、説明する。
図３２の１フィールド後の画面が図３３であったとする。なお、説明便宜上、図３２の画面を「第（Ｎ−１）フィールド」（Ｎは整数）の画面とし、図３３の画面を「第Ｎフィールド」の画面とする。
この場合、１０段目のブロックは、図３２に示すように１フィールド前のフィールド（第（Ｎ−１）フィールド）では暗い（輝度値が小さい）。しかし、第（Ｎ−１）フィールドの１１段目は明るい（輝度値が大きい）ので、第Ｎフィールドの１０段目のブロックが処理対象となっているとき、１フィールド前のフィールド（第（Ｎ−１）フィールド）の近傍９ブロックの中には明るいブロックが存在することになる。従って、上記に述べた動作により、近傍ブロック差分部３０３は、第Ｎフィールドの１０段目の明るいブロックを処理するときは、１フィールド前のフィールド（第（Ｎ−１）フィールド）の１１段目の明るいブロックの値を代表平均値ＲＡｖｅとして選択する。すると、第Ｎフィールドの処理対象のブロックのブロック平均値Ａｖｅから１フィールド前のフィールド（第（Ｎ−１）フィールド）の代表値ＲＡｖｅを減算したブロックの差分値Ｄｉｆｆは、小さい値となるので、比較部３０５での比較結果は「０」になる。

また、近傍ブロック差分部３０３で、第Ｎフィールドの１１段目の明るいブロックを処理するときは、１フィールド前のフィールド（第（Ｎ−１）フィールド）の１１段目または１２段目の明るいブロックの値が代表平均値ＲＡｖｅとして選択されるため、同じく、比較部３０５での比較結果は「０」になる。
従って、閃光検出部４Ｃは、高輝度被写体が移動したときにフラッシュと間違って明るくなったと勘違い（誤検出）することはない。
以上の動作によって、撮像装置９０００では、高輝度被写体が移動したときに、フラッシュが入ったと間違う（誤判断する）ことがない。さらに、撮像装置９０００では、通常のフラッシュによる明るさの変化を検出するフラッシュ検出処理を、動き検出処理を使うことなく、すなわち、少ない回路規模で実現することができる。

なお、上記で述べた撮像装置９０００の動作において、ブロックの平均値は、必ずしも、単純な平均値である必要はなく、例えば、ブロックを構成する画素の画素値の合計値を単にビットシフトして、当該合計値を２の整数乗分の１にすることで求めるようにしても良い。
≪その他≫
本実施形態として、第９実施形態を例示した。しかし、本発明はこれには限らない。そこで、本発明の他の実施形態を以下まとめて説明する。なお、本発明は、これらには限定されず、適宜修正された実施の形態に対しても適用可能である。
第９実施形態において、画面を構成するものとしてフィールド単位での処理について説明したが、これに限定されず、フレーム単位の処理であってもよい。

第９実施形態において、画面を縦１６個、横２４個のブロックに分割する場合について説明したが、ブロックの分割数はこれに限定されず、縦及び横とも、検出の精度や回路規模の制限により決まる適切な別の数であってもよい。
第９実施形態において、近傍ブロック差分部３０３は、ある位置のブロックについて、同じ位置の前のフィールドのブロックとそのブロックを囲む周辺８ブロックの計９ブロックの平均値から最も平均値が近い値を代表平均値とするとしたが、これに限定されず、例えば、ブロックとそのブロックを囲む周辺８ブロックとその周辺８ブロックを囲む１６ブロックの合計２５ブロックの平均値から最も平均値が近い値を代表平均値としてもよい。
第９実施形態において、乗算部３０４は、入力値を４分の１倍にする場合について説明したが、これに限定されず、例えば、乗算部３０４は、入力値を、３分の１倍や５分の１倍にするものであってもよい。

第９実施形態において、第１比較部３０７は、水平２４ブロックの内、６ブロック以上ならば「１」を出力するとしたが、ブロック数は「６」に限定されず、「５」や「７」等の他の数であってもよい。
第９実施形態において、第２比較部３０９は、１フィールドの間に第２カウンタ部３０８が１回でも２以上になったとき「１」を出力するとしたが、カウンタ値は、「２」に限定されず、３以上であってもよい。
［他の実施形態］
上記実施形態において、「フレーム」として説明した部分は、発明の要旨を逸脱しない範囲で「フィールド」と置き換えられる。また、上記実施形態において、「フィールド」として説明した部分は、発明の要旨を逸脱しない範囲で「フレーム」と置き換えられる。

また、上記実施形態で説明した撮像装置において、各ブロックは、ＬＳＩなどの半導体装置により個別に１チップ化されても良いし、一部又は全部を含むように１チップ化されても良い。
なお、ここでは、ＬＳＩとしたが、集積度の違いにより、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩと呼称されることもある。
また、集積回路化の手法はＬＳＩに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセサで実現してもよい。ＬＳＩ製造後に、プログラムすることが可能なＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）や、ＬＳＩ内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサーを利用しても良い。
さらには、半導体技術の進歩又は派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。バイオ技術の適用等が可能性としてあり得る。

また、上記実施形態の各処理をハードウェアにより実現してもよいし、ソフトウェア（ＯＳ（オペレーティングシステム）、ミドルウェア、あるいは、所定のライブラリとともに実現される場合を含む。）により実現してもよい。さらに、ソフトウェアおよびハードウェアの混在処理により実現しても良い。なお、上記実施形態に係る撮像装置をハードウェアにより実現する場合、各処理を行うためのタイミング調整を行う必要があるのは言うまでもない。上記実施形態においては、説明便宜のため、実際のハードウェア設計で生じる各種信号のタイミング調整の詳細については省略している。
また、上記実施形態における処理方法の実行順序は、必ずしも、上記実施形態の記載に制限されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で、実行順序を入れ替えることができるものである。

なお、本発明の具体的な構成は、前述の実施形態に限られるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更および修正が可能である。

本発明に係る撮像装置、外部閃光検出方法、プログラムおよび集積回路は、近年ビデオカメラでも使われるようになってきたＣＭＯＳイメージセンサを用いた撮像装置に特有の、フラッシュ等が焚かれた被写体を撮影することにより発生する白帯状の妨害を検出して補正する撮像装置として有用であり、本発明は、当該分野において実施することができる。

１０００、２０００、５０００、７０００、９０００ 撮像装置
１ 撮像部
２、４、４Ａ、４Ｂ、４Ｃ 検出部（閃光検出部）
３ 補正部
５ フラッシュ補正処理部
１１ ライン平均部（ライン輝度情報算出部）
１２ 記憶部
１３ フレーム差分演算部
１４ 判断部
４１、４５ ライン判定部
４２ 判定情報記憶部
４３、４６、４９ フレーム判定部
４４、４７ ライン評価値算出部
４７ ライン増加判定部
４８ ライン減少判定部
３０１ ブロック平均値算出部
３０２ ブロック平均値記憶部
３０３ 近傍ブロック差分部
３０４ 乗算部
３０５、３０７、３０９ 比較部
３０６、３０８ カウンタ部
４１１ 評価値生成部
４１２ 評価値記憶部
４１３ 評価値比較部
４５１ 評価値シフトレジスタ部
４５２ 評価値比較部
４５３、４６１ ラインカウンタ
４５４ ライン位置記憶部
４５５、４５６ ライン評価値記憶部
４６２、４６３ カウンタ値比較部
４６４、４６５ ライン評価値記憶部
４６６、４６７、４６８ 評価値比較部
４６９ フレーム判定情報生成部

Claims (12)

1. 被写体を撮像して撮像信号を取得する撮像部と、
   前記撮像部により取得される前記撮像信号が、閃光の影響を受けているか否かを検出する閃光検出部と、
   を備え、
   前記閃光検出部は、
   前記撮像信号が形成する画像の各ラインの輝度情報値を算出するライン輝度情報値算出部と、
   処理対象となっている前記撮像信号が形成する現画像の各ラインの前記輝度情報値から、ライン毎に、１単位画像前の画像の同一ラインの前記ライン輝度情報値を減算することで、各ラインのフレーム差分値を算出するフレーム差分演算部と、
   前記フレーム差分値が所定の値である第１参照値より大きいか否かを判断することにより、前記撮像信号に対する外部閃光の影響の有無を判断する判断部と、
   を備え、
   前記判断部は、前記フレーム差分値が前記第１参照値と比較して大きいラインが連続する期間が１フレーム期間と略等しいときに、外部閃光の影響があると判断する、
   撮像装置。
2. 被写体を撮像して撮像信号を取得する撮像部と、
   前記撮像部により取得される前記撮像信号が、閃光の影響を受けているか否かを検出する閃光検出部と、
   を備え、
   前記撮像部は、電子シャッター機能を備え、
   前記閃光検出部は、
   前記撮像信号が形成する画像の各ラインの輝度情報値を算出するライン輝度情報値算出部と、
   処理対象となっている前記撮像信号が形成する現画像の各ラインの前記輝度情報値から、ライン毎に、１単位画像前の画像の同一ラインの前記ライン輝度情報値を減算することで、各ラインのフレーム差分値を算出するフレーム差分演算部と、
   前記フレーム差分値が所定の値である第１参照値より大きいか否かを判断することにより、前記撮像信号に対する外部閃光の影響の有無を判断する判断部と、
   を備え、
   前記判断部は、前記フレーム差分値が前記第１参照値と比較して大きいラインが連続する期間が前記電子シャッターのシャッター時間に応じた期間と略等しいときに、前記撮像信号に対する外部閃光の影響があると判断する、
   撮像装置。
3. 前記輝度情報値は、輝度レベルの平均値、輝度レベルの加算値、輝度レベルの２乗平均平方根値、輝度レベルの重付平均値のいずれか１つである、
   請求項１または２に記載の撮像装置。
4. 前記判断部は、前記フレーム差分値が前記第１参照値と比較して大きいラインが連続する期間の開始となるラインを、外部閃光の影響を受け始める開始ラインであると判断する、
   請求項１から３のいずれかに記載の撮像装置。
5. 前記判断部は、前記フレーム差分値が所定の値である第２参照値と比較して小さいか否かを判断することにより、外部閃光の影響の終了を判断する、
   請求項１から４のいずれかに記載の撮像装置。
6. 前記判断部は、前記フレーム差分値が前記第２参照値と比較して小さいラインが連続する期間が１フレーム期間と略等しいときに、外部閃光の影響が終了したと判断する、
   請求項１、３から５のいずれかに記載の撮像装置。
7. 前記判断部は、前記フレーム差分値が前記第２参照値と比較して小さいラインが連続する期間の開始となるラインを、外部閃光の影響が終了する終了ラインであると判断する、
   請求項１から６のいずれかに記載の撮像装置。
8. 前記判断部は、前記フレーム差分値が前記第２参照値と比較して小さいラインが連続する期間が前記電子シャッターのシャッター時間に応じた期間と略等しいときに、外部閃光の影響が終了したと判断する、
   請求項２から５のいずれかに記載の撮像装置。
9. 前記ライン輝度情報値算出部で算出された前記輝度情報値を記憶する記憶部をさらに備える、
   請求項１から７のいずれかに記載の撮像装置。
10. 被写体を撮像して撮像信号を取得する撮像ステップと、
    前記撮像ステップにより取得される前記撮像信号が、閃光の影響を受けているか否かを検出する閃光検出ステップと、
    前記撮像信号が形成する画像の各ラインの輝度情報値を算出するライン輝度情報値算出ステップと、
    処理対象となっている前記撮像信号が形成する現画像の各ラインの前記輝度情報値から、ライン毎に、１単位画像前の画像の同一ラインの前記ライン輝度情報値を減算することで、各ラインのフレーム差分値を算出するフレーム差分演算ステップと、
    前記フレーム差分値が所定の値である第１参照値より大きいか否かを判断することにより、前記撮像信号に対する外部閃光の影響の有無を判断する判断ステップと、
    を備え、
    前記判断ステップでは、前記フレーム差分値が前記第１参照値と比較して大きいラインが連続する期間が１フレーム期間と略等しいときに、外部閃光の影響があると判断する、
    外部閃光検出方法。
11. 被写体を撮像して撮像信号を取得する撮像部を備える撮像装置に用いられる外部閃光検出方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
    前記撮像部により取得される前記撮像信号が、閃光の影響を受けているか否かを検出する閃光検出ステップと、
    前記撮像信号が形成する画像の各ラインの輝度情報値を算出するライン輝度情報値算出ステップと、
    処理対象となっている前記撮像信号が形成する現画像の各ラインの前記輝度情報値から、ライン毎に、１単位画像前の画像の同一ラインの前記ライン輝度情報値を減算することで、各ラインのフレーム差分値を算出するフレーム差分演算ステップと、
    前記フレーム差分値が所定の値である第１参照値より大きいか否かを判断することにより、前記撮像信号に対する外部閃光の影響の有無を判断する判断ステップと、
    を備え、
    前記判断ステップでは、前記フレーム差分値が前記第１参照値と比較して大きいラインが連続する期間が１フレーム期間と略等しいときに、外部閃光の影響があると判断する、
    外部閃光検出方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
12. 被写体を撮像して撮像信号を取得する撮像部を備える撮像装置に用いられる集積回路であって、
    前記撮像部により取得される前記撮像信号が、閃光の影響を受けているか否かを検出する閃光検出部と、
    前記撮像信号が形成する画像の各ラインの輝度情報値を算出するライン輝度情報値算出部と、
    処理対象となっている前記撮像信号が形成する現画像の各ラインの前記輝度情報値から、ライン毎に、１単位画像前の画像の同一ラインの前記ライン輝度情報値を減算することで、各ラインのフレーム差分値を算出するフレーム差分演算部と、
    前記フレーム差分値が所定の値である第１参照値より大きいか否かを判断することにより、前記撮像信号に対する外部閃光の影響の有無を判断する判断部と、
    を備え、
    前記判断部は、前記フレーム差分値が前記第１参照値と比較して大きいラインが連続する期間が１フレーム期間と略等しいときに、外部閃光の影響があると判断する、
    集積回路。

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