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JPH0744074B2 - Thin film EL device - Google Patents
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JPH0744074B2 - Thin film EL device - Google Patents

Thin film EL device

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JPH0744074B2
JPH0744074B2 JP60052554A JP5255485A JPH0744074B2 JP H0744074 B2 JPH0744074 B2 JP H0744074B2 JP 60052554 A JP60052554 A JP 60052554A JP 5255485 A JP5255485 A JP 5255485A JP H0744074 B2 JPH0744074 B2 JP H0744074B2
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film
island
transparent conductive
transparent
shaped absorber
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、交流電界の印加によってEL(エレクトロ・ル
ミネッセンス)発光を生ずる薄膜EL素子に関するもので
ある。
Description: FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a thin film EL device that emits EL (electroluminescence) light when an alternating electric field is applied.

〔従来技術〕[Prior art]

従来の薄膜EL素子としては、例えば特許願昭和58年第19
128号に記載されているものがある。
As a conventional thin film EL element, for example, Japanese Patent Application No. 1958, 1983.
Some are listed in No. 128.

第2図は、上記の薄膜EL素子の断面図である。FIG. 2 is a sectional view of the above-mentioned thin film EL device.

第2図において、ガラス基板1の上にIn2O3やSnO2等の
透明導電膜2、Y2O3やSi3N4等の第1誘電体膜3、Mnを
微量含んだZnSからなる発光膜4及び上記第1誘電体膜
3と同様の材質からなる第2誘電体膜5が電子ビーム蒸
着或はスパッタリングによって順次積層され、これらの
2〜5によって透明多層膜100が形成されている。
In FIG. 2, a transparent conductive film 2 such as In 2 O 3 and SnO 2 and a first dielectric film 3 such as Y 2 O 3 and Si 3 N 4 on a glass substrate 1 and ZnS containing a small amount of Mn. And the second dielectric film 5 made of the same material as the first dielectric film 3 are sequentially laminated by electron beam evaporation or sputtering, and the transparent multilayer film 100 is formed by these 2-5. There is.

なお、上記各部分の膜厚は、誘電体膜が5000Å程度、発
光膜が6000Å程度である。
The film thickness of each of the above parts is about 5000Å for the dielectric film and about 6000Å for the light emitting film.

さらに、第2誘電体膜5の上に質量膜厚が50〜300ÅのM
o膜からなる島状吸収体膜6が電子ビーム蒸着或はスパ
ッタリングによって形成されている。上記のMoは低反射
率の物質であり、それが島状に点在する構造を有する。
Further, on the second dielectric film 5, M having a mass film thickness of 50 to 300Å
The island-shaped absorber film 6 made of a film is formed by electron beam evaporation or sputtering. The above Mo is a substance having a low reflectance, and has a structure in which it is scattered in an island shape.

なお、この島状吸収体膜6は、島状構造をもつ他の金属
膜や半導体膜、例えばTa,Cr,Si等で代替することも可能
である。
The island-shaped absorber film 6 can be replaced by another metal film or semiconductor film having an island-shaped structure, such as Ta, Cr, Si.

さらに、島状吸収体膜6の上に500Å程度の膜厚をもっ
たAl2O3等の透明な誘電体膜7を形成する。この際、誘
電体膜7は島状構造のMoの上およびそのすきまを埋める
ように形成される。すなわち、誘電体膜7は点在するMo
の凹凸を埋めて平坦化する。さらにその上にAl等の金属
膜8を蒸着或はスパッタリングによって順次積層する。
この6〜8が黒色化背面電極200を形成している。
Further, a transparent dielectric film 7 of Al 2 O 3 or the like having a film thickness of about 500Å is formed on the island-shaped absorber film 6. At this time, the dielectric film 7 is formed so as to fill the gaps and Mo on the island-shaped structure. That is, the dielectric film 7 is interspersed with Mo.
The unevenness of is filled in and flattened. Further, a metal film 8 of Al or the like is sequentially laminated thereon by vapor deposition or sputtering.
These 6 to 8 form the blackened back electrode 200.

透明導電膜2と黒色化背面電極200とは、通常のフォト
リソグラフィによって適当な形状にパターン化されてい
る。
The transparent conductive film 2 and the blackened back electrode 200 are patterned into an appropriate shape by ordinary photolithography.

上記の素子において、透明導電膜2と黒色化背面電極20
0との間に交流電圧を印加し、発光膜4内の電界が1〜
2×106V/cmに達すると、上記2つの電極に挟まれた部
分が発光し、前記のパターン化された形状を発光表示す
る。
In the above device, the transparent conductive film 2 and the blackened back electrode 20
When an AC voltage is applied between 0 and 0, the electric field in the light emitting film 4 becomes 1 to
When the voltage reaches 2 × 10 6 V / cm, the portion sandwiched between the two electrodes emits light, and the above-described patterned shape is displayed as light emission.

従って、第1及び第2の誘電体膜としては、誘電率の大
きな物質を用いることが望ましい。
Therefore, it is desirable to use a material having a large dielectric constant as the first and second dielectric films.

なお、第2図の素子においては、前記のごとく黒色化背
面電極200を用いているので、透明多層膜100を通って侵
入した外来光が島状吸収体膜6及び透明誘電体膜7によ
って吸収される。すなわち、外来光の一部は島状吸収体
膜6に点在するMoのすきまから透明誘電体膜7に侵入
し、金属膜8と上記Moとの間で反射を繰返し、反射する
度に減衰する。また、点在するMoに直接当った外来光
は、低反射率のMoに吸収されて減衰する。上記のように
繰返しの反射を利用して何度も光を吸収する構造とした
ことにより、反射率を大幅に低下させることが出来る。
したがって背面電極としてAl等の高反射率の金属を用い
た素子に比べて、明るい環境下におけるコントラストが
大幅に改善されている。
In the element of FIG. 2, since the blackened back electrode 200 is used as described above, the external light entering through the transparent multilayer film 100 is absorbed by the island-shaped absorber film 6 and the transparent dielectric film 7. To be done. That is, a part of the external light enters the transparent dielectric film 7 through the Mo gaps scattered on the island-shaped absorber film 6, and is repeatedly reflected between the metal film 8 and the Mo, and is attenuated each time it is reflected. To do. In addition, external light that directly strikes scattered Mo is absorbed and attenuated by Mo having a low reflectance. As described above, the structure in which the light is repeatedly absorbed by utilizing the repeated reflection can significantly reduce the reflectance.
Therefore, the contrast in a bright environment is significantly improved as compared with an element using a high-reflectance metal such as Al as the back electrode.

又、高照度環境下において表示コントラストを高く保つ
素子としては、例えば第3図に示す構造を有する素子も
提案されている(公開特許公報昭和54年第104788号)。
Further, as an element for maintaining a high display contrast under a high illuminance environment, for example, an element having a structure shown in FIG. 3 has been proposed (Japanese Patent Laid-Open Publication No. 104788, 1979).

第3図の素子は、第2誘電体膜5の上にITO(In2O3に数
%のSnO2を添加したもの)又はIn2O3やSnO2からなる透
明導電膜300を厚さ約2000Å形成し、更にその後方に黒
色背景板10を設けたものであり、透明多層膜100を構成
する部分1〜5は前記第2図と同様である。
In the device shown in FIG. 3 , a transparent conductive film 300 made of ITO (In 2 O 3 with a few% of SnO 2 added) or In 2 O 3 or SnO 2 is formed on the second dielectric film 5. The transparent multi-layered film 100 is formed in a thickness of about 2000Å and a black background plate 10 is provided behind it.

第3図の素子においては、各構成膜が全て透明な膜で構
成されているため、ガラス基板1の後方から入射する外
来光は透明な各層を通た抜けて黒色背景板10に吸収さ
れ、外来光の強さには殆ど関係なく高いコントラストを
得ることが出来る。
In the element of FIG. 3, since each constituent film is composed of a transparent film, external light incident from the rear of the glass substrate 1 passes through each transparent layer and is absorbed by the black background plate 10, High contrast can be obtained regardless of the intensity of extraneous light.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、前記第2図及び第3図の素子において
は、次のごとき問題がある。
However, the elements shown in FIGS. 2 and 3 have the following problems.

まず、第2図の素子においては、島状吸収体膜6と金属
膜8との間に透明誘電体膜7(Al2O3)を設けているた
め、駆動電圧が約5%上昇し、そのため駆動素子の耐圧
を高くする必要があるので駆動回路の製造コストが増加
するという問題がある。
First, in the device of FIG. 2, since the transparent dielectric film 7 (Al 2 O 3 ) is provided between the island-shaped absorber film 6 and the metal film 8, the driving voltage increases by about 5%, Therefore, it is necessary to increase the withstand voltage of the driving element, which causes a problem of increasing the manufacturing cost of the driving circuit.

又、透明誘電体膜7は、それ自身非常に薄いものであ
り、かつ、凹凸の大きい島状吸収体膜6の上に形成され
るため、誘電特性が極めて不安定で絶縁破壊を起こし易
く、そのため製造時の歩留りが悪くなるという問題があ
る。
Further, since the transparent dielectric film 7 is itself very thin and is formed on the island-shaped absorber film 6 having large irregularities, the dielectric characteristics are extremely unstable and dielectric breakdown easily occurs. Therefore, there is a problem that the yield at the time of manufacturing is deteriorated.

一方、第3図の素子においては、透明導電膜300の上に
金属膜が設けられておらず、透明導電膜300自体が電極
になるものであるから、電極として必要な低抵抗を実現
するには膜厚をかなり厚くする必要があり、しかも充分
な透明度を持つことが必要とされる。
On the other hand, in the element shown in FIG. 3, since the metal film is not provided on the transparent conductive film 300 and the transparent conductive film 300 itself serves as an electrode, it is necessary to realize a low resistance required as an electrode. Needs to have a considerably large film thickness, and is required to have sufficient transparency.

このような透明導電膜を形成するには、1〜5の透明多
層膜100を形成した基板を製造時に200℃以上、好ましく
は300℃程度に保つ必要があり、そのため、透明多層膜1
00の各膜1〜5の熱膨脹係数の差によるクラックや膜剥
離が発生し、歩留りが低下してしまうという問題があ
る。
In order to form such a transparent conductive film, it is necessary to maintain the substrate on which the transparent multilayer film 100 of 1 to 5 is formed at 200 ° C. or higher, preferably about 300 ° C. during the manufacturing.
There is a problem that cracks and film peeling occur due to the difference in the thermal expansion coefficient of each of the No. 00 films 1 to 5 and the yield decreases.

又、厚いITO等のパターン形成のためのエッチングにお
いては、HCl等の酸を用いる必要があるが、発光膜4は
酸に非常に弱く、第2誘電体膜5のピンホール等の欠陥
を通して酸が侵入すると、発光膜4が溶解し、やはり歩
留りが低下する原因となる。
Further, in etching for forming a pattern of thick ITO or the like, it is necessary to use an acid such as HCl, but the light emitting film 4 is very weak against acid, and the acid is generated through defects such as pinholes in the second dielectric film 5. The entry of the element causes the light emitting film 4 to be dissolved, which also causes a decrease in yield.

本発明は、上記のごとき従来技術の問題を解決すること
を目的とするものである。
The present invention is intended to solve the problems of the prior art as described above.

〔問題を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記の目的を達成するため本発明においては、黒色化背
面電極を島状吸収体膜と透明導電膜と金属膜とからなる
多層薄膜で形成することにより、駆動電圧の上昇を防
ぎ、しかも製造も容易で歩留りを向上させることが出来
るように構成している。
In order to achieve the above object, in the present invention, the blackened back electrode is formed of a multilayer thin film composed of an island-shaped absorber film, a transparent conductive film, and a metal film to prevent an increase in driving voltage, and also to manufacture the film. It is configured so that the yield can be improved easily.

〔発明の実施例〕Example of Invention

第1図は、本発明の一実施例の断面図であり、第2図と
同符号は同一物を示す。
FIG. 1 is a sectional view of an embodiment of the present invention, and the same reference numerals as those in FIG. 2 indicate the same parts.

第1図の実施例において、黒色化背面電極400は、島状
吸収体膜6と透明導電膜11と金属膜8との積層構造で構
成されている。
In the embodiment shown in FIG. 1, the blackened back electrode 400 has a laminated structure of the island-shaped absorber film 6, the transparent conductive film 11 and the metal film 8.

第1図の素子を製造する際には、例えば第2誘電体膜5
の上に質量膜厚が50〜300ÅのMo膜からなる島状吸収体
膜6を電子ビーム蒸着或はスパッタリングによって形成
し、その上にITO等の透明導電膜11を100〜1000Åの厚さ
に形成し、更にその上にAl等の金属膜8を蒸着或はスパ
ッタリングによって形成する。なお、上記の構造は、前
記第2図の従来例における透明誘電体膜7の代わりに透
明導電膜11を用いたものであり、その他の構造は図2と
同様である。
When manufacturing the device shown in FIG. 1, for example, the second dielectric film 5 is used.
An island-shaped absorber film 6 composed of a Mo film having a mass film thickness of 50 to 300 Å is formed on the above by electron beam evaporation or sputtering, and a transparent conductive film 11 such as ITO is formed thereon to a thickness of 100 to 1000 Å. Then, a metal film 8 of Al or the like is formed thereon by vapor deposition or sputtering. The above structure uses a transparent conductive film 11 instead of the transparent dielectric film 7 in the conventional example of FIG. 2, and the other structures are the same as those of FIG.

なお、島状吸収体膜6は、他の金属膜や半導体膜、例え
ばTa、Cr等で代替することも可能である。
The island-shaped absorber film 6 can be replaced with another metal film or a semiconductor film such as Ta or Cr.

又、透明導電膜11としては、ITOの他にIn2O3やSnO2、或
はSi等の半導体に不純物をドープして導電性を持たせた
ものを用いることが出来る。
Further, as the transparent conductive film 11, it is possible to use, in addition to ITO, a semiconductor such as In 2 O 3 , SnO 2 , or Si doped with impurities so as to have conductivity.

次に、作用を説明する。Next, the operation will be described.

外部から透明多層膜100を通って入射してきた外来光
は、島状吸収体膜6及び透明導電膜11に吸収される。す
なわち、外来光の一部は島状吸収体膜6に点在するMoの
すきまから透明導電膜11に侵入し、金属膜8と上記Moと
の間で反射を繰返し、反射する度に減衰する。また、点
在するMoに直接当った外来光は、低反射率のMoに吸収さ
れて減衰する。上記のように繰返しの反射を利用して何
度も光を吸収する構造としたことにより、反射率を大幅
に低下させることが出来る。
External light that has entered from the outside through the transparent multilayer film 100 is absorbed by the island-shaped absorber film 6 and the transparent conductive film 11. That is, part of the external light enters the transparent conductive film 11 through the Mo gaps scattered on the island-shaped absorber film 6, and is repeatedly reflected between the metal film 8 and the Mo, and is attenuated each time it is reflected. . In addition, external light that directly strikes scattered Mo is absorbed and attenuated by Mo having a low reflectance. The reflectance can be significantly reduced by adopting the structure in which the light is repeatedly absorbed by utilizing the repeated reflection as described above.

そのため、外来光の反射がほとんどない黒色背面電極を
実現することが出来、表示コントラストの優れたELバネ
ルを提供することが出来る。
Therefore, a black back electrode that hardly reflects extraneous light can be realized, and an EL panel having excellent display contrast can be provided.

上記の作用は、前記第2図の従来素子と同様である。The above operation is similar to that of the conventional element shown in FIG.

しかし、前記第2図の従来素子においては、島状吸収体
膜6と金属膜8との間に透明誘電体膜7が設けられてい
たため、駆動電圧が上昇し、かつ絶縁破壊を起こし易い
という問題があったが、本実施例の場合には、島状吸収
体膜6と金属膜8との間に透明導電膜11を設けているの
で、島状吸収体膜6と金属膜8とは事実上同電位にな
り、従って上記のごとき駆動電圧の上昇や絶縁破壊を起
こし易いという問題を生ずるおそれがない。
However, in the conventional element shown in FIG. 2, since the transparent dielectric film 7 is provided between the island-shaped absorber film 6 and the metal film 8, the driving voltage is increased and the dielectric breakdown is likely to occur. Although there was a problem, in the case of this embodiment, since the transparent conductive film 11 is provided between the island-shaped absorber film 6 and the metal film 8, the island-shaped absorber film 6 and the metal film 8 are different from each other. As a result, the potentials are practically the same, and therefore there is no possibility of causing the problems such as the above-mentioned increase in drive voltage and easy dielectric breakdown.

又、前記第3図の従来例のように、透明導電膜300を単
独で電極として用いる場合には、膜厚を非常に厚くする
必要があるので、製造時に高温状態に保つ必要があるこ
とと、パターン形成のエッチングは酸によらなければな
らないという問題があったが、本実施例の場合には、金
属膜8と併用しているので、透明導電膜11の膜厚は第3
図の透明導電膜300の膜厚より非常に薄くすることが出
来る。
Further, when the transparent conductive film 300 is used alone as an electrode as in the conventional example shown in FIG. 3, it is necessary to make the film thickness extremely large, and therefore it is necessary to maintain a high temperature state during manufacturing. However, there is a problem that etching for pattern formation must be performed by using an acid. However, in the case of the present embodiment, since it is used together with the metal film 8, the film thickness of the transparent conductive film 11 is the third.
It can be made much thinner than the film thickness of the transparent conductive film 300 in the figure.

そのため、膜そのものの透明度が多少低下しても問題を
生じないので低い温度で膜を形成することが出来、又、
パターン形成についても膜厚が非常に薄いため、下層の
Moと一緒にアルカリエッチング液によって取り去ること
が出来る。
Therefore, even if the transparency of the film itself is lowered to some extent, no problem occurs, so that the film can be formed at a low temperature.
The pattern formation is also very thin, so
It can be removed with an alkaline etchant together with Mo.

従って、前記第3図の従来素子のごとく製造時に高温に
保つための障害や酸を用いるための障害が生じるおそれ
がない。
Therefore, unlike the conventional element shown in FIG. 3, there is no risk of obstacles for keeping at a high temperature during production and obstacles for using acid.

なお、第1図の実施例においては、島状吸収体膜6と透
明導電膜11とがそれぞれ1層ずつ設けられている場合を
例示したが、それらを多層に積み重ねることによって光
吸収効果を更に増加させることも出来る。
In the embodiment shown in FIG. 1, the island-shaped absorber film 6 and the transparent conductive film 11 are provided one each, but by stacking them in layers, the light absorption effect can be further improved. It can be increased.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したごとく本発明においては、背面電極を島状
吸収体膜と透明導電膜と金属膜とからなる多層薄膜を形
成するように構成したことにより、優れた表示コストラ
ストが得られるという性能を損なうことなしに駆動電圧
の上昇を防ぐことが出来、駆動系を含めた薄膜EL表示シ
ステムのコストを低減することが出来ると共に、製造時
に高温下に保持する必要や酸を用いる必要がなくなるの
で、製造時の歩留りや信頼性をより向上させることが可
能となる。
As described above, in the present invention, since the back electrode is configured to form the multilayer thin film including the island-shaped absorber film, the transparent conductive film, and the metal film, it is possible to obtain an excellent display cost last performance. Since it is possible to prevent the drive voltage from rising without damaging it, it is possible to reduce the cost of the thin film EL display system including the drive system, and there is no need to keep it at a high temperature or to use an acid during manufacturing. It is possible to further improve the yield and reliability during manufacturing.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例の断面図、第2図及び第3図
はそれぞれ従来素子の一例の断面図である。 符号の説明 1…ガラス基板、2…透明導電膜 3…第1誘電体膜、4…発光膜 5…第2誘電体膜、6…島状吸収体膜 7…透明誘電体膜、8…金属膜 11…透明導電膜、100…透明多層膜 400…黒色化背面電極
FIG. 1 is a sectional view of an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 and 3 are sectional views of an example of a conventional element, respectively. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Glass substrate, 2 ... Transparent conductive film 3 ... First dielectric film, 4 ... Light emitting film 5 ... Second dielectric film, 6 ... Island absorber film 7 ... Transparent dielectric film, 8 ... Metal Film 11 ... Transparent conductive film, 100 ... Transparent multilayer film 400 ... Blackened back electrode

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】表示側に配設された透明導電膜からなる前
面電極と背面側に配設された背面電極との間に透明な発
光層を形成してなる薄膜EL素子において、 上記発光層に近い方から順に、低反射率の微小物が島状
に点在する構造の島状吸収体膜と、上記島状吸収体膜の
上および上記微小物のすきま部分を埋めるように設けら
れた透明導電膜との積層膜を少なくとも1層以上形成
し、その外側に金属膜を設けた多層薄膜で、上記背面電
極を形成したことを特徴とする薄膜EL素子。
1. A thin-film EL device comprising a transparent light emitting layer formed between a front electrode made of a transparent conductive film provided on the display side and a back electrode provided on the back side, wherein Are arranged so as to fill the gap between the island-shaped absorber film and the island-shaped absorber film, and the island-shaped absorber film having a structure in which low-reflectance minute objects are scattered in an island shape in order from the one closer to A thin film EL element characterized in that the back electrode is formed by a multi-layered thin film in which at least one laminated film with a transparent conductive film is formed, and a metal film is provided on the outside thereof.
JP60052554A 1985-03-18 1985-03-18 Thin film EL device Expired - Lifetime JPH0744074B2 (en)

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