「Process Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a simple control system of inspection score data on an inspection process in production of an automobile.例文帳に追加

自動車の生産における検査工程の検査成績データの簡易な管理システムを提供する。 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF FERROELECTRIC FILM AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING INSPECTION PROCESS例文帳に追加

強誘電体膜の検査方法及びその検査工程を有する半導体装置の製造方法 - 特許庁

INSPECTION EQUIPMENT OF SOLAR CELL PANEL, FILM POLISH INSPECTION METHOD, AND PROCESS FOR MANUFACTURING SOLAR CELL PANEL例文帳に追加

太陽電池パネルの検査装置、膜研磨検査方法、及び太陽電池パネルの製造方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR OPTIMIZING INSPECTION PROCESS IN MEDICAL DIAGNOSIS例文帳に追加

医療診断において検査プロセスを最適化するシステムと方法 - 特許庁

The insulation inspection method includes a function to process the control section.例文帳に追加

絶縁検査方法は、前記制御部の処理機能を備えた。 - 特許庁

To provide integration of the machining process of a rotor and a noncontact inspection system.例文帳に追加

ロータの機械加工と非接触検査システムを一体化する。 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND DEVICE OF PNEUMATIC TIRE IN MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加

製造途中の空気入りタイヤの検査方法および検査装置 - 特許庁

The Semiconductor inspection management device which received the skip judging request of inspection transmits skip judging result to the wafer inspection device by using inspection result of the contamination inspection process b (203g).例文帳に追加

検査のスキップ判定依頼を受信した半導体検査管理装置は異物検査（工程ｂ）の検査結果を用いて、スキップ判定結果をウェハ検査装置に送信する２０３ｇ。 - 特許庁

In an inspection process, the IC tag 4 is prepared for every element article 2 or every group of the same kind of element articles 2 being the units of inspection, and recorded with information acquired in the inspection process.例文帳に追加

検査工程では、ＩＣタグ４を、要素品２毎または検査の単位となる同種類の要素品２の組毎に準備し、検査工程で得られる情報を記録する。 - 特許庁

To allow inspection of the inside of a process apparatus at any time and measurement of the inside of a process chamber without disassembling the process chamber.例文帳に追加

いつでもプロセス装置内部の検査ができ、プロセス室内部の測定がプロセス室を分解する必要なしに行う。 - 特許庁

To reduce the cost incurred in the process of inspection in a chip state.例文帳に追加

チップ状態での検査工程で発生するコストを低減する。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH OVERLAPPING INSPECTION PROCESS例文帳に追加

重ね合わせ検査工程を備えた半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR WRITING APPLICATION SOFTWARE AT INSPECTION PROCESS OF ELECTRONIC SYSTEM例文帳に追加

電子システムの検査工程時におけるアプリケーションソフト書込み方法 - 特許庁

To reduce the time, process and cost required for inspection of a printing state, and to reflect the result of inspection on a following printing process.例文帳に追加

プリンティング状態の検査に必要な時間、工程及び費用を減少させ、また、検査の結果を後続プリンティング工程に反映する。 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR MAGNETIC RECORDING MEDIUM AND MANUFACTURING METHOD INCORPORATING INSPECTION PROCESS FOR THE MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加

磁気記録媒体の検査方法、およびその検査工程を有する磁気記録媒体の製造方法。 - 特許庁

To provide an electronic component inspection vessel capable of making inspection process of the electronic components high precision and simplification.例文帳に追加

電子部品の検査作業を高精度且つ簡易化する電子部品検査用容器を提供する。 - 特許庁

To enhance inspection efficiency without interposing manual assistance in a calibration process for a surface inspection device.例文帳に追加

表面検査装置の較正工程で人手を介在させることなく、検査効率の向上を図る。 - 特許庁

To perform an inspection work more efficiently by speeding up an inspection process on an inspecting object plate such as a liquid crystal panel.例文帳に追加

液晶パネル等の検査対象板の検査処理を高速化して、検査作業の効率化を図る。 - 特許庁

PATTERN EVALUATION METHOD, ALIGNMENT METHOD, INSPECTION METHOD OF INSPECTION APPARATUS, AND CONTROL METHOD OF SEMICONDUCTOR-MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加

パターン評価方法，位置合わせ方法、検査装置の検査方法，半導体製造工程の管理方法 - 特許庁

To align carrying objects (caps) when carrying the carrying objects to an inspection process by an image inspection device.例文帳に追加

画像検査装置による検査工程へ搬送対象物（キャップ）を搬送する際にその向きを揃える。 - 特許庁

To provide a flaw inspection method of high sensitivity corresponding to the micronization of the pattern formed on a substrate through a membrane process, and a flaw inspection device.例文帳に追加

パターンの微細化に対応した高感度欠陥検査方法とその装置を提供する。 - 特許庁

In an element determination process S7, it is determined whether the organic EL element is good or defective based on results of the first leak inspection process S4 and the second leak inspection process S6.例文帳に追加

素子判定工程Ｓ７は、第１のリーク検査工程Ｓ４と第２のリーク検査工程Ｓ６との結果に基づいて有機ＥＬ素子の良否を判定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device inspection method for performing inspection where the inspection process and content of a semiconductor device have been simplified.例文帳に追加

半導体装置の検査工程及び検査内容が簡略化された検査を行う半導体装置検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an LED lighting inspection apparatus capable of reducing working hours in an inspection process and reducing the inspection burden of an inspector.例文帳に追加

検査工程における工数を減少させ、検査者の検査負担を軽減することができるＬＥＤ点灯検査装置を提供する。 - 特許庁

If the server determines that the image inspection process is not executed yet, the server transmits an image inspection permission signal for permitting the start of image inspection and the medical image data DT1 to the image inspection device 3.例文帳に追加

このとき、未検像であると判定した場合には、検像の開始を許可する検像許可信号と医用画像データＤＴ１とを検像装置３に送信する。 - 特許庁

To provide an inspection method, performing an inspection for the process confirmation for a structure in a micro-machine, the inspection for electric characteristic and the inspection for mechanical characteristic in non-contact state.例文帳に追加

マイクロマシンにおける構造体の工程確認の検査、電気特性の検査及び機械特性の検査を非接触で行う検査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

When the server 2 receives an image inspection right requesting signal including the inspection ID from an image inspection device 3, the server reads the image inspection flag correlated with the inspection ID from the image inspection management table and determines whether the image inspection process for the medial image data DT1 of the inspection indicated by the inspection ID is executed or not.例文帳に追加

そして、検像装置３から検査ＩＤを含む検像権要求信号を受信すると、当該検査ＩＤに対応付けられた検像フラグを検像管理テーブルから読み出し、その検査ＩＤで示される検査の医用画像データＤＴ１に対する検像処理が未検像であるか判定する。 - 特許庁

In the inspection voltage determination process, the second inspection electrode 3 is arranged in the inspection domain, and the maximum inspection voltage V_C is determined in a range where flashover is not generated, and in the current detection process, the inspection voltage V_C is applied to the second inspection electrode 3, and a current between both inspection electrodes 2, 3 is detected.例文帳に追加

検査電圧決定行程では、検査領域内に第２検査電極３が配置され、フラッシュオーバーが発生しない範囲で最大の検査電圧Ｖ_Cが決定され、電流検出行程で、第２検査電極３に検査電圧Ｖ_Cが印加され、両検査電極２，３間の電流が検出される。 - 特許庁

When a software design stage 11 and a process termination inspection 12-1 of a design process 10 are performed, a manufacturing initial inspection 23-1 in a manufacturing initial inspection stage 23 of a manufacturing process 20 is performed next.例文帳に追加

設計工程１０のソフトウェア設計段階１１及び工程終了検査１２−１が行われると、次いで、製造工程２０の製造初期検査段階２３における製造初期検査２３−１が行われる。 - 特許庁

In the reference voltage determination process, an inspection reference voltage V_L is determined.例文帳に追加

基準電圧決定行程では、検査基準電圧Ｖ_Lが決定される。 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR SILICON WAFER BACKSIDE PROJECTION AND PRODUCTION PROCESS OF SILICON WAFER例文帳に追加

シリコンウェーハ裏面の突起検査方法およびシリコンウェーハの製造方法 - 特許庁

To automate inspection process of a processor and a restoration processing from maintenance.例文帳に追加

処理装置の検査工程やメンテナンスからの復帰処理を自動化する。 - 特許庁

The damage inspection method of the screen is attained by the screen damage inspection device 10 and includes a signal output process and a damage determination process.例文帳に追加

スクリーンの損傷検査方法は、スクリーン損傷検査装置１０により実現され、信号出力工程と損傷判定工程とを含む。 - 特許庁

To eliminate overlapped outputs of unnecessary check results and to secure the reliability of a check of a connection inspection process by producing a check result of the connection inspection process using the check result in a component inspection process.例文帳に追加

部品検査工程におけるチェック結果を利用して結合検査工程のチェック結果を生成し、不必要なチェック結果の重複出力をなくすと共に、結合検査工程のチェックに対する信頼性を確保する。 - 特許庁

To put a wafer used for the PL (Photoluminescence) wavelength inspection of an active layer of the wafer into a wafer process by performing the PL wavelength inspection before putting the wafer into the wafer process.例文帳に追加

ウェハプロセス投入前にウェハの活性層のＰＬ（Photoluminescence）波長検査を行い、検査に用いたウェハをウェハプロセスに投入できるようにする。 - 特許庁

Accordingly, the information necessary for the inspection can be acquired properly, in comparison with a conventional constitution wherein the item already subjected to the inspection in the previous process of the lighting inspection process is omitted.例文帳に追加

したがって、従来のように点灯検査工程の前工程において検査済みの項目を省略する構成と比べて、検査に関する必要な情報を適切に得ることができる。 - 特許庁

A prediction calculation section 4 calculates the predicted values (inspection predicted values) of inspection measured values in an inspection process C on the basis of the various kinds of measured values of the process devices A1, A2, ... obtained.例文帳に追加

予測演算部４は、上記取得されたプロセス装置Ａ1,Ａ2,…の上記各種計測値に基づいて、検査工程Ｃでの検査測定値の予測値(検査予測値)を演算する。 - 特許庁

This waste water treatment system comprises a pretreatment process 100, a biological treatment process 101, a microbial culture process 102, a filtration treatment process 103, a membrane treatment process 104, and an inspection process 105.例文帳に追加

廃水処理システムは、前処理工程１００、生物処理工程１０１、微生物培養工程１０２、濾過処理工程１０３、膜処理工程１０４、検査工程１０５とから構成されている。 - 特許庁

The waste water treatment system comprises a pretreatment process 100, a biological treatment process 101, a microorganism culture process 102, a filter treatment process 103, a membrane treatment process 104, and an inspection process 105.例文帳に追加

廃水処理システムは、前処理工程１００、生物処理工程１０１、微生物培養工程１０２、濾過処理工程１０３、膜処理工程１０４、検査工程１０５とから構成されている。 - 特許庁

Further, in the strip process, wiring for inspection is disposed in the strip-like liquid crystal display module, an inspection signal is applied, and display inspection is performed.例文帳に追加

さらに、短冊工程にて、この短冊状の液晶表示モジュールに検査用配線を設け、検査信号を印加して表示検査を行う。 - 特許庁

This configuration inspection is a process to estimate the outline of an inspection object pattern and compute the degree of closeness of the inspection object pattern to a right configuration.例文帳に追加

形状検査は、被検査パターンの輪郭を推定し、被検査パターンが正しい形状にどの程度近いかを算出する処理である。 - 特許庁

Inspection facilities is narrowed down based on inspection process from inspection facilities of which installation positions are included in the facility detection area.例文帳に追加

そして、当該設備検出範囲に設置位置が含まれる検査設備を対象として、検査工程に基づく検査設備の絞り込みがなされる。 - 特許庁

To provide an analog voltage adjustment circuit which can perform an inspection process and an adjustment process substantially simultaneously.例文帳に追加

検査工程と調整工程をほぼ同時に実行可能な、アナログ電圧調整回路を提供する。 - 特許庁

To provide an optimum working table environment used in a process such as assembly and inspection according to the process.例文帳に追加

組立て，検査等の工程において用いる作業台環境を工程に応じて最適なものにする。 - 特許庁

By such a constitution, the inspection is accurately performed without damaging the semiconductor chips in an inspection process.例文帳に追加

このような構成により検査工程で半導体チップを傷つけることなく、精度よく検査を行うことができる。 - 特許庁