JP6366353B2 - 画像形成装置 - Google Patents
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Description
本発明に係るカラー画像形成装置の全体構成及び動作について説明する。図1は、画像形成装置1の概略断面構成である。画像形成装置1は、感光ドラム11a〜11d、1次帯電部12a〜12d1次帯電部、露光部13、現像部14a〜14d、1次転写部17a〜17d、クリーナー15a〜15d、中間転写ベルト16を有している。画像形成装置1は更に、中間転写ベルトクリーナー18、2次転写部19、給紙カセット20を有している。また、上記の各数字の末尾についているa,b,c,dはそれぞれY(イエロー)M(マゼンダ)C(シアン)K(ブラック)の各色を表している。
電圧IIの値は通常起動時(非ショート状態)において負荷側のインピーダンスZと抵抗R401の分圧値により決定され、ショート状態での起動時の電圧IIの値は、短絡抵抗SRと抵抗R401の分圧値により決定される。即ち、通常起動時とショート状態とでは電圧IIの値が異なる。
電圧II*(R502/(R503+R502))>Vth1・・・(2)
ショート状態での起動時は以下の関係式を満たす必要が有る。
Vf*(SR/(R401+SR))=電圧II・・・(3)
電圧II*(R502/(R503+R502))<Vth1・・・(4)
ここでR401の値を大きくさせすぎてしまうと、通常起動時における電圧IIの値が微小なものとなってしまい、NPNトランジスタTr503がオンさせるスレッシュ電圧Vth1を超えなくなってしまう。逆にR401の値を小さくさせすぎてしまうと、ショート状態ので起動時における電圧IIの値が大きくなってしまい、NPNトランジスタTr503がオンさせるスレッシュ電圧Vth1を超えてしまう事が有る。
R501=700Ω
R502=13kΩ
R503=48kΩ
このような値とすることにより、通常起動時には、FET Tr301aをソフトスタートさせることができ、ショート状態で起動したとしても、FET Tr301aの破壊を防ぐことができる。
図6は、本発明の第2の実施の形態における突入電流防止回路を示す図である。図5の回路では、Pチャネル型FET Tr301aが使用されていたが、図6の回路では、Nチャネル型FET Tr301bが使用される。そのため、トランジスタ、抵抗、コンデンサが図5の回路と異なる。なお、図5の回路と同じ構成要素については同じ符号を付してある。また、抵抗R401,R501,R502,トランジスタTr303,Tr504,Tr505,ツェナーダイオードD302に関しての接続構成は図5と同一である。
なお抵抗R401、R501、R502の値は、第1の実施形態に記載の関係式(1)〜(4)を満たさなければならない。また、FET Tr301bをオンさせるにはゲート・ソース間電圧がゲートしきい値電圧より大きくなくてはならない為、ゲートしきい値電圧をVth2とすると、以下の関係式を満たす必要がある。
|Vα−電圧IV|>Vth2・・・(5)
電圧IVはR602、R603とR604によるVαの分圧値となるので、R602、R603とR604の定数は上記の関係式(5)を満たすように選定しなければならない。
図7は本発明の第3の実施の形態における突入電流防止回路を示す図である。第3の実施形態の回路では、第1の実施形態の図5の回路と同様、Pチャネル型FETを使用しているが、図5の回路に比べてトランジスタの数を削減した構成となっている。なお、図5の回路と同じ構成要素については同じ符号を付してある。
図8は本発明の第4の実施の形態における突入電流防止回路を示す図である。第4の実施形態の回路では、第2の実施形態の図6の回路と同様、Nチャネル型FETを使用しているが、図6の回路に比べてトランジスタの数を削減した構成となっている。なお、図6の回路、図7の回路と同じ構成要素については同じ符号を付してある。
Claims (7)
- 画像形成装置の突入電流防止回路であって、
前記突入電流防止回路に電力を供給する第1の電源と、
前記第1の電源から電力を供給され、前記画像形成装置の負荷に電力を供給する第2の電源と、
前記第1の電源から前記第2の電源への電力供給を制御するよう前記第1の電源と前記第2の電源との間に配置されるスイッチング素子と、
前記第1の電源と前記第2の電源との間で前記スイッチング素子に並列に接続される電流制限素子と、
前記第2の電源の電圧に応じた電圧値を検出する電圧検出回路と、
前記電圧検出回路により検出される電圧値が所定値未満であると前記スイッチング素子をオンさせないようにし、前記電圧検出回路により検出される電圧値が前記所定値以上であると前記スイッチング素子をオンできる状態にするスイッチング素子制御手段と、
を有し、
前記スイッチング素子制御手段は、前記スイッチング素子のゲート端子に接続され、前記スイッチング素子をオンまたはオフするための第2のスイッチング素子と、前記第2のスイッチング素子のベース端子に接続されるツェナーダイオードと、前記第1の電源と前記ツェナーダイオードとの間に接続される第3のスイッチング素子とを有し、
前記ツェナーダイオードに印加される電圧が前記電圧検出回路により検出される電圧が前記所定値未満であれば、前記第3のスイッチング素子がオンしないことにより前記ツェナーダイオードが導通せず、前記第2のスイッチング素子がオンしないことにより前記スイッチング素子をオンさせないように動作することを特徴とする画像形成装置の突入電流防止回路。 - 前記電圧検出回路により検出される電圧値が前記所定値未満である場合に、異常を報知する報知手段を有することを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置の突入電流防止回路。
- 前記負荷がショート状態になっているときに前記電圧検出回路により検出される電圧値が前記所定値未満になることを特徴とする請求項1または2に記載の画像形成装置の突入電流防止回路。
- 前記スイッチング素子制御手段は、前記第3のスイッチング素子のベース端子に接続され、ベース端子が前記電圧検出回路に接続される第4のスイッチング素子を有し、
前記電圧検出回路により検出される電圧値が前記所定値未満である場合に、前記第3のスイッチング素子がオンしないよう動作することを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置の突入電流防止回路。 - 前記スイッチング素子は、Pチャネル型のFETであり、前記スイッチング素子制御手段は、前記スイッチング素子のソース端子とゲート端子の間にコンデンサと抵抗とが並列接続されていることを特徴とする請求項1または4に記載の画像形成装置の突入電流防止回路。
- 前記スイッチング素子は、Nチャネル型のFETであり、前記スイッチング素子制御手段は、前記スイッチング素子に接続され、ベース端子が前記第4のスイッチング素子に接続され、前記スイッチング素子をオンまたはオフするための第5のスイッチング素子を有し、
前記電圧検出回路により検出される電圧値が前記所定値未満である場合に、前記第4のスイッチング素子がオンしないことにより前記第5のスイッチング素子がオンしないように動作することを特徴とする請求項4に記載の画像形成装置の突入電流防止回路。 - 前記スイッチング素子制御手段は、前記スイッチング素子のゲート端子とGNDとの間にコンデンサと抵抗とが並列接続されていることを特徴とする請求項6に記載の画像形成装置の突入電流防止回路。
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