JPS622800B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS622800B2 JPS622800B2 JP57146667A JP14666782A JPS622800B2 JP S622800 B2 JPS622800 B2 JP S622800B2 JP 57146667 A JP57146667 A JP 57146667A JP 14666782 A JP14666782 A JP 14666782A JP S622800 B2 JPS622800 B2 JP S622800B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sugar solution
- flow rate
- value
- lower limit
- sugar
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Apparatuses For Bulk Treatment Of Fruits And Vegetables And Apparatuses For Preparing Feeds (AREA)
- Meat, Egg Or Seafood Products (AREA)
- Saccharide Compounds (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は真空結晶缶内で糖液を蒸発濃縮して
砂糖の結晶を析出育成する制御を自動的に行う結
晶缶の自動煎糖装置に関する。
砂糖の結晶を析出育成する制御を自動的に行う結
晶缶の自動煎糖装置に関する。
＜従来技術＞
真空結晶缶による煎糖処理は例えば第１図に示
すように、カランドリア型の加熱部２を有する直
立結晶缶１内に、煎糖されるべき糖液３が調節弁
４を介して下部より供給される。加熱用蒸気５は
調節弁６を介して結晶缶１内の加熱部２に与えら
れる。糖液を加熱蒸発させて濃縮すると共に糖液
の補充を行ない、結晶析出が可能な起晶濃度に達
した時に、その糖液に対して種晶を、投入器２０
から弁２１を介して添加して各品種に適した結晶
核を発生させる。その後はこの結晶核が相互に結
合したり、希望しない各種の結晶核（偽晶）が新
たに発生することを避けるため、缶内の様子を監
視しながら差水或は糖液の供給を行い、濃縮と結
晶育成を続ける。或る程度まで結晶が育成し、単
位体積当りの白下（糖液を結晶の混合液）内の結
晶の体積が或る値以上になり、結晶が互に可成り
接近して来ると、偽晶が比較的発生し難くなり、
これにより更に濃縮し、結晶が育成し易くすると
共に糖液の供給を行い、缶内のその容積が一定値
まで増加し結晶の粒度が所要の大きさまで成長す
ると、缶内の白下７が排出弁８より排出される。
排出された白下は遠心分離機により結晶と糖液と
に分離され、その糖液は再び煎糖に利用されるこ
とが繰返される。煎糖中に白下の濃度を適当な値
にするため、差水１０を弁１１を通じて、又は糖
液３を弁４を通して缶１内に供給することがで
き、缶１内の状態はのぞき窓１３を通じて監視す
ることができる。缶１内の蒸気はコンデンサ１４
に弁１５を介し、空気ポンプ１６により引かれ、
このコンデンサ１４は弁１７を通じる水１８によ
り冷却される。白下７を排出した後、缶内に洗缶
蒸気弁１９を通じて蒸気を供給して洗滌する。
すように、カランドリア型の加熱部２を有する直
立結晶缶１内に、煎糖されるべき糖液３が調節弁
４を介して下部より供給される。加熱用蒸気５は
調節弁６を介して結晶缶１内の加熱部２に与えら
れる。糖液を加熱蒸発させて濃縮すると共に糖液
の補充を行ない、結晶析出が可能な起晶濃度に達
した時に、その糖液に対して種晶を、投入器２０
から弁２１を介して添加して各品種に適した結晶
核を発生させる。その後はこの結晶核が相互に結
合したり、希望しない各種の結晶核（偽晶）が新
たに発生することを避けるため、缶内の様子を監
視しながら差水或は糖液の供給を行い、濃縮と結
晶育成を続ける。或る程度まで結晶が育成し、単
位体積当りの白下（糖液を結晶の混合液）内の結
晶の体積が或る値以上になり、結晶が互に可成り
接近して来ると、偽晶が比較的発生し難くなり、
これにより更に濃縮し、結晶が育成し易くすると
共に糖液の供給を行い、缶内のその容積が一定値
まで増加し結晶の粒度が所要の大きさまで成長す
ると、缶内の白下７が排出弁８より排出される。
排出された白下は遠心分離機により結晶と糖液と
に分離され、その糖液は再び煎糖に利用されるこ
とが繰返される。煎糖中に白下の濃度を適当な値
にするため、差水１０を弁１１を通じて、又は糖
液３を弁４を通して缶１内に供給することがで
き、缶１内の状態はのぞき窓１３を通じて監視す
ることができる。缶１内の蒸気はコンデンサ１４
に弁１５を介し、空気ポンプ１６により引かれ、
このコンデンサ１４は弁１７を通じる水１８によ
り冷却される。白下７を排出した後、缶内に洗缶
蒸気弁１９を通じて蒸気を供給して洗滌する。
この煎糖工程において偽晶を発生させると、粒
度が揃わず、結晶と糖液との分離が悪くなり、砂
糖に不純物が付着しやすくなる。濃縮を急に行う
と偽晶が発生し易く、遅くすれば装置の使用効率
が悪くなる。このため煎糖き工程においては結晶
缶１内の白下７の流動度又はかたさPVを流動度
計（例えばレオメータ）２２で測定し、第２図Ａ
の曲線３１に示すように測定かたさPVが曲線３
２で示す設定値SV1に達すると、第２図Ｃに示す
ように一定期間T0の間だけ弁４を開き、糖液３
を結晶缶１へ供給して缶内の白下７のかたさを下
げると共に設定かたさSPを前回よりも高い値SP2
に設定する。以下同様に測定かたさPVが設定値
SPに達するごとに一定量の糖液を供給すると共
に設定かたさSPを上げることを繰返す。これら
設定値SP1，SP2，SP3は予めプログラムされてあ
る。結晶缶１内の白下７のレベルは第２図Ｂに示
すように糖液３の供給により階段状に上昇する。
例えば１工程で設定値SPを３回上げる場合に、
設定かたさSPの変化幅を５％、白下７のレベル
の変化幅を５％とすると、１工程でかたさは５％
×３＝15％、レベルは５％×３＝15％変化する。
度が揃わず、結晶と糖液との分離が悪くなり、砂
糖に不純物が付着しやすくなる。濃縮を急に行う
と偽晶が発生し易く、遅くすれば装置の使用効率
が悪くなる。このため煎糖き工程においては結晶
缶１内の白下７の流動度又はかたさPVを流動度
計（例えばレオメータ）２２で測定し、第２図Ａ
の曲線３１に示すように測定かたさPVが曲線３
２で示す設定値SV1に達すると、第２図Ｃに示す
ように一定期間T0の間だけ弁４を開き、糖液３
を結晶缶１へ供給して缶内の白下７のかたさを下
げると共に設定かたさSPを前回よりも高い値SP2
に設定する。以下同様に測定かたさPVが設定値
SPに達するごとに一定量の糖液を供給すると共
に設定かたさSPを上げることを繰返す。これら
設定値SP1，SP2，SP3は予めプログラムされてあ
る。結晶缶１内の白下７のレベルは第２図Ｂに示
すように糖液３の供給により階段状に上昇する。
例えば１工程で設定値SPを３回上げる場合に、
設定かたさSPの変化幅を５％、白下７のレベル
の変化幅を５％とすると、１工程でかたさは５％
×３＝15％、レベルは５％×３＝15％変化する。
この従来の装置においては、糖液３の濃度のば
らつきにより供給した時の白下流動度の低下量、
つまり第２図においてSP1からPV1への低下量、
SP2からPV2への低下量は必ずしも一定しない。
予定した量よりも大きく流動度が低下した場合
に、次の設定流動度を予定通りの値にすると、例
えば糖液の供給により、測定流動度PVがPV1よ
り下の値PV′1となつた場合に、正常の測定流動
度PV1に対して予定した設定流動度SP2を設定し
て制御を続けると、白下７の濃縮を急に行うこと
になり、偽晶が発生する。また白下７中の結晶の
粒径が小さい場合に予定したものよりもうすい糖
液を供給すると、結晶が溶解してしまうこともあ
る。従つて従来においては供給する糖液が所定の
濃度のものであるように常に注意する必要があつ
た。
らつきにより供給した時の白下流動度の低下量、
つまり第２図においてSP1からPV1への低下量、
SP2からPV2への低下量は必ずしも一定しない。
予定した量よりも大きく流動度が低下した場合
に、次の設定流動度を予定通りの値にすると、例
えば糖液の供給により、測定流動度PVがPV1よ
り下の値PV′1となつた場合に、正常の測定流動
度PV1に対して予定した設定流動度SP2を設定し
て制御を続けると、白下７の濃縮を急に行うこと
になり、偽晶が発生する。また白下７中の結晶の
粒径が小さい場合に予定したものよりもうすい糖
液を供給すると、結晶が溶解してしまうこともあ
る。従つて従来においては供給する糖液が所定の
濃度のものであるように常に注意する必要があつ
た。
＜発明の概要＞
この発明の目的は糖煎き工程において供給され
る糖液の濃度がばらついても、偽晶が発生するお
それがなく、かつ結晶が溶解してしまうおそれも
ない結晶缶の自動煎糖装置を提供することにあ
る。
る糖液の濃度がばらついても、偽晶が発生するお
それがなく、かつ結晶が溶解してしまうおそれも
ない結晶缶の自動煎糖装置を提供することにあ
る。
この発明によれば糖液供給時に白下の流動度の
低下が所定値以上になると、その糖液の供給を停
止して結晶缶内の結晶が溶解してしまうのを防止
し、また次の設定流動度を予めプログラムされて
いた値より下げて急な濃縮をすることなく、偽晶
が発生しないようにしている。
低下が所定値以上になると、その糖液の供給を停
止して結晶缶内の結晶が溶解してしまうのを防止
し、また次の設定流動度を予めプログラムされて
いた値より下げて急な濃縮をすることなく、偽晶
が発生しないようにしている。
＜実施例＞
例えば第３図Ａに示すように白下７の流動度の
測定値PVが設定流動度SP1になると一定量の糖液
を供給し、その後設定流動度をSP2にする場合
に、これら設定流動度SP1，SP2に対し、その５
％をそれぞれ引いた値を下限設定値SB1，SB2と
して設ける。測定流動度PVが時点t1に設定流動
度SP1に達すると、第３図Ｃに示すように弁４を
開いて糖液３を結晶缶１へ供給するが、その供給
により缶内の白下流動度PVが下限設定値SB1に達
すると、予め決められた弁４の開期間T0を終了
しない場合でも、下限設定値SB1になつた時点t2
に弁４を閉じて糖液の供給を停止する。このため
従来においては測定流動度PVが設定流動度SPに
達すると一定期間T0だけ弁４が開かれ、白下流
動度PVが下限設定値SBより点線で示すように下
り、白下の中の結晶が溶解してしまうおそれがあ
つたが、この発明ではそのようなおそれはない。
測定値PVが設定流動度SP1になると一定量の糖液
を供給し、その後設定流動度をSP2にする場合
に、これら設定流動度SP1，SP2に対し、その５
％をそれぞれ引いた値を下限設定値SB1，SB2と
して設ける。測定流動度PVが時点t1に設定流動
度SP1に達すると、第３図Ｃに示すように弁４を
開いて糖液３を結晶缶１へ供給するが、その供給
により缶内の白下流動度PVが下限設定値SB1に達
すると、予め決められた弁４の開期間T0を終了
しない場合でも、下限設定値SB1になつた時点t2
に弁４を閉じて糖液の供給を停止する。このため
従来においては測定流動度PVが設定流動度SPに
達すると一定期間T0だけ弁４が開かれ、白下流
動度PVが下限設定値SBより点線で示すように下
り、白下の中の結晶が溶解してしまうおそれがあ
つたが、この発明ではそのようなおそれはない。
このように白下流動度PVが下限設定値に達
し、糖液の供給を途中で停止した場合には次に設
定する流動度SPを予めプログラムされている値
SP2よりも低い値SP′2に設定する。この新たな設
定流動度SP′2は例えば次のようにして決定する。
即ち測定流動度PVが設定流動度SP1に達し、本来
は弁４を期間T0の間だけ開くところを流動度PV
が下限設定値に達して期間T′0しか開かない場合
は、 Ｔ′０／Ｔ０×（SP2―SP1）＝ΔS′1 だけSP1より大な値、即ち新たな設定流動度SP′2
をSP1＋ΔS′1に設定する。
し、糖液の供給を途中で停止した場合には次に設
定する流動度SPを予めプログラムされている値
SP2よりも低い値SP′2に設定する。この新たな設
定流動度SP′2は例えば次のようにして決定する。
即ち測定流動度PVが設定流動度SP1に達し、本来
は弁４を期間T0の間だけ開くところを流動度PV
が下限設定値に達して期間T′0しか開かない場合
は、 Ｔ′０／Ｔ０×（SP2―SP1）＝ΔS′1 だけSP1より大な値、即ち新たな設定流動度SP′2
をSP1＋ΔS′1に設定する。
或は測定流動度PVが設定流動度SPに達した時
の糖液の供給を、予めプログラムされている白下
レベル増加分だけ行う場合は次のようにする。即
ち時点t1で糖液の供給を開始し、第３図Ｂに示す
ように白下レベルがΔL1％増加した時点で糖液
の供給を停止するところを、糖液供給中に白下流
動度が下限設定値以下になつたため、白下レベル
がΔL′1％増加した時点で糖液の供給を停止した
とする。この場合は次の設定流動度SP′2を下記の
ように決定する。
の糖液の供給を、予めプログラムされている白下
レベル増加分だけ行う場合は次のようにする。即
ち時点t1で糖液の供給を開始し、第３図Ｂに示す
ように白下レベルがΔL1％増加した時点で糖液
の供給を停止するところを、糖液供給中に白下流
動度が下限設定値以下になつたため、白下レベル
がΔL′1％増加した時点で糖液の供給を停止した
とする。この場合は次の設定流動度SP′2を下記の
ように決定する。
SP′2＝SP1＋ΔＬ′１／ΔＬ１×（SP2―SP1）
例えばΔL1＝５％，ΔL′1＝３％，ΔS1＝５％
の場合ΔS′1は３％／５％×５％＝３％となる。
の場合ΔS′1は３％／５％×５％＝３％となる。
このように糖液供給により、白下流動度PVが
下限設定値SBより下ると、次の設定流動度SPを
本来の値よりも低くするため急な濃縮が行われ
ず、偽晶が生じない程度のステツプで設定流動度
が上昇されるため偽晶が発生しない。
下限設定値SBより下ると、次の設定流動度SPを
本来の値よりも低くするため急な濃縮が行われ
ず、偽晶が生じない程度のステツプで設定流動度
が上昇されるため偽晶が発生しない。
例えば第１図において演算による設定流動度
SP、下限設定値SBを発生する設定器２３が設け
られ、これら設定流動度SP及び下限設定値SBと
流動度計２２の測定流動度PVとが制御部２４で
比較され、その比較結果に応じて弁４が制御され
る。また前記設定流動度SPの変更は設定器２３
で行われる。
SP、下限設定値SBを発生する設定器２３が設け
られ、これら設定流動度SP及び下限設定値SBと
流動度計２２の測定流動度PVとが制御部２４で
比較され、その比較結果に応じて弁４が制御され
る。また前記設定流動度SPの変更は設定器２３
で行われる。
なお１工程における白下レベル変化量は一定と
する。例えば第２図について説明したように１工
程に３回の糖液供給を行い、１回にレベルを５％
ずつ上げ、１工程で15％レベル上昇させる場合に
おいては、この１工程中で最初のレベルに対し15
％レベル上昇した時に、その工程を終了とする。
する。例えば第２図について説明したように１工
程に３回の糖液供給を行い、１回にレベルを５％
ずつ上げ、１工程で15％レベル上昇させる場合に
おいては、この１工程中で最初のレベルに対し15
％レベル上昇した時に、その工程を終了とする。
設定流動度SP1，SP2，SP3の設定は例えば５％
ずつ上昇させる場合、５％，６％，７％と上昇率
を高くする場合など各種の手法をとることができ
る。同様に糖液の供給量も、一定量ずつ行う場合
と異る量ずつ行う場合とがある。設定下限値も設
定流動度より一定％以下、或は一定値以下などに
設定できる。
ずつ上昇させる場合、５％，６％，７％と上昇率
を高くする場合など各種の手法をとることができ
る。同様に糖液の供給量も、一定量ずつ行う場合
と異る量ずつ行う場合とがある。設定下限値も設
定流動度より一定％以下、或は一定値以下などに
設定できる。
＜効果＞
以上述べたようにこの発明によれば、白下流動
度が設定下限値以下になると糖液供給を停止する
ため白下中の結晶が溶解してしまうおそれがな
く、また次の設定流動度を、予定していた値より
も低く設定することにより偽晶の発生を防止で
き、更に供給糖液の濃度が所定範囲内にあるか否
かを気にせずに使用できる。
度が設定下限値以下になると糖液供給を停止する
ため白下中の結晶が溶解してしまうおそれがな
く、また次の設定流動度を、予定していた値より
も低く設定することにより偽晶の発生を防止で
き、更に供給糖液の濃度が所定範囲内にあるか否
かを気にせずに使用できる。
第１図はこの発明による結晶缶の自動煎糖装置
の一例を示すブロツク図、第２図は従来装置にお
ける制御例を示すタイムチヤート、第３図はこの
発明の装置による制御例を示すタイムチヤートで
ある。 １：結晶缶、４：糖液供給弁、７：白下、２
２：流動度計、２３：設定器、２４：制御部。
の一例を示すブロツク図、第２図は従来装置にお
ける制御例を示すタイムチヤート、第３図はこの
発明の装置による制御例を示すタイムチヤートで
ある。 １：結晶缶、４：糖液供給弁、７：白下、２
２：流動度計、２３：設定器、２４：制御部。
Claims (1)
- １ 結晶缶内の白下流動度を測定する流動度測定
手段と、その測定流動度が設定流動度になると上
記結晶缶内に糖液を供給する糖液供給手段と、そ
の糖液供給ごとに上記設定流動度の変更を予め決
められたプログラムに従つて行う制御手段とを備
えた結晶缶の自動煎糖装置において、上記各設定
流動度と対応した下限設定値を発生する手段と、
上記糖液供給時に白下流動度が対応する下限設定
値に達するとその糖液供給を停止する手段と、下
限設定値に達したことにより糖液供給を停止した
場合に、次の設定流動度を、上記プログラムで予
め決められた値よりも低く設定する手段とを具備
する結晶缶の自動煎糖装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14666782A JPS5948100A (ja) | 1982-08-23 | 1982-08-23 | 結晶缶の自動煎糖装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14666782A JPS5948100A (ja) | 1982-08-23 | 1982-08-23 | 結晶缶の自動煎糖装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5948100A JPS5948100A (ja) | 1984-03-19 |
| JPS622800B2 true JPS622800B2 (ja) | 1987-01-21 |
Family
ID=15412890
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14666782A Granted JPS5948100A (ja) | 1982-08-23 | 1982-08-23 | 結晶缶の自動煎糖装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5948100A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6056005B2 (ja) * | 1978-07-04 | 1985-12-07 | セイコーエプソン株式会社 | 発振回路 |
-
1982
- 1982-08-23 JP JP14666782A patent/JPS5948100A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5948100A (ja) | 1984-03-19 |
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