「substrate inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

基板検査装置および基板検査方法 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE FOR CIRCUIT PATTERN USING CHARGED PARTICLE BEAM AND SUBSTRATE INSPECTION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線を用いた回路パターン用基板検査装置および基板検査方法 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS AND OBLIQUE ILLUMINATION UNIT例文帳に追加

基板検査装置および斜照明ユニット - 特許庁

METHOD OF REGISTERING MODEL DATA FOR SUBSTRATE VISUAL INSPECTION AND SUBSTRATE VISUAL INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

基板外観検査のためのモデルデータの登録方法および基板外観検査装置 - 特許庁

MECHANISM FOR ADJUSTING CAMERA FOR SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

基板検査装置用カメラ調整機構 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR SUBSTRATE HAVING PROTECTIVE FILM例文帳に追加

保護フィルムを有する基体の検査方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR SUBSTRATE INSPECTION例文帳に追加

基板検査装置及び基板検査方法 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS OF CERAMIC MULTILAYER SUBSTRATE例文帳に追加

セラミック多層基板の非破壊検査装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND SUBSTRATE POSITIONING METHOD例文帳に追加

検査装置および基板の位置決め方法 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS, INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF PATTERN SUBSTRATE USING THE INSPECTION APPARATUS AND THE INSPECTION METHOD例文帳に追加

検査装置及び検査方法とその検査装置及び検査方法を用いたパターン基板の製造方法 - 特許庁

To provide a substrate inspection device and a substrate inspection method capable of improving inspection efficiency relative to a multilayered substrate.例文帳に追加

多層化される基板についての検査効率を向上することができる基板検査装置および基板検査方法を提供する。 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION UNIT AND SUBSTRATE CLEANING EQUIPMENT USING IT例文帳に追加

基板検査装置、およびこれを利用した基板洗浄装置 - 特許庁

SUBSTRATE ALIGNMENT ARRANGEMENT AND SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

基板アライメント機構、及びそれを用いた基板検査装置 - 特許庁

SUBSTRATE DEFECT INSPECTION SYSTEM AND SUBSTRATE DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

基板の欠陥検査システム及び基板の欠陥検出方法 - 特許庁

POSITIONING DEVICE, SUBSTRATE TRANSFER DEVICE AND SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

位置合わせ装置、基板搬送装置および基板検査装置 - 特許庁

SUBSTRATE HOLDER, SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS, SUBSTRATE INSPECTION DEVICES, AND OPERATION METHOD OF THEM例文帳に追加

基板保持具、基板処理装置、基板検査装置及びこれらの使用方法 - 特許庁

SUBSTRATE, SLIDER, NEAR-FIELD OPTICAL HEAD, SUBSTRATE INSPECTION METHOD AND SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

基板、スライダ、近接場光ヘッド、基板検査方法及び基板製造方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND MANUFACTURING METHOD, INSPECTION TOOL, AND INSPECTION DEVICE FOR SUBSTRATE FOR SUSPENSION例文帳に追加

サスペンション用基板の検査方法および製造方法、検査治具、ならびに検査装置。 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE, ITS INSPECTION LOGIC SETTING METHOD, AND INSPECTION LOGIC SETTING DEVICE例文帳に追加

基板検査装置並びにその検査ロジック設定方法および検査ロジック設定装置 - 特許庁

CIRCUIT BOARD INSPECTION DEVICE, SENSOR SUBSTRATE FOR CIRCUIT BOARD INSPECTION DEVICE, AND CIRCUIT BOARD INSPECTION METHOD例文帳に追加

回路基板検査装置、回路基板検査装置用センサ基板および回路基板検査方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR ARRAY SUBSTRATE例文帳に追加

アレイ基板の検査装置および検査方法 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND COMPONENT-MOUNTING SYSTEM例文帳に追加

基板検査装置および部品実装システム - 特許庁

MINUTE HOLE INSPECTION INSTRUMENT OF ELECTRONIC CIRCUIT SUBSTRATE例文帳に追加

電子回路基板の微小穴検査装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR PIXEL ARRAY SUBSTRATE例文帳に追加

画素アレイ基板の検査装置及び方法 - 特許庁

SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

基板欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

JIG AND METHOD FOR SUBSTRATE INSPECTION例文帳に追加

基板検査用治具および基板検査方法 - 特許庁

To support an inspection substrate in parallel without generating a scratch on a contact pin and the inspection substrate.例文帳に追加

コンタクトピンや検査基板に傷付きを生じさせずに検査基板を平行に支持する。 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND PROBER FRAME例文帳に追加

液晶基板検査装置およびプローバフレーム - 特許庁

To provide a substrate object for inspection and an inspection apparatus for reducing labor hours for a substrate.例文帳に追加

基板の手間を低減しうる検査用基板体および検査装置を提供する。 - 特許庁

PROBER FRAME AND LIQUID CRYSTAL SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

プローバフレームおよび液晶基板検査装置 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND COMPONENT MOUNTING DEVICE例文帳に追加

基板検査装置および部品実装装置 - 特許庁

TRANSMISSION ILLUMINATION STAGE AND SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

透過照明ステージおよび基板検査装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, INSPECTION DEVICE THEREOF AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の検査方法、検査装置および製造方法 - 特許庁

SUBSTRATE-HOLDING IMPLEMENT, ELECTRONIC COMPONENT INSPECTION APPARATUS AND ELECTRONIC COMPONENT INSPECTION METHOD例文帳に追加

基板保持具、電子部品検査装置及び電子部品検査方法 - 特許庁

SURFACE INSPECTION SYSTEM, SURFACE INSPECTION METHOD AND SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

表面検査装置、表面検査方法、及び基板の製造方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF SUBSTRATE FOR PDP例文帳に追加

ＰＤＰ用基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF POLYCRYSTAL SILICON SUBSTRATE例文帳に追加

多結晶シリコン基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a substrate inspection method and a substrate inspection device capable of shortening an inspection time by reducing the number of inspection times at a conduction inspection time of wiring patterns provided on the substrate.例文帳に追加

基板に設けられる配線パターンの導通検査時における検査回数を低減し、検査時間を短縮することができる基板検査方法及び基板検査装置を提供する。 - 特許庁

ORDER RATIONALIZING DEVICE AND SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

順序適正化装置及び基板検査装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND PRINTER FOR MOUNTING SUBSTRATE例文帳に追加

実装基板の検査装置および印刷装置 - 特許庁

PROBE AND TOOL FOR SUBSTRATE INSPECTION例文帳に追加

基板検査用プローブ及び基板検査用治具 - 特許庁

PROBE SUBSTRATE FOR INSPECTION AND METHOD OF MANUFACTURE例文帳に追加

検査用プローブ基板及びその製造方法 - 特許庁

ELECTRONIC SUBSTRATE BLOCK AND RADIATION INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

電子基板ブロックおよび放射線検査装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE HAVING FLATTENING FUNCTION OF SUBSTRATE例文帳に追加

基板の平坦化機能を有する検査装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF SUBSTRATE HAVING REPETITIVE PATTERN例文帳に追加

繰返しパターンを有する基板の検査方法 - 特許庁