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JPS5828787B2 - Saidaichi Count Souchi - Google Patents
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JPS5828787B2 - Saidaichi Count Souchi - Google Patents

Saidaichi Count Souchi

Info

Publication number
JPS5828787B2
JPS5828787B2 JP49078268A JP7826874A JPS5828787B2 JP S5828787 B2 JPS5828787 B2 JP S5828787B2 JP 49078268 A JP49078268 A JP 49078268A JP 7826874 A JP7826874 A JP 7826874A JP S5828787 B2 JPS5828787 B2 JP S5828787B2
Authority
JP
Japan
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transistor
counter
section
signal
turned
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP49078268A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS518861A (en
Inventor
功 野島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP49078268A priority Critical patent/JPS5828787B2/en
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は最大値カウント装置に係り、特にカウント内部
に不揮発性メモリ素子を組み込むことによって電源がオ
フした場合でもカウントの内容と最大値の内容とが共に
失なわれることのない最大値カウンタに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a maximum value counting device, and in particular, by incorporating a non-volatile memory element inside the counter, both the contents of the count and the contents of the maximum value are lost even when the power is turned off. Concerning maximum value counters without.

従来の最大値カウント装置はカウンタ本体とは別にこれ
と同じものまたはラッチを設けて、これらをExclu
s ive OR回路等のゲートで結合して構成された
ものが主であるが、高速のカウントが要求される場合は
MOS形のカウンタが用いられ、また最大値を不揮発的
に記憶するものとしては電磁カウンタと呼ばれる記憶素
子をカウンタ外部に接続したものが用いられている。
Conventional maximum value counting devices provide the same device or a latch separately from the counter body, and exclude these.
They are mainly configured by connecting gates such as sive OR circuits, but MOS type counters are used when high-speed counting is required, and MOS type counters are used to store the maximum value in a non-volatile manner. An electromagnetic counter in which a memory element is connected to the outside of the counter is used.

このように従来の最大値カウント装置にはカウンタ本体
の中に最大値を不揮発的に記憶しておくものはなく、例
えばMOSトランジスタを用いたカウンタであると外部
に不揮発性の記憶素子を結合させることによって同時に
作動させなければならない。
In this way, conventional maximum value counting devices do not have a device that stores the maximum value in a non-volatile manner within the counter body; for example, in the case of a counter using a MOS transistor, a non-volatile storage element is connected externally. must be activated simultaneously by

しかしこの記憶素子として前述の電磁カウンタを用いた
とするとカウンタ本体のカウント周波数がこの電磁カウ
ンタによって抑えられ、高速化が困難である。
However, if the aforementioned electromagnetic counter is used as this memory element, the counting frequency of the counter itself is suppressed by this electromagnetic counter, making it difficult to increase the speed.

また前記のラッチ形式のものであると最大値を転送する
ための並列信号が必要であるため、カウンタからの出力
端子がビット毎に設けられる。
Furthermore, since the above-mentioned latch type requires a parallel signal to transfer the maximum value, an output terminal from the counter is provided for each bit.

従ってこのカウンタを集積化する場合ビット数の増大に
ともない集積化が困難となる。
Therefore, it becomes difficult to integrate this counter as the number of bits increases.

本発明は従来の最大値カウント装置が有する欠点を除く
ためになされたもので、単一チップの集積回路において
電源が切れてもカウントの内容とそのときに設定されて
いる最大値の内容が共に失なわれずに保持され、しかも
カウンタ自身のカウント速度が不揮発性の保持要素のス
ピードに拘束されない最大値カウント装置を提供するこ
とを目的とする。
The present invention was made to eliminate the drawbacks of conventional maximum value counting devices, and even if the power is cut off in a single-chip integrated circuit, the contents of the count and the contents of the maximum value set at that time are both retained. It is an object of the present invention to provide a maximum value counting device which is retained without being lost and in which the counting speed of the counter itself is not restricted by the speed of a non-volatile retaining element.

更に本発明はカウンタ内部に設けたラッチ機能に不揮発
性メモリ機能と比較機能を加えることによって外部に論
理回路を設けることのない最大値カウント装置を提供す
ることを目的とする。
A further object of the present invention is to provide a maximum value counting device that does not require an external logic circuit by adding a nonvolatile memory function and a comparison function to the latch function provided inside the counter.

以下本発明を図面を参照して詳細に説明する。The present invention will be explained in detail below with reference to the drawings.

本発明はカウンタ内部に、記憶動作を行ない得る不揮発
性半導体メモリを設けることを基本としている。
The present invention is based on the provision of a nonvolatile semiconductor memory capable of performing storage operations inside the counter.

不揮発性半導体メモリを有するカウンタは出願人が先に
出願した特願昭48−109005号明細書に詳しく述
べられているが、これを第1図を用いて簡単に説明する
A counter having a non-volatile semiconductor memory is described in detail in Japanese Patent Application No. 109005/1985, which was previously filed by the applicant, but this will be briefly explained using FIG. 1.

第1図はその不揮発性カウンタ回路の基本構成である2
進1ビット分の回路構成を示すものである。
Figure 1 shows the basic configuration of the nonvolatile counter circuit2.
This shows the circuit configuration for one bit of the decimal bit.

MT12MT2はpチャンネルのMNOSトランジスタ
、T1〜T6はpチャンネルMOSトランジスタであり
、計8個の素子により1ビツトが構成されている。
MT12 and MT2 are p-channel MNOS transistors, T1 to T6 are p-channel MOS transistors, and a total of eight elements constitute one bit.

上記8個の素子のうち能動素子T1.T2はフリップフ
ロップのスイッチング用MO8I−ランジスタT5+T
6 は負荷用MOSトランジスタである。
Among the above eight elements, active element T1. T2 is flip-flop switching MO8I-transistor T5+T
6 is a load MOS transistor.

MNOSトランジスタMT12MT2はスイッチング用
MOSトランジスタT1 p T2 と負荷用MO8I
−ランジスタT、 、 T6の各々の間に介挿される。
MNOS transistors MT12MT2 are switching MOS transistors T1 p T2 and load MO8I
- inserted between each of the transistors T, , T6;

またMNO8I−ランジスタMT12MT2に各々並列
にスイッチング素子としてMOSトランジスタT3゜T
4が設けられる。
In addition, MOS transistors T3゜T are connected in parallel to MNO8I and transistors MT12 and MT2 as switching elements.
4 is provided.

ここで負荷用MOSトランジスタT5j T6はデプレ
ッション型で、それ以外のMOSトランジスタは全てエ
ンハンスメント型が用いられている。
Here, the load MOS transistors T5j and T6 are depletion type, and all other MOS transistors are enhancement type.

第1図の回路におけるMNOSトラフジ32MT12 て正の消去電圧(例えば+24■)を印加するとゲート
閾電圧が正方向に移動し、ソース電位に対して負の書込
電圧(例えば−24■)を印加するとゲート閾電圧が負
方向に移動するものを用いている。
When a positive erase voltage (for example, +24 mm) is applied to the MNOS trough 32MT12 in the circuit shown in Fig. 1, the gate threshold voltage moves in the positive direction, and a negative write voltage (for example, -24 mm) is applied to the source potential. Then, a device in which the gate threshold voltage moves in the negative direction is used.

また本図において信号MはMNOSトランジスタMT1
2MT2の情報の復帰、情報の消去、情報の書込みのた
めの制御信号、VDD= vssは電源電圧、信号やは
この不揮発性カウンタ回路を通常のカウンタ回路として
動作させるための制御信号である。
Also, in this figure, the signal M is the MNOS transistor MT1.
A control signal for restoring information, erasing information, and writing information in 2MT2, VDD=vss, is a power supply voltage, a signal, or a control signal for operating this nonvolatile counter circuit as a normal counter circuit.

この回路において通電時は信号MによりMNO8I−ラ
ンジスタMT12MT2をオフにし、信号IによりMN
OSトランジスタに並列に接続されたMOSトランジス
タT3,T4をオンにする。
In this circuit, when energizing, signal M turns off MNO8I-transistor MT12MT2, and signal I turns off MNO8I-transistor MT12MT2.
MOS transistors T3 and T4 connected in parallel to the OS transistor are turned on.

従ってこの状態ではこのカウンタは通常のMOSフリッ
プフロップとして動作する。
Therefore, in this state, this counter operates as a normal MOS flip-flop.

今M)SトランジスタT1がオンでMOSトランジスタ
T2がオフのときにこのフリップフロップの内容をMN
OSトランジスタに書き込む場合を考える。
Now, when the M)S transistor T1 is on and the MOS transistor T2 is off, the contents of this flip-flop are MN
Consider the case of writing to an OS transistor.

まず予め信号MによってVSSより約24V正のパルス
を加えてMNOSトランジスタ及びMT12MT2のゲ
ート閾値を正方向に移動して約−2■に設定しているも
のとする。
First, it is assumed that a pulse of about 24 V positive than VSS is applied in advance by the signal M to move the gate thresholds of the MNOS transistor and MT12MT2 in the positive direction and set them to about -2.

この状態で信号MによりVSS (+12V)よりも
約24V負のパルスすなわち一12Vのパルスを加える
In this state, a pulse approximately 24 V more negative than VSS (+12 V), that is, a pulse of -12 V, is applied by signal M.

この結果MNOSトランジスタMT1の絶縁膜には約−
24Vの電圧が印加され、MNO8I−ランジスタMT
1のゲート閾値は負の方向に移動し、約−8■になる。
As a result, the insulating film of the MNOS transistor MT1 has approximately -
A voltage of 24V is applied, and the MNO8I-transistor MT
The gate threshold of 1 moves in the negative direction to about -8■.

一方MNOSトランジスタMT2の絶縁膜にはゲート直
下のチャンネル電圧が一6■になっているため約−6V
Lか印加されず、ゲート閾値の変動は阻止される。
On the other hand, the insulating film of the MNOS transistor MT2 has a channel voltage of 16V directly under the gate, so it is approximately -6V.
L is not applied and variations in the gate threshold are prevented.

このようにしてフリップフロップの内容がMNOSトラ
ンジスタのゲート閾値として不揮発的に記憶される。
In this way, the contents of the flip-flop are stored non-volatilely as the gate threshold of the MNOS transistor.

通電時には前述のようにMOSトランジスタT3,T4
が動作しているが、上述の如くして記憶されたMNO8
I−ランジスタの内容を読み出すためにはまずIをVS
SレベルにしてMO8hランジスタT3t T4を共に
オフする。
When energized, MOS transistors T3 and T4 are activated as described above.
is operating, but MNO8 stored as above
To read the contents of the I-transistor, first set I to VS.
Set to S level and turn off both MO8h transistors T3t and T4.

MOSトランジスタT3 t T4がオフされるとフリ
ップフロップには負荷がなくなり、MOSトランジスタ
T1とT2 のゲート容量による記憶作用しか残らない
When the MOS transistors T3 t T4 are turned off, there is no load on the flip-flop, and only the memory function due to the gate capacitance of the MOS transistors T1 and T2 remains.

この容量によるチャージは浮遊容量の値、ゲート閾値の
大きさによって異なるが、p−n逆接合のリーク電流に
よって除去に失なわれていく。
The charge due to this capacitance varies depending on the value of the stray capacitance and the size of the gate threshold, but is lost due to leakage current of the pn reverse junction.

残っているチャージ電位がほぼ0になったとき信号Mに
除々にVSSから負の電圧を印加していくと、ゲート閾
値の低い方のMNOSトランジスタ(この場合はMNO
SトランジスタMT2が先にオン状態に整向する。
When the remaining charge potential becomes almost 0, if a negative voltage is gradually applied from VSS to the signal M, the MNOS transistor with the lower gate threshold (in this case, the MNO
The S transistor MT2 is turned on first.

従ってVDDよりMNO8I−ランジスタMT2のソー
スに先に負の電圧が印加されていくためMOSトランジ
スタT1がオンし、MOSトランジスタT2がオフとな
って先にMNOSトランジスタに記憶された内容が読み
出される。
Therefore, since a negative voltage is applied to the source of the MNO8I transistor MT2 earlier than VDD, the MOS transistor T1 is turned on, the MOS transistor T2 is turned off, and the contents previously stored in the MNOS transistor are read out.

従って電源のオン、オフを検知して信号M,φを制御す
ることによって、電源が切れた場合にフリップフロップ
の内容をMNOSトランジスタMT1。
Therefore, by detecting whether the power is on or off and controlling the signals M and φ, the contents of the flip-flop are changed to the MNOS transistor MT1 when the power is turned off.

MT2に書き込み、電源がオンになったときにこの記憶
内容を読み出すことができる。
This memory content can be written to the MT2 and read out when the power is turned on.

本発明は上記の原理に基づくもので、第1図に示した回
路を一対にして一方をカウンタ部、他方をラッチ部とし
てこれを1ビツトの構成とし、ラッチ部に常に最大値が
記憶されるようにしたものである。
The present invention is based on the above principle, and consists of a pair of circuits shown in Fig. 1, one of which is a counter section and the other a latch section, each of which has a 1-bit configuration, and the maximum value is always stored in the latch section. This is how it was done.

第2図は本発明の最大値カウント装置の一実施例を示す
回路構成図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing an embodiment of the maximum value counting device of the present invention.

本図は10進カウンタの1桁分を示したもので4ビツト
で構成されている。
This figure shows one digit of a decimal counter, which is composed of 4 bits.

1ビツト中には第1図で示したカウンタ回路が一対設け
られており、下部がカウンタ部、上部がラッチ部である
A pair of counter circuits shown in FIG. 1 are provided in one bit, with the lower part being a counter part and the upper part being a latch part.

以下この最大値カウント装置中のカウンタ部が第3図に
示す如く一定周期Tでクリアされながらカウントを進め
て行く場合について説明する。
A case in which the counter section in this maximum value counting device advances the count while being cleared at a constant period T as shown in FIG. 3 will be described below.

まず第3図の時刻t。First, at time t in FIG.

で、ラッチ部に、あるカウント数Aがラッチされている
とする。
Assume that a certain count number A is latched in the latch section.

また一致検出回路1に加える信号CMがO1同期制御回
路2に加える信号TRもO”であるとする。
It is also assumed that the signal CM applied to the coincidence detection circuit 1 and the signal TR applied to the O1 synchronization control circuit 2 are also O''.

ここで信号の値”0″はVDDレベル(−6V)を示し
、後述する信号の値“1”はvssレベル(+12V)
を示す。
Here, the signal value "0" indicates the VDD level (-6V), and the signal value "1" described later indicates the vss level (+12V).
shows.

一致検出回路1に加えられる信号CMが“O″であると
き、一致検出回路1中のMOSトランジスタT”taは
オンし信号MATが”ll+となり、同期制御回路2中
のMOSトランジスタT18をオフする。
When the signal CM applied to the coincidence detection circuit 1 is "O", the MOS transistor T"ta in the coincidence detection circuit 1 is turned on, the signal MAT becomes "ll+", and the MOS transistor T18 in the synchronous control circuit 2 is turned off. .

一方このとき同期制御回路2に加えられる信号TRが“
0”であるときMO8I−ランジスタT1□をオンする
On the other hand, at this time, the signal TR applied to the synchronous control circuit 2 is “
0'', MO8I-transistor T1□ is turned on.

従ってこのように信号CMと信号TRが共に011であ
るとするとラッチ部に設けられているMOSトランジス
タTIOがオフとなってカウンタ部とラッチ部とが切り
離される。
Therefore, if the signal CM and the signal TR are both 011 in this way, the MOS transistor TIO provided in the latch section is turned off, and the counter section and the latch section are separated.

この状態でカウンタ部にカウント入力IN、INが加え
られるとカウンタ部は破線で示す如く0より順次カウン
トをアップしていく。
In this state, when count inputs IN and IN are applied to the counter section, the counter section sequentially increments the count from 0 as shown by the broken line.

しかしラッチ部は時刻t。のカウント値をそのまま保持
している。
However, the latch section is at time t. The count value is maintained as is.

このように信号CM、信号TRが共にO″である場合は
カウンタ部のみが動作しラッチ部は全く動作しない。
In this way, when both the signal CM and the signal TR are O'', only the counter section operates and the latch section does not operate at all.

この状態を以下「非同期」という。This state is hereinafter referred to as "asynchronous."

次に、信号CMが0″で信号TRが1″の場合を考えて
みる。
Next, consider a case where the signal CM is 0'' and the signal TR is 1''.

この場合はトランジスタT16がオン、トランジスタT
18がオフ、トランジスタT17がオフとなるため、ト
ランジスタT1oがオンとなる。
In this case, transistor T16 is on, transistor T
Since the transistor T18 is turned off and the transistor T17 is turned off, the transistor T1o is turned on.

従ってこの状態でカウント部にカウント入力IN、IN
が加えられると、カウンタ部と同期してランチ部が動作
しカウンタ部のカウントアツプに伴なってラッチ部もカ
ウントアツプする。
Therefore, in this state, the count inputs IN and IN are input to the counter section.
When is added, the launch section operates in synchronization with the counter section, and as the counter section counts up, the latch section also counts up.

このとき前述のようにラッチ部に初期値Aが入っている
と、ラッチ部はAを初期値としてカウントをアップする
At this time, if the initial value A is stored in the latch section as described above, the latch section increments the count using A as the initial value.

以下この状態を「同期」という。次に、信号CMが”1
″で信号TRが0″の場合は、トランジスタT16がオ
フとなり、トランジスタT1□がオンとなる。
Hereinafter, this state will be referred to as "synchronization". Next, the signal CM is “1”
When the signal TR is 0'' at '', the transistor T16 is turned off and the transistor T1□ is turned on.

従って信号MATは、もし一致検出回路1中のトランジ
スタT□、のゲート端子にN o?1が入力されてT1
5がオンならば“1″となり、T15に1″が入力され
てT15がオフならば°“0″となる。
Therefore, if the signal MAT is applied to the gate terminal of the transistor T□ in the match detection circuit 1, No? 1 is input and T1
If T15 is on, it will be "1", and if T15 is off and T15 is off, it will be "0".

そして信号MATが°1′のとき同期制御回路2中のト
ランジスタT18はオフし、MATが”o”のときT1
8はオンする。
When the signal MAT is °1', the transistor T18 in the synchronous control circuit 2 is turned off, and when the signal MAT is "o", the transistor T18 is turned off.
8 turns on.

しかるに信号TRによって同期制御回路2中のトランジ
スタT1□は常にオン状態にある。
However, the transistor T1□ in the synchronous control circuit 2 is always on due to the signal TR.

従ってラッチ部のトランジスタTIOは常にオフとなり
ラッチ部とカウンタ部とを切り離している。
Therefore, the transistor TIO in the latch section is always turned off, separating the latch section and the counter section.

従ってこの場合は「非同期」である。Therefore, this case is "asynchronous".

最後に信号CM、信号TRが共に1”の場合を考えてみ
る。
Finally, consider the case where both the signal CM and the signal TR are 1''.

信号CMが1″であるので一致検出回路1中のトランジ
スタT16はオフである。
Since the signal CM is 1'', the transistor T16 in the coincidence detection circuit 1 is off.

従って信号MATはトランジスタT15の入力信号が”
0″のとき“l ?F 、 n 1j+のとき0”とな
る。
Therefore, the signal MAT is the input signal of the transistor T15.
0", "l? When F, n 1j+, it becomes 0''.

また信号TRが1”であるため、同期制御回路2中のト
ランジスタT1□は常にオフである。
Further, since the signal TR is 1'', the transistor T1□ in the synchronous control circuit 2 is always off.

従ってラッチ部のトランジスタTIOのオン、オフは信
号MATに左右され、信号MATが1”のときT’to
はオンし、MATが0″のときTloはオフすることに
なる。
Therefore, the on/off state of the transistor TIO in the latch section depends on the signal MAT, and when the signal MAT is 1'', T'to
is on, and when MAT is 0'', Tlo is off.

云うまでもなくTloがオンすれば同期状態となり、T
loがオフならば非同期状態になる。
Needless to say, when Tlo is turned on, it becomes synchronized and T
If lo is off, it will be in an asynchronous state.

ここでラッチ部の内容とカウンタ部の内容との比較につ
いて述べる。
Here, a comparison between the contents of the latch section and the contents of the counter section will be described.

一致検出回路1中のトランジスタT15のゲートに入力
される信号が0″の場合は4ビツト全てのカウンタの内
容とラッチの内容が一致している場合であり、T15の
ゲート入力が1′の場合は、この一致がとれていない場
合である。
When the signal input to the gate of transistor T15 in coincidence detection circuit 1 is 0'', this means that the contents of all 4 bits of the counter match the contents of the latch, and when the gate input of T15 is 1'. is a case where this matching is not achieved.

すなれち今1ビット分のカウンタ部の内容とラッチ部の
内容が共に0″であったとすると、カウンタ部の出力Q
Aが0″で亘ヵが°1“であるためラッチ部のトランジ
スタT8がオフ、T、がオンとなる。
In other words, if the contents of the counter section for one bit and the contents of the latch section are both 0'', the output Q of the counter section is
Since A is 0'' and the voltage is 1'', the transistor T8 in the latch section is turned off and T is turned on.

従ってラッチ部の出力QA(ヨ1)(すなわちVSSレ
ベル)が一致検出回路1中のトランジスタT1□に加え
られ、TI□がオフとなる。
Therefore, the output QA (Y1) (ie, VSS level) of the latch section is applied to the transistor T1□ in the coincidence detection circuit 1, and TI□ is turned off.

またカウンタ部の内容とラッチ部の内容が共に°゛ll
パるとするとラッチ部のトランジスタT8 がオンしQ
、A (三1)が一致検出回路1中のトランジスタT1
□に加わり、T1、はオフとなる。
Also, the contents of the counter section and the contents of the latch section are both °゛ll.
When the transistor T8 in the latch section turns on, Q
, A (31) is the transistor T1 in the coincidence detection circuit 1
□ and T1 is turned off.

このようにカウンタ部の内容とラッチ部の内容とを比較
した結果一致している場合はトランジスタTllがオフ
となる。
In this manner, when the contents of the counter section and the contents of the latch section are compared and they match, the transistor Tll is turned off.

逆に今カウンタ部の内容がl ppでラッチ部の内容が
”0”の場合は、ラッチ部のトランジスタT8がオンと
なりQA(三〇)(すなわちVDDレベル)がトランジ
スタTllに加わりT1□はオンとなる。
Conversely, if the current contents of the counter section are lpp and the contents of the latch section are "0", the transistor T8 in the latch section is turned on, QA (30) (that is, VDD level) is applied to the transistor Tll, and T1□ is turned on. becomes.

またカウンタ部の内容が0′′でラッチ部の内容が”1
”である場合も同様にTllはオンとなる。
Also, the content of the counter part is 0'' and the content of the latch part is "1".
”, Tll is also turned on.

このようにカウンタ部の内容とラッチ部の内容とが一致
していない場合はトランジスタTllはオンとなる。
In this way, when the contents of the counter section and the contents of the latch section do not match, the transistor Tll is turned on.

従ってもし4ビツト分全てで一致がとれているならばT
1□、T□21 T’ts P T14が共にオフとな
るためトランジスタT15のゲ゛−ト入力はVDDレベ
ルすなわち0″となる。
Therefore, if all 4 bits match, T
1□ and T□21 T'ts PT14 are both turned off, so the gate input of the transistor T15 becomes the VDD level, that is, 0''.

また逆に1ビツトでも一致のとれていないものがあれば
T1□〜T14のうちのいずれかがオン状態にあるため
T15のゲートには信号″1″が入力されることになる
On the other hand, if even one bit does not match, one of T1□ to T14 is in the on state, so that the signal "1" is input to the gate of T15.

以上の動作モードを第4図にまとめて示す。The above operation modes are summarized in FIG. 4.

次に以上の説明をもとに信号CM、信号TRを共にn
、 ttにしてカウント入力IN、INを加えた場合に
ついて説明する。
Next, based on the above explanation, both the signal CM and the signal TR are set to n.
, tt and add count inputs IN and IN.

カウンタ部は0から順次カウントアツプするが、このカ
ウント数がラッチ部に予め入れられている初期値Aより
も少ない場合は、一致検出回路1中のトランジスタT1
5はオフ状態を保ち、信号MATは0″である。
The counter section counts up sequentially from 0, but if this count number is less than the initial value A stored in advance in the latch section, the transistor T1 in the coincidence detection circuit 1
5 remains off and the signal MAT is 0''.

従って同期制御回路2中のトランジスタT18はオン状
態を、またラッチ部のトランジスタT1o (4ビツト
分全て)はオフ状態を保持する。
Therefore, the transistor T18 in the synchronous control circuit 2 is kept on, and the transistor T1o (for all 4 bits) in the latch section is kept off.

故にラッチ部とカウンタ部とは非同期で、カウンタ部の
みがカウントアツプを続け、ラッチ部は初期Aを保1カ
ウンタ部におけるカウントアツプが進み、第3図中の時
刻t、においてカウンタ部の内容とラッチ部の内容とが
一致すると、一致検出回路1中のトランジスタT’o
j T12 t T13 t T14が全てオフとなり
トランジスタT15をオンして信号MATを”1″とす
る。
Therefore, the latch section and the counter section are asynchronous, and only the counter section continues counting up, and the latch section maintains the initial A.1 The count up in the counter section progresses, and at time t in FIG. When the contents of the latch portion match, the transistor T'o in the match detection circuit 1
j T12 t T13 t T14 are all turned off, transistor T15 is turned on, and signal MAT is set to "1".

その結果同期制御回路2中のトランジスタT’taがオ
フとなりラッチ部のトランジスタT’ioは4ビツト分
全てについてオンとなる。
As a result, the transistor T'ta in the synchronous control circuit 2 is turned off, and the transistor T'io in the latch section is turned on for all four bits.

従って以後のカウントアツプについてはラッチ部もカウ
ンタ部に同期してカウントアツプしていく。
Therefore, regarding the subsequent count-up, the latch section also counts up in synchronization with the counter section.

更にカウントが進み第3図に示す時刻t2(カウント数
はB)に達したとする。
Assume that the count further advances and reaches time t2 (the count number is B) shown in FIG.

時刻t2に達するとカウンタ部にカウントクリア信号C
Lが加えられる。
When time t2 is reached, a count clear signal C is sent to the counter section.
L is added.

この信号CLは4ビツト全てに加えられるため、カウン
タ部はクリアされOに戻る。
Since this signal CL is applied to all 4 bits, the counter section is cleared and returns to O.

カウンタ部の内容が0になれば、ラッチ部の内容(カウ
ント数B)とカウンタ部の内容との一致がとれなくなる
ため一致検出回路1の出力信号MATは“0”となる。
When the contents of the counter section become 0, the contents of the latch section (count number B) and the contents of the counter section no longer match, so the output signal MAT of the coincidence detection circuit 1 becomes "0".

従って同期制御回路2中のトランジスタT18がオンと
なりラッチ部のトランジスタT 10がオ″7となる。
Therefore, the transistor T18 in the synchronous control circuit 2 is turned on, and the transistor T10 in the latch section is turned on.

従って非同期状態となり、ラッチ部にはカウント数Bが
貯えられたままでカウンタ部がOから順次カウントアツ
プしていく。
Therefore, an asynchronous state is established, and the counter section sequentially counts up from O while the count number B remains stored in the latch section.

カウントアツプが進み第3図で示す時刻t3に達すると
、カウンタ部のカウント内容がラッチ部の内容(すなわ
ちB)に一致する。
When the count-up progresses and reaches time t3 shown in FIG. 3, the count contents of the counter section match the contents of the latch section (ie, B).

その結果一致検出回路1中のトランジスタT15がオン
し、信号MATは1″となり、同期制御回路2中のトラ
ンジスタT18がオフし、ラッチ部のトランジスタT’
toがオンする。
As a result, the transistor T15 in the coincidence detection circuit 1 is turned on, the signal MAT becomes 1'', the transistor T18 in the synchronization control circuit 2 is turned off, and the transistor T' in the latch section is turned on.
to turns on.

従って以後のカウントについてはカウンタ部とラッチ部
とは同期して動作する。
Therefore, for subsequent counting, the counter section and the latch section operate synchronously.

このように本発明によれば、カウンタ部が一定周期Tで
クリアされながらカウントを進める場合、ラッチ部は常
に最大値が保存する。
As described above, according to the present invention, when the counter section continues counting while being cleared at a constant period T, the maximum value is always stored in the latch section.

第3図の時刻t4 とt5の間は、時刻t4でクリアさ
れたカウンタが時刻t5までにラッチ部に保存された最
大値Cまで達しなかった場合を示したものである。
The period between times t4 and t5 in FIG. 3 shows a case where the counter cleared at time t4 has not reached the maximum value C stored in the latch section by time t5.

次にこの最大値カウント装置を附勢している電源がオフ
した場合について説明する。
Next, a case will be described in which the power supply that energizes this maximum value counting device is turned off.

第1図の説明からも明らかなように電源がオフになった
ことを検知して、信号MをVSSより約24V負すなわ
ち一12Vにして再びVSSに戻す。
As is clear from the explanation of FIG. 1, it is detected that the power is turned off, and the signal M is made negative by about 24V, that is, -12V, and returned to VSS again.

その結果カウンタ部及びラッチ部のフリップフロップの
内容が各々MNOSトランジスタに不揮発的に書き込ま
れる。
As a result, the contents of the flip-flops of the counter section and the latch section are each written to the MNOS transistor in a non-volatile manner.

また電源がオンになると、これを検知してVをVSSレ
ベルにし、次いで信号MをVSSから徐々に負の電圧に
することによりMNOSトランジスタの内容がフリップ
フロップに読み出される。
Furthermore, when the power is turned on, this is detected and V is set to the VSS level, and then the content of the MNOS transistor is read out to the flip-flop by gradually setting the signal M from VSS to a negative voltage.

以上詳しく述べたように本発明によれば実施例にあげた
10進カウンタ4桁分を単一チップの集積回路として、
信号M、<15を制御することによって電源がオフした
ときでもカウント内容と最大値の内容を共にMNO8I
−ランジスタに書き込み、電源が復帰した時点で再び読
み出すことができ5しかもこの書き込み、読み出しは電
源のオン、オフ時のみ行なうのでカウンタ自身のカウン
ト速度が不揮発性の保持要素のスピードに拘束されるこ
とがない。
As described in detail above, according to the present invention, the four digits of the decimal counter mentioned in the embodiment can be integrated into a single chip integrated circuit.
By controlling the signal M<15, both the count contents and the maximum value contents can be maintained even when the power is turned off.
- It is possible to write to the transistor and read it again when the power is restored.5Moreover, since this writing and reading is performed only when the power is turned on and off, the counting speed of the counter itself is limited to the speed of the non-volatile holding element. There is no.

更に本発明によればカウンタ部のカウント内容とラッチ
部のカウント内容とが一致した後は比較を行なわずに同
期して動作するため、従来装置のようにその都度比較を
行ないながらカウントを進めていくものに比べ構成が簡
単となる。
Furthermore, according to the present invention, after the count contents of the counter section and the count contents of the latch section match, they operate synchronously without performing comparison, so unlike conventional devices, the count progresses while performing comparison each time. The configuration is simpler than many others.

更に本発明によれば1チツプ内で比較動作を行なってい
るため、従来のようにチップ外部に設けられた比較手段
との結合のための信号取り出し用のピンが全く不要であ
る。
Further, according to the present invention, since the comparison operation is performed within one chip, there is no need for a signal extraction pin for coupling with a comparison means provided outside the chip as in the conventional art.

また上記実施例においてMNOSトランジス久MO8I
−ランジスタをpチャンネル形としたが、nチャンネル
形でも同様に実施し得、またフリップフロップをバイポ
ーラ型にして実現することもできる。
In addition, in the above embodiment, the MNOS transistor MO8I
- Although the transistors are of p-channel type, they can be similarly implemented with n-channel types, and the flip-flops can also be of bipolar type.

更に本発明では不揮発性メモリとしてMNOSトランジ
スタを例にあげたが、これに限らずMIO8構造または
MIS構造のもので絶縁膜中に不揮発的に情報を記憶す
るものであればよく、また紫外線等で消去し、電気的に
書き込めるものを用いてもよい。
Furthermore, in the present invention, an MNOS transistor is taken as an example of a non-volatile memory, but it is not limited to this, as long as it has an MIO8 structure or an MIS structure and stores information in a non-volatile manner in an insulating film. It is also possible to use one that can be erased and electrically written.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明装置の構成単位を示す回路図、第2図は
本発明装置の一実施例を示す回路構成図、第3図は本発
明装置の動作を説明するための図、第4図は本発明装置
に加える信号と動作モードとの関係を示す図である。 MT t 2MT 2・・・・・・MNOSトランジス
タ、T1〜TtTB〜T’is・・・・・・MOS)ラ
ンジスタ、1・・・・・・一致検出回路、2・・・・・
・同期制御回路。
FIG. 1 is a circuit diagram showing the constituent units of the device of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing an embodiment of the device of the present invention, FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of the device of the present invention, and FIG. The figure is a diagram showing the relationship between signals applied to the device of the present invention and operation modes. MT t 2MT 2...MNOS transistor, T1~TtTB~T'is...MOS) transistor, 1...Coincidence detection circuit, 2...
・Synchronous control circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 12進コードの各ビットを構成するフリップフロップの
能動素子と負荷との間に不揮発性電解効果メモリトラン
ジスタとスイッチング素子との並列回路を介挿してなる
カウンタ部と、このカウンタ部と同一回路構成でカウン
タ部に対応して設けられたラッチ部と、このラッチ部の
カウント内容と前記カウンタ部のカウント内容との比較
を行なう手段と、この手段で得られる比較出力によって
前記カウンタ部とラッチ部との接続を制御する手段とを
有し、前記比較手段より一致出力が得られたときに前記
カウンタ部とラッチ部とを同期して動作させることを特
徴とする最大値カウント装置。
A counter section is formed by inserting a parallel circuit of a nonvolatile field effect memory transistor and a switching element between the active element of a flip-flop that constitutes each bit of the hexadecimal code and the load, and the circuit configuration is the same as that of this counter section. A latch section provided corresponding to the counter section, means for comparing the count contents of this latch section and the count contents of the counter section, and a comparison output obtained by this means to compare the count contents of the counter section and the latch section. A maximum value counting device comprising means for controlling connection, and operating the counter section and the latch section in synchronization when a matching output is obtained from the comparison means.
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JPH02174173A (en) * 1988-12-26 1990-07-05 Sanyo Electric Co Ltd Working of film
JPH02280987A (en) * 1989-04-20 1990-11-16 Koike Sanso Kogyo Co Ltd Method for controlling focus to variation of laser beam scanning length

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60174291A (en) * 1984-02-20 1985-09-07 Agency Of Ind Science & Technol Laser irradiating device
JPH02174173A (en) * 1988-12-26 1990-07-05 Sanyo Electric Co Ltd Working of film
JPH02280987A (en) * 1989-04-20 1990-11-16 Koike Sanso Kogyo Co Ltd Method for controlling focus to variation of laser beam scanning length

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