JPS5851285B2 - sequence controller - Google Patents
sequence controllerInfo
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- JPS5851285B2 JPS5851285B2 JP50116733A JP11673375A JPS5851285B2 JP S5851285 B2 JPS5851285 B2 JP S5851285B2 JP 50116733 A JP50116733 A JP 50116733A JP 11673375 A JP11673375 A JP 11673375A JP S5851285 B2 JPS5851285 B2 JP S5851285B2
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- circuit
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Landscapes
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は入出力要素をモニタリングする機能を備工たシ
ーケンスコントローラに関し、その目的はコンピュータ
の如き上級機を使用せずにかつ割込み機能を有しなくて
も入出力要素をオンラインでモニタリングできるシーケ
ンスコントローラを提供することである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a sequence controller equipped with a function to monitor input/output elements, and its purpose is to monitor input/output elements without using advanced equipment such as a computer and without having an interrupt function. To provide a sequence controller that can monitor online.
コンピュータ技術を応用したシーケンスコントローラが
開発されたことにより、このシーケンスコントローラを
仲介として制御対象の故障箇所を迅速かつ確実に発見で
きるようになった。With the development of sequence controllers that utilize computer technology, it has become possible to quickly and reliably discover faults in controlled objects using this sequence controller as an intermediary.
しかしながら従来では上級機であるコンピュータを使用
しなければならないために装置が太祖りでしかも高価に
なるという問題があり、しかもオンラインでモニタリン
グするためには割込み機能を有するシーケンスコントロ
ーラでなければできなかった。However, in the past, there was a problem that the equipment was outdated and expensive because it required the use of a high-end computer, and online monitoring was only possible with a sequence controller that had an interrupt function. Ta.
本発明はかかる問題点に鑑みて提案されたもので、従来
の割込み機能を有していないシーケンスコントローラで
あっても簡単な装置を付加するだけで上級機を使用せず
に入出力要素のオンラインモニタリングを行なえるよう
にしたことを特徴とするものである。The present invention was proposed in view of such problems, and even if a conventional sequence controller does not have an interrupt function, it is possible to connect input/output elements online without using a high-end machine by simply adding a simple device. It is characterized by being able to perform monitoring.
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings.
第1図は本発明を実施するシーケンスコントロラ全体の
概略構成を示すブロック線図で、1は予めプログラムさ
れたシーケンスサイクルのシーケンス制御データを記憶
するコアメモリ等の主記憶回路、2は主記憶回路1のメ
モリ番地を指定して所定の制御データを順次読出すプロ
グラムカウンタ、3はプログラムカウンタ2にて指定さ
れたメモリ番地から読出された制御データを記憶するメ
モリデータレジスタ、4はメモリデータレジスタ3に記
憶された制御データがデータバスDBを介してセットさ
れるインストラクションレジスタ、5は前記制御データ
のインストラクションレジスタ4へのセットを制御する
メモリゲートである。FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of the entire sequence controller implementing the present invention, in which 1 is a main memory circuit such as a core memory that stores sequence control data of sequence cycles programmed in advance, and 2 is a main memory circuit. 1 is a program counter that specifies a memory address and sequentially reads predetermined control data; 3 is a memory data register that stores the control data read from the memory address specified by program counter 2; and 4 is a memory data register 3. An instruction register 5 to which control data stored in the instruction register 4 is set via a data bus DB is a memory gate that controls setting of the control data to the instruction register 4.
前記制御データとして使用される命令語は、命令の種別
を表す操作部と後述する内部入出力要素の番地、主記憶
回路1のメモリ番地等の番地を指定するアドレス部とよ
り構成される。The instruction word used as the control data is composed of an operation section that indicates the type of instruction, and an address section that specifies an address such as an address of an internal input/output element, a memory address of the main memory circuit 1, etc., which will be described later.
前記命令の種類としては、内部入出力要素のオン−オフ
状態を判定する入出力テスト命令、判定結果に基づいて
内部入出力要素のうち出力要素をオン−オフ作動させる
出力命令、判定結果に基づいてジャンプさせるジャンプ
命令およびモニタリングプログラムにおいて使用される
特殊命令等がある。The types of commands include an input/output test command that determines the on-off state of an internal input/output element, an output command that turns on or off an output element among internal input/output elements based on the determination result, and an output command that turns on or off an output element among the internal input/output elements based on the determination result. There are jump commands that cause a jump, and special commands used in monitoring programs.
第1表に命令語の種類とそれらの意味が示されている。Table 1 shows the types of command words and their meanings.
6はインストラクションレジスタ4にセットされた制御
データの操作部を解読し、各種命令信号を発するインス
トラクションデコーダである。Reference numeral 6 denotes an instruction decoder which decodes the operation part of the control data set in the instruction register 4 and issues various command signals.
10は、例えば工作機械等の制御対象装置の各部動作要
素の動作確認によりオン−オフ作動されるリミットスイ
ッチ、押釦スイッチ等の外部入力要素10a1および前
記制御対象装置の各部動作要素の動作を指示してオン−
オフ作動する出力しIJ−、ソレノイド等の外部出力要
素10bからなる外部にゆうりる要素群である。Reference numeral 10 indicates an external input element 10a1, such as a limit switch or a push button switch, which is turned on and off by checking the operation of each operating element of the controlled device such as a machine tool, and an external input element 10a1 that instructs the operation of each operating element of the controlled device. On-
This is a group of elements connected to the outside, including an external output element 10b such as an output IJ-, a solenoid, etc., which is turned off.
11は各外部入力要素10aと対を成しこの外部入力要
素10aのオン−オフ作動状態をシーケンスコントロー
ラの内部レベルの電気信号形態に変換する多数の内部入
力要素11a、および各外部出力要素10bと対を成し
内部レベルの出力信号を受けて外部出力要素10bをオ
ン−オフ作動させる多数の出力要素、その他外部入出力
要素群10と直接信号の授受をせず内部レベルの出力信
号を受けて作動する多数のタイマ要素、リレー要素、ダ
ミー要素等の内部出力要素11bからなる内部入出力要
素群である。Numeral internal input elements 11a are paired with each external input element 10a and convert the on-off operating state of the external input element 10a into an electrical signal form at an internal level of the sequence controller, and each external output element 10b. A large number of output elements that form a pair and turn on and off the external output element 10b by receiving internal level output signals, and other output elements that do not directly exchange signals with the external input/output element group 10 but receive internal level output signals. This is an internal input/output element group consisting of a large number of internal output elements 11b such as operating timer elements, relay elements, and dummy elements.
12は内部入出力要素群11の中から前記制御データで
指定された番地の内部入出力要素11a。Reference numeral 12 denotes an internal input/output element 11a at an address specified by the control data from among the internal input/output element group 11.
11bを選択する入力セレクタ12a、出力セレクタ1
2bとからなる入出力選択回路であり、選択された内部
入出力要素11a、11bのオン−オフ状態は、オンの
ときにはH”、オフのときには+1 L IJとして、
入力セレクタ12aの出力端子からラインIT上に送出
さ札特に制御データが出力命令であればテストフラグ回
路14からラインOTを介して送出される出力信号が出
力セレクタ12bにて選択された内部出力要素11bに
セットされるようになっている。Input selector 12a that selects 11b, output selector 1
2b, and the on-off state of the selected internal input/output elements 11a and 11b is H" when it is on, and +1 L IJ when it is off.
In particular, if the control data is an output command, the output signal sent from the test flag circuit 14 via the line OT is the internal output element selected by the output selector 12b. 11b.
テストフラッグ回路14は、前記インストラクションデ
コーダ6にて解読された各種命令信号を受け、この命令
信号を入出力テスト命令であるならラインITを介して
入力される内部入出力要素11a、11bからのオン−
オフ信号がテスト命令条件を満足しているか否かを判定
してその結果を記憶し、また命令信号が出力命令である
ならば前″記記憶した判定結果に基づいたオン−オフ出
力信号をラインOTに出力するようになっている。The test flag circuit 14 receives various command signals decoded by the instruction decoder 6, and if the command signals are input/output test commands, the test flag circuit 14 receives the command signals from the internal input/output elements 11a, 11b input via the line IT. −
It determines whether the off signal satisfies the test command condition and stores the result, and if the command signal is an output command, it outputs an on-off output signal based on the stored determination result on the line. It is designed to be output to OT.
15は各命令実行等のタイミングをとる制御パルスを発
生させる制御パルス発生回路で、この実癩例においては
第3図に示すようなOP 、 CL 1〜CL6の制御
パルスが周期的に発生され、−命◆の実行をこの制御パ
ルスOPが出てからCL6が出されるまでの一周期間で
行われるようになっている。Reference numeral 15 denotes a control pulse generation circuit that generates control pulses for timing the execution of each command, and in this example, control pulses OP, CL1 to CL6 as shown in FIG. 3 are periodically generated. - The command ◆ is executed in one cycle period from when this control pulse OP is issued until when CL6 is issued.
16は主記憶回路1の制御回路、17はプログラムカウ
ンタ2にて指定されるメモリ番地のゲート、18はジャ
ンプ命令が与えられときにプログラムカウンタ2のメモ
リ番地を記憶する待避レジスタ、19〜23は前記制御
パルスにて開閉され所定の命令実行を遂行させるゲート
である。16 is a control circuit for the main memory circuit 1; 17 is a gate at a memory address specified by the program counter 2; 18 is a save register that stores the memory address of the program counter 2 when a jump instruction is given; and 19-23 are This is a gate that is opened and closed by the control pulse to execute a predetermined command.
100は本発明の主要部をなすモニタリング回路であり
、この回路100の機能ブロック図を第7図に示す。Reference numeral 100 denotes a monitoring circuit which forms the main part of the present invention, and a functional block diagram of this circuit 100 is shown in FIG.
先ずこのモニタリング回路100の果たす機能を概念的
に説明すると、1つの出力要素を含めてこれを制御する
ための入力条件のクループを動作単位となし、この動作
単位毎に異常の有無を判別し、この判別結果により異常
の有る動作単位の各入力条件をオンラインで順番に調べ
てモニタ用記憶装置200に記憶し、この記憶結果をオ
フラインで読出し表示する。First, to conceptually explain the function performed by this monitoring circuit 100, a group of input conditions including one output element for controlling this is taken as an operation unit, and the presence or absence of an abnormality is determined for each operation unit. Based on this determination result, each input condition of the operation unit with the abnormality is examined in order on-line and stored in the monitor storage device 200, and this stored result is read and displayed off-line.
この表示内容を作業者が判読して異常となった障害条件
を見い出すようになっている。The operator is able to decipher the displayed content and find out the fault condition that caused the abnormality.
ここに動作単位毎に入力条件をモニタして入力条件中の
障害条件を見い出せるようモニタプログラムを分割して
おき、動作単位毎に異常がないか判別する判別プログラ
ムにより異常有りと判別された動作単位に対応するモニ
タプログラムを選択し、上述のモニタが行われることに
なる。Here, the monitor program is divided so that it can monitor the input conditions for each operation unit and find failure conditions in the input conditions, and the operation that is determined to be abnormal by the discrimination program that determines whether there is an abnormality in each operation unit. A monitor program corresponding to the unit is selected, and the above-mentioned monitoring is performed.
第7図において、200はモニタ結果を記憶するモニタ
用記憶装置、210は記憶番地切替回路、220は第1
の制御手段である。In FIG. 7, 200 is a monitor storage device for storing monitoring results, 210 is a memory address switching circuit, and 220 is a first
control means.
第1の制御手段220はモニタ開始指令(スイッチ10
6の閉成)が与えられるとシーケンス制御から動作単位
毎に異常の有無を判別する判別プログラムの実行に切替
える。The first control means 220 issues a monitor start command (switch 10
6) is given, the sequence control is switched to execution of a determination program that determines the presence or absence of an abnormality for each operation unit.
230は第2の制御手段であって、判別プログラムの実
行によりいずれかの動作単位に異常有りと判定されるこ
とにより、前記モニタ用記憶装置200及び記憶番地切
替回路210を有効にし、異常有りと判別された動作単
位のモニタプログラムを実行し、入力テスト回路120
より与えられるモニタ結果を記憶装置200に順次記憶
する。Reference numeral 230 denotes a second control means, which enables the monitor storage device 200 and the memory address switching circuit 210 when it is determined that there is an abnormality in any operation unit by executing a determination program, and determines that there is an abnormality. The input test circuit 120 executes the monitor program for the determined operation unit.
The monitoring results given by the above are sequentially stored in the storage device 200.
又モニタプログラムのエンドになると記憶装置200及
び記憶番地切替回路210を無効にしシーケンス制御に
戻す。Furthermore, when the monitor program ends, the memory device 200 and the memory address switching circuit 210 are disabled and the sequence control is returned to.
これによってスキャニングを止めることなくオンライン
モニタが達成される。This achieves online monitoring without stopping scanning.
240は異常回路番号表示装置であり、前記判別プログ
ラムにて異常と判別された動作単位に対応した異常回路
番号がセットされ表示される。Reference numeral 240 denotes an abnormal circuit number display device, in which an abnormal circuit number corresponding to the operation unit determined as abnormal by the discrimination program is set and displayed.
250は記憶装置200に記憶されたモニタ結果の表示
回路であり、記憶番地切替回路210を手動切替えして
表示させる。250 is a display circuit for displaying the monitoring results stored in the storage device 200, which is displayed by manually switching the storage address switching circuit 210.
作業者はこれを判読して異常の原因追求をすることにな
る。The operator will be able to read this and find the cause of the abnormality.
次に上述の各機能ブロックの詳細を第2図を参照して説
明する。Next, details of each of the above-mentioned functional blocks will be explained with reference to FIG. 2.
モニタ用記憶装置200は記憶回路130として示され
、記憶番地切替回路210は逐次カウンタ115として
示されている。The monitor storage device 200 is shown as a storage circuit 130, and the storage address switching circuit 210 is shown as a sequential counter 115.
第1の制御手段220は押釦スイッチ106、Dフリッ
プフロップ109に対応し、スイッチ106を閉成する
ことによりモニタリング開始が指令され、Dフリップフ
ロップ109をセット状態にする。The first control means 220 corresponds to the push button switch 106 and the D flip-flop 109, and by closing the switch 106, a command to start monitoring is given, and the D flip-flop 109 is set.
このセット信号(Q端子出力)は入力セレクタ12aの
3770番地に与えられる。This set signal (Q terminal output) is applied to address 3770 of the input selector 12a.
これにより第5図に示すシーケンス制御プログラム(o
ooo〜0277番地)に引き続き0300番地以下の
判別プログラムが実行され、動作単位毎に異常の有無が
判別される。As a result, the sequence control program (o
Subsequently to addresses 0300 and 0300 (addresses ooo to 0277), the determination program for addresses 0300 and below is executed, and the presence or absence of an abnormality is determined for each operation unit.
仮に起動回路に異常が有れば0304番地の命令にて異
常回路番号oooiがレジスタ101にセットされ、異
常回路番地表示装置240としての表示器103に表示
され、又0305番地の命4>5ON3770にてフラ
グ107がセットされる。If there is an abnormality in the startup circuit, the abnormal circuit number oooi is set in the register 101 by the command at address 0304 and displayed on the display 103 as the abnormal circuit address display device 240, and the command at address 0305 is set to 4>5ON3770. flag 107 is set.
この命令のオペランドの3770は第2図の出力セレク
タ12bの3770番地をセレクトしゲート108を介
してフラグ107のT端子にパルスを与え、J端子には
SONが与えられているので、フラグ107はセットさ
れることになる。The operand 3770 of this instruction selects the address 3770 of the output selector 12b in FIG. It will be set.
フラグ107がセットされるとゲート13及び118が
開かれ、記憶回路130、逐次カウンタ115を有効に
する。When flag 107 is set, gates 13 and 118 are opened, enabling storage circuit 130 and sequential counter 115.
第5図における0306〜0316番地の起動回路モニ
タプログラムを実行することにより、入力テスト回路1
20よりモニタ結果としての信号が順次記憶回路130
に記憶される。By executing the startup circuit monitor program at addresses 0306 to 0316 in FIG.
20, the signals as the monitoring results are sequentially stored in the storage circuit 130.
is memorized.
モニタプログラムのエンド即ち0317番地の命10F
3770によりフラグ107はリセットされ、次番地の
命4>JMPOOOOによりシーケンス制御プログラム
に戻ってスキャニングが継続される。End of the monitor program, ie 10F of address 0317
The flag 107 is reset by 3770, and the next address command 4>JMPOOOO returns to the sequence control program to continue scanning.
フラグ107のリセットにより逐次カウンタ115はス
イッチ105により手動歩進させることができるように
なりモニタ結果を読出し表示回路250としての表示器
134に表示させることができる。By resetting the flag 107, the sequential counter 115 can be manually incremented by the switch 105, and the monitor result can be read out and displayed on the display 134 as the display circuit 250.
尚、111はフリップフロップ109がセットされると
点灯するモニタリング開始指令表示用の発光ダイオード
で、フリップフロップ109のQ端子出力がインバータ
112を介して入力されるようになっている。Note that 111 is a light emitting diode for displaying a monitoring start command that lights up when the flip-flop 109 is set, and the Q terminal output of the flip-flop 109 is inputted through the inverter 112.
119は逐次カウンタ115の内容を外部表示するメモ
リ番地表示器で、逐次カウンタ115の内容が入力され
るようになっている。A memory address display 119 externally displays the contents of the sequential counter 115, and the contents of the sequential counter 115 are inputted thereto.
120は入出力要素10a、10bのオン−オフ状態が
入出力テスト命令の条件を満足しているかどうかをテス
トする入出力テスト回路で、この回路120を構成する
アンドゲート121にはテスト命4>TNAおよびライ
ンIT上に送出されている内部入出力要素11a、11
bのオン−オフ信号が入力され、アンドゲート122に
はテスト命4>TFAが入力されるとともにラインIF
上に送出されている内部入出力要素11a、11bのオ
ン−オフ信号がインバータ123を介して入力され、両
アントゲ゛−ト121.122の出力はオアゲ゛−ト1
24を介して出力されるようになっている。Reference numeral 120 denotes an input/output test circuit that tests whether the on-off states of the input/output elements 10a and 10b satisfy the conditions of the input/output test command. Internal input/output elements 11a, 11 being sent out on TNA and line IT
b on-off signal is input, test command 4>TFA is input to the AND gate 122, and the line IF
The on-off signals of the internal input/output elements 11a and 11b sent above are inputted via the inverter 123, and the outputs of both ant gates 121 and 122 are sent to the or gate 1.
24.
したがってテスト命令の条件を満足していれば゛′H′
;満足していなければL″の信号を判定結果として出力
する。Therefore, if the conditions of the test command are satisfied, ゛′H′
; If the condition is not satisfied, an L'' signal is output as the determination result.
134は記憶回路130のデータ出力端子Do−utの
出力インバーク136を介して入力され、このテ゛−タ
出力端子Doutの出力がH″のときに点灯するOK表
示用の発光ダイオード135と、データ出力端子Dou
tの出力が入力されて、このテ゛−り出力端子Dout
の出力が°゛L”のきとに点灯するNG表示用の発光ダ
イオード137より構成されている。134 is input through the output inverter 136 of the data output terminal Do-out of the memory circuit 130, and a light-emitting diode 135 for an OK display that lights up when the output of the data output terminal Dout is H''; Terminal Dou
The output of t is input, and this output terminal Dout
It is composed of a light emitting diode 137 for displaying NG, which lights up when the output is °゛L''.
次に上記のように構成されたシーケンスコントローラの
作動を第3〜第5図を参照しながら説明すると、制御パ
ルスCL6の発生時に発生する制御信号UPIによりプ
ログラムカウンタ2の内容が+1され、制御パルスCL
2の発生時に発生する制御信号MSTによりゲート17
が開かれ、プログラムカウンタ2で指定されたメモリ番
地の制御データがメモリデータレジスタ3に読出されて
記憶される。Next, the operation of the sequence controller configured as described above will be explained with reference to FIGS. 3 to 5. The content of the program counter 2 is incremented by 1 by the control signal UPI generated when the control pulse CL6 is generated, and the control pulse C.L.
The gate 17 is activated by the control signal MST generated when 2 occurs.
is opened, and the control data at the memory address specified by the program counter 2 is read out and stored in the memory data register 3.
そして制御パルスCL3の発生時に発生する制御信号G
Mによりメモリゲート3が開かれ、同じく制御パルスC
L3の発生時に発生する制御信号5GISRによりイン
ストラクションレジスタ4が開かれてメモリデータレジ
スタ3に記憶されている制御データがインストラクショ
ンレジスタ4にセットされる。And the control signal G generated when the control pulse CL3 is generated
The memory gate 3 is opened by M, and the control pulse C
The instruction register 4 is opened by the control signal 5GISR generated when L3 is generated, and the control data stored in the memory data register 3 is set in the instruction register 4.
こうしてインストラクションレジスタ4に制御データが
セットされるとそのアドレス部にセットされた番地信号
がラインAD上に送出され、その番地信号で指定される
番地の内部入出力要素11a、11bのオン−オフ状態
が、オンのときには″HD信号として、オフのときには
”L”信号としてラインIT上に送出される。When the control data is set in the instruction register 4 in this way, the address signal set in the address field is sent onto the line AD, and the internal input/output elements 11a and 11b at the address specified by the address signal are turned on/off. However, when it is on, it is sent out as an "HD signal", and when it is off, it is sent out on line IT as an "L" signal.
そしてインストラクションレジスタ4にセットされる制
御データはプログラムに従って制御パルスCL3の発生
毎に変更され、これがためにラインAD上に送出される
番地信号およびラインIT上に送出されるオン−オフ信
号は制御パルスCL3の発生毎に更新されることになる
。The control data set in the instruction register 4 is changed according to the program every time the control pulse CL3 occurs, and therefore the address signal sent on the line AD and the on-off signal sent on the line IT are changed by the control pulse. It will be updated every time CL3 occurs.
各回路がこのようにして制御されることにより第5図に
示したプログラムが実行される。By controlling each circuit in this manner, the program shown in FIG. 5 is executed.
このプログラムの実行において、メモリ番地1〜277
に記憶されているシーケンス制御プログラムの実行が終
了するとメモリ番地300の制御データT、NA377
0が読み出され前記モニタリング回路100のフリップ
フロップ109がセットされているかりセットされてい
るかかテストフラグ回路14にて判定される。In executing this program, memory addresses 1 to 277
When the execution of the sequence control program stored in
0 is read out, and the test flag circuit 14 determines whether the flip-flop 109 of the monitoring circuit 100 is set or not.
従ってフリップフロップ109がリセット状態であれば
メモリ番地301の制御データJMNOOOOの実行に
よりメモリ番地0ヘジヤツブし再びシーケンス制御プロ
グラムが実行され、モニタリングプログラムは実行され
ない。Therefore, if the flip-flop 109 is in the reset state, the control data JMNOOOO at the memory address 301 is executed to jump to the memory address 0, and the sequence control program is executed again, but the monitoring program is not executed.
モニタリングを行いたい場合には、作業者はモニタリン
グ開始外部指令用押釦スイッチ106を押してフリップ
フロップ109をセットする。When the operator desires to perform monitoring, the operator presses the push button switch 106 for external command to start monitoring and sets the flip-flop 109.
フリップフロップ109がセットされるとモニタリング
開始指令用の発光ダイオード111が点灯される。When the flip-flop 109 is set, the light emitting diode 111 for a monitoring start command is turned on.
また逐次カウンタクリヤ用押釦スイッチ104を押して
逐次カウンタ115の内容をOにしておく。Further, the push button switch 104 for clearing the sequential counter is pressed to set the content of the sequential counter 115 to O.
フリップフロップ109がセットされておれば、メモリ
番地Oヘジャンプせず、302番地以降に移行して判別
プログラムが実行される。If the flip-flop 109 is set, the program does not jump to memory address O, but moves to address 302 and thereafter, and the discrimination program is executed.
判別プログラムにおいては、まず起動回路のチェックが
行われる。In the determination program, the starting circuit is first checked.
すなわちメモリ番地302の制御データTFAO100
が読み出されて起動しIJ−CRIに対応する内部入出
力要素CR1のオン−オフ状態がテストフラグ回路14
にて判定される。That is, the control data TFAO100 at memory address 302
is read out and activated, and the on-off state of the internal input/output element CR1 corresponding to IJ-CRI is detected by the test flag circuit 14.
Judgment will be made.
起動リレーCR1は正常な運転中においては常にオンに
なっているリレーであるから、 オフになっていれば起
動回路に異常があることになる。Starting relay CR1 is a relay that is always on during normal operation, so if it is off, there is an abnormality in the starting circuit.
次にメモリ番地303の制御データJMNO321が実
行される。Next, control data JMNO321 at memory address 303 is executed.
従ってリレーCR1がオフであれば、すなわち起動回路
が異常であれば次のメモリ番地304の制御データAB
NOOOIが読み出されて起動回路のモニタリングが開
始される。Therefore, if relay CR1 is off, that is, if the starting circuit is abnormal, the control data AB at the next memory address 304
NOOOI is read and monitoring of the startup circuit begins.
これにより制御パルスCL5の発生時点で制御データA
BNOOOIのアドレス部0001力5レジスタ101
にセットされ、異常回路番号表示器103には起動回路
が異常であることを意味する厘1が表示される。As a result, control data A is generated at the time when control pulse CL5 is generated.
Address part 0001 of BNOOOI 5 register 101
is set, and the abnormal circuit number display 103 displays 厘1, which means that the starting circuit is abnormal.
次にメモリ番地305の制御データ5ON3770が読
み出されることにより、制御パルスCL5の発生時点で
モニタリング開始フラグ回路であるフリップフロップ1
07がセットされる。Next, the control data 5ON3770 at the memory address 305 is read out, so that the flip-flop 1, which is the monitoring start flag circuit, is activated at the time when the control pulse CL5 is generated.
07 is set.
フリップフロップ107がセットされると制御パルスC
L6の発生時点で逐次カウンタ115の内容力5+1さ
れて1になる。When the flip-flop 107 is set, the control pulse C
At the time of occurrence of L6, the content of the counter 115 is sequentially incremented by 5+1 and becomes 1.
次のメモリ番地306の制御データTNAOOOIが読
み出されることにより、テスト回路120にはテスト命
+TNAと入出力番地1の内部入出力要素LS2のオン
オフ状態が入力され、内部入出力要素LS2がオンであ
ればテスト回路120から”H”信号が出力され、オフ
であれば°L”信号が出力される。By reading the control data TNAOOOI at the next memory address 306, the test command +TNA and the on/off state of the internal input/output element LS2 at input/output address 1 are input to the test circuit 120, and whether the internal input/output element LS2 is on or not is input to the test circuit 120. For example, the test circuit 120 outputs an "H" signal, and if it is off, a °L" signal is output.
そしてこの出力は制御パルスCL4の発生により記憶回
路130のメモリ番地1に書き込まれる。This output is then written to memory address 1 of the storage circuit 130 by the generation of the control pulse CL4.
その後発生する制御パルスCL6により逐次カウンタ1
15の内容は+1されて2になる。The control pulse CL6 generated after that causes the counter 1 to
The contents of 15 are increased by +1 to become 2.
次にメモリ番地307の制御データTFAOOO2が読
み出されることにより、テスト回路120にはテスト命
4>TFAと入出力番地2の内部入出力要素LS3のオ
ン−オフ状態が入力され、内部入出力要素LS3がオフ
であればテスト回路120から°゛H″H″信号され、
オンであれば°“Ln信号が出力される。Next, the control data TFAOOOO2 at memory address 307 is read, and the test command 4>TFA and the on-off state of internal input/output element LS3 at input/output address 2 are input to the test circuit 120. If it is off, the test circuit 120 sends a °゛H''H'' signal,
If it is on, the °“Ln signal is output.
そしてこの出力は制御パルスCL4の発生により記憶回
路130のメモリ番地2に書き込まれる。This output is then written to memory address 2 of the storage circuit 130 by the generation of the control pulse CL4.
そして制御パルスCL6により逐次カウンタ115の内
容は+1されて3になる。Then, the content of the sequential counter 115 is incremented by +1 to 3 by the control pulse CL6.
このようにして306番地から316番地の制御データ
が読み出され、起動回路を構成する各接点が常閉接点で
あればテスト命+TNAにより、常閉接点であればテス
ト命+TFAにより、それらの接点に対応する各内部入
出力要素LS2〜CR2のオン−オフ状態がテスト回路
にて判定され、その判定結果は判定順に記憶回路130
の各メモリ番地1〜9に記憶される。In this way, the control data from address 306 to address 316 is read, and if the contacts making up the starting circuit are normally closed contacts, test command + TNA is used, and if they are normally closed contacts, test command + TFA is applied to those contacts. The test circuit determines the on-off state of each internal input/output element LS2 to CR2 corresponding to
are stored in each memory address 1 to 9.
メモリ番地316の制御データTNAO101が実行さ
れて起動回路を構成する各接点に対応するすべての内部
入出力要素の判定が終了すると、次はメモリ番地317
の制御データ5OF3770が読み出されてそのアドレ
ス部3770で指定される内部入出力要素であるフリッ
プフロップ107がリセットされる。When the control data TNAO101 at memory address 316 is executed and the determination of all internal input/output elements corresponding to each contact forming the startup circuit is completed, the control data TNAO101 at memory address 316 is executed.
The control data 5OF 3770 is read out, and the flip-flop 107, which is an internal input/output element specified by the address field 3770, is reset.
フリップフロップ107がリセットされるとフリップフ
ロップ109も即時にリセットされる。When flip-flop 107 is reset, flip-flop 109 is also reset immediately.
これによって逐次カウンタ115も記憶回路130もこ
れ以降は作動しなくなり、動作単位のモニタリング結果
を有効に記憶保持することができる。As a result, neither the sequential counter 115 nor the storage circuit 130 will operate from this point forward, and the monitoring results for each operation can be effectively stored and held.
次のメモリ番地320の制御データJMPOOOOが読
み出されるとメモリ番地0ヘジヤンプする。When control data JMPOOOO of the next memory address 320 is read out, it jumps to memory address 0.
これによってモニタリングが終了し再びシーケンス制御
プログラムが実行される。This ends the monitoring and the sequence control program is executed again.
なお前記フリップフロップ109がリセットされること
により発光ダイオード111が消灯されてモニタリング
が終了したことが作業者に知らされる。Note that by resetting the flip-flop 109, the light emitting diode 111 is turned off and the operator is notified that the monitoring has ended.
一方、前記起動リレーCR1がオンであればすなわち起
動回路が正常であれば、メモリ番地303の制御データ
JMNO321の実行によりメモリ番地321ヘジヤツ
プしてユニツ)I進すイクル回路のチェックか行われる
。On the other hand, if the starting relay CR1 is on, that is, if the starting circuit is normal, the control data JMNO321 at the memory address 303 is executed to check the cycle circuit that jumps to the memory address 321 and advances to unit)I.
すなわちメモリ番地321の制御データTFA0200
、メモリ番地322の制御データTFA0176、メモ
リ番地323の制御データTFA0177が順次実行さ
れる。In other words, the control data TFA0200 at memory address 321
, control data TFA0176 at memory address 322, and control data TFA0177 at memory address 323 are sequentially executed.
この場合は、入出力番地200,176.177の内部
入出力要素のすべてがオフのときにのみユニット前進サ
イクル回路が異常でありそれ以外のときは正常であるこ
とになっている。In this case, the unit advance cycle circuit is abnormal only when all of the internal input/output elements at input/output addresses 200, 176, and 177 are off, and otherwise normal.
従って入出力番地200 、176 。177の内部入
出力要素すべてがオフであれば、次のメモリ番地324
の制御データJMNO340の実行後、メモリ325の
制御データABNOOO2が読み出されてユニット前進
サイクル回路のモニタリングが開始される。Therefore, input/output addresses 200 and 176. If all 177 internal input/output elements are off, the next memory address 324
After execution of the control data JMNO340, the control data ABNOOO2 of the memory 325 is read out and monitoring of the unit advance cycle circuit is started.
この場合には異常回路番号表示器103にはユニット前
進サイクル回路が異常であることを意味するA2が表示
される。In this case, the abnormal circuit number display 103 displays A2, which means that the unit advance cycle circuit is abnormal.
一方、前記入出力番地200,176.177の内部入
出力要素のうち何れか一つでもオンであれば、メモリ番
地324の制御データ0340の実行後、メモリ番地3
40ヘジヤンプして次の回路のチェックが行われる。On the other hand, if any one of the internal input/output elements at input/output addresses 200, 176, and 177 is on, after the control data 0340 at memory address 324 is executed,
After jumping 40 degrees, the next circuit is checked.
このようにプログラムが実行されて各動作単位毎に異常
の有無が判別され、異常有りとなった動作単位を構成す
る入力条件に対応する各内部入出力要素のオン−オフ状
態が判定され判定結果が記憶回路130に記憶され、ま
たいずれの回路にも異常がない場合には、メモリ番地3
70の制御データJMPOOOOの実行によってメモリ
番地Oヘジャンプして再びシーケンス制御プログラムが
実行されることになる。The program is executed in this way, and the presence or absence of an abnormality is determined for each operation unit.The on-off state of each internal input/output element corresponding to the input conditions that make up the operation unit that has an abnormality is determined, and the determination result is is stored in the memory circuit 130, and if there is no abnormality in any circuit, the memory address 3
By executing the control data JMPOOOO of 70, a jump is made to memory address O, and the sequence control program is executed again.
また、プログラムを一巡するに要する時間は極めて短時
間であり、しかもモニタリングプログラムの実行後は必
ずシーケンス制御プログラムに戻されるので、モニタリ
ングはシーケンス制御が実行されながら実行されること
になり、割込み機能のないシーケンスコントローラであ
ってもオンラインモニタリングができることになり、こ
の場合上位コンピュータを使用しなくでも良いため極め
て実用的である。In addition, the time required to complete one cycle of the program is extremely short, and since the monitoring program always returns to the sequence control program after execution, monitoring is executed while the sequence control is being executed, and the interrupt function is This means that online monitoring can be performed even if the sequence controller is not equipped, and in this case there is no need to use a host computer, which is extremely practical.
作業者は、モニタリング開始外部指令用押釦スイッチ1
06を押して点灯させた発光ダイオード111が消灯さ
れるのを確認すると、モニタリング結果を外部表示させ
る。The operator presses push button switch 1 for external command to start monitoring.
When it is confirmed that the light emitting diode 111 that was turned on by pressing 06 is turned off, the monitoring result is displayed externally.
まず、逐次カウンタクリヤ用押釦スイッチ104を押し
て逐次カウンタ115の内容をOにする。First, the sequential counter clear push button switch 104 is pressed to set the content of the sequential counter 115 to O.
次に、逐次カウンタ115の内容は+1されて1になる
。Next, the contents of the sequential counter 115 are incremented by 1 to become 1.
記憶回路130の読み書き指示端子R/Wの入力は“H
I+であるため、逐次カウンタ115の内容が1になる
と記憶回路130のメモリ番地1の記憶内容がデータ出
力端子Doutに出力され、メモリ番地1.の記憶内容
がH”′であればすなわちモニタリングプログラムに従
って第1番目にテストされた内部入出力要素のオン−オ
フ状態がテスト命令の条件を満足していた場合には、O
K表示用の発光ダイオード135が点灯され、メモリ番
地1の記憶内容がL″であればすなわちモニタリングプ
ログラムに従って第1番目にテストされた内部入出力要
素のオン−オフ状態がテスト命令の条件を満足していな
かった場合には、NG表示用の発光ダイオード137が
点灯される。The input of the read/write instruction terminal R/W of the memory circuit 130 is “H”.
I+, when the contents of the sequential counter 115 become 1, the contents stored at memory address 1 of the storage circuit 130 are output to the data output terminal Dout, and the contents of the memory address 1. If the memory content of is H"', that is, if the on-off state of the internal input/output element tested first according to the monitoring program satisfies the conditions of the test command, O
The light emitting diode 135 for K display is lit, and if the stored content of memory address 1 is L'', that is, the on-off state of the internal input/output element tested first according to the monitoring program satisfies the conditions of the test command. If not, the NG display light emitting diode 137 is lit.
またメモリ番地表示器119には逐次カウンタ115の
内容1が表示される。Further, the memory address display 119 displays the content 1 of the sequential counter 115.
逐次カウンタ加算用押釦スイッチ105をもう一度押す
と逐次カウンタ115の内容は2になり、記憶回路13
0のメモリ番地2の記憶内容すなわちモニタリングプロ
グラムに従って第2番目にテストされた内部入出力要素
のオン−オフ状態がテスト命令の条件を満足しているか
否かが発光ダイオード135,137にて表示さ札 ま
たメモリ番地表示器119には2が表示される。When the push button switch 105 for sequential counter addition is pressed again, the content of the sequential counter 115 becomes 2, and the memory circuit 13
The light emitting diodes 135 and 137 display whether or not the contents stored in memory address 2 of 0, that is, the on-off state of the internal input/output element tested second according to the monitoring program, satisfies the conditions of the test command. 2 is also displayed on the memory address display 119.
こうして逐次カウンタ加算用押釦スイッチ105が1回
折される毎に逐次カウンタ115の内容が+1されて記
憶回路130の記憶内容がメモリ番地1から順に発光ダ
イオード135 、137に表示され、その逐次カウン
タ115の内容がメモリ番地表示器119に表示される
。In this way, each time the push button switch 105 for sequential counter addition is turned off, the contents of the sequential counter 115 are incremented by 1, and the stored contents of the memory circuit 130 are displayed on the light emitting diodes 135 and 137 in order from memory address 1. The contents are displayed on the memory address display 119.
従って作業者は、異常回路番号表示器103に表示され
た番号とメモリ番地表示器119に表示された番号とO
K表示用の発光ダイオード133、NG表示用の発光ダ
イオード137の表示を見ることにより、倒れの内部入
出力要素の系統の回路に異常が発生したかを知ることが
できる。Therefore, the operator must check the number displayed on the abnormal circuit number display 103, the number displayed on the memory address display 119, and the number displayed on the abnormal circuit number display 103.
By looking at the display of the light emitting diode 133 for K display and the light emitting diode 137 for NG display, it is possible to know whether an abnormality has occurred in the circuit of the internal input/output element system due to the collapse.
例えば、異常回路番号表示器103の表示番号がA1で
あってメモリ番地表示器119の表示番号が2のときに
NG表示用の発光ダイオード137が点灯されれば、起
動回路に対するモニタリングプログラムに従って第2番
目にテストされた内部入出力要素LS3の系統の回路に
異常が発生したことになる。For example, if the display number on the abnormal circuit number display 103 is A1 and the display number on the memory address display 119 is 2, and the NG display light emitting diode 137 is turned on, the second This means that an abnormality has occurred in the circuit of the internal input/output element LS3 that was tested first.
第6図に、モニタリング回路100の他の実施例を示す
。FIG. 6 shows another embodiment of the monitoring circuit 100.
第6図において第2図と同一符号の構成要素は第2図の
構成要素と同一の作用を威すものである。In FIG. 6, components having the same reference numerals as those in FIG. 2 have the same functions as the components in FIG.
また第6図においては第2図に示す入出力選択回路12
、レジスタ101.アンドゲート102、異常回路番号
表示器103の記入が省略されている。In addition, in FIG. 6, the input/output selection circuit 12 shown in FIG.
, register 101. The AND gate 102 and abnormal circuit number display 103 are omitted.
そして、第6図において、140は入出力テスト回路1
20における判定結果を順次記憶する記憶回路で、この
実施例においては、T端子にパルスが入力するときにJ
端子入力が°°H”であればセットされ、R端子入力が
“L′”になると無条件にリセットされる複数のJ−に
フリップフロップ1401〜140−nより構成されて
いる。In FIG. 6, 140 is the input/output test circuit 1
In this embodiment, when a pulse is input to the T terminal, the J
It is composed of a plurality of J- flip-flops 1401 to 140-n, which are set when the terminal input is "°H" and unconditionally reset when the R terminal input becomes "L'".
各フリップフロップ140−1〜140−nのJ端子に
は入出力テスト回路120の出力が入力され、TE端子
にはアントゲ−114’f−1〜141−nの出力が入
力され、R端子には逐次カウンタクリヤ用押釦スイッチ
104によって生起されるパルスがインバータ142を
介して入力されるようになっている。The output of the input/output test circuit 120 is input to the J terminal of each flip-flop 140-1 to 140-n, the output of the anti-game 114'f-1 to 141-n is input to the TE terminal, and the R terminal is input to the output of the input/output test circuit 120. The pulses generated by the push button switch 104 for successive counter clearing are inputted via the inverter 142.
143は逐次カウンタ115の内容を解読して前記アン
ドゲート141−1〜141−nを選択するセレクタで
、逐次カウンタ115の内容が1のときにはアントゲ−
N411を有効にし、2のときにはアントゲ−1−14
1−2を、・・・・・・nのときにはアントゲ−t14
1−nを有効にするようになっている。A selector 143 decodes the contents of the sequential counter 115 and selects the AND gates 141-1 to 141-n.
Enable N411, and when it is 2, Antogame-1-14
1-2, when it is n, it is ant game t14
1-n are enabled.
各アンドゲート141−1〜141−nの一力の入力端
子にはアンドゲート131の出力が入力されるようにな
っている。The output of the AND gate 131 is input to a single input terminal of each AND gate 141-1 to 141-n.
144は記憶回路140の記憶内容を外部表示する表示
回路で、記憶回路140の各フリップフロップ140−
1〜140−nのQ出力端子に接続された複数の発光ダ
イオード144−1〜144−nより構成されている。144 is a display circuit for externally displaying the stored contents of the memory circuit 140; each flip-flop 140- of the memory circuit 140;
It is composed of a plurality of light emitting diodes 144-1 to 144-n connected to Q output terminals 1 to 140-n.
従って、この実施例によれば、モニタリング開始フラグ
回路であるフリップフロップ107がセットされている
間に入出力テスト回路120にて判定された入出力要素
のオン−オフ状態の判定結果が判定順に記憶回路140
のフリップフロップ140−1〜140−nに記憶され
、同時にそれらの記憶内容は表示回路144の発光ダイ
オード144−1〜144−nにより外部表示される。Therefore, according to this embodiment, while the flip-flop 107 serving as the monitoring start flag circuit is set, the results of the determination of the on-off state of the input/output elements determined by the input/output test circuit 120 are stored in the order of determination. circuit 140
The stored contents are simultaneously displayed externally by the light emitting diodes 144-1 to 144-n of the display circuit 144.
尚判定結果がOKの場合にフリップフロップはセットさ
れ発光ダイオードを点灯する。If the determination result is OK, the flip-flop is set and the light emitting diode is turned on.
したがって点灯しない発光ダイオードに対応する入出力
要素が故障原因として作業者は判定すればよい。Therefore, the operator only has to determine that the input/output element corresponding to the light emitting diode that does not light up is the cause of the failure.
この実施例による場合は、第2図に示した実施例による
場合のように記憶回路130の記憶用押釦スイッチを操
作する必要はない。In this embodiment, there is no need to operate the memory push button switch of the memory circuit 130 as in the embodiment shown in FIG.
なお、以上述べた実症例においては、モニタリングプロ
グラムにおいてテスト命4>TNA、TFAを使用して
いるが、入出力テスト回路120のアンドゲート121
にテスト命’eTNA、TNO。In addition, in the actual case described above, the monitoring program uses test instructions 4>TNA and TFA, but the AND gate 121 of the input/output test circuit 120
Test life'eTNA, TNO.
TNEをオアゲートを介して入力させ、またアンドゲー
ト122にテスト命4>TFA、TPO。TNE is input through the OR gate, and test command 4>TFA, TPO is input to the AND gate 122.
TFEをオアゲートを介して入力させれば、モニタリン
グプログラムにおいてもすべてのテスト命+TNA、T
FA、TNO,TPO,TNE、TFEを使用すること
ができる。If TFE is input through the OR gate, all test commands + TNA, T
FA, TNO, TPO, TNE, TFE can be used.
また、テストフラグ回路14中に、モニタリング回路1
00で使用する入出力テスト回路120と同一のテスト
回路が備えられておれば、モニタリング回路100には
入出力テスト回路120を設けないで、テストフラグ回
路14中に備えられているテスト回路をモニタリング回
路100と兼用させてもよい。In addition, a monitoring circuit 1 is provided in the test flag circuit 14.
If the same test circuit as the input/output test circuit 120 used in 00 is provided, the input/output test circuit 120 is not provided in the monitoring circuit 100 and the test circuit provided in the test flag circuit 14 is monitored. It may also be used as the circuit 100.
また、記憶回路130もしくは140には入出力テスト
回路120による判定結果を記憶させているが、必ずし
も判定結果を記憶させる必要はなく、ラインIT上に送
出される入出力要素のオン−オフ状態を直接記憶させる
ようにしてもよい。Furthermore, although the storage circuit 130 or 140 stores the determination result by the input/output test circuit 120, it is not necessarily necessary to store the determination result, and the on-off state of the input/output element sent on the line IT is stored. It may also be stored directly.
またはオフで正常なのか異常なのかの判断を作業者が行
えばよい。Alternatively, the operator can judge whether it is normal or abnormal when it is off.
以上述べたように本発明によれば、割込み機能を持たな
いシーケンスコントローラであってもシーケンス制御を
止めないでオンラインモニタリングができる上、上位コ
ンピュータも必要としないため、簡単かつ低コストでモ
ニタリングが可能となる利点を有する。As described above, according to the present invention, even if the sequence controller does not have an interrupt function, online monitoring can be performed without stopping sequence control, and since a host computer is not required, monitoring can be performed easily and at low cost. It has the following advantages.
又モニタリングの実行過程では動作単位毎に異常の有無
を判別し、異常有りの動作単位に対応する回路番号を表
示するとともに入力条件だけをモニタし記憶させるので
、このモニタ結果に基づく故障原因の追求が簡単かつ確
実にできる。In addition, during the monitoring execution process, the presence or absence of an abnormality is determined for each operating unit, and the circuit number corresponding to the operating unit with an abnormality is displayed, and only the input conditions are monitored and stored, so it is possible to investigate the cause of the failure based on the monitoring results. can be done easily and reliably.
しかもモニタ結果を記憶する記憶装置は1つの動作単位
に対応する人力条件が記憶できる容量であればよいので
比較的小容量で済む利点がある。Furthermore, the storage device for storing the monitoring results has the advantage of requiring a relatively small capacity as long as it can store the human power conditions corresponding to one operation unit.
図は本発明の実施例を示すもので、第1図は本発明によ
るシーケンスコントローラの概略のブロック線図、第2
図は第1図におけるモニタリング回路100の詳細図、
第3図は制御パルスのタイミングチャート、第4図はシ
ーケンス回路図、第5図はシーケンス制御プログラムお
よびモニタリングプログラムが書き込まれたプログラム
シートの概略図、第6図はモニタリング回路100の他
の実施例の詳細図、第7図はモニタリング回路100の
機能ブロック線図である。
1・・・−・・主記憶回路、2・・・・・・プログラム
カウンタ、4・・・・・・インストラクションレジスタ
、6・・・・・・インストラクションデコーダ、14・
・・・・・テストフラグ回路、10・・・・・・外部入
出力要素群、11・・・・・・内部入出力要素群、12
・・・・・・入出力選択回路、12a・・・・・・入カ
セレクク、12b・・・・・・出力セレクタ、100・
・・・・・モニタリング回路、101・・・・・・レジ
スタ、103・・・・・・異常回路番号表示器、104
・・・・・・逐次カウンタクリヤ用押釦ス・イツチ、1
05・・・・・・逐次カウンタ加算用押釦スイッチ、1
07・・・・・・モニタリング開始フラグ回路(J−に
フリップフロップ)、115・・・・・・逐次カウンタ
、119・・・・・・メモリ番地表示器、120・・・
・・・入出力テスト回路、130.140・・・・・・
記憶回路、134・・・・・・表示回路、143・・・
・・・セレクタ、144・・・・・・表示回路、200
・・・・・・モニタ用記憶装置、210・・・・・・記
憶番地切替回路、220・・・・・・第1の制御手段、
230・・・・・・第2の制御手段、240・・・・・
・異常回路番号表示装置、250・・・・・・モニタ結
果の表示回路。The figures show an embodiment of the present invention, and FIG. 1 is a schematic block diagram of a sequence controller according to the present invention, and FIG.
The figure is a detailed diagram of the monitoring circuit 100 in FIG.
3 is a timing chart of control pulses, FIG. 4 is a sequence circuit diagram, FIG. 5 is a schematic diagram of a program sheet in which a sequence control program and a monitoring program are written, and FIG. 6 is another embodiment of the monitoring circuit 100. FIG. 7 is a functional block diagram of the monitoring circuit 100. 1...- Main memory circuit, 2... Program counter, 4... Instruction register, 6... Instruction decoder, 14...
...Test flag circuit, 10... External input/output element group, 11... Internal input/output element group, 12
...Input/output selection circuit, 12a...Input selector, 12b...Output selector, 100.
... Monitoring circuit, 101 ... Register, 103 ... Abnormal circuit number display, 104
・・・・・・Push button for sequential counter clearing, 1
05...Push button switch for sequential counter addition, 1
07...Monitoring start flag circuit (flip-flop on J-), 115...Sequential counter, 119...Memory address display, 120...
...Input/output test circuit, 130.140...
Memory circuit, 134...Display circuit, 143...
... Selector, 144 ... Display circuit, 200
. . . Monitoring storage device, 210 . . . Memory address switching circuit, 220 . . . First control means,
230... Second control means, 240...
- Abnormal circuit number display device, 250... Monitor result display circuit.
Claims (1)
ス制御データを順次読み出し、読み出された制御データ
にて指定された入出力要素のオン、オフ状態を取り込み
、この取り込まれた入出力要素のオン、オフ状態が前記
制御データにて指令された入出力テスト命令の条件を満
足しているか否かを判定し、前記制御データにて指令さ
れた出力要素を選択し、前記判定の結果を条件として前
記制御データにて指令された出力命令に従い前記選択さ
れた出力要素をオン、オフさせることにより制御対象を
シーケンス制御するシーケンスコントローラにおいて、
前記記憶装置のシーケンス制御データ記憶エリアとは別
の記憶エリアにモニタプログラムを記憶し、このモニタ
プログラムは前記出力要素の1つを制御する入力条件の
グループを動作単位としてこの動作単位毎にモニタする
複数のモニタプログラム及び異常の有無を判別する複数
の判別プログラムに分離されており、前記動作単位毎の
入力条件となる各入出力要素のオンオフ状態もしくはこ
のオンオフ状態がテスト命令の条件を満足しているかど
うかの判定結果を記憶するモニタ用記憶装置130 、
140を設け、このモニタ用記憶装置130,140の
記憶番地を前記モニタプログラムの実行に同期して順次
切替える記憶番地切替回路115を設け、モニタリング
開始指令によって、シーケンス制御データを記憶した記
憶装置より前記動作単位毎に異常の有無を判別する判別
プログラムを読出し実行する第1の制御手段106,1
09を設け、異常有りと判別された動作単位のモニタプ
ログラム実行開始直前に前記モニタ用記憶装置130,
140及び記憶番地切替回路115を有効にする第2の
制御手段107.13,118,131を設け、異常有
りと判別された動作単位につけられた異常回路番号を出
力し表示するための異常回路番号表示装置10L103
を設け、前記モニタ用記憶装置130.140に記憶さ
れた内容の表示回路134゜144を設けたことを特徴
とするシーケンスコントローラ。1 Sequentially read out the sequence control data programmed in advance and stored in the storage device, import the on/off state of the input/output element specified by the read control data, and turn on/off the input/output element specified by the read control data. Determine whether the state satisfies the conditions of the input/output test command commanded by the control data, select the output element commanded by the control data, and execute the control using the result of the determination as a condition. In a sequence controller that sequentially controls a controlled object by turning on and off the selected output element according to an output command specified by data,
A monitor program is stored in a storage area different from a sequence control data storage area of the storage device, and this monitor program monitors a group of input conditions for controlling one of the output elements as a unit of operation. It is separated into multiple monitor programs and multiple discrimination programs that determine the presence or absence of an abnormality, and the on/off state of each input/output element, which is the input condition for each operation unit, or whether this on/off state satisfies the conditions of the test command. a monitor storage device 130 that stores the determination result of whether or not there is a child;
140, and a memory address switching circuit 115 for sequentially switching the memory addresses of the monitor memory devices 130 and 140 in synchronization with the execution of the monitor program. A first control means 106, 1 that reads and executes a determination program that determines the presence or absence of an abnormality for each operation unit.
09 is provided, and the monitor storage device 130,
A second control means 107, 13, 118, and 131 is provided to enable the memory address switching circuit 140 and the memory address switching circuit 115, and to output and display an abnormal circuit number assigned to an operation unit determined to have an abnormality. Display device 10L103
and a display circuit 134.144 for displaying the contents stored in the monitor storage device 130, 140.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50116733A JPS5851285B2 (en) | 1975-09-26 | 1975-09-26 | sequence controller |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50116733A JPS5851285B2 (en) | 1975-09-26 | 1975-09-26 | sequence controller |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5240286A JPS5240286A (en) | 1977-03-29 |
| JPS5851285B2 true JPS5851285B2 (en) | 1983-11-15 |
Family
ID=14694429
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50116733A Expired JPS5851285B2 (en) | 1975-09-26 | 1975-09-26 | sequence controller |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5851285B2 (en) |
-
1975
- 1975-09-26 JP JP50116733A patent/JPS5851285B2/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5240286A (en) | 1977-03-29 |
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