JP7206595B2 - 検査装置、検査システム、検査方法及びプログラム - Google Patents
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Description
上記実施形態で説明した検査閾値の補正手法を基準画像に対するフィルタ処理で代用してもよい。この場合、閾値補正部265は、エッジ領域または近傍領域のいずれかの領域を構成する画素については、当該画素を中心に、エッジ領域を構成する画素または近傍領域を構成する画素を参照対象としたフィルタ処理に基づいて、検査閾値を補正すればよい。
上記実施形態及び変形例の検査装置で実行されるプログラムは、インストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでCD-ROM、CD-R、メモリカード、DVD(Digital Versatile Disk)、フレキシブルディスク(FD)等のコンピュータで読み取り可能な記憶媒体に記憶されて提供される。
100 印刷装置
101 オペレーションパネル
103Y、103M、103C、103K 感光体ドラム
105 転写ベルト
107 二次転写ローラ
109 給紙部
111 搬送ローラ対
113 定着ローラ
115 反転パス
121 RIP部
123 印刷制御部
125 印刷部
200 印刷物検査装置
201、251 読取部
203 オペレーションパネル
253 読取画像取得部
255 基準画像取得部
257 差分画像生成部
259 エッジ領域抽出部
261 近傍領域検出部
263 検査閾値記憶部
265 閾値補正部
267 検査閾値画像生成部
269 検査部
300 スタッカ
311 トレイ
Claims (12)
- 印刷物の検査基準となる基準画像を取得する基準画像取得部と、
前記印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得部と、
前記基準画像取得部が取得した前記基準画像と、前記読取画像取得部が取得した前記読取画像との差分を示す差分画像を生成する差分画像生成部と、
前記基準画像取得部が取得した前記基準画像からエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出部と、
前記エッジ領域抽出部が抽出した前記エッジ領域の近傍に位置する近傍領域を検出する近傍領域検出部と、
前記エッジ領域抽出部が抽出した前記エッジ領域を構成する画素については、当該画素の濃度と、当該画素に対する着目対象であって前記エッジ領域に位置する1以上の着目画素の濃度と、当該画素と当該1以上のそれぞれの着目画素との距離と、に基づいて、検査用の検査閾値を補正する閾値補正部と、
前記差分画像生成部が生成した前記差分画像と前記閾値補正部で補正された前記検査閾値とに基づいて、前記印刷物を検査する検査部と、
を備え、
前記エッジ領域を構成する画素に対する前記着目画素は、当該エッジ領域を構成する画素と隣接する隣接画素のうち、当該エッジ領域を構成する画素との濃度差が最も大きい隣接画素である、
検査装置。 - 印刷物の検査基準となる基準画像を取得する基準画像取得部と、
前記印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得部と、
前記基準画像取得部が取得した前記基準画像と、前記読取画像取得部が取得した前記読取画像との差分を示す差分画像を生成する差分画像生成部と、
前記基準画像取得部が取得した前記基準画像からエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出部と、
前記エッジ領域抽出部が抽出した前記エッジ領域の近傍に位置する近傍領域を検出する近傍領域検出部と、
前記近傍領域検出部が検出した前記近傍領域を構成する画素については、当該画素の濃度と、当該画素に対する着目対象であって前記近傍領域に位置する1以上の着目画素の濃度と、当該画素と当該1以上のそれぞれの着目画素との距離と、に基づいて、検査用の検査閾値を補正する閾値補正部と、
前記差分画像生成部が生成した前記差分画像と前記閾値補正部で補正された前記検査閾値とに基づいて、前記印刷物を検査する検査部と、
を備え、
前記近傍領域検出部は、前記エッジ領域を構成する画素に基づいて、前記近傍領域を検出し、
前記近傍領域検出部が検出した前記近傍領域を構成する画素に対する前記着目画素は、当該近傍領域を構成する画素の検出元となった前記エッジ領域を構成する画素と隣接する隣接画素のうち、当該近傍領域を構成する画素の反対側に位置する隣接画素である、
検査装置。 - 前記近傍領域検出部は、前記エッジ領域を構成する画素に基づいて、前記近傍領域を検出し、
前記近傍領域検出部が検出した前記近傍領域を構成する画素に対する前記着目画素は、当該近傍領域を構成する画素の検出元となった前記エッジ領域を構成する画素と隣接する隣接画素のうち、当該近傍領域を構成する画素の反対側に位置する隣接画素である請求項1に記載の検査装置。 - 前記補正された検査閾値は、前記エッジ領域を構成する画素と前記1以上のそれぞれの着目画素との濃度差に比例し、かつ前記エッジ領域を構成する画素と前記1以上のそれぞれの着目画素との距離に反比例する値である請求項1に記載の検査装置。
- 前記補正された検査閾値は、前記近傍領域を構成する画素と前記1以上のそれぞれの着目画素との濃度差に比例し、かつ前記近傍領域を構成する画素と前記1以上のそれぞれの着目画素との距離に反比例する値である請求項2に記載の検査装置。
- 前記エッジ領域以外の領域を構成する画素については、前記検査用の検査閾値を設定し、前記エッジ領域を構成する画素については、前記補正された検査閾値を設定した検査閾値画像を生成する検査閾値画像生成部を更に備え、
前記検査部は、前記差分画像と前記検査閾値画像とに基づいて、前記印刷物を検査する請求項1に記載の検査装置。 - 印刷物を生成する画像形成装置と、当該印刷物を検査する検査装置と、を備える検査システムであって、
前記検査装置は、
前記画像形成装置から、前記印刷物の検査基準となる基準画像を取得する基準画像取得部と、
前記印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得部と、
前記基準画像取得部が取得した前記基準画像と前記読取画像取得部が取得した前記読取画像との差分を示す差分画像を生成する差分画像生成部と、
前記基準画像取得部が取得した前記基準画像からエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出部と、
前記エッジ領域抽出部が抽出した前記エッジ領域の近傍に位置する近傍領域を検出する近傍領域検出部と、
前記エッジ領域抽出部が抽出した前記エッジ領域を構成する画素については、当該画素の濃度と、当該画素に対する着目対象であって、前記エッジ領域に位置する1以上の着目画素の濃度と、当該画素と当該1以上のそれぞれの着目画素との距離と、に基づいて、検査用の検査閾値を補正する閾値補正部と、
前記差分画像生成部が生成した前記差分画像と前記閾値補正部で補正された前記検査閾値とに基づいて、前記印刷物を検査する検査部と、
を備え、
前記エッジ領域を構成する画素に対する前記着目画素は、当該エッジ領域を構成する画素と隣接する隣接画素のうち、当該エッジ領域を構成する画素との濃度差が最も大きい隣接画素である、
検査システム。 - 印刷物を生成する画像形成装置と、当該印刷物を検査する検査装置と、を備える検査システムであって、
前記検査装置は、
前記画像形成装置から、前記印刷物の検査基準となる基準画像を取得する基準画像取得部と、
前記印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得部と、
前記基準画像取得部が取得した前記基準画像と前記読取画像取得部が取得した前記読取画像との差分を示す差分画像を生成する差分画像生成部と、
前記基準画像取得部が取得した前記基準画像からエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出部と、
前記エッジ領域抽出部が抽出した前記エッジ領域の近傍に位置する近傍領域を検出する近傍領域検出部と、
前記近傍領域検出部が検出した前記近傍領域を構成する画素については、当該画素の濃度と、当該画素に対する着目対象であって前記近傍領域に位置する1以上の着目画素の濃度と、当該画素と当該1以上のそれぞれの着目画素との距離と、に基づいて、検査用の検査閾値を補正する閾値補正部と、
前記差分画像生成部が生成した前記差分画像と前記閾値補正部で補正された前記検査閾値とに基づいて、前記印刷物を検査する検査部と、
を備え、
前記近傍領域検出部は、前記エッジ領域を構成する画素に基づいて、前記近傍領域を検出し、
前記近傍領域検出部が検出した前記近傍領域を構成する画素に対する前記着目画素は、当該近傍領域を構成する画素の検出元となった前記エッジ領域を構成する画素と隣接する隣接画素のうち、当該近傍領域を構成する画素の反対側に位置する隣接画素である、
検査システム。 - 印刷物の検査基準となる基準画像を取得する基準画像取得ステップと、
前記印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得ステップと、
前記基準画像取得ステップで取得した前記基準画像と前記読取画像取得ステップで取得した前記読取画像との差分を示す差分画像を生成する差分画像生成ステップと、
前記基準画像取得ステップで取得した前記基準画像からエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出ステップと、
前記エッジ領域抽出ステップで抽出した前記エッジ領域の近傍に位置する近傍領域を検出する近傍領域検出ステップと、
前記エッジ領域抽出ステップで抽出した前記エッジ領域を構成する画素については、当該画素の濃度と、当該画素に対する着目対象であって、前記エッジ領域に位置する1以上の着目画素の濃度と、当該画素と当該1以上のそれぞれの着目画素との距離と、に基づいて、検査用の検査閾値を補正する閾値補正ステップと、
前記差分画像生成ステップで生成した前記差分画像と前記閾値補正ステップで補正された前記検査閾値とに基づいて、前記印刷物を検査する検査ステップと、
を含み、
前記エッジ領域を構成する画素に対する前記着目画素は、当該エッジ領域を構成する画素と隣接する隣接画素のうち、当該エッジ領域を構成する画素との濃度差が最も大きい隣接画素である、
検査方法。 - 印刷物の検査基準となる基準画像を取得する基準画像取得ステップと、
前記印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得ステップと、
前記基準画像取得ステップで取得した前記基準画像と前記読取画像取得ステップで取得した前記読取画像との差分を示す差分画像を生成する差分画像生成ステップと、
前記基準画像取得ステップで取得した前記基準画像からエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出ステップと、
前記エッジ領域抽出ステップで抽出した前記エッジ領域の近傍に位置する近傍領域を検出する近傍領域検出ステップと、
前記近傍領域検出ステップが検出した前記近傍領域を構成する画素については、当該画素の濃度と、当該画素に対する着目対象であって前記近傍領域に位置する1以上の着目画素の濃度と、当該画素と当該1以上のそれぞれの着目画素との距離と、に基づいて、検査用の検査閾値を補正する閾値補正ステップと、
前記差分画像生成ステップで生成した前記差分画像と前記閾値補正ステップで補正された前記検査閾値とに基づいて、前記印刷物を検査する検査ステップと、
を含み、
前記近傍領域検出ステップは、前記エッジ領域を構成する画素に基づいて、前記近傍領域を検出し、
前記近傍領域検出ステップが検出した前記近傍領域を構成する画素に対する前記着目画素は、当該近傍領域を構成する画素の検出元となった前記エッジ領域を構成する画素と隣接する隣接画素のうち、当該近傍領域を構成する画素の反対側に位置する隣接画素である、
検査方法。 - 印刷物の検査基準となる基準画像を取得する基準画像取得ステップと、
前記印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得ステップと、
前記基準画像取得ステップで取得した前記基準画像と前記読取画像取得ステップで取得した前記読取画像との差分を示す差分画像を生成する差分画像生成ステップと、
前記基準画像取得ステップで取得した前記基準画像からエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出ステップと、
前記エッジ領域抽出ステップで抽出した前記エッジ領域の近傍に位置する近傍領域を検出する近傍領域検出ステップと、
前記エッジ領域抽出ステップで抽出した前記エッジ領域を構成する画素については、当該画素の濃度と、当該画素に対する着目対象であって、前記エッジ領域に位置する1以上の着目画素の濃度と、当該画素と当該1以上のそれぞれの着目画素との距離と、に基づいて、検査用の検査閾値を補正する閾値補正ステップと、
前記差分画像生成ステップで生成した前記差分画像と前記閾値補正ステップで補正された前記検査閾値とに基づいて、前記印刷物を検査する検査ステップと、
をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記エッジ領域を構成する画素に対する前記着目画素は、当該エッジ領域を構成する画素と隣接する隣接画素のうち、当該エッジ領域を構成する画素との濃度差が最も大きい隣接画素である、
プログラム。 - 印刷物の検査基準となる基準画像を取得する基準画像取得ステップと、
前記印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得ステップと、
前記基準画像取得ステップで取得した前記基準画像と前記読取画像取得ステップで取得した前記読取画像との差分を示す差分画像を生成する差分画像生成ステップと、
前記基準画像取得ステップで取得した前記基準画像からエッジ領域を抽出するエッジ領域抽出ステップと、
前記エッジ領域抽出ステップで抽出した前記エッジ領域の近傍に位置する近傍領域を検出する近傍領域検出ステップと、
前記近傍領域検出ステップが検出した前記近傍領域を構成する画素については、当該画素の濃度と、当該画素に対する着目対象であって前記近傍領域に位置する1以上の着目画素の濃度と、当該画素と当該1以上のそれぞれの着目画素との距離と、に基づいて、検査用の検査閾値を補正する閾値補正ステップと、
前記差分画像生成ステップで生成した前記差分画像と前記閾値補正ステップで補正された前記検査閾値とに基づいて、前記印刷物を検査する検査ステップと、
をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記近傍領域検出ステップは、前記エッジ領域を構成する画素に基づいて、前記近傍領域を検出し、
前記近傍領域検出ステップが検出した前記近傍領域を構成する画素に対する前記着目画素は、当該近傍領域を構成する画素の検出元となった前記エッジ領域を構成する画素と隣接する隣接画素のうち、当該近傍領域を構成する画素の反対側に位置する隣接画素である、
プログラム。
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Families Citing this family (9)
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Citations (3)
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Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2015175706A (ja) | 2014-03-14 | 2015-10-05 | オムロン株式会社 | 検査装置、検査方法、プログラムおよびその記録媒体 |
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