意味 | 例文 (221件) |
A defect rateの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 221件
The defect rate may become a charge damage quantitative index.例文帳に追加
この不良率は、チャージダメージ定量の指標となり得る。 - 特許庁
To provide a defect classification device for easily predicting a defect occurrence rate, based on defect inspection results.例文帳に追加
欠陥検査結果から不良発生率を容易に予測することが可能な欠陥分類装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a defect inspection device, a defect inspection system and a defect inspection method that use defect data for analysis without lowering the number of samples of a defect with a high killer rate.例文帳に追加
キラー率が高い欠陥のサンプリング数を低下させずに欠陥データを解析に用いることが可能な欠陥検査装置、欠陥検査システム及び欠陥データ処理方法を提供する。 - 特許庁
A defect occurrence rate deriving part 22 derives the defect occurrence rate, based on the times of defect detection obtained by the defect identification determining part 21 with referring to the database 24.例文帳に追加
不良発生率導出部22は、データベース24を参照して、欠陥同一判定部21によって求められた欠陥検出回数から不良発生率を導出する。 - 特許庁
To reduce the occurrence of a timing defective chip, to a rate lower than a prescribed market defect rate required.例文帳に追加
タイミング不良チップの発生を要求される所定の市場不良率よりも低くする。 - 特許庁
An occurrence rate calculation part 114 calculates a defect occurrence rate as the detection frequency of the defect per unit operation amount.例文帳に追加
発生率算出部114は、単位稼動量あたりの不具合の検知回数として不具合発生率を算出する。 - 特許庁
To reproduce data of a high bit rate in a real time even if defect exists in a disk.例文帳に追加
ディスクに欠陥があっても、高ビットレートのデータを、リアルタイムで再生する。 - 特許庁
Case3-2-6 Example of a company that made product return rules including a defect rate例文帳に追加
事例3-2-6 不良率を加味した返品ルールを作ることができた例 - 経済産業省
Then, a good/bad map data read step 14 is executed, and in a fatal defect rate calculation step 15, the defect map data and the good/bad map data are checked to calculate a fatal defect rate in the defect map data.例文帳に追加
次に,良品・不良品マップデータ読込みステップ14を行い,致命率計算ステップ15で,欠陥マップデータと良品・不良品マップデータを照合して,欠陥マップデータの致命率を計算する。 - 特許庁
Furthermore, in a fatal defect rate output step 16, the calculation result is outputted.例文帳に追加
さらに,致命率出力ステップ16で計算結果を出力する。 - 特許庁
Data of leak current values are totaled for the entire wafer, and a degree of a defect for the entire wafer is calculated as a defect rate.例文帳に追加
リーク電流値のデータをウェハ全体で集計し、ウェハ全体の不良の度合いを不良率として算出する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing an electric power steering device capable of lowering a defect rate.例文帳に追加
不良率を低くできる電動パワーステアリング装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
A generation rate of a junction defect can be reduced by the load stabilization.例文帳に追加
この荷重安定化によって接合不良の発生率を低減することが可能となる。 - 特許庁
To provide a crown cap having a little defect generation rate such as bias capping at capping a glass bottle.例文帳に追加
ガラス瓶へ打栓するときに、斜め打栓などの不良発生率が少ない王冠を提供する。 - 特許庁
A comparison part compares the defect occurrence rate and the reference value in timing wherein the defect is detected by the detection part 110.例文帳に追加
比較部は、検知部110により不具合が検知されたタイミングで、不具合発生率と基準値とを比較する。 - 特許庁
A detection rate is calculated in every of the defects based on whether the same defect is detected in a plurality of differential images or not, based on a result in a process for detecting the defect on a surface of the silicon wafer, and the shape of the defect is identified in the every defect on the surface of the silicon wafer, according to the detection rate.例文帳に追加
シリコンウエハ表面上の欠陥を検出する工程の結果から、同一の欠陥が複数の差分画像から検出されたかにより欠陥毎に検出率を算出し、前記検出率に従って前記シリコンウエハ表面上の欠陥毎に該欠陥の形状を識別する。 - 特許庁
To reduce defect rate, when a resin layer is formed to manufacture an active matrix substrate with the resin layer.例文帳に追加
樹脂層付アクティブマトリクス基板への樹脂層形成時の不良率を低減する。 - 特許庁
To provide a defect detection device for an optically transparent film, improving a detection rate and a detection efficiency of a defect of the optically transparent film, and suppressing erroneous detection of a defect.例文帳に追加
光透過性フィルムの欠陥の検出率及び検査効率を向上すると共に、欠陥の誤検出を抑制することができる光透過性フィルムの欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁
A state plane including the defect ratio and the covering rate is set in an evaluation arithmetic means 4, and the quality of the inspection target is specified as a coordinate point on the basis of the defect rate and the covering rate after the measurement.例文帳に追加
そして、評価演算手段4において、不良比率と網羅率を含む状態平面を設定し、計測後の不良率及び網羅率に基づき検査対象の品質を座標点として特定する。 - 特許庁
Consequently, the ball is prevented from falling to greatly lower the occurrence rate of a mounting defect.例文帳に追加
これによりボール落ちを防止できるので、実装不良の発生率を大幅に低減できる。 - 特許庁
According to the present invention, dry etching is performed on the condition that the etching rate of Si is higher than that of SiO_2, a crystal defect is actualized as a protrusion (convex defect), and a defect caused by processing is actualized as a pit (concave defect).例文帳に追加
本発明によれば、SiO_2よりもSiのエッチング速度が大きい条件でドライエッチングを施していることから、結晶欠陥については突起(凸型の欠陥)として顕在化し、加工起因欠陥についてはピット(凹型の欠陥)として顕在化する。 - 特許庁
This allows to change allocation of a worker with reduced defect discovery rate according to the report, and prevents reduction of the defect discovery rate resulting from contiguous tests regarding a same testing item by the worker with reduced defect discovery rate.例文帳に追加
したがって報知に基づいて、不具合の発見率が低下した作業者の割当てを変更することが可能であり、作業者が、処理速度が低下しているにもかかわらず、同一試験項目の試験を継続して行い、不具合の発見率が低下してしまうことを防止することができる。 - 特許庁
To provide a printed wiring board manufacturing method capable of raising electric test yield since the generation rate is reduced in an open defect and a short-circuiting defect.例文帳に追加
オープン不良及びショート不良の発生率が低くなるため、電気検査歩留まりを向上できるプリント配線基板の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a temper rolling method which can reduce a length of a stretch rate defect portion by making a stretch rate of a following steel sheet reach a set stretch rate in a short period of time after a welding point of a precedent steel sheet and the following steel sheet passes through a mill.例文帳に追加
先行鋼板と後行鋼板の溶接点通過後に、後行鋼板の伸び率を設定伸び率まで短時間で到達させて、伸び率不良部の長さを低減することが可能な調質圧延方法を提供する。 - 特許庁
Successively, a defective recognition object is estimated based on pars/fail condition of adjacency of a defect rate condition and a defective recognition object (ST6), a defect rate of residual degeneration FBM is calculated and standardized (ST7).例文帳に追加
続いて不良率条件と認識対象不良の隣接の可否条件に基づいて認識対象不良を推定し(ST6)、残りの縮退FBMについての不良率を計算して規格化する(ST7)。 - 特許庁
To realize high etching rate while suppressing generation of a defect in a protective film being formed in an etching portion.例文帳に追加
エッチング部に形成される保護膜における欠陥の発生を抑制するとともに、高いエッチングレートを実現する。 - 特許庁
To enhance the yield of a recording head by lowering the failure rate thereof caused by the defect in a logical circuit.例文帳に追加
論理回路における欠陥が原因となる記録ヘッドの不良率を低下させて歩留りを向上させる。 - 特許庁
To reduce a defect rate in treatment by a dry ice blasting device, to improve quality of a treated object, and to realize an unmanned automatic device.例文帳に追加
ドライアイスブラスト装置の処理不良率の低減,処理品の品質改善とともに、自動装置の無人化を図る。 - 特許庁
To provide a process for producing a semiconductor device capable of forming fine patterns and reducing the occurrence rate of a resolution defect.例文帳に追加
微細なパタンが形成でき、解像不良の発生率を現象できる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a technology that improves a substantial sensitivity by suppressing a misreport, while keeping the entire defect capture rate at a high rate in an appearance inspection.例文帳に追加
外観検査において、全体の欠陥捕捉率を高く維持しながら虚報を抑制することにより実質感度を向上する技術を提供することにある。 - 特許庁
To remove a defect from a photomask by using an electron beam and to realize a finishing shape having no edge roughness at a high etching rate.例文帳に追加
フォトマスクの欠陥を電子ビームを用いて除去し、かつエッジラフネスのない仕上がり形状を速いエッチングレートで実現する。 - 特許庁
To provide a defect inspection device capable of detecting with high sensitivity the defects in a mixed mount wafer (system LSI, or the like), capable of detecting widely a defect species, and capable of enhancing a defect capturing rate, and to provide a method therefor.例文帳に追加
混載ウェハ(システムLSIなど)などに対して欠陥を高感度に検出し、しかも欠陥種を幅広く検出して、欠陥捕捉率を向上することができるようにした欠陥検査装置及びその方法を提供することにある。 - 特許庁
At this time, the semiconductor device 3a has a defect, so the activity rate of impurities is improved.例文帳に追加
このとき半導体層3aには欠陥が生じているため不純物の活性化率は向上する。 - 特許庁
To provide a test method and a test circuit, which can improve a failure detection rate for a delayed failure or a defect caused by a short circuit across signal lines.例文帳に追加
試験方法及び試験回路に関し、信号線間のショートによる不良又は遅延故障に対する故障検出率を向上させる。 - 特許庁
To provide manufacturing methods for a glass substrate for an electronic device and a mask blank with which no fine uneven surface defect occurs on a substrate surface or a failure rate is low, and a manufacturing method for a transfer mask free from a phase defect or a pattern defect caused by the fine uneven surface defect on the substrate surface.例文帳に追加
基板表面に微小な凸状、凹状の表面欠陥が発生しないか又は発生率の低い電子デバイス用ガラス基板及びマスクブランクスの製造方法、並びに基板表面に微小な凸状、凹状の表面欠陥が起因する位相欠陥やパターン欠陥のない転写マスクの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a semiconductor device, for reducing a defect occurrence rate in chip division and improving an yield.例文帳に追加
チップ分割時の不良発生率が低減され、歩留まりの向上が図られた半導体デバイスの製造方法を提供する - 特許庁
Then a defect rate of residual degenerartion FBM is collated with a defective shape discrimination rule, and a defective shape is specified.例文帳に追加
そして、残りの縮退FBMについての不良率を不良形状判定ルールと照合して不良形状を特定する。 - 特許庁
To reduce a defect rate after drying without severely restricting the temperature control of a heater in a drying process regardless of panel sizes.例文帳に追加
パネルサイズ如何によらず、乾燥工程におけるヒータの温度管理をシビアにすることなく乾燥後の不良率を低下させる。 - 特許庁
To reduce a rate of defective article generation caused by a focusing defect by improving adjustment accuracy and enabling rework.例文帳に追加
調整精度を高めると共に、リワークを可能にして、フォーカス調整不良による不良品発生率を低減する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a silicon single crystal, by which the silicon single crystal having a defect-free region can be manufactured in a good yield; and to provide the silicon single crystal in which the defect-free region exists in a high rate.例文帳に追加
無欠陥領域を有するシリコン単結晶を歩留まりよく製造できるシリコン単結晶の製造方法および無欠陥領域が高い割合で存在するシリコン単結晶を実現する。 - 特許庁
To efficiently perform the repairing work in the repairing of a dot defect and a line defect of liquid crystal panel with a laser beam, and also to improve the yield by enhancing the success rate of the repairing.例文帳に追加
液晶パネルの点欠陥や線欠陥のレーザ光によるリペアにおいて、リペア作業を効率良く行うことができ、かつリペア成功率を高めて歩留まりを向上させる。 - 特許庁
After a defect map data read step 11 and a failure rate distribution data read step 12 are executed, non-fatal defects are removed in a defect map data filtering step 13 by using these data.例文帳に追加
欠陥マップデータ読込みステップ11,不良発生率分布データ読込みステップ12を行い,これらデータを用いて欠陥マップデータのフィルタリングステップ13で,非致命欠陥を除外する。 - 特許庁
To achieve high efficient defect inspection with a high defect capture rate in a surface defect inspection device for a wafer and the like by enabling detection of forward scattered light with high sensitivity and at the same time enabling detection of specularly reflected light with high sensitivity.例文帳に追加
ウエーハ等の表面欠陥検査装置において、前方散乱光を高感度で検出し、正反射光をも同時に高感度検出可能とすることで、欠陥捕捉率の高い高効率の欠陥検査を実現。 - 特許庁
When a track having a defect is detected in the certification of a normal skipping system, operation is switched to scanning having a skipping rate lower than the normal skipping rate in an area in the vicinity thereof.例文帳に追加
通常の飛ばし方式サーティファイで欠陥が存在するトラックを検出したとき、その近傍領域で通常の飛ばし率よりも飛ばし率を下げた走査に切り替える。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a silicon single crystal by a CZ method for stably manufacturing a crystal with high yield and a higher collection rate of a defect-free portion.例文帳に追加
CZ法によるシリコン単結晶の製造において、歩留まりよく安定して、無欠陥部分の採取率をより高くできる製造方法の提供する。 - 特許庁
To provide a polishing pad having both of excellent flattening ability and improved defect rate performance, in particular a polishing pad suitable for polishing oxide/SiN in improved combination of flattening and defect rate polishing performance.例文帳に追加
優れた平坦化能力を改善された欠陥率性能と併せ持つさらなる研磨パッド、特に、平坦化と欠陥率研磨性能との改善された組み合わせで酸化物/SiNを研磨するのに適した研磨パッドを提供する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a card with built-in electronic component reducing defect rate with a simple process.例文帳に追加
本発明の課題は、簡便工程による、かつ、不良率を低減させる電子部品内蔵カードの製造方法を提供することである。 - 特許庁
To observe a defect efficiently in a short time without lowering a detection rate by improving a processing procedure of detect detection or the like so that a reutilization rate of a recorded reference image is raised, when inspecting in detail by enlarging a defect portion or the like.例文帳に追加
欠陥部分を拡大するなどして詳細に検査するときに、記録した参照画像の再利用率があがるように欠陥検出の処理手順などを改良することで、検出率を下げずに短時間に効率よく欠陥を観察することができるようにする。 - 特許庁
To provide a data storage medium attaining high recording density and a high data transfer rate by solving a defect of a conventional technique and to provide a method for forming thereof.例文帳に追加
従来技術の欠点を解決し、高記録密度と高データ転送レートとを実現させるデータ蓄積媒体とその形成方法を提供する。 - 特許庁
意味 | 例文 (221件) |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|