「probe insulation」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SOUND INSULATION BOX AND PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

防音ボックスおよびそれを用いたプローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE DRAWING DEVICE, METHOD, AND INSULATION CHARACTERISTICS EVALUATION DEVICE例文帳に追加

探針描画装置および方法および絶縁特性評価装置 - 特許庁

INSULATION RESISTANCE MEASURING DEVICE AND PROBE STORAGE DEVICE CAPABLE OF MOUNTING ON THE INSULATION RESISTANCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

絶縁抵抗測定器および絶縁抵抗測定器に装着可能なプローブ収納装置 - 特許庁

The touch probe 2 is embedded in the insulation part 1, or printed on the surface of the insulation part 1.例文帳に追加

タッチプローブ２は、絶縁部１に埋設されているか、あるいは、絶縁部１の表面にプリントされている - 特許庁

An insulation-coated probe pin 10 comprises a conductive probe pin 11, and insulation coating 12 which coats the circumference except for exposed parts around the detection end.例文帳に追加

絶縁被覆プローブピン１０は、導電体のプローブピン１１と、その検出端側の部分が露出するように外周を被覆する絶縁被覆１２とを備える。 - 特許庁

The probe 4 is constituted of a conductive probe 7 made of a carbonaceous material and an insulation film 8 that covers the surrounding of the conductive probe 7.例文帳に追加

探針部４は、炭素系材料からなる導電性探針７と、導電性探針７の周囲を被覆した絶縁膜８とで構成されている。 - 特許庁

This coil insulation inspecting device 100 is provided with an instrument 3 and a probe pin 7.例文帳に追加

コイル絶縁検査装置１００は，計測器３と，プローブピン７とを備えている。 - 特許庁

To avoid contact between exposed parts around the detection end of an insulation-coated probe pin.例文帳に追加

絶縁被覆プローブピンの検出端側の露出した部分同士が接触しにくくする。 - 特許庁

To provide an insulation coated probe pin in which no current leakage is generated, when the tip of the probe pin is in contact, and to provide a method for producing the insulation coated probe pin by which the workability is not lowered, and which does not use organic solvents or special chemicals.例文帳に追加

プローブ針先端部が接触しても通電リークが発生しないプローブ針を提供すること、および作業性が低下せず、有機溶剤や特殊な薬品を使用しない絶縁被覆プローブ針の製造方法を提供する。 - 特許庁

An insulation film 3 is set on the outer circular face of the probe pin 1, excluding an tip face 4 of the probe pin for contacting an electric pad of an integration circuit.例文帳に追加

集積回路の電極パッドと接触するプローブ針先端面４を除いたプローブ針１の外周面に絶縁皮膜３を設ける。 - 特許庁

In a probe unit 13, a plurality of probe pins 14 are fixed with insulation mold 15 in the state that position of each probe pin 14 is controlled to keep relative positions of those probe pins 14 invariable.例文帳に追加

本発明に係るプローブユニット１３においては、プローブピン１４同士の位置調整がされた状態で、複数のプローブピン１４が絶縁性モールド１５で固定されており、それらプローブピン１４同士の相対位置が変わらないようになっている。 - 特許庁

The probe package structure of a probe card comprises electrodes for coupling probes on an electric circuit board, each probe is exposed at the other end, to inspect pads of a chip in a wafer and wrapped with an insulation layer and a metal wrapping layer, and the insulation layer wraps the outside of each probe and the metal wrapping layer wraps the outside of the insulation layer.例文帳に追加

電気回路基板にそれぞれプローブを結合する電極を設け、前記のプローブ同士の他端が露出され、ウェハーにおけるチップのパッドを検査出来、それらのプローブ同士にそれぞれ絶縁層と金属包み層が包まれ、前記絶縁層が前記プローブ同士の外部に包まれると共に、前記金属包み層が前記絶縁層の外部に包まれる、プローブカードのプローブ包み構造。 - 特許庁

To provide a probe drawing device or an insulation characteristics evaluation device capable of controlling a current at a high speed.例文帳に追加

電流を高速に制御できる探針描画装置あるいは絶縁特性評価装置を提供すること。 - 特許庁

This high frequency probe device comprises the probe that is formed of the thin-sheet-like composite having a base metal and an insulation layer formed on the base metal, and has a contact point with the micro-strip line structure formed on the insulation layer and a signal line, and a mounting unit 20 to which the probe can be mounted removably.例文帳に追加

ベースメタル及び該ベースメタル上に形成された絶縁層を備える薄板状の複合材から成り、前記絶縁層上に形成されたマイクロストリップライン構造の接触点及び信号線を備えるプローブと、該プローブが着脱可能に取付けられる取付ユニット２０とを有する。 - 特許庁

This probe device comprises an insulation type main body 12, at least one support 20 mounted on the insulation type body 12, the probe 26 mounted on an approximately center of the base 20, and a conductive wire mounted in the insulation type body 12 and electrically connected with the support 20.例文帳に追加

絶縁型本体１２、絶縁型本体１２内に配されている少なくとも１つの支持体２０、支持体２０の略中心に配されているプローブ２６、および絶縁型本体１２内に配され、支持体２０に電気的に接続されている導線を備えているプローブ・デバイス１０。 - 特許庁

This probe assembly for a probe card consists of the support body joined to the printed board, the plurality of probes joined to the support body, and a first insulation resin body for fixing the probes to the support body.例文帳に追加

プリント基板に結合される支持体と、支持体に結合される複数のプローブと、プローブを支持体に固定するための第１絶縁樹脂体とから構成される。 - 特許庁

The inspection device of the capacitive touch panel 50 includes an inspection part 3 provided with a touch probe 2 on an insulation part 1 as a base, where the surface of the insulation part 1 and a contact part of the touch probe 2 are formed on the same level.例文帳に追加

静電容量式タッチパネル５０の検査装置であって、ベースとなる絶縁部１にタッチプローブ２を設けた検査部３を備え、絶縁部１の表面とタッチプローブ２の接触部とが同一レベルに形成されている。 - 特許庁

The insulation metal spring w, extending from the stopper part 4 to the tip plated part 7, is set as a probe part 2, and the insulation metal spring w in the rear side of the stopper part 4 is set as a lead wire part 3, so as to form this contact probe 1 with the lead wire.例文帳に追加

ストッパー部４から先端めっき加工部７までの絶縁金属ばね線ｗをプローブ部２とし、またストッパー部４以降の絶縁金属ばね線ｗをリード線部３としてリード線付きコンタクトプローブ１とする。 - 特許庁

The probe card is provided with a lot of probe needles 2 of cantilever structure on the substrate 1 in which a middle point of each probe needle 2 coated with insulation tube is buried in the integrated conductive member 6 connected with the earth wiring 8 on the substrate 1.例文帳に追加

カンチレバー構造のプローブ針２を基板１上に多数備えたプローブカードであって、絶縁チューブで被覆した各プローブ針２の中間部を、基板１上の接地配線８に接続した一体状の導電材６に埋め込んだ。 - 特許庁

The insulation resistance measuring device 1 of this invention comprises: a measuring device main body 2; a measuring probe 3 extending from the measuring device main body 2; and a probe 4 for grounding extending from the measuring device main body 2.例文帳に追加

本発明の絶縁抵抗測定器１は、測定器本体２と、測定器本体２から延びる測定用プローブ３と、測定器本体２から延びる接地用プローブ４とを備える。 - 特許庁

To eliminate the risk of determining poor contact of a probe as good insulation by improving a technology for measuring the electric resistance by touching the probe to the pad (terminal) of a small electronic device.例文帳に追加

小形電子デバイスのパッド（端子）にプローブを接触させて電気抵抗を測定する技術を改良し、プローブの接触不良を絶縁良好と誤判定する虞れを無くする。 - 特許庁

An apparatus includes: a means for charging a surface of an insulation workpiece; a means for changing a distance between the workpiece and an insulation probe; a means for measuring the distance between the workpiece and the probe; and a means for measuring a discharge current between the workpiece and the probe while measuring and synchronizing the distance by the means for measuring the distance.例文帳に追加

絶縁ワークの表面を帯電させる手段、該ワークとプローブの空隙距離を変化させる手段、該ワークと該プローブとの間の空隙距離を測定する手段及び該空隙距離を測定する手段による空隙距離の測定と同期を取りつつ該ワークと該プローブとの間の放電電流を測定する手段を有する。 - 特許庁

To provide an apparatus capable of discharging on an insulation workpiece, synchronizing and measuring a discharge current and a discharge gap by highly accurately controlling a distance between the insulation workpiece and a discharge probe.例文帳に追加

絶縁ワークと放電プローブ間距離を高精度に制御することで、絶縁ワーク上で放電を起こし、その放電電流と放電ギャップを同期して測定できる装置の提供。 - 特許庁

Further, the side face part 9 of the probe 2 is covered with an insulation layer and a distal end part 8 is sharp.例文帳に追加

さらに、前記プローブ２の側面部９が絶縁層で覆われるとともに、先端部８が鋭利であることを特徴とする。 - 特許庁

To facilitate operation by reducing the processing volume of an insulation medium when attaching or removing a measurement probe.例文帳に追加

計測プローブ脱着時における絶縁媒体の処理量を低減することにより、作業を容易化することを目的とする。 - 特許庁

The writing head part 250 includes: a first magnetic pole piece 230 having a first magnetic pole end; a probe pole piece 206 having a probe pole end 208 for radiating a magnetic flux; an insulation stack positioned between the pole pieces; and one or more writing coils 216 buried in the insulation stack.例文帳に追加

書込みヘッド部分250には、第１磁極端を持つ第１磁極片230、磁束を放射するためのプローブ極端208を持つプローブ極片206、これらの極片間に位置する絶縁スタック、及び該絶縁スタック内に埋め込まれた１個以上の書込みコイル216が含まれる。 - 特許庁

The probe is supported by a supporting bar made of electric insulation material which is supported by the support while passing through the plate thickness direction.例文帳に追加

プローブは、それらの板厚方向に貫通し支持体に支持された電気絶縁材料からなる支持バーを介して支持体に支持される。 - 特許庁

The ground sheet body 4 is made by forming a ground pattern 17 on the insulation resin sheet 16 and has larger flexibility than that of the contact probe 5.例文帳に追加

グランドシート体４は、絶縁樹脂シート１６にグランドパターン１７を形成してなり、コンタクトプローブ５よりも大きな可撓性を有する。 - 特許庁

The support 20 may be a helical spring connected with the probe 26 at its inner end, and connected with the insulation type body 12 at its outer end.例文帳に追加

支持体２０は、内端がプローブ２６に接続され、外端２４が絶縁型本体１２に接続されている、つる巻きバネであってよい。 - 特許庁

An insulation pipe 50 is inserted in a through hole 32d perforated in the outlying GND block 32, in which a core wire 34c and a probe 52 are inserted and one end of the probe 52 is contacted with the core wire 34c.例文帳に追加

外郭ＧＮＤブロック３２に穿設した貫通孔３２ｄに絶縁パイプ５０を挿入し、これに芯線３４ｃとプローブ５２を挿入して、芯線３４ｃにプローブ５２の一端を当接させる。 - 特許庁

The self-sensing type SPM probe 12 comprises a conductive film 22 covering a vicinity, and an oxide layer 17 laminated on a part to the probe 12 to raise degree of an insulation between the film 22 and the piezo resistor 20.例文帳に追加

前記探針１２とその近傍に被膜した導電膜２２と、前記探針１２との間にも、酸化層１７を積層して、導電膜２２とピエゾ抵抗体２０との間の絶縁度を高くした。 - 特許庁

Change-over switches 7 and 8 are inserted in the way of measuring lines 5a-6a connecting a probe 4 touching the pad of a slider 2 for magnetic disc with an insulation resistance measuring circuit 3, and the probe connected originally with the insulation resistance measuring circuit 3 is switched to contact decision circuits 8 and 9.例文帳に追加

磁気ディスク用スライダ２のパッドに接触させるプローブ４と絶縁抵抗測定回路３とを結ぶ測定線路５ａ〜６ｂの途中に切換スイッチ７，８を介挿接続し、本来は絶縁抵抗測定回路３に接続されているプローブを接触判定回路８，９に切り換える。 - 特許庁

Insulation particles are dispersed uniformly in a binding base material for a joining tape 21 for fixing a unit contact probe 12 on a mounting base 13.例文帳に追加

単位コンタクトプローブ１２をマウンティングベース１３に固着させる接合テープ２１の接着母材中に、絶縁粒子を均一に分散させた。 - 特許庁

An insulation pressing member 54 is disposed in the outlying GND block 32 so as to prevent the probe 52 from escaping from it by projecting a plunger on the other end.例文帳に追加

外郭ＧＮＤブロック３２に、他端側のプランジャーを突出させてプローブ５２が抜け出ないように絶縁押さえ部材５４を配設する。 - 特許庁

To provide a contactless continuity test apparatus and method, capable of checking continuity of a probe for insulation test and electrodes of a component to be tested with the probe attached to the component to be tested.例文帳に追加

絶縁試験用のプローブと試験対象部品の電極との導通を、プローブを試験対象部品に装着した状態で確認することのできる非接触導通試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

The insulation coating 12 is formed so that an end 12a of the coating near the detection end of the probe pin 11 is thicker over the whole circumference than an end near the connection end.例文帳に追加

絶縁被覆１２は、プローブピン１１の検出端側の端部１２ａが全周に渡って接続端側の端部よりも厚肉に形成されている。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe capable of suppressing a temperature rise of a part in contact with a living body while ensuring the insulation between piezoelectric elements.例文帳に追加

圧電素子間の絶縁を確保したまま、生体接触部分の温度上昇を抑制することができる超音波探触子を提供すること。 - 特許庁

Further the base may comprises a plurality of beams respectively connected with the probe at its one end and connected with the insulation type body 12 at the other end.例文帳に追加

また、支持体２０は、一端がプローブに接続され、別の一端が絶縁型本体１２に接続されている複数の梁を備えるものであってもよい。 - 特許庁

To perform continuity/insulation inspection accurately by preventing the poor contact of a probe with respect to an electrode of a board under inspection.例文帳に追加

被検査基板の電極に対するプローブの接触不良を防止して正確に導通・絶縁検査を行うことができる検査用治具を提供する。 - 特許庁

A probe device includes a ground sheet body 4 mounted by blocking a guide opening 9 formed on an insulation substrate 2 and a chip component 8 located in the vicinity of the distal end of the ground sheet body 4 and the contact probe 5, thereby improving measurement characteristics.例文帳に追加

絶縁基板２に形成したガイド開口部９を閉塞して取り付けられるグランドシート体４を有し、このグランドシート体４とコンタクトプローブ５の先端部の近傍に位置して測定特性を向上するチップ部品８を搭載する。 - 特許庁

To conduct an insulation test after checking the contact condition between an electrode pad formed on a chip to be tested and a bump of an inspection probe so as to accurately determine the quality of the chip on the basis of the insulation test.例文帳に追加

試験対象のチップに形成される電極パッドと検査プローブのバンプとの接触状態を確認した後に絶縁試験を実施し、絶縁試験結果に基づいたチップの良否判定を正確に実行することを目的とする。 - 特許庁

An insulation resistance measuring apparatus 2 connects a ground clip 8 to a ground side of an object 9 to be measured and connects a detection needle 6 of a probe 5 to a cable run side of the object 9 to be measured, respectively.例文帳に追加

絶縁抵抗測定装置２は、被測定物９の接地側にアースクリップ８と、被測定物９の電路側にプローブ５の検出針６を、それぞれ接続する。 - 特許庁

In the insulation resistance measuring device 1, the probe 15 for supporting protrusibly/retractably the detection needle 16 is connected to a control circuit provided in the measuring device body 2.例文帳に追加

絶縁抵抗測定器１においては、測定装置本体２に受けた制御回路に対して、検出針１６を出没自在に支持するプローブ１５を接続する。 - 特許庁

To perform measurement quickly without giving an electrical/mechanical shock to an object to be measured when performing insulation measurement, by providing a probe for supporting protrusibly/retractably a detection needle in connection with a device body provided on a detection part of an insulation resistance measuring device.例文帳に追加

絶縁抵抗測定器の検出部に設ける装置本体に、検出針を出没自在に支持するプローブを接続して設け、絶縁測定の際に、被測定物に電気的・機械的なショックを与えずに、測定を迅速に行い得るようにする。 - 特許庁

The probe for measuring the electrical property of the measuring object by bringing its tip into contact with the electrode of the measurement object is characterized in that the probe is composed of the metal conductor 2 and the insulation film 3 provided with the metal conductor 2, and the relative standard deviation of the film thickness of the insulation film 3 is less than 20%.例文帳に追加

先端部を被測定体の電極に接触させてその被測定体の電気的特性を測定するためのプローブ針であって、金属導体２とその金属導体２に設けられた絶縁被膜３とを有し、絶縁被膜３の膜厚の相対標準偏差が２０％以下であるプローブ針１により、上記課題を解決した。 - 特許庁