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WStを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 106件
An oscillator 2 oscillates while changing the oscillating frequency ft of a transmit wave signal WSt every 200 ns.例文帳に追加
発振器2は、200ns毎に送信波信号WStの発振周波数ftを切り換えて発振する。 - 特許庁
The mixer 5 mixes the transmit wave signal WSt with a reflected wave signal WSr to output a beat signal WSb.例文帳に追加
ミキサ5は、送信波信号WStと反射波信号WSrとを混合し、ビート信号WSbを出力する。 - 特許庁
A WST detecting circuit 16 is provided with a timing oscillator 31 and a sampling rate converter 32, and extracts the WST data using a WST data clock and an asynchronous system clock.例文帳に追加
WST検出回路16は、タイミングオシレータ31及びサンプリングレートコンバータ32を設け、WSTデータクロックと非同期のシステムクロックCsによってWSTデータを抽出している。 - 特許庁
A coupler 3 branches the transmit wave signal WSt to output a transmit wave signal WSt1 to a circulator 4 and to output a transmit wave signal WSt2 to a mixer 5.例文帳に追加
カプラ3は、送信波信号WStを分岐させ、サーキュレータ4へ送信波信号WSt1を、ミキサ5へ送信波信号WSt2を出力する。 - 特許庁
The data is alternately apportioned for each sampling at time division to generate two pieces of WST data, and one WST data with higher reliability is outputted.例文帳に追加
そして、1サンプル毎に時分割で交互に振り分け、2つWSTデータを生成し、信頼性の高い一方のWSTデータを出力する。 - 特許庁
While a stage WST is driven, X scales 39X_1 and 39X_2 provided on the stage WST are scanned using X heads 66_5 and 66_0 having measuring directions along an X axis to compare and measure an X position of the stage WST.例文帳に追加
ステージWSTを駆動しつつ、X軸方向を計測方向とするXヘッド66_5,66_0を用いてステージWST上に設けられたXスケール39X_1,39X_2を走査して、ステージWSTのX位置を比較計測する。 - 特許庁
The WST stores a segment in the message identified to include the control program segment.例文帳に追加
WSTは制御プログラムセグメントを含むと識別されたメッセージ中のセグメントを記憶する。 - 特許庁
To extract WST(word system teletext) data inserted into a vertical synchronization period of PAL.例文帳に追加
PALの垂直同期期間に挿入されているWSTデータを抽出する。 - 特許庁
During the operation of an aligner, the position of a wafer stage WST is measured by encoder heads 64-68 and Z heads 74, 76, and the wafer stage WST is driven and controlled according to the result.例文帳に追加
露光装置の稼働中、エンコーダヘッド64〜68及びZヘッド74,76を用いてウエハステージWSTの位置を計測し、その結果に従ってウエハステージWSTを駆動制御する。 - 特許庁
To provide a system to program a wireless subscriber terminal WST providing complete flexibility in the case of programming the WST from a remote program database or re-programming it.例文帳に追加
遠隔のプログラムデータベースからWSTをプログラミング又は再プログミングする際に完全な柔軟性を与えるWSTをプログラミングするためのシステムを提供することを目的とする。 - 特許庁
Namely, an arrangement interval Wdt of a partition 42, and a width Wst of the red organic light-emitting element 10R or the green organic light-emitting element 10G satisfy the relationship of Wdt>Wst.例文帳に追加
すなわち、隔壁42の配置間隔Wdt、赤色有機発光素子10Rまたは緑色有機発光素子10Gの幅Wstは、Wdt>Wstを満たす。 - 特許庁
A control program controlling the operation of the WST is updated by using a series of messages that are simultaneously sent to one WST or over via a broadcast control channel from a base station.例文帳に追加
WSTの動作を制御する制御プログラムは、基地局からブロードキャスト制御チャネルを介して1つ以上のWSTへ同時に送信される一連のメッセージを用いて更新される。 - 特許庁
At step 119, the wafer W is loaded to the wafer stage WST where search alignment is performed and residual rotary amount of the wafer W for the wafer stage WST is calculated.例文帳に追加
次のステップ119では、ウエハWをウエハステージWSTにロードし、ウエハステージWSTでは、サーチアライメントを行って、ウエハステージWSTに対するウエハWの残留回転量を算出する。 - 特許庁
To provide an optical disk recording device capable of further improving write-in accuracy by newly creating a unique write strategy (WST) on the basis of a renewed fundamental WST.例文帳に追加
更新されたベースとなるライトストラテジ(WST)に基づいて固有WSTを新たに作成することにより、書き込み精度をより向上させることのできる光ディスク記録装置を提供する。 - 特許庁
The plurality of sensor heads for measuring the position of a stage WST moving in a predetermined plane, for example, Y heads 64 and 65 for measuring a Y position of the stage WST and Z heads 74 and 76 for measuring a surface position of an upper surface of the table WTB are disposed opposite the upper surface of the stage WST.例文帳に追加
所定平面内を移動するステージWSTの位置を計測するために、ステージWST上面に対向して複数のセンサヘッド、例えばステージWSTのY位置を計測するYヘッド64,65、テーブルWTB上面の面位置を計測するZヘッド74,76、が配置されている。 - 特許庁
A reference wafer WF having a known position relation and a mark M_ijk is placed on a wafer stage WST.例文帳に追加
既知の位置関係にあるマークM_ijkが付与された基準ウエハWFをウエハステージWSTに載置する。 - 特許庁
Based upon the measured distortions, the measured value of the encoder measuring the position of the stage WST is corrected.例文帳に追加
計測された歪みに基づいて、ステージWSTの位置を計測するエンコーダの計測値を補正する。 - 特許庁
A stage WST is driven by a linear motor 36X, in the direction of an X axis, along a guide member 42.例文帳に追加
リニアモータ36Xにより、ステージWSTがガイド部材42に沿ってX軸方向に駆動される。 - 特許庁
An X position of a stage WST is measured using encoder heads (X heads) 66_7 and 66_0 having a measurement direction along an X axis, and an X scale 39X_1 provided on the stage WST opposite them.例文帳に追加
X軸方向を計測方向とするエンコーダヘッド(Xヘッド)66_7,66_0とそれらに対向してステージWST上に設けられたXスケール39X_1を用いて、ステージWSTのX位置を計測する。 - 特許庁
Further, it is found that an apoptosis activity increases by combination of 2D7-DB with IFNα or IFNγ from a result of consideration about the cell survival degree in a case where the interferon and anti-HLA class-I are used in combination by a WST-8 assay.例文帳に追加
さらに、WST-8アッセイにより、インターフェロンと抗HLAクラスI抗体を併用した場合の細胞生存度を検討ところ、2D7-DBとIFNαまたはIFNγとの組み合わせにより、細胞死活性が増大することがわかった。 - 特許庁
The system programs a WST 24 by using a broadcast channel in a wireless communication system.例文帳に追加
ワイヤレス通信システムのブロードキャストチャネルを用いてワイヤレス加入者端末(WST)をプログラミングするシステムである。 - 特許庁
The Y heads 65 and 64 belonging to the head units 62A and 62C face the Y scales 39Y_1 and 39Y_2 on a wafer stage WST in exposure and measure the position of the wafer stage WST in the Y axis direction and the θz direction.例文帳に追加
ヘッドユニット62A,62Cに属する各Yヘッド65,64は、露光時にウエハステージWST上のYスケール39Y_1,39Y_2に対向してウエハステージWSTのY軸方向及びθz方向の位置を計測する。 - 特許庁
Also, in the circuit 16, a sampling timing is set at a frequency two times the WST data clock (horizontal synchronization frequency fH×888) to sample a piece of WST data twice at positions with different phases.例文帳に追加
また、WST検出回路16では、サンプリングタイミングをWSTデータクロックの2倍(水平同期周波数f__H×888)の周波数に設定しておき、1つのWSTデータに対して位相が異なる位置で2回サンプリングする。 - 特許庁
The wafer stage WST is driven based on the known position relation and the position measurement result of the wafer stage WST, which is obtained using a position measuring system, and a detection pattern m_ijk is exposed over again on the mark M_ijk on the reference wafer WF.例文帳に追加
既知の位置関係と、位置計測系を用いて得られるウエハステージWSTの位置計測結果と、に基づいてウエハステージWSTを駆動し、基準ウエハWF上のマークM_ijkに検出パターンm_ijkを重ね露光する。 - 特許庁
When a thrust force in the X direction is applied, the wafer stage WST generates the leak thrust force, the strength of which is changed according to a position of the wafer stage WST in the X direction (for example, thrust force to the Z direction: Z side forth).例文帳に追加
ウェハステージWSTは、X方向の推力が与えられた場合に、ウェハステージWSTのX方向の位置に応じて大きさが変化する漏れ推力(例えば、Z方向の推力:Zサイドフォース)を生ずる。 - 特許庁
Head units 62A to 62F are installed so as to measure the position of a stage WST moving in a predetermined plane.例文帳に追加
所定平面内を移動するステージWSTの位置を計測するために、ヘッドユニット62A〜62Fが設置されている。 - 特許庁
The wafer stage WST is accurately driven, in measurement ranges of the encoders 50A, 50B, etc., based on their measurement results.例文帳に追加
ウエハステージWSTは、エンコーダ50A,50B等の計測範囲内では、それらの計測結果に基づいて精度良く駆動される。 - 特許庁
Similarly, a measurement stage WST is configured to be movable on the base board 21 by the support of a self-weight canceller 57.例文帳に追加
同様に、計測ステージWSTは、自重キャンセラ57の支持によってベース盤21上で移動可能に構成されている。 - 特許庁
A stage WST is moved while the position is monitored using an X interferometer 127 and a Y interferometer 16, and Z positions of Y scales 39Y_1 and 39Y_2 provided on an upper surface of the stage WST are measured by using surface position measuring sensors 72a to 72d.例文帳に追加
X干渉計127、Y干渉計16を用いて位置を監視しながらステージWSTを移動させ、面位置計測センサ72a〜72dを用いてステージWST上面に設けられたYスケール39Y_1,39Y_2のZ位置を計測する。 - 特許庁
An aligner includes various measurement errors included in measured values of an encoder and a surface position sensor used to measure the position of a stage WST.例文帳に追加
ステージWSTの位置を計測するために使用されるエンコーダ及び面位置センサの計測値には、様々な計測誤差が含まれる。 - 特許庁
This processing is repeated, while the wafer stage WST is moved finely along the mirror surface of the moving mirror 12 which is a measuring object.例文帳に追加
以上の処理を計測対象の移動鏡12の鏡面に沿ってウェハステージWSTを微小移動させながら繰り返す。 - 特許庁
Thus, when the stage WST, for example, moves, the stage supporting member 18 moves by specified amount in the direction opposite in the stage WST under the drive reaction for absorbing the force, so that the momentum is preserved for the substrate for the entire substrate stage device, causing no change in the center of gravity of the entire device.例文帳に追加
このため、例えばステージWSTが移動した際に、その駆動反力によりステージ支持部材18がステージWSTと反対向きに所定量移動してその力を吸収するため、基板ステージ装置全体で運動量が保存され、装置全体の重心位置は変化しない。 - 特許庁
The plurality of alignment systems can thus simultaneously measure a plurality of marks on the wafer when the wafer stage WST is moved in the Y axis direction.例文帳に追加
このため、ウエハステージWSTのY軸方向の移動の際に、ウエハ上の複数のマークを複数のアライメント系で同時に計測可能になる。 - 特許庁
During exposure operation and/or alignment measurement, the position information of a wafer stage WST is measured using an encoder system by a control unit.例文帳に追加
露光動作、及び/又はアライメント計測中、制御装置により、エンコーダシステムを用いてウエハステージWSTの位置情報が計測される。 - 特許庁
The respective encoder heads project measurement beams on scales 39Y1 and 39Y_2, and 39X_1 and 39X_2 provided on an upper surface of the stage WST.例文帳に追加
各エンコーダヘッドから、計測ビームが、ステージWSTの上面に設けられているスケール39Y_1、39Y_2、39X_1、39X_2に投射される。 - 特許庁
First positional information of a stage WST is measured using an interferometer system, for example, an X interferometer 126 and a Y interferometer 16.例文帳に追加
干渉計システム、例えばX干渉計126とY干渉計16とを用いてステージWSTの第1の位置情報を計測する。 - 特許庁
When a wafer stage WST is driven to a +Y direction, a slit 122 is scanned in a Y-axis direction against a space image of a measurement mark PM.例文帳に追加
ウエハステージWSTが+Y方向に駆動されると、スリット122が計測マークPMの空間像に対してY軸方向に走査される。 - 特許庁
In the encoders 50A, 50B, etc., two pieces of position information of the wafer stage WST are accurately measured since the short-term stability of the measurement values is excellent.例文帳に追加
エンコーダ50A,50B等は、計測値の短期安定性が良好であるので、ウエハステージWSTの2位置情報が精度良く計測される。 - 特許庁
Based upon measurement results thereof, calibration data for equalizing the measurement results of the X heads 66_5 and 66_0 are generated for XY positions of the stage WST.例文帳に追加
その計測結果に基づいて、ステージWSTのXY位置に対して、Xヘッド66_5,66_0の計測結果を一致させる較正データを作成する。 - 特許庁
Thus, an error caused by variation in peripheral magnetic field mainly associated with the movements both wafer stages WST1 and WST 2 can be corrected.例文帳に追加
これにより、主として両ウエハステージWST1,WST2の移動に伴う周辺磁場の変動に起因する誤差を補正することができる。 - 特許庁
A wafer stage WST for retaining a wafer W and a measurement stage MST equipped with various kinds of measuring instruments are constituted movably on a base board 12.例文帳に追加
ウェハWを保持するウェハステージWST及び各種計測機器を備える計測ステージMSTは、ベース盤12上で移動可能に構成されている。 - 特許庁
Accordingly, it is possible to maintain optical path periphery of the exposure beam in a vacuum environment, without having to provide a vacuum chamber for accommodating the wafer W, the wafer holder WH, and a wafer stage WST so that the body of the aligner as a whole can be miniaturized and also access to the vicinity of the wafer stage WST is facilitated.例文帳に追加
従って、ウエハWやウエハホルダWH、並びにウエハステージWSTを収容する真空チャンバを設けずに、露光ビームの光路周辺を真空環境に維持することが可能となり、露光装置全体の小型化を図ることができるとともに、ウエハステージWST近傍へのアクセスが容易となる。 - 特許庁
When a stage WST whereon an object is mounted is driven in an X-axis direction by a first driving mechanism, the reaction force of a driving force acts on a part of the first driving mechanism.例文帳に追加
物体が載置されるステージWSTが第1駆動機構によりX軸方向に駆動されると、その駆動力の反力が第1駆動機構の一部に作用する。 - 特許庁
The stage WST is moved along the X axis and a difference between measured values of both the heads 66_7 and 66_0 is found at each of measurement points set at predetermined intervals along the X axis.例文帳に追加
ステージWSTをX軸方向に移動させ、X軸方向に所定間隔で設定された計測点毎に、両ヘッド66_7,66_0の計測値の差分を求める。 - 特許庁
An image of a composite pattern composed of a part where the first and second patterns are overlapped is formed on a wafer W held by a wafer stage WST on the image surface.例文帳に追加
そして、第1パターンと第2パターンとの重なり部から成る合成パターンの像が、その像面にウエハステージWSTによって保持されたウエハW上に形成される。 - 特許庁
The exposure device comprises a stage WST moving in the XY plane while holding a substrate and having a reflection surface 134 intersecting the XY plane, and a measurement device 20Y'.例文帳に追加
露光装置は、基板を保持して、XY平面内で移動し、XY平面に交差する反射面134を有するステージWSTと、計測装置20Y’とを備えている。 - 特許庁
Prior to measuring the characteristics of an alignment detection system AS, a wafer holder 25 is separated temporarily from a wafer stage WST and returned onto the wafer stage (steps 132, 134).例文帳に追加
アライメント検出系ASの特性を計測するのに先立ち、ウエハホルダ25をウエハステージWSTから一旦離間させた後、ウエハステージ上に戻す(ステップ132,134)。 - 特許庁
With an object W being moved along the movement surface by driving a stage WST using a driver 11, an exposure beam irradiates the object W to transfer a specified pattern onto the object W.例文帳に追加
駆動装置11を用いてステージWSTを駆動することにより物体Wを移動面に沿って移動させつつ、露光ビームを照射して所定のパターンの転写を行う。 - 特許庁
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