JPS5850376B2 - display device - Google Patents
display deviceInfo
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- JPS5850376B2 JPS5850376B2 JP51140940A JP14094076A JPS5850376B2 JP S5850376 B2 JPS5850376 B2 JP S5850376B2 JP 51140940 A JP51140940 A JP 51140940A JP 14094076 A JP14094076 A JP 14094076A JP S5850376 B2 JPS5850376 B2 JP S5850376B2
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- control code
- display device
- generation circuit
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Digital Computer Display Output (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
- Input From Keyboards Or The Like (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、ディスプレイ装置の機能試験を、特別な試
験器を用いることな〈実施可能に構成したディスプレイ
装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a display device configured to enable functional testing of the display device without using a special tester.
従来、一般的なディスプレイ装置の機能試験を行なうに
は専用の試験器を用いていたのが通例であり、フィール
ド上での故障発生時にはその故障箇所発見にも専用の試
験器を必要としていた。Conventionally, it has been customary to use a dedicated tester to perform functional tests on general display devices, and when a failure occurs in the field, a dedicated tester is also required to find the location of the failure.
従来のディスプレイ装置を第1図に示し説明する。A conventional display device is shown in FIG. 1 and will be described.
第1図に於て、1は表示装置で、文字又は記号等を表示
する陰極線管(以下、CRTと称す。In FIG. 1, 1 is a display device, which displays characters, symbols, etc., on a cathode ray tube (hereinafter referred to as CRT).
)である。).
2はデータ入力装置(以下、K/Bと称す。2 is a data input device (hereinafter referred to as K/B).
)で、複数のデータ入カキ−を有し、このキー操作に対
応してCRTlに文字又は記号を表示するための表示デ
ータコード信号を発生する表示データコード発生回路を
有するものである。), it has a plurality of data input keys and a display data code generation circuit that generates a display data code signal for displaying characters or symbols on the CRTl in response to the key operations.
3はディスプレイ制御回路(以下、CNTと称す。3 is a display control circuit (hereinafter referred to as CNT).
)で、外部からの制御コード信号に応じて各種の制御を
行い、一方、外部からの表示データコード信号又はに/
B2からの入力する表示データコード信号に対応した文
字又は記号等をCRTiに表示するためのものである。) performs various controls in response to external control code signals, while controlling external display data code signals or
This is for displaying characters, symbols, etc. on the CRTi corresponding to the display data code signal input from B2.
4は外部接続インタフェース(以下、LIFと称す。4 is an external connection interface (hereinafter referred to as LIF).
)で、外部からの制御コード信号又は表示データコード
信号を入力するとともに外部機器と相互接続するための
ものである。) for inputting external control code signals or display data code signals and for interconnecting with external equipment.
第1図に示したものの動作について説明する。The operation of the device shown in FIG. 1 will be explained.
通常のディスプレイ装置としての動作は、K/B2に設
けられた複数のデークキ−を選択すると、対応した表示
データコード信号がCNT3に入力する。In operation as a normal display device, when a plurality of dekey keys provided on K/B2 are selected, a corresponding display data code signal is input to CNT3.
CNT3に入力した表示データコード信号は応じて表示
制御し、CRTlにに/B2のデータキーに対応した文
字又は記号を表示するものである。The display data code signal inputted to the CNT3 is displayed accordingly, and the characters or symbols corresponding to the data key /B2 are displayed on the CRTl.
外部から表示データ信号をLIF4に入力した場合も上
記に/B2を操作した場合と同じである。The case where a display data signal is input from the outside to LIF4 is the same as the case where /B2 is operated as described above.
次にディスプレイ装置が故障等により試験する必要があ
る場合は、専用の試験器をLIF4に接続し、種々の制
御コード信号又は表示データコード信号をLIF4へ入
力しディスプレイ装置の機能試験を行なってチェックし
ていた。Next, if the display device needs to be tested due to a failure, etc., connect a dedicated tester to the LIF4, input various control code signals or display data code signals to the LIF4, and perform a function test of the display device to check. Was.
この様に従来のディスプレイ装置は機能試験を行なう場
合、専用の試験器を用いていたため簡単にディスプレイ
装置の機能試験を行なうことが出来なかった。As described above, when performing a functional test on a conventional display device, a dedicated tester was used, so it was not possible to easily test the function of the display device.
この発明は上述した点に鑑みてなされたもので、一般的
なディスプレイ装置に試験を行なうためのモード切換回
路と制御コード発生回路とをデータ入力装置に付加する
ことにより、必要に応じてディスプレイ装置の機能試験
を行ない得るディスプレイ装置を提供するものである。The present invention has been made in view of the above-mentioned points, and by adding a mode switching circuit and a control code generation circuit for testing a general display device to a data input device, the display device can be used as needed. The present invention provides a display device that can perform functional tests.
以下、この発明の実施例を第2図及び第3図に示し説明
する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. 2 and 3.
第2図に於て、第1図と同一符号は同−又は相当部分を
示す。In FIG. 2, the same reference numerals as in FIG. 1 indicate the same or corresponding parts.
5はデータ入力装置(以下、K/Bと称す。5 is a data input device (hereinafter referred to as K/B).
)で、第1図に示したに/B2にディスプレイ装置の機
能試験を行なうための回路が付加されたものである。), a circuit for performing a function test of the display device is added to the /B2 shown in FIG.
6は接続制御回路(以下、CONと称す。6 is a connection control circuit (hereinafter referred to as CON).
)で、切換回路7からの切換信号に応じて、通常動作の
時はに/B5からの表示データコード信号をCNT3へ
接続し、試験モードの時はに/B5からの制御コード信
号又は表示データコード信号をCNT3又はLIF4へ
選択的に接続するものである。), according to the switching signal from the switching circuit 7, the display data code signal from /B5 is connected to CNT3 during normal operation, and the control code signal or display data from /B5 is connected to CNT3 during test mode. The code signal is selectively connected to CNT3 or LIF4.
第2図に示したに/B5の詳細を第3図に示し説明する
。Details of the /B5 shown in FIG. 2 are shown and explained in FIG. 3.
第3図に於て、8は各種キー、9はコード発生回路で、
各種牛−8に対応した表示データコード信号を発生する
ものである。In Figure 3, 8 is various keys, 9 is a code generation circuit,
It generates display data code signals corresponding to various types of cows-8.
11はモード切換回路で、キー8で選択された文字又は
記号等をCRTIへ表示する通常動作モードとキー8で
選択された文字又は記号に対応した制御コード信号でデ
ィスプレイ装置の機能を試験する試験動作モードとに切
換えるものである。Reference numeral 11 denotes a mode switching circuit, which is used for a normal operation mode in which characters or symbols selected by key 8 are displayed on the CRTI, and a test for testing the function of the display device using a control code signal corresponding to the character or symbol selected by key 8. This is used to switch between the operating modes.
10はビット変換回路で、通常動作モードでは動作せず
コード発生回路9からの表示データコード信号を通過さ
せ、試験動作モードでは表示データコードを所定の制御
コード信号に変換し、キー8の選択に応じて種々の制御
コード信号を発生するものである。10 is a bit conversion circuit which does not operate in the normal operation mode and passes the display data code signal from the code generation circuit 9; in the test operation mode, it converts the display data code into a predetermined control code signal, and converts the display data code into a predetermined control code signal, It generates various control code signals accordingly.
この発明の実施例による動作を第2図及び第3図により
説明する。The operation of this embodiment of the invention will be explained with reference to FIGS. 2 and 3.
K/BSのモード切換回路11を通常動作モードに設定
した場合、その動作は前述したものと同様に、K/B5
に設けられた各種のキー8を選択するとキー8に対応し
て文字又は記号がCRTlに表示される。When the mode switching circuit 11 of the K/BS is set to the normal operation mode, its operation is similar to that described above.
When various keys 8 provided on the screen are selected, characters or symbols corresponding to the keys 8 are displayed on the CRTl.
次に、K/BSのモード切換回路11を試験動作モード
に設定した場合の動作は、K/B5に設けられた各種キ
ー8の中の特定キーを押しながら又は押した後、他のキ
ー8を押すと、押されたキーに対応した表示データコー
ド信号がコード発生回路より出力する。Next, when the mode switching circuit 11 of the K/BS is set to the test operation mode, the operation is as follows: While pressing or after pressing a specific key among the various keys 8 provided on the K/B 5, press another key 8. When is pressed, the code generation circuit outputs a display data code signal corresponding to the pressed key.
表示データコード信号はビット変換回路10に入力し、
所定の制御コード信号に変換されC0N6に入力する。The display data code signal is input to the bit conversion circuit 10,
It is converted into a predetermined control code signal and input to C0N6.
C0N3に入力された所定制御コード信号は切換回路7
により各種機能試験に応じてLIF4又はCNT3へ出
力され、LIF4又はCNT3の機能試験が行なわれる
。The predetermined control code signal input to C0N3 is sent to the switching circuit 7.
The signal is output to the LIF4 or CNT3 according to various functional tests, and the functional test of the LIF4 or CNT3 is performed.
又、特定のキーを押さないで他のキーを押した場合は通
常動作モードと同様にCRTlに表示されるものである
。Further, if a specific key is not pressed but another key is pressed, the display is displayed on the CRTl in the same way as in the normal operation mode.
ここで制御コード発生回路はコード発生回路9及びビッ
ト変換回路で構成したものである。Here, the control code generation circuit is composed of a code generation circuit 9 and a bit conversion circuit.
以上説明したように、この発明は試験を行なうためのモ
ード切換回路と制御コード発生回路とをデータ入力装置
に付加したディスプレイ装置を構成することにより、特
別な試験器を用いることなく必要に応じてディスプレイ
装置の機能試験を行うことができる。As explained above, the present invention configures a display device in which a mode switching circuit and a control code generation circuit for performing a test are added to a data input device, so that the test can be performed as needed without using a special tester. Functional testing of display devices can be performed.
ここで、この発明の詳細な説明中、キー8は通常動作モ
ード並びに試験動作モードともに共通して使用したが、
独立に設けてもよいことは明白である。Here, in the detailed description of the present invention, key 8 was used in both the normal operation mode and the test operation mode.
It is clear that they may be provided independently.
さらに、特別のキーについても同様である。Furthermore, the same applies to special keys.
又、表示器としてCRTとして説明したが、プラズマデ
ィスプレイ等が使用し得ることは明白である。Further, although the CRT has been described as a display device, it is obvious that a plasma display or the like can be used.
第1図は従来のディスプレイ装置の構成図、第2図はこ
の発明の実施例によるディスプレイ装置の構成図、第3
図は第2図に示したデータ入力装置を示す構成図である
。
図中、1は表示器としての陰極線管CRT、3はディス
プレイ制御回路CNT、4は外部接続インタフェース回
路LIF、5はデータ入力装置に/B、6は制御回路C
ON、7は切換回路、8はキー、9はコード発生回路、
10はビット変換回路、11はモード切換回路である。
なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。FIG. 1 is a block diagram of a conventional display device, FIG. 2 is a block diagram of a display device according to an embodiment of the present invention, and FIG.
This figure is a block diagram showing the data input device shown in FIG. 2. In the figure, 1 is a cathode ray tube CRT as a display, 3 is a display control circuit CNT, 4 is an external connection interface circuit LIF, 5 is a data input device /B, and 6 is a control circuit C.
ON, 7 is a switching circuit, 8 is a key, 9 is a code generation circuit,
10 is a bit conversion circuit, and 11 is a mode switching circuit. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or equivalent parts.
Claims (1)
とともに、外部からの表示データコード信号又はデータ
入力装置からの複数のキー操作に対応して表示面に文字
又は記号等を表示するディスプレイ装置に於て、上記デ
ータ入力装置に通常動作モードと試験動作モードとを選
択するモード切換回路と、上記制御コード信号と等価な
制御コード信号を発生する制御コード発生回路とを設け
、上記モード切換回路を上記試験動作モードに設定した
時、上記複数のキー操作に対応して発生する上記制御コ
ード発生回路からの信号により試験動作し得るように構
成したディスプレイ装置。 2 データ入力装置に設けられた複数のキーに対応して
表示データコード信号を発生する表示コード発生回路と
上記表示データコード信号を人力し制御コード信号に変
換するビット変換回路とで制御コード発生回路を構成し
たことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のディス
プレイ装置。[Scope of Claims] 1. The display is controlled according to an external control code signal, and characters or symbols, etc. are displayed on the display surface in response to an external display data code signal or a plurality of key operations from a data input device. In the display device for displaying, the data input device is provided with a mode switching circuit for selecting a normal operation mode and a test operation mode, and a control code generation circuit for generating a control code signal equivalent to the control code signal. . A display device configured to perform a test operation based on signals from the control code generation circuit generated in response to operations of the plurality of keys when the mode switching circuit is set to the test operation mode. 2. A control code generation circuit consisting of a display code generation circuit that generates display data code signals corresponding to a plurality of keys provided on a data input device, and a bit conversion circuit that manually converts the display data code signals into control code signals. The display device according to claim 1, characterized in that the display device comprises:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51140940A JPS5850376B2 (en) | 1976-11-24 | 1976-11-24 | display device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51140940A JPS5850376B2 (en) | 1976-11-24 | 1976-11-24 | display device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5365021A JPS5365021A (en) | 1978-06-10 |
| JPS5850376B2 true JPS5850376B2 (en) | 1983-11-10 |
Family
ID=15280344
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51140940A Expired JPS5850376B2 (en) | 1976-11-24 | 1976-11-24 | display device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5850376B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60263784A (en) * | 1984-06-12 | 1985-12-27 | Chiyoda Chem Eng & Constr Co Ltd | Control valve using pulse motor |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5383431A (en) * | 1976-12-17 | 1978-07-22 | Fujitsu Ltd | Test method for terminal unit |
| JPS5711378A (en) * | 1980-06-25 | 1982-01-21 | Usac Denshi Kogyo Kk | Error checking system for display station |
| JPS57141732A (en) * | 1981-02-26 | 1982-09-02 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Starting operation method for simple type auxiliary storage device |
| JPS5812056A (en) * | 1981-07-15 | 1983-01-24 | Canon Inc | Information processing device with diagnostic function |
-
1976
- 1976-11-24 JP JP51140940A patent/JPS5850376B2/en not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60263784A (en) * | 1984-06-12 | 1985-12-27 | Chiyoda Chem Eng & Constr Co Ltd | Control valve using pulse motor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5365021A (en) | 1978-06-10 |
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