JP6464722B2 - 情報処理装置、欠陥送信方法及びプログラム - Google Patents
情報処理装置、欠陥送信方法及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6464722B2 JP6464722B2 JP2014257724A JP2014257724A JP6464722B2 JP 6464722 B2 JP6464722 B2 JP 6464722B2 JP 2014257724 A JP2014257724 A JP 2014257724A JP 2014257724 A JP2014257724 A JP 2014257724A JP 6464722 B2 JP6464722 B2 JP 6464722B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- defect
- area
- image
- defect area
- information
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Accessory Devices And Overall Control Thereof (AREA)
Description
図24は、本実施形態の印刷装置100及び印刷物検査装置200のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
2 ネットワーク
5 サーバ
10 印刷物検査システム
100 印刷装置
101 オペレーションパネル
103Y、103M、103C、103K 感光体ドラム
105 転写ベルト
107 二次転写ローラ
109 給紙部
111 搬送ローラ対
113 定着ローラ
115 反転パス
121 RIP部
123 印刷制御部
125 印刷部
200 印刷物検査装置
201 取得部
203 マスター画像生成部
205 バッファ
207、207A、207B 読取部
209 検査部
209A 検査画像取得部
209B マスター画像取得部
209C 欠陥領域情報取得部
209D 抽出部
211 優先度設定部
213 選択部
215 送信部
300 スタッカ
301 トレイ
910 コントローラ
911 CPU
912 システムメモリ
912a ROM
912b RAM
913 ノースブリッジ
914 サウスブリッジ
915 AGPバス
916 ASIC
917 ローカルメモリ
918 ハードディスクドライブ
920 操作表示部
940 USB
950 IEEE1394インタフェース
960 エンジン部
Claims (13)
- 印刷物を読み取った検査画像を取得する検査画像取得部と、
前記印刷物上に存在する複数の欠陥それぞれ毎に、前記検査画像上で当該欠陥が位置する領域に関する欠陥領域情報を取得する欠陥領域情報取得部と、
前記複数の欠陥領域情報に基づいて、前記欠陥毎に、前記検査画像から当該欠陥が位置する領域の欠陥領域画像を抽出する抽出部と、
前記複数の欠陥領域画像のうち開示可能条件を満足する欠陥領域画像の中から、送信対象の1以上の欠陥領域画像を選択する選択部と、
前記送信対象の1以上の欠陥領域画像及び当該送信対象の1以上の欠陥領域画像の欠陥領域情報を外部装置に送信する送信部と、
前記印刷物の生成元の元画像に基づくマスター画像を取得するマスター画像取得部と、
を備え、
前記開示可能条件は、前記欠陥領域画像に対応する前記マスター画像上の領域が開示可能領域であることを示し、
前記選択部は、前記複数の欠陥領域画像のうち対応する前記マスター画像上の領域が前記開示可能領域である欠陥領域画像の中から、前記送信対象の1以上の欠陥領域画像を選択する、
情報処理装置。 - 前記印刷物の生成元の元画像に基づくマスター画像を取得するマスター画像取得部を更に備え、
前記開示可能条件は、予め用意されたフォーマットに、ページ毎に可変となる可変情報を印刷するバリアブル印刷において、前記欠陥領域画像に対応する前記マスター画像上の領域が前記可変情報の印刷領域を含まない予め用意されたフォーマットの領域である非可変領域であることを示し、
前記選択部は、前記複数の欠陥領域画像のうち対応する前記マスター画像上の領域が前記非可変領域である欠陥領域画像の中から、前記送信対象の1以上の欠陥領域画像を選択する請求項1に記載の情報処理装置。 - 前記開示可能条件は、前記欠陥領域画像の予め定められた範囲内に送信対象の欠陥領域画像がないことを示し、
前記選択部は、前記複数の欠陥領域画像のうち予め定められた範囲内に送信対象の欠陥領域画像がない欠陥領域画像の中から、前記送信対象の1以上の欠陥領域画像を選択する請求項1又は2に記載の情報処理装置。 - 前記開示可能条件は、前記送信対象の1以上の欠陥領域画像の数が上限数以下であることを示し、
前記選択部は、前記複数の欠陥領域画像のうち前記上限数以下の欠陥領域画像を、前記送信対象の1以上の欠陥領域画像として選択する請求項1〜3のいずれか1つに記載の情報処理装置。 - 前記複数の欠陥領域情報及び前記複数の欠陥領域画像の少なくともいずれかに基づいて、前記複数の欠陥領域画像それぞれに優先度を設定する優先度設定部を更に備え、
前記選択部は、前記複数の欠陥領域画像のうち前記開示可能条件を満足する欠陥領域画像の中から、前記優先度に基づいて、前記送信対象の1以上の欠陥領域画像を選択する請求項1〜4のいずれか1つに記載の情報処理装置。 - 前記欠陥領域情報は、前記欠陥が発生している1以上の画素を包含する矩形領域の面積を示す欠陥領域面積、前記1以上の画素の面積を示す欠陥領域実面積、及び前記1以上の画素の評価値を示す欠陥評価値の少なくともいずれかを含み、
前記優先度設定部は、前記複数の欠陥領域情報に含まれる前記複数の欠陥領域面積、前記複数の欠陥領域実面積、及び前記複数の欠陥評価値の少なくともいずれかを用いて、前記複数の欠陥領域画像それぞれに優先度を設定する請求項5に記載の情報処理装置。 - 前記欠陥評価値は、前記1以上の画素それぞれの画素値と欠陥判定用閾値との差の合計値であり、
前記優先度は、前記欠陥領域面積を用いる場合、前記欠陥領域面積の値が大きいほど高く、前記欠陥領域実面積を用いる場合、前記欠陥領域実面積の値が大きいほど高く、前記欠陥評価値を用いる場合、前記欠陥評価値の値が大きいほど高くなる請求項6に記載の情報処理装置。 - 前記開示可能条件は、前記欠陥領域面積のサイズが上限サイズ以下であることを示し、
前記選択部は、前記複数の欠陥領域画像のうち前記上限サイズ以下の欠陥領域面積の欠陥領域画像の中から、前記送信対象の1以上の欠陥領域画像を選択する請求項6又は7に記載の情報処理装置。 - 前記印刷物の生成元の元画像に基づくマスター画像を取得するマスター画像取得部を更に備え、
前記優先度設定部は、前記欠陥領域画像毎に、当該欠陥領域画像に対応する前記マスター画像上の領域の画素値のばらつきを示す欠陥領域画像情報を用いて、前記複数の欠陥領域画像それぞれに優先度を設定し、
前記送信部は、前記送信対象の1以上の欠陥領域画像の欠陥領域画像情報を更に前記外部装置に送信する請求項6〜8のいずれか1つに記載の情報処理装置。 - 前記優先度は、前記欠陥領域画像情報の値が小さいほど高くなる請求項9に記載の情報処理装置。
- 前記選択部は、前記複数の欠陥領域画像のうち前記開示可能条件を満足する欠陥領域画像の中から、前記優先度の高い順に、前記送信対象の1以上の欠陥領域画像を選択する請求項8又は10に記載の情報処理装置。
- 印刷物を読み取った検査画像を取得する検査画像取得ステップと、
前記印刷物上に存在する複数の欠陥それぞれ毎に、前記検査画像上で当該欠陥が位置する領域に関する欠陥領域情報を取得する欠陥領域情報取得ステップと、
前記複数の欠陥領域情報に基づいて、前記欠陥毎に、前記検査画像から当該欠陥が位置する領域の欠陥領域画像を抽出する抽出ステップと、
前記複数の欠陥領域画像のうち開示可能条件を満足する欠陥領域画像の中から、送信対象の1以上の欠陥領域画像を選択する選択ステップと、
前記送信対象の1以上の欠陥領域画像及び当該送信対象の1以上の欠陥領域画像の欠陥領域情報を外部装置に送信する送信ステップと、
前記印刷物の生成元の元画像に基づくマスター画像を取得するマスター画像取得ステップと、
を含み、
前記開示可能条件は、前記欠陥領域画像に対応する前記マスター画像上の領域が開示可能領域であることを示し、
前記選択ステップは、前記複数の欠陥領域画像のうち対応する前記マスター画像上の領域が前記開示可能領域である欠陥領域画像の中から、前記送信対象の1以上の欠陥領域画像を選択する、
欠陥送信方法。 - 印刷物を読み取った検査画像を取得する検査画像取得ステップと、
前記印刷物上に存在する複数の欠陥それぞれ毎に、前記検査画像上で当該欠陥が位置する領域に関する欠陥領域情報を取得する欠陥領域情報取得ステップと、
前記複数の欠陥領域情報に基づいて、前記欠陥毎に、前記検査画像から当該欠陥が位置する領域の欠陥領域画像を抽出する抽出ステップと、
前記複数の欠陥領域画像のうち開示可能条件を満足する欠陥領域画像の中から、送信対象の1以上の欠陥領域画像を選択する選択ステップと、
前記送信対象の1以上の欠陥領域画像及び当該送信対象の1以上の欠陥領域画像の欠陥領域情報を外部装置に送信する送信ステップと、
前記印刷物の生成元の元画像に基づくマスター画像を取得するマスター画像取得ステップと、
をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記開示可能条件は、前記欠陥領域画像に対応する前記マスター画像上の領域が開示可能領域であることを示し、
前記選択ステップは、前記複数の欠陥領域画像のうち対応する前記マスター画像上の領域が前記開示可能領域である欠陥領域画像の中から、前記送信対象の1以上の欠陥領域画像を選択する、
プログラム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2014257724A JP6464722B2 (ja) | 2014-12-19 | 2014-12-19 | 情報処理装置、欠陥送信方法及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2014257724A JP6464722B2 (ja) | 2014-12-19 | 2014-12-19 | 情報処理装置、欠陥送信方法及びプログラム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2016118446A JP2016118446A (ja) | 2016-06-30 |
| JP6464722B2 true JP6464722B2 (ja) | 2019-02-06 |
Family
ID=56244039
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2014257724A Active JP6464722B2 (ja) | 2014-12-19 | 2014-12-19 | 情報処理装置、欠陥送信方法及びプログラム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6464722B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7024906B2 (ja) * | 2017-06-20 | 2022-02-24 | コニカミノルタ株式会社 | 画像形成システム、管理装置およびプログラム |
| JP2019107851A (ja) * | 2017-12-20 | 2019-07-04 | コニカミノルタ株式会社 | 画像形成装置及びプログラム |
| JP2021026610A (ja) | 2019-08-07 | 2021-02-22 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置及びその制御方法 |
| JP7435040B2 (ja) * | 2020-03-05 | 2024-02-21 | コニカミノルタ株式会社 | 画像検査装置、画像形成システム、および制御プログラム |
| JP7592411B2 (ja) * | 2020-06-17 | 2024-12-02 | キヤノン株式会社 | 検査システム、検査装置及びその制御方法 |
| JP7710859B2 (ja) * | 2021-02-12 | 2025-07-22 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム |
| JP7800036B2 (ja) * | 2021-03-19 | 2026-01-16 | 株式会社リコー | 画像形成装置、画像形成方法およびプログラム |
| JP7803068B2 (ja) * | 2021-09-30 | 2026-01-21 | オムロン株式会社 | 画像検査方法、及び画像検査装置 |
| JP7817857B2 (ja) * | 2022-02-25 | 2026-02-19 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、印刷システム、画像処理方法、及びプログラム |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005205722A (ja) * | 2004-01-22 | 2005-08-04 | Fuji Xerox Co Ltd | 検査画像データ管理装置、制御装置、制御プログラム、及び、制御方法 |
| JP2011128030A (ja) * | 2009-12-18 | 2011-06-30 | Sharp Corp | 欠陥検査装置、及び欠陥情報管理方法 |
| JP6201790B2 (ja) * | 2013-02-12 | 2017-09-27 | 株式会社リコー | 画像検査装置、画像検査システム及び画像検査方法 |
| JP5904149B2 (ja) * | 2013-03-26 | 2016-04-13 | 富士ゼロックス株式会社 | 画像検査システムおよびプログラム |
-
2014
- 2014-12-19 JP JP2014257724A patent/JP6464722B2/ja active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2016118446A (ja) | 2016-06-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6464722B2 (ja) | 情報処理装置、欠陥送信方法及びプログラム | |
| US9524545B2 (en) | Apparatus, system, method and storage medium for image inspection result determination and verifying false defect detections due to position matching errors | |
| US10657635B2 (en) | Inspection apparatus, inspection method and storage medium | |
| US8780378B2 (en) | Inspection apparatus, inspection method, inspection system, and storage medium | |
| US9823884B2 (en) | Inspection system, printer, and print-position notification method | |
| US10019792B2 (en) | Examination device, examination method, and computer program product | |
| US10326916B2 (en) | Inspection apparatus, inspection method and storage medium | |
| JP7206595B2 (ja) | 検査装置、検査システム、検査方法及びプログラム | |
| JP6221661B2 (ja) | 検査装置、検査システムおよび検査方法、ならびに、印刷システム | |
| JP2013024564A (ja) | 画像検査装置、画像検査システム及び画像検査方法 | |
| JP2016061659A (ja) | 印刷物検査装置、印刷物検査システム及び印刷物検査方法 | |
| JP6613912B2 (ja) | 検査装置、検査システム、フィルタ処理方法及びプログラム | |
| JP6848286B2 (ja) | 検査装置、検査方法及びプログラム | |
| JP2016055525A (ja) | 欠陥情報特定装置及び欠陥情報特定方法 | |
| JP2017032507A (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
| JP2015053561A (ja) | 印刷物検査装置、印刷物検査方法及びプログラム | |
| JP6705305B2 (ja) | 検査装置、検査方法及びプログラム | |
| JP2016061603A (ja) | 投影装置及び投影方法 | |
| JP6907621B2 (ja) | 画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法及びプログラム | |
| JP2017053673A (ja) | 検査装置、検査方法及びプログラム | |
| JP6938992B2 (ja) | 検査装置、検査システム、検査方法及びプログラム | |
| JP6665544B2 (ja) | 検査装置、検査システム、検査方法及びプログラム | |
| JP2016178557A (ja) | 画像処理装置、補正方法及びプログラム | |
| JP6635335B2 (ja) | 画像検査装置及び画像形成システム | |
| JP2016176822A (ja) | 測色装置、測色方法及びプログラム |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20171206 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180914 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180925 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181126 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20181211 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20181224 |
|
| R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6464722 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |