JPH0778874B2 - Texture processing method for amorphous carbon substrate for magnetic disk - Google Patents
Texture processing method for amorphous carbon substrate for magnetic diskInfo
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は磁気ヘッド浮揚面と磁気
ディスク表面との間に吸着現象が発生することを防止す
るためにテクスチャー処理する磁気ディスク用アモルフ
ァスカーボン基板のテクスチャー(Texture )処理方法
に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a texture processing method for an amorphous carbon substrate for a magnetic disk, which is texture-processed to prevent an adsorption phenomenon between a magnetic head levitating surface and a magnetic disk surface. .
【0002】[0002]
【従来の技術】 従来、磁気ディスクはNi−Pメッキ
材等が被覆されたAl基板上に磁性膜を形成して構成さ
れている。そして、磁気ディスク再生装置においては、
磁気ディスク上に浮揚型磁気ヘッドを配置し、磁気ディ
スクを回転させることにより前記磁気ヘッドを浮揚させ
た状態で、この磁気ヘッドにより磁気ディスクへの書込
み又は再生を行う。しかしながら、磁気ディスクへの書
込み又は再生を行う際、ディスク静止時において磁気ヘ
ッド浮揚面と磁気ディスク表面との間に吸着が生じる場
合がある。この吸着現象は磁気ヘッド浮揚面及び磁気デ
ィスク表面が極めて平滑であって双方が微小間隔で対面
しているときに、その間隙がO2 、N2 又はH2 O等の
分子により埋め尽くされて界面張力により大きな吸着力
が発生することに起因する。このような吸着現象が発生
すると、磁気ディスクを駆動するモータが起動するとき
に多大の電力を消費するという不都合を招来する。[Prior art] Conventionally, magnetic disks are Ni-P plated
A magnetic film is formed on an Al substrate coated with a material, etc.
Has been. And in the magnetic disk reproducing device,
Place the levitation type magnetic head on the magnetic disk and
The magnetic head is levitated by rotating the disk.
Writing to a magnetic disk with this magnetic head
Or play. However, writing on a magnetic disk
When recording or playing, the magnetic
If adsorption occurs between the floating surface and the magnetic disk surface.
There is a match. This adsorption phenomenon is caused by the magnetic head levitating surface and the magnetic head.
The surface of the disk is extremely smooth and both face each other with a minute gap.
The gap is O2 , N2 Or H2 Such as O
Larger adsorption force due to interfacial tension filled with molecules
Due to the occurrence of. Such adsorption phenomenon occurs
Then, when the motor that drives the magnetic disk starts
This causes the inconvenience of consuming a large amount of power.
【0003】そこで、上述の吸着現象を防止するため、
磁気ディスク用Al基板においては、磁性膜を被着する
に先立ち、基板表面を一旦鏡面仕上げした後、テクスチ
ャー処理を施すことによりその表面粗さを調整してい
る。このテクスチャー処理方法としては、以下に示すも
のがある。即ち、Al基板(Ni−Pメッキ材)を回転
させた状態で、このAl基板に研磨テープをローラで押
し付けて接触させつつ、前記研磨テープをAl基板の半
径方向に移動させる。研磨テープとしては炭化ケイ素、
アルミナ又はダイヤモンド等の砥粒を付着させたものを
使用する。このように機械的なテクスチャー処理を施す
ことにより、磁気ディスク用Al基板の表面に同心円状
の条痕を付し、条痕が円周方向に配向した粗面を得るこ
とができる。Therefore, in order to prevent the above-mentioned adsorption phenomenon,
In the Al substrate for a magnetic disk, before the magnetic film is deposited, the substrate surface is once mirror-finished and then subjected to a texture treatment to adjust the surface roughness. The following texture processing methods are available. That is, while the Al substrate (Ni-P plated material) is rotated, the polishing tape is moved in the radial direction of the Al substrate while the polishing tape is pressed against the Al substrate by the roller to make contact with the Al substrate. Silicon carbide as polishing tape,
Use those to which abrasive grains such as alumina or diamond are attached. By performing the mechanical texture treatment in this way, it is possible to form a concentric circular striation on the surface of the Al substrate for a magnetic disk and obtain a rough surface in which the striation is oriented in the circumferential direction.
【0004】なお、従来の他の磁気ディスク用基板とし
て、アモルファスカーボン基板(神戸製鋼技報、vol.3
9、No.4、35乃至38頁、1989年発行)が提案されてい
る。このアモルファスカーボン基板は軽量且つ高強度で
あると共に、耐熱性及び表面精度が優れていて、Al基
板に比して磁気ディスクの記録密度を向上させることが
できるものである。As another conventional magnetic disk substrate, an amorphous carbon substrate (Kobe Steel Technical Report, vol. 3
9, No. 4, pages 35 to 38, issued in 1989) is proposed. This amorphous carbon substrate is lightweight and has high strength, is excellent in heat resistance and surface accuracy, and can improve the recording density of the magnetic disk as compared with the Al substrate.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
磁気ディスク用Al基板のテクスチャー処理方法におい
ては、表面粗さを適切なものに調整することが極めて困
難であり、必要以上に粗くなりやすい。磁気ディスクは
記録密度を高めるために、磁気ヘッドの浮上高さ(スペ
ーシング)をより一層小さくすることが好ましいが、上
述の如く、磁気ディスク用Al基板の表面粗さが必要以
上に粗くなると、磁気ヘッドの浮上高さが大きくなり、
磁気ディスクの記録密度を向上させることができない。
更に、従来のアモルファスカーボン基板は磁気ヘッドの
吸着防止及び磁気記録特性の向上の面から表面粗さを検
討すること自体、なされていないという問題点がある。However, it is extremely difficult to adjust the surface roughness to an appropriate value in the conventional method of texture-treating an Al substrate for a magnetic disk, and it tends to be unnecessarily rough. In order to increase the recording density of the magnetic disk, it is preferable to further reduce the flying height (spacing) of the magnetic head. However, as described above, if the surface roughness of the Al substrate for the magnetic disk becomes larger than necessary, The flying height of the magnetic head increases,
The recording density of the magnetic disk cannot be improved.
Further, the conventional amorphous carbon substrate has a problem that the surface roughness itself has not been examined from the viewpoints of preventing adsorption of the magnetic head and improving magnetic recording characteristics.
【0006】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、磁気ディスクのヘッド吸着を防止できると
共に、磁性膜の特性を改善することができ、磁気ヘッド
の浮上高さを従来より小さくすることができるテクスチ
ャー面を得ることができる磁気ディスク用アモルファス
カーボン基板のテクスチャー処理方法を提供することを
目的とする。The present invention has been made in view of the above problems. It is possible to prevent the magnetic head from sticking to the magnetic disk, improve the characteristics of the magnetic film, and make the flying height of the magnetic head smaller than before. It is an object of the present invention to provide a texture processing method for an amorphous carbon substrate for a magnetic disk, which can obtain a textured surface that can be obtained.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明に係る磁気ディス
ク用アモルファスカーボン基板のテクスチャー処理方法
は、アモルファスカーボン基板の表面を研磨することに
よりその表面粗さRaを 5乃至40Åにすると共に円周方
向の表面粗さRa1 と半径方向の表面粗さRa2 との比
Ra2 /Ra1 を0.85乃至1.15にする研磨工程と、表面
研磨したアモルファスカーボン基板を酸素の存在下で加
熱処理する加熱工程とを有することを特徴とする。A method of texturing an amorphous carbon substrate for a magnetic disk according to the present invention comprises polishing the surface of the amorphous carbon substrate to have a surface roughness Ra of 5 to 40Å and a circumferential direction. polishing step and a heating step of heating the amorphous carbon substrate having a surface polished in the presence of oxygen the ratio Ra 2 / Ra 1 and the surface roughness Ra 1 and radial surface roughness Ra 2 of the 0.85 to 1.15 And having.
【0008】[0008]
【作用】本願発明者等はアモルファスカーボン基板がも
つ性質に着目してそのテクスチャー処理方法について種
々研究を重ねた。その結果、アモルファスカーボン基板
を所定の表面粗さに研磨した後に、酸化性雰囲気中にて
所定の温度で加熱処理することにより、アモルファスカ
ーボン基板を磁気ディスク用として適切な表面粗さに処
理することができるということを見い出した。The present inventors paid attention to the properties of the amorphous carbon substrate and conducted various studies on the texture processing method. As a result, after the amorphous carbon substrate is polished to a predetermined surface roughness, the amorphous carbon substrate is heat-treated at a predetermined temperature in an oxidizing atmosphere to process the amorphous carbon substrate to a suitable surface roughness for a magnetic disk. I found that I can do it.
【0009】即ち、所定の表面粗さに研磨されたアモル
ファスカーボン基板を300乃至1000℃、好ましくは 400
乃至 700℃に加熱すると、C+O2 →CO2 の酸化反応
が起こり、カーボンがガス化されてその研磨面に微細な
凹凸が形成される。従って、処理温度及び時間等の加熱
処理の条件をコントロールすることによりアモルファス
カーボン基板を適切な表面粗さに容易に処理することが
でき、その表面が必要以上に粗くなることはない。これ
により、磁気ディスクのヘッド吸着を防止することがで
きると共に、アモルファスカーボン基板上に形成される
磁性膜の特性を改善することができ、磁気ヘッドの浮上
高さを従来より小さくすることができる。That is, an amorphous carbon substrate polished to a predetermined surface roughness is 300 to 1000 ° C., preferably 400
When heated to 700 to 700 ° C., an oxidation reaction of C + O 2 → CO 2 occurs, carbon is gasified, and fine irregularities are formed on the polished surface. Therefore, by controlling the heat treatment conditions such as the treatment temperature and time, the amorphous carbon substrate can be easily treated to have an appropriate surface roughness, and the surface is not roughened more than necessary. As a result, the magnetic disk head adsorption can be prevented, the characteristics of the magnetic film formed on the amorphous carbon substrate can be improved, and the flying height of the magnetic head can be made smaller than before.
【0010】次に、表面研磨後におけるアモルファスカ
ーボン基板の表面粗さRa及び円周方向の表面粗さRa
1 と半径方向の表面粗さRa2との比Ra2 /Ra1 の
限定理由について説明する。Next, the surface roughness Ra and the surface roughness Ra in the circumferential direction of the amorphous carbon substrate after surface polishing.
The reason for limiting the ratio Ra 2 / Ra 1 of 1 to the surface roughness Ra 2 in the radial direction will be described.
【0011】基板面に対するテクスチャーの方向性をラ
ンダム配向にすると、即ち、アモルファスカーボン基板
の表面粗さRaが円周方向又は半径方向に偏らないよう
にすると、磁気ディスクとして実用する際の記録再生エ
ラー及びノイズ(S/N比)を低減することができ、そ
の記録密度を高めることができる。If the orientation of the texture with respect to the substrate surface is randomly oriented, that is, if the surface roughness Ra of the amorphous carbon substrate is not biased in the circumferential direction or the radial direction, a recording / reproducing error in practical use as a magnetic disk will occur. Also, noise (S / N ratio) can be reduced, and the recording density can be increased.
【0012】このテクスチャーのランダム配向性は加熱
処理前の表面研磨により決定される。しかしながら、表
面研磨後におけるアモルファスカーボン基板の円周方向
の表面粗さRa1 と半径方向の表面粗さRa2 との比R
a2 /Ra1 が0.85乃至1.15から外れると、磁気ディス
クの記録再生エラー及びノイズ(S/N比)が増加す
る。このため、表面研磨後におけるアモルファスカーボ
ン基板の円周方向の表面粗さRa1 と半径方向の表面粗
さRa2 との比Ra2 /Ra1 は0.85乃至1.15にする。The random orientation of this texture is determined by surface polishing before heat treatment. However, the ratio R of the surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and the surface roughness Ra 2 in the radial direction of the amorphous carbon substrate after surface polishing
When a 2 / Ra 1 is disengaged from 0.85 to 1.15, recording errors and noise of the magnetic disk (S / N ratio) is increased. Therefore, the ratio Ra 2 / Ra 1 of the surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and the surface roughness Ra 2 in the radial direction of the amorphous carbon substrate after the surface polishing is set to 0.85 to 1.15.
【0013】 表面研磨後におけるアモルファスカーボン基板の表面粗
さ(平均面粗さ)Raが 5Åより小さいと、磁気ディス
クとして実用する際に磁気ヘッドの吸着が生じやすい。
一方、表面粗さRaが40Åを超えると、磁気ヘッドの浮
上高さを約 0.1μm以下にすることが困難になる。この
ため、表面研磨後におけるアモルファスカーボン基板の
表面粗さRaは 5乃至40Åにする。If the surface roughness (average surface roughness) Ra of the amorphous carbon substrate after surface polishing is smaller than 5Å, adsorption of the magnetic head is likely to occur when it is practically used as a magnetic disk.
On the other hand, when the surface roughness Ra exceeds 40Å, it becomes difficult to reduce the flying height of the magnetic head to about 0.1 μm or less. Therefore, the surface roughness Ra of the amorphous carbon substrate after surface polishing is set to 5 to 40 Å.
【0014】このように、本発明に係る磁気ディスク用
アモルファスカーボン基板は磁気ディスクの記録密度を
高めることができると共に、磁気ヘッドの浮上高さを小
さくすることができるので、特に高性能の磁気ディスク
に使用するのに好適である。As described above, since the amorphous carbon substrate for a magnetic disk according to the present invention can increase the recording density of the magnetic disk and can reduce the flying height of the magnetic head, the magnetic disk having a particularly high performance. It is suitable for use in.
【0015】[0015]
【従来の技術】なお、本発明におけるアモルファスカー
ボン基板とは、アモルファスカーボンに超高温HIP
(熱間静水圧加圧)処理を施すことにより、気孔を殆ど
消失させて密度を1.80g/cm3以上と高くし、その特
性をグラファイトに近付けた高密度アモルファスカーボ
ンからなるものである。BACKGROUND OF THE INVENTION Incidentally, the amorphous carbon substrate in the present invention, ultra-high temperature HIP amorphous carbon
By performing (hot isostatic pressing) treatment, most of the pores are eliminated and the density is increased to 1.80 g / cm 3 or more, and the characteristics are made of high-density amorphous carbon whose properties are close to those of graphite.
【0016】次に、アモルファスカーボン基板を上述の
表面粗さに研磨するための研磨方法について説明する。Next, a polishing method for polishing the amorphous carbon substrate to the above-mentioned surface roughness will be described.
【0017】砥粒としてはアモルファスカーボン基板と
同等以上の硬度を有し、工業的に安価なものを使用す
る。例えば、ダイヤモンド、アルミナ、SiC、ZrO
2 、酸化セリウム及びSiO2 からなる群から選択され
た少なくとも 1種の砥粒を使用することが好ましい。こ
の場合、その平均粒径が 1μmを超えると、研磨時にア
モルファスカーボン基板の表面にスクラッチが発生する
ため、表面粗さを所望の精度にすることが困難である。
更に、スクラッチが発生すると、次工程の加熱処理によ
りスクラッチ部分が局所的に酸化され、溝状に拡大して
基板欠陥となるため、磁気ディスクとしての実用上の耐
久性が低下する。また、上記以外の砥粒を使用すること
も可能であるが、砥粒としての切削力が不十分である
と、アモルファスカーボン基板の表面に所謂オレンジピ
ールという微小な窪みが発生する。As the abrasive grains, those having hardness equal to or higher than that of the amorphous carbon substrate and industrially inexpensive are used. For example, diamond, alumina, SiC, ZrO
It is preferable to use at least one kind of abrasive grain selected from the group consisting of 2 , cerium oxide and SiO 2 . In this case, if the average particle size exceeds 1 μm, scratches are generated on the surface of the amorphous carbon substrate during polishing, so that it is difficult to achieve the desired surface roughness.
Further, when scratches occur, the scratch portion is locally oxidized by the heat treatment in the next step and expands in a groove shape to form a substrate defect, which lowers the practical durability as a magnetic disk. It is also possible to use abrasive grains other than those mentioned above, but if the cutting force as the abrasive grains is insufficient, so-called orange peel minute recesses occur on the surface of the amorphous carbon substrate.
【0018】定盤としてはSn又はCu等からなる軟質
定盤を使用することが好ましい。アモルファスカーボン
基板はAl基板に比して脆いため、鋳鉄等からなる硬質
定盤を使用すると、砥粒が硬質定盤上を転がってアモル
ファスカーボン基板の表面にスクラッチ、オレンジピー
ル及びチッピング等の欠陥が頻繁に発生する。一方、軟
質定盤を使用した場合、砥粒が軟質定盤に若干埋没して
転がらないため、上述の不都合が生じることはない。な
お、上述の軟質定盤は所定期間使用した後、粗れた表面
をドレッシングする必要がある。そこで、軟質定盤又は
硬質定盤の表面に硬度が60以上のポリウレタン等からな
る硬質パッドを被着したものを使用することができる。
この場合、軟質定盤と同様にしてアモルファスカーボン
基板の表面に欠陥が生じることがないと共に、定盤の表
面をドレッシングする替わりに硬質パッドを交換するだ
けで良く、処理コストを低減できるという利点がある。It is preferable to use a soft surface plate made of Sn or Cu as the surface plate. Since an amorphous carbon substrate is more brittle than an Al substrate, when a hard surface plate made of cast iron or the like is used, abrasive grains roll on the hard surface plate and defects such as scratches, orange peel and chipping occur on the surface of the amorphous carbon substrate. It happens frequently. On the other hand, when the soft surface plate is used, the above-mentioned inconvenience does not occur because the abrasive grains are slightly buried in the soft surface plate and do not roll. In addition, it is necessary to dress the rough surface after using the above-mentioned soft surface plate for a predetermined period. Therefore, it is possible to use a soft surface plate or a hard surface plate on the surface of which a hard pad made of polyurethane or the like having a hardness of 60 or more is adhered.
In this case, similar to the soft surface plate, no defects occur on the surface of the amorphous carbon substrate, and it is sufficient to replace the hard pad instead of dressing the surface of the surface plate, which has the advantage of reducing the processing cost. is there.
【0019】このように本発明においては、平均粒径が
1μm以下のダイヤモンド、アルミナ、SiC、ZrO
2 、酸化セリウム及びSiO2 からなる群から選択され
た少なくとも 1種の砥粒を使用して、軟質定盤又はその
表面に硬度が60以上の硬質パッドが被着された定盤によ
り、アモルファスカーボン基板をラップ研磨することが
好ましい。As described above, in the present invention, the average particle size is
Diamond less than 1 μm, alumina, SiC, ZrO
2 , using at least one kind of abrasive grains selected from the group consisting of cerium oxide and SiO 2 , a soft surface plate or a surface plate having a hard pad with a hardness of 60 or more adhered to the surface of the amorphous carbon It is preferable to lapping the substrate.
【0020】テクスチャーの方向性は以下に示すように
してランダム配向にすることができる。即ち、上述の砥
粒のスラリーを滴下した軟質定盤(又は硬質パッド)上
において、アモルファスカーボン基板を加圧しながら、
このアモルファスカーボン基板を自転させると共に公転
させる。これにより、アモルファスカーボン基板の表面
が砥粒により不規則に切削されるため、表面研磨後のア
モルファスカーボン基板の円周方向の表面粗さRa1 と
半径方向の表面粗さRa2 との比Ra2 /Ra1 を0.85
乃至1.15にすることができる。The orientation of the texture can be randomly oriented as shown below. That is, while pressing the amorphous carbon substrate on the soft surface plate (or hard pad) on which the slurry of the above-mentioned abrasive grains is dropped,
This amorphous carbon substrate is rotated and revolved. As a result, since the surface of the amorphous carbon substrate is irregularly cut by the abrasive grains, the ratio Ra of the surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and the surface roughness Ra 2 in the radial direction of the amorphous carbon substrate after surface polishing is Ra. 2 / Ra 1 is 0.85
To 1.15.
【0021】[0021]
【実施例】以下、本発明の実施例及び本願特許請求の範
囲から外れる比較例に係る磁気ディスク用アモルファス
カーボン基板のテクスチャー処理方法について説明す
る。EXAMPLES A method of texturing an amorphous carbon substrate for a magnetic disk according to examples of the present invention and comparative examples which depart from the scope of the claims of the present application will be described below.
【0022】先ず、炭化焼成後にアモルファスカーボン
となる熱硬化性樹脂とフェノールホルムアルデヒド樹脂
との混合樹脂をホットプレスにより磁気ディスクの形状
に成形した後、この成形体をN2 ガス雰囲気中で約1850
℃の温度に加熱して予備焼成した。次いで、この予備焼
成体を熱間静水圧加圧(HIP)装置を使用して約2150
℃に加熱しつつ約3000気圧の等方的圧力を加えてHIP
処理を施した。これにより、アモルファスカーボン基板
(未処理)を得た。First, a mixed resin of a thermosetting resin that becomes amorphous carbon after carbonization and firing and a phenol-formaldehyde resin is molded into a magnetic disk shape by hot pressing, and this molded body is subjected to about 1850 in an N 2 gas atmosphere.
It was preheated by heating to a temperature of ° C. Then, the pre-fired body is heated to about 2150 using a hot isostatic pressing (HIP) device.
HIP by applying isotropic pressure of about 3000 atm while heating to ℃
Treated. As a result, an amorphous carbon substrate (untreated) was obtained.
【0023】次に、未処理のアモルファスカーボン基板
に種々の条件でテクスチャー処理を施した。仕上げ研磨工程に軟質定盤を使用した場合 先ず、スピードファム社製の16B両面研磨機を使用し、
SiCの砥粒をスラリーとして滴下しながら、鋳鉄製定
盤にて未処理のアモルファスカーボン基板に粗研磨を施
した。この粗研磨においては、砥粒濃度を35重量%と
し、ワーク荷重を300g/cm2とし、下定盤回転数を100rpm
とし、スラリー滴下量を600ml/分とし、研磨時間を45分
とした。Next, the untreated amorphous carbon substrate was textured under various conditions. When using a soft surface plate for the finishing polishing process First, use a 16B double-side polishing machine manufactured by Speed Fam Co.,
Rough polishing was performed on an untreated amorphous carbon substrate using a cast iron surface plate while dropping SiC abrasive grains as a slurry. In this rough polishing, the abrasive grain concentration was 35% by weight, the work load was 300 g / cm 2 , and the lower platen rotation speed was 100 rpm.
The slurry dropping amount was 600 ml / min, and the polishing time was 45 min.
【0024】次に、粗研磨後のアモルファスカーボン基
板を超音波洗浄して粗研磨用の砥粒を十分に除去した。
その後、12B片面研磨機を使用し、Sn製定盤にて粗研
磨後のアモルファスカーボン基板に仕上げ研磨を施し
た。なお、比較のために粗研磨後のアモルファスカーボ
ン基板を鋳鉄製定盤にて仕上げ研磨したところ、砥粒の
転がりが発生してアモルファスカーボン基板の表面に目
視により判断できるチッピングが発生した。仕上げ研磨
においては、砥粒としてZrO2 を使用した。この砥粒
としてはZrO2 の他にダイヤモンド、SiC、Al2
O3 、SiO2 及び酸化セリウム等のようにカーボンと
同等以上の硬度を有するものであれば、仕上げ研磨に使
用することができる。また、砥粒の粒度とアモルファス
カーボン基板の表面粗さとの間には相関関係があり、こ
の相関関係を種々検討した結果、平均粒径が 1μm以下
の砥粒を使用した場合に表面粗さが40Å以下の鏡面が得
られることを確認した。しかしながら、砥粒の平均粒径
が 1μmを超えた場合には、アモルファスカーボン基板
の表面にオレンジピール及びスクラッチ等の欠陥が頻繁
に発生して実用上の耐久性が低下した。このような関係
に基づいて砥粒の粒度を変えることにより、仕上げ研磨
後におけるアモルファスカーボン基板の表面粗さRa及
び円周方向の表面粗さRa1 と半径方向の表面粗さRa
2 との比Ra2 /Ra1 を種々異なるものにして実施例
1乃至5及び比較例1乃至4とした。そして、実施例1
乃至5及び比較例1乃至4に係るアモルファスカーボン
基板について、夫々表面粗さ計を使用して仕上げ研磨後
の表面粗さRaを測定し、円周方向の表面粗さRa1 と
半径方向の表面粗さRa2 との比Ra2 /Ra1 を求め
た。その結果を下記表1に示す。Next, the amorphous carbon substrate after the rough polishing was ultrasonically cleaned to sufficiently remove the abrasive grains for the rough polishing.
After that, a 12B single-side polishing machine was used to finish-polish the amorphous carbon substrate after rough polishing with a surface plate made of Sn. For comparison, when the amorphous carbon substrate after rough polishing was subjected to final polishing with a cast iron surface plate, rolling of abrasive grains occurred and chipping that could be visually determined occurred on the surface of the amorphous carbon substrate. In the finish polishing, ZrO 2 was used as the abrasive grain. As the abrasive grains, in addition to ZrO 2 , diamond, SiC, Al 2
As long as it has hardness equal to or higher than that of carbon, such as O 3 , SiO 2 and cerium oxide, it can be used for finish polishing. In addition, there is a correlation between the grain size of the abrasive grains and the surface roughness of the amorphous carbon substrate. As a result of various studies on this correlation, the surface roughness was found when the average grain size was 1 μm or less. It was confirmed that a mirror surface of 40 Å or less was obtained. However, when the average grain size of the abrasive grains exceeds 1 μm, defects such as orange peel and scratches frequently occur on the surface of the amorphous carbon substrate, and the practical durability is lowered. By changing the grain size of the abrasive grains based on such a relationship, the surface roughness Ra and the surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and the surface roughness Ra in the radial direction of the amorphous carbon substrate after the final polishing are performed.
Was as in Example 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4 and the ratio Ra 2 / Ra 1 and 2 in different ones. And Example 1
5 to 5 and the amorphous carbon substrates according to Comparative Examples 1 to 4, the surface roughness Ra after finish polishing was measured using a surface roughness meter, and the surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and the surface in the radial direction were measured. the ratio Ra 2 / Ra 1 and the roughness Ra 2 was determined. The results are shown in Table 1 below.
【0025】次に、仕上げ研磨後のアモルファスカーボ
ン基板を空気中(酸素の存在下)において所定の条件で
加熱処理した。このようにして、実施例1乃至5及び比
較例1乃至4に係る磁気ディスク用アモルファスカーボ
ン基板を製造した。Next, the amorphous carbon substrate after the final polishing was heat-treated in air (in the presence of oxygen) under predetermined conditions. Thus, the amorphous carbon substrates for magnetic disks according to Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4 were manufactured.
【0026】上述の実施例1乃至5及び比較例1乃至4
に係る磁気ディスク用アモルファスカーボン基板につい
て、夫々表面粗さ計を使用してテクスチャー処理後の表
面粗さRaを測定し、円周方向の表面粗さRa1 と半径
方向の表面粗さRa2 との比Ra2 /Ra1 を求めた。
その結果を下記表1に併せて示す。The above Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4
The surface roughness Ra after the texture treatment was measured for each of the amorphous carbon substrates for magnetic disks according to the above-mentioned method using a surface roughness meter to obtain a surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and a surface roughness Ra 2 in the radial direction. The ratio Ra 2 / Ra 1 of was determined.
The results are also shown in Table 1 below.
【0027】次に、各磁気ディスク用アモルファスカー
ボン基板を精密洗浄した後、マグネトロンスパッタリン
グ装置を使用してこのアモルファスカーボン基板上にC
oNiCrからなるメディア層(磁性膜)とカーボン保
護膜とを順次成膜し、更にその表面に潤滑材を塗布して
直径が 3.5inchの磁気ディスクを作製した。Next, after precisely cleaning the amorphous carbon substrate for each magnetic disk, C is formed on the amorphous carbon substrate by using a magnetron sputtering device.
A media layer (magnetic film) made of oNiCr and a carbon protective film were sequentially formed, and a lubricant was applied to the surface of the media layer to produce a magnetic disk having a diameter of 3.5 inch.
【0028】そして、プロクイップ社製のディスクサー
ティファイヤ(商品名)を使用して実施例及び比較例に
係る磁気ディスクについて、ヘッドクラッシュの発生状
況及びノイズ特性を評価した。その結果を下記表1に併
せて示す。なお、磁気ディスクと薄膜ヘッドとの間のヘ
ッド浮上高さは約0.08μmにした。Then, using a disk certifier (trade name) manufactured by Proquip Co., Ltd., the magnetic disk according to the examples and the comparative examples were evaluated for head crash occurrence and noise characteristics. The results are also shown in Table 1 below. The head flying height between the magnetic disk and the thin film head was about 0.08 μm.
【0029】[0029]
【表1】 この表1から明らかなように、実施例1乃至5に係る磁
気ディスクはいずれもヘッド浮上高さが約0.08μmと低
くても、ヘッドクラッシュが発生することはなく、ノイ
ズ特性が優れたものであった。[Table 1] As is clear from Table 1, the magnetic disks according to Examples 1 to 5 have excellent noise characteristics without causing a head crash even when the head flying height is as low as about 0.08 μm. there were.
【0030】一方、仕上げ研磨後の表面粗さRaが51Å
である比較例1に係る磁気ディスクは、テクスチャー処
理後の表面粗さRaが必要以上に粗くなるために記録再
生時にヘッドクラッシュが発生し、低ヘッド浮上高さで
の実用が困難であった。また、この磁気ディスクはテク
スチャー処理後のランダム配向性をコントロールでき
ず、ノイズ特性が悪いものであった。仕上げ研磨後のR
a2 /Ra1 が0.85乃至1.15の範囲から外れる比較例2
乃至4に係る磁気ディスクは、テクスチャー処理後のラ
ンダム配向性が悪く、記録再生時のノイズ特性が悪いも
のであった。また、比較例2,4に係る磁気ディスクに
おいてはヘッドクラッシュが発生した。仕上げ研磨工程に硬質パッドを使用した場合 先ず、スピードファム社製の16B両面研磨機を使用し、
SiCの砥粒をスラリーとして滴下しながら、鋳鉄製定
盤にて未処理のアモルファスカーボン基板に粗研磨を施
した。この粗研磨においては、砥粒濃度を35重量%と
し、ワーク荷重を300g/cm2とし、下定盤回転数を100rpm
とし、スラリー滴下量を600ml/分とし、研磨時間を45分
とした。On the other hand, the surface roughness Ra after finish polishing is 51Å
In the magnetic disk according to Comparative Example 1, the surface roughness Ra after the texture treatment is unnecessarily rough, so that a head crash occurs during recording and reproduction, and it is difficult to put the head into practical use at a low head flying height. Further, this magnetic disk could not control the random orientation after the texture treatment, and had poor noise characteristics. R after finish polishing
Comparative Example 2 in which a 2 / Ra 1 is out of the range of 0.85 to 1.15
The magnetic disks according to Nos. 4 to 4 had poor random orientation after the texture treatment, and had poor noise characteristics during recording and reproduction. Head crashes occurred in the magnetic disks of Comparative Examples 2 and 4. When using a hard pad in the finishing polishing process First, use a 16B double-side polishing machine manufactured by Speedfam,
Rough polishing was performed on an untreated amorphous carbon substrate using a cast iron surface plate while dropping SiC abrasive grains as a slurry. In this rough polishing, the abrasive grain concentration was 35% by weight, the work load was 300 g / cm 2 , and the lower platen rotation speed was 100 rpm.
The slurry dropping amount was 600 ml / min, and the polishing time was 45 min.
【0031】次に、粗研磨後のアモルファスカーボン基
板を超音波洗浄して粗研磨用の砥粒を十分に除去した。
その後、 9B両面研磨機を使用し、その表面にポリウレ
タン等からなる高硬度のパッドを貼りつけた定盤にて粗
研磨後のアモルファスカーボン基板に仕上げ研磨(ポリ
ッシング)を施した。砥粒としては、平均粒径が 1μm
以下のZrO2 、ダイヤモンド、SiC、Al2 O3 、
SiO2 及び酸化セリウム等をスラリーにして使用し
た。また、研磨条件は、砥粒平均濃度を 5重量%とし、
ワーク荷重を350g/cm2とし、下定盤回転数を 80rpmと
し、スラリー滴下量を 20ml/分とし、研磨時間を18分と
した。そして、砥粒の粒度を変えることにより、仕上げ
研磨後におけるアモルファスカーボン基板の表面粗さR
a及び円周方向の表面粗さRa1 と半径方向の表面粗さ
Ra2 との比Ra2 /Ra1 を種々異なるものにした。Next, the amorphous carbon substrate after the rough polishing was ultrasonically cleaned to sufficiently remove the abrasive grains for the rough polishing.
Thereafter, a 9B double-side polishing machine was used, and the amorphous carbon substrate after rough polishing was subjected to finish polishing (polishing) on a surface plate having a high hardness pad made of polyurethane or the like attached to the surface thereof. The average grain size of the abrasive grain is 1 μm
The following ZrO 2 , diamond, SiC, Al 2 O 3 ,
SiO 2 and cerium oxide were used as a slurry. In addition, the polishing conditions, the average concentration of abrasive grains is 5% by weight,
The work load was 350 g / cm 2 , the lower platen rotation speed was 80 rpm, the slurry dropping amount was 20 ml / min, and the polishing time was 18 minutes. Then, by changing the grain size of the abrasive grains, the surface roughness R of the amorphous carbon substrate after the final polishing is performed.
The ratio Ra 2 / Ra 1 of a and the surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and the surface roughness Ra 2 in the radial direction are made different.
【0032】以下、仕上げ研磨工程に軟質定盤を使用し
た場合と同様にして、磁気ディスクを作製し、その諸特
性を評価した。Hereinafter, a magnetic disk was prepared in the same manner as in the case where a soft surface plate was used in the finish polishing step, and its various characteristics were evaluated.
【0033】その結果、硬質パッドを貼りつけた定盤に
より仕上げ研磨を実施した場合においても、本願特許請
求の範囲に含まれるアモルファスカーボン基板を使用し
た磁気ディスクは、ヘッド浮上高さが約0.08μmと低く
ても、ヘッドクラッシュが発生することはなく、ノイズ
特性が優れていた。As a result, even when the finish polishing is performed by the surface plate with the hard pad attached, the head flying height of the magnetic disk using the amorphous carbon substrate included in the claims of the present invention is about 0.08 μm. Even if it was low, head crash did not occur and the noise characteristics were excellent.
【0034】[0034]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、磁
気ディスク用アモルファスカーボン基板の表面を研磨す
ることにより、その表面粗さRaを 5乃至40Åにすると
共に円周方向の表面粗さRa1 と半径方向の表面粗さR
a2 との比Ra2 /Ra1 を0.85乃至1.15にした後、こ
れを酸素の存在下で加熱処理するから、テクスチャーを
ランダム配向にしてその表面粗さを適切なものにするこ
とができる。このため、磁気ディスクに対する磁気ヘッ
ドの吸着を防止することができると共に、磁気ヘッドの
浮上高さを従来より小さくしてアモルファスカーボン基
板上に形成される磁性膜の記録再生特性を向上させるこ
とができる。As described above, according to the present invention, the surface roughness Ra of the amorphous carbon substrate for a magnetic disk is adjusted to 5 to 40 Å and the surface roughness Ra in the circumferential direction is polished. 1 and surface roughness R in the radial direction
Since the ratio Ra 2 / Ra 1 with respect to a 2 is set to 0.85 to 1.15 and then heat treatment is performed in the presence of oxygen, the texture can be randomly oriented and the surface roughness can be made appropriate. Therefore, the magnetic head can be prevented from being attracted to the magnetic disk, and the flying height of the magnetic head can be made smaller than in the prior art to improve the recording / reproducing characteristics of the magnetic film formed on the amorphous carbon substrate. .
【0035】従って、本発明に係る磁気ディスク用アモ
ルファスカーボン基板は、特に、高性能の磁気ディスク
の基板として好適である。Therefore, the amorphous carbon substrate for a magnetic disk according to the present invention is particularly suitable as a substrate for a high performance magnetic disk.
Claims (3)
することによりその表面粗さRaを 5乃至40Åにすると
共に円周方向の表面粗さRa1 と半径方向の表面粗さR
a2 との比Ra2 /Ra1 を0.85乃至1.15にする研磨工
程と、表面研磨したアモルファスカーボン基板を酸素の
存在下で加熱処理する加熱工程とを有することを特徴と
する磁気ディスク用アモルファスカーボン基板のテクス
チャー処理方法。1. The surface roughness Ra of the amorphous carbon substrate is adjusted to 5 to 40 Å by polishing the surface thereof, and the surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and the surface roughness R in the radial direction are obtained.
Amorphous carbon for a magnetic disk, comprising: a polishing step for adjusting a ratio Ra 2 / Ra 1 with respect to a 2 to 0.85 to 1.15; and a heating step for heat treating a surface-polished amorphous carbon substrate in the presence of oxygen. Substrate texture processing method.
のダイヤモンド、アルミナ、SiC、ZrO2 、酸化セ
リウム及びSiO2 からなる群から選択された少なくと
も 1種の砥粒を使用して軟質定盤によりアモルファスカ
ーボン基板をラップ研磨することを特徴とする請求項1
に記載の磁気ディスク用アモルファスカーボン基板のテ
クスチャー処理方法。2. The polishing step uses at least one kind of abrasive grains selected from the group consisting of diamond, alumina, SiC, ZrO 2 , cerium oxide and SiO 2 having an average grain size of 1 μm or less for softness determination. 2. An amorphous carbon substrate is lap-polished by a disk.
The method for texture treatment of an amorphous carbon substrate for a magnetic disk according to.
ダイヤモンド、アルミナ、SiC、ZrO2 、酸化セリ
ウム及びSiO2 からなる群から選択された少なくとも
1種の砥粒を使用してその表面に硬度が60以上の硬質パ
ッドが被着された定盤によりアモルファスカーボン基板
をラップ研磨することを特徴とする請求項1に記載の磁
気ディスク用アモルファスカーボン基板のテクスチャー
処理方法。3. The polishing step is at least selected from the group consisting of diamond having an average particle size of 1 μm or less, alumina, SiC, ZrO 2 , cerium oxide and SiO 2.
The amorphous carbon for a magnetic disk according to claim 1, wherein the amorphous carbon substrate is lap-polished by a surface plate having a hard pad having a hardness of 60 or more adhered to the surface thereof by using one kind of abrasive grains. Substrate texture processing method.
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP41043490A JPH0778874B2 (en) | 1990-12-12 | 1990-12-12 | Texture processing method for amorphous carbon substrate for magnetic disk |
| DE4109939A DE4109939C2 (en) | 1990-03-29 | 1991-03-26 | An amorphous carbon substrate for a magnetic disk and method of making the same |
| GB9106590A GB2242423B (en) | 1990-03-29 | 1991-03-28 | Amorphous carbon substrate for a magnetic disk and a method of manufacturing the same |
| US07/676,569 US5326607A (en) | 1990-03-29 | 1991-03-28 | Amorphous carbon substrate for a magnetic disk and a method of manufacturing the same |
| GB9401690A GB2274839B (en) | 1990-03-29 | 1994-01-28 | Amorphous carbon substrate for a magnetic disk and a method of manufacturing the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP41043490A JPH0778874B2 (en) | 1990-12-12 | 1990-12-12 | Texture processing method for amorphous carbon substrate for magnetic disk |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04214225A JPH04214225A (en) | 1992-08-05 |
| JPH0778874B2 true JPH0778874B2 (en) | 1995-08-23 |
Family
ID=18519602
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP41043490A Expired - Lifetime JPH0778874B2 (en) | 1990-03-29 | 1990-12-12 | Texture processing method for amorphous carbon substrate for magnetic disk |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0778874B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| MY168569A (en) * | 2011-12-30 | 2018-11-13 | Hoya Corp | Method of manufacturing a substrate, method of manufacturing a magnetic disk glass substrate and method of manufacturing a magnetic disk |
-
1990
- 1990-12-12 JP JP41043490A patent/JPH0778874B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04214225A (en) | 1992-08-05 |
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