「protection device test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A test device 1_M is provided on the main protection device 2 side and a test device 1_S is provided on the terminal device 3 side.例文帳に追加

試験装置１_Mは、主保護装置２側に設置され、試験装置１_Sは、端末装置３側に設置される。 - 特許庁

PROBE FOR CONTINUITY TEST FOR PROTECTION GROUND TERMINAL EQUIPPED ON ELECTRICAL DEVICE例文帳に追加

電気機器が備える保護接地端子のための導通試験用プローブ - 特許庁

DEVICE WITH OVERVOLTAGE PROTECTION FUNCTION AND METHOD FOR TEST OF THE SAME例文帳に追加

過電圧保護機能を備えたデバイス及びその試験のための方法 - 特許庁

To provide a testing device for a signal protection system which can improve a test efficiency at a test of the signal protection system.例文帳に追加

信号保安システムの試験において試験効率を向上させることができる信号保安システムの試験装置を得ることである。 - 特許庁

To provide a test terminal and a test method capable of easily testing a circuit or operation of a protection relay device.例文帳に追加

保護継電装置の回路や動作の試験を容易に実施できる試験端子と試験方法を提供すること。 - 特許庁

INPUT/OUTPUT TRANSFORMER, TEST METHOD OF POWER PROTECTION CONTROL DEVICE, AND ELECTRICAL QUANTITY INPUT/OUTPUT METHOD OF POWER PROTECTION CONTROL DEVICE例文帳に追加

入出力変成器、電力用保護制御装置の試験方法、並びに電力用保護制御装置の電気量入出力方法。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING TEST FUNCTION, CHARGING/ DISCHARGING PROTECTION CIRCUIT, BATTERY PACK COMPRISING THE CHARGING/DISCHARGING PROTECTION CIRCUIT, ELECTRONIC DEVICE UTILIZING THE BATTERY PACK例文帳に追加

テスト機能を有する半導体装置、充放電保護回路、該充放電保護回路を組み込んだバッテリーパック、該バッテリーパックを用いた電子機器 - 特許庁

EXCESS CURRENT PROTECTION CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE COMPRISING THE SAME, AND METHOD FOR OPERATION TEST THEREOF例文帳に追加

過電流保護回路、過電流保護回路を備える半導体装置及び過電流保護回路の動作テストの方法 - 特許庁

To test by a few operators coping with the field, and to test efficiently, accurately and quickly by operating a test terminal by a single operator, when performing an operation test of a comparison protection relay device represented by a transmission line differential current type protection relay device installed in an adjacent power station.例文帳に追加

隣接する電気所に設置される送電線差動電流式保護継電装置代表される比較保護継電装置の動作試験をするにあたり、少ない現場対応要員で試験可能であり、試験端末を一人で操作することにより、試験が効率的に、正確に、迅速に行うことができること。 - 特許庁

In a counter test (temporal characteristic test) of a relay using the test devices 1_M and 1_S, the concurrent fault input is transmitted from the trigger IN to the main protection device 2 and the terminal device 3 via the optical fiber cable 4 as a transmission system.例文帳に追加

試験装置１_M、１_Sを用いてリレーの対向試験（時間特性試験）を行なう場合、トリガＩＮから同時故障入力を、伝送系の光ファイバーケーブル４を介して主保護装置２と端末装置３に送信する。 - 特許庁

Then, the main protection device 2 and the terminal device 3 simultaneously output and supply a signal of a trigger OUT to the test devices 1_M and 1_S as a state change signal.例文帳に追加

すると、主保護装置２と端末装置３は、試験装置１_M，１_Sに対してトリガＯＵＴの信号を同時出力し、状変信号として供給する。 - 特許庁

To totally test a protection circuit by electrifying a main circuit of electric equipment with the current from a temporary power source device.例文帳に追加

仮設電源装置により電気設備の主回路に電流を通電し、保護回路を総合的に試験できるようにすることである。 - 特許庁

Withstand voltage testing device, electrical measuring instrument, thermostatic bath, temperature testing device, steel-ball drop testing device, water resistance testing device, impact testing machine, ingress protection rating device, explosion testing device, gas concentration measuring instrument, hydrostatic pressure testing device, constraint testing device, airtightness testing device, internal pressure testing device, spark-ignition testing device, combustion test device, and dust resistance testing device 例文帳に追加

耐電圧試験装置、電気計測器、恒温槽、温度試験装置、鋼球落下試験装置、耐水試験装置、衝撃試験機、保護等級試験装置、爆発試験装置、ガス濃度計測器、水圧試験装置、拘束試験装置、気密試験装置、内圧試験装置、火花点火試験装置、発火試験装置及び防じん試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To efficiently test a reproduction only medium that is designed for reproduction in a reproducing device and has a copy protection function such as a CSS.例文帳に追加

ＣＳＳ等のコピープロテクション機能を備えた再生装置で再生されることを前提にした再生専用媒体を効率よく検査する。 - 特許庁

To provide an electrostatic protection circuit device for protecting an internal element having a high breakdown voltage from the overcurrent noise of an ESD and overcurrent noise in a latch-up test.例文帳に追加

高耐圧の内部素子をＥＳＤの過電流ノイズとラッチアップ試験の過電流ノイズから保護する静電保護回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing protection of a power receiving and distributing facility system which can safely and efficiently test various electrical device of a power receiving and distributing facility.例文帳に追加

受配電設備の各種電気機器を安全で効率的に行える受配電設備系統保護試験装置を提供することである。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit device having an ability of ESD protection satisfying the specification of surge test in correspondence with miniaturization of process.例文帳に追加

プロセスの微細化に対応して、サージ試験の規格を満たすＥＳＤ保護能力を有する半導体集積回路を得られるようにする。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit device which has such an ESD (electro-static discharge) protection capability as to satisfy specifications of a surge test according to the subdivision of a process.例文帳に追加

プロセスの微細化に対応して、サージ試験の規格を満たすＥＳＤ保護能力を有する半導体集積回路装置を得られるようにする。 - 特許庁

When this device is set at a specific use fire protection target, a test number attached to a fire item whose type approval effectiveness is lost is stored, and a prescribed test number is inputted, and the inputted test number is collated with the stored test number, and the collated result is outputted.例文帳に追加

特定用途防火対象物に設置されると、型式承認の効力を失う消防用品に付与されている検定番号を記憶し、所定の検定番号を入力し、この入力された検定番号と、上記記憶している検定番号とを照合し、この照合した照合結果を出力する。 - 特許庁

This device sets a test condition of a signal protection system by a test condition setting means 9 of a display operation part 7 and the set testing condition is input to an instrument status simulation means 11 of a site simulation part 8 to simulate a status of a site instrument 2 based on the test condition.例文帳に追加

表示操作部７の試験条件設定手段９で信号保安システムの試験条件を設定し、その設定された試験条件は現場模擬部８の機器状態模擬手段１１に入力され、ここで、その試験条件に基づいて現場機器２の状態が模擬される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of preventing erroneous inputting of a test mode for use on a user side and improving a security protection of a program without restricting use and without the need for a special purpose test terminal, and to provide its method.例文帳に追加

ユーザ側で使用時に誤ってテストモードに入ってしまうことを防止でき、専用のテスト端子を必要とせず使用上の制約がなくなり、プログラムの機密保持性の向上が図れる半導体装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

By sharing a guard ring of an ESD protective element, and a cathode of a latch-up protection diode for protecting from the overcurrent noise in a latch-up test, an internal circuit is protected from both the overcurrent noise of an ESD and the overcurrent noise in a latch-up test, and the size of the electrostatic protection circuit device can be reduced.例文帳に追加

ＥＳＤ保護素子のガードリングとラッチアップ試験の過電流ノイズから保護するラッチアップ保護ダイオードのカソードを共有することにより、ＥＳＤの過電流ノイズとラッチアップ試験の過電流ノイズの両方のノイズから、内部回路を保護しつつ、静電保護回路装置のサイズ縮小を図ることができる。 - 特許庁

The memory chip of a semiconductor device, especially a DRAM, etc., has a region 15 where a protection film 8 (a first insulation layer) is removed for tests (electrical characteristics test such as a function test), the fine control of characteristics (such as salvation of a fuse), and corrections, etc.例文帳に追加

メモリチップ、特にＤＲＡＭなどの半導体装置であって、検査（機能テスト等の電気的特性検査）や特性微調整（ヒューズ救済等）・修正等の目的のために保護膜８（第１の絶縁層）を除去した領域１５を有する。 - 特許庁

Thus, the wrong set of the test mode during user's normal use can be prevented, and stability of the operation of the device and improvement in the security protection of the user program can be realized.例文帳に追加

これによって、ユーザが通常の使用中に誤ってテストモードに入ることを防止でき、半導体装置の動作の安定性及びユーザプログラムの機密保持性の向上を実現できる。 - 特許庁

To provide a protection device repeatedly absorbing striking energy of shock waves from an explosion source a plurality of times and also reducing the facility cost, and a combustion test facility.例文帳に追加

爆発源からの衝撃波の衝撃エネルギーを複数回繰り返して吸収することができ、さらに設備コストを低減することが可能な防護装置及び燃焼試験設備を提供する。 - 特許庁

To provide a device with an overvoltage protection function and a test method of a high voltage system to which a surge arrester is connected capable of preventing damage of the surge arrester when testing the high voltage system.例文帳に追加

サージ・アレスタが接続された高電圧システムの試験時に、サージ・アレスタの損傷を防止できる課電圧保護機能を備えたデバイス及び高電圧システムの試験方法を提供する。 - 特許庁

The write-protection device stores test data in a first register, causes the processor to write the test data read from the first register into a second register, and permits the processor to write data into a third register after a data determination means compares the test data in the first register and the data in the second register to find their matching.例文帳に追加

本発明では、試験データを第１のレジスタに記憶し、プロセッサが第１のレジスタから読み出した試験データを第２のレジスタに書き込み、データ判定手段が第１のレジスタの試験データと第２のレジスタのデータとを比較して一致した時に、プロセッサのデータが第３のレジスタへ書き込み許可される書き込み保護装置を用いる。 - 特許庁

To certainly verify soundness of a logic integrated circuit for confirmation in short time by comprehensively performing verification and a soundness confirmation test to all functions of a safety protection measuring device of a plant.例文帳に追加

プラントの安全保護計測装置の全機能に対し総合的に検証および健全性確認試験を行うことにより、試験対象の論理集積回路の健全性を短時間で確実に検証する。 - 特許庁

The test terminal mounted on the control voltage application side of a power facility such as the protection relay device is equipped with a display means for lighting by a current flowing between itself and the earth when applying a control voltage.例文帳に追加

保護継電装置などの電力設備の制御電圧加圧側に装着される試験端子であって、制御電圧加圧時にアースとの間で流れる電流によって点灯する表示手段を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein a test voltage of a gate withstand voltage is not restricted by a clamping voltage of a protection element, without having to enlarge chip size to the utmost, and to provide its testing method.例文帳に追加

本発明の課題は、極力、チップサイズを大きくすることなく、ゲート耐圧のテスト電圧が保護素子のクランプ電圧の制約を受けることのない半導体装置およびそのテスト方法を提供することである。 - 特許庁

To provide an individual identification device wherein a protection plate provided before an imaging means in an advance direction of light transmitted through a test subject such that dirt or dust does not come into the imaging means from the outside is not used as it is dirty.例文帳に追加

撮像手段に外部からゴミやホコリが入らないように被検体を透過した光の進む方向に向かって撮像手段の手前に設けられた保護板が汚れたままでは使用されない個人識別装置を提供する。 - 特許庁

Thereto, other barriers are constituted so as to give crack stop protection, to be electrically connected to a monitoring device and so as to test the capacitance/resistance of the barrier structure to show the complete states of the barriers to a user.例文帳に追加

さらに他のバリアは、クラックストップ保護を与えるよう構成され、モニタ・デバイスへの電気的接続を可能にして、バリアの完全性の状態をユーザへ示すバリア構造のキャパシタンスおよび／または抵抗をテストするよう構成される。 - 特許庁

To provide a differential protection device comprising a differential current measuring means, processing means connected to the measuring means and including an operation ratio selecting means and time delay selecting means for selecting a trip curve, operation means, and test means connected to the measuring means, wherein the electric power consumption of the test means is made optimum.例文帳に追加

差動電流測定手段と、上記測定手段へと接続され、トリップ曲線を選択するために動作比率選択手段および時間遅延選択手段を備える処理手段、作動手段、および上記測定手段へと接続されたテスト手段を備える差動保護装置において、上記テスト手段の電力消費を最適にする。 - 特許庁

To provide a polarizer protection film which does not cause cracking even when a deformation stress due to a polarizer is applied, and has excellent durability, to provide a polarizing plate which does not cause cracking after a durability test and has excellent durability and to provide a liquid crystal display device having high durability.例文帳に追加

偏光子による変形応力がかかっても、クラックの発生しない耐久性に優れた偏光子保護フィルム、耐久試験後にクラックの発生しない高い耐久性を有する偏光板及び高い耐久性を有する液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

Then, the mounting test evaluation device 1 can properly discriminate whether the integrated circuit 17 and the plurality of the signal lines 2-1 to 2-n are connected or not when the integrated circuit 17 is provided with prescribed electrostatic protection circuits 32-1 to 32-m.例文帳に追加

このとき、本発明による実装試験評価装置１は、集積回路１７が所定の静電保護回路３２−１〜３２−ｍを備えているときに、集積回路１７と複数の信号線２−１〜２−ｎとが接続されているかどうかをより適切に判別することができる。 - 特許庁

To realize a protection circuit that does not simultaneously input a set signal and a reset signal to a set-reset flip-flop circuit and to realize a pulse generating circuit that can simultaneously generate an ON signal and an OFF signal for a test in a semiconductor device that realizes a drive circuit for a power device where malfunction due to a dv/dt transient signal is prevented.例文帳に追加

ｄｖ／ｄｔ過渡信号による誤動作を防止したパワーデバイスの駆動回路を実現する半導体装置において、セットリセットフリップフロップ回路へのセット信号およびリセット信号を同時に入力させない保護回路と、試験用にオン信号とオフ信号とを同時に発生させることのできるパルス発生回路とを実現する。 - 特許庁

To provide a television set, having a microcomputer controlling various functions of the television set, an on-screen generation circuit generating characters and marks on a screen, and a video signal processing circuit adjusting the brightness of the screen, with a test mode for checking whether or not a malfunction occurs in a protection circuit without changing an electric circuit or requiring a specific device.例文帳に追加

テレビジョン受像機の各種機能を制御するマイクロコンピュータと、画面上に文字や記号を発生させるオンスクリーン発生回路と、画面の明るさを調整する映像信号処理回路とを有すテレビジョン受像機であって、電気回路を変更することなく、また特別の装置を要すことなく保護回路が誤動作するか否かをチェックする為のテストモードを備えたテレビジョン受像機の提供。 - 特許庁

The manufacturing method of the semiconductor device comprises a step of forming, on the substrate 100 on which the circuit is formed, the electrode pad 200 having a protrusion part 201 connected to the circuit and protruded from the protection insulation film 300, a step of performing an operation test by contacting a probe terminal 500 with the electrode pad 200, and a step of polishing at least a surface of the protrusion part 201.例文帳に追加

また、このような半導体装置の製造方法は、回路が形成された基板１００上に、この回路に接続し、かつ、保護絶縁膜３００から突出した突出部２０１を有する電極パッド２００を形成する工程と、プローブ端子５００を電極パッド２００に接触させることにより、回路の動作テストを行う工程と、突出部２０１の少なくとも表面を研磨する工程と、有する。 - 特許庁