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JPH071768B2 - Bonding resin surface adjustment device in resin bonding equipment - Google Patents
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JPH071768B2 - Bonding resin surface adjustment device in resin bonding equipment - Google Patents

Bonding resin surface adjustment device in resin bonding equipment

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JPH071768B2
JPH071768B2 JP61185712A JP18571286A JPH071768B2 JP H071768 B2 JPH071768 B2 JP H071768B2 JP 61185712 A JP61185712 A JP 61185712A JP 18571286 A JP18571286 A JP 18571286A JP H071768 B2 JPH071768 B2 JP H071768B2
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stamp
resin
bonding
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pin
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10W72/01Manufacture or treatment
    • H10W72/011Apparatus therefor
    • H10W72/0113Apparatus for manufacturing die-attach connectors

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  • Coating Apparatus (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、樹脂ボンディング装置におけるボンディン
グ樹脂面の調整装置に関し、さらに詳しくは、サイズの
異なる複数種類の半導体チップをセラミックなどの基板
上に樹脂ダイボンドする樹脂ボンディング装置におい
て、ボンディング樹脂面の高さを、半導体チップの種類
対応に調整するための調整装置の改良に係るものであ
る。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for adjusting a bonding resin surface in a resin bonding apparatus, and more specifically, a plurality of types of semiconductor chips having different sizes are mounted on a substrate such as a ceramic resin. The present invention relates to an improvement of a die bonding resin bonding apparatus for adjusting the height of a bonding resin surface according to the type of a semiconductor chip.

〔従来の技術〕 従来例によるこの種の樹脂ボンディング装置の概要構成
を第2図および第3図に示す。
[Prior Art] FIGS. 2 and 3 show a schematic configuration of a resin bonding apparatus of this type according to a conventional example.

すなわち,これらの各図において、符号1は半導体チッ
プを搭載する基板,こゝではサイズの異なる複数種類の
半導体チップを樹脂ダイボンドするセラミックなどから
なる基板、2はこの基板1を保持して、矢印で示す前
後,左右の各方向に制御移動し得るようにしたボンディ
ングステージである。
That is, in each of these drawings, reference numeral 1 denotes a substrate on which a semiconductor chip is mounted, here, a substrate made of ceramic or the like for die-bonding a plurality of types of semiconductor chips having different sizes to each other. This is a bonding stage that can be controlled to move in the front, back, left, and right directions.

また、3は銀エポキシなどのボンディング用の樹脂、4
はこのボンディング樹脂3を受容するスタンプ皿、5は
このスタンプ皿4を枢支々持すると共に、回転機構5aに
より所定速度で回転させるようにしたスタンプ台であ
り、6は水平方向に延長された中間部分を、このスタン
プ台5上に揺動自在に枢支させ、その先端部を前記スタ
ンプ皿4上に臨ませた調整レバー、7はこの調整レバー
6の先端部に取付けられ、スタンプ皿4内でのボンディ
ング樹脂3の上面に接触されて、常時,同樹脂面を調整
された高さの水平面に掻きならすスキージである。
In addition, 3 is a resin for bonding such as silver epoxy, 4
Is a stamp plate which receives the bonding resin 3, 5 is a stamp table which pivotally supports the stamp plate 4, and is rotated at a predetermined speed by a rotating mechanism 5a, and 6 is extended in the horizontal direction. An adjusting lever 7 in which an intermediate portion is pivotally supported on the stamp table 5 so that its tip end faces the stamp tray 4, and 7 is attached to the tip end of the adjusting lever 6, the stamp tray 4 It is a squeegee that is in contact with the upper surface of the bonding resin 3 inside and constantly scrapes the resin surface to a horizontal surface of an adjusted height.

また、8は前記スタンプ台5の延長上で、上下方向に装
着された高さ調整機構であって、こゝでは調整摘み8aの
手動による操作回動で、上部に突出される高さ設定ピン
8bを、上下に進退作動させ得るようになつている。そし
てこの高さ設定ピン8bの上端面には、バネ9の弾圧力に
より前記調整レバー6の基端部側下面を当接させて、同
調整レバー6の遊びを除くようにしてある。
Further, 8 is a height adjusting mechanism which is vertically mounted on the extension of the stamp base 5, and in this case, the height setting pin is projected upward by a manual operation rotation of the adjusting knob 8a.
The 8b can be moved up and down. The lower end of the adjusting lever 6 is brought into contact with the upper end surface of the height setting pin 8b by the elastic force of the spring 9 to eliminate the play of the adjusting lever 6.

さらに、10はチップサイズに対応した先端形状をなすス
タンプピン、11はチップサイズ毎の複数個のスタンプピ
ン10(10a,10b)を、放射状に等角間隔で装着させ、回
動機構12によつて各装着角度対応に回動切換え自在にし
た回動部材、13はこの回動部材11を、矢印で示す上下方
向に制御移動し得るようにすると共に、前記基板1側と
スタンプ皿4側との間を、矢印で示す如く往復制御移動
し得るようにしたスタンプヘッドである。
Further, 10 is a stamp pin having a tip shape corresponding to the chip size, 11 is a plurality of stamp pins 10 (10a, 10b) for each chip size are mounted radially at equal angular intervals, and the rotating mechanism 12 is used. Then, a rotating member 13 which can be freely rotated in correspondence with each mounting angle is provided so that the rotating member 11 can be controlled and moved in the vertical direction shown by the arrow, and the substrate 1 side and the stamp tray 4 side can be moved. The stamp head is configured to be capable of reciprocating control movement as indicated by an arrow.

しかして、この従来例構成の場合には、最初に高さ調整
機構8の調整摘み8aを操作し、高さ設定ピン8bの上部突
出高さを調整して、スキージ7の水平方向高さ位置を所
定通りに設定し、また、スタンプヘッド13の回動機構12
を作動して、回動部材11を回動操作させ、その時のチッ
プサイズ対応にスタンプピン,こゝではスタンプピン10
aを選択しておく。
However, in the case of this conventional example configuration, first, the adjustment knob 8a of the height adjusting mechanism 8 is operated to adjust the upper protruding height of the height setting pin 8b to adjust the horizontal position of the squeegee 7. Is set as a predetermined value, and the rotation mechanism 12 of the stamp head 13 is
Is operated to rotate the rotating member 11, and the stamp pin corresponding to the chip size at that time, in this case the stamp pin 10
Select a.

すなわち,これらの操作によつて、前者では、回転され
ているスタンプ皿4内でのボンディング樹脂3の表面
が、スキージ7によつて掻きならされることで、常時,
その設定された高さ位置対応に保たれる,つまり同皿4
内で一定の厚さを維持した状態で供給し、また後者で
は、選択されたスタンプピン10aが下方に位置される。
That is, by these operations, in the former, the surface of the bonding resin 3 in the rotating stamp tray 4 is scraped by the squeegee 7, so that
It is kept in correspondence with the set height position, that is, the same plate 4
It is supplied while maintaining a constant thickness inside, and in the latter, the selected stamp pin 10a is located below.

そしてこの状態で、まず、スタンプヘッド13を制御駆動
させて、スタンプ皿4上に移動させると共に上下作動さ
せ、このときのチップサイズ対応に選択されているスタ
ンプピン10aの下端に、スタンプ皿4内のボンディング
樹脂3を所要量だけ付着して取り出す。
Then, in this state, first, the stamp head 13 is controlled and driven to move on the stamp plate 4 and move up and down, and the inside of the stamp plate 4 is attached to the lower end of the stamp pin 10a selected corresponding to the chip size at this time. The required amount of the bonding resin 3 is attached and taken out.

ついで、前記スタンプヘッド13は、スタンプ皿4側から
ボンディングステージ2側へ移動され、同様に上下作動
されて、スタンプピン10aの下端に付着された所要量の
ボンディング樹脂3を、このボンディングステージ2に
搭載されている基板1上の所定位置,すなわちそのとき
のチップボンディング位置に転写塗布させる。
Next, the stamp head 13 is moved from the stamp plate 4 side to the bonding stage 2 side and is similarly moved up and down to apply the required amount of the bonding resin 3 attached to the lower end of the stamp pin 10a to the bonding stage 2. A predetermined position on the mounted substrate 1, that is, a chip bonding position at that time is transferred and applied.

また続いて、前記スタンプヘッド13は、前回選択されて
いたスタンプピン10aを、次の搭載チップサイズに対応
した,例えばスタンプピン10bに切換えると共に、ボン
ディングステージ2についても、次に搭載する位置に移
動して待機し、以上の作動を順次に繰返えして、それぞ
れに基板1上への樹脂3の塗布作動を、継続して行なう
のである。
Subsequently, the stamp head 13 switches the previously selected stamp pin 10a to, for example, the stamp pin 10b corresponding to the next mounting chip size, and also moves the bonding stage 2 to the next mounting position. Then, the above operation is sequentially repeated, and the application operation of the resin 3 onto the substrate 1 is continuously performed for each of them.

なお、このように所要量のボンディング樹脂3を所定位
置に転写塗布した基板1上には、別工程で半導体チップ
がボンディングされる。
A semiconductor chip is bonded in a separate step on the substrate 1 on which the required amount of the bonding resin 3 has been transferred and applied in this manner.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、前記のように構成された従来例装置の場
合には、ステージ7によつて、スタンプ皿4内の樹脂3
を常時,一定の厚さに保たせてはいても、対象チップサ
イズによつてスタンプピン10の先端サイズ,形状が異な
るために、その何れかを選択切換えしたとき、ボンディ
ング樹脂3自体の粘性などを原因として、同先端部に付
着される樹脂量,ひいては基板1上に転写塗布される樹
脂量に差を生ずることになるもので、塗布量が多くなり
過ぎると、半導体チップのボンディング搭載時にチップ
表面側にまで樹脂が回り込み、また塗布量が少ないと、
接合強度に不足をきたすなどの不都合を生ずると云う問
題点があつた。
However, in the case of the conventional apparatus configured as described above, the resin 7 in the stamp plate 4 is moved by the stage 7.
, The tip pin size and shape of the stamp pin 10 are different depending on the target chip size. Therefore, when any one of them is selectively switched, the viscosity of the bonding resin 3 itself, etc. As a result, there is a difference in the amount of resin attached to the tip portion, and by extension, the amount of resin transferred and applied on the substrate 1. If the amount of application is too large, the chip is mounted during mounting of the semiconductor chip. If the resin wraps around to the surface side and the coating amount is small,
There is a problem that it causes inconvenience such as insufficient bonding strength.

この発明は従来のこのような問題点を解消するためにな
されたものであつて、その目的とするところは、チップ
サイズ対応に選択されるスタンプピンの先端サイズ,形
状が異なつたときにも、常時,一定量および厚さの樹脂
を基板上に塗布し得るようにした,この種の樹脂ボンデ
ィング装置におけるボンディング樹脂面の調整装置を提
供することである。
The present invention has been made in order to solve such a conventional problem, and an object thereof is to provide a stamp pin having a different tip size and shape, which are selected according to the chip size. It is an object of the present invention to provide a bonding resin surface adjusting device in a resin bonding device of this type, which is capable of constantly applying a constant amount and thickness of resin onto a substrate.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

前記目的を達成するために、この発明に係る樹脂ボンデ
ィング装置におけるボンディング樹脂面の調整装置は、
操作部からの指令によりスタンプピンの選択切り換えに
連動して制御駆動される駆動機構を設け、この駆動機構
によりスキージの高さ調整機構を制御作動し得るように
したものである。
In order to achieve the above object, a bonding resin surface adjusting device in a resin bonding device according to the present invention comprises:
A drive mechanism is provided which is controlled and driven in response to a command from the operating section in association with the selection switching of the stamp pin, and the height adjustment mechanism of the squeegee can be controlled and operated by this drive mechanism.

〔作用〕[Action]

すなわち,この発明においては、スタンプピンの選択切
り換えに連動する駆動機構により、スキージの高さ調整
機構を制御作動させて、そのときに選択されたスタンプ
ピン対応に,つまりチップサイズ対応にスキージの高さ
位置を自動的に調整することができる。
That is, according to the present invention, the squeegee height adjusting mechanism is controlled and actuated by the drive mechanism interlocked with the selection switching of the stamp pin, and the squeegee height corresponding to the stamp pin selected at that time, that is, the chip size is controlled. The position can be adjusted automatically.

〔実施例〕〔Example〕

以下、この発明に係る樹脂ボンディング装置におけるボ
ンディング樹脂面の調整装置の一実施例につき、第1図
を参照して詳細に説明する。
An embodiment of a bonding resin surface adjusting device in a resin bonding device according to the present invention will be described in detail below with reference to FIG.

第1図はこの実施例装置の概要構成を示す斜視図であ
り、この第1図実施例装置において、前記第2図従来例
装置と同一符号は同一または相当部分を表わしている。
FIG. 1 is a perspective view showing a schematic structure of the apparatus of this embodiment. In the apparatus of FIG. 1 the same reference numerals as those of the apparatus of the prior art of FIG. 2 represent the same or corresponding parts.

この実施例装置では、前記した従来例での高さ調整機構
8に代えて、例えばマイクロメータ機構に見られるよう
な調整ネジを螺進退操作する調整回動子を備えた高さ調
整機構14,こゝでは、表面をタイミングギヤ状に形成し
た調整回動子14a,およびこの調整回動子14aの回動操作
によつて突出高さの調整を受ける作動接触子14bを有す
る高さ調整機構14と、パルスモータ,ステッピングモー
タなどの制御信号によつて回動制御可能な駆動機構15と
を用いる。
In the apparatus of this embodiment, instead of the height adjusting mechanism 8 in the above-mentioned conventional example, a height adjusting mechanism 14 provided with an adjusting rotator for screwing an adjusting screw forward and backward as seen in, for example, a micrometer mechanism, Here, a height adjusting mechanism 14 having an adjusting rotator 14a whose surface is formed in the shape of a timing gear and an operating contactor 14b whose protrusion height is adjusted by the rotating operation of the adjusting rotator 14a. And a drive mechanism 15 whose rotation can be controlled by control signals such as a pulse motor and a stepping motor.

そして、前記高さ調整機構14の作動接触子14bを、前記
レバー6の基端部側に下方から当接配置させると共に、
先に述べたのと同様に、前記したバネ9の弾圧力によつ
て、同レバー6の上下方向の遊びを除去させ、また、こ
の高さ調整機構14の調整回動子14aと、前記駆動機構15
の出力タイミングギヤ15aとの間にタイミングベルト16
を張架させ、かつ、この駆動機構15をして、前記した回
動機構12による各スタンプピン10の選択切り換え作動に
連動させるようにするために、こゝでは回動機構12と共
に駆動機構15に対して、外部の図示しない操作部からの
制御信号を入力させる信号パス17を接続させたものであ
る。
Then, the operating contact 14b of the height adjusting mechanism 14 is disposed so as to abut on the base end side of the lever 6 from below,
In the same manner as described above, the play of the lever 6 in the vertical direction is removed by the elastic force of the spring 9, and the adjusting rotator 14a of the height adjusting mechanism 14 and the drive Mechanism 15
Timing belt 16 between the output timing gear 15a
In order to make the driving mechanism 15 stretched and to interlock with the selective switching operation of each stamp pin 10 by the rotating mechanism 12, the driving mechanism 15 together with the rotating mechanism 12 is used. On the other hand, a signal path 17 for inputting a control signal from an external operation unit (not shown) is connected thereto.

従つて、この実施例構成においても、前記した従来例構
成と同様の作用がなされるほか、スタンプヘッド13の回
動機構12を、外部の操作部から入力される制御信号によ
り作動して、その時のチップサイズ対応にスタンプピン
10の何れかを選択切り換えする場合,次のように、この
選択切り換え作動に連動させて、高さ調整機構14の自動
調整を行なうことができるのである。
Therefore, also in the configuration of this embodiment, the same operation as the configuration of the conventional example described above is performed, and the rotating mechanism 12 of the stamp head 13 is operated by a control signal input from an external operation unit, and at that time, Stamp pin for different chip sizes
When any one of 10 is selectively switched, the height adjustment mechanism 14 can be automatically adjusted in association with the selection switching operation as follows.

つまりこの場合,例えばスタンプピン10aが選択切り換
えされたとすると、駆動機構15に対しても制御信号が入
力され、同駆動機構15を所要量だけ回転駆動させて、タ
イミングベルト16を介し、高さ調整機構14の調整回動子
14aを回動させ、この作動により作動接触子14bの突出高
さを調整させて、スキージ7のボンディング樹脂3面に
対する当接高さ位置を、選択されたスタンプピン10aの
先端サイズ,形状に適合するように自動的に調整設定さ
せ得るのである。
That is, in this case, for example, if the stamp pin 10a is selectively switched, a control signal is also input to the drive mechanism 15, the drive mechanism 15 is rotationally driven by a required amount, and the height adjustment is performed via the timing belt 16. Adjustment rotator of mechanism 14
By rotating 14a and adjusting the protrusion height of the actuating contact 14b by this operation, the contact height position of the squeegee 7 with respect to the bonding resin 3 surface is adapted to the tip size and shape of the selected stamp pin 10a. It can be automatically adjusted and set to do so.

すなわち,このようにして、ボンディング樹脂3面に対
するスキージ7の当接高さ位置,ひいてはこのボンディ
ング樹脂3のスタンプ皿4内での厚さを、その時のスタ
ンプピン10a対応に調整させることができ、結果的に
は、このスタンプピン10aの先端サイズ,形状に適合し
た所要量のボンディング樹脂3を取り出し得るのであ
る。
That is, in this manner, the contact height position of the squeegee 7 with respect to the surface of the bonding resin 3 and thus the thickness of the bonding resin 3 in the stamp tray 4 can be adjusted to correspond to the stamp pin 10a at that time. As a result, a required amount of bonding resin 3 suitable for the tip size and shape of the stamp pin 10a can be taken out.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上詳述したようにこの発明によれば、サイズの異なる
複数種類の半導体チップを、セラミックなどの基板上に
樹脂ダイボンドするために、ボンディング樹脂を受容し
て回転するスタンプ皿と、スタンプ皿の上方にスタンプ
皿と離接するよう上下に移動可能に設けられ、回転する
スタンプ皿内の樹脂面を、上下に移動した高さ位置で掻
きならすスキージと、スキージの高さ位置を調整する高
さ調整機構と、先端が半導体チップサイズに対応した形
状に形成されて回動部材に半導体チップサイズ毎に回動
部材に複数突設されたスタンプピンとを有し、前記回動
部材の回動動作により切り換え選択されるスタンプピン
により、掻きならされたボンディング樹脂の一部を取り
出す場合、操作部からの指令によりスタンプピンの選択
切り換えに連動して制御駆動される駆動機構を設け、こ
の駆動機構により高さ調整機構を制御作動させて、スキ
ージの高さ位置を調整し得るようにしたので、スタンプ
皿内でのボンディング樹脂面を、常時,その時の半導体
チップのサイズに対応したスタンプピンの先端サイズ,
形状に適合した厚さに設定させることができ、これによ
つて、ボンディング樹脂を過不足なく基板上に転写塗布
させ得るものである。
As described in detail above, according to the present invention, in order to die-bond a plurality of types of semiconductor chips of different sizes onto a substrate such as a ceramic resin, a stamp plate that receives and rotates a bonding resin and an upper portion of the stamp plate are provided. A squeegee that is movable up and down so as to separate from and contact the stamp plate, and scrapes the resin surface inside the rotating stamp plate at the vertically moved height position, and a height adjustment mechanism that adjusts the height position of the squeegee. And a stamp member having a tip formed in a shape corresponding to the semiconductor chip size and a plurality of stamp pins provided on the rotating member for each semiconductor chip size on the rotating member, and switching selection is performed by the rotating operation of the rotating member. When a part of the bonding resin that has been scraped is taken out by the stamp pin that is operated, it is linked to the selection switching of the stamp pin by the command from the operation unit. A drive mechanism that is controlled and driven is provided, and the height adjustment mechanism is controlled and actuated by this drive mechanism so that the height position of the squeegee can be adjusted. Tip size of stamp pin corresponding to the size of semiconductor chip,
The thickness can be set in conformity with the shape, whereby the bonding resin can be transferred and applied onto the substrate without excess or deficiency.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明に係るボンディング樹脂面の調整装置
の一実施例を適用した樹脂ボンディング装置の概要構成
を示す斜視図であり、また第2図は従来例装置による同
上樹脂ボンディング装置の概要構成を示す斜視図、第3
図は同上スタンプ皿部の断面説明図である。 1……基板、2……ボンディングステージ、3……ボン
ディング用の樹脂、4……スタンプ皿、5……スタンプ
台、5a……回転機構、6……調整レバー、7……スキー
ジ、10,(10a,10b)……スタンプピン、11……回動部
材、12……回動機構、13……スタンプヘッド、14……高
さ調整機構、14a……調整回動子、14b……作動接触子、
15……駆動機構、15a……出力タイミングギヤ、16……
タイミングベルト、17……信号パス。
FIG. 1 is a perspective view showing a schematic structure of a resin bonding device to which an embodiment of a bonding resin surface adjusting device according to the present invention is applied, and FIG. 2 is a schematic structure of the same resin bonding device as a conventional device. 3 is a perspective view showing
The figure is a cross-sectional explanatory view of the stamp plate portion of the above. 1 ... Substrate, 2 ... Bonding stage, 3 ... Bonding resin, 4 ... Stamp plate, 5 ... Stamp base, 5a ... Rotation mechanism, 6 ... Adjustment lever, 7 ... Squeegee, 10, (10a, 10b) …… Stamp pin, 11 …… Rotating member, 12 …… Rotating mechanism, 13 …… Stamp head, 14 …… Height adjusting mechanism, 14a …… Adjusting rotator, 14b …… Activating Contactor,
15 …… Drive mechanism, 15a …… Output timing gear, 16 ……
Timing belt, 17 ... Signal path.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】サイズの異なる複数種類の半導体チップ
を、セラミックなどの基板上に樹脂ダイボンドするた
め、ボンディング樹脂を受容して回転するスタンプ皿
と、スタンプ皿の上方にスタンプ皿と離接するよう上下
に移動可能に設けられ、回転するスタンプ皿内の樹脂面
を、上下に移動した高さ位置で掻きならすスキージと、
スキージを移動してスタンプ皿からのスキージの高さ位
置を調整する高さ調整機構と、先端が半導体チップサイ
ズに対応した形状に形成されて回動部材に半導体チップ
サイズ毎に複数突設されたスタンプピンとを有し、前記
回動部材の回動動作により切り換え選択されるスタンプ
ピンにより、掻きならされた樹脂の一部を取り出すよう
にした樹脂ボンディング装置において、操作部からの指
令により前記スタンプピンの選択切り換えに連動して制
御駆動される駆動機構を設け、この駆動機構により前記
高さ駆動機構を制御作動させて、チップサイズ対応にス
キージの高さ位置を調整し得るようにしたことを特徴と
する樹脂ボンディング装置におけるボンディング樹脂面
の調整装置。
1. A plurality of types of semiconductor chips of different sizes are resin die-bonded onto a substrate such as ceramics. Therefore, a stamp pan that receives and rotates a bonding resin, and a stamp plate above and below the stamp plate so as to separate and contact the stamp plate. A squeegee that is movably installed in the rotating stamp tray and scratches the resin surface in the rotating stamp tray at the height position that is moved up and down.
A height adjustment mechanism that moves the squeegee to adjust the height position of the squeegee from the stamp plate, and a tip is formed in a shape corresponding to the semiconductor chip size, and a plurality of protrusions are provided on the rotating member for each semiconductor chip size. In a resin bonding apparatus having a stamp pin, and a stamp pin that is switched and selected by the rotating operation of the rotating member to take out a part of the scraped resin, the stamp pin is instructed by an operation unit. A drive mechanism that is controlled and driven in conjunction with the selective switching of the above is provided, and the height drive mechanism is controlled by this drive mechanism so that the height position of the squeegee can be adjusted according to the chip size. A device for adjusting the bonding resin surface in a resin bonding device.
JP61185712A 1986-08-06 1986-08-06 Bonding resin surface adjustment device in resin bonding equipment Expired - Lifetime JPH071768B2 (en)

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