「Process Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

When a photographing process of a subject to be examined is carried out and a photographed image of the subject is obtained based on information on an inspection request received from outside by way of a means for communications 122, a means for discrimination 116 discriminates whether or not a photographing parameter included in the information on such inspection request is adequate.例文帳に追加

通信手段１２２を介して外部から受信した検査依頼情報に基づいて、被写体の撮影処理を実行し、当該被写体の撮影画像を取得する際に、判別手段１１６は、検査依頼情報に含まれる撮影パラメータが適切であるか否かを判別する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting fire-fighting equipment by which water loss can be prevented by inspection with a process wherein no air leakage is confirmed by feeding compressed air in a water-feeding pipe before water is pressure-fed, and to provide a connector for the inspection.例文帳に追加

水による点検を行う前に送水管に圧縮空気を送り、空気の漏水がないことを確認したのち水を圧送て点検を行うことにより、水損の発生を未然に防止することのできる消火設備の点検方法及び点検用接続治具を提供すること。 - 特許庁

In an inspection process, power supply voltage is supplied to a bonding substrate base material 10 through a first C-coupling terminal 26 formed on the bonding substrate base material 10, and an inspection signal is supplied to a drive circuit 14 through a second C-coupling terminal 27 formed on the bonding substrate base material 10.例文帳に追加

検査工程では、貼合せ基板母材１０に形成された第１Ｃカップリング端子２６を介して貼合せ基板母材１０に電源電圧を供給すると共に、貼合せ基板母材１０に形成された第２Ｃカップリング端子２７を介して駆動回路１４に検査信号を供給する。 - 特許庁

To provide an efficient product-inspection method and an efficient product-inspection apparatus for shifting to a process for immediately inspecting defects in a container or the contents after filling the liquid contents into the container by positively removing waterdrops and bubbles that are present in the container.例文帳に追加

容器内に存在しうる気泡や水滴を積極的に除去することによって、容器に液体類内容物を充填した後、直ちに容器やその内容物の欠陥を検査する工程に移行することができる効率のよい製品検査方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

When the maintenance timing of a light source 13 is reached, after inspection process has been interrupted temporarily and an image sensor element for light source adjustment is conveyed to be placed on a placing section 11 (S1), imaging is carried out with the image sensor element for light source adjustment (S2), under identical conditions as the imaging conditions at inspection of image sensor element 12.例文帳に追加

光源１３のメンテナンスのタイミングになると、検査工程が一時中断され、光源調整用撮像素子が載置部１１へと搬送されて載置され（Ｓ１）、撮像素子１２を検査する際の撮像条件と同じ条件で、光源調整用撮像素子により撮像が行われる（Ｓ２）。 - 特許庁

This inspection method has a process for detecting currents which are made to flow through each of the plurality of the pixels 20 respectively by being in contact with common pixel electrode 26 of this active matrix substrate and a process for discriminating defects of the plurality of the pixels 20 on the basis of the detected currents.例文帳に追加

検査方法は、このアクティブマトリクス基板の共通画素電極２６にコンタクトして、複数の画素２０の各々に流れる電流をそれぞれ検出する工程と、出された電流に基づいて複数の画素２０の欠陥を判定する工程とを有する。 - 特許庁

To make an inspection of the quality of oxide films using a process monitor correspond to the reliability of the oxide films in a real product and to inspect the quality of the oxide films with a high accuracy by the process monitor to make it possible to raise the reliability of the oxide films.例文帳に追加

プロセスモニターによる検査を実際の製品における酸化膜の信頼性と対応させ、プロセスモニターにより酸化膜の品質を精度よく検査して、その信頼性を向上させることができる半導体装置のプロセスモニター方法を提供する。 - 特許庁

To make "approximation" inspection operation efficient by making clear a priority level of a request quality item (specifications of an upstream process, i.e. a downstream process) connecting the upstream and downstream sides among respective processes of product development in an easy method.例文帳に追加

製品開発の各工程間において、上流と下流をつなぐ要求品質項目（上流工程の出力すなわち下流工程にとっての仕様）の優先順位を双方向に、かつ簡便な方法で明確にし、“すり合わせ”検討作業を効率化する。 - 特許庁

When the inspection maintenance, replacement, etc., of the process cartridges 13Y to 13K are carried out, the drawer part 11 is drawn out where the process cartridges 13Y to 13K to be inspected and so on are exposed, and then locked to minimize the draw-out quantity.例文帳に追加

プロセスカートリッジ１３Ｙ〜１３Ｋの点検整備や交換等を行う際には、引き出し部１１を点検等を行うプロセスカートリッジ１３Ｙ〜１３Ｋが露出される位置まで引き出して係止させることで、引き出し量を必要最小限に留めることができる。 - 特許庁

To provide an exhaust head for use in manufacturing lamp capable of easily performing inspection of leakage state, easily achieving simplicity of operational mechanism performing exhaust processing in exhaust process of a valve and afterward sealing process, and smoothness of operation.例文帳に追加

バルブの排気工程における排気処理とその後の密封処理とを行う作動機構の簡略化と、作業の円滑化とを容易に達成することができると共に、リーク状態の検査も簡便に行うことができるランプ製造用排気ヘッドを提供する。 - 特許庁

The positions of the appearance inferiority places output from the visual inspection devices are stored as the absolute coordinates in an SEM type review device and, even if a process is different, the automatic imaging of the absolute coordinates indicated by a user is executed to facilitate execution of the process trace.例文帳に追加

外観検査装置から出力される外観不良箇所の位置を、ＳＥＭ式レビュー装置内の絶対座標として記憶し、工程が異なっても、ユーザーが指示した絶対座標の自動撮像を実施することによって工程トレースが容易に実施可能となる。 - 特許庁

To eliminate, regarding a filament winding apparatus and a filament winding method in which a fiber bundle is wound round the surface of a member to be wound, the time lag between the winding treatment process and the inspection process and minimize generation of defective products whose resin deposition amounts are under a criteria.例文帳に追加

被巻付部材の表面に繊維束を巻き付けるフィラメントワインディング装置とフィラメントワインディング方法に関して、巻付処理工程と検査工程とのタイムラグをなくして、樹脂付着量が基準に満たない不良品の発生を最小限化する。 - 特許庁

To provide a technique which can realize reduction of a chip area, prevent contact troubles between a pad and evaluation equipment in an inspection process and readily manufacture a means for electrically connecting a surface side conductor to a rear pad in an integrated circuit formation process.例文帳に追加

チップ面積の縮小を図り、また、検査工程におけるパッドと評価機器との接触不具合を防止し、さらに、集積回路形成過程において表面側導電体を裏面パッドに電気的に接続する手段を容易に作成可能な技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method for forming an exposure pattern capable of detecting the connection failure of an exposure pattern unique to electron beam exposure technology with high accuracy in a Die to Die defect inspection just like a pattern failure caused by a process other than an exposure process.例文帳に追加

Die to Dieの欠陥検査において、電子線露光技術特有の露光パターンの接続不良を、露光プロセス以外のプロセスに起因するパターン不良と同様に精度良く検出することができる露光パターンの形成方法及び電子線露光装置の提供。 - 特許庁

To provide a reflection-type mask blank and a reflection-type mask for EUV exposure that eliminate the need for a low-reflection layer made of TaBO etc., which is difficult to work, are adaptive to a shorter wavelength of inspection light, and have a black defect corrected without requiring any complicated process even when the black defect is found through process inspection, and to provide a manufacturing method and an inspecting method thereof.例文帳に追加

本発明は、加工の困難なＴａＢＯ等からなる低反射層を不要とし、検査光の短波長化にも対応可能で、工程検査で黒欠陥が見つかった場合でも、複雑な工程を要することなく欠陥修正が可能なＥＵＶ露光用の反射型マスクブランクス及び反射型マスク、その製造方法、並びに検査方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

From the perspectives of implementing efficient and effective inspections and lightening the burdens of firms that receive inspections, and in relation to the measures considered in the above-mentioned “Project for Reviewing the Inspection Process,” the items such as the trial introduction of prior notice inspection and the meeting with top management, of which directions are fixed to some extent, have been incorporated into the “Basic Inspection Guidelines.” The guidelines are currently undergoing public comment. 例文帳に追加

効率的かつ効果的な検査の実施や検査対象先の負担軽減等の観点から、先述の業務点検プロジェクトの検討状況において、予告検査の試行的な導入や経営陣を交えたミーティング等一定の方向性が固まった項目については、「証券検査に関する基本指針」に盛り込み、パブリック・コメントに付したところである。 - 金融庁

To provide an analysis display device of a defective factor for deciding the validity of an analysis result in regard to data items extracted by the analysis as a defective factor, in defective factor analysis using data obtained from a manufacturing process and an inspection process, and for selecting appropriate detailed data required for planning measures to improve the manufacturing process.例文帳に追加

生産プロセスと検査プロセスから取得されるデータを用いた不良要因分析において、分析により不良要因として抽出されたデータ項目について、分析結果の妥当性の判断と、生産プロセスの改善策の立案に必要な、適切な詳細データを選択する不良要因の分析表示装置を提供する。 - 特許庁

The data management device 8 has a function of storing process information on processing conditions of each processing, in a storage device in association with identification codes for specifying products, deleting the whole process information on products determined to be non-defective products as a result of an inspection process performed on the produced products, from the storage device, and holding other information than that.例文帳に追加

このデータ管理装置８は、各処理の処理条件に関するプロセス情報を製品を特定する識別符号と対応させて記憶装置に記憶させ、生産された製品について行われた検査工程の結果、良品と判定されたものに関する全プロセス情報を記憶装置から削除し、それ以外を保持させる機能を備えている。 - 特許庁

In a spacer forming process F31 for forming a plate-shaped spacer inserted between a cathode substrate and an anode substrate in a method of manufacturing the FED, excess parts to be dummies at both ends of the spacer in its longitudinal direction are prepared in advance, and the spacer is handled using the excess parts in a subsequent spacer inspection process F32 or a spacer cleaning process F33.例文帳に追加

ＦＥＤの製造方法として、カソード基板とアノード基板との間に介装される板状のスペーサを作成するスペーサ作成工程Ｆ３１で、スペーサの長手方向の両端に予めダミーとなる余剰部を設けておき、その後のスペーサ検査工程Ｆ３２やスペーサ洗浄工程Ｆ３３では、余剰部を用いてスペーサを取り扱う。 - 特許庁

To provide substrate treating equipment capable of quickly and efficiently performing a bump shaping process and an inspection process for the state of a bump after shaping in a series of processes including a re-shaping process that is executed when a bump shaping failure occurs, for efficiency in facility costs and footprints, with reduced labor of workers.例文帳に追加

バンプ整形処理及び整形後のバンプの状態に関する検査処理を、バンプ整形不良発生時に行う再整形処理を含めて一連の工程で迅速かつ効率よく行うことができるとともに、設備コストや設置面積等の面で効率が図れ、また作業者の手間を削減できる基板処理装置を提供する。 - 特許庁

When probe inspection is executed for a manufacturing process of a semiconductor chip via a process controlling monitor; a pad 5 used as an electrode of the process controlling monitor is laminated by a plurality of wiring layers 7, each wiring layer 7 is connected by via holes 6 to increase the adherence strength of each wiring layer 7, and then, dicing is carried out so that the via holes 6 are left.例文帳に追加

プロセスコントロールモニタを通じて半導体チップの製造プロセスに対してプローブ検査する際にプロセスコントロールモニタの電極として用いるパッド５を、複数の配線層７により積層構造にして、各配線層７をビア６で接続し、各配線層７の密着強度を増加させた状態で、ビア６部分を残してダイシングする。 - 特許庁

The inspection method of lens characteristics includes a process impinging at least two beams of light propagating in different directions into the aforementioned lens, a process acquiring images of interference fringe formed from at least two beams of light outgoing from the aforementioned lens, and a process inspecting lens characteristics from the acquired images of interference fringe.例文帳に追加

本発明のレンズ特性検査方法は、異なる方向に進行する少なくとも２つの光を上記レンズに入射させる工程と、上記レンズを出射した少なくとも２つの光が形成する干渉縞像を捕捉する工程と、捕捉された干渉縞像からレンズの特性を検査する工程とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method for producing a cell sample which can simply be produced in a series of processes from a preliminary treatment process for extracting and purifying a nucleic acid to a process for detecting a nucleic acid amplification reaction and an amplified product, can be stored for a long period, and can be used for process accuracy control, in nucleic acid analysis such as gene expression amount inspection.例文帳に追加

遺伝子発現量検査等の核酸解析において、核酸を抽出・精製する前処理工程から、核酸増幅反応及び増幅産物の検出工程までの一連の工程において、簡便に製造することができ、長期保存も可能であり、さらに工程精度管理に用いることができる細胞試料の製造方法の提供。 - 特許庁

This inspection method of the hollow fibers in the hollow fiber array object 1 includes the process (1) of immersing the hollow fibers in the water dispensed in the wells of a microwell plate 2, the process (2) of introducing water into the hollow parts of the hollow fibers and the process (3) of measuring the amount of the water introduced into the hollow fibers or the amount of the water remaining in the wells.例文帳に追加

中空繊維配列体における中空繊維の検査方法であって、以下の工程；１）マイクロウェルプレートのウェルに分注した水に中空繊維を浸漬する工程、２）前記水を中空繊維の中空部に導入する工程、及び３）中空繊維に導入された水量又はウェルに残存した水量を測定する工程を含む前記方法。 - 特許庁

In electron beam type automatic defect inspection equipment comprising an X-ray detector, the X-ray spectrum and image of a dust generated on a wafer for process QC are registered as reference data and defects occurring on the process wafer are sorted with reference to the reference data.例文帳に追加

Ｘ線検出器を備えた電子線式自動欠陥検査装置において、プロセスＱＣ用ウエーハ上に生じた異物のＸ線スペクトルと画像とを参照用データとして登録し、前記参照用データを照会してプロセスウエーハ上に生じた欠陥を分類する。 - 特許庁

To eliminate a leak flow inspection for confirming a clearance of products by securely satisfying a design request of a clearance of fitting parts regulated on the basis of a fluid leak between members in a member working process or a member assembling process.例文帳に追加

部材間からの流体漏れ量に基づきクリアランスが規定される嵌合部品のクリアランスの設計要求を、嵌合部品を製造する際の、部材の加工工程または組立工程において確実に満たし、製品のクリアランスを確認するための、漏れ流量検査を不要とする。 - 特許庁

To provide the high luminance polishing method of high productivity, which reduces a process for removing printing burrs and reduces an operation, such as inversion in a high luminance plane polishing process being one of the processes in the manufacturing of an inspection wafer for evaluating the quality characteristic of semiconductor crystal.例文帳に追加

半導体結晶の品質特性を評価するための検査用ウェーハ等の作製における一プロセスである高輝度平面研削工程において、従来のような印字バリを取る工程を削減し、反転などの操作を低減した生産性の高い高輝度研削法の提供。 - 特許庁

Brightness data of each pixel of a point defect or a strain defect having a smaller area than an irregular defect in the image data acquired in the inspection image acquisition process is replaced with an interpolation value based on brightness data of a peripheral pixel, to thereby repair the non-evaluation object defect species (point/strain defect repair process ST200).例文帳に追加

検査画像取得工程にて取得された画像データ中でムラ欠陥よりも面積が小さい点欠陥、シミ欠陥の各画素の輝度データを周囲の画素の輝度データに基づく補間値で置き換えてこの非評価対象欠陥種を修補する（点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００）。 - 特許庁

To provide a press plate process device for exhibiting functions for monitoring and managing working states after defining an operator in charge of operation to allow the working to progress as to the progress of item work for allowing respective devices such as an RIP machine/inspection machine in a press plate process to progress.例文帳に追加

刷版工程において、ＲＩＰ機・検査機といった刷版工程の各装置を進行する品目作業の進行について、作業責任者を明確にした上で作業状況をモニタ管理し、進行させる機能を発揮する装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

In this inspection method of a plasma display panel, a formation state of the photosensitive film is inspected by entering light having a wavelength without being sensed by the photosensitive film into the photosensitive film after an exposure process and before a development process, and imaging reflection of the light.例文帳に追加

本発明のプラズマディスプレイパネルの検査方法は、露光処理後であって現像処理前の感光性膜に、前記感光性膜を感光させない波長の光を入射し、前記光の反射を撮像して、前記感光性膜の形成状態を検査することを特徴とする。 - 特許庁

The quality control support server 1, when receiving information about the details of inspection from a print checker 5, specifies information about a corresponding state after the printing process, determines whether the product after the printing process corresponds to a non-defective product, based on the information, and calculates a defective fraction.例文帳に追加

品質管理支援サーバ１は、印刷検査機５から検査内容に関する情報を受信すると、これに対応する印刷工程後の状態に関する情報を特定し、これらの基づいて、印刷工程後の製品が良品に該当するか否かを判別し、不良率を算出する。 - 特許庁

The heat generation inspection method for the heater comprises a process used to measure surface-temperature distribution data on a region including a heat generation part of the heater electrified by a prescribed voltage, and a process used to decide whether an abnormal heat generation part of the heater exists on the basis of the measured surface-temperature distribution data.例文帳に追加

ヒータの発熱検査方法であって、所定電圧で通電されたヒータの発熱部を含む領域の表面温度分布データを測定する工程と、測定された表面温度分布データに基づいて前記ヒータの異常発熱部の有無を判定する工程と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁

This inspection method for a three-dimensional object arranged on a sheet-like body is provided with a process for acquiring an image picked up from a direction capable of imaging a side face of the three-dimensional object, using a wide angle lens, and a process for inspecting the three-dimensional object based on the image.例文帳に追加

板状物体上に配置されている三次元物体を検査するための方法であって、広角レンズを用いて三次元物体を側面が映し出される方向から撮像した画像を取得する工程と、画像に基づいて前記三次元物体を検査する工程とを備える。 - 特許庁

To provide a testing means for sealing performance of a sealed container having a rubber-plugged opening, capable of facilitating rapid testing, and of being favorably employed for process inspection performed in a manufacturing process of a sealed vial, bottle or the like, for chemicals filling.例文帳に追加

容器の開口部をゴム栓で閉塞してなる密封容器の密封性の試験手段であって、迅速かつ容易に試験を行うことができ、薬液充填用密封バイアル、密封ボトル等の製造工程で行う工程検査に好適に採用することができる試験手段を提供する。 - 特許庁

To provide a suitability determination method for organic antireflection film of a plastic lens for determining the suitability of the organic antireflection film before burning in a manufacturing process, including a regenerating process of the film of the plastic lens determined as being a defective good by visual inspection, and to provide a manufacturing method of the plastic lens.例文帳に追加

外観検査により不良品と判定されたプラスチックレンズの膜の再生工程を含む製造工程において、焼成前の有機反射防止膜の適否を判定するプラスチックレンズの有機反射防止膜の適否判定方法およびプラスチックレンズの製造方法を提供すること。 - 特許庁

To avoid reduction in yield due to apparatus factors by changing process lots, based on acquired workmanship inspection results and the yield rank of individual apparatus ID obtained by arithmetically processing a low process history, and attaining a favourable yield by processing using an apparatus favourable in yield.例文帳に追加

収集した出来映え検査結果と、ロット処理履歴に演算処理を施し、演算により得られた装置ＩＤ別歩留順位に基づき、処理ロットを変更することで、装置要因による歩留低下を避け、歩留の良い装置を用いて処理することで、良い歩留を達成することを目的とする。 - 特許庁

The inspection method includes a process which carries out an electrical measurement for a first object to be measured by a first voltage, and a process which carries out an electrical measurement for a second object to be measured different from the first object to be measured by a second voltage lower than the first voltage.例文帳に追加

検査方法においては、第１の電圧によって第１の測定対象の電気的測定を行う工程と；前記第１の電圧よりも低い第２の電圧によって、前記第１の測定対象とは異なる第２の測定対象の電気的測定を行う工程とを含む。 - 特許庁

This home electric appliance have a microcomputer type control unit and a transceiver function executing a communication between a maker side and a server side and a radio communication between products using Internet; and the transceiver function is provided with a function capable of giving/receiving process inspection information and product specification setting information with an inspection device attached to a process inspection line.例文帳に追加

マイコン式の制御ユニットと、インターネットを利用してメーカー側サーバーとの交信や製品間の無線交信を行う送受信機能とを備えた家電製品において、前記送受信機能に、工程検査ラインに付設された検査装置との間で工程検査情報や製品仕様設定情報を授受できる機能を設けて、インターネットを利用してメーカー側サーバーとの交信や製品間の無線交信を行う送受信機能を利用して工程検査および製品仕様設定を行うことができるようにしている。 - 特許庁

In a process for acquiring POF 13 by drawing a preform 11 by a drawing part 19, the core end face of the preform 11 is irradiated with inspection light by a light irradiation means.例文帳に追加

プリフォーム１１を延伸部１９により延伸してＰＯＦ１３とする工程において、光照射手段でプリフォーム１１のコア端面に、前記光照射手段による検査光を照射する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an electrophotographic photoreceptor including an inspection process capable of reducing mistakes upon the discrimination of a good quality product or a defective product even if the level of image quality is raised to print image quality.例文帳に追加

印刷画質まで画像品質をレベルアップした場合であっても、良品又は不良品の判定ミスを減らすことが可能な検査工程を含む電子写真感光体の製造方法を提供する。 - 特許庁

When drying by vacuum heating is carried out after forming a pattern 3 of the organic layer of the organic EL element by using a non-vacuum process, the defect inspection of the pattern is carried out by using optical means 19 and 11.例文帳に追加

非真空プロセスを用いて有機ＥＬ素子の有機層のパターン３を形成した後の真空加熱乾燥を行う際に、光学的手段１９、１１を用いてパターンの欠陥検査を行うこと。 - 特許庁

To provide a sealed battery preventing the slippage of a valve body from an opening part of a sealing plate, and detecting the slippage of the valve body in an inspection process even if the valve plate is slipped from the opening part of the sealing plate.例文帳に追加

封口板の開口部から弁板がズレることを防止でき、万一封口板の開口部から弁板がズレた場合には、検査工程で弁体のズレを検出できる密閉型電池を提供する。 - 特許庁

To avoid a disadvantage that a hydraulic switching device is provided with an electronic control device integrally, and an assembling line and consequently a related inspection process should be guided together.例文帳に追加

液圧式の切換え装置が一体に電子的な制御装置を備えていて、組付けラインひいては関連する検査プロセスを一緒に案内しなければならない、という欠点を回避することである。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for improving yield and improving bonding precision in a process for manufacturing a display panel by bonding two substrates, and to provide an inspection device used for the manufacturing method.例文帳に追加

２枚の基板を貼り合せる表示パネルの製造工程において、歩留りが向上し、さらに、貼り合せ精度が向上する製造方法、およびこの製造方法に使用する検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which uses non-volatile memory elements and is capable of optimizing its device characteristics and improving its manufacturing yield after a diffusion process is performed, and to provide a voltage transformation method and an inspection method.例文帳に追加

不揮発性メモリ素子を用い、拡散工程後にデバイス特性の最適化と歩留りの向上を実現することができる半導体装置、電圧変換方法および検査方法を提供する。 - 特許庁