「substrate inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection device and an inspection method which enables the effective inspection of an inspection object such as a printed circuit substrate.例文帳に追加

プリント回路基板のような検査対象物の検査を効率的に遂行できる検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection method for shortening the inspection time and improving the inspection efficiency without reducing the inspection accuracy.例文帳に追加

検査精度を低下させることなく、検査時間を短縮して検査効率の向上が図れる基板検査方法を提供する。 - 特許庁

IMAGING METHOD OF MOUNTING SUBSTRATE, INSPECTION METHOD, INSPECTION DEVICE, AND MOUNTING LINE例文帳に追加

実装基板の撮像方法、検査方法及び検査装置、並びに実装ライン - 特許庁

IMAGE INSPECTION DEVICE AND IMAGE INSPECTION METHOD OF TRANSPARENT SUBSTRATE FOR FLAT DISPLAY PANEL例文帳に追加

フラットパネルディスプレイ用透明基板の画像検査装置及び画像検査方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING PATTERN SUBSTRATE USING THEM例文帳に追加

検査装置及び検査方法並びにそれを用いたパターン基板の製造方法 - 特許庁

CHARACTERISTIC INSPECTION APPARATUS, TAPE SUBSTRATE, CHARACTERISTIC INSPECTION METHOD, AND PROBE NEEDLE POLISH METHOD例文帳に追加

特性検査装置、テープ基板、特性検査方法およびプローブ針の研磨方法 - 特許庁

The substrate inspection unit includes lower rollers, restriction members, a drive unit, and an inspection part.例文帳に追加

基板検査ユニットは下部ローラ、規制部材、駆動装置及び検査部を含む。 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF PATTERN FORMED ON SUBSTRATE, AND INSPECTION APPARATUS FOR IMPLEMENTING SAME例文帳に追加

基板に形成されたパターンの検査方法、及びこれを行うための検査装置 - 特許庁

WAFER END BATCH INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SUBSTRATE FOR INSPECTION TO BE USED FOR THE SAME例文帳に追加

ウェハ一括検査装置及びそれに用いる検査用基板の製造方法 - 特許庁

MOUNTING STATE INSPECTION METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT, MOUNTING STATE INSPECTION DEVICE, AND SUBSTRATE例文帳に追加

電子部品の実装状態検査方法、実装状態検査装置、及び基板 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION METHOD AND DEVICE, INSPECTION LOGIC SETTING METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

基板検査方法および装置、並びに、その検査ロジック設定方法および装置 - 特許庁

ELECTRODE INSPECTION APPARATUS, ELECTRODE INSPECTION METHOD AND SUBSTRATE FOR PLASMA DISPLAY PANEL例文帳に追加

電極検査装置および電極検査方法ならびにプラズマディスプレイパネル用基板 - 特許庁

Instead of inspection of the template 3, a substrate for inspection is formed and inspected.例文帳に追加

また、型板３の検査に代えて、検査用基板を形成してこれを検査する。 - 特許庁

CIRCUIT BOARD INSPECTION JIG SUBSTRATE DEVICE, MANUFACTURING METHOD FOR IT, AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

回路基板検査用治具基板装置、その製造方法および検査方法 - 特許庁

SUBSTRATE FOR CONFIRMATION, SOLDERING DISPLACEMENT INSPECTION DEVICE AND SOLDER DISPLACEMENT INSPECTION METHOD例文帳に追加

確認用基板、はんだ位置ずれ検査装置、及びはんだ位置ずれ検査方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

検査装置及び検査方法並びにそれを用いたパターン基板の製造方法 - 特許庁

To enhance the inspection efficiency of a substrate to be inspected in a substrate inspection device for detecting the flaw of the substrate to be inspected.例文帳に追加

被検査基板の欠陥を検出する基板検査装置において、被検査基板の検査効率を向上できるようにする。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device capable of detecting the streak-like flaw present on a substrate, and to provide a substrate inspection method.例文帳に追加

基板上に存在するスジ状の欠陥を検出することができる基板検査装置および基板検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection method and a substrate inspection device shortening overall processing time by absorbing time taken for position correction of one substrate into inspection time of the other substrate.例文帳に追加

一方の基板の位置補正に要する時間を他方の基板の検査時間内に吸収し、全体的な処理時間の短縮を図った基板検査方法及び基板検査装置を提供する - 特許庁

INSPECTION DEVICE FOR MAGNETO-OPTICAL DISK SUBSTRATE AND/ OR STAMPER例文帳に追加

光磁気ディスク基板及び／又はスタンパの検査装置 - 特許庁

SUBSTRATE MANUFACTURING/INSPECTION DEVICE, AND VIRUS CHECK METHOD THEREOF例文帳に追加

基板製造・検査装置およびそのウイルスチェック方法 - 特許庁

MASK SUBSTRATE INSPECTION METHOD AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS例文帳に追加

マスク基材検査方法および半導体製造装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR ELEMENT INSPECTION SUBSTRATE AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

半導体素子検査用基板およびその製造方法 - 特許庁

SUBSTRATE FOR INSPECTION AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

検査用基板及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR SUBSTRATE AND INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体基板および半導体装置の検査方法 - 特許庁

INSPECTION SUBSTRATE FOR ACTIVE MATRIX TYPE LIQUID CRYSTAL DISPLAY例文帳に追加

アクティブマトリックス型液晶表示装置用検査基板 - 特許庁

FOREIGN MATTER INSPECTION METHOD ON SUBSTRATE SURFACE AND ITS DEVICE例文帳に追加

基板表面の異物検査方法およびその装置 - 特許庁

SURFACE INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR SUBSTRATE例文帳に追加

基板の表面検査装置及び表面検査方法 - 特許庁

CHIP SUBSTRATE FOR INSPECTION ELEMENT AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

検査素子用のチップ基板およびその製造方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MOUNTING SUBSTRATE例文帳に追加

半導体集積回路と実装基板の検査装置 - 特許庁

ELECTRODE SUBSTRATE FOR DISPLAY DEVICE AND ITS INSPECTION METHOD例文帳に追加

表示装置用電極基板及びその検査方法 - 特許庁

INSPECTION PROBE UNIT FOR SUBSTRATE MOUNTING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップ搭載用基板の検査用プローブユニット - 特許庁

SURFACE INSPECTION METHOD AND INSPECTING APPARATUS FOR TRANSPARENT SUBSTRATE例文帳に追加

透明基板の表面検査方法及び検査装置 - 特許庁

VISUAL INSPECTION METHOD FOR PLASTIC SUBSTRATE FOR RECORDING MEDIUM例文帳に追加

記録媒体用プラスチック基板の外観検査方法 - 特許庁

The TFT substrate inspection apparatus includes an inspection chamber in which the substrate introduced is subjected to inspection, a load lock chamber through which the TFT substrate is introduced into the inspection chamber, and an unload lock chamber through which the TFT substrate is taken out from the inspection chamber.例文帳に追加

ＴＦＴ基板検査装置は、導入したＴＦＴ基板の基板検査を行う検査室と、この検査室内にＴＦＴ基板を導入するロードロック室と、検査室内からＴＦＴ基板を導出するアンロードロック室とを備える。 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTING METHOD, HOST DEVICE AND SUBSTRATE MOUNTING DEVICE FOR INSPECTING SUBSTRATE, SUBSTRATE INSPECTION SYSTEM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

基板検査方法、基板検査用のホスト装置及び基板装着装置、基板検査システム、並びに記録媒体 - 特許庁

To prevent unnecessary contact between an arm and a substrate in a substrate transport device, a substrate inspection device and a substrate transport method.例文帳に追加

基板搬送装置、基板検査装置及び基板搬送方法において、基板との不要な接触を防ぐ。 - 特許庁

ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL AND INSPECTION METHOD OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE例文帳に追加

アクティブマトリクス基板、液晶表示パネル、アクティブマトリクス基板の検査方法 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE, SUBSTRATE TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

基板検査装置、基板検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

BASE SUBSTRATE FOR FLEXIBLE PRINTED-WIRING BOARD, AND INSPECTION METHOD OF THE BASE SUBSTRATE例文帳に追加

フレキシブルプリント配線板用ベース基板及びこのベース基板の検査方法 - 特許庁

ELECTRODE SUBSTRATE, METHOD FOR INSPECTION OF ELECTRODE SUBSTRATE, AND METHOD OF MOUNTING SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

電極基板、電極基板の検査方法、半導体素子の実装方法 - 特許庁

A visual inspection device inspects an inspection object 12 equipped with a substrate and components mounted on the substrate by using an inspection object image obtained by imaging the inspection object 12.例文帳に追加

外観検査装置は、基板と該基板に実装されている部品とを備える被検査体１２を撮像して得られる被検査体画像を使用して被検査体１２を検査する。 - 特許庁

THIN FILM TRANSISTOR SUBSTRATE HAVING MEANS FOR VISUAL INSPECTION AND METHOD OF VISUAL INSPECTION例文帳に追加

ビジュアルインスペクション手段を備えた薄膜トランジスタ基板及びビジュアルインスペクション方法 - 特許庁

To provide a tool for substrate inspection which can load easily with an inspection probe.例文帳に追加

検査用プローブを簡便に装着することのできる基板検査用治具の提供。 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION METHOD, INSPECTION DEVICE THEREFOR AND METHOD FOR MANUFACTURING PRODUCT FOR ELECTRONIC MACHINERY例文帳に追加

基板の検査方法及び検査装置並びに電子機器用製品の製造方法 - 特許庁