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JPS5945935B2 - 真空度測度方法 - Google Patents
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JPS5945935B2 - 真空度測度方法 - Google Patents

真空度測度方法

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Publication number
JPS5945935B2
JPS5945935B2 JP6449579A JP6449579A JPS5945935B2 JP S5945935 B2 JPS5945935 B2 JP S5945935B2 JP 6449579 A JP6449579 A JP 6449579A JP 6449579 A JP6449579 A JP 6449579A JP S5945935 B2 JPS5945935 B2 JP S5945935B2
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JP
Japan
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vacuum
current
ion
electron current
degree
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Expired
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JP6449579A
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JPS55156825A (en
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肇 石丸
成範 平松
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SHINKU DENSHI KK
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SHINKU DENSHI KK
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明&2S/N比を改善することを目的とした真空
度測定力法に関するものである。
従来、高真空、超高真空の真空度を測定するには電離真
空計を用いて真空中の残留気体をイオン化し、生成した
イオンをイオンコレクタを介してイオン電流として取り
出し、その電流値を真空度に換算する方法が最も良く採
用されていたのであるが、この方法において測定系の近
くに種々の電磁機器があったり、測定球とその電源(前
記イオン電流の直流増巾器)が離れていると、前記イオ
ン電流中に種々の電気的残音が混入して正確な測定がで
きない問題点があった。
又前記測定球を加速器やプラズマ発生装置等、真空中に
荷電粒子が存在する雰囲気に取付けた場合には、前記イ
オン電流中に荷電粒子に起因する雑音も混入して、正確
な測定を一層困難なものにしていた。
然るにこの発明は前記電離真空計における測定球の電子
電流(残留気体のイオン化の為に流す電流)を変調する
と共に、イオンコレクタより取り出して増巾したイオン
電流を、前記電子電流と同期させて検波し、これを平滑
化することにより前記電気的雑音を除去したので、沖1
定系の周囲に種種の電磁機器があったり、測定球と電源
が離れている場合でも正確な測定を可能にしたものであ
る。
又、測定球の電極を通して混入する荷電粒子による雑音
に対しては、上記の方法に加えて電極を覆うように静電
シールドを配置し、該静電シールドにより荷電粒子の混
入を防止したので荷電粒子による雑音も除去することに
成功したのである。
即ちこの発明を実施例について説明すれば、電離真空計
測定球1とその電源よりなる測定系を第1図のように構
成する。
図中2はフィラメント、3はアノード、4はイオンコレ
クタを表わし、フィラメント2に電子電流コントローラ
5を介設しフィラメント加熱電源6を接続すると共に、
該フィラメント2を電池7〔20〜60■)および抵抗
器8を介して接地し、アノード3を電池9(150〜2
00V )を介して接地してフィラメント−アノード間
の電子電流回路を構成する。
前記電子電流コントローラ5は、抵抗器8より電子電流
値に対応する情報(電圧)を得て、フィラメント2に流
れる電流を制御し、所望の定電子電流が流れるように働
くものである。
この電子電流に交流成分が含まれるように変調する為に
、電子電流コントローラ5には発振器10より取り出し
た変調信号11を与える。
一方イオンコレクタ4には電流、電圧変換器12、増巾
器13をコンデンサ14を介設して直列に接続し、増巾
器13の出力と加算回路150人力をアナログゲート1
6aを介して接続すると共に、波形反転回路17および
アナログゲート16bを介して接続し、前記加算回路1
5の出力には低域沢波器18、電流計19を直列に接続
する。
前記アナログゲー)16a。16bに対するゲート開閉
信号は、前記発振器10の出力な移相器20、矩形波を
出力する波形整形回路21を通してアナログゲート16
aに与えると共に、該開閉信号をインバータ22で反転
してアナログゲーN6bに与える。
上記の測定系においてフィラメント−アノード間に流れ
る電子電流は変調信号11で変調されろ結果交流成分が
含まれる。
従って電子電流により生成し7’Clン電流も交流成分
を含んだ状態で4オンコレクタ4に流れる。
このイオンNEW、は電流、電圧変換器12で電圧に変
換された後、その交流成分のみが増巾器13に与えられ
、該増巾器13で増巾作用を受ける。
増巾作用を受けたイオン電流は加算回路15に対し正負
対称の波形で与えられる所、その線路にアナログゲート
16at16bを介設して、該アナログゲート16a、
16bは、前記電子電流を変調した信号と同期して七の
移相角度πラジアン毎に交互に開閉するようにしたので
、結局増巾器13の出力に現われたイオン電流は、同期
検波されて加算回路15の出力に現われる。
闇、電子電流の変調信号に対して、イオン電流の変化は
通常若干の遅れを併なうから、この不一致は移相器20
で測定時に調整する。
加算回路15の出力の検波出力は低域r波器18で平滑
化されてノイズ成分が除去された直流電流となり、この
電流で動作する電流計19の指示より、測定球1を取り
付けた系の真空度を求めることができる。
一般には、電碓計19の目盛板に電流値より求められる
真空度を直接目盛り、真空度が直続できるようにする。
電流計の指示に代えて、ディジタル表示とすることも勿
論可能である。
尚、電子電流を変調する為の発振器10の周波数は、こ
の測定系の周囲で使用される他の電磁機器を考慮すれば
約20ヘルツ程度が好ましい。
第2図には、上記実施例に使用される電離真空計1で、
真空装置内に、フィラメント2、アノード3、イオンコ
レクタ4が露出する。
いわゆるヌード型測定球を示した。
図中23.23は各電極を支持する導入端子、24はこ
の測定球を真空装置に取付ける為のフランジである。
このようなヌード型測定球を、加速器、プラズマ発生装
置等、真空中に荷電粒子が存在する装置に取付けた場合
には、前記の電気的雑音の他に、荷電粒子が測定球内に
飛来することによって生ずる荷電粒子による雑音がイオ
ン電流に混入する。
このような雑音を除去する為に、真空中に配置される電
極を静電シールドで覆う。
第3図は真空度の測定の為に真空中に配置したフィラメ
ント2、アノード3、イオンコレクタ4の電極を、有頂
筒状に成形した金属メツシュ25,25a、25bを三
重とした静電シールド26で覆ったものである。
前記静電シールド26は内側の金属メツシュ25を接地
すると共に中間の金属メツシュ25aKは負の電位(約
200ボルト)を、外側の金属メツ−1”25 bには
正の電位(約200ボルト)を与える。
この実施例では、真空中を測定球の電極に向って迷走し
て来る荷電粒子が静電シールド26で追い返されてイオ
ン電流中に混入するのを防止できるから、荷電粒子の存
在する真空中でも、正確な測定が可能である。
電子電流を変調し、イオン電流の交流成分を同期検波す
る点′L′!前記と同様である。
即ちこの発明によれば、電子電流を変調すると共に、イ
オン電流中の交流成分を同期検波した後平滑化して真空
度を求めるようにしたので、測定系周囲の電気的雑音を
除去して正確な測定ができ、測定球とその電源を離すこ
とも可能となる等の諸効果がある。
又、測定球の電極を静電シールドで覆ったので、真空中
の荷電粒子による雑音も除去でき、加速器、プラズマ発
生装置等の・軍転中にも正確な真空度測定を可能とする
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明を実施する測定系のブロック図、第2
図は同じ〈実施測定系に使用するヌード型測定球の一部
を破切した斜視図、第3図は静電シールドで覆った状態
の測定球の縦断面図である。 1・・・・・・電離真空計測定球、2・・・・・・フィ
ラメント、3・・・・・・アノード、4・・・・・・イ
オンコレクタ、5・・・・・・電子電流コントローラ、
6・・・・・・フィラメント加熱電源、7,9・・・・
・・電池、8・・・・・・抵抗器、10・・・・・・発
振器、11・・・・・・変調信号、12・・・・・・電
流、電圧変換器、13・・・・・・増巾器、14・・・
・・・コンデンサ、15・・・・・・加算回路、16a
、16b・・・・・・アナログゲート、17・・・・・
・波形反転回路、1801000.低域p波器、19・
・・・・・電流計、20・・・・・・移相器、21・・
・・・・波形成形回路、22・・・・・・インバータ、
23・・・・・・導入端子、24・川・・フランジ、2
5.25a。 25b・・・・・・金属メツシュ、26・・・・・・静
電シールド。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 真空中に配置した電極間で電子電流を流し、この電
    子電流により生成したイオンをイオンコレクタよりイオ
    ン電流として取り出すようにした真空度測定方法におい
    て、真空中に配置した電極を静電シールドで覆い電極部
    分より混入する雑音を除去する一力、前記電子電流を変
    調すると共に、イオン電流の変調成分を増巾した後、電
    子電流と同期させて検波し、該検波出力を低域P波器で
    平滑した後、該平滑出力より真空度を求めることを特徴
    とした真空度測定力法。
JP6449579A 1979-05-24 1979-05-24 真空度測度方法 Expired JPS5945935B2 (ja)

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JPS55156825A JPS55156825A (en) 1980-12-06
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5991330A (ja) * 1982-11-17 1984-05-26 Ulvac Corp 絶縁形電離真空計
JP2540073B2 (ja) * 1989-02-21 1996-10-02 アネルバ株式会社 真空計
JP2696479B2 (ja) * 1993-12-22 1998-01-14 有限会社小岩工業所 水準器支持具

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