「Process Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an integrated component table creation system for creating an integrated component table which grasps the configuring components of an article or the assembly figure, single article figure, inspection content, and production process.例文帳に追加

物品の構成部品や組立図、単品図、検査内容、生産工程を把握することが可能な統合化部品表を作成することができる統合化部品表作成システムを提供する。 - 特許庁

A palette 8, on which a cathode ray tube 10 is mounted, is made common and a panel surface 10a of the cathode ray tube 10 is directed downward to perform an aging/knocking treatment and a characteristic inspection within the same process.例文帳に追加

陰極線管１０を載置するパレット８を共通にし、前記陰極線管１０のパネル面１０ａを下向きにして同一の工程内でエージング及びノッキング処理と、特性検査を行う。 - 特許庁

To simplify a magnetic recording/reproducing functional inspection by using a recording means provided in a camera and degaussing magnetic information recorded on a film performed in a camera manufacturing process.例文帳に追加

カメラの製造工程において行われるフィルムに記録された磁気情報の消磁を、カメラに具備された記録手段を用いて行い、磁気記録再生機能検査の簡略化を図ることを可能にする。 - 特許庁

To provide a pattern shape inspection method capable of accurately inspecting a pattern shape in an SWT (Side Wall Transfer) process, and to provide a manufacturing method for a semiconductor device with improved quality.例文帳に追加

ＳＷＴプロセスにおいて、パターン形状を高精度で検査可能なパターン形状検査方法、及び半導体装置の品質を向上可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an alignment method for simplifying a process of detecting a height of a plurality of probes, highly accurately detecting it in a short time and improving reliability of an inspection.例文帳に追加

複数のプローブの高さを検出する工程を簡素化して短時間で且つ高精度に検出することができると共に、検査の信頼性を高めることができるアライメント方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor manufacturing device capable of preventing an IC chip with an abnormal defect from mis-detection in a probe inspection process, a defect review device and a manufacturing method for a semiconductor device.例文帳に追加

異常欠陥のあるＩＣチップがプローブ検査工程で検出される不良チップから漏れることを防止できる半導体製造装置、欠陥レビュー装置及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

In inspection preparation process, the laser emitting device 1 is set on the downstream side of the conduit 105, the pipe center measuring instrument 2 is set on the upstream side, and the optical axis 6 of the laser beam is adjusted.例文帳に追加

調査準備工程においては、管渠１０５の下流側にレーザ発射装置１をセットするとともに上流側に管芯測定器２をセットし、レーザ光の光軸６を調整する。 - 特許庁

The contact 2 has a bent part 4 so that its tip part inclines upward, that is, toward the insertion direction of the semiconductor component, held by a holding mechanism in an electric characteristics inspection process.例文帳に追加

コンタクト２は、その先端部分が上方、つまり電気特性検査工程において保持気孔に保持された半導体部品が挿入されてくる側に向かって、傾斜するように屈曲部４を有する。 - 特許庁

In this case, a method is employed which performs the electric inspection on the respective substrates 400 after cutting and dividing the multiple patterning substrate 500 into the respective substrates 400 (after performing the cutting process).例文帳に追加

この場合、多面付け基板５００を切断して各基板４００に分割した後（切断処理を実行した後）に各基板４００に対する電気的検査を実行する方法を採用することができる。 - 特許庁

To provide a mechanism for reducing a cost of a constitution, and implementing an accurate alignment, without using an image recognition apparatus and an expensive device using a shaft interlocked with it, in an electrical inspection process.例文帳に追加

電気検査工程において、画像認識装置及びそれに連動した軸等を用いた高価な機器等を用いることなく、より安価な構成で高精度なアライメントを行う機構を提供する。 - 特許庁

To simultaneously execute a process trace difficult to execute, which is caused by the large error in the position information of the appearance inferior places output from a plurality of visual inspection devices, during usual automatic imaging.例文帳に追加

複数の外観検査装置から出力される外観不良箇所の位置情報が大きな誤差をもつことが原因で、実施が困難な工程トレースを通常の自動撮像時に同時に実行する。 - 特許庁

To allow electrical characteristic inspection for a semiconductor integrated circuit using a Kelvin contact method to be conducted in a pre-process without obstructing the reduction in size of a semiconductor chip nor complicating circuit design.例文帳に追加

半導体チップの小型化を妨げたり、回路設計を煩雑にしたりすることなく、前工程においてケルビンコンタクト法を用いた半導体集積回路の電気特性検査を行うことを可能とする。 - 特許庁

To provide a voltage control circuit, capable of reducing the consumption power of a semiconductor chip without complicating an inspection process, and to provide a voltage control system with the voltage control circuit.例文帳に追加

検査工程の複雑化を招くことなく、半導体チップの消費電力の低減を図ることのできる電圧制御回路及びこの電圧制御回路を備える電圧制御システムを提供する。 - 特許庁

A device for removing the impure substances on a sample, after sample measurement or inspection by using charged particle beam, and before the following semiconductor manufacturing process, is provided.例文帳に追加

上記目的を達成するために、荷電粒子線による試料測定、或いは検査の後であって、次の半導体製造工程前に、試料上の不純物除去処理を行う装置を提供する。 - 特許庁

In an inspection process, an inspecting device 8 obtains conversion error voltage ΔV from ideal voltage Vr and output voltage Vo to the external digital data S1 and digitizes it by an A/D converter 12.例文帳に追加

検査工程において、検査装置８は、外部ディジタルデータＳ１に対する理想電圧Ｖｒと出力電圧Ｖｏとから変換誤差電圧ΔＶを求め、それをＡ／Ｄ変換器１２によりディジタル化する。 - 特許庁

To carry out inspection with high accuracy without causing any pseudo defects by performing the pattern data collation corresponding to a small change of the pattern generated by an etching process of the pattern formed on a photo mask.例文帳に追加

フォトマスク上に形成されるパターンのエッチングプロセスによって生じるパターンの微妙な変化に対応したパターンデータの合わせを行い、疑似欠陥の発生を招くことなく精度良い検査を行う。 - 特許庁

(2) The certificate of working shall be based on inspection of the manufacturing process in the industrial establishment where the invention is being worked and on proof that the object of the invention is effectively being marketed.例文帳に追加

(2) 当該実施証明書は，発明を実施している産業施設で製造方法を検閲し，かつ，発明の対象が効果的に販売されている証拠に基づくものでなければならない。 - 特許庁

To provide an ammonia solution treating method adopting an activated sludge process which makes a high-load treatment possible, facilitates an operation management, maintenance and inspection of an activated sludge facility and uses high-concentration oxygen-containing gas.例文帳に追加

高負荷処理が可能で、活性汚泥設備の運転管理および保守点検が容易な、高濃度酸素含有ガスを用いた活性汚泥法を採用した安水処理方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect reviewing system, a defect reviewing method, a defect analyzing method and a method of manufacturing a semiconductor device by which the purpose of inspection can be limited and a process that generates defects can be easily specified.例文帳に追加

検査目的を限定でき、欠陥の発生する工程を特定することが容易になる欠陥レビュー装置、欠陥レビュー方法及び欠陥解析方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Since an integration process is used, the highly sensitive position detector, identification inspection device for defects or existence/nonexistence of a conductor, torque sensor, or the like resistant against noise intrusion even when the microscopic constant difference is amplified can be realized.例文帳に追加

積分過程によるので微小定数差の増幅でもノイズ混入に強く，高感度の位置検出装置，導体の欠陥或いは有無の識別検査装置，トルクセンサ等を実現できる。 - 特許庁

To provide a mold capable of discovering the generation of defectiveness in a cylindrical part such as a communication hole, a bottomed hole or the like and capable of abolishing an inspection process after molding and a molded article manufacturing method.例文帳に追加

連通孔や有底孔等の筒状部における不良の発生を早期に発見でき、成形後における検査工程を廃止できる成形金型及び成形品製造方法を得る。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspection, using an electron beam whereby hole-like objects such as CHs formed in the manufacturing process of a semiconductor device at a high accuracy can be inspected, using an absorbed current.例文帳に追加

吸収電流を用い、高い精度で半導体デバイス製造過程で形成されたＣＨなどのホール状の検査を行うことができる電子ビーム検査方法および装置を実現する。 - 特許庁

In a signal analysis process executing in the radar device 30, an eigen value ratio SI_M is calculated (S220) for each of the comparison eigen value λ_M if the operation mode is an environment inspection mode (S210:YES).例文帳に追加

レーダ装置３０で実行する信号解析処理では、動作モードが環境検査モードであれば（Ｓ２１０：ＹＥＳ）、比較固有値λ_Mの各々について固有値比Ｓｌ_Mを算出する（Ｓ２２０）。 - 特許庁

After the principal surface is subjected to precision processing and to defect inspection, to specify a defect on the principal surface, the polishing process is carried out on the specified defect.例文帳に追加

上記主表面の研磨加工は、当該主表面を精密加工した後欠陥検査を行って当該主表面上の欠陥を特定し、この特定された欠陥に対して実施するものである。 - 特許庁

A backward transmission pass is not executed when no unattained transition exists, but the presence of a specification error in the input state chart is determined to finish a process, and a vector output of an inspection result is generated (690).例文帳に追加

未達の遷移がない場合、逆方向伝搬パスを実行せずに、入力ステートチャートに仕様誤りがあると判断してプロセスを終了し、検査結果のベクトル出力を生成する（６９０）。 - 特許庁

To reduce possibility of occurrence of an oil leakage defective product, to eliminate a need for strict inspection, and to conduct downsizing of a joint and simplification of a manufacturing process.例文帳に追加

自動車用制動油圧管継手について、油漏れの欠陥品が生じる可能性が少なく、厳格な検査が不要であること、および、コンパクト化、製造工程の簡易化を図ることを目的としている。 - 特許庁

A method and device for manufacturing bearing are used for inspecting a cylindrical bearing 20 which becomes a slide bearing or dynamic bearing in the state of a single bearing or bearing unit in the inspection step of the final process.例文帳に追加

滑り軸受ないし動圧軸受となる円筒状の被検査軸受２０を、最終工程の検査工程で、軸受単体、または軸受ユニットの状態で検査する製造方法および装置である。 - 特許庁

The process control part 6 arranges the various obtained information in a RAM 5, displays the information at a display part 7, and supplies the information to a print part 8, thereby printing an automobile maintenance and inspection sheet.例文帳に追加

処理制御部６は、取得した各情報をＲＡＭ５にそれぞれ配置し、表示部７に表示すると共に、印刷部８に各情報を供給し、自動車整備・点検シートを印刷する。 - 特許庁

(2) Notwithstanding the provisions of the preceding paragraph, a part of inspection for design or manufacturing process may not be performed for designs pertaining to supplemental type design or aircrafts pertaining to those designs listed in the following: 例文帳に追加

２　前項の規定にかかわらず、次に掲げる追加型式設計に係る設計及びその設計に係る航空機については、設計又は製造過程について検査の一部を行わないことができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To detect erroneous insertion of an oil seal in an inspection process when the oil seal exists to be erroneously inserted in the power cylinder of a power steering device in the state of nonblocking of the port to a control valve.例文帳に追加

動力舵取装置のパワーシリンダ１１内に、コントロールバルブへのポート１７を塞がない状態で誤挿入されたオイルシール２０が存在する場合、これを検査工程にて検出することができない。 - 特許庁

To provide a method and a device for automatic detection of existence of mercury or amalgam in a fluorescent lamp with mercury or amalgam sealed into it without providing an additional inspection process period.例文帳に追加

水銀または水銀合金を封入した蛍光ランプの、水銀または水銀合金の有無を、新たに検査工程時間を設けることなく自動検出する方法および装置を提供する。 - 特許庁

A collating means 30 compares the inspection image and a registered image within a plurality of collation areas each time the converting means 10 performs one process to find the consistency 403 in each collation area.例文帳に追加

照合手段３０は、変換手段１０の毎回の処理毎に、検査画像と登録画像とを複数の照合領域内で比較照合して、各照合領域内の一致率４０３を求める。 - 特許庁

To provide an X-ray computerized tomography diagnosis apparatus, where both of its optimum tomography timing function and complicated inspection process have been improved by optimizing tomography conditions based on contrast medium conditions.例文帳に追加

造影剤条件を基に、該撮影条件を最適化することにより最適なタイミングを合わせる機能と検査の煩雑化を改善したＸ線コンピュータ断層撮影診断装置を提供することである。 - 特許庁

A network system is constituted of an inspection device 1 provided in a last reflow process, image acquisition devices 2A, 2B provided respectively in the two processes before this, and an image display device 3.例文帳に追加

最終のリフロー工程に設けられた検査装置１と、これより前の２工程にそれぞれ設けられた画像収集装置２Ａ，２Ｂと、画像表示装置３とによりネットワークシステムを構成する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of suitably and rapidly detecting a defect even when the manufacturing process is varied or the periodicity of images of an area to be inspected on a sample is low.例文帳に追加

製造プロセスが変動しても、また、試料から検査対象領域を撮像した撮像画像に周期性が少なくても、良好かつ迅速に欠陥検出できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting the sensor chip position of a magnetic sensor capable of precisely detecting the position of a sensor chip in a short time and performing a total inspection in mass production process, and suitable for mass production.例文帳に追加

短時間でセンサチップの位置を正確に検出できると共に、量産工程において全数の検出ができる量産に適した磁気センサのセンサチップ位置検出方法を提供する。 - 特許庁

To realize a process in which what size of an image which is currently displayed as an index image is printed out by only the visual inspection of the index image which is list-displayed.例文帳に追加

一覧表示したインデックス画像を視認するだけで、インデックス画像として表示されている画像が具体的にどの程度の大きさでプリントアウトされるのかまでを実感することができるようにする。 - 特許庁

(c) If it has deemed it necessary and appropriate in the process of conducting procedure (b) above, the Board shall implement an on-site inspection of other relevant parties including the entity that has been audited by the firm, in order to confirm the situation surrounding that firm’s audit practices. 例文帳に追加

③ 上記②の過程で、さらに監査事務所における監査業務に関する状況を確認するため必要かつ適当であると認めるときは被監査会社等に立入検査を行う。 - 金融庁

To that end, the SESC launched the “Project for Reviewing the Inspection Process” on September 17, 2008, and after discussions at ten meetings, announced the directions of the discussions on December 25, 2008. 例文帳に追加

こうした観点から、昨年 9月 17日に「証券検査に係る業務点検プロジェクト」を立ち上げ、計 10回の議論を重ね、昨年 12月 25日には当プロジェクトの検討状況について公表したところである。 - 金融庁

To provide a processing condition inspection method of damage recovery processing in which process recognition can be performed merely through the damage recovery processing and a change in processing conditions can be detected with high sensitivity.例文帳に追加

ダメージ回復処理単独でのプロセス確認を行うことができ、プロセス条件のずれを高感度で検出することができるダメージ回復処理の処理条件検査方法を提供すること。 - 特許庁

To reduce the probability that defective products are shipped to the market by finding out, with reliability in the inspection tests, semiconductors whose fuses for wiring are melted by mistake due to mistakes or errors in a trimming process.例文帳に追加

トリミング工程におけるミス又は誤差により配線用フューズが誤って溶断された半導体装置を検査時に確実に発見し、問題のある製品が市場に出荷される確率を低下させる。 - 特許庁

To provide a characteristic impedance inspection device for determining the degree of appropriateness of manufacturing process conditions by extracting a parameter characterizing a waveform from the measured waveform of characteristic impedance.例文帳に追加

特性インピーダンスの測定波形から、その波形を特徴付けるパラメータを抽出することにより、製造プロセス条件の適性度を判定できる特性インピーダンス検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an organic EL panel allowing the position of an abnormal lighting dot to be easily identified in a lighting inspection process of the organic EL panel, and thereby capable of remarkably contributing to the analysis of the abnormal lighting.例文帳に追加

有機ＥＬパネルの点灯検査工程において、点灯異常のドットの位置を容易に特定し、点灯異常の解析に大きく貢献することが可能な有機ＥＬパネルを提供する。 - 特許庁

To provide an electronic apparatus wherein a cover member can be fitted to an outer package member after the end of final inspection in the manufacturing process, and the cover member does not easily fall off after the fitting.例文帳に追加

製造工程上、最終検査が終わってからカバー部材を外装部材に取り付けることができ、かつ取り付けた後にカバー部材が簡単に抜けることがない電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a marking device capable of surely applying a mark according to whether an optical component has been subjected to a process inspection, and to provide a lens barrel marked using the marking device, and an imaging apparatus that uses the lens barrel.例文帳に追加

光学部品の工程内検査が済んでいるか否かを確実にマーキングできるマーキング装置及びこれを用いてマーキングを施した鏡胴、並びにその鏡胴を用いた撮像装置を提供する。 - 特許庁