「selection test」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a wavelength selection switch module in which the correction time of a primary value voltage is shortened, one light source is enough for test light, which achieves cost-reduction and miniaturization of an apparatus.例文帳に追加

本発明は、初期値電圧の補正時間を短縮でき、試験光の光源が１つで済み、装置の低コスト化及びサイズの小型化が可能な波長選択スイッチモジュールを提供することを目的とする。 - 特許庁

In the case of an automatic test mode, a selection signal in accordance with the MRS register 130 is outputted, the selectors 121, 123 select an external control signal, and output it to the bank 0(111).例文帳に追加

自動試験モードの場合、ＭＲＳレジスタ１３０に応じた選択信号が出力され、セレクタ１２１、１２３は、外部制御信号を選択し、試験対象のバンク０（１１１）に出力する。 - 特許庁

The normal operation mode continues from a start of the protocol test until the time count means 1b detects a lapse of the switching time, and a selection 2d of a pseudo master 2 selects a normal operation pattern storage section 2a.例文帳に追加

プロトコル試験の開始から計時手段１ｂが切替え時間の経過を検出するまでは正常動作モードであり、擬似マスタ２の選択部２ｄは、正常動作パターン記憶部２ａを選択する。 - 特許庁

To provide a method and a program, that can dynamically test a buffering/selection system and receive transmission as bursts in the case of a peak bandwidth in excess of a mean bandwidth T.例文帳に追加

平均帯域幅Ｔで、またＴを超えることがあるピーク帯域幅のときはバースツとして伝送を受信する、バッファリング／セレクション装置を動的にテストする方法およびプログラムを提供すること。 - 特許庁

Both of them are provided through a signal switch to permit simulation test to be selected by a mode selection means from an operation display unit.例文帳に追加

シミュレータ用アプリケーションをＡＶＲ装置の制御用アプリケーションに組み込む構造とし、双方が信号切換器を介して設けられ、シミュレーション試験が操作表示部からのモード選択手段によって選択可能とする。 - 特許庁

Similarity between the feature representation of the transformed test cluster and each feature representation stored in DB10 is computed, and an ID of a training cluster with maximum similarity is sent to a predictor selection section 70.例文帳に追加

変換されたテストクラスタの特徴表現とＤＢ１０に保存された各特徴表現との類似度を算出し、該類似度が最大の訓練クラスタのＩＤを予測器選択部７０に送る。 - 特許庁

A selector 5 selects the TDO(test data output) signal of the integrated circuit device to be inspected from among the test data (TDO signals), outputted from the TDO terminals of the integrated circuit devices 1, 2, 3 corresponding to the selection signal Ss supplied from the external inspection apparatus, to send the same to the external inspection apparatus.例文帳に追加

セレクタ５は、外部の検査装置から供給される選択信号Ｓｓに応じて、集積回路デバイス１，２，３の各ＴＤＯ端子からそれぞれ出力されるテストデータ（ＴＤＯ信号）の内、検査対象の集積回路デバイスのＴＤＯ信号を一つ選択して外部の検査装置へ送出する。 - 特許庁

To support user's selection of tools for test by storing an area separation result used in picture processing at the time of copying and storing the inclination of a copied document and using this copy inclination of the document to display degrees of importance of tools for test to be used for evaluation of the copy quality of a copying machine.例文帳に追加

複写時の画像処理で用いられる領域分離結果を蓄積しておくことにより、複写された原稿の傾向を記憶し、この原稿の複写傾向を利用して、複写機の複写品質の評価に用いるテスト用ツールの重要度を表示し、ユーザーにおけるテスト用ツールの選定を支援する。 - 特許庁

When a test transmitting message 6 is outputted from a processing function based on a development object program 3 that is an object of operation confirmation (step S4), a computer selects the message history 1a matched to the test transmitting message 6 as a model message 7 according to a preset selection rule 1b (step S5).例文帳に追加

コンピュータは、動作確認の対象である開発対象プログラム３に基づく処理機能からテスト用送信メッセージ６が出力される（ステップＳ４）と、予め設定された選択ルール１ｂに従って、テスト用送信メッセージ６に応じたメッセージ履歴１ａを雛形メッセージ７として選択する（ステップＳ５）。 - 特許庁

The semiconductor storage device has a test mode decision circuit 40 in which a first sense amplifier external activating signal SAPE as an external signal for a first sense amplifier activating signal SAP and a word line batch write mode selection signal TEST are inputted in its peripheral circuit part and the first amplifier activating signal SAP is outputted.例文帳に追加

半導体記憶装置は、その周辺回路部に、第１のセンスアンプ起動信号ＳＡＰの外部信号である第１のセンスアンプ外部起動信号ＳＡＰＥ及びワード線一括書き込みモード選択信号ＴＥＳＴを入力とし、第１のセンスアンプ起動信号ＳＡＰを出力するテストモード判定回路４０を有している。 - 特許庁

Test printing for checking the clogging of a nozzle is repeated every time when cleaning is performed (step S13), and when selection of a print head requiring cleaning is designated based on the result of test printing (step S15), cleaning of a cleaning object head thus selected is performed (step S19).例文帳に追加

ノズルの目詰まり具合をチェックするテスト印刷を、クリーニングを実行する毎に繰り返し実行し（ステップＳ１３）、テスト印刷結果に基づきクリーニングを必要とする印刷ヘッドを選択する印刷ヘッド選択指示があると（ステップＳ１５）、選択されたクリーニング対象ヘッドに対するクリーニングを行う（ステップＳ１９）。 - 特許庁

In generating the ground tint image, it is based on user's selection that the ground tint image is to be generated by a density parameter used for generating, which from among the plurality of ground tint image patches arranged in the test printing image.例文帳に追加

そして、地紋画像を生成するにあたり、試し刷り画像に配置された複数の地紋画像パッチのうち、どの一つの地紋画像パッチの生成に用いられた濃度パラメータで生成するかはユーザの選択に基づく。 - 特許庁

A multi-election circuits 320 and 330 activate more write digit lines WDL in parallel than in the case of normal data writing, by responding to the multi selection signals MSLa and MSLb when a disturbing test is carried out.例文帳に追加

マルチセレクション回路３２０，３３０は、ディスターブ試験時には、マルチセレクション信号ＭＳＬａ，ＭＳＬｂに応答して、通常のデータ書込時よりも多い本数のライトディジット線ＷＤＬを並列に活性化する。 - 特許庁

Therefore, quality improvement in a selection process can be performed by discovering defect caused by interference of bit liners which is hard to discover at I/O compression test of a multi-bit DRAM hitherto.例文帳に追加

したがって、従来多ビットＤＲＡＭのＩ／Ｏ圧縮テスト時の発見が難しかったビット線の干渉による不良を従来のテスト効率を損なうことなく発見することで、選別工程における品質向上ができる。 - 特許庁

Additionally, the system and the method provide for applying global and local weightings to an execution behavior selection process and allow for replaying the test case with the previously executed behaviors.例文帳に追加

さらに、このシステムおよび方法は、全体的重み付けおよび局所的重み付けを実行挙動選択プロセスに適用することを実現し、以前に実行した挙動でテストケースを再実行することを可能にする。 - 特許庁

In generating the tint block image, this is based on user's selection that the tint block image is to be generated by a density parameter used for generating which from among the plurality of tint block image patches arranged in the test printing image.例文帳に追加

そして、地紋画像を生成するにあたり、試し刷り画像に配置された複数の地紋画像パッチのうち、どの一つの地紋画像パッチの生成に用いられた濃度パラメータで生成するかはユーザの選択に基づく。 - 特許庁

To provide a pipeline A/D converter, which can conduct operation tests by selection of only before and after a discontinuity point, which input/ output characteristics of a unit block have, and reduce an operation test time for improvement in productivity.例文帳に追加

単位ブロックの入出力特性が持つ不連続点の前後のみを選んで動作試験ができるようにし、動作試験時間を短縮して生産性の向上を図るようにしたパイプライン型Ａ／Ｄコンバータの提供。 - 特許庁

A scan test signal DT in a preceding period inputted from an input terminal is inverted by a signal selection means 105 and held by an output signal holding means 103, and the held inverted value data are outputted at a timing of a rising edge of the next clock signal CK, to thereby input surely the inverted signal of the scan test signal DT into a circuit of a scan test object.例文帳に追加

入力端子より入力された１つ前の周期のスキャンテスト信号ＤＴを信号選択手段１０５により反転させて出力信号保持手段１０３に保持し、次のクロック信号ＣＫの立ち上がりエッジのタイミングにおいて、その保持された反転値データを出力することにより、スキャンテスト信号ＤＴの反転信号をスキャンテスト対象の回路に確実に入力する。 - 特許庁

To provide a tube dispenser which is a simple and compact type, can easily be installed on a desk or the like, and is excellent in emergency correspondency at the time of disaster or the like, and also, enables the selection and preparation of a large number of test tubes of different kinds at one time.例文帳に追加

簡易小型化で机上等にも容易に設置でき、災害時等の緊急対応性に優れ、且つ種類の異なる試験管を一度に多数選択して準備することのできるチューブディスペンサーの提供を目的とする。 - 特許庁

The chip selection circuit activates defect detecting and repairing circuits, such as a repair circuit or a test time shortening circuit, when at least one signal out of output signals of the plurality of data input buffer circuits is in a first logic state.例文帳に追加

チップ選択回路は複数のデータ入力バッファ回路の出力信号のうち少なくとも一つが第１論理状態の時、リペア回路またはテストタイム短縮回路のような不良検証及び改善回路を活性化させる。 - 特許庁

When the flame signal involves any aperiodic signal, frequency selection devices 6, 17, 18, 19 makes the flame signal amplifier valid, while when the same involves a periodic signal or a test signal the devices make the same amplifier invalid.例文帳に追加

周波数選択装置６、１７、１８、１９により火炎信号に非周期的な信号が存在する場合には、火炎信号増幅器を有効に、また周期的な信号があるいはテスト信号が存在する場合には、無効にする。 - 特許庁

In the case of a test other than speedy selection or a normal operation, the proper level is given to the signal EN and switching is executed so that the selector 1 selects the input side, to thereby cut a negative-feedback path for executing negative feedback of the output of F/F4 to F/F2.例文帳に追加

スピード選別以外のテストや通常動作の時は信号ＥＮに適切レベルを与え、セレクタ１が入力側を選択するように切替えることで、Ｆ／Ｆ４の出力がＦ／Ｆ２に負帰還する負帰還パスをカットする。 - 特許庁

When generating the base pattern image, whether the base pattern image is to be generated by the density parameter having been used for generating which base pattern image patch out of the plurality of base pattern image patches arranged in the test printing image, is determined based on the selection of a user.例文帳に追加

そして、地紋画像を生成するにあたり、試し刷り画像に配置された複数の地紋画像パッチのうち、どの一つの地紋画像パッチの生成に用いられた濃度パラメータで生成するかはユーザの選択に基づく。 - 特許庁

An appropriate level is given to a signal EN in a test other than speed selection or in normal operation, and switching is made so that a selector 1 selects an input side, thus enabling the output of the F/F4 to cut a negative feedback path to be fed back to the F/F2.例文帳に追加

スピード選別以外のテストや通常動作の時は信号ＥＮに適切レベルを与え、セレクタ１が入力側を選択するように切替えることで、Ｆ／Ｆ４の出力がＦ／Ｆ２に負帰還する負帰還パスをカットする。 - 特許庁

At the loop back test time, a clock signal selected by the clock selection circuit is used as a transmission clock, the transmission data is turned up by an input-output terminal and is input into a receiving circuit, data from the receiving circuit is input into the CDR circuit, and a comparing circuit compares reproduced data from the CDR circuit with expected value data, thereby performing the test.例文帳に追加

ループバックテスト時、クロック選択回路で選択されたクロック信号が送信クロックとして用いられ、送信データは入出力兼用端子にて折り返されて受信回路に入力され受信回路からのデータがＣＤＲ回路に入力され、比較回路はＣＤＲ回路からの再生データと期待値データの比較を行うことでテストが行われる。 - 特許庁

This system is equipped with an input means for inputting data on subject candidates provided by a doctor participating in the clinical test, a subject selection means for certifying the data on the subject candidates, and selecting the subject, and an information processing means for collecting the data on the selected subject, and organizing a database for the clinical test.例文帳に追加

当該臨床試験に参加する医師が提供する被検候補者に関するデータを入力する入力手段と、該被検候補者に関するデータを検証して被験者を選択する被験者選択手段と、選択された被験者のデータを収集して臨床試験のためのデータベースを構築する情報処理手段とを備える。 - 特許庁

A test data recording part 15 is provided to store the digital data on electricity quantity of all digitalized plant operating patterns (accident data, normal operation data, plant starting data, plant stopping data, etc.), and the data required by a test data selection signal 16 is selected from these data and is outputted to a relay part 11 for testing.例文帳に追加

ディジタル化されたあらゆるプラント運転パターン（事故データ，通常、運転データプラント起動時データ，プラント停止時データなど）のディジタル電気量データを記憶した試験データ記録部１５を設け、これらのデータの中から試験データ選択信号１６によって必要とするデータを選択し、これをリレー部１１に出力して試験するようにした。 - 特許庁

To solve problems that a simultaneous write access to a number of memory cells connected in parallel in a data line direction, i.e. multiplex selection, is inhibited as a memory function, and in a memory array of the above constitution, a write access time is long and test time cannot be shortened.例文帳に追加

データ線方向に並列に多数接続されたメモリセルへの同時書込みアクセス、すなわち、セル多重選択は、メモリ機能的に禁止であり、前記のような構成のメモリアレイでは、書込みアクセスが長く、テスト時間の短縮が図れない。 - 特許庁

In a first test operation mode, a row control circuit 121 and a column control circuit 131 in synchronization with an external clock after fetching the column address output a WORD control signal and a YSW control signal and perform memory cell selection operation.例文帳に追加

第１のテスト動作モードにおいては、ロウコントロール回路１２１及びカラムコントロール回路１３１は、カラムアドレスを取り込んだ後の外部クロックに同期して、ＷＯＲＤ制御信号、ＹＳＷ制御信号を出力し、メモリセル選択動作を行う。 - 特許庁

To provide a conveying device and a combination weighing device having it changing the order of containers during conveyance for speedup of discharge processing in the combination weighing device and rank selection processing and the like in a quality test device.例文帳に追加

搬送中に容器の順番を入れ替えることで、組合せ計量装置における排出処理や品質検査装置におけるランク選別処理等を高速化することが可能な搬送装置およびこれを備えた組合せ計量装置を提供する。 - 特許庁

In a state that a body 1 under test is kept from being conveyed to a conveyance mechanism 2, that is, on condition comprising only an external electromagnetic noise environment condition, a connection state for minimizing the signal level of the combined detection signal is set in the selection part 16.例文帳に追加

そして、被検体１を搬送機構２に搬送させない状態、すなわち、外部の電磁ノイズ環境条件のみの条件において、合成検出信号の信号レベルが最小の接続状態を接続切換部１６に設定する。 - 特許庁

A SDRAM comprises a data inverting decoder 44 which generates data selection signals DQS0 to DQS3 respectively corresponding to data signals DQ0 to DQ3 conforming to external control signals /OE, /LB, /UB in a test; and a data inverting circuit 30 which inverts each data signal DQ according to the data selection signals DQS0 to DQS3 and outputs them or outputs them without inverting them.例文帳に追加

ＳＤＲＡＭにおいて、テスト時に外部制御信号／ＯＥ，／ＬＢ，／ＵＢに従って、それぞれデータ信号ＤＱ０〜ＤＱ３に対応するデータ選択信号ＤＱＳ０〜ＤＱＳ３を生成するデータ反転デコーダ４４と、データ選択信号ＤＱＳ０〜ＤＱＳ３に従って各データ信号ＤＱを反転させ、または反転させずに出力するデータ反転回路３０とを設ける。 - 特許庁

The second and third testing circuits may have respectively a plurality of testing elements provided electrically in parallel, a selection part for controlling each testing element in the on-state successively at the test time of the electronic device, and a discrimination information output part for outputting each terminal voltage of the testing element controlled in the on-state successively by the selection part as discrimination information of the electronic device.例文帳に追加

第２および第３のテスト用回路は、電気的に並列に設けられた複数のテスト用素子と、電子デバイスの試験時において、それぞれのテスト用素子を順次オン状態に制御する選択部と、選択部が順次オン状態に制御したテスト用素子のそれぞれの端子電圧を、電子デバイスの識別情報として出力する識別情報出力部とを有してよい。 - 特許庁

The control means 2 has an aromatic selection part 2a instructing the aroma generation means 3 about the selection of the aromatics, an aroma generation method or the like on the basis of the aroma generating time setting data, individual data (the data of birth, a schedule, a reply of a physicological test or the like), weather data and other various set data inputted from the input means 4.例文帳に追加

上記制御手段２は、上記入力手段４から入力される芳香発生の時間設定情報、個人情報（生年月日，スケジュール，心理テストの回答等）、気候情報その他の種々の設定情報に基づき、芳香材の選択及び芳香の発生方法等を上記芳香発生手段３に指示する芳香材選択部２ａを有するものとした。 - 特許庁

A semiconductor device comprises: a plurality of data input/output terminals DQ0 to DQn and a strobe terminal DQS which are electrically connected in common by a test probe 6a; a command address terminal CA connected to the test probe 6b; and an output control circuit 31 for performing selection of data output circuits 10 to 1n on the basis of a signal input to the command address terminal CA.例文帳に追加

試験プローブ６ａによって電気的に共通接続される複数のデータ入出力端子ＤＱ０〜ＤＱｎ及びストローブ端子ＤＱＳと、試験プローブ６ｂに接続されるコマンドアドレス端子ＣＡと、コマンドアドレス端子ＣＡに入力される信号に基づいて、データ出力回路１０〜１ｎの選択動作を行う出力制御回路３１と、を備える。 - 特許庁

The semiconductor device 10 comprises the ADC 1, the determination circuit 2; the channel selection circuit 3, the test signal generator circuit 4, switches SW1 to SWn, switches SWn+1 to SWn+m, input terminals Pin1 to Pinn; and the output terminal Pout.例文帳に追加

半導体装置１０には、ＡＤＣ１、判定回路２、チャネル選択回路３、テスト信号発生回路４、スイッチＳＷ１乃至ＳＷｎ、スイッチＳＷｎ＋１乃至ＳＷｎ＋ｍ、入力端子Ｐｉｎ１乃至Ｐｉｎｎ、出力端子Ｐｏｕｔが設けられている。 - 特許庁

The user operates the selection part 130 to determine the color of the flash light to be emitted by the flash part 110, confirms a place to be irradiated with the flash light by using the light projected by the test light 120, and depresses a shutter button 140 in proper timing.例文帳に追加

利用者は、選択部１３０を操作することにより、フラッシュ部１１０から放たれるべき閃光の色を決定するともに、試しライト１２０が投光する光により閃光が照らすべき場所を確認し、適宜のタイミングでシャッタボタン１４０を押下する。 - 特許庁

In the macro MACRO2, a selection signal of a selector SEL1 turns to a low level, an enable signal of a three-state buffer TR1 becomes active, and an output of the macro MACRO1 is outputted to an output test bus BUSO through the selector SEL1 and the three-state buffer TR1.例文帳に追加

マクロＭＡＣＲＯ２ではセレクターＳＥＬ１の選択信号がロウレベル、スリーステートバッファＴＲ１のイネーブル信号がアクティブとなり、マクロＭＡＣＲＯ１の出力はセレクターＳＥＬ１とスリーステートバッファＴＲ１を経由して出力テストバスＢＵＳＯに出力される。 - 特許庁

When the user depresses a determination key after the user selects a question number in reverse display R1 and selects a selection branches in the question in reverse display R3 on a test screen W1, marking processing is performed by a CPU and right/wrong of the answer (SY1) is displayed (b).例文帳に追加

テスト画面Ｗ１において、ユーザが反転表示Ｒ１で問題番号を選択し、問題中の選択肢を反転表示Ｒ３で選択した後、決定キーを押下すると、ＣＰＵによって採点処理が行われて、回答の正否ＳＹ１が表示される（ｂ）。 - 特許庁

When being possible to be displayed, this system allows a document database part 24 to store it, an anchor selection part 26 to acquire link information, a network communication part 21 to acquire a next Web page from the Internet network 12 based thereon, and the restriction test part 23 to determine the adaptability.例文帳に追加

表示可能である場合、これをドキュメントデータベース部２４に保存すると共にアンカ抽出部２６でリンク情報を取得させ、これを基にインターネット網１２からネットワーク通信部２１によって次のウェブページを取得させて制約テスト部２３で適合性を判別する。 - 特許庁

At the time of a gradation selection operation, different potentials IN, INb are inputted in each of the input lines 131, 132, different potentials are outputted from the output lines 142, 141 and at the time of the stress test, the same potential is outputted from both of the output lines 142, 141.例文帳に追加

階調選択動作時には、入力ライン１３１，１３２のそれぞれに異なる電位ＩＮ，ＩＮｂが入力され、出力ライン１４２，１４１から異なる電位が出力され、ストレステスト時には、出力ライン１４２，１４１の両方から同じ電位が出力される。 - 特許庁

As for the external signal terminals 22 of the IC 21, the inspection apparatus 23 controls turning on/off of the FETs, by giving to the test control section 26 a selection signal for selecting an external signal terminal 22, to be driven and checks out the interference state of an internal signal transmission line between the external signal terminals 22.例文帳に追加

そして、検査装置２３を、ＩＣ２１の外部信号端子２２について、テスト制御部２６に駆動対象となる外部信号端子２２の選択信号を与えることでＦＥＴのオンオフを制御し、それらの端子２２の間における内部信号伝送路の干渉状態を検査する。 - 特許庁

This device is provided with plural memory cells arranged in a matrix state, and word lines selecting one row out of plural memory cells, and defective sense amplifier and a defective memory cell having no capability for a recovery time tDPL are detected by quickening non-selection timing of a word line at the time of a test.例文帳に追加

マトリックス状に配された複数のメモリセルと、複数のメモリセルから一行を選択するワード線とを備え、テスト時にワード線の非選択タイミングを早くすることによってリカバリータイムｔＤＰＬに対し実力のない欠陥センスアンプや欠陥メモリセルを検出する。 - 特許庁

The operation means 3 have a feeding selection part for successively selecting the previous or following independent window in the arrangement order of the independent windows by the operation of selecting each window position of the independent windows of the zone window part for interlocking operation function set such as fire test every sensor circuit line, rumbling and the like.例文帳に追加

操作手段３は、前記感知器回線毎の火災試験、音響鳴動など連動動作機能設定等の前記地区窓部の、個別窓の各窓位置を選択する操作にて、個別窓の配置順に逐次前、または後を選択する送り選択部を有する。 - 特許庁

An interface test circuit 20 is bus-connected to the CPU 13, and includes a selection circuit 22 for selecting one of the interface circuits 11a-11d and selecting whether input or output of data is performed to each of the one set of external terminals related to the selected interface circuit.例文帳に追加

インタフェーステスト回路２０は、ＣＰＵ１３にバス接続され、インタフェース回路１１ａ〜１１ｄの一つを選択し、選択されたインタフェース回路に係る１組の外部端子のそれぞれに対してデータの入力あるいは出力を行うかを選択する選択回路２２を備える。 - 特許庁