JP7845482B2 - 統合システム、組織サーバ、統合方法、分析方法、およびプログラム - Google Patents
統合システム、組織サーバ、統合方法、分析方法、およびプログラムInfo
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Description
まず、実施の形態1では、情報処理システムの基本機能について説明する。図1は、実施の形態1にかかる情報処理システムの一構成例を示すブロック図である。情報処理システム1は、所定の装置を利用する組織が保有する稼働データを用いた所定の装置の予兆保全のためのローカルモデルのパラメータについて、統合するためのシステムである。情報処理システム1は、統合システム10と、複数の組織サーバ11と、を備える。以降の説明において、ローカルモデルやグローバルモデルを特定しない場合、単にモデルと呼ぶ場合がある。
図2は、実施の形態1にかかる統合システム10の一動作例を示すフローチャートである。統合システム10において、取得部101は、複数のローカルモデルのそれぞれについての秘匿化されたパラメータを取得する(ステップS101)。統合部102は、秘匿化されたパラメータを統合する(ステップS102)。提供部103は、グローバルモデルのパラメータを提供する(ステップS103)。統合システム10は、処理を終了する。
つぎに、実施の形態2について図面を参照して詳細に説明する。実施の形態2では、予兆保全を分析する例を説明する。実施の形態2では、以下、本実施の形態2の説明が不明確にならない範囲で、前述の説明と重複する内容については説明を省略する。
図6は、実施の形態2にかかる情報処理システム1の一動作例を示すフローチャートである。モデル生成部は、稼働データに基づいて、ローカルモデルを生成する(ステップS201)。秘匿化部112は、ローカルモデルのパラメータを、秘密計算を用いて秘匿化する(ステップS202)。出力部113は、統合システム10に、秘匿化されたパラメータを出力する(ステップS203)。
つぎに、各実施の形態において説明した統合システム10、組織サーバ11、端末装置12などの各装置をコンピュータで実現した場合のハードウェア構成例について説明する。図8は、コンピュータのハードウェア構成例を示す説明図である。各装置の一部または全部は、例えば図8に示すようなコンピュータ80とプログラムとの任意の組み合わせを用いて実現することも可能である。
複数の組織サーバのそれぞれについて、所定の装置に関する稼働データに基づいて学習されたローカルモデルであって、稼働データが入力されると前記所定の装置についての故障診断の結果を出力可能なローカルモデルの秘匿化されたパラメータを取得する取得手段と、
前記複数の組織サーバのそれぞれについての秘匿化されたパラメータを、統合することにより、グローバルモデルを生成する統合手段と、
前記複数の組織サーバに、生成された前記グローバルモデルの統合されたパラメータを提供する提供手段と、
を備える統合システム。
(付記2)
前記稼働データは、前記所定の装置内の各位置および各部品の少なくともいずれかについての環境に関する情報である、
付記1に記載の統合システム。
(付記3)
前記環境に関する情報は、電流値、電圧値、振動値、温度値、湿度値、圧力値、音の少なくともいずれかを含む、
付記2に記載の統合システム。
(付記4)
前記所定の装置が、モータを含む場合、前記稼働データは、前記モータの回転数である、
付記1から3のいずれかに記載の統合システム。
(付記5)
前記故障診断の結果は、前記所定の装置に含まれる部品の保全の必要性の結果である、
付記1から4のいずれかに記載の統合システム。
(付記6)
所定の装置の稼働状況を表す稼働データに基づいて、稼働データが入力されると、前記所定の装置の故障診断の結果を出力可能なローカルモデルを学習するモデル生成手段と、
前記ローカルモデルのパラメータを、秘密計算を用いて秘匿化する秘匿化手段と、
前記ローカルモデルの秘匿化されたパラメータを、統合システムへ出力する出力手段と、
前記統合システムから、前記統合システムにおいて統合されたグローバルモデルのパラメータを取得するパラメータ取得手段と、
取得された前記パラメータに基づく前記グローバルモデルに、新たな稼働データを入力して前記所定の装置の故障診断の結果を取得する分析手段と、
を備える組織サーバ。
(付記7)
取得された前記故障診断の結果を通知する出力制御手段、
、
を備える付記6に記載の組織サーバ。
(付記8)
取得された前記故障診断の結果に基づいて、前記所定の装置の保全に関する手配を行う保全実行手段、
を備える付記6または7に記載の組織サーバ。
(付記9)
前記保全実行手段は、取得された前記故障診断の結果に基づいて、前記所定の装置における必要な部品の発注を行う、
付記8に記載の組織サーバ。
(付記10)
複数の組織サーバのそれぞれについて、所定の装置に関する稼働データに基づいて学習されたローカルモデルであって、稼働データが入力されると前記所定の装置についての故障診断の結果を出力可能なローカルモデルの秘匿化されたパラメータを取得し、
前記複数の組織サーバのそれぞれについての秘匿化されたパラメータを統合することにより、グローバルモデルを生成し、
前記複数の組織サーバに、生成された前記グローバルモデルの統合されたパラメータを提供する、
統合方法。
(付記11)
所定の装置の稼働状況を表す稼働データに基づいて、稼働データが入力されると、前記所定の装置の故障診断の結果を出力可能なローカルモデルを学習し、
前記ローカルモデルのパラメータを、秘密計算を用いて秘匿化し、
前記ローカルモデルの秘匿化されたパラメータを、統合システムへ出力し、
前記統合システムから、前記統合システムにおいて統合されたグローバルモデルのパラメータを取得し、
取得された前記パラメータに基づく前記グローバルモデルに、新たな稼働データを入力して前記所定の装置の故障診断の結果を取得する、
分析方法。
(付記12)
コンピュータに、
複数の組織サーバのそれぞれについて、所定の装置に関する稼働データに基づいて学習されたローカルモデルであって、稼働データが入力されると前記所定の装置についての故障診断の結果を出力可能なローカルモデルの秘匿化されたパラメータを取得し、
前記複数の組織サーバのそれぞれについての秘匿化されたパラメータを統合することにより、グローバルモデルを生成し、
前記複数の組織サーバに、生成された前記グローバルモデルの統合されたパラメータを提供する、
処理を実行させるプログラムを記録する、前記コンピュータが読み取り可能な非一時的な記録媒体。
(付記13)
コンピュータに、
所定の装置の稼働状況を表す稼働データに基づいて、稼働データが入力されると、前記所定の装置の故障診断の結果を出力可能なローカルモデルを学習し、
前記ローカルモデルのパラメータを、秘密計算を用いて秘匿化し、
前記ローカルモデルの秘匿化されたパラメータを、統合システムへ出力し、
前記統合システムから、前記統合システムにおいて統合されたグローバルモデルのパラメータを取得し、
取得された前記パラメータに基づく前記グローバルモデルに、新たな稼働データを入力して前記所定の装置の故障診断の結果を取得する、
処理を実行させるプログラムを記録する、前記コンピュータが読み取り可能な非一時的な記録媒体。
(付記14)
コンピュータに、
複数の組織サーバのそれぞれについて、所定の装置に関する稼働データに基づいて学習されたローカルモデルであって、稼働データが入力されると前記所定の装置についての故障診断の結果を出力可能なローカルモデルの秘匿化されたパラメータを取得し、
前記複数の組織サーバのそれぞれについての秘匿化されたパラメータを統合することにより、グローバルモデルを生成し、
前記複数の組織サーバに、生成された前記グローバルモデルの統合されたパラメータを提供する、
処理を実行させるプログラム。
(付記15)
コンピュータに、
所定の装置の稼働状況を表す稼働データに基づいて、稼働データが入力されると、前記所定の装置の故障診断の結果を出力可能なローカルモデルを学習し、
前記ローカルモデルのパラメータを、秘密計算を用いて秘匿化し、
前記ローカルモデルの秘匿化されたパラメータを、統合システムへ出力し、
前記統合システムから、前記統合システムにおいて統合されたグローバルモデルのパラメータを取得し、
取得された前記パラメータに基づく前記グローバルモデルに、新たな稼働データを入力して前記所定の装置の故障診断の結果を取得する、
処理を実行させるプログラム。
10 統合システム
11,11a,11b 組織サーバ
12 端末装置
80 コンピュータ
101 取得部
102 統合部
103 提供部
111 ローカルモデル生成部
112 秘匿化部
113 出力部
114 パラメータ取得部
115 モデル記憶部
116 分析部
117 出力制御部
118 保全実行部
801 プロセッサ
802 ROM
803 RAM
804 記憶装置
805 通信インタフェース
806 入出力インタフェース
807 バス
NT 通信ネットワーク
Claims (13)
- 複数の組織サーバのそれぞれについて、所定の装置に関する稼働データに基づいて学習されたローカルモデルであって、稼働データが入力されると前記所定の装置についての故障診断の結果を出力可能なローカルモデルの秘匿化されたパラメータを取得する取得手段と、
前記複数の組織サーバのそれぞれについての秘匿化されたパラメータを統合することにより、グローバルモデルを生成する統合手段と、
前記複数の組織サーバに、生成された前記グローバルモデルの統合されたパラメータを提供する提供手段と、
を備え、
前記所定の装置は、半導体製造装置であり、
前記稼働データは、プロセスデータを含み、
前記半導体製造装置が成膜関連装置である場合、前記プロセスデータは、ガス流量、成膜時間、基板温度、Vpp(Voltage peak to peak)電圧およびVdc(Voltage direct current)電圧、DC(Direct Current)バイアス、および圧力を含み、
前記半導体製造装置が洗浄装置またはエッチング装置である場合、前記プロセスデータは、洗浄度、およびエッチ深さを含み、
前記半導体製造装置が拡散装置または熱酸化装置である場合、前記プロセスデータは、酸化膜の厚さ、およびシート抵抗を含み、
前記半導体製造装置がイオン注入装置またはアニール装置である場合、前記プロセスデータは、シート抵抗を含み、
前記半導体製造装置がコーターまたはデベロッパである場合、前記プロセスデータは、レジストパターンを含む、
統合システム。 - 前記稼働データは、前記所定の装置内の各部品の少なくともいずれかについての環境に関する情報を含む、
請求項1に記載の統合システム。 - 前記環境に関する情報は、電流値、電圧値、振動値、温度値、湿度値、圧力値、音の少なくともいずれかを含む、
請求項2に記載の統合システム。 - 前記所定の装置がモータを含む場合、前記稼働データは、前記モータの回転数を含む、
請求項1から3のいずれかに記載の統合システム。 - 前記故障診断の結果は、前記所定の装置に含まれる部品の保全の必要性を示す結果である、
請求項1から3のいずれかに記載の統合システム。 - 所定の装置の稼働状況を表す稼働データに基づいて、稼働データが入力されると、前記所定の装置の故障診断の結果を出力可能なローカルモデルを学習するモデル生成手段と、
前記ローカルモデルのパラメータを、秘密計算を用いて秘匿化する秘匿化手段と、
前記ローカルモデルの秘匿化されたパラメータを、統合システムへ出力する出力手段と、
前記統合システムから、前記統合システムにおいて統合されたグローバルモデルのパラメータを取得するパラメータ取得手段と、
取得された前記パラメータに基づく前記グローバルモデルに、新たな稼働データを入力して前記所定の装置の故障診断の結果を取得する分析手段と、
を備え、
前記所定の装置は、半導体製造装置であり、
前記稼働データは、プロセスデータを含み、
前記半導体製造装置が成膜関連装置である場合、前記プロセスデータは、ガス流量、成膜時間、基板温度、Vpp電圧およびVdc電圧、DCバイアス、および圧力を含み、
前記半導体製造装置が洗浄装置またはエッチング装置である場合、前記プロセスデータは、洗浄度、およびエッチ深さを含み、
前記半導体製造装置が拡散装置または熱酸化装置である場合、前記プロセスデータは、酸化膜の厚さ、およびシート抵抗を含み、
前記半導体製造装置がイオン注入装置またはアニール装置である場合、前記プロセスデータは、シート抵抗を含み、
前記半導体製造装置がコーターまたはデベロッパである場合、前記プロセスデータは、レジストパターンを含む、
組織サーバ。 - 取得された前記故障診断の結果を通知する出力制御手段、
を備える請求項6に記載の組織サーバ。 - 取得された前記故障診断の結果に基づいて、前記所定の装置の保全に関する手配を行う保全実行手段、
を備える請求項6または7に記載の組織サーバ。 - 前記保全実行手段は、取得された前記故障診断の結果に基づいて、前記所定の装置における必要な部品の発注を行う、
請求項8に記載の組織サーバ。 - 複数の組織サーバのそれぞれについて、所定の装置に関する稼働データに基づいて学習されたローカルモデルであって、稼働データが入力されると前記所定の装置についての故障診断の結果を出力可能なローカルモデルの秘匿化されたパラメータを取得し、
前記複数の組織サーバのそれぞれについての秘匿化されたパラメータを統合することにより、グローバルモデルを生成し、
前記複数の組織サーバに、生成された前記グローバルモデルの統合されたパラメータを提供し、
前記所定の装置は、半導体製造装置であり、
前記稼働データは、プロセスデータを含み、
前記半導体製造装置が成膜関連装置である場合、前記プロセスデータは、ガス流量、成膜時間、基板温度、Vpp電圧およびVdc電圧、DCバイアス、および圧力を含み、
前記半導体製造装置が洗浄装置またはエッチング装置である場合、前記プロセスデータは、洗浄度、およびエッチ深さを含み、
前記半導体製造装置が拡散装置または熱酸化装置である場合、前記プロセスデータは、酸化膜の厚さ、およびシート抵抗を含み、
前記半導体製造装置がイオン注入装置またはアニール装置である場合、前記プロセスデータは、シート抵抗を含み、
前記半導体製造装置がコーターまたはデベロッパである場合、前記プロセスデータは、レジストパターンを含む、
統合方法。 - 所定の装置の稼働状況を表す稼働データに基づいて、稼働データが入力されると、前記所定の装置の故障診断の結果を出力可能なローカルモデルを学習し、
前記ローカルモデルのパラメータを、秘密計算を用いて秘匿化し、
前記ローカルモデルの秘匿化されたパラメータを、統合システムへ出力し、
前記統合システムから、前記統合システムにおいて統合されたグローバルモデルのパラメータを取得し、
取得された前記パラメータに基づく前記グローバルモデルに、新たな稼働データを入力して前記所定の装置の故障診断の結果を取得し、
前記所定の装置は、半導体製造装置であり、
前記稼働データは、プロセスデータを含み、
前記半導体製造装置が成膜関連装置である場合、前記プロセスデータは、ガス流量、成膜時間、基板温度、Vpp電圧およびVdc電圧、DCバイアス、および圧力を含み、
前記半導体製造装置が洗浄装置またはエッチング装置である場合、前記プロセスデータは、洗浄度、およびエッチ深さを含み、
前記半導体製造装置が拡散装置または熱酸化装置である場合、前記プロセスデータは、酸化膜の厚さ、およびシート抵抗を含み、
前記半導体製造装置がイオン注入装置またはアニール装置である場合、前記プロセスデータは、シート抵抗を含み、
前記半導体製造装置がコーターまたはデベロッパである場合、前記プロセスデータは、レジストパターンを含む、
分析方法。 - コンピュータに、
複数の組織サーバのそれぞれについて、所定の装置に関する稼働データに基づいて学習されたローカルモデルであって、稼働データが入力されると前記所定の装置についての故障診断の結果を出力可能なローカルモデルの秘匿化されたパラメータを取得し、
前記複数の組織サーバのそれぞれについての秘匿化されたパラメータを統合することにより、グローバルモデルを生成し、
前記複数の組織サーバに、生成された前記グローバルモデルの統合されたパラメータを提供する、
処理を実行させ、
前記所定の装置は、半導体製造装置であり、
前記稼働データは、プロセスデータを含み、
前記半導体製造装置が成膜関連装置である場合、前記プロセスデータは、ガス流量、成膜時間、基板温度、Vpp電圧およびVdc電圧、DCバイアス、および圧力を含み、
前記半導体製造装置が洗浄装置またはエッチング装置である場合、前記プロセスデータは、洗浄度、およびエッチ深さを含み、
前記半導体製造装置が拡散装置または熱酸化装置である場合、前記プロセスデータは、酸化膜の厚さ、およびシート抵抗を含み、
前記半導体製造装置がイオン注入装置またはアニール装置である場合、前記プロセスデータは、シート抵抗を含み、
前記半導体製造装置がコーターまたはデベロッパである場合、前記プロセスデータは、レジストパターンを含む、
プログラム。 - コンピュータに、
所定の装置の稼働状況を表す稼働データに基づいて、稼働データが入力されると、前記所定の装置の故障診断の結果を出力可能なローカルモデルを学習し、
前記ローカルモデルのパラメータを、秘密計算を用いて秘匿化し、
前記ローカルモデルの秘匿化されたパラメータを、統合システムへ出力し、
前記統合システムから、前記統合システムにおいて統合されたグローバルモデルのパラメータを取得し、
取得された前記パラメータに基づく前記グローバルモデルに、新たな稼働データを入力して前記所定の装置の故障診断の結果を取得する、
処理を実行させ、
前記所定の装置は、半導体製造装置であり、
前記稼働データは、プロセスデータを含み、
前記半導体製造装置が成膜関連装置である場合、前記プロセスデータは、ガス流量、成膜時間、基板温度、Vpp電圧およびVdc電圧、DCバイアス、および圧力を含み、
前記半導体製造装置が洗浄装置またはエッチング装置である場合、前記プロセスデータは、洗浄度、およびエッチ深さを含み、
前記半導体製造装置が拡散装置または熱酸化装置である場合、前記プロセスデータは、酸化膜の厚さ、およびシート抵抗を含み、
前記半導体製造装置がイオン注入装置またはアニール装置である場合、前記プロセスデータは、シート抵抗を含み、
前記半導体製造装置がコーターまたはデベロッパである場合、前記プロセスデータは、レジストパターンを含む、
プログラム。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2022/034168 WO2024057388A1 (ja) | 2022-09-13 | 2022-09-13 | 統合システム、組織サーバ、統合方法、分析方法、および記録媒体 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2024057388A1 JPWO2024057388A1 (ja) | 2024-03-21 |
| JPWO2024057388A5 JPWO2024057388A5 (ja) | 2025-04-17 |
| JP7845482B2 true JP7845482B2 (ja) | 2026-04-14 |
Family
ID=90274430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2024546545A Active JP7845482B2 (ja) | 2022-09-13 | 2022-09-13 | 統合システム、組織サーバ、統合方法、分析方法、およびプログラム |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7845482B2 (ja) |
| WO (1) | WO2024057388A1 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020113165A (ja) | 2019-01-16 | 2020-07-27 | 株式会社三葉電熔社 | 故障予測システム |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7414655B2 (ja) * | 2020-07-01 | 2024-01-16 | 株式会社東芝 | 学習システム、情報処理装置、学習方法およびプログラム |
-
2022
- 2022-09-13 JP JP2024546545A patent/JP7845482B2/ja active Active
- 2022-09-13 WO PCT/JP2022/034168 patent/WO2024057388A1/ja not_active Ceased
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020113165A (ja) | 2019-01-16 | 2020-07-27 | 株式会社三葉電熔社 | 故障予測システム |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| LE Trieu Phong et al.,Privacy-Preserving Deep Learning via Additively Homomorphic Encryption,IEEE Transactions on Information Forensics and Security,Volume:13, Issue:5,IEEE [online],2018年05月,pp.1-18,[retrieved on 2022.11.15],Retrieved from <https://ieeexplore.ieee.org/document/8241854> |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2024057388A1 (ja) | 2024-03-21 |
| JPWO2024057388A1 (ja) | 2024-03-21 |
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