「selection test」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

By changing the level of the first control signal C1 under the test mode to redirect output of a first selection circuit 12 and change over the operation of a program counter 11, a first burn-in mode for activating the flash EEPROM 20 and second burn-in mode for activating the function part 10 are alternately executed.例文帳に追加

そして、テストモード下で、前記第１の制御信号Ｃ１のレベルを変えることによって、第１の選択回路１２の出力先及びプログラムカウンタ１１の動作を切り替え、フラッシュＥＥＰＲＯＭ２０を活性化する第１のバーインモードと機能部１０を活性化する第２のバーインモードとを交互に実行する。 - 特許庁

To satisfy the optimum conditions for toner particle diameter distribution, to prevent the occurrence of initial image defects such as fog and cleaning defects, to suppress the increase of particle diameter due to toner selection phenomenon even in a life test of continuous printing and to eliminate problem such as the rise of image density.例文帳に追加

トナー粒径分布に関しての最適条件を満足し、かぶりやクリーニング不良などの初期的な画像不良を生じることがなく、連続印字のライフテストにおいても、トナー選択現象による粒径の増大化を抑制し、画像濃度の上昇などの不具合がない非磁性一成分カラートナーを提供することを目的とする。 - 特許庁

Concretely, reflow or aging process X is added between a BT(bias test) process 2 and a lead molding process 3 or between the lead molding process 3 and a shipment process 4, in a semiconductor device manufacturing process including each of processes for package(PKG) cutting separation 1, selection/BT 2, lead molding 3, shipment 4 and mounting reflow 5.例文帳に追加

具体的には、パッケージ（ＰＫＧ）を切断分離１，選別／ＢＴ２，リード成形３，出荷４，実装リフロー５する各工程を含む半導体装置製造プロセスにおいて、ＢＴ工程２とリード成形工程３との間、または、リード成形工程３と出荷工程４との間に、リフローまたはエージング工程Ｘを追加する。 - 特許庁

This automatic photograph making apparatus is equipped with a flash part 110 which emits flash light, a test light 120 which projects light nearly in the projection direction of the flash light, a selection part 130 which determines the color of the flash light to be emitted from the flash part 110, and a shutter button 140 which determines imaging timing.例文帳に追加

本自動写真作成装置は、閃光を放つフラッシュ部１１０と、閃光の投射方向と略同一方向へ光を投光する試しライト１２０と、フラッシュ部１１０から放たれるべき閃光の色を決定する選択部１３０と、撮像タイミングを決定するシャッタボタン１４０とを含む手持ちフラッシュ１００を備える。 - 特許庁

An address output 3, data output 4, and control output 5 from a CPU 1 and a download address 16, download data 17, and down load bus control signal 18 from a test control circuit 12 are inputted to program RAM input selectors 15a, 15b, and 15c, and the outputs are selected according to a bus selection signal 8, and inputted to the program RAM 2.例文帳に追加

ＣＰＵ１からのアドレス出力３、データ出力４、制御出力５と、テスト制御回路１２からのダウンロードアドレス１６、ダウンロードデータ１７、ダウンロードバス制御信号１８とは、プログラムＲＡＭ入力セレクタ１５ａ，１５ｂ，１５ｃに入力し、バス選択信号８によって出力を選択してプログラムＲＡＭ２に入力させる。 - 特許庁

In the second selection, a characteristic distribution calculator 3 acquires the electric characteristic distribution from the electric characteristic values of the semiconductor chips passing through the Go/Nogo test, and a second discrimination section 4 particularizes the semiconductor chips whose electric characteristic distributions are not within the distribution above to apply elimination (screening) to the semiconductor chips.例文帳に追加

第２の選別では、特性分布算出部３によりＧｏ／Ｎｏｇｏ試験をクリアーした半導体チップの電気的特性値から電気的特性分布を取得し、第２の判定部４により、この電気的特性分布から規定外分布に該当する半導体チップを特定して、当該半導体チップを除去（スクリーニング）する。 - 特許庁

The program memory section 24 is equipped with a memory 51 memorizing the data D1 at least a part of the test condition with timing of the trigger signal Tr1, a memory 52 memorizing the data D1 with timing of the trigger signal Tr2, and a selector 53 selecting an one-side output from either the memories 51 or 52 based on the selection signal SL1.例文帳に追加

このプログラムメモリ部２４は、トリガ信号Ｔｒ１のタイミングで、試験条件の少なくとも一部であるデータＤ１を記憶するメモリ５１と、トリガ信号Ｔｒ２のタイミングでデータＤ１を記憶するメモリ５２と、選択信号ＳＬ１に基づいて、メモリ５１，５２の何れか一方の出力を選択するセレクタ５３とを備える。 - 特許庁

When fixing test images TX and TY are formed on the recording body S periodically or according to selection by an operator, an image color information detection part 43 detects the intensity IbRX, IbGx, IbRX and IbRY, IbGY, IbRY of the straight advance transmitted light of the images TX and TY color-separated by RGB filters 39X and 39Y.例文帳に追加

定期的あるいはオペレータの選択により、記録体Ｓ上に定着テスト画像ＴＸ，ＴＹが作成されると、画像色情報検出部４３は、ＲＧＢフィルタ３９Ｘおよび３９Ｙにより色分解された定着テスト画像ＴＸおよびＴＹの直進透過光の強度ＩｂＲＸ，ＩｂＧＸ，ＩｂＲＸおよびＩｂＲＹ，ＩｂＧＹ，ＩｂＲＹを検出する。 - 特許庁

A concrete concealed pattern attaching mechanism is configured to form the particular concealed pattern onto the color image without fail, in the case of forming a normal image, on the basis of the hardware control signal and the software control signal, and when no color image data are received, a test pattern selected by a selection section is synthesized with output image data.例文帳に追加

具体的な隠しパターン付加機構は、ハードウェア的制御信号とソフトウェア的制御信号とに基づいて通常画像を形成する際には特定の隠しパターンが必ずカラー画像上に形成されるように構成し、カラー画像データが入力されていないときには選択部により選択されたテストパターンを合成する。 - 特許庁

This system is provided with a test means which outputs to an examinee's terminal a plurality of first images (such as small, not ascertained, indistinct or abstract images) A-D, performs selection of the first images based on the operation of the examinee, and can output a second image (such as a large, ascertained, distinct, concrete image) related to the selected first image.例文帳に追加

被験者の端末に複数の第１画像（小さい・判然としない・不鮮明・抽象的画像など）Ａ〜Ｄを出力し、被験者の操作に基づいて第１画像の選択を受け、その選択された第１画像に関連づけられた第２画像（大きい・判然とした・鮮明・具体的画像など）を出力可能なテスト手段を備える。 - 特許庁

To provide a nonmagnetic single component color toner which satisfies the optimum conditions relating to distribution of the toner particle size, which does not cause an image defect in an initial stage such as fog or cleaning failure, which suppresses increase in the particle size due to toner selection phenomenon in a life test for continuous printing, and which is free from a problem such as increase in the image density.例文帳に追加

トナー粒径分布に関しての最適条件を満足し、かぶりやクリーニング不良などの初期的な画像不良を生じることがなく、連続印字のライフテストにおいても、トナー選択現象による粒径の増大化を抑制し、画像濃度の上昇などの不具合がない非磁性一成分カラートナーを提供することを目的とする。 - 特許庁

The scan separation circuit 10 is provided with a selector 11 for selecting anyone out of the two signal lines, in addition to a selector 12 for constituting a scan path and an FF 13 therefor, and a switch controlling data latched by the each FF 13 from a test input terminal 2 via the scan path is used as an input selection signal SL of the selector 11.例文帳に追加

スキャン分離回路１０には、スキャンパスを構成するためのセレクタ１２とＦＦ１３に加えて、２本の信号線の内のいずれか一方を選択するセレクタ１１が設けられ、このセレクタ１１の入力選択信号ＳＬとして、テスト入力端子２からスキャンパスを介してＦＦ１３にラッチされた切替制御用のデータを用いる。 - 特許庁

The fine timing setting having freedom in adjustment of the first internal clock signal is performed, by taking the test clock signal (ECLK) for timing adjustment from the outside (tester 10) of the chip or from the outside of the mounting substrate where the chip is loaded by a signal selection circuit 6a or the like and replacing the signal as a second internal clock signal.例文帳に追加

この第１の内部クロック信号を信号選択回路６ａなどによりチップの外（テスタ１０）から又はチップが搭載された実装基板の外からタイミング調整のためのテストクロック信号（ＥＣＬＫ）を取込んで第２の内部クロック信号として置き換えることにより、調整に自由度があり、且つ微細なタイミング設定を行う。 - 特許庁

The base recording strategy adjustment means includes: a pulse width dependency measurement control means 42a measuring the pulse width dependency on a difference in each reproduction signal modulation degree by reproducing each test pattern recorded for each erasure power condition; and a base pulse width selection control means 42b determining the optimum base pulse width for obtaining approximately the constant reproduction signal modulation degree independently of the erasure power condition.例文帳に追加

ベース記録ストラテジ調整手段は、各消去パワー条件毎に記録された各テストパターンを各々再生させ各再生信号変調度の差分に関するパルス幅依存性を測定するパルス幅依存性測定制御手段（４２ａ）、消去パワー条件に依存せず概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅を決定するベースパルス幅選択制御手段（４２ｂ）を含む。 - 特許庁

The semiconductor device with the plurality of semiconductor storage devices mounted thereon for using test input data for inspection having a bit length of the divided data bit width, and the inspecting method thereof are constituted so that memory selection signals can be enabled for the all of the semiconductor storage devices or the arbitrary plurality of semiconductor storage devices, to write the plurality of semiconductor storage device simultaneously by one write operation.例文帳に追加

複数の半導体記憶装置を搭載し、データビット幅を分割したビット長のテスト入力データを用いて検査を行う半導体装置およびその検査方法であって、メモリ選択信号を全ての半導体記憶装置あるいは任意の複数の半導体記憶装置に対してイネーブルにすることが可能な構成にし、１度の書き込み動作で、同時に複数の半導体記憶装置に書き込みを可能とするものである。 - 特許庁