JPH0646389B2 - Shift path failure diagnosis device - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はシフトパス故障診断装置に関し、特に情報処理
装置におけるシフトパスの故障時の診断に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a shift path failure diagnosis apparatus, and more particularly to a diagnosis when a shift path failure occurs in an information processing apparatus.
従来技術 従来、情報処理装置においては、ハードウェア障害時の
保守交換単位(FIELD REPLACEABLE UNIT)複数個を縦続
的に接続してシフトパスを構成させていた。そのため、
このシフトパスに障害が発生すると複数の保守交換単位
を交換しなければならず、このシフトパスの平均修復時
間(MEAN TIME TO REPAIR)が大きくなるという欠点が
あった。2. Description of the Related Art Conventionally, in information processing apparatuses, a shift path is configured by connecting a plurality of maintenance replacement units (FIELD REPLACEABLE UNITs) in a hardware failure in cascade. for that reason,
If a failure occurs in this shift path, it is necessary to replace a plurality of maintenance replacement units, and there is a drawback that the average repair time (MEAN TIME TO REPAIR) of this shift path becomes long.
この欠点を補うための方法としては、装置を初期状態に
しておき、障害を生じた保守交換単位を含むシフトパス
のシフトレジスタ機能を用いてそのシフトパスのデータ
を出力させ、このデータと装置の初期状態のデータとを
比較することにより障害を生じた保守交換単位を指摘す
る方法がある。しかしながら、このシフトレジスタ機能
を用いて初期状態の設定が行われる装置においては、シ
フトパスを構成する保守交換単位に障害が発生すると、
シフトパスのシフトレジスタ機能を用いての初期状態の
設定を行えなくなり、複数の保守交換単位を交換しなけ
ればならず、このシフトパスの平均修復時間が大きくな
るという欠点があった。A method to compensate for this drawback is to leave the device in the initial state, output the data of the shift path by using the shift register function of the shift path including the failed maintenance exchange unit, and set this data and the initial state of the device. There is a way to point out the failed maintenance replacement unit by comparing it with the data in. However, in a device in which the initial state is set using this shift register function, if a failure occurs in the maintenance replacement unit that constitutes the shift path,
There is a drawback in that the initial state cannot be set using the shift register function of the shift path, a plurality of maintenance replacement units must be replaced, and the average restoration time of this shift path becomes long.
また、予め記憶された初期状態を示すデータと、シフト
レジスタ機能の使用により全ビットが出力されたデータ
とを比較しなければならないので、障害を生じた保守交
換単位を指摘するのに時間がかかるという欠点があっ
た。In addition, since it is necessary to compare the pre-stored data indicating the initial state with the data in which all bits are output by using the shift register function, it takes time to indicate the maintenance replacement unit having the failure. There was a drawback.
発明の目的 本発明は上記のような従来のものの欠点を除去すべくな
されたもので、障害を生じた保守交換単位の指摘を容易
に行うことができ、システムダウン時の故障修復時間を
短くして平均修復時間を短縮することができるシフトパ
ス故障診断装置の提供を目的とする。The object of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks of the conventional ones, and it is possible to easily point out a maintenance / replacement unit having a failure, and to shorten the failure repair time when the system is down. It is an object of the present invention to provide a shift path failure diagnosis device capable of shortening the average repair time.
発明の構成 本発明によるシフトパス故障診断装置は、複数の記憶素
子が縦続的に接続されて構成された保守交換単位として
のシフトレジスタを複数個縦続的に接続することにより
構成されたシフトパスの故障診断装置であって、前記シ
フトレジスタの各々に対応して設けられ、対応するシフ
トレジスタの入力信号及び出力信号を択一的に導出して
次段回路の入力とする複数の切替手段と、この切替手段
の少なくとも1つを制御して対応するシフトレジスタの
入力信号を次段回路の入力とすることによりこのシフト
レジスタをバイパスさせて故障診断を行うよう制御する
手段と、前記故障診断により故障が検出されたときに当
該故障が検出された保守交換単位を指摘する手段とを有
することを特徴とする。Configuration of the Invention A shift path failure diagnosis apparatus according to the present invention is a failure diagnosis of a shift path configured by cascade-connecting a plurality of shift registers as a maintenance replacement unit configured by cascade-connecting a plurality of storage elements. A plurality of switching means provided corresponding to each of the shift registers and selectively deriving an input signal and an output signal of the corresponding shift register to be an input of a next-stage circuit; Means for controlling at least one of the means to control the input signal of the corresponding shift register to be input to the next stage circuit so as to bypass the shift register and perform a failure diagnosis, and a failure is detected by the failure diagnosis. And a means for pointing out the maintenance replacement unit in which the failure is detected.
実施例 次に、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。Embodiment Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。図において、本発明の一実施例による情報処理装置
は、シフトレジスタ1〜3と、シフトモード指定回路4
と、シフトイン入力制御回路5と、シフトレジスタ指定
回路6と、デコーダ7,17と、クロック供給回路8
と、セレクタ9〜11と、シフトアウト出力制御回路1
2と、保守診断装置13と、シフトバッファ14と、入
出力制御回路15と、入出力接続回路16とにより構成
されている。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. In the figure, an information processing apparatus according to an embodiment of the present invention includes a shift register 1 to 3 and a shift mode designating circuit 4.
, Shift-in input control circuit 5, shift register designation circuit 6, decoders 7 and 17, and clock supply circuit 8
, Selectors 9 to 11, and shift-out output control circuit 1
2, a maintenance diagnosis device 13, a shift buffer 14, an input / output control circuit 15, and an input / output connection circuit 16.
シフトレジスタ1〜3は夫々記憶素子1−1〜1−l、
2−1〜2−m、3−1〜3−nが縦続的に接続されて
構成されている。また、シフトレジスタ1〜3は夫々縦
続的に接続されて1つのシフトパスを構成するととも
に、シフトレジスタ1〜3各々はこの情報処理装置の保
守交換単位に対応している。The shift registers 1 to 3 are storage elements 1-1 to 1-1, respectively.
2-1 to 2-m and 3-1 to 3-n are connected in cascade. The shift registers 1 to 3 are respectively connected in cascade to form one shift path, and each of the shift registers 1 to 3 corresponds to a maintenance exchange unit of the information processing apparatus.
シフトレジスタ1〜3各々にはシフトモード指定回路4
からのシフトモード信号102が入力されてシフトモード
が指定される。クロック供給回路8からのクロック信号
124は、シフトレジスタ指定回路6からの制御信号123に
よりデコーダ7で各シフトレジスタ1〜3に夫々分配さ
れる。すなわち、デコーダ7ではシフトレジスタ指定回
路6からの制御信号123によって指定されるシフトレジ
スタ1〜3に夫々クロック信号103〜105を供給する。A shift mode designating circuit 4 is provided for each of the shift registers 1 to 3.
The shift mode signal 102 from is input and the shift mode is designated. Clock signal from clock supply circuit 8
The decoder 124 is distributed to each of the shift registers 1 to 3 by the decoder 7 according to the control signal 123 from the shift register designating circuit 6. That is, the decoder 7 supplies the clock signals 103 to 105 to the shift registers 1 to 3 designated by the control signal 123 from the shift register designating circuit 6, respectively.
シフトレジスタ1のシフトイン端子にはシフトイン入力
制御回路5からシフトイン入力101が入力されている。
また、シフトレジスタ1〜3のシフトアウト端子各々か
らのシフトアウト出力106,108,110は夫々セレクタ9〜
11に入力される。The shift-in input 101 is input from the shift-in input control circuit 5 to the shift-in terminal of the shift register 1.
The shift-out outputs 106, 108 and 110 from the shift-out terminals of the shift registers 1 to 3 are selector 9-, respectively.
11 is input.
セレクタ9にはシフトイン入力制御回路5からのシフト
イン入力101とシフトレジスタ1からのシフトアウト出
力106とが入力され、デコーダ17からのセレクタ切替
信号120によりシフトイン入力101とシフトアウト出力10
6とを切替えてシフトイン信号107としてシフトレジスタ
2とセレクタ10とに出力する。The shift-in input 101 from the shift-in input control circuit 5 and the shift-out output 106 from the shift register 1 are input to the selector 9, and the selector switching signal 120 from the decoder 17 inputs the shift-in input 101 and the shift-out output 10.
6 is switched and output as a shift-in signal 107 to the shift register 2 and the selector 10.
セレクタ10にはセレクタ9からのシフトイン信号107
とシフトレジスタ2からのシフトアウト信号108とが入
力され、デコーダ17からのセレクタ切替信号121によ
りシフトイン信号107とシフトアウト出力108とを切替え
てシフトイン信号109としてシフトレジスタ3とセレク
タ11とに出力する。The shift-in signal 107 from the selector 9 is sent to the selector 10.
And the shift-out signal 108 from the shift register 2 are input, and the shift-in signal 107 and the shift-out output 108 are switched by the selector switching signal 121 from the decoder 17 to the shift register 3 and the selector 11 as the shift-in signal 109. Output.
セレクタ11にはセレクタ10からのシフトイン信109
とシフトレジスタ3からのシフトアウト信号110とが入
力され、デコーダ17からのセレクタ切替信号122によ
りシフトイン信109とシフトアウト出力110とを切替えて
シフトアウト信号111としてシフトアウト出力制御回路
12に出力する。The selector 11 receives the shift-in signal 109 from the selector 10.
And the shift-out signal 110 from the shift register 3 are input, and the shift-in signal 109 and the shift-out output 110 are switched by the selector switching signal 122 from the decoder 17 and output to the shift-out output control circuit 12 as the shift-out signal 111. To do.
シフトアウト出力制御回路12はセレクタ11からのシ
フトアウト信号111のチェックを行い、シフトアウト信
号113をシフトバッフア14に書込むとともに、チェッ
ク結果をエラー報告信号112として保守診断装置13に
出力する。The shift-out output control circuit 12 checks the shift-out signal 111 from the selector 11, writes the shift-out signal 113 in the shift buffer 14, and outputs the check result to the maintenance diagnostic device 13 as an error report signal 112.
保守診断装置13はシフトアウト出力制御回路12から
のエラー報告信号112によりシフトレジスタ1〜3の障
害の発生を知り、制御信号116を入出力制御回路15に
出力する。また、保守診断装置13はデータバス114,11
5を介してシフトバッファゥ14に対してデータの書込
み読出しを行う。The maintenance diagnosis device 13 knows the occurrence of a failure in the shift registers 1 to 3 from the error report signal 112 from the shift-out output control circuit 12, and outputs the control signal 116 to the input / output control circuit 15. Further, the maintenance / diagnosis device 13 uses the data buses 114, 11
Data is written to and read from the shift buffer 14 via 5.
入出力制御回路15は保守診断装置13からの制御信号
116に応じてシフトモード指定回路4とシフトイン入力
制御回路5とシフトレジスタ指定回路6と入出力接続回
路16とに制御信号118を出力する。この制御信号118の
入力によりシフトモード指定回路4はシフトレジスタ1
〜3に対してシフトモードを指定し、シフトイン入力制
御回路5はシフトレジスタ1へのシフトイン入力を制御
し、シフトレジスタ指定回路6はクロックを供給すべき
シフトレジスタ1〜3を指定し、入出力接続回路16は
デコーダ17に接続指示信号119を出力してデコーダ1
7からのセレクタ切替信号120〜122によりセレクタ9〜
11の切替動作を制御する。The input / output control circuit 15 is a control signal from the maintenance diagnostic device 13.
A control signal 118 is output to the shift mode designation circuit 4, the shift-in input control circuit 5, the shift register designation circuit 6, and the input / output connection circuit 16 in accordance with 116. By inputting the control signal 118, the shift mode designating circuit 4 shifts the shift register 1
3 to 3, a shift-in input control circuit 5 controls a shift-in input to the shift register 1, a shift register designating circuit 6 designates the shift registers 1 to 3 to which a clock is to be supplied, The input / output connection circuit 16 outputs a connection instruction signal 119 to the decoder 17 to output the decoder 1
Selector selector signals 120-122 from selectors 9-
The switching operation of 11 is controlled.
次に、第1図を用いて本発明の一実施例の動作について
説明する。Next, the operation of the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
まず、シフトレジスタ1〜3各々の記憶素子1−1〜1
−l、2−1〜2−m、3−1〜3−nに障害がない場
合に、シフトレジスタ1〜3により構成されるシフトパ
スからその内容を取出してシフトバッファ14に格納す
る手順について説明する。First, the storage elements 1-1 to 1 of each of the shift registers 1 to 3
-L, 2-1 to 2-m, and 3-1 to 3-n have no fault, the procedure for extracting the contents from the shift path formed by the shift registers 1 to 3 and storing them in the shift buffer 14 will be described. To do.
シフトレジスタ指定回路6で所望のシフトレジスタ1〜
3を選択して指定し、シフトモード指定回路4でシフト
モードを“1”にセットし、クロック供給回路8からデ
コーダ7を介してシフトレジスタ1〜3夫々にクロック
信号103〜105を供給することにより、シフトレジスタ1
〜3で構成されるシフトパスにシフト動作を行わせる。In the shift register designating circuit 6, desired shift registers 1 to
3 is selected and designated, the shift mode designation circuit 4 sets the shift mode to "1", and the clock signals 103 to 105 are supplied from the clock supply circuit 8 to the shift registers 1 to 3 via the decoder 7 respectively. Shift register 1
The shift path composed of 3 to 3 is caused to perform the shift operation.
このシフト動作によりシフトパスの内容をシフトアウト
出力制御回路12を介してシフトバッファ14に格納す
る。このとき、シフトレジスタ1のシフトイン端子には
シフトイン入力制御回路5からの“0”が入力される。By this shift operation, the contents of the shift path are stored in the shift buffer 14 via the shift-out output control circuit 12. At this time, “0” from the shift-in input control circuit 5 is input to the shift-in terminal of the shift register 1.
さらに、入出力制御回路15は入出力接続回路16とデ
コーダ17とを介してセレクタ9〜11にセレクタ切替
信号120〜122を出力し、セレクタ9〜11夫々がシフト
レジスタ1〜3夫々のシフトアウト端子からのシフトア
ウト出力106,108,110を選択するように制御を行う。Further, the input / output control circuit 15 outputs selector switching signals 120 to 122 to the selectors 9 to 11 via the input / output connection circuit 16 and the decoder 17, and the selectors 9 to 11 shift out of the shift registers 1 to 3 respectively. The control is performed so as to select the shift-out outputs 106, 108, 110 from the terminals.
シフトレジスタ1〜3夫々の全記憶素子1−1〜1−
l、2−1〜2−m、3−1〜3−nの数だけクロック
が供給されると、上述の動作により全記憶素子1−1〜
1−l、2−1〜2−m、3−1〜3−nの内容がシフ
トバッファ14に転送される。All memory elements 1-1 to 1- of shift registers 1 to 3 respectively
When the clocks are supplied by the number of 1, 2-1 to 2-m, and 3-1 to 3-n, all the storage elements 1-1 to 1-1 due to the above operation.
The contents of 1-1, 2-1 to 2-m, and 3-1 to 3-n are transferred to the shift buffer 14.
このとき、シフトレジスタ1〜3夫々の全記憶素子1−
1〜1−l、2−1〜2−m、3−1〜3−nにはシフ
トイン入力制御回路5からの“0”が格納されているは
ずである。これをチェックするために、さらにクロック
を1回だけシフトレジスタ1〜3に供給し、このクロッ
クの供給によりシフトパスから出力されるビットが
“0”であることをシフトアウト出力制御回路12でチ
ェックする。At this time, all the storage elements 1-
"0" from the shift-in input control circuit 5 should be stored in 1-1 to 1-1, 2-1 to 2-m, and 3-1 to 3-n. In order to check this, the clock is further supplied only once to the shift registers 1 to 3, and the shift-out output control circuit 12 checks that the bit output from the shift path by the supply of this clock is "0". .
このシフトパスから出力されるビットが“1”である場
合には、シフトレジスタ1〜3のある記憶素子が“1”
に固定されるようなモードの障害になっていると判断さ
れ、これによりいわゆる“1”スタック故障を検出する
ことができる。When the bit output from this shift path is "1", the storage element in the shift registers 1 to 3 is "1".
It is determined that there is a failure in the mode that is fixed to, so that a so-called "1" stack failure can be detected.
シフトアウト出力制御回路12でのチェックによりシフ
トレジスタ1〜3が正常であると判断されると、さらに
クロックを1回だけシフトレジスタ1〜3に供給すると
ともに、シフトレジスタ1のシフトイン端子から“1”
を入力する。これにより、シフトレジスタ1ではシフト
イン端子側の記憶素子1−1が1ビットだけ“1”で、
他の記憶素子1−2〜1−lの内容はすべて“0”とな
る。この記憶素子1−1に格納された“1”をラストデ
ィジットと呼び、上述のような手順でシフトパスの内容
をシフトバッファ14に転送する動作をスキャンアウト
動作と呼ぶ。When it is determined by the check in the shift-out output control circuit 12 that the shift registers 1 to 3 are normal, the clock is supplied to the shift registers 1 to 3 only once, and " 1 "
Enter. As a result, in the shift register 1, the storage element 1-1 on the shift-in terminal side is "1" for only 1 bit,
The contents of the other storage elements 1-2 to 1-1 are all "0". "1" stored in the storage element 1-1 is called a last digit, and the operation of transferring the contents of the shift path to the shift buffer 14 in the above-described procedure is called a scan-out operation.
次に、このスキャンアウト動作によりシフトバッファ1
4に格納された内容をシフトレジスタ1〜3に転送する
手順について説明する。Next, this scan-out operation causes the shift buffer 1
A procedure for transferring the contents stored in No. 4 to the shift registers 1 to 3 will be described.
シフトレジスタ指定回路6で所望のシフトレジスタ1〜
3を選択して指定し、シフトモード指定回路4でシフト
モードを“1”にセットし、クロック供給回路8からデ
コーダ7を介してシフトレジスタ1〜3夫々にクロック
信号103〜105を供給することにより、シフトレジスタ1
〜3で構成されるシフトパスにシフト動作を行わせる。
このとき、シフトイン入力制御回路5からシフトレジス
タ1のシフトイン端子に入力されるデータはシフトバッ
ァ14に格納されているデータであり、このシフトイン
端子にはシフトイン入力制御回路5を介して1ビットず
つシフトバッファ14の内容が転送されることとなる。In the shift register designating circuit 6, desired shift registers 1 to
3 is selected and designated, the shift mode designation circuit 4 sets the shift mode to "1", and the clock signals 103 to 105 are supplied from the clock supply circuit 8 to the shift registers 1 to 3 via the decoder 7 respectively. Shift register 1
The shift path composed of 3 to 3 is caused to perform the shift operation.
At this time, the data input from the shift-in input control circuit 5 to the shift-in terminal of the shift register 1 is the data stored in the shift buffer 14, and the shift-in terminal receives 1 data via the shift-in input control circuit 5. The contents of the shift buffer 14 will be transferred bit by bit.
シフトレジスタ1〜3の全記憶素子1−1〜1−l、2
−1〜2−m、3−1〜3−nの数だけクロックが供給
されると、これによりシフトパスから最後に出力された
1ビットのデータが“1”であるか“0”であるかをシ
フトアウト出力制御回路12でチェックする。All storage elements 1-1 to 1-1 of the shift registers 1 to 3 and 2
When clocks are supplied by the numbers -1 to 2-m and 3-1 to 3-n, whether 1-bit data finally output from the shift path is "1" or "0". Is checked by the shift-out output control circuit 12.
このシフトパスから出力されるビットが“0”である場
合には、シフトレジスタ1〜3のある記憶素子が“0”
に固定されるようなモードの障害になっていると判断さ
れ、これによりいわゆる“0”スタック故障を検出する
ことができる。When the bit output from this shift path is "0", the storage element in the shift registers 1 to 3 is "0".
It is determined that there is a failure in the mode that is fixed to, so that a so-called "0" stack failure can be detected.
シフトレジスタ1〜3に障害がないときには、予めスキ
ャンアウト動作時にシフトイン入力したラストディジッ
トの“1”がシフトパスから出力される。この上述の動
作をスキャンイン動作と呼ぶ。When there is no failure in the shift registers 1 to 3, the last digit "1" which is shift-in input in advance during the scan-out operation is output from the shift path. This operation described above is called a scan-in operation.
上述のスキャンアウト動作およびスキャンイン動作時
に、シフトレジスタ1〜3に記憶素子の“1”スタック
故障または“0”スタック故障が検出されると、シフト
アウト出力制御回路12はエラー報告信号112を保守診
断装置13に出力し、、保守診断装置13にこの障害の
発生が報告される。When a "1" stack fault or a "0" stack fault of a storage element is detected in the shift registers 1 to 3 during the above scan-out operation and scan-in operation, the shift-out output control circuit 12 maintains the error report signal 112. This is output to the diagnostic device 13 and the maintenance diagnostic device 13 is notified of the occurrence of this failure.
保守診断装置13ではこの障害の検出により制御信号11
6を入出力制御回路15に出力し、この制御信号116によ
りシフトレジスタ1〜3のうちどのシフトレジスタに対
する入出力の接続を変更するかが入出力制御回路15に
指示される。The maintenance diagnostic device 13 detects a control signal 11 by detecting this failure.
6 is output to the input / output control circuit 15, and this control signal 116 instructs the input / output control circuit 15 to which of the shift registers 1 to 3 the input / output connection is changed.
最初、シフトレジスタ1に対して入出力接続変更指示が
出力されたとすると、入出力制御回路15は制御信号11
8により入出力接続回路16にシフトレジスタ1に対す
る入出力接続変更を指示する。入出力接続回路16は接
続指示信号119をデコーダ17に出力し、デコーダ17
はこの接続指示信号119によりセレクタ切替信号120をセ
レクタ9に出力する。すなわち、セレクタ9からの出力
をシフトレジスタ1からのシフトアウト出力106からシ
フトレジスタ1へのシフトイン入力101に切替えるよう
に指示する。First, if an input / output connection change instruction is output to the shift register 1, the input / output control circuit 15 outputs the control signal 11
8 instructs the input / output connection circuit 16 to change the input / output connection to the shift register 1. The input / output connection circuit 16 outputs a connection instruction signal 119 to the decoder 17, and the decoder 17
Outputs a selector switching signal 120 to the selector 9 according to this connection instruction signal 119. That is, it instructs to switch the output from the selector 9 from the shift-out output 106 from the shift register 1 to the shift-in input 101 to the shift register 1.
また、入出力制御回路15は制御信号118をシフトレジ
スタ指定回路6に出力し、シフトレジスタ指定回路6に
対してシフトレジスタ1にクロックを供給しないように
指示する。この指示によりシフトレジスタ指定回路は制
御信号123によりデコーダ7を制御して、シフトレジス
タ1にクロックを供給しないようにする。Further, the input / output control circuit 15 outputs the control signal 118 to the shift register designating circuit 6 and instructs the shift register designating circuit 6 not to supply the clock to the shift register 1. In response to this instruction, the shift register designating circuit controls the decoder 7 by the control signal 123 so that the shift register 1 is not supplied with a clock.
さらに、入出力制御回路15は制御信号118をシフトモ
ード指定回路4に出力し、シフトモード指定回路4に対
してシフトレジスタ1をシフトモードにしないように制
御する。Further, the input / output control circuit 15 outputs a control signal 118 to the shift mode designating circuit 4 and controls the shift mode designating circuit 4 so that the shift register 1 is not placed in the shift mode.
これらシフトレジスタ指定回路6とシフトモード指定回
路4とを入出力制御回路15の制御信号118によって制
御した後に、スキャンアウト動作およびスキャンイン動
作を実施すると、これらスキャンアウト動作とスキャン
イン動作とは、シフトレジスタ1をバイパスし、、シフ
トレジスタ2,3で構成されるシフトパスに対して行わ
れることとなる。When the scan-out operation and the scan-in operation are performed after controlling the shift register specifying circuit 6 and the shift mode specifying circuit 4 by the control signal 118 of the input / output control circuit 15, the scan-out operation and the scan-in operation are The shift register 1 is bypassed, and the shift path composed of the shift registers 2 and 3 is performed.
すなわち、シフトレジスタ1の記憶素子1−1〜1−l
のどれかに“1”スタック故障または“0”スタック故
障があったとしても、シフトレジスタ1はバイパスされ
ているので、シフトレジスタ2,3で構成されるシフト
パスに対するスキャンアウト動作およびスキャンイン動
作は正常に終了し、シフトレジスタ1に障害があること
が判明する。シフトレジスタ1〜3は夫々保守交換単位
に対応しているので、上述の動作を行うことによって故
障している保守交換単位を容易に指摘することができ
る。That is, the storage elements 1-1 to 1-1 of the shift register 1
Even if any one of them has a "1" stack fault or a "0" stack fault, since the shift register 1 is bypassed, the scan-out operation and the scan-in operation for the shift path constituted by the shift registers 2 and 3 are performed. It ends normally, and it is found that the shift register 1 has a failure. Since each of the shift registers 1 to 3 corresponds to the maintenance / replacement unit, the malfunctioning maintenance / replacement unit can be easily pointed out by performing the above operation.
このように、複数の記憶素子が縦続的に接続されて構成
される各シフトレジスタを夫々バイパス制御可能な様に
構成することにより、複数のシフトレジスタが夫々縦続
的に接続されて構成されるシフトパスの故障診断を行う
ようにするものであるから、保守交換単位となるシフト
レジスタの障害の特定指摘を容易に行うことができる。
このように障害を生じたシフトレジスタの指摘を容易に
行うことができるので、従来シフトパスを構成していた
複数の保守交換単位のうち1つにでも障害を生ずるとす
べて交換するといったシステムダウン時の故障修復時間
を短くすることができ、故障修復もその障害が生じたも
のだけに行えばよくなるため、平均修復時間を短縮する
ことができる。As described above, by configuring each shift register configured by connecting a plurality of storage elements in cascade to be capable of bypass control, a shift path configured by connecting a plurality of shift registers in cascade Since the failure diagnosis is performed, it is possible to easily identify and indicate the failure of the shift register, which is a maintenance replacement unit.
In this way, since it is possible to easily point out the shift register having a failure, it is possible to replace all of the plurality of maintenance replacement units that conventionally constitute a shift path when a failure occurs in a system down state. The failure repair time can be shortened, and since the failure repair only needs to be performed on the failure-caused one, the average repair time can be shortened.
尚、本発明の一実施例では障害の発生したシフトレジス
タをバイパスさせて故障診断を行う場合について述べた
が、他のシフトレジスタをバイパスさせて1つのシフト
レジスタのみの故障診断を行うこともできるのは明白で
ある。In the embodiment of the present invention, the case in which a faulty shift register is bypassed for fault diagnosis has been described, but it is also possible to bypass another shift register for fault diagnosis for only one shift register. Is obvious.
発明の効果 以上説明したように本発明によれば、シフトパスを構成
する複数の保守交換単位であるシフトレジスタの少なく
とも1つをバイパスさせて故障診断を行うようにするこ
とによって、シフトパスのうち障害を生じた保守交換単
位を特定する指摘を容易に行うことができ、システムダ
ウン時の故障修復時間を短くして平均修復時間を短縮す
ることができるという効果がある。As described above, according to the present invention, at least one of the shift registers, which is a plurality of maintenance exchange units constituting the shift path, is bypassed to perform a failure diagnosis, thereby making it possible to detect a failure in the shift path. There is an effect that it is possible to easily point out the generated maintenance replacement unit, and it is possible to shorten the failure repair time when the system is down and shorten the average repair time.
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。 主要部分の符号の説明 1〜3……シフトレジスタ 4……シフトモード指定回路 5……シフトイン入力制御回路 6……シフトレジスタ指定回路 9〜11……セレクタ 13……保守診断装置FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. Description of symbols of main parts 1-3 ... shift register 4 ... shift mode designating circuit 5 ... shift-in input control circuit 6 ... shift register designating circuit 9 to 11 ... selector 13 ... maintenance diagnostic device
Claims (1)
された保守交換単位としてのシフトレジスタを複数個縦
続的に接続することにより構成されたシフトパスの故障
診断装置であって、前記シフトレジスタの各々に対応し
て設けられ、対応するシフトレジスタの入力信号及び出
力信号を択一的に導出して次段回路の入力とする複数の
切替手段と、この切替手段の少なくとも1つを制御して
対応するシフトレジスタの入力信号を次段回路の入力と
することによりこのシフトレジスタをバイパスさせて故
障診断を行うよう制御する手段と、前記故障診断により
故障が検出されたときに当該故障が検出された保守交換
単位を指摘する手段とを有することを特徴とするシフト
パスの故障診断装置。1. A failure diagnosis device for a shift path, comprising a plurality of shift registers as a maintenance exchange unit, which are constituted by a plurality of storage elements connected in series, and which are connected in series. Controlling at least one of a plurality of switching means provided corresponding to each of the registers and selectively deriving an input signal and an output signal of the corresponding shift register to input to the next stage circuit. Then, by inputting the input signal of the corresponding shift register to the input of the next-stage circuit, the shift register is bypassed to perform control for performing the fault diagnosis, and the fault is detected when the fault is detected by the fault diagnosis. And a means for pointing out the detected maintenance / replacement unit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62116259A JPH0646389B2 (en) | 1987-05-13 | 1987-05-13 | Shift path failure diagnosis device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62116259A JPH0646389B2 (en) | 1987-05-13 | 1987-05-13 | Shift path failure diagnosis device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63280341A JPS63280341A (en) | 1988-11-17 |
| JPH0646389B2 true JPH0646389B2 (en) | 1994-06-15 |
Family
ID=14682674
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62116259A Expired - Lifetime JPH0646389B2 (en) | 1987-05-13 | 1987-05-13 | Shift path failure diagnosis device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0646389B2 (en) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60239836A (en) * | 1984-05-15 | 1985-11-28 | Fujitsu Ltd | Troubleshooting system of logical circuit |
| JPS6293672A (en) * | 1985-10-21 | 1987-04-30 | Hitachi Ltd | hierarchical logical unit |
-
1987
- 1987-05-13 JP JP62116259A patent/JPH0646389B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63280341A (en) | 1988-11-17 |
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