JP7721341B2 - 記録装置、記録方法、制御装置、およびプログラム - Google Patents

Description

本発明は、インクと反応する反応液により記録媒体にインクを定着させて記録する記録装置、記録方法、当該記録装置を制御する制御装置、およびプログラムに関する。

特許文献１には、吐出したインクに対して、当該インクと反応する反応液を吐出する記録装置において、インクの吐出位置に対する反応液の吐出位置のずれ量を取得する技術が開示されている。この特許文献１に開示の技術では、上記ずれ量を取得するためのテストパターンとして、２つのインクを記録媒体上で接触させて滲みが生じるパターンに対して、反応液の吐出位置のずれ量が異なる複数のパターンが用いられる。

特開２００１－１３８４９４号公報

ところで、インクとともに反応液を吐出する記録装置では、装置内での反応液とインクとの接触を抑制するために、反応液を吐出する吐出口が形成された吐出ヘッドと、インクを吐出する吐出口が形成された吐出ヘッドとを、例えば、別体で構成する。さらに、これらの吐出ヘッドを互いに離間して配置する。この場合、反応液を吐出する吐出口とインクを吐出する吐出口とが形成された一体型の吐出ヘッドと比較して、製造公差などによって、反応液の吐出口とインクの吐出口との間の位置精度が低下する。こうした位置精度を考慮すると、上記ずれ量を取得するためのテストパターンでは、インクの吐出量に対して反応液の吐出位置のずれ量が異なるパターンを増やさなければならなかった。

本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、吐出ヘッドの構成に応じてテストパターンを変更することなく、反応液の吐出位置のずれ量を取得可能な技術を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明の一実施形態は、記録媒体に対して、互いに材料が異なる複数のインクと、該インクと反応して該インクの固化を促す反応液と、を吐出して記録する記録手段と、記録物の光学特性を測定可能な測定手段と、前記複数のインクのうちの少なくとも２つのインクと前記反応液とを用いて、前記少なくとも２つのインク間で滲みを生じさせたテストパターンを記録するよう前記記録手段を制御するとともに、記録された前記テストパターンの光学特性を測定するよう前記測定手段を制御する制御手段と、前記測定手段で測定した前記テストパターンの光学特性に基づいて、前記反応液の吐出位置のずれ量を取得する取得手段と、を備え、前記ずれ量を補正して記録する記録装置であって、前記テストパターンは、所定方向に延在し、前記所定方向で２分割したときの、一方の領域には前記少なくとも２つのインクと前記反応液とが吐出され、他方の領域には前記少なくとも２つのインクのみ、あるいは前記少なくとも２つのインクと前記一方の領域よりも少量の前記反応液とが吐出される検出パターンを含み、前記検出パターンは、前記一方の領域に前記反応液のみが吐出される吐出領域と、前記他方の領域に前記反応液および前記複数のインクが吐出されない非吐出領域と、を備えた第１のパターンと、前記所定方向の全域に、前記複数のインクのうちの２つのインクの、一方のインクが吐出される吐出領域と、他方のインクが吐出される吐出領域と、が前記所定方向と交差する方向に交互に配置される第２のパターンと、から構成され、前記取得手段は、前記検出パターンの光学特性に基づいて、前記一方の領域と前記他方の領域との境界を取得し、取得した境界に応じて前記所定方向における前記ずれ量を取得することを特徴とする。

本発明によれば、吐出ヘッドの構成に応じてテストパターンを変更することなく、反応液の吐出位置のずれ量を取得することができるようになる。

実施形態による記録装置の概略構成図。 図１の記録装置の要部の概略構成図。 光学センサの概略構成図。 ヘッドユニットのインクの吐出口面を示す図。 記録装置の制御系のブロック構成図。 テストパターンの概略図。 テストパターンを構成する２つの検出パターンの構成パターンを示す図。 異なる２つのインクにより形成されるパターンでの滲みを説明する図。 取得処理の詳細な処理ルーチンを示すフローチャート。 記録された２つの検出パターンを示す図。 ２つの検出パターンの光学特性の取得方法を説明する図。 他の実施形態で用いられる２つの検出パターンの構成パターンを示す図。 他の実施形態による記録装置で実行される取得処理のフローチャート。 ２つの検知パターンの光学特性の取得方法を説明する図。 他の実施形態で用いられるテストパターンの概略図。 他の実施形態で用いられる検出パターンの構成パターンを示す図。 他の実施形態による記録装置で実行される取得処理のフローチャート。 検知パターンの光学特性の取得方法を説明する図。 検出パターンの変形例を説明する図。

以下、添付の図面を参照しながら、記録装置、記録方法、制御装置、およびプログラムの実施形態の一例を詳細に説明する。なお、以下の実施形態は、本発明を限定するものではなく、また、実施形態で説明されている特徴の組み合わせのすべてが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。また、実施形態に記載されている構成の相対位置、形状などはあくまで例示であり、本発明の範囲をそれらのみに限定するものではない。

以下の説明では、インクジェット記録方式を用いた記録装置を例として説明する。記録装置は、例えば、記録機能のみを有するシングルファンクションプリンタであってもよいし、記録機能、ファックス機能、スキャナ機能などの複数の機能を有するマルチファンクションプリンタであってもよい。あるいは、カラーフィルタ、電子デバイス、光学デバイス、微小構造などを所定の記録方式で製造するための製造装置であってもよい。

また、「記録」とは、文字、図形など有意の情報を形成する場合のみならず、有意無意を問わない。さらに人間が視覚で知覚し得るように顕在化したものであるか否かも問わず、広く記録媒体上に画像、模様、パターン、構造物などを形成する、または、媒体の加工を行う場合も含む。「記録媒体」とは、一般的な記録装置で用いられる紙のみならず、布、プラスチックフィルム、金属板、ガラス、セラミックス、樹脂、木材、皮革など、インクを受容可能なものを含む。

（第１実施形態）
まず、図１乃至図１２を参照しながら、第１実施形態による記録装置について説明する。本実施形態による記録装置は、搬送される記録媒体に対して、搬送方向と交差する方向に移動しながら、インクジェット方式によりインクを吐出する、所謂、シリアルスキャンタイプのインクジェット記録装置である。

＜記録装置の構成＞
図１は、実施形態による記録装置の概略構成図である。図２は、記録装置における加熱部を説明する図である。図１の記録装置１０は、搬送部（不図示）により搬送される記録媒体Ｐを支持するプラテン１２と、プラテン１２により支持される記録媒体Ｐに記録を行う記録部１４とを備えている。また、記録装置１０は、記録後の記録媒体Ｐに対してその記録面Ｐｆを加熱する加熱部１６（図２参照）を備えている。なお、記録装置１０の全体の動作は、制御部１００（後述する）によって制御される。なお、本明細書では、記録媒体Ｐは、特に断りのない限り、白などの高い明度を示すものとする。

搬送部は、搬送モータ５４０（図５参照）によりギアを介して駆動される搬送ローラ２３によって、ロール紙２７から巻き解かれて給送されたシート状の記録媒体Ｐを、プラテン１２に搬送する（図２参照）。記録後の記録媒体Ｐは、スプール２１により巻き取られる。搬送部の搬送機構としては、これに限定されるものではなく、公知の種々の技術を用いることができる。

記録部１４は、ガイドシャフト２０に移動可能に設けられたキャリッジ２２と、キャリッジ２２に着脱可能に構成され、プラテン１２に支持された記録媒体Ｐに対してインクを吐出するヘッドユニット２４とを備えている。ガイドシャフト２０は、記録媒体Ｐが搬送されるＹ方向と交差（本実施形態では直交）するＸ方向に延設されている。これにより、キャリッジ２２は、走査モータ５３６（図５参照）の駆動によって、ガイドシャフト２０に沿って＋Ｘ方向および－Ｘ方向に往復移動可能に構成されている。ヘッドユニット２４は、インクを吐出する吐出口３２（後述する）を複数備え、吐出口３２が形成された吐出口面３４（図２参照）がプラテン１２と対向するようにキャリッジ２２に装着される。これにより、記録装置１０では、ヘッドユニット２４が、±Ｘ方向に往復移動しながらインクを吐出可能な構成となっている。キャリッジ２２の具体的な移動機構については、キャリッジモータからの駆動力を伝達するキャリッジベルトあるいはリードスクリューを用いた機構など公知の種々の技術を用いることができる。

記録装置１０には、Ｘ方向に延在するリニアエンコーダ３０が設けられており、リニアエンコーダ３０の信号に基づいて、制御部１００によってヘッドユニット２４はその位置が制御される。また、ヘッドユニット２４は、色材を含むインクと、インクと反応してインクの増粘、固化を促進させる反応液とを吐出可能な構成となっている。本明細書では、色材を含むインクを、単にインク、またはカラーインクと適宜に称する。本実施形態では、ヘッドユニット２４から吐出されるカラーインクは、ブラックインク（Ｋインク）、シアンインク（Ｃインク）、マゼンタインク（Ｍインク）、イエローインク（Ｙインク）とする。これら４色のインクは、対応する色を呈する色材が含有された顔料インクである。なお、吐出するインクの色や数については、上記した４色に限定されるものではない。

記録装置１０では、記録部１４、つまり、ヘッドユニット２４が、例えば、速度４０～４５ｉｎｃｈ／ｓｅｃで移動し、１２００ｄｐｉ（１／１２００ｉｎｃｈ）の解像度で記録を行う。記録装置１０は、記録が開始されると、ヘッドユニット２４を記録開始位置まで移動させるとともに、搬送部により記録媒体Ｐをヘッドユニット２４により記録可能な位置まで搬送する。次に、記録データに基づいて、＋Ｘ方向（または－Ｘ方向）へヘッドユニット２４を移動（走査）しながらインクを吐出する記録動作を行い、当該記録動作が完了すると、搬送部により記録媒体Ｐを所定量だけ搬送する搬送動作を行う。その後、－Ｘ方向（または＋Ｘ方向）へヘッドユニット２４を移動しながらインクを吐出する記録動作を行う。このように、記録装置１０では、記録動作と搬送動作とを交互に繰り返し実行することによって、記録媒体Ｐに記録を行う。なお、本実施形態では、例えば、記録媒体上の単位領域について、記録部１４を複数回走査させることで記録するマルチパス記録を実行するものとする。

加熱部１６は、記録部１４からインク（および反応液）が吐出されて記録された記録媒体Ｐの記録面Ｐｆに対して熱を照射することで、記録面Ｐｆおよび記録面Ｐｆに付与されたインクを加熱して、記録面Ｐｆに当該インクを定着させる。加熱部１６は、カバー１７で覆われており、カバー１７は、加熱部１６の熱を記録媒体Ｐ上に効率よく反射する機能と、加熱部１６を保護する機能を担っている。加熱部１６としては、例えば、シーズヒータ、ハロゲンヒータなどの各種ヒータを用いることができる。加熱部１６は、こうした非接触型の熱伝導ヒータだけでなく、温風により加熱する構成としてもよい。

加熱部１６は、図２のように、記録媒体Ｐを記録面Ｐｆから加熱する構成に限定されるものではない。例えば、プラテン１２の＋Ｙ方向下流側に位置して、記録後の記録媒体Ｐをガイドするガイド部１９の鉛直方向下方側（＋Ｚ方向上流側）に設けて、記録媒体Ｐを裏面Ｐｂから加熱する構成としてもよい。また、加熱部１６による加熱温度は、インクの定着性、成果物の生産性などを考慮して設定される。さらに、加熱部１６は、複数設けるようにしてもよい。

詳細は後述するが、記録装置１０で用いるインクは、顔料、樹脂微粒子および水溶性有機溶剤を含有している。従って、記録装置１０では、インクに含まれた樹脂微粒子を加熱部１６で加熱することで、樹脂微粒子を溶融させ、さらに、インク中の水溶性有機溶剤を蒸発させることにより、顔料を記録媒体に定着させることができる。樹脂微粒子を含有するインクは、耐擦過性（定着性）を向上させる特性を有する。そのため、加熱温度は、樹脂微粒子の最低造膜温度以上であることが望ましく、また、加熱中にインク中の水溶性有機溶剤などの液体成分の大半を蒸発させる必要がある。従って、加熱部１６は、液体成分の大半の蒸発に必要なエネルギーが供給されるための加熱時間を確保するだけの記録媒体搬送方向の温度分布を持つ構成となっている。

また、記録装置１０は、ヘッドユニット２４の吐出口３２からのインクおよび反応液の吐出状態を良好に維持・回復するための回復部５４２（図５参照）を備えている。この回復部５４２は、ヘッドユニット２４の走査方向（移動方向）の端部近傍において、プラテン１２に隣接して設けられている。回復部５４２としては、例えば、吐出口面３４をワイピングするワイピング部、吐出口面３４を保護するキャップなど、公知の構成を用いることができる。

さらに、記録装置１０は、キャリッジ２２の＋Ｘ方向上流側に、記録媒体上に記録された記録結果としての記録物の光学特性を測定するための反射型光学センサ（以下、「光学センサ」と適宜に称する。）２００を備えている（図２参照）。記録装置１０では、この光学センサ２００による検出結果に基づいて、制御部１００において、記録媒体Ｐ上の反射光学特性を測定可能となっている。具体的な光学特性としては、反射率を用いた反射光学濃度、透過率を用いた透過光学濃度、光学反射率、反射光強度などが挙げられる。本実施形態では、光学特性として光学反射率を測定するものとする。なお、光学センサ２００の設置位置については、これに限定されるものではない。即ち、キャリッジ２２の＋Ｘ方向下流側に設けられていてもよいし、＋Ｙ方向下流側に設けられていてもよい。あるいは、キャリッジ２２から独立して設けられ、Ｘ方向に移動可能な構成としてもよいし、記録媒体の幅に亘ってＸ方向に延設される構成としてもよい。

＜光学センサ＞
図３（ａ）は、光学センサの概略構成図であり、図３（ｂ）は、図３（ａ）の光学センサの検出範囲を示す検出スポットを示す図である。光学センサ２００は、Ｙ方向において、測定領域が、ヘッドユニット２４の吐出口列４６（後述する）よりも＋Ｙ方向下流側に位置するように、キャリッジ２２に固定的に設けられている（図６参照）。光学センサ２００の下面２００ａは、Ｚ方向において吐出口面３４と一致、あるいは、吐出口面３４よりも＋Ｚ方向下流側に位置する。

光学センサ２００は、赤色、緑色、青色などの可視ＬＥＤで実現される発光部３０２と、フォトダイオードで実現される受光部３０４とを備えている。発光部３０２および受光部３０４は、光学センサ２００の下面２００ａに設けられており、発光部３０２は、記録媒体Ｐに対して光を照射し、受光部３０４は、記録媒体Ｐにおいて反射された反射光３０８を受光する。従って、光学センサ２００では、発光部３０２から照射した光３０６が記録媒体Ｐによって乱反射され、この反射光３０８が受光部３０４によって受光されることとなる。発光部３０２から照射した光３０６が記録媒体Ｐによって乱反射される検出スポット３１０は、例えば、おおよそ直径３ｍｍとなる。

受光部３０４では、受光した反射光３０８の検出信号（アナログ信号）が、フレキシブルケーブル（不図示）などを介して、記録装置１０の電気基板上の制御回路に伝えられ、制御回路におけるＡ／Ｄ変換器によってデジタル信号に変換される。後述するテストパターンの光学特性の検出に際しては、Ｙ方向での記録媒体Ｐの搬送と、光学センサ２００が取り付けられたキャリッジ２２のＸ方向での移動とが交互に実施される。これにより、エンコーダ３０によって得られる位置信号（エンコーダ信号値）に基づいたタイミングと同期をとり、光学センサ２００は、記録媒体Ｐ上に記録された記録結果（以下、「記録物」とも称する。）の光学反射率を検出する。

＜ヘッドユニットの構成＞
次に、ヘッドユニット２４の構成について説明する。図４は、ヘッドユニットの吐出口面に設けられた吐出ヘッドを示す図である。なお、図４は、吐出口面３４を－Ｚ方向で見た図となっている。

ヘッドユニット２４の吐出口面３４には、インクを吐出する吐出ヘッド４２と、反応液を吐出する吐出ヘッド４４とが別体で形成されている。吐出ヘッド４２および吐出ヘッド４４はそれぞれ、対応するインクまたは反応液を吐出するための吐出口３２がＹ方向に沿って形成された吐出口列４６を備えている。吐出ヘッド４２は、＋Ｘ方向に順に、Ｋインクを吐出する吐出口列４６Ｋ、Ｃインクを吐出する吐出口列４６Ｃ、Ｍインクを吐出する吐出口列４６Ｍ、およびＹインクを吐出する吐出口列４６Ｙを備えている。吐出ヘッド４２では、隣接する吐出口列間の間隔ｇ１は一致している。吐出ヘッド４４は、吐出ヘッド４２の＋Ｘ方向下流側に位置し、反応液ＲＣＴを吐出する吐出口列４６ＲＣＴを備えている。吐出口列４６ＲＣＴは、吐出ヘッド４４において＋Ｘ方向の最下流に位置する吐出口列４２Ｙと間隔ｇ２（ｇ２＞ｇ１）だけ離れている。

反応液ＲＣＴについては、上記したように、カラーインクと反応して、カラーインクの固化、増粘を促進する。具体的には、反応液ＲＣＴは、色材は含有しないが、カラーインクに含まれる色材と反応する反応性成分を含有しており、カラーインクと接触することによって、カラーインクを固化、増粘する。これにより、反応液ＲＣＴは、カラーインクの記録媒体Ｐ上での滲みを抑制する。

本実施形態では、各吐出口列４６において、１０８０個の吐出口３２が、隣接する吐出口３２と１２００ｄｐｉの間隔を空けてＹ方向に配列されている。１つの吐出口３２から一度に吐出される液体（カラーインクおよび反応液）の吐出量は、例えば、約４．５ｐｌである。また、各吐出口列４６には、それぞれ対応するインクまたは反応液を貯留するタンク（不図示）が接続され、当該タンクからインクおよび反応液が供給される。タンクは、ヘッドユニット２４と一体的に構成されていてもよいし、キャリッジ２２に着脱可能な構成としてもよい。

＜カラーインクおよび反応液＞
次に、記録装置１０で用いるカラーインクおよび反応液について説明する。

＝カラーインク＝
本実施形態では、記録装置１０は、顔料を含む顔料インク、顔料を含まない、または微量の顔料を含む水溶性樹脂微粒子インクを用いることができる。これら顔料インクおよび水溶性樹脂微粒子インクは、水溶性有機溶剤を含有している。カラーインクには、必要に応じて所望の特性をもたせるために、各種の界面活性剤、消泡剤、防腐剤、防黴剤などを適宜に添加することができる。

カラーインクには、記録媒体Ｐと色材とを密着させ、記録画像の耐擦過性（定着性）を向上させるための水溶性樹脂微粒子を含有する。樹脂微粒子は熱で溶解し、ヒータ（加熱部１６など）により樹脂微粒子の造膜と、インクに含有する溶剤の乾燥が行われる。本実施形態では、樹脂微粒子とは、水中に分散している状態で存在するポリマー微粒子である。また、水中に分散している状態で存在するポリマー微粒子とは、解離性基を有するモノマーを単独重合、または複数種を共重合させて得られる樹脂微粒子の形態、所謂、自己分散型樹脂微粒子分散体でもよい。

カラーインクは、界面活性剤を含有している。界面活性剤としては、インクジェット専用の記録媒体Ｐに対するカラーインクの浸透性を向上させるための浸透剤を用いている。本実施形態では、各カラーインクの表面張力が３０ｄｙｎ／ｃｍ以下であり、かつ、各カラーインク間の表面張力の差は２ｄｙｎ／ｃｍ以内となるように調整した。具体的には、各カラーインクの表面張力は、いずれも約２８～３０ｄｙｎ／ｃｍとした。

また、カラーインクは、記録装置１０やヘッドユニット２４内のインクと接触する部材からの不純物溶出や部材を構成する材料の劣化、インク内の顔料分散樹脂の溶解性の低下を防止する観点から、そのｐＨは、７．０以上、１０．０以下であることが好ましい。本実施形態で用いるカラーインクは、アニオン系の色材を使用している。このため、各カラーインクのｐＨは、アルカリ側で安定しており、その値は、８．５～９．５となっている。

＝反応液＝
反応液としては、各カラーインクに含まれる顔料と反応して、当該顔料を凝集またはゲル化させる反応性成分、または、樹脂などと反応してこれらを不溶化させる反応性成分などを含有する。反応性成分とは、例えば、イオン性基の作用によって水性媒体中に安定に分散されている対象成分を有するインクと混合された際に、当該インクでの分散安定性を破壊することができる成分である。反応性成分としては、例えば、グルタル酸などの有機酸を用いることができる。反応液中の有機酸の含有量は、反応液に含まれる組成物の全質量を基準として、３．０質量％以上９０．０質量％以下であることが好ましく、５．０質量％以上７０．０質量％以下であることがより好ましい。また、反応液にも、カラーインクと同様にして界面活性剤が添加されている。

＜記録装置の制御構成＞
次に、記録装置１０の制御系の構成について説明する。図５は、記録装置１０の制御系のブロック構成図である。

記録装置１０の全体の制御を行う制御部１００は、マイクロコンピュータ形態の中央処理装置（ＣＰＵ）５０２、ＲＯＭ５０４、ＲＡＭ５０６、およびメモリ５０８を備えている。ＣＰＵ５０２は、各種のプログラムに基づいて記録装置１０における各構成部材の動作制御や入力された画像データに対する処理などを行う。ＲＯＭ５０４は、ＣＰＵ５０２が実行する各種の制御および画像データの処理プログラムなどを格納するメモリとして機能している。ＲＡＭ５０６は、ＣＰＵ５０２の主メモリ、ワーキングエリアなどの記憶領域として用いられる。メモリ５０８は、後述するマスクパターンやテストパターンなどの各種データが格納されている。

制御部１００は、インターフェース（Ｉ／Ｆ）５１０と接続されており、Ｉ／Ｆ５１０を介して、ホスト装置１１０と接続される。ホスト装置１１０は、記録のための画像データ、各種のコマンドおよびステータス信号などを、Ｉ／Ｆ５００を介して制御部１００に出力する。ホスト装置１１０は、画像データの作成、および画像データの処理など、記録に必要な各種の処理を実行可能としてもよい。

制御部１００は、記録装置１０に設けられた操作部５１２に接続されている。操作部５１２は、ユーザによる入力を受け付けるスイッチ群である。本実施形態では、操作部５１２は、記録装置１０の起動のための電源スイッチ５１４と、記録開始を指示する記録開始スイッチ５１６と、ヘッドユニット２４に対する回復処理を指示する回復スイッチ５１８とを備えている。回復処理とは、回復部５４２によって、ヘッドユニット２４の吐出口３２からのインクおよび反応液の吐出状態を良好に維持・回復するための処理である。さらに、操作部５１２は、反応液の吐出位置のずれを解消するための調整を行う調整スイッチ５２０を備えている。本実施形態では、記録開始、回復処理、および上記調整を操作部５１２におけるスイッチで実行するようにしたが、これに限定されるものではない。例えば、ホスト装置１１０や記録装置１０に接続された各種装置からの指示に基づいて上記処理を実行するようにしてもよい。

制御部１００は、記録装置１０に設けられたセンサ部５２２に接続されている。センサ部５２２は、記録装置１０の状態を検出するためのセンサ群であり、光学センサ２００と、ホームポジションを検出するためのフォトカプラ５２４と、温度を検出するための温度センサ５２６とを備えている。そして、制御部１００により各センサが制御されるとともに、各センサからの情報に基づいて各種処理を実行することとなる。例えば、光学センサ２００については、制御部１００は、その駆動の制御とともに、光学センサ２００からの出力に基づいて、テストパターンの光学特性を取得する。このように、本実施形態では、制御部１００および光学センサ２００が、記録物の光学特性を測定可能な測定部として機能している。なお、センサ部５２２は、上記したセンサに限定されるものではなく、記録装置１０の状態を検出するための公知の種々のセンサを備えるようにしてもよい。

制御部１００は、ヘッドドライバ５２８に接続され、ヘッドドライバ５２８を介してヘッドユニット２４の駆動を制御する。ヘッドユニット２４はヘッドドライバ５２８を介して、記録データに応じて吐出ヘッド４２、４４の発熱抵抗素子５３０を駆動して、インクまたは反応液の吐出、非吐出を制御する。ヘッドドライバ５２８は、記録データを発熱抵抗素子５３０の位置に対応させて整列させるシフトレジスタ、適宜のタイミングでラッチするラッチ回路、および駆動タイミング信号に同期して発熱抵抗素子５３０を作動させる倫理回路素子を含む。吐出ヘッド４２、４４には、サブヒータ５３２が設けられており、サブヒータ５３２は、ヘッドドライバ５２８を介して制御部１００によりその駆動が制御される。サブヒータ５３２は、インクの吐出特性を安定させるための温度調整を行うものであり、発熱抵抗素子５３０と共に吐出ヘッド基板あるいは吐出ヘッド４２、４４に取り付けられている。

制御部１００は、第１モータドライバ５３４に接続され、第１モータドライバ５３４を介してヘッドユニット２４をＸ方向で変位させる走査モータ５３６の駆動を制御する。また、制御部１００は、第２モータドライバ５３８に接続され、第２モータドライバ５３８を介して搬送モータ５４０を制御して、搬送ローラ２３により記録媒体ＰをＹ方向で変位させる。さらに、制御部１００は、回復部５４２に接続され、回復部５４２の駆動を制御する。さらにまた、制御部１００は、加熱部１６に接続され、加熱部１６の駆動を制御する。

制御部１００では、ＣＰＵ５０２が、ホスト装置１１０から入力された画像データを記録データに変換してＲＡＭ５０６に格納する。具体的には、ＣＰＵ５０２は、ＲＧＢ各８ビット２５６値の情報（０～２５５）によって表される画像データを取得すると、この画像データについて、記録に用いる複数種類のインク（本実施形態では、Ｋ、Ｃ、Ｍ、Ｙ）で表される多値データに変換する。この色変換処理によって、複数の画素からなる画素群それぞれにおけるＫ、Ｃ、Ｍ、Ｙの各インクの階調を覚める８ビット２５６値の情報（０～２５５）によって表される多値データが生成される。

次に、Ｋ、Ｃ、Ｍ、Ｙで表される多値データの量子化を実行し、各画素に対するＫ、Ｃ、Ｍ、Ｙの各インクの吐出または非吐出を定める１ビット２値の情報（０、１）によって表される量子化データ（２値データ）を生成する。この量子化の処理としては、誤差拡散法、ディザ法、インデックス法など公知の種々の量子化方法を用いることができる。その後、量子化データをヘッドユニット２４の単位領域に対する複数回の走査に分配する分配処理を行う。この分配処理により、記録媒体Ｐの単位領域に対する複数回の走査それぞれにおける各画素に対するＫ、Ｃ、Ｍ、Ｙ各インクの吐出または非吐出を定める１ビット２値の情報（０、１）によって表される記録データが生成される。この分配処理は、複数回の走査に対応し、各画素に対するインクの吐出の許容または非許容を定めるマスクパターンを用いて実行される。なお、こうした記録データの生成については、制御部１００で実行されることに限定されず、ホスト装置１１０で実行してもよいし、一部の処理をホスト装置１１０で行い、残りの処理を制御部１００で実行するようにしてもよい。

＜取得処理＞
以上の構成において、記録装置１０では、記録データに基づいて記録媒体Ｐに対して記録する記録処理が行われる。この記録処理では、ヘッドユニット２４がＸ方向へ移動しながらインクおよび反応液を吐出することで、記録媒体上の単位領域に記録を行う。こうした記録の際には、基本的には、インクと反応液とは同一領域内にそれぞれ所定量だけ吐出される。これにより、反応液がインクと一定の割合で接することで、特に非吸収性の記録媒体上で顕著に発生するインクの滲みを抑制する効果を得ることができる。また、記録装置１０では、インクと反応液とが吐出された記録媒体Ｐが、搬送されて加熱部１６を通過することで、インクを加熱乾燥させて非吸収性や難吸収性の記録媒体においてもインクの定着を促進させて記録が行われる。

上記のように、記録装置１０では、インクと反応液とを同一領域に吐出する必要がある。このため、記録装置１０では、Ｘ方向におけるインクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得し、取得したずれ量に基づいてインクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置を補正可能な構成となっている。本実施形態では、「Ｘ方向におけるインクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量」を、「反応液の吐出位置のずれ量」とも称する。インクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得する取得処理については、例えば、操作部５１２における調整スイッチ５２０の操作によって開始される。記録装置１０では、この取得処理で取得した、反応液の吐出位置のずれ量に基づいて、インクの吐出位置と反応液の吐出位置とが一致するように補正することとなる。

以下、記録装置１０で実行する、Ｘ方向におけるインクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得する取得処理、および当該取得処理の際に用いるテストパターンについて、詳細に説明する。

＝テストパターン＝
まず、取得処理に用いられるテストパターンについて説明する。図６は、取得処理に用いるテストパターンが示されており、図６では、インクおよび反応液を吐出するヘッドユニットに対応させて示されている。図７（ａ）は、テストパターンの第１検出パターンの構成パターンを示す図であり、図７（ｂ）は、テストパターンの第２検出パターンの構成パターン示す図である。図８は、図７（ｂ）の第４パターンで生じる滲みを説明する図であり、（ａ）は、反応液を用いずに滲みが生じた状態を示し、（ｂ）は、反応液を用いることで滲みが生じていない状態を示す。

取得処理に用いるテストパターン６０は、Ｘ方向におけるインクの吐出位置を検出するための第１検出パターン６２と、Ｘ方向における反応液の吐出位置を検出するための第２検出パターン６４とを備えている（図６参照）。第１検出パターン６２は、インクの吐出位置を取得するためのパターンであり、反応液の吐出位置のずれ量を取得する際の基準とする基準パターンである。第２検出パターン６４は、反応液の吐出位置を取得するためのパターンであり、反応液の吐出位置のずれ量を取得するために第１検出パターン６２と比較するパターンである。

第１検出パターン６２と第２検出パターン６４とは、Ｘ方向の長さおよびＹ方向の長さが一致するよう構成されている。また、第２検出パターン６４は、第１検出パターン６２に対して、＋Ｙ方向の上流側に、所定の間隔Ｇを空けて位置している。本実施形態では、所定の間隔Ｇとしては、第１検出パターン６２および第２検出パターン６４のＹ方向の長さと一致する長さとする。所定の間隔Ｇについては、これに限定されるものではなく、第１検出パターン６２のＹ方向の長さよりも長くてもよいし短くてもよい。また、本実施形態では、第１検出パターン６２の＋Ｙ方向上流側に第２検出パターン６４が形成されているが、これに限定されるものではなく、第２検出パターン６４が第１検出パターン６２の＋Ｙ方向下流側に形成されるようにしてもよい。あるいは、Ｙ方向で一致し、Ｘ方向に沿って並んで形成されるようにしてもよい。

テストパターン６０は、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向への１回の移動（走査）で記録される。即ち、第１検出パターン６２は、吐出ヘッド４２、４４の吐出口列４６における複数の吐出口３２からインクおよび反応液を吐出して形成される。また、第２検出パターン６４は、第１検出パターン６２で用いる吐出口３２より＋Ｙ方向上流側に位置する複数の吐出口３２からインクおよび反応液を吐出して形成されることとなる。

第１検出パターン６２は、反応液を吐出するための第１パターン７２と、Ｋインクを吐出するための第２パターン７４とから構成される（図７（ａ）参照）。第１パターン７２および第２パターン７４はそれぞれ、Ｘ方向において長さＬ１、Ｙ方向において長さＬ２を備える。本実施形態では、長さＬ１は、１２００ｄｐｉの解像度で１０８０ドットを記録した長さとする。また、長さＬ２は、１２００ｄｐｉの解像度で１８０ドットを記録した長さとする。

第１パターン７２は、全域において反応液を１２００ｄｐｉの解像度で吐出するパターンとなっている。即ち、第１パターン７２では、全領域を１２００ｄｐｉ×１２００ｄｐｉの格子に区切った各画素に対し、１ドットが配置されるように反応液が吐出される。従って、第１パターン７２では、吐出口列４６ＲＣＴにおける連続する１８０個の吐出口３２において、記録開始位置から、１２００ｄｐｉの解像度でＸ方向に１０８０ドットが記録されるように反応液が吐出される。なお、以下の説明では、Ｍドット目が記録される位置を、Ｍｄｏｔ／１２００ｄｐｉと表すこととする。従って、第１パターン７２は、Ｘ方向において、記録開始位置である１ドット目が記録される１ｄｏｔ／１２００ｄｐｉから、１０８０ドット目が記録される１０８０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉまでの領域で反応液が吐出されることとなる。

第２パターン７４は、＋Ｘ方向上流側に位置する半分にＫインクを吐出しない非吐出領域が形成され、＋Ｘ方向下流側に位置する半分にＫインクを吐出する吐出領域が形成されている。即ち、第２パターン７４では、＋Ｘ方向下流側の半分の領域に対して、１２００ｄｐｉの解像度でＫインクを吐出するパターンとなっている。つまり、第２パターン７４では、吐出口列４６Ｋにおける連続する１８０個の吐出口３２において、第２パターン７４のＸ方向における中央位置から、１２００ｄｐｉの解像度でＸ方向に５４０ドットが記録されるようにＫインクが吐出される。従って、第２パターン７４は、Ｘ方向において、５４１ｄｏｔ／１２００ｄｐｉから１０８０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉまでの領域でＫインクが吐出されることとなる。なお、第２パターン７４の記録に用いる１８０個の吐出口３２については、その吐出領域がＹ方向において、第１パターン７２の記録に用いる１８０個の吐出口３２の吐出領域に重なる。つまり、第１パターン７２と第２パターン７４とは、記録媒体Ｐ上の同一の領域に吐出され、第１検出パターン６２を形成する。

第２検出パターン６４は、反応液を吐出するための第３パターン７６と、ＫインクとＹインクとを吐出するための第４パターン７８とから構成される（図７（ｂ）参照）。第３パターン７６および第４パターン７８はそれぞれ、Ｘ方向において長さＬ１、Ｙ方向において長さＬ２を備え、第１パターン７２および第２パターン７４と大きさが一致する。

第３パターン７６は、＋Ｘ方向上流側に位置する半分に反応液を吐出しない非吐出領域が形成され、＋Ｘ方向下流側に位置する半分に反応液を吐出する吐出領域が形成されている。即ち、第３パターン７６では、＋Ｘ方向下流側の半分の領域に対して、１２００ｄｐｉの解像度で反応液を吐出するパターンとなっている。つまり、第３パターン７６では、吐出口列４６ＲＣＴにおける連続する１８０個の吐出口３２において、第３パターン７６のＸ方向における中央位置から、１２００ｄｐｉの解像度でＸ方向に５４０ドットが記録されるように反応液が吐出される。従って、第３パターン７６は、Ｘ方向において、５４１ｄｏｔ／１２００ｄｐｉから１０８０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉまでの領域で反応液が吐出されることとなる。

なお、第３パターン７６の記録に用いる連続する１８０個の吐出口３２については、第１パターン７２の記録に用いる連続する１８０個の吐出口３２よりも＋Ｙ方向上流側に位置する。本実施形態では、第３パターン７６に用いる１８０個の吐出口３２のうちの＋Ｙ方向の最下流に位置する吐出口３２と、第１パターン７２に用いる連続する１８０個の吐出口３２の＋Ｙ方向の最上流に位置する吐出口３２とは、吐出口１８０個分離れている。

第４パターン７８は、全領域において、Ｋインクによる記録領域とＹインクによる記録領域とが互いに隣接するようにＹ方向において交互に記録されたパターンとなっている。ＫインクおよびＹインクは共に、各記録領域において１２００ｄｐｉの解像度で記録される。Ｋインクによる記録領域およびＹインクによる記録領域は共にＹ方向の長さがＬ３となっている。第４パターン７８では、ＫインクおよびＹインクのそれぞれの吐出領域が複数形成されるように、長さＬ３は、長さＬ２の半分よりも小さい値となっている。本実施形態では、長さＬ３は、１２００ｄｐｉの解像度で２０ドット分の長さとする。従って、本実施形態では、第４パターン７８は、５つのＹインクによる記録領域と４つのＫインクによる記録領域が形成されることとなる。なお、第４パターン７８の記録に用いる連続する１８０個の吐出口３２については、第３パターン７６の記録に用いる連続する１８０個の吐出口３２の吐出領域と、Ｙ方向において一致する吐出領域に吐出可能な吐出口３２となっている。つまり、第３パターン７６と第４パターン７８とは、記録媒体Ｐ上の同一の領域に吐出され、第２検出パターン６４を形成する。

ところで、第４パターン７８は、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向の１回の走査において、吐出口列４６Ｋおよび吐出口列４６ＹからＫインクおよびＹインクが吐出されることとなる。このため、非吸収性または難吸収性の記録媒体に対して、反応液を用いることなく第４パターン７８を記録すると、Ｙインクによる記録領域８０２とＫインクによる記録領域８０４との境界部分において滲みが生じる（図８（ａ）参照）。この滲みが生じた滲み領域８０６では明度の高いＹインクと明度の低いＫインクとが混ざり合うため、明度の低いＫインクの特性が強く表れる。即ち、この場合、第４パターン７８の光学特性がよりＫインクに近似したものとなる。一方、非吸収性または難吸収性の記録媒体に対して、反応液を吐出した後に第４パターン７８を記録すると、反応液の特性によって、記録領域８０２と記録領域８０４との境界部分において滲みが生じない、あるいは滲みが小さい。従って、この場合、第４パターン７８の光学特性に影響は生じない（図８（ｂ）参照）。このように、第４パターン７８は、反応液を用いるか否かによって、その光学特性が変化するパターンとなっている。

＝取得処理＝
調整スイッチ５２０が操作されると、記録装置１０では、Ｘ方向におけるインクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得するための取得処理を行う。その後、取得処理で取得したずれ量に基づいて、反応液の吐出位置のずれを解消するための補正値を取得して、記録処理時に当該補正値を用いるように設定することとなる。

以下、取得処理について詳細に説明する。図９は、取得処理の詳細な処理ルーチンを示すフローチャートである。図１０（ａ）は、記録した第１検出パターンを示す図であり、図１０（ｂ）は、記録した第２検出パターンを示す図である。図１１（ａ）は、第１検出パターンの光学特性の測定を説明する図である。図１１（ｂ）は、第１検出パターンにおけるＸ方向での光学特性の変化を示す図である。図１１（ｃ）は、第２検出パターンの光学特性の測定を説明する図である。図１１（ｄ）は、第２検出パターンにおけるＸ方向での光学特性の変化を示す図である。

図９のフローチャートで示される一連の処理は、ＣＰＵ５０２が、ＲＯＭ５０４に記憶されているプログラムコードをＲＡＭ５０６に展開して実行されることにより行われる。あるいはまた、図９におけるステップの一部または全部の機能をＡＳＩＣまたは電気回路などのハードウェアで実行してもよい。なお、各処理の説明における符号Ｓは、当該フローチャートにおけるステップであることを意味する。

取得処理が開始されると、まず、ＣＰＵ５０２が、記録媒体に対してテストパターン６０を記録する（Ｓ９０２）。メモリ５０８には、テストパターン６０を形成するためのパターンとして、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向への１回の走査により第１検出パターン６２および第２検出パターン６４を記録可能なパターンが格納されている。Ｓ９０２では、これらのパターンを用いて、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向への１回の走査時に、反応液とＫインクおよびＹインクとによりテストパターン６０を記録する。このように、本実施形態では、ＣＰＵ５０２を備えた制御部１００が、テストパターンを記録するようヘッドユニット２４を制御する制御部として機能している。

記録された第１検出パターン６２は、図１０（ａ）のように、Ｘ方向における１ｄｏｔ／１２００ｄｐｉから５４０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉまでの領域１００２において反応液のみが吐出される。また、Ｘ方向における５４１ｄｏｔ／１２００ｄｐｉから１０８０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉまでの領域１００４において反応液とともにＫインクが吐出される。なお、反応液を吐出する吐出口３２より構成される吐出口列４６ＲＣＴは、Ｋインクを吐出する吐出口３２より構成される吐出口列４６Ｋ、Ｙインクを吐出する吐出口３２より構成される吐出口列４６Ｙよりも、＋Ｘ方向下流側に位置する（図４参照）。このため、＋Ｘ方向の１回の走査で記録される第１検出パターン６２では、第１パターン７２により、その全域に反応液が吐出された後に、第２パターン７４によりＫインクが吐出される。これにより、領域１００２と領域１００４との境界で滲みは生じない。

また、記憶された第２検出パターン６４は、図１０（ｂ）のように、Ｘ方向における１ｄｏｔ／１２００ｄｐｉから５４０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉまでの領域１００６において、ＫインクおよびＹインクが吐出される。また、Ｘ方向における５４１ｄｏｔ／１２００ｄｐｉから１０８０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉまでの領域１００８において、反応液とともにＫインクおよびＹインクが吐出される。

上記したように、吐出口列４６ＲＣＴは、吐出口列４６Ｋおよび吐出口列４６Ｙよりも＋Ｘ方向下流側に位置する。このため、＋Ｘ方向の１回の走査で記録される第２検出パターン６４は、領域１００６では、反応液が吐出されることなくＫインクおよびＹインクが吐出される。また、領域１００８では、反応液が吐出された後に、ＫインクおよびＹインクが吐出される。このため、領域１００６では、Ｙインクによる記録領域８０２とＫインクによる記録領域８０４との境界に滲み領域８０６が生じる。また、領域１００８では、反応液の存在によって、記録領域８０２と記録領域８０４との境界に滲み領域８０６が生じない。さらに、反応液の存在によって、領域１００６と領域１００８との境界でも滲みは生じない。

図９に戻る。テストパターン６０を記録すると、次に、ＣＰＵ５０２は、記録されたテストパターン６０の光学特性を測定する（Ｓ９０４）。つまり、Ｓ９０４では、テストパターン６０を構成する第１検出パターン６２および第２検出パターン６４の光学特性をそれぞれ測定して、当該光学特性のＸ方向における変化を取得することとなる。具体的には、まず、第１検出パターン６２の光学特性を測定するために、光学センサ２００の検出スポット３１０が、Ｘ方向において、記録開始位置、つまり、１ｄｏｔ／１２００ｄｐｉと重なる位置までヘッドユニット２４を移動する。また、検出スポット３１０の中心が、Ｙ方向において第１検出パターン６２の中心と重なる位置まで記録媒体Ｐを搬送する。本実施形態では、検出スポットの直径３ｍｍに対し、第１検出パターン６２および第２検出パターン６４のＹ方向長さ３．８ｍｍ（１２００ｄｐｉの解像度で１８０ドット分）となっている。その後、ヘッドユニット２４を＋Ｘ方向に走査させながら、例えば、２４００ｄｐｉなどの所定間隔で、光学センサ２００により領域１００２および領域１００４の光学特性（光学反射率）を測定する（図１１（ａ）参照）。なお、制御部１００では、第１検出パターン６２における光学特性として、光学センサ２００から出力された測定結果（光学反射率）をその測定位置（エンコーダ信号値）と関連付けてメモリ５０８などの記憶領域に記憶する。

次に、第２検出パターン６４の光学特性を測定するために、光学センサ２００の検出スポット３１０が、Ｘ方向において、記録開始位置、つまり、１ｄｏｔ／１２００ｄｐｉと重なる位置までヘッドユニットを移動する。また、検出スポット３１０の中心が、Ｙ方向において第２検出パターン６４の中心と重なる位置まで記録媒体Ｐを搬送する。その後、ヘッドユニット２４を＋Ｘ方向に走査させながら、例えば、２４００ｄｐｉ間隔で、光学センサ２００により領域１００６および領域１００８の光学特性を測定する（図１１（ｃ）参照）。なお、制御部１００では、第２検出パターン６４における光学特性として、光学センサ２００から出力された測定結果（光学反射率）をその測定位置（エンコーダ信号値）と関連付けてメモリ５０８などの記憶領域に記憶する。このように、本実施形態では、ＣＰＵ５０２を備えた制御部１００が、テストパターンの光学特性を測定するよう光学センサ２００を制御する制御部として機能している。

図９に戻る。テストパターン６０の光学特性を測定すると、次に、ＣＰＵ５０２は、Ｘ方向における反応液の吐出位置のずれ量を取得するための基準となるインクの吐出位置に相当する基準位置を取得する（Ｓ９０６）。本実施形態では、＋Ｘ方向で走査しながら、Ｘ方向における第１検出パターン６２の全域に反応液を吐出し、その上に、＋Ｘ方向で走査しながら、Ｘ方向における第１検出パターンの＋Ｘ方向下流側の半分の領域にＫインクを吐出している。このため、Ｘ方向においてＫインクの吐出位置にずれが生じた際には、領域１００２と領域１００４との境界も当該ずれに応じてＸ方向にずれるようになる。従って、Ｓ９０６では、第１検出パターン６２の光学特性に基づいて、領域１００２と領域１００４との境界を基準位置として取得する。

Ｓ９０４での第１検出パターン６２の測定結果は、図１１（ｂ）のようになる。つまり、反応液のみが吐出された領域１００２では、記録媒体の色に基づいて高い光学反射率となる。そして、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向への移動によって、検出スポット３１０の領域１００４への重なりが増すに従って、Ｋインクの発現する色の影響により光学反射率が低下する。また、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向への更なる移動によって、検出スポット３１０の全体が領域１００４に入ると、Ｋインクにより発現する色に基づいて光学反射率は低い値で一定となる。従って、領域１００２と領域１００４との境界は、検出スポット３１０全体が、領域１００２に位置するときの光学反射率と、領域１００４に位置するときの光学反射率との中間値の光学反射率となることがわかる。

このため、Ｓ９０６では、まず、領域１００２側において予め設定された測定位置１１０２の光学特性（光学反射率）を取得し、取得した光学反射率の平均値Ｒ１を取得する。測定位置１１０２としては、例えば、領域１００２におけるＸ方向での中央位置、具体的には、２７０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉ近傍の５点とする。次に、領域１００４側において予め設定された測定位置１１０４の光学反射率を取得し、取得した光学反射率の平均値Ｒ２を取得する。測定位置１１０４としては、例えば、領域１００４におけるＸ方向での中央位置、具体的には、８１０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉ近傍の５点とする。なお、各測定位置の光学反射率については、メモリ５０８などの記憶領域に記憶されたＳ９０４での測定結果に基づく。

その後、平均値Ｒ１と平均値Ｒ２との中間値を求め、求めた中間値となる位置を基準位置１１１０として取得する。メモリ５０８などの記憶領域には、Ｓ９０４で測定した第１検出パターン６２における測定位置と光学反射率とが関連付けられて記憶されている。従って、記憶領域に記録された情報を参照して、光学反射率が（Ｒ１＋Ｒ２）／２、つまり、平均値Ｒ１、Ｒ２の和を２で除算した値と一致、あるいは、最も近似する測定位置を基準位置１１１０として取得する。なお、測定位置１１０２、１１０４については、５点に限定されるものではなく、１～４点、あるいは６点以上であってもよい。また、測定位置１１０２は、検出スポット３１０が領域１００２内にのみ位置する位置であればどこでもよく、測定位置１１０４は、検出スポット３１０が領域１００４内にのみ位置する位置であればどこでもよい。

図９に戻る。基準位置１１１０を取得すると、次に、ＣＰＵ５０２は、反応液の吐出位置に相当し、Ｓ９０６で取得した基準位置と比較する比較位置を取得する（Ｓ９０８）。本実施形態では、＋Ｘ方向で走査しながら、Ｘ方向における第２検出パターン６４の＋Ｘ方向下流側の半分の領域に反応液を吐出し、Ｘ方向における第２検出パターン６４の全域に、ＫインクおよびＹインクを吐出している。このため、Ｘ方向において反応液の吐出位置にずれが生じた際には、領域１００６と領域１００８との境界も当該ずれに応じてＸ方向にずれるようになる。従って、Ｓ９０８では、第２検出パターン６４の光学特性に基づいて、領域１００６と領域１００８との境界を比較位置として取得する。

Ｓ９０４での第２検出パターン６４の測定結果は、図１１（ｄ）のようになる。つまり、反応液が吐出されず、ＫインクおよびＹインクによりパターンが形成された領域１００６では、Ｙインクによる記録領域８０２とＫインクによる記録領域８０４との境界において滲み領域８０６が生じ、Ｋインクの特性が強く表れ、低い光学反射率となる。そして、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向への移動によって、検出スポット３１０の領域１００８への重なりが増すに従って、領域１００８の影響により光学反射率が増加する。また、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向への更なる移動によって、検出スポット３１０の全体が領域１００８に入ると、滲み領域８０６がなくなり、Ｙインクの特性が表れて光学反射率は高い値で一定となる。従って、領域１００６と領域１００８との境界は、検出スポット３１０全体が、領域１００６に位置するときの光学反射率と、領域１００８に位置するときの光学反射率との中間値の光学反射率となることがわかる。

このため、Ｓ９０８では、まず、領域１００６側において予め設定された測定位置１１０６の光学反射率を取得し、取得した光学反射率の平均値Ｒ３を取得する。測定位置１１０６としては、例えば、領域１００６におけるＸ方向での中央位置、具体的には、２７０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉ近傍の５点とする。次に、領域１００８側において予め設定された測定位置１１０８の光学反射率を取得し、取得した光学反射率の平均値Ｒ４を取得する。測定位置１１０８としては、例えば、取得した光学反射率のＸ方向での中央位置、具体的には、８１０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉ近傍の５点とする。各測定位置の光学反射率は、メモリ５０８などの記憶領域に記憶されたＳ９０４での測定結果に基づく。

その後、平均値Ｒ３と平均値Ｒ４との中間値を求め、求めた中間値となる位置を比較位置１１１２として取得する。メモリ５０８などの記憶領域には、Ｓ９０４で測定した第２検出パターン６４における測定位置と光学反射率とが関連付けられて記録されている。従って、記憶領域に記憶された情報を参照して、光学反射率が（Ｒ３＋Ｒ４）／２、つまり、平均値Ｒ３、Ｒ４の和を２で除算した値と一致、あるいは、最も近似する測定位置を比較位置１１１２として取得する。なお、測定位置１１０６、１１０８については、５つに限定されるものではなく、１～４点、あるいは６点以上であってもよい。また、測定位置１１０６は、検出スポット３１０が領域１００６内にのみ位置する位置であればどこでもよく、測定位置１１０８は、検出スポット３１０が領域１００８内にのみ位置する位置であればどこでもよい。

図９に戻る。比較位置１１１２を取得すると、次に、ＣＰＵ５０２は、基準位置１１１０および比較位置１１１２に基づいて、Ｘ方向におけるインクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得し（Ｓ９１０）、この取得処理を終了する。Ｓ９１０では、基準位置１１１０を表すエンコーダ信号値と、比較位置１１１２を表すエンコーダ信号値との差分を取得し、取得した値をずれ量とする。このように、本実施形態では、ＣＰＵ５０２を含む制御部１００が、テストパターンを構成する検出パターンの光学特性に基づいて、反応液の吐出位置のずれ量を取得する取得部として機能している。

取得処理において反応液の吐出位置のずれ量を取得すると、制御部１００では、例えば、当該ずれ量に基づいて、反応液の吐出位置がインクの吐出位置と一致するように、反応液の吐出タイミングを補正する補正値を算出することとなる。そして、制御部１００は、記録媒体に記録を行う記録処理の際に、算出した補正値を用いて、ヘッドユニット２４における反応液の吐出のタイミングを補正しながら記録する。このように、本実施形態では、制御部１００が、取得したずれ量に基づいて、反応液の吐出位置を補正するための補正部として機能している。

以上において説明したように、記録装置１０では、Ｘ方向におけるインクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得するために、Ｘ方向に延在する第１検出パターン６２と第２検出パターン６４と備えるテストパターン６０を記録するようにした。第１検出パターン６２は、記録時の走査方向であるＸ方向で２分割した際の、＋Ｘ方向上流側の半分に反応液のみが吐出される領域１００２が形成され、＋Ｘ方向下流側の半分に反応液上にＫインクが吐出される領域１００４が形成される。第２検出パターン６４は、記録時の走査方向であるＸ方向で２分割した際の、＋Ｘ方向上流側の半分に反応液は吐出されず、ＫインクとＹインクとがＹ方向に交互に吐出される領域１００６が形成される。また、＋Ｘ方向下流側の半分に反応液上にＫインクとＹインクとがＹ方向に交互に吐出される領域１００８が形成される。

そして、光学センサ２００により、第１検出パターン６２および第２検出パターン６４のＸ方向における光学反射率の変化を取得する。そして、この変化に基づいて、第１検出パターン６２からインクの吐出位置である基準位置１１１０を取得する。また、第２検出パターン６４から反応液の吐出位置である比較位置１１１２を取得する。その後、基準位置１１１０と比較位置１１１２とに基づいて、Ｘ方向における、インクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得するようにした。

これにより、インクを吐出する吐出ヘッド４２と、反応液を吐出する吐出ヘッド４４とが別体で構成されていても、テストパターン６０により、反応液の吐出位置のずれ量を取得することができる。即ち、吐出ヘッドの構成によらず、テストパターン６０により、Ｘ方向における、インクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得することができるようになる。

（第２実施形態）
次に、図１２乃至図１４を参照しながら、第２実施形態による記録装置について説明する。以下の説明では、上記した第１実施形態による記録装置と同一または相当する構成については、第１実施形態で用いた符号と同一の符号を用いることにより、その詳細な説明を省略する。

第２実施形態では、＋Ｘ方向である往方向での反応液の吐出位置に対する、－Ｘ方向である復方向での反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得するようにした点において、上記第１実施形態と異なっている。従って、本実施形態では、「反応液の吐出位置のずれ量」とは、「往方向での反応液の吐出位置に対する、復方向での反応液の相対的な吐出位置のずれ量」を意味することとなる。また、本実施形態による記録装置１０で実行される取得処理は、往方向での反応液の吐出位置に対する、復方向での反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得する処理となる。

本実施形態の記録装置１０では、ヘッドユニット２４を＋Ｘ方向である往方向へ走査しながら記録するとともに、ヘッドユニット２４を－Ｘ方向である復方向へ走査しながら記録する双方向記録が可能な構成となっている。

＝テストパターン＝
まず、本実施形態による記録装置１０で実行される取得処理に用いられるテストパターン６０について説明する。図１２（ａ）は、テストパターンの第１検出パターンの構成パターンを示す図であり、図１２（ｂ）は、テストパターンの第２検出パターンの構成パターンを示す図である。

本実施形態では、テストパターン６０の第１検出パターン６２は、往方向での反応液の吐出位置を取得するためのパターンであり、テストパターン６０の第２検出パターン６４は、復方向での反応液の吐出位置を取得するためのパターンとなっている。第１検出パターン６２は、ヘッドユニット２４の往方向への１回の走査により記録される。即ち、第１検出パターン６２は、ヘッドユニット２４の往方向への１回の走査において、インクおよび反応液を吐出して形成される。第２検出パターン６４は、ヘッドユニット２４の復方向および往方向への走査の２回の走査により記録される。即ち、第２検出パターン６４は、ヘッドユニット２４の復方向への走査において反応液を吐出し、その後のヘッドユニット２４の往方向への走査においてインクを吐出して形成される。

第１検出パターン６２は、反応液を吐出するための第５パターン１２０２と、ＫインクとＹインクとを吐出するための第６パターン１２０４とから構成される。第２検出パターン６４は、反応液を吐出するための第７パターン１２０６と、ＫインクとＹインクとを吐出するための第８パターン１２０８とから構成される。第５パターン１２０２および第７パターン１２０６はそれぞれ、上記第１実施形態における第３パターン７６と一致する。また、第６パターン１２０４および第８パターン１２０８はそれぞれ、上記第１実施形態における第４パターン７８と一致する。このため、第５パターン１２０２、第６パターン１２０４、第７パターン１２０６、および第８パターン１２０８の構成に関する詳細な説明については、省略する。

なお、第５パターン１２０２の記録に用いる１８０個の吐出口３２のうち＋Ｙ方向の最上流に位置する吐出口３２と、第７パターン１２０６の記録の用いる１８０個の吐出口３２のうち＋Ｙ方向の最下流に位置する吐出口３２とは、吐出口１８０個分離れている。また、第６パターン１２０４の記録に用いる１８０個の吐出口３２のうち＋Ｙ方向の最上流に位置する吐出口３２と、第８パターン１２０８の記録の用いる１８０個の吐出口３２のうち＋Ｙ方向の最下流に位置する吐出口３２とは、吐出口１８０個分離れている。さらに、第５パターン１２０２および第６パターン１２０４の記録に用いる１８０個の吐出口３２は、同じ走査中に同じ領域にインクまたは反応液を吐出することができる。同様に、第７パターン１２０６および第８パターン１２０８の記録に用いる１８０個の吐出口３２も、同じ走査中に同じ領域にインクまたは反応液を吐出することができる。

＝取得処理＝
調整スイッチ５２０が操作されると、記録装置１０では、往方向での反応液の吐出位置に対する復方向での反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得するための取得処理を行う。図１３は、本実施形態による記録装置で実行される取得処理の詳細な処理ルーチンを示すフローチャートである。図１４（ａ）は、記録した第１検出パターンを示す図であり、図１４（ｂ）は、第１検出パターンにおけるＸ方向での光学特性の変化を示す図である。図１４（ｃ）は、記録した第２検出パターンを示す図であり、図１４（ｄ）は、第２検出パターンにおけるＸ方向での光学特性の変化を示す図である。

図１３のフローチャートで示される一連の処理は、ＣＰＵ５０２が、ＲＯＭ５０４に記憶されているプログラムコードをＲＡＭ５０６に展開して実行されることにより行われる。あるいはまた、図１３におけるステップの一部または全部の機能をＡＳＩＣまたは電気回路などのハードウェアで実行してもよい。なお、各処理の説明における符号Ｓは、当該フローチャートにおけるステップであることを意味する。

取得処理が開始されると、まず、ＣＰＵ５０２が、記録媒体に対してテストパターン６０を記録する（Ｓ１３０２）。Ｓ１３０２では、まず、記録開始位置からヘッドユニット２４を往方向で走査しながら、第５パターン１２０２により反応液を吐出するとともに、第６パターン１２０４によりＫインクとＹインクとを吐出する。即ち、第１検出パターン６２の＋Ｘ方向下流側の半分の領域に反応液を吐出し、第１検出パターン６２の全域にＫインクおよびＹインクを吐出することとなる。従って、第１検出パターン６２の＋Ｘ方向上流側の半分に、反応液が吐出されずＫインクとＹインクとが吐出された領域１４０２が形成される。また、第１検出パターン６２の残りの半分に、反応液、Ｋインク、およびＹインクが吐出された領域１４０４が形成される（図１４（ａ）参照）。記録された第１検出パターン６２では、反応液が吐出されていない領域１４０２では、Ｙインクの記録領域８０２とＫインクの記録領域８０４との境界で滲み領域８０６が生じている。一方、反応液が吐出された領域１４０４では、滲み領域８０６が生じていない。

次に、ヘッドユニット２４を第１検出パターン６２の記録が終了した位置から復方向へ走査しながら、第７パターン１２０６により反応液を吐出する。その後、第７パターン１２０６の記録が終了した位置、つまり、記録開始位置からヘッドユニット２４を往方向へ走査しながら、第８パターン１２０８によりＫインクとＹインクとを吐出する。即ち、第２検出パターン６４の＋Ｘ方向下流側の半分の領域に反応液を吐出し、第２検出パターン６４の全域にＫインクおよびＹインクを吐出することとなる。従って、第２検出パターン６４の＋Ｘ方向上流側の半分に、反応液が吐出されずＫインクとＹインクとが吐出された領域１４０６が形成される。また、第２検出パターン６４の残りの半分に、反応液、Ｋインク、およびＹインクが吐出された領域１４０８が形成される（図１４（ｃ）参照）。記録された第２検出パターン６４では、反応液が吐出されていない領域１４０６では、Ｙインクの記録領域８０２とＫインクの記録領域８０４との境界で滲み領域８０６が生じている。一方、反応液が吐出された領域１４０８では、滲み領域８０６が生じていない。

テストパターン６０を記録すると、次に、ＣＰＵ５０２は、記録されたテストパターン６０の光学特性を測定する（Ｓ１３０４）。Ｓ１３０４の具体的な処理内容は、上記したＳ９０４と同じであるので、その詳細な説明は省略する。そして、テストパターン６０の光学特性を測定すると、次に、ＣＰＵ５０２は、基準となる往方向での反応液の吐出位置に相当する基準位置を取得する（Ｓ１３０６）。

本実施形態では、往方向で走査しながら、Ｘ方向における第１検出パターン６２の＋Ｘ方向下流側の半分の領域に反応液を吐出し、その上に、Ｘ方向における第１検出パターン６２の全域にＫインクおよびＹインクを吐出している。このため、往方向での反応液の吐出位置にずれが生じた際には、領域１４０２と領域１４０４との境界も当該ずれに応じてＸ方向にずれるようになる。従って、Ｓ１３０６では、第１検出パターン６２の光沢特性に基づいて、領域１４０２と領域１４０４との境界を基準位置として取得する。

Ｓ１３０４での第１検出パターン６２の測定結果は、図１４（ｂ）のようになる。つまり、反応液が吐出されず、ＫインクおよびＹインクによりパターンが形成された領域１４０２では、Ｙインクによる記録領域８０２とＫインクによる記録領域８０４との境界において滲み領域８０６が生じ、Ｋインクの特性が強く表れ、低い光学反射率となる。そして、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向への移動によって、検出スポット３１０の領域１４０４への重なりが増すに従って、領域１４０４の影響により光学反射率が増加する。また、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向への更なる移動によって、検出スポット３１０の全体が領域１４０４に入ると、滲み領域８０６がなくなり、Ｙインクの特性が表れて光学反射率は高い値で一定となる。従って、領域１４０２と領域１４０４との境界は、検出スポット３１０全体が、領域１４０２に位置するときの光学反射率と、領域１４０４に位置するときの光学反射率との中間値の光学反射率となることがわかる。

このため、Ｓ１３０６では、まず、領域１４０２側において予め設定された測定位置１４１０の光学反射率を取得し、取得した光学反射率の平均値Ｒ５を取得する。測定位置１４１０としては、例えば、領域１４０２におけるＸ方向での中央位置、具体的には、２７０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉ近傍の５点とする。次に、領域１４０４側において予め設定された測定位置１４１２の光学反射率を取得し、取得した光学反射率の平均値Ｒ６を取得する。測定位置１４１２としては、例えば、取得した光学反射率のＸ方向での中央位置、具体的には、８１０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉ近傍の５点とする。各測定位置の光学反射率は、メモリ５０８などの記憶領域に記憶されたＳ１３０４での測定結果に基づく。

その後、平均値Ｒ５と平均値Ｒ６との中間値を求め、求めた中間値となる位置を基準位置１４２０として取得する。メモリ５０８などの記憶領域には、Ｓ１３０４で測定した第１検出パターン６２における測定位置と光学反射率とが関連付けられて記憶されている。従って、記憶領域に記憶された情報を参照して、光学反射率が（Ｒ５＋Ｒ６）／２と一致、あるいは、最も近似する測定位置を基準位置１４２０として取得する。なお、測定位置１４１０、１４１２については、５つに限定されるものではなく、１～４点、あるいは６点以上であってもよい。また、測定位置１４１０は、検出スポット３１０が領域１４０２内にのみ位置する位置であればどこでもよく、測定位置１４１２は、検出スポット３１０が領域１４０４内にのみ位置する位置であればどこでもよい。

次に、ＣＰＵ５０２は、復方向での反応液の吐出位置に相当し、Ｓ１３０６で取得した基準位置と比較する比較位置を取得する（Ｓ１３０８）。本実施形態では、復方向で走査しながら、Ｘ方向における第２検出パターン６４の＋Ｘ方向下流側の半分の領域に反応液を吐出し、その上に、往方向で走査しながら、X方向における第２検出パターン６４の全域にＫインクおよびＹインクを吐出している。このため、復方向での反応液の吐出位置にずれが生じた際には、領域１４０６と領域１４０８との境界も当該ずれに応じてＸ方向にずれるようになる。従って、Ｓ１３０８では、第２検出パターン６４の光学特性に基づいて、領域１４０６と領域１４０８との境界を比較位置として取得する。

Ｓ１３０４での第２検出パターン６４の測定結果は、図１４（ｄ）のようになる。つまり、反応液が吐出されず、ＫインクおよびＹインクによりパターンが形成された領域１４０６では、Ｙインクによる記録領域８０２とＫインクによる記録領域８０４との境界において滲み領域８０６が生じ、Ｋインクの特性が強く表れ、低い光学反射率となる。そして、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向への移動によって、検出スポット３１０の領域１４０８への重なりが増すに従って、領域１４０８の影響により光学反射率が増加する。また、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向への更なる移動によって、検出スポット３１０の全体が領域１４０８に入ると、滲み領域８０６がなくなり、Ｙインクの特性が表れて光学反射率は高い値で一定となる。従って、領域１４０６と領域１４０８との境界は、検出スポット３１０全体が、領域１４０６に位置するときの光学反射率と、領域１４０８に位置するときの光学反射率との中間値の光学反射率となることがわかる。

このため、Ｓ１３０８では、まず、領域１４０６側において予め設定された測定位置１４１４の光学反射率を取得し、取得した光学反射率の平均値Ｒ７を取得する。測定位置１４１４としては、例えば、領域１４０６におけるＸ方向での中央位置、具体的には、２７０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉ近傍の５点とする。次に、領域１４０８側において予め設定された測定位置１４１６の光学反射率を取得し、取得した光学反射率の平均値Ｒ８を取得する。測定位置１４１６としては、例えば、取得した光学反射率のＸ方向での中央位置、具体的には、８１０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉ近傍の５点とする。各測定値の光学反射率は、メモリ５０８などの記憶領域に記憶されたＳ１３０４での測定結果に基づく。

その後、平均値Ｒ７と平均値Ｒ８との中間値を求め、求めた中間値となる位置を比較位置１４２２として取得する。メモリ５０８などの記憶領域には、Ｓ１３０４で測定した第２検出パターン６４における測定位置と光学反射率とが関連付けられて記憶されている。従って、記憶領域に記録された情報を参照して、光学反射率が（Ｒ７＋Ｒ８）／２と一致、あるいは、最も近似する測定位置を比較位置１４２２として取得する。なお、測定位置１４１４、１４１６については、５点に限定されるものではなく、１～４点、あるいは６点以上であってもよい。また、測定位置１４１４は、検出スポット３１０が領域１４０６内にのみ位置する位置であればどこでもよく、測定位置１４１６は、検出スポット３１０が領域１４０８内にのみ位置する位置であればどこでもよい。

比較位置１４２２を取得すると、次に、ＣＰＵ５０２は、基準位置１４２０および比較位置１４２２に基づいて、往方向での反応液の吐出位置に対する復方向での反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得し（Ｓ１３１０）、この取得処理を終了する。Ｓ１３１０では、基準位置１４２０を表すエンコーダ信号値と、比較位置１４２２を表すエンコーダ信号値との差分を取得し、取得した差分を、往方向における反応液の吐出位置に対する、復方向における反応液の相対的な吐出位置のずれ量とする。

取得処理において反応液の吐出位置のずれ量を取得すると、制御部１００では、当該ずれ量に基づいて、復方向の反応液の吐出位置が、往方向の反応液の吐出位置と一致するように、復方向での反応液の吐出タイミングを補正する補正値を算出することとなる。そして、制御部１００は、記録媒体に記録を行う記録処理の際に、算出した補正値を用いて、ヘッドユニット２４における反応液の吐出のタイミングを補正しながら記録する。なお、上記説明では、取得したずれ量に基づいて、復方向での反応液の吐出位置を補正するようにしたが、これ限定されるものではない。つまり、往方向での反応液の吐出位置を補正するようにしてもよいし、往方向および復方向での反応液の吐出位置の両方を補正するようにしてもよい。

以上において説明したように、第２実施形態による記録装置１０では、第１検出パターン６２および第２検出パターン６４は共に、＋Ｘ方向下流側の半分の領域に反応液を吐出し、＋Ｘ方向の全域にＫインクとＹインクとを吐出するパターンとした。そして、第１検出パターン６２では、反応液を往方向へ走査しながら吐出し、第２検出パターン６４では、反応液を復方向へ走査しながら吐出するようにした。その後、第１検出パターン６２の光学特性に基づいて、往方向での反応液の吐出位置を表す基準位置１４２０を取得し、第２検出パターン６４の光学特性に基づいて、復方向での反応液の吐出位置を表す比較位置１４２２を取得するようにした。そして、基準位置１４２０と比較位置１４２２とに基づいて、往方向での反応液の吐出位置に対する、復方向での反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得するようにした。

これにより、インクを吐出する吐出ヘッド４２と、反応液を吐出する吐出ヘッド４４とが別体で構成されていても、テストパターン６０により、反応液の吐出位置のずれ量を取得することができる。即ち、吐出ヘッドの構成によらず、テストパターン６０により、往方向での反応液の吐出位置に対する、復方向での反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得することができるようになる。

（第３実施形態）
次に、図１５乃至図１８を参照しながら、第３実施形態による記録装置について説明する。以下の説明では、上記した第１実施形態による記録装置と同一または相当する構成については、第１実施形態で用いた符号と同一の符号を用いることにより、その詳細な説明を省略する。

第３実施形態では、インクおよび反応液の吐出時の走査方向と交差する方向における、インクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得するようにした点において、上記第１実施形態と異なっている。従って、本実施形態では、「反応液の吐出位置のずれ量」とは、「Ｙ方向におけるインクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量」を意味することとなる。また、本実施形態による記録装置１０で実行される取得処理は、Ｙ方向におけるインクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得する処理となる。

本実施形態による記録装置１０では、搬送ローラ２３にはロータリーエンコーダ（不図示）が設けられており、このロータリーエンコーダから出力されるエンコーダ信号値に応じて、記録媒体の搬送量を取得可能な構成となっている。つまり、記録装置１０では、このエンコーダ信号値に基づいて、Ｙ方向における位置情報が取得可能な構成となっている。

＝テストパターン＝
まず、本実施形態による記録装置１０で実行される取得処理に用いられるテストパターン６０について説明する。図１５は、本実施形態による記録装置１０で実行される取得処理に用いるテストパターンが示されており、図１５では、インクおよび反応液を吐出するヘッドユニットに対応させて示されている。図１６は、テストパターン６０を構成する検出パターンの構成パターンを示す図である。

本実施形態では、テストパターン６０は、Ｙ方向における反応液の吐出位置を検出するための検出パターン１５００を備えている（図１５参照）。即ち、検出パターン１５００は、Ｙ方向において、基準とするインクの吐出位置に対する反応液の吐出位置のずれ量を取得するためのパターンである。

テストパターン６０は、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向への１回の走査で記録される。検出パターン１５００は、第１実施形態の第２検出パターン６４を時計回りに９０度だけ回転させたパターンとなっている。従って、本実施形態では、検出パターン１５００は、Ｙ方向において、１ｄｏｔ／１２００ｄｐｉから１０８０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉ、Ｘ方向において、１ｄｏｔ／１２００ｄｐｉから１８０ｄｏｔ／１２００ｄｐｉの領域で記録されることとなる。

検出パターン１５００は、反応液を吐出するための第９パターン１６０２と、ＫインクおよびＹインクを吐出するための第１０パターン１６０４とから構成される（図１６参照）。第９パターン１６０２および第１０パターン１６０４はそれぞれ、Ｘ方向において長さＬ２を備え、Ｙ方向において長さＬ１を備える。長さＬ１は、１２００ｄｐｉの解像度で１０８０ドットを記録した長さであり、長さＬ２は、１２００ｄｐｉの解像度で１８０ドットを記録した長さである。

第９パターン１６０２は、＋Ｙ方向下流側に位置する半分に反応液を吐出しない非吐出領域が形成され、＋Ｙ方向下上流側に位置する半分に反応液を吐出する吐出領域が形成されている。即ち、第９パターン１６０２では、＋Ｙ方向上流側の半分の領域に対して、１２００ｄｐｉの解像度で反応液を吐出するパターンとなっている。従って、第９パターン１６０２では、吐出口列４６ＲＣＴにおける＋Ｙ方向上流側に存在する５４０個の吐出口３２において、１２００ｄｐｉの解像度で記録されるように反応液が吐出される。つまり、第９パターン１６０２は、吐出口列４６ＲＣＴにおいて、１０８０個ある吐出口３２のうち、＋Ｙ方向上流側の５４０個の吐出口３２を用いて記録されることとなる。

第１０パターン１６０４は、全領域において、Ｋインクによる記録領域とＹインクによる記録領域とが互いに隣接するようにＸ方向において交互に記録されたパターンとなっている。ＫインクおよびＹインクは共に、各記録領域において１２００ｄｐｉの解像度で記録される。Ｋインクによる記録領域およびＹインクによる記録領域のＸ方向の長さＬ３は、第１０パターン１６０４においてそれぞれの記録領域が複数形成されるように、長さＬ２の半分よりも小さい値となっている。本実施形態では、長さＬ３は、１２００ｄｐｉの解像度で２０ドット分の長さとする。従って、本実施形態では、第１０パターン１６０４は、５つのＹインクによる記録領域と４つのＫインクによる記録領域とが形成されることとなる。第１０パターン１６０４では、吐出口列４６Ｋにおいて全吐出口３２から１２００ｄｐｉの解像度で記録されるようにＫインクが吐出されるとともに、吐出口列４６Ｙにおいて全吐出口３２から１２００ｄｐｉの解像度で記録されるようにＹインクが吐出される。

＝取得処理＝
調整スイッチ５２０が操作されると、記録装置１０では、Ｙ方向におけるインクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得するための取得処理を行う。図１７は、本実施形態による記録装置で実行される取得処理の詳細な処理ルーチンを示すフローチャートである。図１８（ａ）は、記録した検出パターンを示す図であり、図１８（ｂ）は、図１８（ａ）の検出パターンにおけるＹ方向での光学特性の変化を示す図である。

図１７のフローチャートで示される一連の処理は、ＣＰＵ５０２が、ＲＯＭ５０４に記憶されているプログラムコードをＲＡＭ５０６に展開して実行されることにより行われる。あるいはまた、図１７におけるステップの一部または全部の機能をＡＳＩＣまたは電気回路などのハードウェアで実行してもよい。なお、各処理の説明における符号Ｓは、当該フローチャートにおけるステップであることを意味する。

取得処理が開始されると、まず、ＣＰＵ５０２が、記録媒体に対してテストパターン６０を記録する（Ｓ１７０２）。メモリ５０８には、テストパターン６０を形成するためのパターンとして、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向への１回の走査により検出パターン１５００を記録可能なパターンが格納されている。Ｓ１７０２では、これらのパターンを用いて、ヘッドユニット２４の＋Ｘ方向への１回の走。査時に、反応液とＫインクおよびＹインクとによりテストパターン６０（検出パターン１５００）を記録する。

記録された検出パターン１５００は、図１８（ａ）のように、＋Ｙ方向上流側の半分の領域１８０２において、反応液とともにＫインクおよびＹインクが吐出される。また、＋Ｙ方向下流側の半分の領域１８０４において、ＫインクおよびＹインクが吐出される。ヘッドユニット２４では、図４のように、吐出口列４６ＲＣＴが、吐出口列４６Ｋおよび吐出口列４６Ｙよりも＋Ｘ方向下流側に位置する。このため、＋Ｘ方向の１回の走査で記録される検出パターン１５００は、領域１８０２では、反応液が吐出された後に、ＫインクおよびＹインクが吐出される。また、領域１８０４では、反応液が吐出されることなくＫインクおよびＹインクが吐出される。このため、領域１８０４では、Ｙインクによる記録領域とＫインクによる記録領域との境界に滲み領域が生じ、領域１８０２では、当該境界に滲み領域が生じない。さらに、反応液の存在によって、領域１８０２と領域１８０４との境界でも滲みは生じない。

テストパターン６０を記録すると、次に、ＣＰＵ５０２は、記録されたテストパターン６０の光学特性を測定する（Ｓ１７０４）。つまり、１７０４では、検出パターン１５００の光学特性を測定して、当該光学特性のＹ方向における変化を取得することとなる。具体的には、まず、光学センサ２００の検出スポット３１０の中心が、Ｙ方向において検出パターン１５００の中心と重なる位置までヘッドユニット２４を移動する。また、検出スポット３１０が、検出パターン１５００の＋Ｙ方向下流側の端部と重なる位置まで記録媒体Ｐを搬送する。その後、記録媒体Ｐを－Ｙ方向に搬送させながら、例えば、２４００ｄｐｉの間隔で、光学センサ２００により領域１８０２および領域１８０４の光学特性（光学反射率）を測定する。なお、測定結果は、その測定位置とともに記憶領域に記憶される。このときの位置情報は、搬送ローラ２３に設けられたロータリーエンコーダのエンコーダ信号値となる。

テストパターン６０の光学特性を測定すると、次に、ＣＰＵ５０２は、反応液の吐出位置に相当し、基準位置と比較するため比較位置を取得する（Ｓ１７０６）。本実施形態では、＋Ｘ方向で走査しながら、検出パターン１５００の＋Ｙ方向上流側の半分の領域に反応液を吐出し、その上に、検出パターン１５００の全域にＫインクおよびＹインクを吐出している。このため、Ｙ方向において反応液の吐出位置にずれが生じた際には、領域１８０２と領域１８０４との境界も当該ずれに応じてＹ方向にずれるようになる。従って、Ｓ１７０６では、検出パターン１５００の光学特性に基づいて、領域１８０２と領域１８０４との境界を比較位置として取得する。

Ｓ１７０４での検出パターン１５００の測定結果は、図１８（ｂ）のようになる。つまり、反応液が吐出されず、ＫインクおよびＹインクによりパターンが形成された領域１８０４では、Ｙインクによる記録領域とＫインクによる記録領域との境界において滲み領域が生じ、Ｋインクの特性が強く表れ、低い光学反射率となる。そして、記録媒体Ｐの－Ｙ方向への移動によって、検出スポット３１０の領域１８０２への重なりが増すに従って、領域１８０２の影響により光学反射率が増加する。また、記録媒体Ｐの－Ｙ方向への更なる移動によって、検出スポット３１０の全体が領域１８０２に入ると、上記滲み領域がなくなり、Ｙインクの特性が表れて光学反射率は高い値で一定となる。従って、領域１８０２と領域１８０４との境界は、検出スポット３１０全体が、領域１８０２に位置するときの光学反射率と、領域１８０４に位置するときの光学反射率との中間値の光学反射率となることがわかる。

このため、Ｓ１７０６では、まず、領域１８０４側において予め設定された測定位置１８０６の光学反射率を取得し、取得した光学反射率の平均値Ｒ９を取得する。測定位置１８０６としては、例えば、領域１８０４におけるＹ方向での中央位置近傍の５点とする。次に、領域１８０２側において予め設定された測定位置１８１８の光学反射率を取得し、取得した光学反射率の平均値Ｒ１０を取得する。測定位置１８１８としては、領域１８０２におけるＹ方向での中央位置近傍の５点とする。各測定位置の光学反射率は、メモリ５０８などの記憶領域に記憶されたＳ１７０４の測定結果に基づく。

その後、平均値Ｒ９と平均値Ｒ１０との中間値を求め、求めた中間値となる位置を比較位置１８１０として所得する。メモリ５０８などの記憶領域には、Ｓ１７０４で測定した検出パターン１５００における測定位置と光学反射率とが関連付けて記憶されている。従って、記録領域に記憶された情報を参照して、光学反射率が（Ｒ９＋Ｒ１０）／２と一致、あるいは、最も近似する測定位置を比較位置１８１０として取得する。なお、測定位置１８０６、１８１８については、５つの限定されるものではなく、１～４点、あるいは６点以上であってもよい。また、測定位置１８０６は、検出スポット３１０が領域１８０４内にのみ位置する位置であればどこでもよく、測定位置１８１８は、検出スポット３１０が領域１８０２内にのみ位置する位置であればどこでもよい。

比較位置を取得すると、次に、ＣＰＵ５０２は、予め設定された基準位置と、比較位置１８１０とに基づいて、Ｙ方向における、インクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得し（Ｓ１７０８）、この取得処理を終了する。本実施形態では、事前に、搬送ローラ２３に設けられたロータリーエンコーダにおけるエンコーダ信号と、Ｙ方向に延在する吐出口列４６の各吐出口３２の位置とで同期がとられている。従って、検出パターン１５００のＹ方向における中央位置（本実施形態では５４１ｄｏｔ／１２００ｄｐｉ）の吐出口３２に対応するエンコーダ信号値が基準位置として設定されている。従って、Ｓ１７０８では、予め設定されている基準位置を表すエンコーダ信号値と、比較位置１８１０を表すエンコーダ信号値との差分を、Ｙ反応液の吐出位置のずれ量として取得する。

取得処理において反応液の吐出位置のずれ量を取得すると、制御部１００では、当該ずれ量に基づいて、反応液の吐出位置がインクの吐出位置と一致するように、反応液を吐出する吐出口の位置を変更するよう補正することとなる。そして、制御部１００は、記録媒体に記録を行う記録処理の際に、反応液を吐出する吐出口を補正値ながら、記録を行うこととなる。

以上において説明したように、第３実施形態による記録装置１０では、Ｙ方向におけるインクの吐出位置に対する反応液の吐出位置のずれ量を取得するために、Ｙ方向に延在する検出パターン１５００により構成されるテストパターン６０を記録するようにした。検出パターン１５００は、Ｙ方向で２分割した際の、＋Ｙ方向上流側の半分に反応液とともにＫインクおよびＹインクが吐出される領域１８０２が形成される。また、＋Ｙ方向下流側の半分に反応液は吐出されずＫインクおよびＹインクが吐出される領域１８０４が形成される。そして、光学センサ２００により、検出パターン１５００のＹ方向における光学反射率の変化を取得する。そして、この変化に基づいて、反応液の吐出位置である比較位置１８１０を取得する。その後、予め設定されている基準位置と比較位置１８１０とに基づいて、Ｙ方向における、インクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得するようにした。

これにより、吐出ヘッドの構成によらず、検出パターン１５００から構成されるテストパターン６０により、Ｙ方向における、インクの吐出位置に対する反応液の相対的な吐出位置のずれ量を取得することができるようになる。

（他の実施形態）
なお、上記実施形態は、以下の（１）乃至（１１）に示すように変形してもよい。

（１）上記各実施形態では、第４パターン７８、第６パターン１２０４、第８パターン１２０８、および第１０パターン１６０４を、ＫインクおよびＹインクの２色のインクで構成するようにしたが、これに限定されるものではない。２色のインクとしては公知の種々のインクを用いることができるが、光学特性に所定以上の差がある２色のインクを用いることが好ましい。または、３色以上のインクを用いるようにしてもよい。上記各実施形態では、第４パターン７８、第６パターン１２０４、第８パターン１２０８、および第１０パターン１６０４を、２色のインクの吐出領域が、所定方向に延在し、所定方向と交差する方向に交互に配置された罫線パターンとしたが、これに限定されない。異なるインクが隣接する幾何学的なパターンであればよく、例えば、図１９に示すような、一方のインクによる格子と、他方のインクによる格子とが交互に配置された市松模様（千鳥格子状）のパターンとしてもよい。

（２）上記第１実施形態では、第１検出パターン６２を用いて基準位置１１１０を取得するようにしたが、これに限定されるものではない。事前に、エンコーダ信号によるＸ方向の位置と、Ｋインクの着弾位置とを同期させておき、Ｘ方向における５４１ｄｏｔ／１２００ｄｐｉでＫインクを吐出するエンコーダ信号値を基準信号として設定するようにしてもよい。また、上記第３実施形態では、基準位置を予め設定するようにしたが、これに限定されるものではない。第１実施形態のように、基準位置を取得するための検出パターンを記録して、当該検出パターンの光学特性に基づいて基準位置を取得するようにしてもよい。基準位置を取得するための検出パターンとしては、例えば、第１実施形態における第１検出パターン６２を、時計回りに９０度だけ回転したパターンとなる。

（３）上記実施形態では特に記載しなかったが、反応液は、色材を含有しないものが用いられるが、画質に影響を与えない範囲であれば、色材を含有するものを用いてもよい。また、上記実施形態では特に記載しなかったが、吐出ヘッド４２、４４は、電気熱変換素子を用いてインクの吐出を行う、所謂、サーマル方式、ピエゾ素子を用いてインクの吐出を行う、所謂、ピエゾ方式など、公知の種々のインクの吐出方式が適用される。

（４）上記実施形態では、記録装置の制御部１００において、取得処理を実行し、取得したずれ量に基づいて、反応液の吐出位置を補正するようにしたが、これに限定されるものではない。例えば、ホスト装置１１０などの記録装置１０と別体で設けられた装置により、記録装置１０を制御して取得処理を実行し、取得処理で取得したずれ量に基づいて、当該装置あるいは制御部１００において、反応液の吐出位置を補正するようにしてもよい。また、取得処理で取得したずれ量に基づいて、反応液の吐出位置を補正するようにしたが、これに限定されるものではなく、インクの吐出位置を補正するようにしてもよいし、インクおよび反応液の吐出位置を補正するようにしてもよい。

（５）上記実施形態では特に記載しなかったが、第４パターン７８、第６パターン１２０４、第８パターン１２０８、および第１０パターン１６０４は、Ｋインク、Ｙインクの記録領域の短手方向の長さＬ３を異ならせたパターンを複数用意するようにしてもよい。インクの滲みは記録媒体の液体の吸収性によって、その程度が異なる。従って、記録媒体の吸収性に応じて、用意した複数のパターンのいずれかを選択するようにしてもよい。具体的には、滲みの生じ難い、つまり、記録媒体の吸収性が高いほど長さＬ３が短くし、滲みの生じ易い、つまり、記録媒体の吸収性が低いほど長さＬ３は長くする。なお、第４パターン７８などとして、図１９のパターンを用いた場合には、記録媒体の吸収性に応じて、各格子の大きさが変化することとなる。具体的には、記録媒体の吸収性が低いほど格子の１辺の長さが長くなり、記録媒体の吸収性が高いほど格子の１辺の長さが短くなる。

（６）上記実施形態では特に記載しなかったが、検出スポット３１０内の、Ｋインクの吐出領域とＹインクの吐出領域との接触部の長さは、検出スポット３１０の外周をＬとしたときに、Ｌ／４以上、Ｌ²／１２以下とする。なお、上記接触部の長さとは、検出スポット３１０内に位置する、Ｋインクの吐出領域とＹインクの吐出領域との境界部分の長さの総和である。上記実施形態では特に記載しなかったが、光学センサ２００の可視ＬＥＤで実現される発光部３０２の光源色は、吐出するインク（Ｋインクは除く）の色において、光３０６を吸収しやすく、かつ、反射光量が小さい光源色が好ましい。例えば、Ｙインクに対して赤色の可視ＬＥＤなどが好ましい。

（７）上記実施形態では、テストパターン６０において、インクおよび反応液を共に１２００ｄｐｉの解像度で記録するようにしたが、これに限定されるものではない。反応液はその上に吐出されるインクの滲みを抑制可能であればよいため、反応液は、例えば、インクの解像度よりも低い解像度で記録、つまり、インクよりも少ない吐出量としてもよい。また、インクについても、反応液が存在しない状態で、記録媒体上で滲みが生じさせるため、１２００ｄｐｉの解像度よりも、高い解像度であってもよいし、低い解像度であってもよい。

（８）上記実施形態では、第３パターン７６、第５パターン１２０２、第７パターン１２０６、第９パターン１６０２について、反応液を吐出する吐出領域と、反応液を吐出しない非吐出領域により形成されるようにしたが、これに限定されるものではない。上記４つのパターンが用いられる各検出パターンでは、吐出領域が位置する部分と、非吐出領域が位置する部分との間で滲みによる濃度差が生じればよい。このため、上記４つのパターンの非吐出領域については、検出パターンにおいて吐出領域が位置する部分と非吐出領域が位置する部分との間で滲みが生じる程度に少量の反応液を吐出する低吐出領域してもよい。低吐出領域に吐出する反応液の量としては、例えば、吐出領域に吐出する量の４分の３以下（３／４倍以下）とする。なお、低吐出領域に吐出される反応液の量については、使用するインクおよび反応液の特性に応じて適宜に設定される。

（９）上記第１実施形態および第３実施形態では、記録装置１０として、Ｘ方向に走査しながらインク、反応液を吐出する記録動作と、Ｙ方向に記録媒体Ｐを搬送する搬送動作とにより記録を行う、所謂、シリアルスキャンタイプの記録装置を例として説明した。しかしながら、本実施形態による記録装置については、これに限定されるものではない。つまり、記録装置１０は、記録媒体Ｐにおける記録領域に亘って吐出口が配列された吐出ヘッドから、吐出口の配列方向と交差する方向に搬送される記録媒体に対してインク、反応液を吐出して記録する、所謂、フルラインタイプの記録装置としてもよい。

（１０）上記実施形態では特に記載しなかったが、記録装置１０は、上記した各実施形態における取得処理を選択的に実行可能な構成としてもよい。上記実施形態では特に記載しなかったが、取得処理により取得したずれ量に基づいて、反応液の吐出位置を補正する方法については、公知の種々の技術を適用することができる。

（１１）上記実施形態および（１）乃至（１０）に示す各種の形態は、適宜に組み合わせるようにしてもよい。本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサがプログラムを読出し事項する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。

１０ 記録装置
２４ ヘッドユニット
１００ 制御部

Claims (21)

1. 記録媒体に対して、互いに材料が異なる複数のインクと、該インクと反応して該インクの固化を促す反応液と、を吐出して記録する記録手段と、
   記録物の光学特性を測定可能な測定手段と、
   前記複数のインクのうちの少なくとも２つのインクと前記反応液とを用いて、前記少なくとも２つのインク間で滲みを生じさせたテストパターンを記録するよう前記記録手段を制御するとともに、記録された前記テストパターンの光学特性を測定するよう前記測定手段を制御する制御手段と、
   前記測定手段で測定した前記テストパターンの光学特性に基づいて、前記反応液の吐出位置のずれ量を取得する取得手段と、を備え、前記ずれ量を補正して記録する記録装置であって、
   前記テストパターンは、所定方向に延在し、前記所定方向で２分割したときの、一方の領域には前記少なくとも２つのインクと前記反応液とが吐出され、他方の領域には前記少なくとも２つのインクのみ、あるいは前記少なくとも２つのインクと前記一方の領域よりも少量の前記反応液とが吐出される検出パターンを含み、
   前記検出パターンは、
   前記一方の領域に前記反応液のみが吐出される吐出領域と、前記他方の領域に前記反応液および前記複数のインクが吐出されない非吐出領域と、を備えた第１のパターンと、
   前記所定方向の全域に、前記複数のインクのうちの２つのインクの、一方のインクが吐出される吐出領域と、他方のインクが吐出される吐出領域と、が前記所定方向と交差する方向に交互に配置される第２のパターンと、から構成され、
   前記取得手段は、前記検出パターンの光学特性に基づいて、前記一方の領域と前記他方の領域との境界を取得し、取得した境界に応じて前記所定方向における前記ずれ量を取得することを特徴とする記録装置。
2. 前記記録手段には、前記複数のインクおよび前記反応液を吐出するための複数の吐出口が配列されており、
   前記所定方向は、前記吐出口の配列方向と交差する方向であることを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
3. 前記記録手段には、前記複数のインクおよび前記反応液を吐出するための複数の吐出口が配列されており、
   前記所定方向は、前記吐出口の配列方向と一致する方向であることを特徴とする請求項１に記録装置。
4. 前記取得手段は、前記検出パターンの光学特性に基づいて前記反応液の吐出位置を取得し、前記複数のインクの吐出位置に対する前記反応液の吐出位置に応じて、前記ずれ量として、前記所定方向における前記複数のインクの吐出位置に対する前記反応液の吐出位置のずれ量を取得することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の記録装置。
5. 前記記録手段は、記録媒体に対して前記所定方向で往復移動しながら前記複数のインクおよび前記反応液を吐出して記録し、
   前記テストパターンは、２つの前記検出パターンから構成され、
   前記制御手段は、
   前記第１のパターンに基づいて、前記所定方向における往方向で前記記録手段を移動しながら前記反応液を吐出した後に、前記第２のパターンに基づいて、前記往方向で前記記録手段を移動しながら前記２つのインクを吐出して、一方の検出パターンを記録し、
   前記第１のパターンに基づいて、前記所定方向における復方向で前記記録手段を移動しながら前記反応液を吐出した後に、前記第２のパターンに基づいて、前記往方向で前記記録手段を移動しながら前記２つのインクを吐出して、他方の検出パターンを記録し、
   前記取得手段は、
   前記一方の検出パターンの光学特性に基づいて、前記一方の検出パターンにおける前記一方の領域と前記他方の領域との境界を取得し、取得した境界に応じて、前記往方向における前記反応液の吐出位置を取得し、
   前記他方の検出パターンの光学特性に基づいて、前記他方の検出パターンにおける前記一方の領域と前記他方の領域との境界を取得し、取得した境界に応じて、前記復方向における前記反応液の吐出位置を取得し、
   前記ずれ量として、前記往方向における前記反応液の吐出位置に対する復方向における前記反応液の吐出位置のずれ量を取得することを特徴とする請求項２に記載の記録装置。
6. 前記第２のパターンは、記録媒体の吸収性に応じて、前記２つのインクの吐出領域の、前記所定方向と交差する方向の長さが変化することを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の記録装置。
7. 前記測定手段において光学特性を検出する検出範囲の外周をＬとすると、前記検出範囲内の前記一方のインクの吐出領域と前記他方のインクの吐出領域との接触部の長さは、Ｌ／４以上、Ｌ²／１２以下であることを特徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載の記録装置。
8. 記録媒体に対して、互いに材料が異なる複数のインクと、該インクと反応して該インクの固化を促す反応液と、を吐出して記録する記録手段と、
   記録物の光学特性を測定可能な測定手段と、
   前記複数のインクのうちの少なくとも２つのインクと前記反応液とを用いて、前記少なくとも２つのインク間で滲みを生じさせたテストパターンを記録するよう前記記録手段を制御するとともに、記録された前記テストパターンの光学特性を測定するよう前記測定手段を制御する制御手段と、
   前記測定手段で測定した前記テストパターンの光学特性に基づいて、前記反応液の吐出位置のずれ量を取得する取得手段と、を備え、前記ずれ量を補正して記録する記録装置であって、
   前記テストパターンは、所定方向に延在し、前記所定方向で２分割したときの、一方の領域には前記少なくとも２つのインクと前記反応液とが吐出され、他方の領域には前記少なくとも２つのインクのみ、あるいは前記少なくとも２つのインクと前記一方の領域よりも少量の前記反応液とが吐出される検出パターンを含み、
   前記検出パターンは、
   前記一方の領域に前記反応液のみが吐出される吐出領域と、前記他方の領域に前記反応液および前記複数のインクが吐出されない非吐出領域と、を備えた第１のパターンと、
   前記所定方向の全域に、前記複数のインクのうちの２つのインクの、一方のインクによる格子と、他方のインクによる格子とによって市松模様が形成された第２のパターンと、から構成され、
   前記取得手段は、前記検出パターンの光学特性に基づいて、前記一方の領域と前記他方の領域との境界を取得し、取得した境界に応じて前記所定方向における前記ずれ量を取得することを特徴とする記録装置。
9. 前記第２のパターンは、記録媒体の吸収性に応じて前記格子の大きさが変化することを特徴とする請求項８に記載の記録装置。
10. 前記取得手段は、前記検出パターンの、前記一方の領域での光学特性と、前記他方の領域での光学特性とに基づいて、前記一方の領域と前記他方の領域との境界を、前記反応液の吐出位置として取得することを特徴とする請求項１から９のいずれか１項に記載の記録装置。
11. 前記一方の領域での光学特性は、前記測定手段において光学特性を検出する検出範囲が、前記一方の領域内にのみ位置する測定位置で測定した第１の光学特性であり、
    前記他方の領域での光学特性は、前記検出範囲が、前記他方の領域にのみ位置する測定位置で測定した第２の光学特性であることを特徴とする請求項１０に記載の記録装置。
12. 前記第１の光学特性および前記第２の光学特性は、複数の測定位置における光学特性の平均値であることを特徴とする請求項１１に記載の記録装置。
13. 前記境界は、前記第１の光学特性と前記第２の光学特性との和を２で除算した値と一致または近似する光学特性を示す位置とすることを特徴とする請求項１１または１２に記載の記録装置。
14. 前記ずれ量に基づいて、前記複数のインクの吐出位置および前記反応液の吐出位置の少なくとも一方を補正する補正手段をさらに有することを特徴とする請求項１から１３のいずれか１項に記載の記録装置。
15. 前記検出パターンに用いられるインクは、ブラックインクを含むことを特徴とする請求項１から１４のいずれか１項に記載の記録装置。
16. 前記測定手段で測定する光学特性は、光学反射率であることを特徴とする請求項１から１５のいずれか１項に記載の記録装置。
17. 前記テストパターンはさらに、前記所定方向に延在し、前記所定方向の前記一方の領域には、前記反応液と前記少なくとも２つのインクのうちのいずれかのインクが吐出され、前記所定方向の前記他方の領域には、前記反応液のみが吐出される基準パターンを含み、
    前記取得手段は、前記基準パターンの光学特性に基づいて前記複数のインクの吐出位置を取得し、取得した前記複数のインクの吐出位置と前記反応液の吐出位置とに基づいて、前記所定方向におけるずれ量を取得することを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の記録装置。
18. 前記検出パターンの前記他方の領域に吐出される前記反応液は、前記一方の領域に吐出される前記反応液の量の４分の３以下の量であることを特徴とする請求項１から１７のいずれか１項に記載の記録装置。
19. 記録媒体に対して、互いに材料が異なる複数のインクと、該インクと反応して該インクの固化を促す反応液と、を吐出して記録する記録装置における記録方法であって、
    所定方向に延在し、前記所定方向で２分割したときの、一方の領域には前記複数のインクのうちの少なくとも２つのインクと前記反応液とが吐出され、他方の領域には前記少なくとも２つのインクのみ、あるいは前記少なくとも２つのインクと前記一方の領域よりも少量の前記反応液とが吐出される検出パターンを含むテストパターンを記録する記録工程と、
    前記記録工程で記録された前記テストパターンの光学特性を測定する測定工程と、
    前記測定工程で測定した前記テストパターンの光学特性に基づいて、前記一方の領域と前記他方の領域との境界を取得し、取得した境界に応じて前記所定方向における前記反応液の吐出位置のずれ量を取得する取得工程と、
    前記取得工程で取得した前記ずれ量を補正して記録する記録工程と、を有し、
    前記検出パターンは、
    前記一方の領域に前記反応液のみが吐出される吐出領域と、前記他方の領域に前記反応液および前記複数のインクが吐出されない非吐出領域と、を備えた第１のパターンと、
    前記所定方向の全域に、前記複数のインクのうちの２つのインクの、一方のインクが吐出される吐出領域と、他方のインクが吐出される吐出領域と、が前記所定方向と交差する方向に交互に配置される第２のパターンと、から構成される記録方法。
20. 記録媒体に対して、互いに材料が異なる複数のインクと、該インクと反応して該インクの固化を促す反応液と、を吐出して記録する記録手段と、
    記録物の光学特性を測定可能な測定手段と、を備えた記録装置を制御する制御装置であって、
    所定方向に延在し、前記所定方向で２分割したときの、一方の領域には前記複数のインクのうちの少なくとも２つのインクと前記反応液とが吐出され、他方の領域には前記少なくとも２つのインクのみ、あるいは前記少なくとも２つのインクと前記一方の領域よりも少量の前記反応液とが吐出される検出パターンを含むテストパターンを前記記録手段に記録させ、
    記録された前記検出パターンの光学特性を前記測定手段に測定させ、
    測定された前記検出パターンの光学特性に基づいて、前記一方の領域と前記他方の領域との境界を取得し、取得した境界に応じて前記所定方向における前記反応液の吐出位置のずれ量を取得し、
    前記検出パターンは、
    前記一方の領域に前記反応液のみが吐出される吐出領域と、前記他方の領域に前記反応液および前記複数のインクが吐出されない非吐出領域と、を備えた第１のパターンと、
    前記所定方向の全域に、前記複数のインクのうちの２つのインクの、一方のインクが吐出される吐出領域と、他方のインクが吐出される吐出領域と、が前記所定方向と交差する方向に交互に配置される第２のパターンと、から構成されることを特徴とする制御装置。
21. 請求項２０に記載の制御装置として、コンピュータを機能させるためのプログラム。