JP7653827B2 - 圧電積層体、圧電積層体の製造方法、及びスパッタリングターゲット材 - Google Patents

Description

本開示は、圧電積層体、圧電積層体の製造方法、スパッタリングターゲット材、及びスパッタリングターゲット材の製造方法に関する。

圧電体は、センサ、アクチュエータ等の機能性電子部品に広く利用されている。圧電体として、カリウム、ナトリウム、ニオブ、及び酸素を含む圧電体が提案されており、このような圧電体を用いてスパッタリング法により製膜された圧電膜（ＫＮＮ膜）を有する積層体（以下、圧電積層体）が提案されている（例えば特許文献１参照）。

特開２０１１－１４６６２３号公報

特許文献１には、スパッタリング法を用いて基板上にＫＮＮ膜を製膜する際に用いられるターゲット材のプラズマに晒される面の磁場の強さや、ＫＮＮ膜の下地となる膜の結晶の向きを制御することにより、ＫＮＮ膜に対してＸ線回折測定を行った際における（００１）面のＸ線ロッキングカーブの半値幅を０．５°以上２．５°以下の範囲内にすることが開示されている。また、特許文献１には、ＫＮＮ膜の膜質の面内均一性を向上させるために、基板を自公転させながらＫＮＮ膜をスパッタ製膜すること等も開示されている。

しかしながら、特許文献１に記載の技術では、量産で用いられるような直径３インチ以上の大径のターゲット材を用いて、スパッタリング法により、直径３インチ以上の大径の基板上にＫＮＮ膜を製膜した場合、ＫＮＮ膜の主面内に、上記半値幅が上記範囲から外れる領域（不良領域）が局所的に出現することが判明した。すなわち、特許文献１に記載の技術では、ＫＮＮ膜の主面内に膜質（膜特性）が局所的に劣化する領域が出現することが判明した。このことは、発明者等の鋭意研究によって初めて明らかとなった新規課題である。

本開示は、主面における周縁部を除く全域で、局所的な不良領域が出現しておらず、膜質が均一な大径の圧電膜を有する圧電積層体およびその関連技術を提供することを目的とする。

本開示の一態様によれば、
直径３インチ以上の主面を有する基板と、
前記基板上に製膜され、カリウム、ナトリウム、ニオブ、及び酸素を含み、ペロブスカイト構造のアルカリニオブ酸化物からなる圧電膜と、を備え、
前記圧電膜に対してＸ線回折測定を行った際における、（００１）面のＸ線ロッキングカーブの半値幅が、前記圧電膜の主面における周縁部を除く内側の全域において、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている圧電積層体およびその関連技術が提供される。

本開示によれば、主面における周縁部を除く全域で、局所的な不良領域が出現しておらず、膜質が均一な大径の圧電膜を有する圧電積層体を得ることが可能となる。

本開示の一態様にかかる圧電積層体の断面構造の一例を示す図である。 本開示の一態様にかかる圧電積層体の断面構造の変形例を示す図である。 Ｘ線回折の測定点を示す圧電膜の主面の平面図である。 本開示の一態様にかかる圧電デバイスモジュールの概略構成の一例を示す図である。 本開示の一態様にかかるスパッタリングターゲット材の概略構成の一例を示す図である。 スパッタリングターゲット材を作製する際に用いられる成型装置の概略図、および処理室内の温度分布を示すグラフ図である。 本開示の一態様にかかる圧電デバイスモジュールの断面構造の変形例を示す図である。

＜発明者等が得た知見＞
スパッタリング法を用いて基板上に製膜されるＫＮＮ膜の膜質は、スパッタ製膜に用いられるターゲット材のプラズマに晒される面（以下、「スパッタ面」とも称する）における電磁場の強さや、ＫＮＮ膜の下地となる膜（下地膜）の結晶の向き（結晶の配向）に強く影響を受けることが分かっている。ＫＮＮ膜の膜質の面内均一性を向上させるために、基板を自公転させながらＫＮＮ膜をスパッタ製膜すること等も行われている。しかしながら、スパッタ面における電磁場の強さや下地膜の結晶の向きを調整（制御）したり、基板を自公転させながらスパッタ製膜を行ったりしたとしても、量産で用いられるような、直径３インチ以上の大径のスパッタ面を有するターゲット材を用い、直径３インチ以上の大径の基板上にＫＮＮ膜を製膜すると、ＫＮＮ膜の主面内に、周囲に比べて膜質が局所的に劣る不良領域が、不可避的に出現してしまうという新規課題を、発明者等は発見した。なお、ここでいう不良領域とは、例えば、ＫＮＮ膜に対してＸ線回折測定を行った際における、（００１）面のＸ線ロッキングカーブの半値幅（以下、ＦＷＨＭ（００１））の値が、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まらない局所的な領域のことをいう。

発明者等は、上記課題について鋭意研究を行った。その結果、大径のスパッタ面を有するターゲット材では、スパッタ面内に、結晶の向きがランダムになっていない領域が局所的に存在しており、スパッタ製膜の際にそのような領域で異常放電が生じることが、基板上に製膜されるＫＮＮ膜の主面内に、上述の不良領域を出現させる要因となっていることを突き止めた。なお、「結晶の向きがランダムになっていない領域」は、結晶の無配向性が低下している領域とも称することができ、具体的には、スパッタ面に対してＸ線回折測定を行った際、（００１）面からのＸ線回折ピークの強度に対する、（１１０）面からのＸ線回折ピーク強度の比率Ｒの値が、０．３以上５以下の範囲に収まっていない領域のことをいう。

発明者等は、「結晶の向きがランダムになっていない領域」がターゲット材のスパッタ面内に局所的に出現するメカニズムについて、鋭意研究を行った。ＫＮＮのターゲット材は、例えば、カリウム（Ｋ）の化合物からなる粉体、ナトリウム（Ｎａ）の化合物からなる粉体、及びニオブ（Ｎｂ）の化合物からなる粉体を所定の比率で混合した混合物を圧縮成型して成型体を作製し、得られた成型体を焼成することにより作製することができる。しかしながら、成型体を焼成する際、成型体の表面内（スパッタ面となる面内）の温度を均一とするよう温度調整を試みても、成型体の表面内の温度を完全に均一にすることは困難である。特に、直径３インチ以上のスパッタ面を有するターゲット材を作製する際には、成型体の表面内の温度を完全に均一にすることは現実的には非常に困難である。焼成時に成型体の表面内に所定の臨界値を超えた温度勾配（温度ムラ）があると、すなわち、成型体の表面内の温度が完全に均一でないと、温度勾配が大きい領域では、温度勾配が小さい領域に比べて、その温度勾配に沿って、成型体の表面における沿面方向に結晶（結晶粒）が成長しやすくなる。その結果、焼成後の成型体の表面（スパッタ面）を垂直方向上方から見たときに、沿面方向に大きく成長した結晶（例えば直径が３０μｍを超える結晶粒）が局所的に存在する領域が出現することとなってしまい、その領域においては、他の領域（直径３０μｍ未満の結晶が多数集結してなる領域）に比べて、結晶の向きがランダムにならない（大きく成長した結晶の露出面に大きく影響を受ける）ことになってしまう。このようにして、ターゲット材のスパッタ面における結晶の無配向性が、局所的に低下してしまうのである。

発明者等は、ターゲット材のスパッタ面における結晶の無配向性が局所的に低下する現象を回避する手法について、鋭意研究を行った。その結果、成型体の焼成時に、成型体の厚さ方向に温度勾配を意図的に付けることで、成型体の表面内に温度ムラがある場合であっても、成型体の表面における沿面方向への結晶成長を抑制することができ、これにより、スパッタ面の結晶の無配向性の局所的な低下を回避できる、との知見を得るに至った。

本開示は、発明者等が得た上述の知見や課題に基づいてなされたものである。

＜本開示の一態様＞
以下、本開示の一態様について図面を参照しながら説明する。

（１）圧電積層体の構成
図１に示すように、本態様にかかる圧電膜を有する積層体１０（以下、圧電積層体１０とも称する）は、基板１と、基板１上に設けられた下部電極膜２と、下部電極膜２上に設けられた圧電膜（圧電薄膜）３と、圧電膜３上に設けられた上部電極膜４と、を備えている。なお、本態様では、１枚の基板１上に１つの積層構造体（少なくとも、下部電極膜２と、圧電膜３と、上部電極膜４とを積層させて形成した構造体）が設けられている場合を例に説明する。

基板１は、直径が３インチ以上の主面を有している。基板１は平面視で円形の外形を有している。基板１の外形（基板１の主面の平面形状）は、円形の他、楕円形や四角形または多角形等の種々の形状とすることもできる。この場合、基板１は、内接円の直径が３インチ以上の主面を有していることが好ましい。基板１としては、熱酸化膜またはＣＶＤ（Chemical Vapor Deposition）酸化膜等の表面酸化膜（ＳｉＯ_２膜）１ｂが形成された単結晶シリコン（Ｓｉ）基板１ａ、すなわち、表面酸化膜を有するＳｉ基板を好適に用いることができる。また、基板１としては、図２に示すように、その表面にＳｉＯ_２以外の絶縁性材料により形成された絶縁膜１ｄを有するＳｉ基板１ａを用いることもできる。また、基板１としては、表面にＳｉ（１００）面またはＳｉ（１１１）面等が露出したＳｉ基板１ａ、すなわち、表面酸化膜１ｂまたは絶縁膜１ｄを有さないＳｉ基板を用いることもできる。また、基板１としては、ＳＯＩ（Silicon On Insulator）基板、石英ガラス（ＳｉＯ_２）基板、ガリウム砒素（ＧａＡｓ）基板、サファイア（Ａｌ_２Ｏ_３）基板、ステンレス（ＳＵＳ）等の金属材料により形成された金属基板を用いることもできる。単結晶Ｓｉ基板１ａの厚さは例えば３００μｍ以上１０００μｍ以下、表面酸化膜１ｂの厚さは例えば１ｎｍ以上４０００ｎｍ以下とすることができる。

下部電極膜２は、例えば、白金（Ｐｔ）を用いて製膜することができる。下部電極膜２は、多結晶膜である。以下、Ｐｔを用いて製膜した多結晶膜をＰｔ膜とも称する。Ｐｔ膜は、その（１１１）面が基板１の主面に対して平行である（（１１１）面が基板１の主面に対して±５°以内の角度で傾斜している場合を含む）こと、すなわち、Ｐｔ膜は（１１１）面方位に配向していることが好ましい。Ｐｔ膜が（１１１）面方位に配向しているとは、Ｘ線回折（ＸＲＤ）測定により得られたＸ線回折パターンにおいて（１１１）面に起因するピーク以外のピークが観察されないことを意味する。このように、下部電極膜２の主面（圧電膜３の下地となる面）は、Ｐｔ（１１１）面により構成されていることが好ましい。下部電極膜２は、スパッタリング法、蒸着法等を用いて製膜することができる。下部電極膜２は、Ｐｔ以外に、金（Ａｕ）、ルテニウム（Ｒｕ）、またはイリジウム（Ｉｒ）等の各種金属、これらを主成分とする合金、ルテニウム酸ストロンチウム（ＳｒＲｕＯ_３、略称：ＳＲＯ）またはニッケル酸ランタン（ＬａＮｉＯ_３、略称：ＬＮＯ）等の金属酸化物等を用いて製膜することもできる。下部電極膜２は、上記各種金属または金属酸化物等を用いて製膜した単層膜とすることができる。下部電極膜２は、Ｐｔ膜とＰｔ膜上に設けられたＳＲＯからなる膜との積層体や、Ｐｔ膜とＰｔ膜上に設けられたＬＮＯからなる膜との積層体等であってもよい。なお、基板１と下部電極膜２との間には、これらの密着性を高めるため、例えば、チタン（Ｔｉ）、タンタル（Ｔａ）、酸化チタン（ＴｉＯ_２）、ニッケル（Ｎｉ）、ルテニウム酸化物（ＲｕＯ_２）、イリジウム酸化物（ＩｒＯ_２）、酸化亜鉛（ＺｎＯ）等を主成分とする密着層６が設けられていてもよい。密着層６は、スパッタリング法、蒸着法等の手法を用いて製膜することができる。下部電極膜２の厚さ（下部電極膜２が積層体である場合は、各層の合計厚さ）は例えば１００ｎｍ以上４００ｎｍ以下とすることができ、密着層６の厚さは例えば１ｎｍ以上２００ｎｍ以下とすることができる。

圧電膜３は、例えば、カリウム（Ｋ）、ナトリウム（Ｎａ）、ニオブ（Ｎｂ）、および酸素（Ｏ）を含むアルカリニオブ酸化物からなる膜である。圧電膜３は、組成式（Ｋ_１－ｘＮａ_ｘ）ＮｂＯ_３で表されるアルカリニオブ酸化物、すなわち、ニオブ酸カリウムナトリウム（ＫＮＮ）を用いて製膜することができる。上述の組成式中の係数ｘ［＝Ｎａ／（Ｋ＋Ｎａ）］は、０＜ｘ＜１、好ましくは０．４≦ｘ≦０．７の範囲内とすることができる。圧電膜３は、ＫＮＮの多結晶膜（以下、ＫＮＮ膜３とも称する）となる。ＫＮＮの結晶構造はペロブスカイト構造となる。すなわち、ＫＮＮ膜３はペロブスカイト構造を有する。また、ＫＮＮ膜３を構成する結晶群のうち半数以上の結晶が柱状構造を有していることが好ましい。なお、本明細書では、ＫＮＮの結晶系を正方晶系とみなすこととする。ＫＮＮ膜３は、スパッタリング法等の手法を用いて製膜することができる。ＫＮＮ膜３の厚さは例えば０．５μｍ以上５μｍ以下とすることができる。

ＫＮＮ膜３は、リチウム（Ｌｉ）、マグネシウム（Ｍｇ）、カルシウム（Ｃａ）、ストロンチウム（Ｓｒ）、バリウム（Ｂａ）、ビスマス（Ｂｉ）、アンチモン（Ｓｂ）、バナジウム（Ｖ）、インジウム（Ｉｎ）、Ｔａ、モリブデン（Ｍｏ）、タングステン（Ｗ）、クロム（Ｃｒ）、Ｔｉ、ジルコニウム（Ｚｒ）、ハフニウム（Ｈｆ）、スカンジウム（Ｓｃ）、イットリウム（Ｙ）、ランタン（Ｌａ）、セリウム（Ｃｅ）、プラセオジム（Ｐｒ）、ネオジム（Ｎｄ）、サマリウム（Ｓｍ）、ユウロピウム（Ｅｕ）、ガドリニウム（Ｇｄ）、テルビウム（Ｔｂ）、ジスプロシウム（Ｄｙ）、ホルミウム（Ｈｏ）、エルビウム（Ｅｒ）、ツリウム（Ｔｍ）、イッテルビウム（Ｙｂ）、ルテチウム（Ｌｕ）、銅（Ｃｕ）、亜鉛（Ｚｎ）、銀（Ａｇ）、マンガン（Ｍｎ）、鉄（Ｆｅ）、コバルト（Ｃｏ）、Ｎｉ、アルミニウム（Ａｌ）、Ｓｉ、ゲルマニウム（Ｇｅ）、スズ（Ｓｎ）、ガリウム（Ｇａ）のいずれか一種以上の元素（ドーパント）を含有することができる。ＫＮＮ膜３中におけるこれらの元素の濃度は、例えば５ａｔ％以下（上述の元素を複数含有している場合は合計濃度が５ａｔ％以下）とすることができる。

ＫＮＮ膜３を構成する結晶は、基板１（基板１が例えば表面酸化膜１ｂまたは絶縁膜１ｄ等を有するＳｉ基板１ａである場合はＳｉ基板１ａ）の主面に対して（００１）面方位に優先配向していることが好ましい。すなわち、ＫＮＮ膜３の主面（上部電極膜４の下地となる面）は、主にＫＮＮ（００１）面により構成されていることが好ましい。例えば、主面が主にＰｔ（１１１）面により構成されているＰｔ膜（下部電極膜２）上にＫＮＮ膜３を直接製膜することにより、主面が主にＫＮＮ（００１）面により構成されたＫＮＮ膜３を容易に得ることができる。

本明細書において、ＫＮＮ膜３を構成する結晶が（００１）面方位に配向しているとは、ＫＮＮ膜３を構成する結晶の（００１）面が基板１の主面に対して平行または略平行であることを意味する。また、ＫＮＮ膜３を構成する結晶が（００１）面方位に優先配向しているとは、（００１）面が基板１の主面に対して平行または略平行である結晶が多いことを意味する。例えば、ＫＮＮ膜３を構成する結晶群のうち８０％以上の結晶が基板１の主面に対して（００１）面方位に配向していることが好ましい。すなわち、ＫＮＮ膜３を構成する結晶の（００１）面方位への配向率は例えば８０％以上であることが好ましく、９０％以上であることがより好ましい。なお、本明細書における「配向率」とは、ＫＮＮ膜３に対してＸＲＤ測定を行うことにより得られたＸ線回折パターン（２θ／θ）のピーク強度に基づいて、下記（数１）により算出した値である。

（数１）
配向率（％）＝｛（００１）ピーク強度／（（００１）ピーク強度＋（１１０）ピーク強度）｝×１００

なお、上記（数１）における「（００１）ピーク強度」とは、ＫＮＮ膜３に対してＸＲＤ測定を行うことにより得られるＸ線回折パターンにおいて、ＫＮＮ膜３を構成する結晶のうち（００１）面方位に配向する結晶（すなわち、（００１）面が基板１の主面に対して平行である結晶）に起因する回折ピークの強度であり、２θが２０°以上２３°以下の範囲内に現れるピークの強度である。なお、２θが２０°以上２３°以下の範囲内に複数のピークが現れる場合は、最も高いピークの強度である。また、上記（数１）における「（１１０）ピーク強度」とは、ＫＮＮ膜３に対してＸＲＤ測定を行うことにより得られるＸ線回折パターンにおいて、ＫＮＮ膜３を構成する結晶のうち（１１０）面方位に配向する結晶（すなわち、（１１０）面が基板１の主面に対して平行である結晶）に起因する回折ピークの強度であり、２θが３０°以上３３°以下の範囲内に現れるピークの強度である。なお、２θが３０°以上３３°以下の範囲内に複数のピークが現れる場合は、最も高いピークの強度である。

ＫＮＮ膜３は、直径が３インチ以上の主面（上面）、すなわち大径の主面を有している。ＫＮＮ膜３では、ＫＮＮ膜３の主面内における周縁部を除く内側の全域で、局所的な不良領域が出現しておらず、膜質が均一である。具体的には、ＫＮＮ膜３に対してＸＲＤ測定を行った際における（００１）面のＸ線ロッキングカーブの半値幅（ＦＷＨＭ（００１））の値が、ＫＮＮ膜３の主面における周縁部を除く内側の全域で、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている。ここで、「ＫＮＮ膜３の主面における周縁部を除く内側の全域において、ＦＷＨＭ（００１）の値が、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている」とは、図３に示すように、ＫＮＮ膜３の主面において、縁から５ｍｍの外周領域３ａよりも内側の領域３ｂ（縁から５ｍｍの外周領域３ａを除く領域）について、格子状に１ｃｍ間隔でＸＲＤ測定を行ったときの全点において、ＦＷＨＭ（００１）の値が、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっていることを意味する。なお、図３中に、ＦＷＨＭ（００１）の測定点を●印で示す。また、以下では、「ＫＮＮ膜３の主面における周縁部を除く内側の全域」を、「ＫＮＮ膜３の主面全域」とも記載する。

ＫＮＮ膜３の主面全域で、ＦＷＨＭ（００１）の値が、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっていることで、ＫＮＮ膜３の膜特性を、ＫＮＮ膜３の主面全域で均一（面内均一）にすることができる。これにより、１つの圧電積層体１０から得た複数の後述の圧電素子２０（圧電デバイスモジュール３０）間で、特性にバラツキが生じることを回避できる。その結果、圧電素子２０（圧電デバイスモジュール３０）の歩留りや信頼性を向上させることができる。

上部電極膜４は、例えば、Ｐｔ、Ａｕ、Ａｌ、Ｃｕ等の各種金属またはこれらの合金を用いて製膜することができる。上部電極膜４は、スパッタリング法、蒸着法、メッキ法、金属ペースト法等の手法を用いて製膜することができる。上部電極膜４は、下部電極膜２のようにＫＮＮ膜３の結晶構造に大きな影響を与えるものではない。そのため、上部電極膜４の材料、結晶構造、製膜手法は特に限定されない。なお、ＫＮＮ膜３と上部電極膜４との間には、これらの密着性を高めるため、例えば、Ｔｉ、Ｔａ、ＴｉＯ_２、Ｎｉ、ＲｕＯ_２、ＩｒＯ_２等を主成分とする密着層が設けられていてもよい。上部電極膜４の厚さは例えば１００ｎｍ以上５０００ｎｍ以下、密着層を設ける場合には密着層の厚さは例えば１ｎｍ以上２００ｎｍ以下とすることができる。

（２）圧電デバイスモジュールの構成
図４に、ＫＮＮ膜３を有するデバイスモジュール３０（以下、圧電デバイスモジュール３０とも称する）の概略構成図を示す。上述の圧電積層体１０を所定形状に成形することで、図４に示すような素子（デバイス）２０（ＫＮＮ膜３を有する素子２０、以下、圧電素子２０とも称する）が得られる。圧電デバイスモジュール３０は、圧電素子２０と、圧電素子２０に接続される電圧印加手段１１ａまたは電圧検出手段１１ｂと、を少なくとも備えている。電圧印加手段１１ａは、下部電極膜２と上部電極膜４との間に電圧を印加するための手段であり、電圧検出手段１１ｂは、下部電極膜２と上部電極膜４との間に発生した電圧を検出するための手段である。電圧印加手段１１ａ、電圧検出手段１１ｂとしては、公知の種々の手段を用いることができる。

電圧印加手段１１ａを、圧電素子２０の下部電極膜２と上部電極膜４との間に接続することで、圧電デバイスモジュール３０をアクチュエータとして機能させることができる。電圧印加手段１１ａにより下部電極膜２と上部電極膜４との間に電圧を印加することで、ＫＮＮ膜３を変形させることができる。この変形動作により、圧電デバイスモジュール３０に接続された各種部材を作動させることができる。この場合、圧電デバイスモジュール３０の用途としては、例えば、インクジェットプリンタ用のヘッド、スキャナー用のＭＥＭＳミラー、超音波発生装置用の振動子等が挙げられる。

電圧検出手段１１ｂを、圧電素子２０の下部電極膜２と上部電極膜４との間に接続することで、圧電デバイスモジュール３０をセンサとして機能させることができる。ＫＮＮ膜３が何らかの物理量の変化に伴って変形すると、その変形によって下部電極膜２と上部電極膜４との間に電圧が発生する。この電圧を電圧検出手段１１ｂによって検出することで、ＫＮＮ膜３に印加された物理量の大きさを測定することができる。この場合、圧電デバイスモジュール３０の用途としては、例えば、角速度センサ、超音波センサ、圧カセンサ、加速度センサ等が挙げられる。

圧電デバイスモジュール３０（圧電素子２０）は、主面全域で、ＦＷＨＭ（００１）の値が、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっているＫＮＮ膜３を有する圧電積層体１０から作製している。このため、１つの圧電積層体１０から得た複数の圧電素子２０（圧電デバイスモジュール３０）間で、特性にバラツキが生じることを回避できる。すなわち、１つの圧電積層体１０から特性が均一な複数の圧電素子２０（圧電デバイスモジュール３０）を得ることができる。

例えば、大径の基板１上に、密着層６としてのＴｉ層（厚さ：２ｎｍ）、下部電極膜２としてのＰｔ膜（厚さ：２００ｎｍ）、ＫＮＮ膜３（厚さ：２μｍ）、ＫＮＮ膜３と上部電極膜４との間の密着性を高める密着層としてのＲｕＯ_２層（厚さ：３０ｎｍ）、上部電極膜４としてのＰｔ膜（厚さ：１００ｎｍ）が、順に設けられた１つの圧電積層体１０を加工することにより得た複数の圧電デバイスモジュール３０において、下部電極膜２と上部電極膜４との間に－１００ｋＶ／ｃｍの電界を印加した際、全ての圧電デバイスモジュール３０の圧電定数－ｅ_３１を１０Ｃ／ｍ^２以上にできる。また例えば、上記複数の圧電デバイスモジュール３０において、下部電極膜２と上部電極膜４との間に－１５０ｋＶ／ｃｍの電界を印加した際、全ての圧電デバイスモジュール３０のリーク電流密度を、１×１０^－５Ａ／ｃｍ^２以下にできる。ここで、本明細書における「下部電極膜２と上部電極膜４との間に－１００ｋＶ／ｃｍ又は－１５０ｋＶ／ｃｍの電界を印加する」とは、上部電極膜４側をマイナス、下部電極膜２側をアースにして、上部電極膜４と下部電極膜２との間にＫＮＮ膜３の厚さ方向の上向き（下部電極膜２から上部電極膜４に向かう向き）に１００ｋＶ／ｃｍ又は１５０ｋＶ／ｃｍの電界が生じるように、上部電極膜４に対して負電圧を印加することを意味する。

このように、複数の圧電素子２０（圧電デバイスモジュール３０）間で特性が均一になることで、圧電素子２０（圧電デバイスモジュール３０）の歩留りや信頼性を向上させることができる。

（３）圧電積層体、圧電素子、圧電デバイスモジュールの製造方法
上述の圧電積層体１０、圧電素子２０、および圧電デバイスモジュール３０の製造方法について説明する。

（密着層および下部電極膜の製膜）
まず、主面の直径が３インチ以上の大径の基板１を用意し、基板１のいずれかの主面上に、例えばスパッタリング法により密着層６（例えばＴｉ層）および下部電極膜２（例えばＰｔ膜）をこの順に製膜する。なお、いずれかの主面上に、密着層６や下部電極膜２が予め製膜された基板１を用意してもよい。

密着層６を設ける際の条件としては、下記の条件が例示される。
温度（基板温度）：１００℃以上５００℃以下、好ましくは２００℃以上４００℃以下
放電パワー：１０００Ｗ以上１５００Ｗ以下、好ましくは１１００Ｗ以上１３００Ｗ以下
雰囲気：アルゴン（Ａｒ）ガス雰囲気
雰囲気圧力：０．１Ｐａ以上０．５Ｐａ以下、好ましくは０．２Ｐａ以上０．４Ｐａ以下
時間：３０秒以上３分以下、好ましくは４５秒以上２分以下

下部電極膜２を製膜する際の条件としては、下記の条件が例示される。
温度（基板温度）：１００℃以上５００℃以下、好ましくは２００℃以上４００℃以下
放電パワー：１０００Ｗ以上１５００Ｗ以下、好ましくは１１００Ｗ以上１３００Ｗ以下
雰囲気：Ａｒガス雰囲気
雰囲気圧力：０．１Ｐａ以上０．５Ｐａ以下、好ましくは０．２Ｐａ以上０．４Ｐａ以下
時間：３分以上１０分以下、好ましくは４分以上８分以下、より好ましくは５分以上６分以下

（ＫＮＮ膜の製膜）
密着層６および下部電極膜２の製膜が終了したら、続いて、下部電極膜２上に、例えばＲＦマグネトロンスパッタリング法等のスパッタリング法によりＫＮＮ膜３を製膜する。このとき、Ｋ、Ｎａ、Ｎｂ、及びＯを含み、ペロブスカイト構造のアルカリニオブ酸化物の焼結体からなる後述のターゲット材１００を用いる。ターゲット材１００は、直径が３インチ以上であって周縁部を除く内側の全域において結晶の向きがランダムなスパッタ面１０１を有している。ターゲット材１００の詳細については後述する。ＫＮＮ膜３の組成比は、例えば、ターゲット材１００の組成を制御することで調整可能である。

ＫＮＮ膜３を製膜する際の条件としては、下記の条件が例示される。なお、製膜時間は、ＫＮＮ膜３の厚さに応じて適宜設定することができる。
放電パワー：２０００Ｗ以上２４００Ｗ以下、好ましくは２１００Ｗ以上２３００Ｗ以下
雰囲気：Ａｒガス＋酸素（Ｏ_２）ガスの混合ガス雰囲気
雰囲気圧力：０．２Ｐａ以上０．５Ｐａ以下、好ましくは０．２Ｐａ以上０．４Ｐａ以下
Ｏ_２ガスに対するＡｒガスの分圧（Ａｒ／Ｏ_２分圧比）：３０／１～２０／１、好ましくは２７／１～２２／１
製膜温度：５００℃以上７００℃以下、好ましくは５５０℃以上６５０℃以下
製膜速度：０．５μｍ／ｈｒ以上２μｍ／ｈｒ以下、好ましくは０．５μｍ／ｈｒ以上１．５μｍ／ｈｒ以下

周縁部を除く内側の全域において結晶の向きがランダムなスパッタ面１０１を有する後述のターゲット材１００を用い、上述の条件下でＫＮＮ膜３を製膜することにより、スパッタ製膜時にスパッタ面全域にわたり異常放電が生じることを回避できる。これにより、大径の基板１上（大径の基板１上に製膜された大径の下部電極膜２上）に大径のＫＮＮ膜３を製膜する場合であっても、ＫＮＮ膜３の主面に局所的な不良領域が出現することを回避することができる。すなわち、主面全域で均一な膜質を有する大径のＫＮＮ膜３を得ることができる。具体的には、主面全域で、ＦＷＨＭ（００１）の値が、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている大径のＫＮＮ膜３を得ることができる。

（上部電極膜の製膜）
ＫＮＮ膜３の製膜が終了したら、ＫＮＮ膜３上に、例えばスパッタリング法により、上部電極膜４を製膜する。上部電極膜４を製膜する際の条件は、上述の下部電極膜２を製膜する際の条件と同様の条件とすることができる。これにより、図１に示すような圧電積層体１０が得られる。

（圧電素子および圧電デバイスモジュールの作製）
そして、得られた圧電積層体１０をエッチング等により所定形状に成形する（所定パターンに微細加工を行う）。これにより、図４に示すような圧電素子２０が得られ、圧電素子２０に電圧印加手段１１ａまたは電圧検出手段１１ｂを接続することで圧電デバイスモジュール３０が得られる。エッチング方法としては、例えば、反応性イオンエッチング等のドライエッチング法、所定のエッチング液を用いたウェットエッチング法を用いることができる。

圧電積層体１０をドライエッチングにより成形する場合、圧電積層体１０（例えば上部電極膜４）上に、ドライエッチングに対するエッチングマスクとしてのフォトレジストパターンをフォトリソグラフィプロセス等により形成する。エッチングマスクとして、Ｃｒ膜、Ｎｉ膜、Ｐｔ膜、Ｔｉ膜等の貴金属膜（メタルマスク）をスパッタリング法により形成してもよい。そして、エッチングガスとしてハロゲン元素を含むガスを用いて圧電積層体１０（上部電極膜４、ＫＮＮ膜３等）に対してドライエッチングを行う。なお、ハロゲン元素には、塩素（Ｃｌ）、フッ素（Ｆ）等が含まれる。ハロゲン元素を含むガスとしては、ＢＣｌ_３ガス、ＳｉＣｌ_４ガス、Ｃｌ_２ガス、ＣＦ_４ガス、Ｃ_４Ｆ_８ガス等を用いることができる。

圧電積層体１０をウェットエッチングにより成形する場合、圧電積層体１０（例えば上部電極膜４）上に、ウェットエッチングに対するエッチングマスクとしての酸化シリコン（ＳｉＯ_ｘ）膜等を形成する。そして、例えばキレート剤のアルカリ水溶液を含みフッ酸を含まないエッチング液中に圧電積層体１０を浸漬させ、圧電積層体１０（上部電極膜４、ＫＮＮ膜３等）に対してウェットエッチングを行う。なお、キレート剤のアルカリ水溶液を含みフッ酸を含まないエッチング液としては、キレート剤としてのエチレンジアミン四酢酸と、アンモニア水と、過酸化水素水とを混合したエッチング液を用いることができる。

（４）ターゲット材の構成
以下、ＫＮＮ膜３をスパッタ製膜する際に用いるスパッタリングターゲット材１００の構成について、図５を参照しながら詳細に説明する。ターゲット材１００は、例えば、Ｉｎ等の接着剤を介してバッキングプレートに固着された後、スパッタ面１０１にプラズマが照射されるようにスパッタリング装置に装着される。なお、上述のように、「スパッタ面」とは、ターゲット材１００が有する面のうち、スパッタ製膜時にプラズマに晒されることとなる面（スパッタ製膜時にイオンが衝突する面）である。

図５は、本態様に係るターゲット材１００の一例を示す概略構成図である。図５では、スパッタ面１０１が上になる向きでターゲット材１００を図示している。

ターゲット材１００は、Ｋ、Ｎａ、Ｎｂ、及びＯを含み、ペロブスカイト構造のアルカリニオブ酸化物の焼結体、すなわちＫＮＮ焼結体により構成されている。ターゲット材１００は、０＜Ｎａ／（Ｋ＋Ｎａ）＜１、好ましくは、０．４≦Ｎａ／（Ｋ＋Ｎａ）≦０．７の範囲内の組成を有している。ターゲット材１００は、複数のＫＮＮの結晶粒で構成されている。

ターゲット材１００は、ドーパントとして、Ｌｉ、Ｍｇ、Ｃａ、Ｓｒ、Ｂａ、Ｂｉ、Ｓｂ、Ｖ、Ｉｎ、Ｔａ、Ｍｏ、Ｗ、Ｃｒ、Ｔｉ、Ｚｒ、Ｈｆ、Ｓｃ、Ｙ、Ｌａ、Ｃｅ、Ｐｒ、Ｎｄ、Ｓｍ、Ｅｕ、Ｇｄ、Ｔｂ、Ｄｙ、Ｈｏ、Ｅｒ、Ｔｍ、Ｙｂ、Ｌｕ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ａｇ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ａｌ、Ｓｉ、Ｇｅ、Ｓｎ、Ｇａのいずれか一種以上の元素を含有していてもよい。ターゲット材１００における上記元素の濃度は例えば５ａｔ％以下（複数種の元素を含有する場合は、合計濃度が５ａｔ％以下）とすることができる。

ターゲット材１００は円形の外形を有している。すなわち、ターゲット材１００は、平面視で円形のスパッタ面１０１を有している。スパッタ面１０１の直径は、例えば３インチ以上とすることができる。なお、ターゲット材１００の外形（スパッタ面１０１の平面形状）は、円形の他、楕円形や四角形または多角形等の種々の形状とすることもできる。この場合、スパッタ面１０１の内接円の直径を例えば３インチ以上とすることができる。このように、ターゲット材１００は、直径３インチ以上のスパッタ面１０１、すなわち大径のスパッタ面１０１を有している。

ターゲット材１００は、スパッタ面１０１に対してＸＲＤ測定を行った際における、（００１）ピーク強度に対する、（１１０）ピーク強度の比率Ｒ（＝（１１０）ピーク強度／（００１）ピーク強度）が、スパッタ面１０１における周縁部を除く内側の全域において、０．３以上５以下、好ましくは１．２以上５以下、より好ましくは１．２以上３以下の範囲内に収まるように構成されている。

なお、ここでいう「（００１）ピーク強度」とは、スパッタ面１０１に対してＸＲＤ測定を行った際における（００１）面からのＸ線回折ピーク強度、すなわち、スパッタ面１０１に対してＸＲＤ測定を行うことにより得られるＸ線回折パターンにおいて、ターゲット材１００を構成する結晶のうち（００１）面方位に配向する結晶に起因する回折ピークの強度であり、２θが２０°以上２３°以下の範囲内に現れるピークの強度である。なお、２θが２０°以上２３°以下の範囲内に複数のピークが現れる場合は、最も高いピークの強度である。また、ここでいう「（１１０）ピーク強度」とは、スパッタ面１０１に対してＸＲＤ測定を行った際における（１１０）面からのＸ線回折ピーク強度、すなわち、スパッタ面１０１に対してＸＲＤ測定を行うことにより得られるＸ線回折パターンにおいて、ターゲット材１００を構成する結晶のうち（１１０）面方位に配向する結晶に起因する回折ピークの強度であり、２θが３０°以上３３°以下の範囲内に現れるピークの強度である。なお、２θが３０°以上３３°以下の範囲内に複数のピークが現れる場合は、最も高いピークの強度である。

また、「比率Ｒが、スパッタ面１０１の周縁部を除く内側の全域において、０．３以上５以下の範囲内に収まっている」とは、スパッタ面１０１のうち、縁から５ｍｍの領域（周縁部）を除いた領域（縁から５ｍｍの領域よりも内側の領域）について、格子状に１ｃｍ間隔でＸＲＤ測定を行ったときの全点（直径３インチのスパッタ面１０１である場合は３７点）で、比率Ｒの値が０．３以上５以下であることを意味する。以下では、「スパッタ面１０１の周縁部を除く内側の全域」を、「スパッタ面全域」とも記載する。

このように、ターゲット材１００では、大径のスパッタ面１０１であっても、局所的に結晶の向きがランダムになっていない領域、すなわち、結晶の無配向性が局所的に低下している領域がなく、スパッタ面全域で、結晶の向きがランダムになっている。好ましくは、ターゲット材１００では、スパッタ面全域及びスパッタ面１０１に平行な任意の面の周縁部を除く全域（以下、「スパッタ面１０１に平行な面全域」とも称する）で、粒径が３０μｍを超える結晶粒が局所的に密集している領域が観察されない。さらに好ましくは、ターゲット材１００では、スパッタ面全域及びスパッタ面１０１に平行な面全域で、粒径が３０μｍを超える結晶粒が観察されない。すなわち、ターゲット材１００は、スパッタ面全域及びスパッタ面１０１に平行な面全域にわたって、粒径が例えば０．１μｍ以上３０μｍ以下、好ましくは０．１μｍ以上２０μｍ以下、さらに好ましくは０．１μｍ以上１０μｍ以下の結晶粒で構成されている。

このようなターゲット材１００を用いて直径３インチ以上の基板１上にＫＮＮ膜３をスパッタ製膜することにより、スパッタ製膜時にスパッタ面全域にわたり異常放電が生じることを回避できる。その結果、主面全域において、ＦＷＨＭ（００１）の値が０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている大径のＫＮＮ膜３を得ることができる。

また、ターゲット材１００の相対密度は、スパッタ面全域にわたって、６０％以上、好ましくは７０％以上、より好ましくは８０％以上である。なお、ここでいう相対密度（％）とは、（実測密度／ＫＮＮの理論密度）×１００により算出した値である。なお、ＫＮＮの理論密度は、４．５１ｇ／ｃｍ^３である。また、ターゲット材１００の抗折強度は、スパッタ面全域にわたって、１０ＭＰａ以上、好ましくは３０ＭＰａ以上、より好ましくは４０ＭＰａ以上、さらに好ましくは５０ＭＰａ以上である。なお、ここでいう抗折強度とは、３点曲げ試験（ＪＩＳ Ｒ１６０１：２００８に準拠）にて測定した値である。このように、スパッタ面全域にわたって、相対密度が６０％以上であったり、抗折強度が１０ＭＰａ以上であったりすることで、ターゲット材１００を用いたスパッタ製膜時に、スパッタ面全域にわたって異常放電が発生することを確実に回避することが可能となる。

また、ターゲット材１００は高抵抗であることが好ましい。例えば、ターゲット材１００の体積抵抗率が１０００ｋΩｃｍ以上であることが好ましい。これにより、良好な絶縁性を有するＫＮＮ膜３を得ることが可能となる。なお、体積抵抗率の上限値は特に限定されないが、例えば１００ＭΩｃｍ以下とすることができる。

（５）ターゲット材の製造方法
以下、スパッタ面全域において、比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっているターゲット材１００の製造方法について、図６を参照しながら詳細に説明する。

本態様におけるターゲット材１００の作製シーケンスでは、
Ｋの化合物からなる粉体と、Ｎａの化合物からなる粉体と、Ｎｂの化合物からなる粉体と、を所定の比率で混合して混合物を得る処理（混合処理）と、
混合物に対して所定の圧力（荷重）を加えて成型加工して直径３インチ以上の成型体を得る処理（圧縮成型処理）と、
成型体の表面内の温度が全面にわたり８００℃以上１１５０℃以下であって、表面から裏面へ向かう方向に１０℃／ｍｍ以上で上昇する温度勾配を有する条件下で、１時間以上５時間以下、成型体を加熱して焼成して焼結体を得る処理（焼成処理）と、
を行う。なお、本態様では、圧縮成型処理と、焼成処理と、を同時に（一括で）行う場合について説明する。

また、混合処理を行った後、圧縮成型処理を行う前に、
焼成処理における加熱温度よりも低い温度で混合物を加熱して仮焼成する処理（仮焼成処理）と、
仮焼成後の混合物を粉砕する処理（粉砕処理）と、
をさらに行ってもよい。この場合、圧縮成型処理では、仮焼成後に粉砕した混合物に対して所定の圧力を加えることとなる。

また、焼成処理を行った後、焼結体を所定温度で加熱する処理（熱処理）をさらに行ってもよい。

（混合処理）
Ｋの化合物からなる粉体と、Ｎａの化合物からなる粉体と、Ｎｂの化合物からなる粉体と、を所定の比率で混合して混合物を得る。

具体的には、まず、Ｋの化合物からなる粉体と、Ｎａの化合物からなる粉体と、Ｎｂの化合物からなる粉体と、を用意する。

Ｋの化合物とは、Ｋの酸化物、Ｋの複合酸化物、および加熱することにより酸化物となるＫの化合物（例えば、炭酸塩、シュウ酸塩）からなる群より選択される少なくとも１つである。Ｋの化合物からなる粉体としては、例えば炭酸カリウム（Ｋ_２ＣＯ_３）粉末を用いることができる。

Ｎａの化合物とは、Ｎａの酸化物、Ｎａの複合酸化物、および加熱することにより酸化物となるＮａの化合物（例えば、炭酸塩、シュウ酸塩）からなる群より選択される少なくとも１つである。Ｎａの化合物からなる粉体としては、例えば炭酸ナトリウム（Ｎａ_２ＣＯ_３）粉末を用いることができる。

Ｎｂの化合物とは、Ｎｂの酸化物、Ｎｂの複合酸化物、または加熱することにより酸化物となるＮｂの化合物からなる群より選択される少なくとも１つである。Ｎｂの化合物からなる粉体としては、例えば酸化ニオブ（Ｎｂ_２Ｏ_５）粉末を用いることができる。

また、所定のドーパントを含むターゲット材１００を作製する場合は、Ｌｉ、Ｍｇ、Ｃａ、Ｓｒ、Ｂａ、Ｂｉ、Ｓｂ、Ｖ、Ｉｎ、Ｔａ、Ｍｏ、Ｗ、Ｃｒ、Ｔｉ、Ｚｒ、Ｈｆ、Ｓｃ、Ｙ、Ｌａ、Ｃｅ、Ｐｒ、Ｎｄ、Ｓｍ、Ｅｕ、Ｇｄ、Ｔｂ、Ｄｙ、Ｈｏ、Ｅｒ、Ｔｍ、Ｙｂ、Ｌｕ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ａｇ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ａｌ、Ｓｉ、Ｇｅ、Ｓｎ、Ｇａのいずれか一種以上の元素の化合物からなる粉末を用意する。上記各元素の化合物の粉体とは、上記各元素の酸化物粉末、上記各元素の複合酸化物粉末、および加熱することにより酸化物となる上記各元素の化合物（例えば、炭酸塩、シュウ酸塩）の粉末からなる群より選択される少なくとも１つである。

そして、ターゲット材１００の組成が所定組成となるように、上記各粉体の混合比率を調整し、各粉体を秤量する。秤量は、大気中で行ってもよいが、ターゲット材１００の組成比のズレの発生を回避する観点から、Ａｒガスや窒素（Ｎ_２）ガス等の不活性ガス雰囲気で行うことが好ましい。また、ターゲット材１００の組成比のズレの発生を確実に回避する観点から、各粉体を充分に乾燥（脱水）した後に秤量を行うことが好ましい。

続いて、各粉体を、ボールミルやビーズミル等の混合器を用いて混合（湿式混合）する。混合を行う際の条件としては、下記の条件が例示される。
溶媒：エタノール等の有機溶媒または水
混合時間：５時間以上３０時間以下、好ましくは１０時間以上２６時間以下
混合雰囲気：大気中

上述の条件下で混合を行うことにより、粉体が凝集することを回避できる。その結果、ターゲット材１００の組成を、スパッタ面全域及びスパッタ面１０１に平行な面全域において均一にすることができる。

（仮焼成・粉砕処理）
混合処理が終了したら、混合処理で得た混合物を、後述の焼成処理における加熱温度よりも低い温度で加熱して仮焼成する（仮焼成処理）。

仮焼成を行う際の条件としては、下記の条件が例示される。
加熱温度：６５０℃以上１１００℃以下、好ましくは７００℃以上９００℃以下、より好ましくは７００℃以上８００℃未満であって、後述の焼成処理における加熱温度よりも低い温度
加熱時間：１時間以上５０時間以下、好ましくは５時間以上４０時間以下、より好ましくは１０時間以上３５時間以下

仮焼成処理が終了したら、ボールミル等を用いて仮焼成後の混合物を粉砕しながら混合する（粉砕処理）。

粉砕を行う際の条件としては、下記の条件が例示される。
粉砕（混合）時間：３時間以上１０時間以下、好ましくは５時間以上９時間以下
その他の条件は、上述の混合処理における条件と同様の条件とすることができる。

（圧縮成型処理・焼成処理）
仮焼成・粉砕処理が終了したら、例えば図６に示す成型装置２００を用い、仮焼成後に粉砕・混合して得た混合物に対して所定の圧力を加えて成型加工（圧縮成型）して成型体を得る処理（圧縮成型処理）と、成型体を所定条件下で加熱して焼成して焼結体を得る処理（焼成処理）と、を同時に行う。すなわち、圧縮成型処理を行いつつ焼成処理を行うホットプレス焼結を行う。

図６に示す成型装置２００は、ＳＵＳ等からなり、処理室２０１が内部に構成されたチャンバ２０３を備えている。処理室２０１内には、混合物２１０が充填（収容）される治具（金型）２０８が設けられている。治具２０８は、グラファイト等の材料からなり、直径３インチ以上の成型体（焼結体）を形成可能なように構成されている。処理室２０１内には、治具２０８内に充填された混合物２１０に対して所定の圧力を加えることが可能なように構成された押圧手段２１７（例えば油圧プレス式の押圧手段２１７）が設けられている。また、処理室２０１の内部には、治具２０８内の混合物２１０を所望の温度に加熱するヒータ２０７が設けられている。ヒータ２０７は、処理室２０１の上部から下部に向かって上部ヒータ２０７ａ、中央ヒータ２０７ｂ、下部ヒータ２０７ｃが順に分割して配置されるとともに、治具２０８の内側ゾーンを加熱する内側ヒータ２０７ｄ、治具２０８の外側ゾーンを加熱する外側ヒータ２０７ｅが分割して配置された構成となっている。上部ヒータ２０７ａ、中央ヒータ２０７ｂ、下部ヒータ２０７ｃのそれぞれは円筒形状であり、内側ヒータ２０７ｄ、外側ヒータ２０７ｅのそれぞれはドーナツ形状であり、個別に温度制御が可能なように構成されている。また、処理室２０１の内部には、処理室２０１内の温度を測定する温度センサ２０９が設けられている。成型装置２００が備える各部材は、コンピュータとして構成されたコントローラ２８０に接続されており、コントローラ２８０上で実行されるプログラムによって、後述する手順や条件が制御されるように構成されている。

圧縮成型処理・焼成処理は、上述の成型装置２００を用い、例えば以下の手順で実施することができる。

まず、仮焼成後に粉砕・混合して得た混合物２１０を治具２０８に充填する。そして、押圧手段２１７により治具２０８内の混合物２１０に対して図６に白抜きの矢印で示すように押圧面に対して垂直方向に所定の圧力を加えて成型体を形成する。

圧縮成型を行う際の条件としては、下記の条件が例示される。
印加圧力（荷重）：１００ｋｇｆ／ｃｍ^２以上５００ｋｇｆ／ｃｍ^２以下
加圧時間：１時間以上５時間以下、好ましくは２時間以上４時間以下
雰囲気：不活性ガス雰囲気又は真空雰囲気

圧縮成型を行う際の荷重を１００ｋｇｆ／ｃｍ^２以上５００ｋｇｆ／ｃｍ^２以下とすることで、所定の機械的強度を有するターゲット材１００を得つつ、治具２０８の破損を回避することができる。荷重が１００ｋｇｆ／ｃｍ^２未満であると、圧縮が不充分となり、その結果、機械的強度の低い焼結体となることがある。機械的強度が低いと、ターゲット材１００の作製中にクラックが発生しやすくなり、歩留まりが低下することがある。また、このような焼結体からなるターゲット材１００を用いた場合、ＫＮＮ膜３の製膜中においてもターゲット材１００にクラックが発生し、その結果、ＫＮＮ膜３の結晶品質や膜厚等の諸物性が局所的に低下する場合がある。また、荷重が５００ｋｇｆ／ｃｍ^２を超えると、治具２０８が破損する可能性が高くなる。

また、上述の条件下で圧縮成型処理を行いつつ、成型体を所定条件下で加熱して焼成する。

焼成処理は、成型体（治具２０８内の混合物２１０）の表面内の温度（焼成温度）が全面にわたり８００℃以上１１５０℃以下であって、成型体の表面から裏面へ向かう方向に１０℃／ｍｍ以上で上昇する温度勾配を有する条件下で、成型体（混合物２１０）を、１時間以上５時間以下加熱して行う。このとき、処理室２０１内（成型体、混合物２１０）の温度が所望の温度分布となるように（例えば、処理室２０１内の温度分布が図６にグラフ図で示すような分布となるように）、温度センサ２０９が検出した温度に基づいてヒータ２０７ａ～２０７ｃの温度を制御しつつ、成型体の表面内の温度が均一になるように温度センサ２０９が検出した温度に基づいてヒータ２０７ｄ，２０７ｅの温度を制御しながら、成型体（混合物２１０）を加熱する。なお、本明細書において、成型体の表面とは、ターゲット材１００においてスパッタ面１０１となる面であり、成型体の裏面とは、成型体の表面とは反対側の面である。

焼成を行う際の条件としては、下記の条件が例示される。
焼成温度：８００℃以上１１５０℃以下、好ましくは９００℃以上１１５０℃以下、より好ましくは１０００℃以上１１５０℃以下
温度勾配：成型体の表面から裏面へ向かう方向に１０℃／ｍｍ以上、好ましくは、１０℃／ｍｍ以上１５℃／ｍｍ以下で上昇する勾配
焼成時間（加熱時間）：１時間以上５時間以下、好ましくは２時間以上３時間以下

なお、加熱（焼成）の開始タイミングおよび終了タイミングは特に限定されない。加熱は、加圧開始と同時に開始してもよく、加圧開始よりも前に開始してもよく、加圧開始よりも後に開始してもよい。また、加熱は、加圧終了と同時に終了してもよく、加圧終了よりも前に終了してもよく、加圧終了よりも後に終了してもよい。

上述の条件下で圧縮成型・焼成を行うことにより、スパッタ面全域において結晶の向きがランダムな大径のターゲット材１００を得ることができる。具体的には、スパッタ面１０１となる面全域において上記比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっている大径の焼結体を得ることができる。その結果、スパッタ面全域において上記比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっている大径のターゲット材１００を得ることができる。

特に、焼成時に成型体の表面から裏面に向かう方向に１０℃／ｍｍ以上で上昇する温度勾配を意図的に付けることにより、スパッタ面全域において比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっている大径のターゲット材１００を得ることができる。というのも、焼成時に上述の温度勾配を意図的に付けることにより、焼成時に成型体の表面内に所定の臨界値を超えた温度勾配（温度ムラ）が生じている場合であっても、成型体の表面内における温度勾配に沿って、成型体の表面における沿面方向（以下、単に「沿面方向」とも称する）に結晶が成長（固相成長）することを抑制できる。これにより、例えば、粒径が３０μｍを超える結晶粒が局所的に密集している領域の出現を回避することができる。また例えば、粒径が３０μｍを超える結晶粒の出現を回避することもできる。その結果、大径のスパッタ面１０１であっても、上記比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっていない領域が局所的に出現することを回避することができる。すなわち、スパッタ面１０１の結晶の無配向性の局所的な低下を回避できる。

また、焼成時に上述の温度勾配を意図的に付けることにより、沿面方向への結晶成長を抑制する効果が得られることから、スパッタ面全域及びスパッタ面１０１に平行な面全域において、粒径が３０μｍを超える結晶が観察されないターゲット材１００を得ることもできる。すなわち、スパッタ面全域及びスパッタ面１０１に平行な面全域が、粒径が０．１μｍ以上３０μｍ以下、好ましくは０．１μｍ以上２０μｍ以下、さらに好ましくは０．１μｍ以上１０μｍ以下の結晶で構成されているターゲット材１００を得ることもできる。

なお、上述の温度勾配が１０℃／ｍｍ未満である場合、焼成時における沿面方向への結晶成長を抑制する上述の効果が得られにくくなる。

上述の温度勾配は、例えば１５℃／ｍｍ以下とすることができる。これにより、表面と裏面との間で、結晶の配向が大きく異なることがない、すなわち、結晶の配向がほぼ同様であるターゲット材１００を得ることができる。その結果、１つのターゲット材１００を用いて作製した複数の圧電積層体１０間で、ＫＮＮ膜３の結晶品質等の諸物性や特性を均一にすることが可能となる。すなわち、圧電積層体１０の作製中にラン・トゥ・ラン（ｒｕｎ－ｔｏ－ｒｕｎ）でＫＮＮ膜３の諸物性や特性が変わってしまうことを回避することができる。その結果、圧電素子２０や圧電デバイスモジュール３０の歩留りや信頼性をさらに向上させることができる。

また、焼成時に、成型体の表面内の温度が均一（面内均一）になるように、すなわち、成型体の表面内に温度勾配ができるだけ生じないように温度センサ２０９が検出した温度に基づいてヒータ２０７ｄ，２０７ｅの温度を制御しながら、成型体（混合物２１０）を加熱することにより、沿面方向への結晶成長を抑制する効果を確実に得ることができる。その結果、スパッタ面全域において比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっている大径のターゲット材１００を確実に得ることができる。

焼成温度を成型体の表面全面にわたって８００℃以上１１５０℃以下にしたり、焼成時間を１時間以上５時間以下にしたりすることにより、沿面方向への結晶成長を抑制しつつ、充分な焼成（焼結）を行うことができる。その結果、スパッタ面全域において比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっているとともに、充分な機械的強度を有するターゲット材１００を得ることができる。

焼成温度が８００℃未満である場合（焼成温度が成型体の表面全面にわたって８００℃以上でない場合を含む）や、焼成時間が１時間未満である場合、焼成が不充分となり、その結果、機械的強度の低い焼結体となることがある。このため、ターゲット材１００の作製中やＫＮＮ膜３の製膜中に、ターゲット材１００にクラックが発生しやすくなる。

また、焼成温度が１１５０℃を超える場合や、焼成時間が５時間を超える場合、成型体の厚さ方向に所定の温度勾配を付けたとしても、沿面方向への結晶成長を抑制することができず、結晶が大きく成長してしまうことがある。その結果、スパッタ面１０１内に結晶の向きがランダムになっていない領域が局所的に出現することがある。

また、上述の条件下で圧縮成型・焼成を行うことにより、特に、焼成時に上述の温度勾配を意図的に付けることにより、スパッタ面全域にわたって、相対密度が６０％以上であったり、抗折強度が１０ＭＰａ以上であるターゲット材１００を得ることも可能となる。

（熱処理）
圧縮成型処理・焼成処理が終了したら、上述の成型装置２００を用い、得られた焼結体に対して所定の熱処理を行う。熱処理は、焼結体の表面（スパッタ面１０１となる面）内の温度が均一（面内均一）になるように、温度センサ２０９が検出した温度に基づいてヒータ２０７ａ～２０７ｅの温度を制御しながら行うことが好ましい。

熱処理の条件としては、以下の条件が例示される。
温度：６００℃以上９００℃以下、好ましくは７００℃以上８００℃以下
雰囲気：大気又は酸素含有雰囲気
時間：１時間以上２０時間以下、好ましくは５時間以上１５時間以下

焼成処理によって治具２０８に含まれる炭素（Ｃ）と混合物２１０中のＯとが反応し、焼結体中に酸素欠損が生じていたとしても、上述の条件下で熱処理を行うことにより、焼結体中の欠損した酸素を補充することができる。その結果、より高抵抗なターゲット材１００を得ることが可能となる。例えば、体積抵抗率が１０００ｋΩｃｍ以上であるターゲット材１００を得ることが可能となる。

（仕上げ処理）
熱処理が終了したら、必要に応じて熱処理後の成型体の外形や厚さを調整したり、表面を研磨して表面状態を整えたりする。これにより、図５に示すようなターゲット材１００が得られる。

（６）効果
本開示によれば、以下に示す１つまたは複数の効果が得られる。

（ａ）本態様に係るＫＮＮ膜３では、大径（直径３インチ以上）であっても、主面全域において局所的な不良領域が出現していない。すなわち、ＫＮＮ膜３は、主面全域において、ＦＷＨＭ（００１）の値が０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている。このため、ＫＮＮ膜３は、主面全域で均一な膜質を有することとなり、ＫＮＮ膜３の膜特性は、ＫＮＮ膜３の主面全域で均一になる。その結果、１つの圧電積層体１０を加工することにより得られる複数の圧電素子２０、圧電デバイスモジュール３０間で、特性にバラツキが生じることを回避できる。これにより、圧電素子２０、圧電デバイスモジュール３０の歩留りや信頼性を向上させることが可能となる。

（ｂ）スパッタ面全域で比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっているターゲット材１００を用いて、ＫＮＮ膜３をスパッタ製膜することにより、スパッタ製膜時にスパッタ面全域にわたり異常放電が生じることを回避できる。その結果、大径の基板１上に大径のＫＮＮ膜３をスパッタ製膜した場合であっても、ＫＮＮ膜３の主面全域に、局所的な不良領域の出現を回避することができる。すなわち、上述のターゲット材１００を用いてＫＮＮ膜３を製膜することにより、主面全域でＦＷＨＭ（００１）の値が０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている大径のＫＮＮ膜３を得ることができる。

ここで、スパッタ面の結晶の向き（結晶の配向性）の評価手法として、例えば、スパッタ面の中心１点と、半径１／２の点を９０°間隔で４点と、外周縁から所定距離内側の点を９０°間隔で４点と、の合計９点で、比率Ｒを算出して評価する手法も考えられる。しかしながら、この評価手法では、本態様に比べて評価点が少ないため、スパッタ面全域の結晶の向きを正確に評価できないことがある。特に、直径３インチ以上のスパッタ面を有する大径のターゲット材である場合、比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっていない領域（結晶の向きがランダムになっていない領域）が局所的に出現しているにも関わらず、その領域を見出せないことがある。

これに対し、本態様に係るターゲット材１００では、スパッタ面１０１の縁から５ｍｍの領域である周縁部を除いた領域について、格子状に１ｃｍ間隔でＸＲＤ測定を行ったときの全点（例えば直径３インチのスパッタ面１０１で３７点）で、比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっている。このようなターゲット材１００を用いて大径の基板１上にＫＮＮ膜３をスパッタ製膜することにより、主面全域でＦＷＨＭ（００１）の値が０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている大径のＫＮＮ膜３を得ることが可能となる。

（ｃ）上述の焼成処理において、成型体の表面から裏面に向かう方向に１０℃／ｍｍ以上で上昇する温度勾配を有する条件下で成型体を加熱することにより、沿面方向への結晶成長を抑制することができる。その結果、スパッタ面全域において、比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっている大径のターゲット材１００を得ることができる。

（ｄ）上述の焼成処理において、焼成温度が成型体の表面全面にわたり８００℃以上１１５０℃以下であって、上述の温度勾配を有する条件下で、１時間以上５時間以下、成型体を加熱することにより、スパッタ面全域において、比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっているとともに、充分な機械的強度を有する大径のターゲット材１００を得ることができる。

（７）変形例
本態様は、以下の変形例のように変形することができる。なお、以下の変形例の説明において、上述の態様と同一の構成要素には同一の符号を付し、その説明を省略する。また、上述の態様および以下の変形例は任意に組み合わせることができる。

（変形例１）
圧電積層体１０は、下部電極膜２を備えていなくてもよい。すなわち、圧電積層体１０は、大径の基板１と、基板１上に製膜された大径のＫＮＮ膜３と、ＫＮＮ膜３上に製膜された上部電極膜４（電極膜）と、を備えて構成されていてもよい。

図７に、本変形例にかかる圧電積層体１０を用いて作製した圧電デバイスモジュール３０の概略構成図を示す。圧電デバイスモジュール３０は、圧電積層体１０を所定の形状に成形して得られる圧電素子２０と、圧電素子２０に接続される電圧印加手段１１ａおよび電圧検出手段１１ｂと、を少なくとも備えて構成されている。本変形例では、圧電素子２０は、電極膜を所定のパターンに成形することで形成されたパターン電極を有している。例えば、圧電素子２０は、入力側の正負一対のパターン電極４ｐ_１と、出力側の正負一対のパターン電極４ｐ_２と、を有している。パターン電極４ｐ_１，４ｐ_２としては、くし型電極（Inter Digital Transducer、略称：ＩＤＴ）が例示される。

電圧印加手段１１ａをパターン電極４ｐ_１間に接続し、電圧検出手段１１ｂをパターン電極４ｐ_２間に接続することで、圧電デバイスモジュール３０を表面弾性波（Surface Acoustic Wave、略称：ＳＡＷ）フィルタ等のフィルタデバイスとして機能させることができる。電圧印加手段１１ａによりパターン電極４ｐ_１間に電圧を印加することで、ＫＮＮ膜３にＳＡＷを励起させることができる。励起させるＳＡＷの周波数の調整は、例えばパターン電極４ｐ_１のピッチを調整することで行うことができる。例えば、パターン電極４ｐ_１としてのＩＤＴのピッチが短くなるほど、ＳＡＷの周波数は高くなり、上記ピッチが長くなるほど、ＳＡＷの周波数は低くなる。電圧印加手段１１ａにより励起され、ＫＮＮ膜３を伝搬してパターン電極４ｐ_２に到達したＳＡＷのうち、パターン電極４ｐ_２としてのＩＤＴのピッチ等に応じて定まる所定の周波数（周波数成分）を有するＳＡＷにより、パターン電極４ｐ_２間に電圧が発生する。この電圧を電圧検出手段１１ｂによって検出することで、励起させたＳＡＷのうち所定の周波数を有するＳＡＷを抽出することができる。なお、ここでいう「所定の周波数」という用語は、所定の周波数だけでなく、中心周波数が所定の周波数である所定の周波数帯域を含み得る。

本変形例においても、スパッタ面全域で比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっているターゲット材１００を用いて、ＫＮＮ膜３をスパッタ製膜することにより、主面全域において、ＦＷＨＭ（００１）の値が、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている大径のＫＮＮ膜３を得ることができる。

また、本変形例においても、大径のＫＮＮ膜３の主面全域で、ＦＷＨＭ（００１）の値が、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている。このため、ＫＮＮ膜３の膜特性を、ＫＮＮ膜３の主面全域で均一にすることができる。これにより、本変形例においても、１つの圧電積層体１０から得た複数の圧電素子２０（圧電デバイスモジュール３０）間で、特性にバラツキが生じることを回避できる。その結果、圧電素子２０（圧電デバイスモジュール３０）の歩留りや信頼性を向上させることができる。

（変形例２）
上述の態様では、ターゲット材１００を作製する際の混合処理において、Ｋの化合物からなる粉体（例えばＫ_２ＣＯ_３粉末）と、Ｎａの化合物からなる粉体（例えばＮａ_２ＣＯ_３粉末）と、Ｎｂの化合物からなる粉体（例えばＮｂ_２Ｏ_５粉末）と、を所定の比率で混合させる場合を例に説明したが、これに限定されない。例えば、混合処理では、ＫおよびＮｂを含む化合物からなる粉体と、ＮａおよびＮｂを含む化合物からなる粉体と、を所定の比率で混合して混合物を得てもよい。

ＫおよびＮｂを含む化合物とは、ＫおよびＮｂを含む酸化物（複合酸化物）、および加熱することにより酸化物となるＫおよびＮｂを含む化合物（例えば、炭酸塩、シュウ酸塩）からなる群より選択される少なくとも１つである。ＫおよびＮｂを含む化合物の粉体としては、例えば、ＫＮｂＯ_３粉末を用いることができる。ＫＮｂＯ_３粉末は、例えば、Ｋの化合物（例えばＫ_２ＣＯ_３粉末）とＮｂの化合物（例えばＮｂ_２Ｏ_５粉末）とを混合して仮焼し、ボールミル等を用いて仮焼後の混合物を粉砕・混合することにより得ることができる。

ＮａおよびＮｂを含む化合物とは、ＮａおよびＮｂを含む酸化物（複合酸化物）、および加熱することにより酸化物となるＮａおよびＮｂを含む化合物（例えば、炭酸塩、シュウ酸塩）からなる群より選択される少なくとも１つである。ＮａおよびＮｂを含む化合物の粉体としては、例えば、ＮａＮｂＯ_３粉末を用いることができる。ＮａＮｂＯ_３粉末は、例えば、Ｎａの化合物（例えばＮａ_２ＣＯ_３粉末）とＮｂの化合物（例えばＮｂ_２Ｏ_５粉末）とを混合して仮焼し、ボールミル等を用いて仮焼後の混合物を粉砕・混合することにより得ることができる。

この場合、ＫＮｂＯ_３粉末とＮａＮｂＯ_３粉末との混合比率、ＫＮｂＯ_３粉末作製時のＫの化合物とＮｂの化合物との混合比率、ＮａＮｂＯ_３粉末作製時のＮａの化合物とＮｂの化合物との混合比率を調整することでターゲット材１００の組成を制御することができる。

本変形例では、ＫＮｂＯ_３粉末作製時およびＮａＮｂＯ_３粉末作製時の仮焼の条件は、上述の態様の仮焼成処理の条件と同様の条件とすることができ、混合の条件は、上述の態様の混合処理の条件と同様の条件とすることができる。

本変形例によっても、焼成処理において、成型体の表面内の温度が全面にわたり８００℃以上１１５０℃以下、成型体の表面から裏面に向かう方向に１０℃／ｍｍ以上で上昇する温度勾配を有する条件下で、１時間以上５時間以下、成型体を加熱することにより、スパッタ面全域で、比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっている大径のターゲット材１００を得ることができる。また、このターゲット材１００を用いてＫＮＮ膜３をスパッタ製膜することにより、主面全域においてＦＷＨＭ（００１）の値が０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている大径のＫＮＮ膜３を得ることができる。

（変形例３）
上述の態様や変形例では、混合処理や粉砕処理において、各粉体の混合方式が湿式混合である例について説明したが、これに限定されるものではない。混合処理における混合方式は乾式混合であってもよい。すなわち、混合処理において、アトライタ等の混合器を用いて各粉体を混合してもよい。

（変形例４）
上述の態様では、圧縮成型処理と焼成処理とを同時に行う例、すなわちホットプレス焼結を行う例について説明したが、これに限定されない。例えば、圧縮成型処理を行った後、焼成処理を行ってもよい。すなわち、例えば図６に示す成型装置２００を用い、治具２０８内の混合物２１０に対して所定の圧力を加えて圧縮成型して成型体を得た後、成型体を所定条件下で加熱して焼成し、焼結体を得てもよい。

本変形例における圧縮成型処理の条件は、下記の条件が例示される。
温度：室温（２５℃）以上、好ましくは２５℃以上５０℃以下
その他の条件は、上述の態様の圧縮成型処理と同様の条件とすることができる。

本変形例においても、焼成処理において、成型体の表面内の温度が全面にわたり８００℃以上１１５０℃以下であって、成型体の表面から裏面へ向かう方向に１０℃／ｍｍ以上で上昇する温度勾配を有する条件下で、１時間以上５時間以下、成型体を加熱する。本変形例における焼成処理のその他の条件は、上述の態様の焼成処理と同様の条件とすることができる。

本変形例によっても、上述の条件の焼成処理を行うことにより、スパッタ面全域で比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっている大径のターゲット材１００を得ることができる。また、このターゲット材１００を用いてＫＮＮ膜３をスパッタ製膜することにより、主面全域においてＦＷＨＭ（００１）の値が０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている大径のＫＮＮ膜３を得ることができる。

（変形例５）
上述の態様や変形例では、圧縮成型処理～熱処理までの一連の処理を１つの成型装置２００内で行う例について説明したが、これに限定されない。圧縮成型処理、焼成処理、熱処理を、それぞれ、異なる装置で行ってもよく、これらの処理のうちの２つの処理を同一の装置で行い、他の処理を異なる装置で行ってもよい。

（変形例６）
上述の態様では、仮焼成処理、粉砕処理、熱処理を実施する例について説明したが、これに限定されない。これらの処理は必要に応じて実施すればよい。すなわち、スパッタ面全域で比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっている大径のターゲット材１００を得ることができる限り、これらの処理を不実施としてもよい。

（変形例７）
上述の態様では、ヒータ２０７が、上部ヒータ２０７ａ、中央ヒータ２０７ｂ、下部ヒータ２０７ｃが配置されるとともに、内側ヒータ２０７ｄ、外側ヒータ２０７ｅが配置された構成である例について説明したが、これに限定されない。成型体の表面内の温度を全面にわたり８００℃以上１１５０℃以下にするとともに、成型体の表面から裏面に向かう方向に１０℃／ｍｍ以上で上昇する温度勾配を有する条件下で焼成処理を行うことができれば、ヒータ２０７の構成は特に限定されない。

（変形例８）
例えば、仮焼成処理、焼成処理、および熱処理の各処理における加熱は、複数回に分けて行ってもよい。本変形例によっても、スパッタ面全域で比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっている大径のターゲット材１００を得ることができる。

（変形例９）
例えば、治具２０８は、回転軸を介して回転機構に接続され、回転自在に構成されていてもよい。そして、回転軸を介して回転機構により治具２０８を回転させつつ、上述の態様や変形例の熱処理、変形例４の焼成処理等を行ってもよい。これにより、成型体や焼結体を面内均一に加熱しやすくなり、ターゲット材１００の諸物性等をスパッタ面全域において均一にすることが容易となる。

（変形例１０）
例えば、下部電極膜２とＫＮＮ膜３との間、すなわちＫＮＮ膜３の直下に、ＫＮＮ膜３を構成する結晶の配向を制御する配向制御層が設けられてもよい。なお、下部電極膜２を設けない場合は、基板１とＫＮＮ膜３との間に、配向制御層が設けられてもよい。配向制御層は、例えば、ＳＲＯ、ＬＮＯ、チタン酸ストロンチウム（ＳｒＴｉＯ_３、略称：ＳＴＯ）等の金属酸化物であって、下部電極膜２を構成する材料とは異なる材料を用いて形成することができる。配向制御層を構成する結晶は、基板１の主面に対して（１００）面に優先配向していることが好ましい。これにより、ＫＮＮ膜３の配向率を例えば８０％以上、好ましくは９０％以上に容易かつ確実にすることができる。

（変形例１１）
上述の態様では、１枚の基板１上に１つの積層構造体が形成された例について説明したが、これに限定されない。例えば、１枚の基板１上に複数の積層構造体が形成されていてもよい。この場合、複数の積層構造体のそれぞれが、下部電極膜２とＫＮＮ膜３と上部電極膜４とを有していることが好ましい。変形例１に係る態様の場合、複数の積層構造体のそれぞれが、ＫＮＮ膜３と電極膜４とを有していることが好ましい。１つ以上の積層構造体が形成された基板１を圧電積層基板とも称する。

（変形例１２）
例えば、上述の圧電積層体１０を圧電素子２０に成形する際、圧電積層体１０（圧電素子２０）を用いて作製した圧電デバイスモジュール３０をセンサまたはアクチュエータ等の所望の用途に適用することができる限り、圧電積層体１０から基板１を除去してもよい。

以下、上述の態様の効果を裏付ける実験結果について説明する。

（サンプル１，２）
サンプル１，２として、図６に示す成型装置２００を用い、Ｍｎを所定濃度で含む（Ｋ_１－ｘＮａ_ｘ）ＮｂＯ_３焼結体からなる直径３インチのターゲット材を作製した。

サンプル１，２は、それぞれ、混合処理と、仮焼成・粉砕処理と、圧縮成型処理と、焼成処理と、熱処理とを行うことにより作製した。また、圧縮成型処理と焼成処理とを同時に（一括で）行った。混合処理では、Ｎａ／（Ｋ＋Ｎａ）の値が０．５５となるように、Ｋ_２ＣＯ_３粉末、Ｎａ_２ＣＯ_３粉末、Ｎｂ_２Ｏ_５粉末を混合するとともに、Ｍｎを所定濃度で含むように、ＭｎＯ粉末を混合し、混合物を作製した。圧縮成型処理では、荷重を３００ｋｇｆ／ｃｍ^２として成型体を作製した。焼成処理では、成型体の表面内の温度（焼成温度）が全面にわたり９００℃であって、表面から裏面へ向かう方向に１０℃／ｍｍで上昇する温度勾配を有する条件下で、成型体を３時間加熱した。各処理におけるその他の条件は、上述の態様に記載の処理条件範囲内の所定の条件とした。

（サンプル３～８）
サンプル３～８では、焼成処理における成型体の表面から裏面へ向かう方向に上昇する温度勾配を、サンプル１から変更した。具体的には、サンプル３，４では、上記温度勾配を１２℃／ｍｍとし、サンプル５，６では、上記温度勾配を１５℃／ｍｍとし、サンプル７では、上記温度勾配を５℃／ｍｍとし、サンプル８では、上記温度勾配を７℃／ｍｍとした。その他は、サンプル１を作製する際におけるそれらと同様とした。

（サンプル９～１３）
サンプル９～１３では、焼成処理における焼成温度を、サンプル１から変更した。具体的には、サンプル９では、焼成温度を成型体の表面全面にわたって７５０℃とし、サンプル１０では、焼成温度を成型体の表面全面にわたって８００℃とし、サンプル１１では、焼成温度を成型体の表面全面にわたって１０００℃とし、サンプル１２では、焼成温度を成型体の表面全面にわたって１１５０℃とし、サンプル１３では、焼成温度を成型体の表面全面にわたって１２００℃とした。その他は、サンプル１を作製する際におけるそれらと同様とした。

（サンプル１４～１７）
サンプル１４～１７では、圧縮成型処理における荷重を、サンプル１から変更した。具体的には、サンプル１４では、荷重を１００ｋｇｆ／ｃｍ^２とし、サンプル１５では、荷重を２００ｋｇｆ／ｃｍ^２とし、サンプル１６では、荷重を４００ｋｇｆ／ｃｍ^２とし、サンプル１７では、荷重を５００ｋｇｆ／ｃｍ^２とした。その他は、サンプル１を作製する際におけるそれらと同様とした。

（サンプル１８～２３）
サンプル１８～２３では、焼成処理において成型体を加熱する時間（焼成時間）を、サンプル１から変更した。具体的には、サンプル１８では、焼成時間を０．５時間とし、サンプル１９では、焼成時間を１時間とし、サンプル２０では、焼成時間を２時間とし、サンプル２１では、焼成時間を４時間とし、サンプル２２では、焼成時間を５時間とし、サンプル２３では、焼成時間を５．５時間とした。その他は、サンプル１を作製する際におけるそれらと同様とした。

（サンプル２４）
サンプル２４では、Ｍｎ等のドーパントを含まない（Ｋ_１－ｘＮａ_ｘ）ＮｂＯ_３焼結体からなる直径３インチのターゲット材を作製した。具体的には、混合処理において、Ｎａ／（Ｋ＋Ｎａ）の値が０．５５となるように、Ｋ_２ＣＯ_３粉末、Ｎａ_２ＣＯ_３粉末、Ｎｂ_２Ｏ_５粉末を混合し、ＭｎＯ粉末を混合せずに混合物を作製した。その他は、サンプル１を作製する際におけるそれらと同様とした。

（サンプル２５）
サンプル２５では、圧縮成型処理を行った後、焼成処理を行った。すなわち、圧縮成型処理と熱処理とを別々に行った。その他は、サンプル１を作製する際におけるそれらと同様とした。

（サンプル２６）
サンプル２６では、圧縮成型処理と焼成処理とを別々に行った。その他は、サンプル２４を作製する際におけるそれらと同様とした。

（サンプル２７，２８）
サンプル２７，２８では、（Ｋ_１－ｘＮａ_ｘ）ＮｂＯ_３焼結体の組成、すなわち、ターゲット材の組成を、サンプル１から変更した。具体的には、サンプル２７では、混合処理において、Ｎａ／（Ｋ＋Ｎａ）の値が０．４０となるように、Ｋ_２ＣＯ_３粉末、Ｎａ_２ＣＯ_３粉末、Ｎｂ_２Ｏ_５粉末を混合した。サンプル２８では、Ｎａ／（Ｋ＋Ｎａ）の値が０．７０となるように、Ｋ_２ＣＯ_３粉末、Ｎａ_２ＣＯ_３粉末、Ｎｂ_２Ｏ_５粉末を混合して混合物を作製した。その他は、サンプル１を作製する際におけるそれらと同様とした。

（サンプル２９～３２）
サンプル２９～３２では、ドーパントとしてのＣｕを所定濃度で含む（Ｋ_１－ｘＮａ_ｘ）ＮｂＯ_３焼結体からなる直径４インチのターゲット材を作製した。具体的には、サンプル２９～３２では、混合処理において、ＭｎＯ粉末の代わりにＣｕＯ粉末を所定の割合で混合して混合物を作製した。また、サンプル３０では、焼成処理における上述の温度勾配を１２℃／ｍｍとし、サンプル３１では、上述の温度勾配を３℃／ｍｍとし、サンプル３２では、上述の温度勾配を８℃／ｍｍとした。その他は、サンプル１を作製する際におけるそれらと同様とした。

（サンプル３３～３６）
サンプル３３～２６では、Ｃｕを所定濃度で含むとともにＭｎを所定濃度で含む（Ｋ_１－ｘＮａ_ｘ）ＮｂＯ_３焼結体からなる直径６インチのターゲット材を作製した。具体的には、サンプル３３～３６では、混合処理において、ＣｕＯ粉末およびＭｎＯ粉末をそれぞれ所定の割合で混合して混合物を作製した。また、サンプル３４では、焼成処理における上述の温度勾配を１４℃／ｍｍとし、サンプル３５では、上述の温度勾配を４℃／ｍｍとし、サンプル３６では、上述の温度勾配を９℃／ｍｍとした。その他は、サンプル１を作製する際におけるそれらと同様とした。

＜評価＞
サンプル１～３６のターゲット材について、割れ評価、比率Ｒの評価を行うとともに、各サンプルを用いてスパッタ製膜したＫＮＮ膜の評価を行った。

（割れ評価）
各サンプルについて、クラックの発生の有無を目視で評価した。その結果、サンプル９およびサンプル１８にクラックが発生しており、サンプル９，１８を除く他のサンプルには、クラックが発生していないことを確認した。このことから、焼成温度が８００℃未満であったり、焼成時間が１時間未満であると、焼成が不充分となり、機械的強度の低い焼結体となることが確認できる。

（比率Ｒの評価）
クラックが発生していたサンプル９，１８を除く他のサンプルのそれぞれについて、ターゲット材のスパッタ面に対してＸＲＤ測定を行い、（００１）ピーク強度に対する（１１０）ピークの強度の比率Ｒを算出した。ＸＲＤ測定は、スパッタ面の縁から５ｍｍの領域を除いた領域について、格子状に１ｃｍ間隔で行った。すなわち、直径が３インチのサンプル（サンプル１～２８）では３７点でＸＲＤ測定を行い、直径が４インチのサンプル（サンプル２９～３２）では６９点でＸＲＤ測定を行い、直径が６インチのサンプル（サンプル３３～３６）では１４７点でＸＲＤ測定を行った。また、比率Ｒは、ＸＲＤ測定点の全点で算出した。算出結果を下記の表１に示す。なお、表１中の比率Ｒの評価において、「合格測定点」とは、比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内である測定点の数であり、「合格率」とは、全測定点の数に対する、合格測定点の数の割合（＝合格測定点の数／全測定点の数）である。

（ＫＮＮ膜の評価）
クラックが発生していたサンプル９，１８を除く他のサンプルを用い、下記の手順でＫＮＮ膜を製膜した。

サンプル１，３，５，７，８，１０～１７，１９～２８を用いたスパッタ製膜では、まず、基板として、直径が４インチであり、厚さが５１０μｍであり、表面が（１００）面方位であり、表面に厚さが２００ｎｍの熱酸化膜（ＳｉＯ_２膜）が形成されたＳｉ基板を用意した。そして、この基板上（熱酸化膜上）に、密着層としてのＴｉ層（厚さ：２ｎｍ）、下部電極膜としてのＰｔ膜（基板の主面に対して（１１１）面方位に配向、厚さ：２００ｎｍ）、圧電膜として、直径が４インチのＫＮＮ膜（基板の表面に対して（００１）面方位に優先配向、厚さ：２μｍ）を、順に、ＲＦマグネトロンスパッタリング法により製膜した。

サンプル２，４，６，２９～３６を用いたスパッタ製膜では、まず、基板として、直径が６インチであり、厚さが６１０μｍであり、表面が（１００）面方位であり、表面に厚さが２００ｎｍの熱酸化膜（ＳｉＯ_２膜）が形成されたＳｉ基板を用意した。そして、この基板上（熱酸化膜上）に、密着層としてのＴｉ層（厚さ：２ｎｍ）、下部電極膜としてのＰｔ膜（基板の主面に対して（１１１）面方位に配向、厚さ：２００ｎｍ）、圧電膜として、直径が６インチのＫＮＮ膜（基板の表面に対して（００１）面方位に優先配向、厚さ：２μｍ）を、順に、ＲＦマグネトロンスパッタリング法により製膜した。

Ｔｉ層を製膜する際の条件は、下記の通りとした。
温度（基板温度）：３００℃
放電パワー：１２００Ｗ
雰囲気：Ａｒガス雰囲気
雰囲気圧力：０．３Ｐａ
製膜速度：３０秒で２．５ｎｍ厚さのＴｉ層が製膜される速度

Ｐｔ膜を製膜する際の条件は、下記の通りとした。
温度（基板温度）：３００℃
放電パワー：１２００Ｗ
雰囲気：Ａｒガス雰囲気
雰囲気圧力：０．３Ｐａ
時間：５分

ＫＮＮ膜を製膜する際のターゲット材としては、上記サンプル９，１８以外の各サンプルを用いた。ＫＮＮ膜を製膜する際の条件は、下記の通りとした。
放電パワー：２２００Ｗ
雰囲気：Ａｒガス＋Ｏ_２ガスの混合ガス雰囲気
雰囲気圧力：０．３Ｐａ
Ａｒ／Ｏ_２分圧比：２５／１
温度（基板温度）：６００℃
製膜速度：１μｍ／ｈｒ

そして、スパッタ製膜したＫＮＮ膜に対してＸＲＤ測定を行い、ＦＷＨＭ（００１）の値を取得した。ＸＲＤ測定は、ＫＮＮ膜の主面（上面）の縁から５ｍｍの領域を除いた領域について、格子状に１ｃｍ間隔で行った。すなわち、直径が４インチのＫＮＮ膜では６９点でＸＲＤ測定を行い、直径が６インチのＫＮＮ膜では１４７点でＸＲＤ測定を行った。測定結果を下記の表１に示す。なお、表１中のＫＮＮ膜の評価において、「合格測定点」とは、ＦＷＨＭ（００１）の値が、０．５°以上２．５°の範囲内である測定点の数であり、「合格率」とは、全測定点の数に対する、合格測定点の数の割合（＝合格測定点の数／全測定点の数）である。

表１から、ドーパントとしてＭｎ及びＣｕのうち少なくともいずれかを含むターゲット材、ドーパントを含まないターゲット材のいずれにおいても、成型体の表面内の温度が全面にわたり８００℃以上１１５０℃以下であって、成型体の表面から裏面へ向かう方向に１０℃／ｍｍ以上で上昇する温度勾配を有する条件下で、成型体を１時間以上５時間以下加熱して焼成処理（以下、「所定条件の焼成処理」とも称する）を行うことにより、スパッタ面全域で、比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっているターゲット材を得ることができることが確認できる（サンプル１～６，１０～１２，１９～２２，２４，２９，３０，３３，３４参照）。すなわち、上記条件下で焼成処理を行うことにより、スパッタ面全域で、結晶の向きがランダムなターゲット材を得ることができることが確認できる。

また、発明者等は、焼成処理における上記温度勾配が１５℃／ｍｍ以下であれば、スパッタ面全域で、比率Ｒを０．３以上５以下の範囲内に収めつつ、ターゲット材のスパッタ面とスパッタ面とは反対側の面との間で結晶の配向をほぼ同様にできることを確認した。

また、表１から、焼成処理における上記温度勾配が１０℃／ｍｍ未満である場合、比率Ｒの合格率が１未満となる、すなわち、スパッタ面全域で、比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっているターゲット材が得られない場合があることが確認できる（サンプル７，８，３１，３２，３５，３６参照）。これは、焼成時における成型体表面の沿面方向への結晶成長を抑制する効果が得られにくくなるためと考えられる。

また、表１から、焼成温度が１１５０℃を超える場合や、焼成時間が５時間を超える場合、スパッタ面全域で、比率Ｒの合格率が１未満となる、すなわち、比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっているターゲット材が得られない場合があることが確認できる（サンプル１３，２３参照）。これは、焼成温度が１１５０℃を超える場合や焼成時間が５時間を超える場合、上記温度勾配を有する条件下で焼成処理を行ったとしても、沿面方向への結晶成長を抑制することができなかったため、スパッタ面内に結晶の向きがランダムになっていない領域が局所的に生じたと考えられる。

また、表１から、圧縮成型処理における荷重が１００ｋｇｆ／ｃｍ^２以上５００ｋｇｆ／ｃｍ^２以下の範囲内であれば、クラックの発生を回避しつつ、スパッタ面全域で結晶の向きがランダムなターゲット材を得ることができることが確認できる（サンプル１４～１７参照）。また、発明者等は、圧縮成型処理における荷重が上記範囲内であれば、圧縮成型の際に用いる治具に破損がなかったことも確認した。

また、表１から、圧縮成型処理を行った後に焼成処理を行った場合であっても、所定の焼成処理を行うことにより、スパッタ面全域で、結晶の向きがランダムなターゲット材を得ることができることが確認できる（サンプル２５，２６参照）。

また、表１から、ターゲット材におけるＫＮＮの組成によらずに、所定の焼成処理を行うことにより、スパッタ面全域で、結晶の向きがランダムなターゲット材を得ることができることが確認できる（サンプル２７，２８参照）。

また、表１から、スパッタ面全域で、比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっているターゲット材を用いて、大径の基板上にＫＮＮ膜をスパッタ製膜することにより、主面全域において、ＦＷＨＭ（００１）の値が、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている大径のＫＮＮ膜を得ることができることが確認できる。さらにまた、表１から、スパッタ面全域で、比率Ｒが０．３以上５以下の範囲内に収まっているターゲット材を用いて、大径の基板上にＫＮＮ膜をスパッタ製膜した場合、合格率が１未満となる、すなわち、主面全域において、ＦＷＨＭ（００１）の値が、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている大径のＫＮＮ膜が得られないことが確認できる。すなわち、ＫＮＮ膜の主面内に、局所的な不良領域が出現していることが確認できる。

＜本開示の好ましい態様＞
以下、本開示の好ましい態様について付記する。

（付記１）
本開示の一態様によれば、
直径が３インチ以上の主面を有する基板と、
前記基板上に製膜され、カリウム、ナトリウム、ニオブ、及び酸素を含み、ペロブスカイト構造のアルカリニオブ酸化物からなる圧電膜と、を備え、
前記圧電膜に対してＸ線回折測定を行った際における、（００１）面のＸ線ロッキングカーブの半値幅が、前記圧電膜の主面における周縁部を除く内側の全域において、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている圧電積層体が提供される。

（付記２）
付記１に記載の積層体であって、好ましくは、
前記圧電膜は、ドーパントとして、Ｌｉ、Ｍｇ、Ｃａ、Ｓｒ、Ｂａ、Ｂｉ、Ｓｂ、Ｖ、Ｉｎ、Ｔａ、Ｍｏ、Ｗ、Ｃｒ、Ｔｉ、Ｚｒ、Ｈｆ、Ｓｃ、Ｙ、Ｌａ、Ｃｅ、Ｐｒ、Ｎｄ、Ｓｍ、Ｅｕ、Ｇｄ、Ｔｂ、Ｄｙ、Ｈｏ、Ｅｒ、Ｔｍ、Ｙｂ、Ｌｕ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ａｇ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ａｌ、Ｓｉ、Ｇｅ、Ｓｎ、Ｇａのいずれか一種以上を含有する。

（付記３）
付記１または２に記載の積層体であって、好ましくは、
前記基板と前記圧電膜との間に下部電極膜が製膜されている。

（付記４）
付記１～３のいずれか１項に記載の積層体であって、好ましくは、
前記圧電膜上に上部電極膜が製膜されている。

（付記５）
本開示の他の態様によれば、
カリウム、ナトリウム、ニオブ、及び酸素を含み、ペロブスカイト構造のアルカリニオブ酸化物の焼結体からなるスパッタリングターゲット材を用意する工程と、
直径が３インチ以上の主面を有する基板を用意する工程と、
前記スパッタリングターゲット材を用い、前記基板上に前記アルカリニオブ酸化物からなり、Ｘ線回折測定を行った際における（００１）面のＸ線ロッキングカーブの半値幅が、主面における周縁部を除く内側の全域において、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている圧電膜を製膜する工程と、を有する
圧電積層体の製造方法が提供される。

（付記６）
本開示のさらに他の態様によれば、
直径が３インチ以上の主面を有する基板と、
前記基板上に製膜された下部電極膜と、
前記下部電極膜上に製膜され、カリウム、ナトリウム、ニオブ、及び酸素を含み、ペロブスカイト構造のアルカリニオブ酸化物からなる圧電膜と、
前記圧電膜上に製膜された上部電極膜と、を備え、
前記圧電膜に対してＸ線回折測定を行った際における、（００１）面のＸ線ロッキングカーブの半値幅が、前記圧電膜の主面における周縁部を除く内側の全域において、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている圧電素子（圧電デバイスモジュール）が提供される。

（付記７）
本開示のさらに他の態様によれば、
直径が３インチ以上の主面を有する基板と、
前記基板上に製膜され、カリウム、ナトリウム、ニオブ、及び酸素を含み、ペロブスカイト構造のアルカリニオブ酸化物からなる圧電膜と、
前記圧電膜上に製膜された電極膜と、を備え、
前記圧電膜に対してＸ線回折測定を行った際における、（００１）面のＸ線ロッキングカーブの半値幅が、前記圧電膜の主面における周縁部を除く内側の全域において、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている圧電素子（圧電デバイスモジュール）が提供される。

（付記８）
本開示のさらに他の態様によれば、
カリウム、ナトリウム、ニオブ、及び酸素を含み、ペロブスカイト構造のアルカリニオブ酸化物の焼結体からなるスパッタリングターゲット材であって、
スパッタリング法による製膜処理を行う際にプラズマに晒されることとなる面（スパッタ面）の直径が３インチ以上であり、
前記プラズマに晒されることとなる面に対してＸ線回折測定を行った際における、（００１）面からのＸ線回折ピークの強度に対する、（１１０）面からのＸ線回折ピークの強度の比率が、前記プラズマに晒されることとなる面における周縁部を除く内側の全域において、０．３以上５以下の範囲内に収まっているスパッタリングターゲット材が提供される。

（付記９）
本開示のさらに他の態様によれば、
カリウム、ナトリウム、ニオブ、及び酸素を含み、ペロブスカイト構造のアルカリニオブ酸化物の焼結体からなるスパッタリングターゲット材であって、
スパッタリング法による製膜処理を行う際のターゲット材として用いて、直径が３インチ以上の基板上に圧電膜を製膜した際に、
前記圧電膜に対してＸ線回折測定を行った際における、（００１）面のＸ線ロッキングカーブの半値幅が、前記圧電膜の主面における周縁部を除く内側の全域において、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている前記圧電膜が得られる、スパッタリングターゲット材が提供される。

（付記１０）
付記８または９に記載のターゲット材であって、好ましくは、
ドーパントとして、Ｌｉ、Ｍｇ、Ｃａ、Ｓｒ、Ｂａ、Ｂｉ、Ｓｂ、Ｖ、Ｉｎ、Ｔａ、Ｍｏ、Ｗ、Ｃｒ、Ｔｉ、Ｚｒ、Ｈｆ、Ｓｃ、Ｙ、Ｌａ、Ｃｅ、Ｐｒ、Ｎｄ、Ｓｍ、Ｅｕ、Ｇｄ、Ｔｂ、Ｄｙ、Ｈｏ、Ｅｒ、Ｔｍ、Ｙｂ、Ｌｕ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ａｇ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ａｌ、Ｓｉ、Ｇｅ、Ｓｎ、Ｇａのいずれか一種以上を含有する。

（付記１１）
付記８～１０のいずれか１項に記載のターゲット材であって、好ましくは、
スパッタリング法による製膜処理を行う際にプラズマに晒されることとなる面の全域及びこの面に平行な任意の面の全域で、粒径が３０μｍを超える結晶粒が密集している領域が観察されない。すなわち、スパッタリング法による製膜処理を行う際にプラズマに晒されることとなる面の全域およびこの面に平行な任意の面の全域が、粒径が０．１μｍ以上３０μｍ以下、好ましくは０．１μｍ以上２０μｍ以下、さらに好ましくは０．１μｍ以上１０μｍ以下の結晶粒で構成されている。

（付記１２）
付記８～１１のいずれか１項に記載のターゲット材であって、好ましくは、
スパッタリング法による製膜処理を行う際にプラズマに晒されることとなる面の全域にわたって、相対密度が６０％以上である。

（付記１３）
付記８～１２のいずれか１項に記載のターゲット材であって、好ましくは、
スパッタリング法による製膜処理を行う際にプラズマに晒されることとなる面の全域にわたって、抗折強度が１０ＭＰａ以上である。

（付記１４）
付記８～１３のいずれか１項に記載のターゲット材であって、好ましくは、
体積抵抗率が１０００ｋΩｃｍ以上である。

（付記１５）
本開示のさらに他の態様によれば、
カリウム、ナトリウム、ニオブ、及び酸素を含み、ペロブスカイト構造のアルカリニオブ酸化物の焼結体からなるスパッタリングターゲット材の製造方法であって、
（ａ）カリウムの化合物からなる粉体と、ナトリウムの化合物からなる粉体と、ニオブの化合物からなる粉体と、を所定の比率で混合させて混合物を得る工程と、
（ｂ）前記混合物に対して所定の圧力を加えて成型加工して直径が３インチ以上の成型体を得る工程と、
（ｃ）前記成型体を、スパッタリング法による製膜処理を行う際にプラズマに晒されることとなる面（スパッタ面となる面）である表面内の温度が全面にわたり８００℃以上１１５０℃以下であって、前記表面から前記表面とは反対側の面である裏面へ向かう方向に１０℃／ｍｍ以上で上昇する温度勾配を有する条件下で、１時間以上５時間以下加熱して焼成して焼結体を得る工程と、
を行うことにより、前記プラズマに晒されることとなる面（スパッタ面）の直径が３インチ以上であるスパッタリングターゲット材を得る
スパッタリングターゲット材の製造方法が提供される。

（付記１６）
本開示のさらに他の態様によれば、
カリウム、ナトリウム、ニオブ、及び酸素を含み、ペロブスカイト構造のアルカリニオブ酸化物の焼結体からなるスパッタリングターゲット材の製造方法であって、
（ａ）カリウム及びニオブを含む化合物からなる粉体と、ナトリウム及びニオブを含む化合物からなる粉体と、を所定の比率で混合させて混合物を得る工程と、
（ｂ）前記混合物に対して所定の圧力を加えて成型加工して直径が３インチ以上の成型体を得る工程と、
（ｃ）前記成型体を、スパッタリング法による製膜処理を行う際にプラズマに晒されることとなる面（スパッタ面となる面）である表面内の温度が全面にわたり８００℃以上１１５０℃以下であって、前記表面から前記表面とは反対側の面である裏面へ向かう方向に１０℃／ｍｍ以上で上昇する温度勾配を有する条件下で、１時間以上５時間以下加熱して焼成して焼結体を得る工程と、
を行うことにより、前記プラズマに晒されることとなる面（スパッタ面）の直径が３インチ以上であるスパッタリングターゲット材を得る
スパッタリングターゲット材の製造方法が提供される。

（付記１７）
付記１５または１６に記載の方法であって、好ましくは、
（ｂ）と（ｃ）とを同時に行う。すなわち、（ｂ）を行いつつ（ｃ）を行う。

（付記１８）
付記１５～１７のいずれか１項に記載の方法であって、好ましくは、
（ａ）の後であって（ｂ）の前に、
（ｄ）前記混合物を（ｃ）における前記成型体の加熱温度よりも低い温度で加熱して仮焼成する工程と、
（ｅ）仮焼成後の前記混合物を粉砕する工程と、をさらに行い、
（ｂ）では、仮焼成後に粉砕した前記混合物に対して所定の圧力を加えて成型加工して前記成型体を得る。

（付記１９）
付記１５～１８のいずれか１項に記載の方法であって、好ましくは、
（ｃ）の後に、
（ｆ）前記焼結体を所定温度で加熱する工程をさらに行う。

１ 基板
３ 圧電膜（ＫＮＮ膜）
１０ 圧電積層体
１００ ターゲット材
１０１ スパッタ面

Claims (5)

1. 直径が３インチ以上の主面を有する基板と、
   前記基板上に製膜され、カリウム、ナトリウム、ニオブ、及び酸素を含み、ペロブスカイト構造のアルカリニオブ酸化物からなる圧電膜と、を備え、
   前記圧電膜を構成する結晶の（００１）面方位への配向率が８０％以上であり、
   前記圧電膜に対してＸ線回折測定を行った際における、（００１）面のＸ線ロッキングカーブの半値幅が、前記圧電膜の主面のうち、縁から５ｍｍの領域である周縁部を除く内側の全域において、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている圧電積層体。
2. 前記圧電膜は、ドーパントとして、Ｌｉ、Ｍｇ、Ｃａ、Ｓｒ、Ｂａ、Ｂｉ、Ｓｂ、Ｖ、Ｉｎ、Ｔａ、Ｍｏ、Ｗ、Ｃｒ、Ｔｉ、Ｚｒ、Ｈｆ、Ｓｃ、Ｙ、Ｌａ、Ｃｅ、Ｐｒ、Ｎｄ、Ｓｍ、Ｅｕ、Ｇｄ、Ｔｂ、Ｄｙ、Ｈｏ、Ｅｒ、Ｔｍ、Ｙｂ、Ｌｕ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ａｇ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ａｌ、Ｓｉ、Ｇｅ、Ｓｎ、Ｇａのいずれか一種以上を含有する請求項１に記載の圧電積層体。
3. 前記基板と前記圧電膜との間に製膜された下部電極膜をさらに備え、
   前記下部電極膜はＰｔを用いて製膜したＰｔ膜であり、
   前記Ｐｔ膜は（１１１）面方位に配向している、
   請求項１または２に記載の圧電積層体。
4. カリウム、ナトリウム、ニオブ、及び酸素を含み、ペロブスカイト構造のアルカリニオブ酸化物の焼結体からなるスパッタリングターゲット材を用意する工程と、
   直径が３インチ以上の主面を有する基板を用意する工程と、
   前記スパッタリングターゲット材を用い、前記基板上に前記アルカリニオブ酸化物からなり、Ｘ線回折測定を行った際における（００１）面のＸ線ロッキングカーブの半値幅が、主面のうち、縁から５ｍｍの領域である周縁部を除く内側の全域において、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている圧電膜を製膜する工程と、を有し、
   前記スパッタリングターゲット材を用意する工程では、前記スパッタリングターゲット材として、スパッタリング法による製膜処理を行う際にプラズマに晒されることとなる面に対してＸ線回折測定を行った際における、（００１）面からのＸ線回折ピークの強度に対する、（１１０）面からのＸ線回折ピークの強度の比率が、前記プラズマに晒されることとなる面のうち、縁から５ｍｍの領域である周縁部を除く内側の全域において、０．３以上５以下の範囲内に収まっているターゲット材を用意し、
   前記圧電膜を製膜する工程では、雰囲気圧力を０．２Ｐａ以上０．５Ｐａ以下とする、
   圧電積層体の製造方法。
5. カリウム、ナトリウム、ニオブ、及び酸素を含み、ペロブスカイト構造のアルカリニオブ酸化物の焼結体からなるスパッタリングターゲット材であって、
   スパッタリング法による製膜処理を行う際にプラズマに晒されることとなる面に対してＸ線回折測定を行った際における、（００１）面からのＸ線回折ピークの強度に対する、（１１０）面からのＸ線回折ピークの強度の比率が、前記プラズマに晒されることとなる面のうち、縁から５ｍｍの領域である周縁部を除く内側の全域において、０．３以上５以下の範囲内に収まっており、
   前記ターゲット材を用いて、スパッタリング法により直径が３インチ以上の基板上に圧電膜を製膜した際に、前記圧電膜を構成する結晶の（００１）面方位への配向率が８０％以上であり、前記圧電膜に対してＸ線回折測定を行った際における、（００１）面のＸ線ロッキングカーブの半値幅が、前記圧電膜の主面のうち、縁から５ｍｍの領域である周縁部を除く内側の全域において、０．５°以上２．５°以下の範囲内に収まっている前記圧電膜が得られる、スパッタリングターゲット材。

Images