JPH0443465B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は時分割交換システム、より詳細には、
時分割交換システムの時分割通話路を試験するた
め、時分割通話路と通話路試験装置の間で試験信
号を送受信する装置に関するものである。

（従来の技術） たとえば（財）日本電気通信共済会発行「D70
形自動交換機［II］」第69〜81頁（昭和58年）に
はD70形自動交換機の通話路（SP）バス制御装
置が記載されている。このようなSPバス制御装
置に適用される通話路試験装置として従来、時分
割・空間分割・時分割通話路（TST）構成のハ
イウエイスイツチネツトワークに時分割コネクタ
装置（TDC）を介して接続される方式のものが
ある。

これによる従来の装置構成では、時分割コネク
タ装置および通話路試験装置はそれぞれ、時分割
交換系のデイジタル同期端局装置からの時分割さ
れたフオワードハイウエイに試験データ信号を挿
入し、またこれから試験データ信号を抽出する機
能部と、デイジタル同期端局装置への時分割され
たバツクワードハイウエイに試験データ信号を挿
入し、またこれから試験データ信号を抽出する機
能部とにわかれている。本明細書において、フオ
ワードハイウエイとは時分割スイツチネツトワー
クたとえばTSTスイツチに対して入側のハイウ
エイを意味し、バツクワードハイウエイとは、ス
イツチネツトワークに対して出側のハイウエイを
意味する。

たとえば、フオワードハイウエイにおける試験
データ信号の挿入および抽出は、フオワードハイ
ウエイデイジタルインタフエース装置、フオワー
ド試験信号挿入TDC選択回路、フオワードネツ
トワークデコーダ回路、フオワード試験ハイウエ
イ選択回路およびモードデコーダ回路などの様々
なフオワード側の回路を使用して、保守スイツチ
および試験モード展開回路から行なわれる。

また、バツクワードハイウエイにおける試験デ
ータ信号の挿入および抽出は、バツクワードハイ
ウエイデイジタルインタフエース装置、バツクワ
ード試験信号挿入TDC選択回路、バツクワード
ネツトワークデコーダ回路、バツクワード試験ハ
イウエイ選択回路およびモードデコーダ回路など
の様々なバツクワード側の回路を使用して、保守
スイツチおよび試験モード展開回路から行なわれ
る。

この従来例では、被試験回線の引込み操作を行
なわない平常モード、スタンバイ側の試験を行な
うオフライン試験モード、アクテイブ側の試験を
行なうオンライン試験モード、および回線開通時
などに行なう出合試験モードの４つのモードをと
ることができる。これらのモードでは、それぞれ
に関連する回路要素を使用して通話路試験が行な
われる。

（発明が解決しようとする問題点） しかし、これらの試験モードのすべてについて
装置内各部の回路要素が常に関係しているのでは
なく、通常は、フオワード側およびバツクワード
側の要素の一部が関連しているにすぎない。した
がつて、装置の機能のわりには装置構成が複雑で
回路要素が多く、また両装置の間の信号送受信の
ための布設ケーブルの量が多く、したがつて装置
全体のスペースを多くとり、コンパクトな装置を
実現できない欠点があつた。

本発明はこのような従来技術の欠点を解消し、
コンパクトな構成の時分割通話路の試験信号送受
信装置を提供することを目的とする。

（問題点を解決するための手段） 本発明は上述の問題点を解決するために、複数
のフオワードハイウエイおよびバツクワードハイ
ウエイを含む時分割通話路を試験する通話路試験
手段と、通話路試験手段を時分割通話路に接続す
る時分割コネクタ手段とを有する時分割通話路の
試験信号送受信装置において、通話路試験手段
は、複数のフオワードハイウエイおよびバツクワ
ードハイウエイのうち試験データを挿入すべきハ
イウエイを選択する第１の選択情報、試験データ
を抽出すべきハイウエイを選択する第２の選択情
報、および試験データを時分割コネクタ手段に送
出し、時分割コネクタ手段は、通話路試験手段か
ら第１の選択情報および試験データを受け、第１
の選択情報に応じたハイウエイを選択してこれに
試験データを挿入する選択挿入手段と、通話路試
験手段から第２の選択情報を受け、第２の選択情
報に応じたハイウエイを選択し、これより試験デ
ータを抽出して通話路試験手段に送出する選択抽
出手段とを有する。

（作用） 本発明によれば、時分割通話路の時分割コネク
タ手段において、通話路試験手段より受けた試験
データの時分割通話路への挿入は、第１の選択情
報を通話路試験手段から受信し、これに従つてフ
オワードハイウエイまたはバツクワードハイウエ
イのいずれか一方を選択して行なう。また、通話
路試験手段への試験データの抽出は、第２の選択
情報を通話路試験手段から受信し、これに従つて
フオワードハイウエイまたはバツクワードハイウ
エイのいずれか一方を選択して行なう。

（実施例） 次に添付図面を参照して本発明による時分割通
話路の試験信号送受信装置の実施例を詳細に説明
する。

第１Ａ図および第１Ｂ図を参照すると、本発明
の特定の実施例は、たとえば時分割電話交換シス
テムに有利に適用され、時分割コネクタ装置
TDCおよび通話路試験装置SPTEからなる。通
話路試験装置SPTEには本実施例では16台の時分
割コネクタ装置TDCが収容可能である。両装置
の間は、図示のような信号を伝送するケーブルに
て接続されている。

時分割コネクタ装置TDCは、８本の時分割多
重フオワードハイウエイFHW0〜FHW7、２重
化された時分割デイジタルスイツチネツトワーク
TDNWOおよびTDNW1、ならびに８本の時分
割多重バツクワードハイウエイBHW0〜BHW7
と、通信路試験装置SPTEとのインタフエースを
とる装置である。

フオワードハイウエイFHW0〜FHW7は、時
分割交換系におけるデイジタル同期端局装置から
の時分割多重されたハイウエイであり、時分割デ
イジタルスイツチネツトワークTDNW0および
TDNW1に対して入力側のハイウエイを形成する
入側ハイウエイである。時分割デイジタルスイツ
チネツトワークTDNW0およびTDNW1は、時分
割・空間分割・時分割通話路（TST）構成の時
分割デイジタルスイツチネツトワークであり、ア
クテイブ（ACT）側とスタンバイ（SBY）側ん
に２重化されている。バツクワードハイウエイ
BHW0〜BHW7は、デイジタル同期端局装置へ
の時分割多重されたハイウエイであり、時分割デ
イジタルスイツチネツトワークTDNW0および
TDNW1に対して出力側のハイウエイを形成する
出側ハイウエイである。

これらのハイウエイはそれぞれ、本実施例では
１フレームが128のタイムスロツトで構成され、
１タイムスロツトは直列８ビツトで構成されてい
る。したがつて１フレームは1024ビツトである。

時分割コネクタ装置TDCは、受信回路RECと、
送信回路SNDと、インタフエース回路CDおよび
CRと、ネツトワーク選択回路NSELと、試験信
号挿入回路INSと、試験ハイウエイ選択回路
SEL0と、試験モード制御回路CTLとより構成さ
れている。 受信回路RECは、デイジタル同期
端局装置からのフオワードハイウエイFHW0〜
FHW7を受信する回路であり、フオワードハイ
ウエイ対応に設けられている。送信回路SNDは、
デイジタル同期端局装置へのバツクワードハイウ
エイBHW0〜BHW7を送信する送信回路であり、
バツクワードハイウエイ対応に設けられている。

インタフエース回路CDおよびCRは、ネツトワ
ークTDNW0およびTDNW1とインタフエースす
る回路であり、各スイツチネツトワーク対応に設
けられている。ネツトワーク選択回路NSELは、
ネツトワークTDNW0またはTDNW1を選択する
選択回路であり、スイツチネツトワークの組ごと
に設けられている。

試験信号挿入回路INSは、通話路試験装置
SPTEからの様々な挿入試験データ信号CIDTを
被試験ハイウエイに挿入する回路であり、図示の
ように、アクテイブおよびスタンバイ側のフオワ
ードハイウエイと、バツクワードハイウエイにそ
れぞれ設けられている。

試験ハイウエイ選択回路SEL0は、通話路試験
装置SPTEからの選択信号CDSEとMODE DEC
の条件によりフオワードハイウエイ又は、スタン
バイ側バツクワードハイウエイ又は、アクテイブ
側バツクワードハイウエイのハイウエイのうちか
ら被試験ハイウエイを選択し、そのハイウエイか
ら抽出試験データ信号CDDTを抽出して通話路
試験装置SPTEに出力する回路である。

また試験モード制御回路CTLは、試験モード
に応じて被試験ハイウエイとタイミングを選択
し、すなわち挿入試験データ信号CIDTを挿入す
べき挿入回路INSを選択する回路であり、ネツト
ワークデコーダ回路DEC0、およびモードデコー
ダMODE DECからなる。ネツトワークデコーダ
回路DEC0は、通話路試験装置SPTEからの試験
信号挿入回路選択信号CISEに応じて挿入試験デ
ータ信号CIDTを挿入すべき挿入回路INSを選択
し、これとともにタイミング指定信号CIENでそ
の挿入タイミングを指定することによつて、試験
信号を挿入するハイウエイを選択する回路であ
る。モードデコーダMODE DECは、通話路試験
装置SPTEからの試験モードを指定するモード指
定信号MODEに応じて試験モードを選択し、試
験信号挿入回路INSのうちのいずれかを選択する
ことによつて、ハイウエイを切り換える回路であ
る。

一方、通話路試験装置SPTEは、時分割通話路
の多重化されたハイウエイの任意のタイムスロツ
トにアクセスして時分割コネクタ装置TDCから
信号を挿入および抽出を行ない、これによつて通
話路系の各種装置の障害の再現や、障害復旧後の
確認などを行なう機能を有する。これは、本実施
例では最大16台の時分割コネクタ装置TDCと保
守装置とのインタフエースをとり、保守系装置イ
ンタフエース回路INFと、試験モード展開回路
CTL FFと、コモンハイウエイデイジタルイン
タフエース装置CDIEと、保守スイツチMSWと、
試験信号挿入TDC選択回路DEC1より構成され
る。

保守系装置インタフエース回路INFは、本装置
が適用される時分割電話交換システムの保守系装
置との間で、たとえば中央処理系からのバスを通
してインタフエースする回路であり、試験を実行
する時分割コネクタ装置TDCの番号、ハイウエ
イ番号、タイムスロツト番号および試験モードな
どの試験情報を本システムの中央制御系からデー
タワードの形で受信する。

保守スイツチMSWは、挿入試験データ信号
CIDTを含む試験情報をやはり本システムの中央
制御系からデータワードの形で受信し、また、コ
モンハイウエイデイジタルインタフエース装置
CDIEからは抽出試験データ信号を含む試験結果
の情報を中央制御系へデータワードの形で送信す
るスイツチ回路である。

試験モード展開回路CTL FFは、これら受信
した試験情報がセツトされるフリツプフロツプ群
からなり、信号CDSE，CISE，MODEなど含む
様々な試験情報を展開して、被試験ハイウエイが
収容された時分割コネクタ装置TDCに制御信号
を分配し、その各部を制御する回路である。

コモンハイウエイデイジタルインタフエース装
置CDIEは、被試験時分割コネクタ装置選択回路
SEL1と、デイジタルインタフエース回路DIとか
らなる。選択回路SEL1は、最大16台の時分割コ
ネクタ装置TDCのうちから被試験時分割コネク
タ装置を選択し、任意のタイムスロツトにおける
抽出試験データ信号CDDTを抽出して保守スイ
ツチMSWを通してインタフエース回路INFに出
力する選択回路である。また、挿入試験データ信
号CIDTは、保守スイツチMSWからデイジタル
インタフエース回路DIを通して挿入回路INSに
送出される。

デイジタルインタフエース回路DIは、保守ス
イツチMSWとの間で、時分割コネクタ装置TDC
への挿入試験データ信号CIDT、およびそれから
の抽出試験データ信号CDDTの送受を試験モー
ド展開回路CTL FFのセツト状態に応じて切り
換える切換え回路である。すなわち、時分割ハイ
ウエイへの挿入試験データ信号CIDTは、保守ス
イツチMSWから時分割コネクタ装置TDCへ、ま
た時分割ハイウエイからの抽出試験データ信号
CDDTは、時分割コネクタ装置TDCから保守ス
イツチMSWへ、それぞれデイジタルインタフエ
ース回路DIによつて切り分けられる。

試験信号挿入TDC選択回路DEC1は、最大16台
の時分割コネクタ装置TDCのうちから被試験時
分割コネクタ装置を選択する選択回路である。こ
の選択は、試験モード展開回路CTL FFにセツ
トされた時分割コネクタ番号によつて行なわれ
る。

本装置における試験モードには次の４種類、す
なわち平常状態（モード０）、オフライン試験モ
ード、オンライン試験モードおよび出合試験モー
ドがある。

まず平常状態は、通話路系装置が通常運転中で
あり、コモンハイウエイデイジタルインタフエー
ス装置CDIEによる被試験回線の引込み操作を行
なわない状態である。

オフライン試験モードでは、予備または障害状
態にある通話路系装置の試験モードであり、通話
路系共通制御装置からスタンバイ（SBY）側ス
イツチネツトワークTDNWの指示と、このモー
ドとを指定することによつて、現運転状態におけ
る予備系通話路のハイウエイから１タイムスロツ
トを引き込み、フオワードハイウエイFHWでフ
オワード挿入試験データ信号FIDTを挿入し、バ
ツクワードハイウエイBHWでそれによるバツク
ワード抽出試験データ信号BDDTを抽出する。
なおこの場合、フオワードハイウエイFHWのフ
オワード抽出試験データ信号FDDTの抽出、お
よびバツクワードハイウエイBHWのバツクワー
ド挿入試験データ信号BIDTの挿入は行なわな
い。

オンライン試験モードはアクテイブ（ACT）
系ネツトワークの試験モードであり、モード１お
よび２がある。これらのモードでは、任意の１タ
イムスロツトについてフオワードハイウエイ
FHW伝送側から信号FDDTを抽出し、バツクワ
ードハイウエイBHWに信号BIDTを挿入するこ
とができる。また、フオワードハイウエイFHW
で交換機側への信号挿入を行ない、ネツトワーク
TDNWを経由させてバツクワードハイウエイ
BHWで交換機側から抽出することができる。

出合試験モードは、回線開通の出合試験に適用
されるモードであり、被試験タイムスロツトおよ
び打合せ用タイムスロツトの２種類のタイムスロ
ツトを引き込むことができる。このモードでは、
フオワードハイウエイFHWで伝送側からの信号
FDDTの抽出、およびバツクワードハイウエイ
BHWで伝送路側への信号BIDTの挿入が可能で
ある。なおフオワードハイウエイFHWでの交換
機側への信号FIDTの挿入、およびバツクワード
ハイウエイBHWでの信号BDDTの抽出は、本実
施例では行なわない。

時分割通話路の試験を行なう際、通話路試験装
置SPTEには、試験を実行する時分割コネクタ装
置TDCの番号、ハイウエイ番号、タイムスロツ
ト番号および試験モードなどの試験情報を示す制
御信号が保守装置から送られ、これはインタフエ
ース回路INFを通して試験モード展開回路CTL
FFにセツトされる。そこで試験モード展開回路
CTL FFから被試験ハイウエイが収容されてい
る時分割コネクタ装置TDCに、試験に必要な制
御信号が送出され、時分割通話路の試験が行なわ
れる。

そこでまず、試験モード信号MODEが試験モ
ード展開制御回路CTL FFから時分割コネクタ
装置TDCの試験モード制御回路CTLのモードデ
コーダMODE DECに送出され、モードデコーダ
MODE DECにて複合される。この複合結果によ
りハイウエイの切換え制御が行なわれる。また、
通話路試験装置SPTEの試験モード展開回路CTL
FFから被試験時分割コネクタ装置TDCの番号が
試験信号挿入TDC選択回路DEC1にセツトされ、
被試験時分割コネクタ装置TDCが選択される。

次に時分割コネクタ装置TDCに対する試験信
号の挿入および抽出の動作について説明する。挿
入する試験データ信号CIDTは、保守装置からイ
ンタフエース回路INFを通して保守スイツチ
MSWにセツトされる。挿入試験データ信号
CIDTを挿入するために、試験モード展開回路
CTL FFからの選択信号CISEによつてデイジタ
ルインタフエース回路DIが試験データ信号挿入
状態に切り換えられる。なお、挿入試験データ信
号CIDTは後述のように、フオワード挿入試験デ
ータ信号FIDT、およびバツクワード挿入試験デ
ータ信号BIDTからなる。

また試験モード展開回路CTL FFにセツトさ
れたハイウエイ番号に応じた挿入ハイウエイ選択
信号CISEが時分割コネクタ装置TDCのネツトワ
ーツクデコーダ回路DEC0に転送され、試験信号
挿入回路INSが選択される。また、試験モード展
開回路CTL FFにセツトされたタイムスロツト
番号に応じたタイミングで、被試験TDC番号に
従つて試験信号挿入TDC選択回路DEC1で展開さ
れた時分割コネクタ装置TDCのネツトワークデ
コーダ回路DEC0に信号CIENが出力される。こ
れによつてネツトワークデコーダ回路DEC0が付
勢され、挿入試験データ信号CIDTを挿入すべき
挿入回路INS、すなわち被試験時分割ハイウエイ
が選択される。

これとともに、抽出試験データ信号CDDTの
抽出のため、試験モード展開回路CTL FFは、
同じTDC番号に対応する選択信号CDSEを試験ハ
イウエイ選択回路SEL0に送り、抽出試験データ
信号CDDTを抽出すべきハイウエイを選択する。
また、抽出試験データ信号CDDTを抽出するた
めに、試験モード展開回路CTL FFからの選択
信号CISEによつてデイジタルインタフエース回
路DIが試験データ信号抽出状態に切り換えられ
る。これによつて抽出試験データ信号CDDTが
被試験ハイウエイ選択回路SEL0および被試験
TDC選択回路SEL1にて抽出され、デイジタルイ
ンタフエース回路DIを通して保守スイツチMSW
にセツトされる。これは後に、インタフエース回
路INFを通して中央処理系に読み込まれる。

なお、抽出試験データ信号CDDTは後述のよ
うに、フオワード抽出試験データ信号FDDT、
およびバツクワード抽出試験データ信号BDDT
からなる。

これらのフオワード抽出試験データ信号
FDDTおよびバツクワード抽出試験データ信号
BDDTは、フオワード挿入試験データ信号FIDT
およびバツクワード挿入試験データ信号BIDTも
含めて、コモンハイウエイデイジタルインフエー
ス装置CDIEと時分割コネクタ装置TDCの間で送
受信される。

たとえばオンラインモードが指定されると、フ
オワード挿入試験データ信号FIDTを挿入するた
め、スタンバイ側の挿入回路INSが選択される。
また、スタンバイ側のバツクワード抽出試験デー
タ信号BDDTを抽出するため、試験ハイウエイ
選択回路SEL0は、フオワード抽出試験データ信
号FDDTと、スタンバイ側のバツクワード抽出
試験データ信号BDDTおよびアクテイブ側のバ
ツクワード抽出試験データ信号BDDTのうちス
タンバイ側のバツクワード抽出試験データ信号
BDDTを選択する。

オンラインモード１が指定されると、フオワー
ド挿入試験データ信号FIDTの挿入のため、スタ
ンバイ側およびアクテイブ側の挿入回路INSが選
択される。これとともに、アクテイブ側のバツク
ワード抽出試験データ信号BDDTを抽出するた
め、試験ハイウエイ選択回路SEL0は、アクテイ
ブ側のバツクワード抽出試験データ信号BDDT
を選択する。

オンラインモード２が指定されると、試験ハイ
ウエイ選択回路SEL0は、フオワード抽出試験デ
ータ信号FDDTの抽出のため、フオワード抽出
試験データ信号FDDTを選択するとともに、バ
ツクワード挿入試験データ信号BIDTを挿入する
ため、バツクワード挿入回路INSが選択される。

出合試験モードが指定されると、オンラインモ
ード指定２と同じハイウエイの切換えがモードデ
コーダMODE DECにより行なわれる。

フオワード抽出試験データ信号FDDTの抽出
は次のようにして行なわれる。試験モード展開回
路CTL FFにTDC番号およびハイウエイ番号が
セツトされ、これからのドロツプハイウエイ選択
信号CDSEにより時分割コネクタ装置TDCおよび
ハイウエイが選択される。選択された時分割コネ
クタ装置TDCの試験ハイウエイ選択回路SEL0
で、信号CDSEとモードデコーダMODE DECに
おける複合結果との論理積がとられる。これによ
り、フオワード抽出試験データ信号FDDTの抽
出のための１つのフオワードハイウエイFHWが
選択される。これとともに、通話路試験装置
SPTEの被試験TDC選択回路SEL1で被試験時分
割コネクタ装置TDCが選択され、これはデイジ
タルインタフエース回路DIを通して保守スイツ
チMSWに収容される。

バツクワード抽出試験データ信号BDDTの抽
出は同様にして次のように行なわれる。試験モー
ド展開回路CTL FFにTDC番号およびハイウエ
イ番号がセツトされ、これからのドロツプハイウ
エイ選択信号CDSEにより時分割コネクタ装置
TDCおよびハイウエイが選択される。選択され
た時分割コネクタ装置TDCの試験ハイウエイ選
択回路SEL0で、信号CDSEとモードデコーダ
MODE DECにおける複合結果との論理積がとら
れる。これにより、バツクワード抽出試験データ
信号BDDTの抽出ための１つのバツクワードハ
イウエイBHWが選択される。これとともに、通
話路試験装置SPTEの被試験TDC選択回路SEL1
で被試験時分割コネクタ装置TDCが選択され、
これはデイジタルインタフエース回路DIを通し
て保守スイツチMSWに収容される。

フオワード挿入試験データ信号FIDTの挿入は
次のようにして行なわれる。試験モード展開回路
CTL FFにTDC番号およびハイウエイ番号がセ
ツトされ、これからのインサートハイウエイ選択
信号CISEにより時分割コネクタ装置TDCおよび
ハイウエイが選択される。これとともに、インサ
ートイネーブル信号CIENにより挿入タイムスロ
ツトが指定される。フオワード挿入試験データ信
号FIDTは、保守スイツチMSWからデイジタル
インタフエース回路DIを通して各時分割コネク
タ装置TDCの挿入回路INSに入力される。これ
は、試験モード条件とネツトワークデコーダ
DEC0からの挿入イネーブル信号との論理積条件
によりフオワードハイウエイFHWに挿入され
る。

ネツトワークデコーダ回路DEC0から送出され
る挿入イネーブル信号は、試験モード展開回路
CTL FFからのハイウエイ番号により挿入ハイ
ウエイが指定され、かつ試験信号挿入TDC選択
回路DEC1から信号CIENが出力されるという論
理積条件で送出される。試験信号挿入TDC選択
回路DEC1は、試験モード展開回路CTL FFより
TDC番号とタイムスロツト番号を受け、被試験
時分割コネクタ装置TDCに、指定されたタイム
スロツトの時間位置で信号CIENを送出する。

バツクワード挿入試験データ信号BIDTの挿入
は、試験モード展開回路CTL FFにTDC番号お
よびハイウエイ番号がセツトされ、これからのイ
ンサートハイウエイ選択信号CISEにより時分割
コネクタ装置TDCおよびハイウエイが選択され
る。これとともに、インサートイネーブル信号
CIENにより挿入タイムスロツトが指定される。
以降の制御動作は、前述のフオワード挿入試験デ
ータ信号BIDTの挿入動作と同様である。

ところで、比較のために第２Ａ図および第２Ｂ
図に従来技術による試験信号送受信装置の例を示
す。これからわかるように、時分割コネクタ装置
TDCおよび通話路試験装置SPTEは、フオワー
ドハイウエイFHWに挿入試験データ信号FIDT
を挿入し、またこれから抽出試験データ信号
FDDTを抽出する部分と、バツクワードハイウ
エイBHWに挿入試験データ信号BIDTを挿入し、
またこれから抽出試験データ信号BDDTを抽出
する部分とにわかれている。これらの部分は同図
では、第１Ａ図および第１Ｂ図に示されている対
応する要素の参照符号に、フオワード側は参照符
号”Ｆ”が、またバツクワード側は同”Ｂ”がそ
れぞれ付加されて示されている。それら以外の部
分は、前述の本発明の実施例の対応する部分と実
質的に同じように構成されている。

たとえば、アクテイブ側フオワードハイウエイ
への挿入試験データ信号FIDTの挿入は、フオワ
ードハイウエイデイジタルインタフエース装置
FDIE、フオワード試験信号挿入TDC選択回路
FDEC1、フオワードネツトワークデコーダ回路
FDEC0およびモードデコーダMODE DECを使
用して保守スイツチMSWおよび試験モード展開
回路CTL FFから行なわれる。同様に、アクテ
イブ側フオワードハイウエイからの抽出試験デー
タ信号FDDTの抽出は、フオワードハイウエイ
デイジタルインタフエース装置FDIE、フオワー
ド試験ハイウエイ選択回路FSEL0およびモード
デコーダMODE DECを使用して保守スイツチ
MSWおよび試験モード展開回路CTL FFから行
なわれる。

またバツクワードハイウエイにおける挿入試験
データ信号BIDTの挿入および抽出試験データ信
号BDDTの抽出は、バツクワードハイウエイデ
イジタルインタフエース装置BDIE、バツクワー
ド試験信号挿入TDC選択回路BDEC1、バツクワ
ードネツトワークデコーダ回路BDEC0、バツク
ワード試験ハイウエイ選択回路BSEL0およびモ
ードデコーダMODE DECを使用して保守スイツ
チMSWおよび試験モード展開回路CTL FFから
行なわれる。

この構成によつて前述の４つのモードをとり、
それぞれの通話路試験を行なうことができる。し
かし、これらの試験モードのすべてについてこれ
らの回路要素が常に関係しているのではなく、通
常は、フオワード側およびバツクワード側の要素
の一部が関連しているにすぎない。したがつて、
装置の機能のわりには、装置構成が複雑で回路要
素が多く、また装置間の信号送受信のための布設
ケーブルの量が多く、したがつて装置のスペース
を多くとり、コンパクトな装置を実現できなかつ
た。

しかし前述のように本発明の実施例によれば、
時分割通話路の試験信号の時分割コネクタ装置
TDCから通話路試験装置SPTEへの抽出は、フ
オワードハイウエイまたはバツクワードハイウエ
イのいずれか一方を選択して行なつている。また
時分割コネクタ装置TDCから時分割通話路への
試験信号の挿入は、通話路試験装置SPTEから受
信した試験信号をフオワードハイウエイまたはバ
ツクワードハイウエイのいずれか一方を選択して
行なつている。

したがつて次のような効果が期待できる。ま
ず、時分割コネクタ装置TDCの試験データ送受
信に関係する回路が簡素化される。これととも
に、信号の送受信のためのケーブル量が減少し、
したがつてその布設スペースも少なくてよい。ま
た、通話路試験装置SPTEの信号送受信回路およ
びデイジタルインタフエース回路の構成が簡素化
される。これらの理由により、装置全体がコンパ
クトに構成される。

（発明の効果） このように本発明によれば、時分割通話路の試
験信号の抽出は、フオワードハイウエイまたはバ
ツクワードハイウエイのいずれか一方を選択して
行ない、また時分割通話路への試験信号の挿入
は、フオワードハイウエイまたはバツクワードハ
イウエイのいずれか一方を選択して行なつてい
る。

したがつて、時分割コネクタ装置の試験データ
送受信に関係する回路が簡素化され、信号の送受
信のためのケーブル量が減少し、したがつてそれ
らのスペースも少なくてよい。また、通話路試験
装置の信号送受信回路やデイジタルインタフエー
ス回路の構成も簡素化され、装置全体がコンパク
トに構成される。

【図面の簡単な説明】

第１図は第１Ａ図および第１Ｂ図の配置を示す
図、第１Ａ図および第１Ｂ図は、本発明による時
分割通話路の試験信号送受信装置を時分割電話交
換システムに適用した特定の実施例を示す方式構
成図、第２図は第２Ａ図および第２Ｂ図の配置を
示す図、第２Ａ図および第２Ｂ図は、従来技術に
よる時分割通話路の試験信号送受信装置の構成例
を示す方式構成図である。 主要部分の符号の説明、CDIE……コモンハイ
ウエイデイジタルインタフエース装置、CTL…
…試験モード制御回路、CTL FF……試験モー
ド展開回路、DEC0……ネツトワークデコーダ回
路、DEC1……試験信号挿入TDC選択回路、DI
……デイジタルインタフエース回路、INF……保
守系装置インタフエース回路、INS……試験信号
挿入回路、MODE DEC……モードデコーダ、
MSW……保守スイツチ、NSEL……ネツトワー
ク選択回路、SEL0……試験ハイウエイ選択回路、
SEL1……被試験TDC選択回路、SPTE……通話
路試験装置、TDC……時分割コネクタ装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 一方側の周期端局から複数の入側ハイウエイ
   が予備系および現用系にて２重化された時分割ス
   イツチネツトワークにそれぞれ分岐して接続され
   かつ該２重化された時分割ネツトワークから他方
   側の周期端局に予備系および現用系の複数の出側
   ハイウエイがそれぞれ切替え可能に統合されて接
   続された時分割通話路をそれぞれ試験する時分割
   通話路の試験信号送受信装置において、 該装置は、試験データを前記時分割通話路に送
   受信する通話路試験手段と、該通話路試験手段を
   前記時分割通話路に接続する時分割コネクタ手段
   とを備え、 該時分割コネクタ手段は、前記２重化された時
   分割スイツチネツトワークの予備系への入側ハイ
   ウエイまたは現用系への入側ハイウエイもしくは
   予備系および現用系から統合された後の出側ハイ
   ウエイのいずれかを選択して試験データを挿入す
   る選択挿入手段と、前記２重化された時分割スイ
   ツチネツトワークへの分岐前の入側ハイウエイま
   たは統合前の予備系の出側ハイウエイもしくは現
   用系の出側ハイウエイのいずれか−ハイウエイを
   選択してデータを抽出する選択抽出手段とを有
   し、 前記通話路試験手段は、前記選択挿入手段にて
   試験データを挿入すべきハイウエイを選択するた
   めの第１の選択情報、前記選択抽出手段にてデー
   タを抽出すべきハイウエイを選択するための第２
   の選択情報を前記時分割コネクタ手段に送出する
   選択情報送出手段を有することを特徴とする時分
   割通話路の試験信号送受信装置。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の装置において、 前記通話路試験手段には、前記時分割コネクタ
   手段が複数接続され、 該通話路試験手段は、該複数の時分割コネクタ
   手段を選択する選択手段を有し、 該選択手段は、該選択された時分割コネクタ手
   段に含まれる前記選択挿入手段に第１の選択情報
   を送出し、該選択された時分割コネクタ手段に含
   まれる前記選択抽出手段に第２の選択情報を送出
   してこれから試験データを受けることを特徴とす
   る試験信号送受信装置。