「profile deviation」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A delay unit 114 delays a delay profile for a reception signal of a branch 1 in order to correct phase deviation of the delay profile for the reception signal of the branch 1.例文帳に追加

遅延部１１４は、ブランチ１受信信号の遅延プロファイルの位相ずれを補正するために、ブランチ１受信信号の遅延プロファイルを遅延させる。 - 特許庁

To reduce deviation in the characteristics among transistors even when the profile of a gate electrode is different.例文帳に追加

ゲート電極の形状が異なる場合においても、トランジスタ間に発生する特性のずれを低減させる。 - 特許庁

To prevent variation of driving current and optical output, a change in beam profile and deviation of an optical axis.例文帳に追加

駆動電流の変動、光出力の変動、ビームプロファイルの変化、および光軸のずれを防止できるようにする。 - 特許庁

When the position of a tomographic profile to be originally photographed, which is indicated by the pointer 26, is deviated from the position of the actually photographed tomographic profile, an adjusting means sets an offset amount corresponding to the deviation, so that the deviation in the tomographic profile between the two is corrected.例文帳に追加

また、ポインタ２６によって指示された本来撮影されるべき断面の位置と、実際に撮影されている断面の位置とがずれている場合には、調整手段によってずれに相当するオフセット量を設定することで、両者の断面のずれを補正するようにしている。 - 特許庁

Then, a profile compensation processing section 23 calculates deviation value between the set objective position and posture, and the present position and posture stored in the second buffer 27, and, based on the deviation value, performs profile compensation in the operation of the welding torch.例文帳に追加

そして、倣い補正処理部２３は、設定された目標位置及び姿勢と、第２バッファ２７に記憶されている現在位置及び姿勢とのずれ量を算出し、そのずれ量に基づいて溶接トーチの動作を倣い補正する。 - 特許庁

To provide a profile color correction circuit by which the occurrence of color deviation at a profile portion is prevented when an image having a clear profile such as the image shown on a personal computer is displayed, in a display having a large size pixel such as a PDP.例文帳に追加

ＰＤＰのような１画素のサイズが大きなディスプレイにおいて、パソコン画像のような輪郭が明確な画像を表示した場合における輪郭部分での色ずれを防止した輪郭色補正回路を提供すること。 - 特許庁

The optical amplification apparatus 10 estimates the gain deviation over a range of multiplex wavelength of a signal light received from the EDFA 20 in the preceding stage, and selects and determines a gain profile with which the gain deviation becomes a minimum from a gain profile storage section 14.例文帳に追加

光増幅装置１０が、前段のＥＦＦＡ２０から入力された信号光の多重波長範囲に亘る利得偏差を推測し、その利得偏差か最小となる利得プロファイルを利得プロファイル記憶部１４から選出して決定する。 - 特許庁

To provide a cartridge for an information recording medium and a tray for a low profile information recording medium capable of preventing deviation of positions of the plurality of low profile information recording mediums inside the cartridge.例文帳に追加

カートリッジ内部における複数の薄型情報記録媒体の位置ずれを防止することができる情報記録媒体用カートリッジ、及び薄型情報記録媒体用トレイを提供する。 - 特許庁

To provide a delay profile analysis circuit capable of measuring a delay profile without including a distortion component due to a deviation of symbol timing regenerated inside, and a device using the same.例文帳に追加

内部で再生されるシンボルタイミングのずれによる歪み成分を含むことのない遅延プロファイルを測定可能な遅延プロファイル解析回路、及びそれを用いた装置を提供する。 - 特許庁

In the glass substrate 1, parameters showing deviation of a recessed and projecting shape the a profile of an inner hole lie in a prescribed range.例文帳に追加

本発明のガラス基板１は、内孔のプロファイルにおける凹凸形状の偏りを示すパラメータが、所定の範囲内にある。 - 特許庁

A temperature deviation between at least one selective temperature profile of the plurality of in-furnace temperature profiles near the measured heated body and a desired in-furnace temperature profile is feedback-controlled as a corrected component of a set temperature profile of the heat source.例文帳に追加

測定された被加熱体の近くの複数の炉内温度プロファイルのうち少なくとも１つの任意の温度プロファイルと、所望の炉内温度プロファイルとの偏差温度を熱源の設定温度プロファイルの修正分としてフィードバック制御をする。 - 特許庁

In accordance with the film thickness profile obtained by the measurement, a deviation of the swollen part of the resist film is grasped and the position of a main conveyance unit 40 or the exhaust in a pre-baking unit is controlled so as to dissolve the deviation on the basis of the deviation.例文帳に追加

この測定によって得られた膜厚プロファイルにより，レジスト膜の盛り上がり部分の偏りを把握し，その偏りを基に，当該偏りが解消されるように主搬送ユニット４０のポジションやプリベーキングユニット内の排気を調節する。 - 特許庁

Virtual profile creation means 13 calculates the number f of deterioration parts, area ratio a, standard deviation s as statistics of the virtual deterioration images, and shows a virtual profile on an f-a-s spatial coordinate.例文帳に追加

仮想プロファイル作成手段１３は、仮想劣化画像の統計量として劣化部の個数ｆ、面積率ａ、標準偏差ｓを算出し、ｆ−ａ−ｓ空間座標上に仮想プロファイルを示す。 - 特許庁

A firing profile for realizing the heat content given to the truck 10 and showing minimum value in the obtained deviation from each standard value is used as a firing profile for firing the workpiece 20.例文帳に追加

こうして取得した各基準値からのずれがもっとも小さい値を示す台車１０に与えた熱容量を実現する焼成プロファイルを、ワーク２０を焼成するための焼成プロファイルとする。 - 特許庁

By comparing a measured profile (54) of the rolling material in process with a target profile, then based on a deviation of a measured profile from the target profile, modified target values (K_i) in relation with weight factors (W_i) inherent to each stand are replaced with the target values (SW) for entire rolling stands or each stand (4, 6, 8).例文帳に追加

走出した圧延材のプロフィール（５４）を検出して目標プロフィールと比較し、検出したプロフィールの目標プロフィールからのずれに基づいて、スタンド固有の重みファクタ（Ｗ_ｉ）に関する圧延スタンドまたは各圧延スタンド（４,６,８）の目標値または各目標値（ＳＷ）に修正目標値（Ｋ_ｉ）を作用させる。 - 特許庁

The method for correcting the position of the electronic components comprises the steps of pressing the component, while correcting the positional deviation of the component by a positional deviation correcting jig 14 having a recess shape 15 substantially similar to that of an essential profile edge 21 of the component.例文帳に追加

電子部品の主要外郭稜２１と略相似形の凹形状１５を形成した位置ズレ矯正ジグ１４で電子部品の位置ズレを矯正しつつ、電子部品を加圧する。 - 特許庁

An image processing device comprises: a feature amount calculation unit 104 that calculates average luminance inside a profile set by a profile setting unit 102 and standard deviation of luminance; and an energy function calculation unit 105 that calculates energy function by setting the average luminance and the standard deviation of the luminance to a weight coefficient of an edge component.例文帳に追加

特徴量算出部１０４は、輪郭設定部１０２により設定された輪郭内部の平均輝度と輝度の標準偏差を算出し、エネルギー関数計算部１０５は、エッジ成分の重み係数に、平均輝度と輝度の標準偏差を設定してエネルギー関数を計算する。 - 特許庁

To provide an optical waveguide device with which the deviation of a refractive index profile of a core is reduced and a method for manufacturing the optical waveguide device.例文帳に追加

コアの屈折率プロファイルの偏りが低減された光導波路デバイス、およびこの光導波路デバイスを作製する方法、を提供する。 - 特許庁

The inspection of pattern is carried out materially by measuring the deviation between both data through the comparison of the profile of pattern with the design data of CAD or the like or by operating the size or the like of the circuit pattern from the profile of pattern.例文帳に追加

パターン検査は、具体的には、パターンの輪郭とＣＡＤ等の設計データとを比較して両者のずれを計測したり、パターン輪郭から回路パターンの寸法等を算出することにより実行される。 - 特許庁

The metal spray coated part 131 is formed by spraying aluminum, for example, and arithmetical mean deviation of profile Ra is formed to about 10 to 20 μm, for example.例文帳に追加

金属溶射被膜部１３１は、例えば、アルミニウムを溶射することで形成したものであり、例えば、中心線平均粗さＲａが１０〜２０μｍ程度に形成されている。 - 特許庁

An image judgment processing part detects a feature for each pixel in the cyan image data of image data 1001 to which registration deviation correction in the unit of a pixel is applied using profile properties.例文帳に追加

画像判定処理部は、プロファイル特性を用いて１画素単位のレジストレーションずれ補正された画像データ1001のCyan画像データにおいて、画素毎に画像の特徴を検出する。 - 特許庁

The image data is divided into the data in every of the display cells, using the minimum value in the standard deviation profile as coordinates of the each cell, and the defect is determined the display cell by the display cell.例文帳に追加

そして、標準偏差プロファイルの極小値を各表示セルの座標として、画像データを表示セル毎のデータに分割し、表示セル毎に欠陥判定を行う。 - 特許庁

When a canister closing valve is opened, a target pressure profile is set and an turn-off period learning value τi is set based on a deviation ΔPac of a pressure between the pressure P of the evapo-purge system and the target pressure Pp by the target pressure profile.例文帳に追加

キャニスタ閉塞弁を開くときに目標圧力プロフィールを設定し、目標圧力プロフィールによるエバポパージシステム系の圧力Ｐと目標圧力Ｐｐとの圧力偏差ΔＰａｃに基づいて、通電オフ期間学習値τｉを設定する。 - 特許庁

To provide a precision welding machine (a precision processing machine) capable of performing the welding (or other processing) with high accuracy while taking into consideration a deviation even when the deviation in levelness, squareness, cylindricity, profile or the like occurs in a workpiece.例文帳に追加

ワークにおいて、水平度、直角度、円筒度、輪郭度等について「狂い」が生じている場合であっても、それらを考慮しつつ高い精度で溶接（或いはその他の加工）を行うことができる精密溶接機（精密加工機）を提供する。 - 特許庁

In the glass substrate 1, parameters showing deviation of a recessed and projecting shape in the profile of an outer peripheral shape and the profile of an inner peripheral shape and an evaluation value regulated by a center position difference of the outer peripheral shape and the inner peripheral shape lie in a prescribed range.例文帳に追加

本発明のガラス基板１は、外周形状のプロファイルと内周形状のプロファイルにおける凹凸形状の偏りを示すパラメータと、前記外周形状と内周形状の中心位置差とから規定される評価値が、所定の範囲内にある。 - 特許庁

The pixel board includes a correction table resistor, and the pixel board calculates a correction table resister by making use of the scanning nonlinearity profile of the raster output scanner and corrects the deviation of position of pixels.例文帳に追加

ピクセルボードは補正テーブルレジスタを含み、ピクセルボードは、ラスタ出力スキャナの走査非線形性プロファイルを利用して、補正テーブルレジスタを計算し、画素の位置合わせずれを補正する。 - 特許庁

For a radiation image 18 received by a transmission/reception part 43 from a mammography 16, the image processor 42 executes an index value acquisition/profile detection treatment, acquires some quantitative index values such as average, standard deviation, etc. for the pixel values of the image 18 and detects a breast profile.例文帳に追加

画像処理部４２は、送受信部４３で受信したマンモグラフィ１６からの放射線画像１８について、指標値取得処理・輪郭検出処理を施し、画素の画素値の平均値・標準偏差などの定量的な指標値を取得するとともに、乳房の輪郭を検出する。 - 特許庁

The fiber core comprises refractive-index modulation grating region (16), having an apodized profile constituted for increasing the deviation of light (18) into the fiber cladding, the fiber cladding in the chemical substance sensing device is constituted, such that at least a part of deviation light is reflected in reverse, directed to the fiber core.例文帳に追加

ファイバコアは、ファイバクラッディング内への光（１８）の偏向を増加するように構成されたアポダイズプロファイルを有する屈折率変調格子領域（１６）を具備し、化学物質感知装置のファイバクラッディングは、偏向光の少なくとも一部をファイバコアに向かって逆反射するように構成される。 - 特許庁

Therefore, since, as shown in (b), an turn-off period τ corresponding to the deviation ΔPac of the pressure is set, the pressure P of the evapo-purge system follows the target pressure profile as shown in (a).例文帳に追加

このため、（ｂ）に示すように、圧力偏差ΔＰａｃに応じた通電オフ期間τが設定されるので、（ａ）に示すように、目標圧力プロフィールにエバポパージシステム系の圧力Ｐが追従する。 - 特許庁

The octave-length profile which is thus obtained is shifted by the deviation width between of the reference pitch of the input musical sound and the reference pitch of the system to correct the pitch, thereby clarifying the peak in one octave (SM5).例文帳に追加

この結果得られたオクターブ長プロファイルは、入力楽音の基準ピッチとシステムの基準ピッチとのずれ幅だけシフトされてピッチ補正され、１オクターブ内でピークが明確化される（ＳＭ５）。 - 特許庁

To perform ion implantation to a prescribed region in which source/drain regions should be formed precisely with a desired profile by solving the problem of photoresist residue without generating the alignment deviation of a gate electrode.例文帳に追加

ゲート電極のアライメントずれを生ずることなくフォトレジスト残留の問題を解消し、ソース／ドレイン領域を形成すべき所定の領域に所望のプロファイルで高精度にイオン注入する。 - 特許庁

Based on the geometric characteristic parameter of the profile distribution, the optimum X-ray tube current value is found as the target value of the CT value standard deviation of the image noise in the tomographic image at each z-direction coordinate position of the subject.例文帳に追加

そのプロファイル分布の幾何学的特徴パラメータにより、被検体の各ｚ方向座標位置の断層像における画像ノイズのＣＴ値標準偏差値の目標値に最適Ｘ線管電流値を求める。 - 特許庁

The machine conducts highly accurate machining in a short period eliminating a machining beforehand and an influence of the profile error of a deviation from a perfect arc of the cutting tool 4, and restraining a deterioration of the tool.例文帳に追加

したがって、前もって加工を行うことなく、また、切削工具４の真円弧からの形状誤差の影響を受けることなく、工具劣化を抑制しつつ、短時間に高精度に加工を行うことができる。 - 特許庁

Idling or spark-out operation is performed based upon the theoretical profile data, and follow-up deviation of the actual position of a tool to a command value in this operation is found as a first machining error distribution to the rotating angle of the spindle.例文帳に追加

この理論プロファイルデータに基づいて空運転又はスパークアウト運転を行い、この運転時における指令値に対する工具の現実の位置の追従偏差を主軸回転角に対する第１加工誤差分布として求める。 - 特許庁

From a measured value representing a surface profile of the measuring object 4 acquired by the preparatory measurement and a design value of the measuring object 4 stored previously, the controller 41 calculates the amount of the deviation of the measured value from the design value (S12).例文帳に追加

制御部４１は、予備測定によって取得された被測定物４の表面形状を示す測定値と予め記憶されている被測定物４の設計値とから測定値の設計値に対するずれ量を算出する（Ｓ１２）。 - 特許庁

An image forming engine includes exposure profile storage parts 403C, 403M, 403Y and 403K for storing the actual deviation with respect to an ideal scanning direction in the image carriers 51-C, 51-M, 51-Y and 51-K in the image forming parts, and a printing profile storage part 420 for storing a scanning exposure direction and the number of scanning exposure of each image forming part.例文帳に追加

画像形成エンジンには各画像形成部における像担持体５１−Ｃ、Ｍ，Ｙ，Ｋにおける理想とするスキャン方向に対する実際のずれ量を記憶する露光プロファイル記憶部４０３Ｃ、Ｍ、Ｙ、Ｋと、各画像形成部の走査露光方向及び走査露光数を格納している印刷プロファイル記憶部４２０を有する。 - 特許庁

It is further preferable for the substrate to be coated with a coating film containing 50 wt.% of aluminum or more and having an oxide film of the coating film surface not thicker than 0.3 μm and to have 0.05-2.0 μm arithmetical mean deviation from mean line of the profile Ra of the substrate surface.例文帳に追加

基板がアルミニウムを５０重量％以上含有するめっき皮膜を備え、めっき皮膜表面の酸化膜の厚さが０．３０μｍ以下であり、基板表面の粗さが、中心線平均粗さＲａで０．０５〜２．０μｍであればなおよい。 - 特許庁

The deviation of the center part in the inner lead 12a in the profile windows is obtained, and when the value is within a specific value, bonding is made, while if the value exceeds the specific value, it is decided that there is a bend in the inner lead 12a, thus allowing the tape carrier TC to be subjected to bonding through.例文帳に追加

これらプロファイルウィンドウ内のインナリード１２ａにおける中心部の偏差を求め、その値が規定値内であれば、ボンディングが行われ、規定値よりも大きいとインナリード１２ａに曲がりがあると判断し、そのテープキャリアＴＣをボンディングスルーさせる。 - 特許庁

To prevent reflow soldering quality from lowering by reducing a deviation of a temperature profile in a reflow furnace even when a mounting substrate is mounted on some of a plurality of conveyance lanes provided in parallel in the reflow furnace and conveyed to be subjected to reflow heating.例文帳に追加

リフロー炉内に並列に設けた複数の搬送レーンのうち、一部の搬送レーンのみに実装基板を載せて搬送してリフロー加熱する場合でも、リフロー炉内の温度プロファイルのずれを少なくして、リフローはんだ付けの品質低下を防止できるようにする。 - 特許庁

A plurality of linear prisms of cross-sectionally polygonal shape are arranged in a row in nearly parallel along the linear light sources on at least one face of the light diffusion plate, and a row of prism line with an arithmetical mean deviation of profile Ra of 3 to 1,000 μm is formed along the short-length direction of the linear prisms.例文帳に追加

光拡散板の少なくとも一方の面には、断面多角形状の線状プリズムが線状光源に沿って略平行に複数並び、線状プリズムの短手方向に沿った中心線平均粗さＲａが３μｍ〜１，０００μｍのプリズム条列が形成されている。 - 特許庁

The operation amount of an operation end is inputted to a process model, the relation of position correspondence, interference width and process gain of the process model are corrected so that deviation between the process model and a measured profile is minimized and the relation of position correspondence is set in a width direction controller for outputting an operation amount.例文帳に追加

操作端の操作量をプロセスモデルに入力し、このプロセスモデルと測定プロファイルの偏差が最小になるようにプロセスモデルの位置対応関係、干渉幅、プロセスゲインを修正し、またこの位置対応関係を、操作量を出力する幅方向制御器に設定するようにした。 - 特許庁

In the functional device having a surface with a possibility of dew formation and/or frost formation, the smooth type planing coat is formed on the surface, and a surface roughness of the smooth type planing coat is an arithmetical means deviation of profile Ra=0.1μm or less defined by JIS BO601.例文帳に追加

結露及び／又は着霜する可能性のある表面を持つ機能性装置において、前記表面には平滑型滑水性被膜が形成され、更に、この平滑型滑水性被膜の表面粗度がＪＩＳ Ｂ０６０１に規定された中心線平均粗さＲａ＝０．１μｍ以下であることを特徴とする。 - 特許庁

The electrophotographic transfer sheet has a base material having a pigment coating layer essentially consisting of an adhesive and pigments on at least one surface and a resin layer essentially consisting of a thermoplastic resin and thermosetting resin disposed on the pigment coating layer, in which the arithmetic mean deviation of profile Ra_75 of the base material surface is ≤2.0 μm and the image forming method using the same.例文帳に追加

接着剤及び顔料を主成分とする顔料塗工層を少なくとも一面に有する基材と、前記顔料塗工層上に設けられた熱可塑性樹脂及び熱硬化性樹脂を主成分とする樹脂層と、を有し、且つ前記基材表面の中心平均線粗さＲａ_75が２．０μｍ以下であることを特徴とする電子写真用転写シート、及びそれを用いた画像形成方法。 - 特許庁