「substrate inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE, INSPECTING APPARATUS OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE, AND SCREENING SYSTEM OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

半導体基板の検査方法、半導体基板の検査装置および半導体基板の選別システム - 特許庁

INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, INSPECTION PROGRAM USED FOR SAME, AND INFORMATION RECORDING MEDIUM例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の検査方法及び検査装置並びにそれに用いる検査用プログラム及び情報記録媒体 - 特許庁

To provide a circuit substrate inspection device capable of shortening the inspection time without lowering the inspection precision.例文帳に追加

検査精度を低下させることなく検査に要する時間を短縮し得る回路基板検査装置を提供する。 - 特許庁

INSPECTION SYSTEM FOR SUBSTRATE PROCESSING PROCESS APPARATUS, SENSOR FOR INSPECTION SYSTEM AND INSPECTION METHOD FOR PROCESS APPARATUS例文帳に追加

基板を処理するプロセス装置の検査システム、およびこの検査システムのためのセンサ、ならびにプロセス装置の検査方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR SURFACE HEIGHT AND INSPECTION DEVICE THEREFOR, AND COLOR FILTER SUBSTRATE AND INSPECTION METHOD THEREFOR AND MANUFACTURING THEREOF例文帳に追加

表面高さ検査方法及びその検査装置並びにカラーフィルタ基板、その検査方法及びその製造方法 - 特許庁

METHOD FOR CREATING DATA FOR SETTING INSPECTION WINDOW, AND SYSTEM FOR CREATING DATA FOR SETTING INSPECTION WINDOW IN SUBSTRATE VISUAL INSPECTION例文帳に追加

基板外観検査における検査ウィンドウの設定用データの作成方法および設定用データ作成システム - 特許庁

To provide a substrate inspection device allowing a detailed defect review inspection to be performed while inhibiting increase in time required for complete inspection.例文帳に追加

検査完了までに要する時間の増加を抑制しつつ詳細な欠陥レビュー検査を可能にする。 - 特許庁

METHOD OF SETTING INSPECTION REFERENCE DATA FOR INSPECTION OF FILLET AND VISUAL INSPECTION DEVICE OF SUBSTRATE USING IT例文帳に追加

フィレット検査のための検査基準データの設定方法、およびこの方法を用いた基板外観検査装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF RECORDING MEDIUM, OPTICAL DISK SUBSTRATE AND STAMPER例文帳に追加

記録媒体、光ディスク基板およびスタンパの検査方法 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTING TOOL, AND INSPECTION PROBE USED THEREFOR例文帳に追加

基板検査用治具、及びこれに用いる検査用プローブ - 特許庁

REEXAMINATION METHOD AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE FOR IMPLEMENTATION SUBSTRATE例文帳に追加

実装基板の再検査方法及び外観検査装置 - 特許庁

APPARATUS, PROGRAM, AND METHOD FOR SUBSTRATE INSPECTION例文帳に追加

基板検査装置、基板検査プログラム及び基板検査方法 - 特許庁

INSPECTION SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体装置用検査基板およびその製造方法 - 特許庁

MOUNTED SUBSTRATE-INSPECTING APPARATUS, INSPECTION METHOD, AND MEMORY MEDIUM例文帳に追加

実装基板試験装置、試験方法、及び記憶媒体 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND ASSEMBLING METHOD OF SAME例文帳に追加

基板検査装置及び基板検査装置の組み立て方法 - 特許庁

To provide a substrate inspection method and a substrate inspection system capable of displaying latest image data taken with a substrate inspection device by minimum operation.例文帳に追加

最小限の操作で基板検査装置が撮像した最新の画像データを表示させることが可能な基板検査方法および基板検査システムを提供すること。 - 特許庁

IMAGE CREATION METHOD, SUBSTRATE INSPECTION METHOD, RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM FOR EXECUTING IMAGE CREATION METHOD OR SUBSTRATE INSPECTION METHOD RECORDED THEREON, AND SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像作成方法、基板検査方法、その画像作成方法又はその基板検査方法を実行させるためのプログラムを記録した記録媒体及び基板検査装置 - 特許庁

SUBSTRATE SURFACE INSPECTION APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

基板表面検査装置及び基板表面検査方法 - 特許庁

To provide a substrate inspection method and a substrate inspection device capable of enhancing the inspection accuracy of a substrate by obtaining image information of sufficient resolution.例文帳に追加

十分な解像度の画像情報を取得することにより、基板の検査精度を向上することが可能な基板検査方法及び基板検査装置を提供する。 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY AND INSPECTION METHOD OF TRANSPARENT SUBSTRATE例文帳に追加

液晶表示装置および透明基板の検査方法 - 特許庁

BUILD-UP SUBSTRATE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

ビルドアップ基板とその製造方法および検査方法 - 特許庁

VISUAL INSPECTION METHOD AND SYSTEM OF MOUNTING SUBSTRATE例文帳に追加

実装基板の外観検査方法及び外観検査システム - 特許庁

An inspection control part 5 detects the inspection result relative to an inspected substrate which is another substrate to be multilayered on the substrate placed on the stage part, from the inspection result information.例文帳に追加

検査制御部５は、ステージ部に載置されている基板に多層化される他の基板であって検査済みの基板に関する検査結果を検査結果情報から検出する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD OF INSPECTING SURFACE OF SUBSTRATE例文帳に追加

欠陥検査装置及び基板表面の検査方法 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION SYSTEM, PROGRAM, AND COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM例文帳に追加

基板検査システム、プログラム及びコンピュータ可読記憶媒体 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR PLANE SUBSTRATE例文帳に追加

平面基板検査装置および平面基板の検査方法 - 特許庁

To shorten the tact time of substrate inspections in a substrate inspection apparatus and achieve a compact inspection apparatus.例文帳に追加

基板検査装置において、基板検査のタクトタイムを短縮すると共に基板検査装置の小型化を図る。 - 特許庁

To provide a defect inspection method of a mask substrate that can adequately perform defect inspection of the mask substrate.例文帳に追加

マスク基板の欠陥検査を的確に行うことが可能なマスク基板の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device and a substrate inspection method facilitating an exact decision of a region to be inspected.例文帳に追加

検査する領域の的確な決定を容易とする基板検査装置および基板検査方法を提供する。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF DISPLAY DEVICE, INSPECTION METHOD OF SUBSTRATE FOR DISPLAY DEVICE, AND INSPECTION DEVICE OF SUBSTRATE FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加

表示装置の製造方法、表示装置用基板の検査方法及び表示装置用基板の検査装置 - 特許庁

To provide a substrate inspection device for efficiently performing substrate inspection to a sheet substrate formed comprising a plurality of substrates in a matrix form.例文帳に追加

複数の基板がマトリクス状に形成されてなるシート基板に対して、より効果的に基板検査を行う基板検査装置の提供。 - 特許庁

To improve inspection efficiency or inspection precision even in a case that an inspection position is moved with respect to a large-sized substrate to be inspected to perform inspection in a substrate inspection device and a system.例文帳に追加

基板検査装置およびシステムにおいて、大型の被検査基板に対して検査位置を移動して検査する場合でも、検査効率や検査精度を良好なものとすることができるようにする。 - 特許庁

In a substrate inspection device, a line sensor 34 images an optical image of the substrate.例文帳に追加

基板検査装置において、ラインセンサ３４は、基板の光学画像を撮像する。 - 特許庁

TREATMENT METHOD OF SUBSTRATE, INSPECTION METHOD OF SUBSTRATE, CONTROL PROGRAM AND COMPUTER STORAGE MEDIUM例文帳に追加

基板処理方法、基板検査方法、制御プログラム、およびコンピューター記憶媒体 - 特許庁

ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, INSPECTION METHOD OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, AND ELECTRO-OPTICAL DEVICE例文帳に追加

アクティブマトリクス基板、アクティブマトリクス基板の検査方法および電気光学装置 - 特許庁

The substrate transporting robot for delivery 73 passes the substrate to the inspection device 4.例文帳に追加

受渡し用基板搬送ロボット７３はその基板を検査装置４に渡す。 - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS, YIELD MANAGEMENT SYSTEM, PATTERN INSPECTION METHOD, SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

パターン検査装置、歩留管理システム、パターン検査方法、基板製造方法およびプログラム - 特許庁

LIGHT SOURCE DEVICE, INSPECTION DEVICE USING THE SAME, INSPECTION METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

光源装置及びそれを用いた検査装置、検査方法及びパターン基板の製造方法 - 特許庁

PATTERN DRAWING APPARATUS, PATTERN INSPECTION APPARATUS, SUBSTRATE, PATTERN DRAWING METHOD, AND PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン描画装置、パターン検査装置、基板、パターン描画方法およびパターン検査方法 - 特許庁

To suppress the vibration of a substrate in micro-inspection and to prevent the obstruction of macro-inspection.例文帳に追加

ミクロ検査における基板の振動を抑制すると共にマクロ検査の邪魔にならない。 - 特許庁

To provide a substrate inspection apparatus by which an inspection can be performed with submicron resolution and at high speed.例文帳に追加

サブミクロンの分解能と高速での検査が可能な基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method, more specifically, an inspection method for a substrate.例文帳に追加

本発明は検査方法に関し、より詳細には基板の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device allowing electric inspection, irrespective of circuit constitution of a substrate.例文帳に追加

基板の回路構成によらず、電気的な検査が可能となる検査装置を提供する。 - 特許庁

An inspection reference axis P is set along the surface of the substrate 90 of an inspection object.例文帳に追加

検査対象の基板９０の表面に沿って検査基準軸Ｐを設定する。 - 特許庁

A substrate inspection result generating part 10 weights inspection results for each inspection condition, on the basis of information on defects and integrates inspection results for every inspection condition.例文帳に追加

基板検査結果生成部10は、欠陥に関する情報に基づいて検査条件毎の検査結果を重み付けした上で検査条件毎の検査結果を統合する。 - 特許庁