「A defect rate」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a production method of a cubic crystal silicon carbide film which allows isotropic growth of a cubic crystal silicon carbide by maintaining such a growth rate as the lateral growth rate in lateral crystal growth is equivalent to the longitudinal growth rate, and allows formation of a cubic crystal silicon carbide film having a wider low defect region.例文帳に追加

横方向結晶成長における横方向成長速度が縦方向成長速度と同等の成長速度を維持することにより、等方的に立方晶炭化珪素を成長させることができ、より広い低欠陥領域を有する立方晶炭化珪素膜を形成させることのできる立方晶炭化珪素膜の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an EUV exposure mask for leaving a buffer film, in which a pattern defect of an absorbing film is corrected and a decrease in a reflection rate is prevented, and to provide a pattern forming method employing the mask.例文帳に追加

緩衝膜を残すタイプのＥＵＶ露光用マスクにおいて、吸収膜のパターン欠陥が修正され、かつ、反射率の低下が防止されたマスク、およびそのマスクを用いたパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device packaging method capable of reducing the rate of trouble generation, a semiconductor repairing method capable of easily repairing a defect of a solder junction, and a semiconductor device capable of performing these methods.例文帳に追加

不具合発生率を低減できる半導体装置の実装方法、半田接合部の不良を容易に修理することができる半導体装置のリペア方法、これら方法を実施可能とする半導体装置を提供する。 - 特許庁

As a result, any stress caused by the difference of the growth rate is reduced, and the occurrence of crystal defect because of the stress is reduced.例文帳に追加

この結果、成長速度の違いによって発生する応力を抑制することができ、この応力に起因する結晶欠陥の発生を抑制することができる。 - 特許庁

To make the simplified assembly compatible with the reduction of the defect rate for a scanning optical device which can adjust the irradiation position and the inclination of the scanning line, and also to reduce its cost.例文帳に追加

照射位置調整、走査線傾き調整を行う走査光学装置において、組立工程の簡略化と不良率の低減を両立させ、コストダウンを図る。 - 特許庁

As a result, any stress caused by the difference of the growth rate can be reduced, and the occurrence of crystal defect due to the stress can be reduced.例文帳に追加

この結果、成長速度の違いによって発生する応力を抑制することができ、この応力に起因する結晶欠陥の発生を抑制することができる。 - 特許庁

To provide a digital output device allowing improvement of an operation rate and reliability of connection/disconnection control by allowing preventive maintenance before becoming operation defect.例文帳に追加

動作不良となる前に予防保全を可能とし、接続・切断制御の信頼性および稼働率を向上させることができるデジタル出力装置を実現すること。 - 特許庁

When an optical disk is inserted, the defect is detected based on measurement results of curvature of the optical disk, intensity of reflected light from a recording surface and error rate in reproduction.例文帳に追加

光ディスクが挿入されると、光ディスクの反りと記録面からの反射光の強度と再生時のエラーレートの計測結果に基づいて欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor manufacturing system capable of preventing crystal defect by preventing particles from adhering to the surface of each of substrates, and improving its operating rate.例文帳に追加

基板の表面へのパーティクルの付着を防止して、結晶欠陥の発生を防ぐことができると共に、稼働率を高くすることができる半導体製造装置を提供する。 - 特許庁

A controller 19 makes discrimination that the servo error signal is fluctuated by a defect when the servo error signal exceeds the prescribed threshold and when the fluctuation of the error signal fluctuation rate is large.例文帳に追加

コントローラ１９は、サーボエラー信号が所定の閾値を越え、かつ、エラー信号変動速度の変動が大きい場合、サーボエラー信号がディフェクトによって変動したものであると判別する。 - 特許庁

A gas utilization factor which is a rate of gas utilized in actual electrochemical reaction of the supplied gas is calculated (step S230), an the presence of the defect is determined (step S240).例文帳に追加

そして、供給ガスのうちで実際に電気化学反応に利用されたガスの割合であるガス利用率を算出して（ステップＳ２３０）、不具合の有無を判定する（ステップＳ２４０）。 - 特許庁

To easily calculate a value as the scale of a damage or defect probability (lifetime consumption rate) by operating digitization and weighting processing in performing an RBM method.例文帳に追加

ＲＢＭ手法を行うに際して、被害の大きさや損傷確率（寿命消費率）といった値を数値化処理して重み付けを行って簡単に割り出すことができるようにする。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a magnetic recording medium, by which the magnetic recording medium wherein a magnetic layer has no application defect, and an error rate is improved by reliably preventing generation of an application stripe, can be efficiently manufactured.例文帳に追加

スレスジの発生を確実に防止して、磁性層に塗布欠陥がなく、エラーレートの改善された磁気記録媒体を効率よく製造することのできる磁気記録媒体の製造方法を提供する。 - 特許庁

In growing a silicon single crystal 15, in order to control the V/G value with high accuracy so as to yield a desired defect-free region, it is important to conduct the pulling at a constant pulling rate.例文帳に追加

シリコン単結晶１５の育成にあたって、所望の無欠陥領域が得られるようにＶ／Ｇを高精度に制御するためには、一定の引上速度で引上げを行うことが重要である。 - 特許庁

To improve an operation rate of an inspection device by setting an inspection condition, in a state where an actual inspection object does not exist, in defect inspection that uses a substrate with a pattern as the inspection object.例文帳に追加

パターン付基板を検査対象とした欠陥検査において，実際の検査対象物物が存在しない状態で、検査条件を設定することにより、検査装置の稼働率を向上させる。 - 特許庁

To provide a data erasing method of a nonvolatile semiconductor memory apparatus in which the occurrence of an infinitive loop in which erasure and write-in are repeated at the time of erasing data can be prevented and a products defect rate can be reduced.例文帳に追加

データ消去時に、消去と書き込みを繰り返す無限ループの発生を防止でき、製品不良率を低減できる不揮発性半導体記憶装置のデータ消去方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a laminated ceramic semiconductor in which the sheet attack does not occur when forming an electrode pattern layer in the surface of a green sheet, with low rate of short-circuiting defect of an electronic component.例文帳に追加

グリーンシートの表面に電極パターン層を形成する際に、シートアタックが発生せず、電子部品のショート不良率が少ない積層型セラミック電子部品の製造方法を提供すること。 - 特許庁

The defects of a plurality of steel materials are detected with the positions, and stored as defect data, and cutting specification data related with the ordering of steel materials are stored, and a yield rate is calculated by using those data, and the sets of a plurality of base materials and a plurality of orders are selected and decided by using the yield rate.例文帳に追加

複数の鋼材の欠陥を位置と共に検出して欠陥データとして記憶しておくと共に、鋼材の注文に係る切断仕様データを記憶しておき、これらデータを用いて歩留率を算出し、この歩留率を用いて複数の母材と複数の注文の組を選択決定する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus that has a high operation rate by reducing the total number of times at which highly emergent electric conduction defect is detected, while surely detecting electric conduction defect having the high possibility that it influences peripheral electronic circuits and power supply lines.例文帳に追加

周囲の電子回路や電源ラインに影響を及ぼす可能性が高い導通不良を確実に検出しつつ、緊急性の高い導通不良が検出される総回数を減らして稼働率を高められる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To prevent exhaust defect, quality defect and the corrosion of ambient equipment, to prevent the reduction of operation rate due to the exchange of the exhaust pipe and to reduce the maintenance cost by preventing clogging of an exhaust pipe, the entrainment of the air and the indoor leakage of a dehydrated process gas.例文帳に追加

排気管詰まり、大気巻き込み、脱水プロセスガスの室内漏洩が生じないようにし、排気不良、品質不良、周辺設備の腐食を防止するとともに、排気管交換による稼働率低下の防止や、補修費の低減を図る。 - 特許庁

To provide a dynamic type semiconductor memory device which is small in layout area, high in redundancy relieving rate and can secure a redundancy relieving while devising measures for a standby current defect caused by a short circuit of a bit line and a word line.例文帳に追加

ビット線とワード線のショート欠陥によるスタンバイ電流不良を対策しながら、小さなレイアウト面積で、高い冗長救済率、かつ確実な冗長救済可能にするダイナミック型半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

Based on the acknowledgment, an image defect is evaluated in a boundary between a first density region where the base fog generation rate is almost constant even when the set density is varied and a second density region where the base fog generation rate increases with increase in the set density or in a density region near the boundary in the relation between the set density and the fog generation rate.例文帳に追加

その上で、設定濃度と地かぶりの発生率との関係において、設定濃度を変化させても地かぶりの発生率が略一定で推移する第１濃度域と、設定濃度が大きくなるにつれて地かぶり発生率が高くなる第２濃度域と、の境界またはその近傍濃度域において画像欠陥を評価する。 - 特許庁

To provide a defect correction method for a colored component of a display element by an ink jet method using an inexpensive and highly versatile material by eliminating failure of correction and achieving a high correction success rate.例文帳に追加

修正の失敗をなくし、高い修正成功率を実現させる、安価で汎用性の高い材料を用いたインクジェット法による表示素子用カラー化部品の欠陥修正方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a silicon carbide single crystal by which a crystal can be continuously grown at a practical rate, the crystal having high-quality crystallinity with less defect and containing no impurity.例文帳に追加

欠陥の少ない高品質な結晶性をそなえるとともに、不純物を含まず、実用的な速度で、連続的に結晶成長を行なうこと可能とする炭化珪素単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a signal processing apparatus such as an audio signal processing apparatus capable of efficient processing even on the occurrence of a defect or a biased operating rate or load in part of signal processing processors such as a part of DSPs.例文帳に追加

一部のＤＳＰ等の信号処理プロセッサに不具合や稼働率あるいは負荷の偏りが発生したような場合にも、効率的な処理を維持できる音声信号処理装置等の信号処理装置を得ること。 - 特許庁

To provide an EUV exposure mask for leaving a buffer film, in which a pattern defect of an absorbing film is corrected and deterioration of a reflection rate is prevented, and to provide a pattern forming method employing this mask.例文帳に追加

緩衝膜を残すタイプのＥＵＶ露光用マスクにおいて、吸収膜のパターン欠陥が修正され、かつ、反射率の低下が防止されたマスク、およびそのマスクを用いたパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a microsensor that has a flat coil composed of a square or rectangular spiral coil and can obtain extremely high inductance but is easy and simple to manufacture with a minimum defect rate.例文帳に追加

正方形又は矩形状の螺旋形巻線を備えた平形コイルを有し、極めて高いインダクタンスを得ることができ、また最少の不良品発生で簡単に製造することができるマイクロセンサを提供する。 - 特許庁

To provide a rolling bearing device and a method of filling grease to the rolling bearing device capable of preventing lubrication defect at start-up by increasing a filling rate of the grease to a bearing part.例文帳に追加

軸受部へのグリースの充填率を上げることにより起動時に潤滑不良が発生するのを防止することができる転がり軸受装置及び転がり軸受装置へのグリースの充填方法を提供する。 - 特許庁

To provide a coating head in which bubbles existing in a coating liquid caused by generation of pin hole defect or the like are easily eliminated and a flow rate of the coating liquid becomes approximately uniform in a width direction of a web W, a coating device and a coating method.例文帳に追加

ピンホール欠点等を生じさせることとなる塗布液に存在する気泡を排除しやすくするとともに、塗布液の流量が、ウェブＷの幅方向において略均一になるような塗布ヘッド、塗布装置及び塗布方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device capable of optimizing scanning according to a situation/objective, reducing distortion of an image, and improving throughput, image quality and a defect detection rate by controlling deflection of a charged particle beam in a stage following method.例文帳に追加

ステージ追従方式において荷電粒子線の偏向を制御する事で、状況・目的に応じて走査を最適化し、画像の歪みを低減し、スループット，画質，欠陥検出率が向上した装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide: a dicing operation device that suppresses a defect occurrence rate in an LSI mounting step and enhances processing precision in manufacture; a semiconductor device component constituting method; and a method for recognizing a level difference formed with an object of dicing processing.例文帳に追加

ＬＳＩ実装工程における不具合発生率の抑止と製造時の加工精度を高めたダイシング作業装置と半導体装置部品構成方法、並びにダイシング処理対象物との段差認識方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of suppressing the movement of foreign substance, detecting conductive foreign substance on printed wiring at high sensitivity, and suppressing increase in a defect rate after shipping the semiconductor device.例文帳に追加

異物の移動を抑え、高感度でプリント配線上の導電性異物を検出することができ、半導体装置出荷後の不良率の増大を抑えることが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, in the each pixel 20R1, 20G1, 20B1 for R, G, B; pixel pattern density of corresponding pixel circuit become equal one another, and a pattern defect rate is reduced as a whole pixel circuit.例文帳に追加

これにより、Ｒ，Ｇ，Ｂ用の各画素２０Ｒ１，２０Ｇ１，２０Ｂ１において、対応する画素回路の画素パターン密度が互いに均等となり、画素回路全体としてのパターン欠陥率が低減する。 - 特許庁

Burn-in of the number of times of burn decided in this number of times deciding test are performed, after that, a function test is performed with the test object device unit, and a burn-in defect rate is monitored (step SP5, SP6).例文帳に追加

この回数決定テストにおいて決定されたバーンイン回数のバーンインを実施し、その後、テスト対象デバイス単位で機能テストを行なって、バーンイン不良率をモニタする（ステップＳＰ５，ＳＰ６）。 - 特許庁

To provide a device for inspecting defects that is improved in failure capture rate, and that detects flaws, with respect to mixed wafers (such as, system LSI) at high sensitivity, and moreover, that detects a wide range of defect seeds.例文帳に追加

混載ウェハ（システムＬＳＩなど）などに対して欠陥を高感度に検出し、しかも欠陥種を幅広く検出して、欠陥捕捉率を向上させた欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To prevent functional trouble as well as an operational defect of an air flow rate adjusting lever due to deposition by eliminating the deposition of dust entering through an auxiliary air duct in a suction implement for a vacuum cleaner.例文帳に追加

電気掃除機用の吸込具において、補助空気ダクトより侵入する塵埃の堆積をなくし、堆積に伴う風量調整レバーの操作不良の防止等、機能障害も防止すること。 - 特許庁

To provide a fabric for abrasive cloth capable of further flattening the surface of an object to be polished, and reducing the rate of occurrence of defect (scratch) of the surface of the object to be polished, and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

被研磨物表面をより平坦にすることが可能で、かつ被研磨物表面の欠点（スクラッチ）発生率を低減させることが可能な研磨布用布帛およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device, capable of easily restoring the disconnection defect generated in a manufacturing stage to a quality product with high success rate.例文帳に追加

製造工程において発生した断線欠陥を従来よりも高い成功率で容易に修復して良品化することができる液晶表示装置及びその欠陥修復方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a photoelectric conversion element capable of reducing the amount of defect on the front surface of a semiconductor substrate of a texture structure, and increasing an incident light amount as much as possible by suppressing an increase in reflection rate of an incident light.例文帳に追加

テクスチャ構造による半導体基板の表面欠陥量を減少でき、しかも、入射光の反射率の増加を抑制して入射光量を極力増大できる光電変換素子を提供する。 - 特許庁

To provide a highly versatile, barrel polishing technology in centrifugal barrel type barrel processing capable of providing high machining efficiency with a favorable yield and low in defect rate, irrespective of types and characteristics of constituent materials of a workpiece.例文帳に追加

遠心バレル方式のバレル加工において、ワークの構成材料の種類・特性に関わらず、不良率が低くて歩留まり良好で、高い加工効率が得られる汎用性の高いバレル研磨技術を提供する。 - 特許庁

To provide a sputtering target, when a thin film essentially consisting of titanium dioxide and having a high index of reflection is formed by DC (Direct Current) sputtering process, which solves the conventional defect that a film deposition rate is extremely slow and productivity is extremely inferior.例文帳に追加

二酸化チタンを主成分とした高屈折率の薄膜をＤＣスパッタリング法で形成する際に、従来有していた成膜速度が極めて遅く生産性が非常に悪いという欠点を解消しようとするスパッタリングターゲット。 - 特許庁

To provide a polishing pad which exhibits a stable polishing characteristic by securing good dimensional stability, and improves polishing speed and suppresses occurrence of defect caused by a polishing agent after polishing by increasing a water absorption rate.例文帳に追加

寸法安定性を良好に確保することにより安定的な研磨特性を発現しつつ、吸水率を高めることにより、研磨速度を向上し、研磨後の被研磨材でのディフェクト発生を低減した研磨パッドを提供すること。 - 特許庁

To provide an assembly method for a pair of aperture grill and glass panel, that can minimize loss by detecting a defective one before an added value is imparted and by ejecting it, can significantly reduced the defect occurrence rate, can efficiently implement the identification of a defect cause and the repair and adjustment of process, abnormality and can automate the work thereof.例文帳に追加

付加価値が付く前に不良品を検出し直ちに排出して損失を最小とするとともに不良発生率を大幅に低減しかつ不良要因の特定と工程異常の修復、調整を効率よく実施でき、またその作業を自動化するアパーチャグリル及びアパーチャグリルとガラスパネルのペア組立に関する。 - 特許庁

Just after regenerating the DPF (S1), when under an operation condition of being steady and exceeding a threshold value in the exhaust flow rate (S2), a deviation in the exhaust flow rate among the three areas is arithmetically operated (S3 and S4), and a maximum value ΔMAX among an absolute value of the deviation is compared with a defect determining level SL (S5).例文帳に追加

そして、ＤＰＦの再生直後であって（Ｓ１）、定常でかつ排気流量が閾値を超える運転条件のときに（Ｓ２）、前記３領域間での排気流量の偏差を演算し（Ｓ３，Ｓ４）、偏差の絶対値のうちの最大値ΔＭＡＸと欠陥判定レベルＳＬとを比較する（Ｓ５）。 - 特許庁

To provide a method by which a capacitor structure for suppressing the accumulation of electric charges in an upper electrode film that causes the electrostatic damage of the insulating film of an MIM capacitor structure can be manufactured, and to provide a method of manufacturing a capacitor element with a low defect rate.例文帳に追加

ＭＩＭキャパシタ構造の絶縁膜の静電破壊の原因となる上部電極膜への電荷蓄積を抑制できるキャパシタ構造の製造方法及び不良品発生率の低いキャパシタ素子の製造方法を提供する。 - 特許庁