「selection test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

When the test selection signal S2 for selecting a selection signal S1 for ordinary operation is inputted into the test selection circuit part 7, an ordinary signal at the ordinary operation time inputted from the combinational circuit part 2 is supplied to the data selection circuit part 3.例文帳に追加

また、通常動作用選択信号Ｓ１を選択するテスト用選択信号Ｓ２をテスト用選択回路部７へ入力すれば、組合せ回路部２から入力される通常動作時の通常信号がデータ選択回路部３へ供給される。 - 特許庁

Relating to a general controlling part 54, the fixation test image T is formed on a recording body S, by the periodical selection or the selection of an operator.例文帳に追加

統括制御部５４は、定期的あるいはオペレータの選択により、記録体Ｓ上に定着テスト画像Ｔを作成する。 - 特許庁

A first selection control circuit controls the first selection circuit on the basis of the output data of the second/third test flip-flops.例文帳に追加

第１選択制御回路は、第２および第３試験フリップフロップの出力データに基づいて第１選択回路を制御する。 - 特許庁

When the user listens a plurality of these test listening pieces in test sequentially and selects the test listening piece that he thinks that it is suitable for an image of the question by pressing a selection button 104b on the screen, this selection information is transmitted to the server device.例文帳に追加

ユーザは、これらの複数の試聴曲を順次試聴して、前記質問のイメージに合うと思う試聴曲を画面上の選択ボタン１０４ｂで選択すると、この選択情報はサーバ装置に送信される。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SELECTING TEST PATTERN AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH TEST PATTERN SELECTION PROGRAM STORED THEREON例文帳に追加

テストパターン選別装置、テストパターン選別方法およびテストパターン選別プログラムを格納したコンピュータ読取り可能な記録媒体 - 特許庁

The HDD performs a head selection test and a magnetic recording test in POR (Power On Reset) processing.例文帳に追加

本発明の一態様にかかるＨＤＤは、ＰＯＲ（Power On Reset）処理において、ヘッド・セレクション・テストとマグネティック・レコーディング・テストとを実行する。 - 特許庁

When the mobile terminal 11 selects a test of radio data collection or the like, the exchange 13 discriminates whether or not the test personnel can conduct selection test on the basis of the entered test personnel ID.例文帳に追加

また、移動端末１１から無線データ収集等の試験を選択した際、交換機１３は入力されている試験者ＩＤからその試験者が選択試験が可能であるか判定する。 - 特許庁

To conduct selection of high quality having wide test coverage by switching in order a serial mode and a parallel mode to be operated, in a burn-in test using a static burn-in test device.例文帳に追加

スタティックバーインテスト装置を用いたバーインテストにおいて、シリアルモードとパラレルモードを順次切り替えて動作させることにより、テストカバレージの大きな高品質な選別を行なう。 - 特許庁

To provide a vocational qualification test estimation system that contributes to the selection of an optimum vocational qualification test by quantitatively providing the goodness of fit of a vocational qualification test to a prescribed job duty.例文帳に追加

所定の職務に対する適性検査の適合度を定量的に提示することができ、最適な適性検査の選択に資する適性検査評価システムを提供する。 - 特許庁

By this constitution, all of the selection of the test tubes, the pasting of the label to the test tubes and the supply of the test tubes to the rack after the label is pasted are automatically performed.例文帳に追加

これにより、試験管の選択、試験管へのラベルの貼付及びラベル貼着後の試験管のラックへの供給を全て自動的に行うことが可能である。 - 特許庁

To conduct a selection test of a test of a very-multiple-terminal LSI by an LSI tester which has a small number of terminals without incorporating a circuit dedicated to the test in the tested LSI.例文帳に追加

超多端子ＬＳＩのテストの選別テストを、被テストＬＳＩにテスト専用の回路を内蔵させることなく端子数が少ないＬＳＩテスタにより可能とする。 - 特許庁

At the first step, the mode selection signal of every other component module is set to an output test mode, and the mode selection signal of the component module therebetween is set to an input test mode.例文帳に追加

第１ステップでは、１つおきの成分モジュールのモード選択信号を出力テストモードへセットし、それらの間の成分モジュールのモード選択信号を、入力テストモードへセットする。 - 特許庁

Specifically, the first memory chip can be directly accessed from the outside through selection of the external signal by the first selection circuit at a test mode.例文帳に追加

すなわち、試験モード時に、第１選択回路により外部信号を選択することで、第１メモリチップを外部から直接アクセスできる。 - 特許庁

Depending on a corresponding test mode, odd numbered word lines and even numbered word lines are made one unit respectively and it is made selection/non-selection.例文帳に追加

対応するテストモードにより、奇数番目のワード線と偶数番目のワード線とがそれぞれ一単位となって選択／非選択にする。 - 特許庁

That is, the test input terminals 3a_1 to 3a_n of the selection circuit 2a and the test input terminals 3b_1 to 3b_n of the selection circuit 2b are connected to the test terminals 11_1 to 11_n of the logic circuit 10, in a state of being shifted by each other.例文帳に追加

即ち、選択回路２ａのテスト入力端子３ａ_１〜３ａ_ｎと、選択回路２ｂのテスト入力端子３ｂ_１〜３ｂ_ｎには、論理回路１０のテスト端子１１_１〜１１_ｎが１つずつずれて接続されている。 - 特許庁

In a use mode, a use mode selection signal S13c is outputted from a signal for a test generating part 13.例文帳に追加

使用モードでは、テスト用信号発生部13から使用モードの選択信号S13cが出力される。 - 特許庁

Selection, activation, and result output of the test are provided by using several terminals of the ASIC.例文帳に追加

テストの選択、活性化、結果出力は、ＡＳＩＣの幾つかの端子を用いて提供される。 - 特許庁

LEVEL SHIFTER CIRCUIT, DRIVE CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE, DISPLAY DEVICE AND STRESS TEST METHOD OF GRADATION SELECTION CIRCUIT例文帳に追加

レベルシフタ回路、表示装置の駆動回路、表示装置、及び階調選択回路のストレステスト方法 - 特許庁

A control section controls so as to operate only the test apparatus selected in the test apparatus selection mode screen C in the test mode screen D, and controls so as not to operate any other apparatus under operation which are not selected in the test apparatus selection mode screen C.例文帳に追加

制御部は、試験モード画面Ｄでは、試験機器選択モード画面Ｃにおいて選択された試験機器のみの操作を可能するように制御し、試験機器選択モード画面Ｃにおいて選択されていない他の運転中の機器は操作できないように制御する。 - 特許庁

The selection section 24 has a selecting device, which distributes chips on wafer rings to a plurality of selection containers based upon test results.例文帳に追加

選別区２４は選別装置を有し、選別装置は試験結果に基づいてウェハーリング上のチップを複数の選別容器中に分配する。 - 特許庁

This SDRAM column decoder 20a, in multibit test, selects a plurality of column selection lines CSL or all column selection lines CSL out of 256 column selection lines conforming to column address signals CA0∼CA8 and test mode signals TM0∼TM8, and sets selected each column selection lines to be a test potential VTM=Vth.例文帳に追加

このＳＤＲＡＭの列デコーダ２０ａは、マルチビットテスト時には、列アドレス信号ＣＡ０〜ＣＡ８およびテストモード信号ＴＭ０〜ＴＭ８に従って２５６の列選択線ＣＳＬのうちのいずれか複数の列選択線ＣＳＬまたはすべての列選択線ＣＳＬを選択し、選択した各列選択線ＣＳＬをテスト電位ＶＴＭ＝Ｖｔｈにする。 - 特許庁

Coordinates of a test mark within an imageable region are inputted through a user interface 200 as well as a selection of the test mark of a desired type.例文帳に追加

イメージ作成可能領域内のテストマークの座標を、所望のタイプのテストマークの選択とともに、ユーザインタフェイス２００経由で入力する。 - 特許庁

In test production, repair and maintenance, etc. of a product, the selection part (1105) selects the bit stream of the signal pair of the test signal and the collection signal.例文帳に追加

製品試作時や修理・メンテナンス時などには選択部（１１０５）はテスト信号及び集音信号の信号対のビットストリームを選択する。 - 特許庁

Although the selection circuit 2b has the same constitution as that of the selection circuit 2a, the test input terminals 3b_n, 3b_1 to 3b_n-1 are connected to the test terminals 11_1 to 11_n of the logic circuit 10.例文帳に追加

選択回路２ｂは、上述した選択回路２ａと同じ構成を有するが、テスト入力端子３ｂ_ｎ、３ｂ_１〜３ｂ_ｎ−１が、論理回路１０のテスト端子１１_１〜１１_ｎに接続されている。 - 特許庁

The two clocks are selected by a selection means 102 based on a test mode signal TS, to be output as selection clocks SC to a synchronization means 103.例文帳に追加

この２つのクロックを選択手段１０２でテストモード信号ＴＳにより選択し選択クロックＳＣとして同期化手段１０３に出力する。 - 特許庁

A selector 13 is switched correspondingly to a test mode selection signal inputted to an input terminal 11e.例文帳に追加

セレクタ１３は、入力端子１１ｅに入力されるテストモード選択信号に対応して切り替わる。 - 特許庁

The wafer ring having been tested is conveyed by a conveying device 22 from the test section 26 to a selection section 24.例文帳に追加

試験済みのウェハーリングは搬送装置２２によって試験区２６から選別区２４に搬送される。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for test pattern selection for computational lithography model calibration.例文帳に追加

コンピュータリソグラフィモデル較正のためのテストパターン選択のための方法及び装置を提供することにある。 - 特許庁

Further, the RNA aptamer is selected by carrying out binding selection test to a recombinant Escherichia coli RF1.例文帳に追加

次に組換え大腸菌ＲＦ１との結合セレクションテストを行ない、上記ＲＮＡアプタマーを選択する。 - 特許庁

So-called 'X-press' test response compactors 110, 152 comprise an overdrive section and scan chain selection logic.例文帳に追加

いわゆる「Ｘプレス」テスト応答コンパクタ１１０、１５２は、オーバードライブ・セクションとスキャンチェーン選択ロジックとを含む。 - 特許庁

This semiconductor testing device for setting test condition data in a hardware and performing a test includes: a storage part for storing the test condition data; a selection output part for selecting the test condition data stored in the storage part, and outputting the data in each item; and a setting part for setting the test condition data output from the selection output part in the hardware.例文帳に追加

テスト条件データをハードウェアに設定して試験を行う半導体試験装置において、テスト条件データが記憶される記憶部と、記憶部に記憶されたテスト条件データを選択して項目毎に出力する選択出力部と、選択出力部から出力されたテスト条件データをハードウェアに設定する設定部とを備える。 - 特許庁

Moreover, various circuits 2, 3, 4, 5, 6, 7, 17, and 18 switch output signals to the set test data when the test mode setting is valid on the basis of the test mode selection signal and the test data input signal.例文帳に追加

以下、各種回路２、３、４、５、６、７、１７および１８についてもテストモード選択信号とテストデータ入力信号により、それぞれに設定されたテストモード設定が有効の場合、設定されたテストデータに出力信号を切り替える。 - 特許庁

The selection unit, when the test block includes a circuit block which has been determined to be faulty operation, divides the test block into a plurality of block groups.例文帳に追加

選択部は、試験ブロックが判定部によって動作不良と判定された回路ブロックを含むとき、試験ブロックを複数のブロック群に振り分ける。 - 特許庁

The test circuit 8 tests the functions of a main circuit part 2, on the basis of test data given to it, from the input terminal 3 via the output selection circuits 4, 5.例文帳に追加

そして、テスト回路８は、入力端子３より出力選択回路４，５を経由して与えられるテストデータに基づいて主回路部２の機能をテストする。 - 特許庁

A test communication performing part 26 refers to the transmission system selection table and creates a test telegraphic message according to the transmission system included in each transmission pattern.例文帳に追加

テスト通信実行部２６は、伝送方式選択テーブルを参照し、各送信パターンに含まれる伝送方式に従ってテスト電文を作成する。 - 特許庁

To reduce test items and to shorten a test time by reducing the number of terminals without complicating a design of an output terminal selection circuit in an isolation test of a large-scale system LSI.例文帳に追加

大規模システムＬＳＩのアイソレーションテストにおいて、出力端子選択回路の設計を複雑化させることなく端子数の削減を可能にし、テスト項目の削減およびテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus and a method therefor capable of accurately and meticulously applying conforming article/nonconforming article discrimination to semiconductor chips formed on a substrate, which cannot be attained only by an electric selection test for discriminating whether or not a test specification is satisfied.例文帳に追加

基板に形成された半導体チップについて、試験スペックを満たすか否かを判定する電気的選別試験のみでは得られない正確且つきめ細かな良品／不良品判定を行う。 - 特許庁

Respective test input terminals 3a_1 to 3a_n of the selection circuit 2a are connected to test terminals 11_1 to 11_n of a logic circuit 10, and test input signals IS_1 to IS_n are input thereto from the logic circuit 10.例文帳に追加

選択回路２ａの各テスト入力端子３ａ_１〜３ａ_ｎは、論理回路１０のテスト端子１１_１〜１１_ｎに接続され、論理回路１０からテスト入力信号ＩＳ_１〜ＩＳ_ｎが入力される。 - 特許庁

The circuit comprises a data error correction means for comparing data with parity data to correct data, a data selection means for outputting the data or the corrected data as selected data in response to a test selection signal, and a test result output means for receiving the selected data and the parity data to output a test result signal in response to the test selection signal.例文帳に追加

本発明は、データとパリティデータを比較して修正データを出力するデータエラー修正手段、テスト選択信号に応答し、前記データ又は修正データを選択データとして出力するデータ選択手段、及び前記選択データと前記パリティデータが入力され、前記テスト選択信号に応答してテスト結果信号を出力するテスト結果出力手段を含む。 - 特許庁

A performance test result display part 102 is able to display various graphs by comparing a plurality of performance test result data based on the same performance test contents identified by the performance test contents identification information according to the selection of the user.例文帳に追加

性能試験結果表示部１０２は、利用者の選択に応じて、性能試験内容識別情報で識別される同一の性能試験内容に基づく複数の性能試験結果データを比較した、各種のグラフを表示可能としている。 - 特許庁

The operator is made to select whether the print output is the main print or test print on the output selection picture.例文帳に追加

オペレータは出力選択画面においてプリント出力を本プリントとするかテストプリントとするかを選択する。 - 特許庁

When all the mode selection signals are set to the output test mode, the integrated circuit 10 makes normal operations.例文帳に追加

全てのモード選択信号を出力テストモードへセットした時、集積回路１０は通常の動作を行う。 - 特許庁

The third selection circuit selectively supplies a first or second clock signal on the basis of a test mode signal.例文帳に追加

第３選択回路は、テストモード信号に基づいて第１又は第２クロック信号を選択的に供給する。 - 特許庁

The selection unit selects either an output from the oscillation unit or an output from the timing inspection unit by a test mode signal.例文帳に追加

選択部は、テストモード信号によって発振部の出力またはタイミング検査部の出力を選択する。 - 特許庁

When a first selection button 2A is depressed after depression of an input test mode switch 8a and a set key 8e, the first selection button 2A outputs a depression signal.例文帳に追加

入力テストモードスイッチ８ａを押下した後、設定キー８ｅを押下し、第１選択ボタン２Ａを押下すると、第１選択ボタン２Ａは、押下信号を出力する。 - 特許庁