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JPS586158B2 - 熱ルミネッセンス線量計 - Google Patents
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JPS586158B2 - 熱ルミネッセンス線量計 - Google Patents

熱ルミネッセンス線量計

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Publication number
JPS586158B2
JPS586158B2 JP7931378A JP7931378A JPS586158B2 JP S586158 B2 JPS586158 B2 JP S586158B2 JP 7931378 A JP7931378 A JP 7931378A JP 7931378 A JP7931378 A JP 7931378A JP S586158 B2 JPS586158 B2 JP S586158B2
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JP
Japan
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card
thermoluminescence
magazine
housing
thermoluminescent
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JP7931378A
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井上勇
奥田誠
南出整宏
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS586158B2 publication Critical patent/JPS586158B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、放射線被曝線量を測定する熱ルミネツセンス
線量計に関するものである。
放射線を被曝した熱ルミネツセンス線量計素子(以下素
子と称す)を加熱すると、この素子より被曝線量に応じ
た熱ルミネツセンスが出る。
この熱ルミネツセンスを光電子増倍管で電流に変換して
積分し、この積分値を測定することにより放射線被曝線
量を知ることができる。
第1図、第2図は本発明の熱ルミネツセンス線量計に用
いる素子を示している。
第1図、第2図において、1はケース本体であり、この
ケース本体1には突条2,3が形成され、この突条2、
3の上面に蓋板4が固定され一端が開口したケースが構
成される。
5は上記突条2,3間に形成された切欠部、6は突条2
の端部に形成された突起、7はケース本体1に一体に形
成された情報読取部であり、この情報読取部7には多数
の孔8が形成され、任意の孔8を閉塞することにより個
人コード等が記録される。
9は上記ケース内に収納されるカードであり、このカー
ド9には間隔p隔てて複数の孔10が形成され、この孔
10内に熱ルミネツセンス材料11が収納されている。
12は上記カード9に形成された係合爪、13は上記カ
ード9に形成された凹部であり、このカード9を上記ケ
ース内に挿入すると係合爪12が切欠部5に係合してカ
ード9がケース内に保持されるものである。
第3図、第4図、第5図は第1図に示す素子を多数収納
するマガジンを示している。
第3図〜第5図において、14は上面が開口するととも
に、内部が仕切壁15によって仕切られたマガジンであ
り、このマガジン14の底面には孔16が形成されてい
る。
17は上記マガジン14の各区画18内の隅部に設けら
れた突出片、19は上記マガジン14の側面に形成され
たラックである。
第1図に示す素子20は、第4図、第5図に破線で示す
ように、情報読取部7側が下となるように、マガジン1
4の各区画18内に挿入される。
第6図は本発明の熱ルミネツセンス線量計の全体の概略
を示している。
第6図において、21は基板であり、この基板21には
、マガジン14をガイドするガイド板22,22’が固
定されている。
23.23’は一端が上記ガイド板22.22’に固定
され、他端にローラ24,24’を支持したバネであり
、上記ローラ24,24/はガイド板22,22’に形
成された窓25.25′を介してガイド板22,22’
内に突出し、上記バネ23.23’の弾性力によりマガ
ジン14をガイド板22,22’の一側壁側に押圧する
ものである。
26はパルスモータであり、このパルスモータ26の回
転軸27には歯車28が固定されている。
この歯車28はマガジン14のラツク19と噛合するも
のである。
29は上記回転軸27に固定された円板であり、この円
板29には等間隔に複数個の穴30が形成されている。
31.32はそれぞれ上記円板29を挟んで対向配置さ
れた発光ダイオード、フォトトランジスタであり、上記
歯車28の歯数8個に対し、円板29の穴30の数も8
個であり、パルスモータ26が命令されたパルス数だけ
ミスせずに回転すれば、上記発光ダイオード31のフォ
トトランジスタ32とにより上記穴30の数が検出され
、マガジン14が所定ピッチ移送されたことが検出され
るものである。
33,34.35は発光ダイオード、36,37.38
はフォトトランジスタであり、発光ダイオード33とフ
ォトトランジスタ36により、マガジン14がガイド板
22内に挿入され歯車28とマガジン14のラツク19
とが噛合したことが検出され、発光ダイオード34とフ
ォトトランジスタ37によりマガジン14の終端が検出
され、発光ダイオード35とフォトトランジスタ38に
より、素子20がマガジン14に収納されているか否か
が検出されるものであり、この発光ダイオード35とフ
ォトトランジスタ38とにより、素子20が収納されて
いないことを検出すると、パルスモータ26は引続き回
転し、次の素子20を検出するまでマガジン14を移送
するものである。
またマガジン14が終端まで移送されると、発光ダイオ
ード34とフォトトランジスタ37きによリマガジン1
4の終端が検出され、パルスモータ26の回転を停止さ
せるものである。
39はパルスモータであり、このパルスモータ39の回
転軸40には歯車41が取付けられている。
42は摺動棒であり、との摺動棒42には上記歯車41
に噛合するラツク43が形成されている。
44は摺動棒42の上端に設けられた押上板であり、上
記パルスモータ39が一方向に回転すると摺動棒42が
上昇し、押上板44がマガジン14の底に形成された孔
16に挿入され、1個の素子20押上げ、この素子20
をマガジン14より抜き出すものである。
45はパルスモーク39の回転軸40に固定された円板
であり、この円板45には切欠き46が形成されている
47.48は発光ダイオード、49.50はフォトトラ
ンジスタであり、これら発光ダイオード47,48フォ
トトランジスタ49.50により、摺動棒42が規定量
移動したか否かが検出されるものである。
第6図において、51は加熱測定部であり、次にこの加
熱測定部51の構造について、第6図、第7図、第8図
とともに説明する。
第7図において、52は支持脚53,53’によって支
持された板状の主ハウジングであり、この主ハウジング
52にはガイド棒54,54’が植設されている。
55は上記ガイド棒54,54’にガイドされ上記主ハ
ウジング52に重ね合された板状の副ハウジングであり
、この副ハウジング55はネジ56,56’により主ハ
ウジング52に固定されている。
57.58は上記主ハウジング52に取付けられた支持
体であり、支持体57には前記発光ダイオード33〜3
5が支持され、支持体58には前記フォトトランジスタ
36〜38が支持されている。
59は主ハウジング52に固定された集光管、60はこ
の集光管59に取付けられた加熱ランプ、61は副ハウ
ジング55に設けられた光電子増倍管、62はこの光電
子増倍管61の支持片、63は上記ハウジング52.5
5上に設けられた板であり、この板63にローラ64が
回転自在に支持され、このローラ64にコイル状バネ6
5が巻回されている。
66は主ハウジング52に取付けられた軸受71に摺動
自在に支持された挟持棒であり、この挟持棒66の上端
に上記コイル状バネ65が取付けられ、このコイル状バ
ネ65により挟持棒66は下方向に付勢されている。
67は主ハウジング52に固定されたパルスモータであ
り、このパルスモーク67の回転軸68には歯車69が
固定されている。
上記パルスモータ67は素子20のケース本体1内より
カード9を抜き出し、このカード9を移送する駆動源と
なるものである。
70はマイクロスイッチであり、このマイクロスイッチ
70は副ハウジング55を主ハウジング52より取外す
場合にOFFとなり、光電子増倍管61ぺの高電圧の供
給を停止するものであり、このマイクロスイッチ70に
より副ハウジング55を取外した際に強い外部光が光電
子増倍管61に入射し、この光電子増倍管61が損傷す
るのが防止されるものである。
次に、上記加熱測定部51の内部構造について第8図と
ともに説明する。
第8図において、72は主ハウジング52の副ハウジン
グ55取付面側に形成された縦溝、13はこの縦溝72
の上辺部に固定された係合解除板であり、この係合解除
板73には素子20の本体ケース1の切欠部5に挿入さ
れる突起74が形成されている。
75は縦溝72の壁面に取付けられたランプである。
76は主ハウジング52に形成された横溝であり、この
横溝76にカード駆動板77が摺動自在に支持されてい
る。
T8は上記カード駆動板77の一端に形成された係合突
片であり、この係合突片78は素子20のカード9の凹
部13に係合するものである。
79は上記カード駆動板77に取付けられたフィルター
であり、このフィルター79はカーボンフイルム等で作
られ加熱ランプ60のパワーをチェックするために用い
られる。
80はカード駆動板77に取付けられた較正光源であり
、この較正光源80は夜光塗料等自発光物質で構成され
た光源であり、光電子増倍管61および測定回路(図示
せず)の感度を調整するために用いられる。
上記フィルター79と較正光源80との間隔はaである
8L82,83,84.85はカード駆動板TIに形成
された小孔である。
86はローラ87を支持する支持金具であり、上記ロー
ラ87は上記カード駆動板77に当接するものである。
88は横溝76の壁面部に設けられた部材であり、この
部材88には小穴89,90,9L;92が形成される
とともに、フォトトランジスタが取付けられるものであ
る。
次に、マガジン14に収納された素子20を抜き出し、
加熱測定部に移送する動作の概略について、第8図とと
もに説明する。
摺動棒42が上昇すると、その先端に設けられた押上板
44がマガジン14の底面の孔16に挿入され、素子2
0をマガジン14より押上げる。
この際素子20の上面にはコイル状バネ65により付勢
された挟持棒66が当接し、素子20をこの挟持棒66
と押上板44とで挟持した状態で主ハウジング52の縦
溝72内に移送する。
素子20をさらに上方に移送するとこの素子20は縦溝
72の上辺に当接し、ここで素子20の情報読取部7の
情報が読取られる。
またこの際素子20の切欠部5に突起74が入り、素子
20のカード9の係合爪12と切欠部5との係合が解除
される吉ともに、カード駆動板71の係合突片78がカ
ード9の四部13に係合する。
ここで、カード駆動板77を動かし、カード9を引き出
し、横溝76に挿入し、カード9の各熱ルミネツセンス
材料11を順次加熱測定部の光軸Lに移送し、順次測定
するものである。
測定終了後は、カード9を素子20のケース本体1内に
収納し、この素子20を下降させ、マガジン14内に収
納するものである。
次に、第8図における各部の詳細について、第9図〜第
13図とともに説明する。
第9図は第8図におけるA−A′断面を示している。
第9図にあいて、93は主ハウジング52に形成された
孔であり、この孔93内に前記ランプ75が挿入されて
いる。
94は上記ランプ75を取付けるためのプリント基板、
95はランプ75の反射板、96は副ハウジング55に
形成された小孔であり、この小孔96の背部に光センサ
97が配置されている。
98は上記光センサ97を取付けるプリント基板である
上記ランプ75と光センサ97間に素子20の情報読取
部7が介在され、ランプ75からの光が情報読取部7の
孔8を介して光センサ97に達するか否かを光センサ9
7で検出し、各種の情報が読取られるものである。
第10図は第8図のB−B’断面を示している。
主ハウジング52に形成された横溝76内にはリブ99
が形成され、このリブ99の上部の横溝T6内をカード
9が移送されるものである。
100,101はそれぞれ主ハウジング52、副ハウジ
ング55に形成された孔であり、この孔100,101
内に発光ダイオード102およびフォトトランジスタ1
03が挿入されている。
なお第8図に示す素子20の初期位置における最も左側
の熱ルミネツセンス材料と、上記発光ダイオード102
、フォトトランジスタ103からなる光学検出装置の光
軸間の間隔はbである。
104,105は上記発光ダイオード102、フォトト
ランジスタ103を取付けるプリント基板である。
上記発光ダイオード102、フォトトランジスタ103
によって、カード9に保持された熱ルミネツセンス材料
11部の破損又は有無が検出されるものである。
第17図は第14図に示す素子20の初期位賃における
フィルター79、較正光源80、光学検出装置を構成す
る発光ダイオード102、力一ド9に保持された熱ルミ
ネツセンス材料11間の間隔を示している。
第11図は第8図のC−C’断面を示している。
第11図において、59は前記集光管であり、この集光
管59内には円錐形の貫通孔106が形成され、この貫
通孔106の一端開口部には赤外線透過フィルター10
7が取付けられている。
60.は前記加熱ランプであり、この加熱ランプ60に
は反射鏡108が具備されている。
上記加熱ランプ60は集光管59の他端開口部に配置さ
減、0リング109を介してリング板110により押圧
される。
111は上記リング板110、集光管59を一体に主ハ
ウジング52に取付けるネジである。
112は副ハウジング55の孔に取付けられた座であり
、この座112の中心孔にライトガラス113が挿入さ
れている。
上記座112に前記光電子増倍管61がネジ止めされる
ものである,第11図においては、カード駆動板77に
設けられた前記フィルター79が、赤外線透過フィルタ
ー107とライトガラス113間に位置している,上記
赤外線透過フィルター107とライトガラス113間に
、カード9に保持された熱ルミネツセンス材料11が移
送されると、この熱ルミネツセンス材料11が加熱ラン
プ60からの光で加熱され、熱ルミネツセンスが出る。
この熱ルミネツセ;ンスはライトガラス113を介して
光電子増倍管61に入射され、電流に変換されるもので
ある。
第12図は第8図のD−D’断面を示している。
第12図において、114はカード駆動板77に設けら
れたラックであり、このラツク114は前記歯車69と
噛合し、パルスモータ67の回転によってカード駆動板
77が摺動されるものである。
第13図は第8図のE−E’断面を示している。
主ハウジング52に取付けられた部材88内にはフォト
トランジスタ115が取付けられている。
116は副ハウジング55の孔117に挿入された発光
ダイオード、118,119はそれぞれフォトトランジ
スタ115および発光ダイオード116を取付けるプリ
ント基板である。
上記発光ダイオード116とフォトトランジスタ115
とにより、カード駆動板77が所定の位置に停止された
か否かが検出されるものである。
次に本発明の動作について説明する。
第6図、第8図はマガジン14が外部より挿入された状
態を示している。
このようにマガジン14が挿入されると、マガジン14
のラツク19と歯車28が噛合するとともに、発光ダイ
オード33からの光がマガジン14で遮蔽されるため、
フォトトランジスタ36により、マガジン14の挿入が
検出される。
ここで、スタートスイッチ(図示せず)を閉成すると、
パルスモータ39は所定のパルス数回転し、摺動棒42
を押上げ、マガジン14内の素子20を押上げ、素子2
0を主ハウジング52の縦溝72内に挿入し、縦溝72
の上端まで移送する(第14図)。
この時、円板45の切欠き46が発光ダイオード48と
フォトトランジスタ50間に位置するように回転し、素
子20が正規の位置まで押上げられたことが検出される
第14図に示すように、素子20を縦溝72の上端まで
移送すると、突葬74が素子20の切欠部5内に挿入さ
れ、カード9の係合爪12と切欠部5との係合が外れ、
また、カード駆動板77の係合突片78がカード9の凹
部13に係合する。
また、素子20が第14図に示す位置まで移送されると
、第9図におけるランプ75が点灯し、光センサ97に
より、素子20の情報読取部7の情報が読取られる。
次に、第11図に示す加熱ランプ60が点灯し、フィル
ター79が加熱され、このフィルター79より発生する
赤外線が光電子増倍管61に入射され、加熱ランプ60
による加熱が正常に行なわれているか否かがチェックさ
れる。
次に、第12図に示すパルスモータ6Tが命令されたパ
ルス数だけ回転し、カード駆動板77が移動し、カード
9をケース本体1より引き出すとともに、力一ド9を横
溝76内に移送し、カード駆動板77に設けられた較正
光源80を加熱測定位置の光軸Lに移送する(第15図
)。
この時力4ード駆動板77の小孔81が小穴91に一致
し、第13図に示す発光ダイオード116とフォトトラ
ンジスタ115とによりカード駆動板77が正しく送ら
れたか否かが検出される。
なお、カード9が第15図に示す位置まで移送される間
に、力ード9に設けられた複数個所の熱ルミネツセンス
材料11の一番左側のものが、第10図に示す発光ダイ
オード102とフォトトランジスタ103との間を通過
し、この一番左側の熱ルミネツセンス材料11の有無お
よび破損の有無が検出される。
第15図に示すように、較正光源80が加熱測定位置の
光軸Lに達すると、この較正光源80の発光量が光電子
増倍管61で測定され、この光電子増倍管61の感度チ
ェックが行なわれる。
次に、命令されたパルス数だけパルスモータ67が回転
すると、第16図に示すように、力一ド駆動板77およ
びカード9がさらに移送され、カード9の最も左側の熱
ルミネツセンス材料11を加熱測定位置の光軸Lに位置
させる。
この時、カード駆動板77の小孔82が小穴91に一致
し、カード駆動板77が正しく移送されたか否かが検出
される。
またこのカード駆動板77が第16図に示す位置まで移
送される間に、カード9の左から2番目、3番目の熱ル
ミネツセンス材料11の有無および破損の有無が、第1
0図に示す発光ダイオード102、フォトトランジスタ
103で検出される。
第16図に示す状態において、加熱ランプ60が点灯し
、カード9の最も左側の熱ルミネツセンス材料11が加
熱され、この熱ルミネツセンス材料11から出る熱ルミ
ネツセンスが第11図に示すライトガラス113を介し
て光電子増倍管61に入射され、電流に変換され、この
電流が積分され、この積分値が検出されて放射線被曝線
量が測定されるものである。
このように、カード9の一番左側の熱ルミネツセンス材
料11の測定が終了すると、カード駆動板77がさらに
移送され、左から2番目の熱ルミネツセンス材料11が
光軸Lに位置し、同様に放射線被曝線量が測定される。
この場合、カード駆動板77の小孔83と小穴91とに
よりカード駆動板77が正常に移送されたか否かが検出
されるとともに、カード駆動板77の移送中に4番目の
熱ルミネツセンス材料11の有無および破損の有無が検
出される。
同様に3番目、4番目の熱ルミネツセンス材料11が順
次測定されるものである。
カード9の4つの熱ルミネツセンス材料11の測定が終
了すると、パルスモータ67は命令されたパルス数だけ
逆回転し、カード駆動板77およびカード9を第14図
に示す状態に復帰させ、カード9をケース本体1内に収
納する。
この時、カーデ駆動板77による小孔92の遮蔽が解か
れ、カード駆動板77が正規の位置に復帰した事が検出
される。
また復帰する途中においても発光ダイオード102とフ
ォトトランジスタ103により熱ルミネツセンス材料1
1の破損の有無が検出される。
次に第6図に示すパルスモータ39が命令されたパルス
数だけ回転し、摺動棒42を下降させ、素子20を第8
図に示す位置まで下降させ、マガジン14内に収納する
この時、パルスモータ39の回転軸40に取付けられた
円板45の切欠き46が、発光ダイオード47とフォト
トランジスタ49との光軸まで回転し、摺動棒42が正
規の位置まで下降したことが検出される。
次にパルスモータ31が命令されたパルス数だけ回転し
、マガジン14を1ピッチ前進させる。
この時、パルスモータ31の回転軸27に取付けられた
円板29の1つの穴30が発光ダイオード31とフォト
トランジスタ32との光軸に位置し、マガジン14が正
規のピッチ送られたことが検出される。
以後、前記と同様に2番目、3番目・・・・・・の素子
20が順次測定され、最後の素子20の測定が終了する
と、マガジン14の後端が、発光ダイオード34とフォ
トトランジスタ37との光軸より外れ、マガジン14が
最終位置まで送られたことが検出され、パルスモータ2
6は逆回転し、マガジン14が発光ダイオード33とフ
ォトトランジスタ36との光軸より外れるまで、すなわ
ち、歯車28とマガジン14のラツク19とが外れるま
で、パルスモータ26によりマガジン14が駆動される
ものである。
このマガジン14を外部へ抜き出し、他のマガジンを同
様に挿入することにより、同様に多数の素子の測定が行
なえるものである。
第17図は、カード駆動板77および素子20が第14
図に示す位置にあるときの、フィルター79、較正光源
80、発光ダイオード102、素子20内のカード9に
保持された熱ルミネッセンス材料11との間隔を示して
いる。
この状態では上記フィルター79が加熱装置と光電子増
倍管の光軸Lに位置し、との光較Lと発光ダイオード1
02との間隔はp(2+0.5)であり、一般式で表現
するとp(n+0.5)、n=o,1,2,3・・・・
・・となる。
またフィルター19と較正光源80との間隔をa1発光
ダイオード102と最も左側の熱ルミネツセンス材料1
1との間隔をbと,すると、a=b+p(0+0.5)
であり、一般式で表現するとa =b+p(n+0.5
)、n=0,1,2,3・・・・・・である。
上記関係を満すと、カード駆動板77が間欠的に移送さ
れ、較正光源80または熱ルミネツセン,ス材料11が
光軸L上に位置する場合、発光ダイオード102が熱ル
ミネツセンス材料11間に位置することになり、カード
駆動板77の各間欠動作中に各熱ルミネツセンス材料1
1の有無および破損の有無が発光ダイオード102とフ
オトトランジスタ103とからなる光学検出装置で検出
されるものである。
従来この種の熱ルミネツセンス線量計においては熱ルミ
ネツセンス材料11の有無、及び破損の有無を検出する
ためのカードの移送と、加熱ランプ60のパワーチェッ
ク、光電子増倍管61及び測定回路の較正光源による感
度調整、熱ルミネツセンスの測定のためのカードの移送
が別個に行なわれており非能率であったことに対し、本
発明によればカードを1回移送するだけで上記の作業が
すべて完了し、非常に能率的に一連の動作を行ない得る
最近、この種の熱ルミネツセンス線量計素子は、加熱測
定時間を短縮するため、カード9の孔10内にシートを
設け、このシートに熱ルミネツセンス材料11を薄く分
散固着する傾向にある。
しかしながら、この薄型化により、機械的外力による破
損、または熱による焼損を受け易くなり、破損、焼損し
た状態で加熱測定部に移送した場合には、加熱ランプ6
0からの光がカード9の孔10を貫通して光電子増倍管
61に入り、この光電子増倍管61の感度を劣化させる
等の恐れがあり、また測定時に焼損した場合は不良品の
素子を着用者に使用させることにもなりかねない。
このためにも、熱ルミネツセンス材料の有無および破損
の検出は必要不可欠である。
以上のように本発明によればカードを1回移送するだけ
で熱ルミネツセンス材料の有無破損、加熱パワーのチェ
ック、熱ルミネツセンス検出感度の調整、熱ルミネツセ
ンスの測定を行なうことができ、非常に効率の良い熱ル
ミネツセンス線量計を構成できる利点を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の熱ルミネツセンス線量計に用いる熱ル
ミネツセンス線量計素子の斜視図、第2図は同分解斜視
図、第3図は熱ルミネツセンス線量計素子を収納するマ
ガジンの上面図、第4図は第3図のA−A’断面図、第
5図は第3図のB−B’断面図、第6図は本発明の一実
施例における熱ルミネツセンス線量計の概略図、第7図
は同熱ルミネツセンス線量計の加熱測定部の斜視図、第
8図は同熱ルミネツセンス線量計の要部断面図、第9図
は第8図のA−N断面図、第10図は第8図のB−B’
断面図、第11図は第8図のc−c’断面図、第12図
は第8図のD−D’断面図、第13図は第8図のE−E
’断面図、第14図は同熱ルミネツセンス線量計の素子
移送時の要部断面図、第15図、第16図はそれぞれ同
熱ルミネツセンス線量計のカード移送時の要部断面図、
第17図は第14図に示す状態における各部の位置関係
を示す図である。 1・・・・・・ケース本体、5・・・・・・切欠部、7
・・・・・・情報読取部、8・・・・・・孔、9・・・
・・・カード、11・・・・・・熱ルミネツセンス材料
、12・・・・・・係合爪、13・・・・・・凹部、1
4・・・・・・マガジン、19・・・・・・ラック、2
0・・・・・・素子、26・・・・・・パルスモータ、
27・・・・・・回転軸、28・・・・・・歯車、29
・・・・・・円板、30・・・・・・穴、31・・・・
・・発光ダイオード、32・・・・・・フォトトランジ
スタ、33〜35・・・・・・発光ダイオード、36〜
38・・・・・・フォトトランジスタ、39・・・・・
・パルスモー夕、40・・・・・・回転軸、41・・・
・・・歯車、42・・・・・・摺動棒、43・・・・・
・ラック、45・・・・・・円板、46・・・・・・切
欠き、47.48・・・・・・発光ダイオード、49.
50・・・・・・フォトトランジスタ、51・・・・・
・加熱測定部、52・・・・・・主ハウジング、55・
・・・・・副ハウジング、60・・・・・・加熱ランプ
、61・・・・・・光電子増倍管、65・・・・・・コ
イル状バネ、66・・・・・・挟持棒、67・・・・・
・パルスモータ、68・・・・・・回転軸、69・・・
・・・歯車、72・・・・・・縦溝、73・・・・・・
係合解除板、74・・・・・・突起、76・・・・・・
横溝、77・・・・・・カード駆動板、78・・・・・
・係合突片、79・・・・・・フィルター、80・・・
・・・較正光源、81〜85・・・・・・小孔、89〜
92・・・・・・小穴、106・・・・・・貫通孔、1
07・・・・・・赤外線透過フィルター。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 一定間隔p隔てて複数個の熱ルミネツセンス材料を
    保持してなるカードと、ハウジング内に摺動自在に支持
    され上記カードを移送するカード駆動板と、上記ハウジ
    ングに設けられ上記熱ルミネツセンス素子を加熱する加
    熱手段と、同じく上記ハウジングに設けられ上記熱ルミ
    ネツセンス材料より出る熱ルミネツセンスを検出する熱
    ルミネツセンス検出手段と、上記駆動板に設けられ自発
    光物質により構成された較正光源と、同じく上記駆動板
    に設けられて上記加熱手段の加熱強度に応じた強度の赤
    外線を発生するフィルターと、上記ハウジングに設けら
    れ上記カードの熱ルミネツセンス材料の有無および破損
    の有無を検出する光学検出手段とを具備し、上記熱ルミ
    ネツセンス検出手段の光軸と上記光学検出手段の光軸を
    間隔p(n十0.5)(ただしn=0,1,2,3・・
    ・)隔てて配置し、上記フィルターと較正光源を間隔a
    隔てて配置し、前記フィルターが上記熱ルミネツセンス
    検出手段の光軸位置にある時、光学検出手段の光軸と上
    記カードの端部に位置する熱ルミネツセンス材料との間
    隔をbとしたとき、a=b十p(n+0.5)(但しn
    =o,1t2,3・・・)となる関係になるようそれぞ
    れa,b,pを設定してなる熱ルミネツセンス線量計。
JP7931378A 1978-06-29 1978-06-29 熱ルミネッセンス線量計 Expired JPS586158B2 (ja)

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JP7931378A JPS586158B2 (ja) 1978-06-29 1978-06-29 熱ルミネッセンス線量計
US06/049,907 US4303857A (en) 1978-06-29 1979-06-19 Automatic thermoluminescence dosimetric system
CH600279A CH640063A5 (de) 1978-06-29 1979-06-27 Thermolumineszenzdosimeteranlage.
DE2925990A DE2925990C2 (de) 1978-06-29 1979-06-27 Auswertevorrichtung für Thermolumineszenzdosimeter mit einer Fördervorrichtung zum Transportieren der Dosimeter aus einem Magazin in eine Meßposition

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