「shape inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a pressure receiving member suitable for high altitude work and capable of performing satisfactory inspection of fixation load or re-tensioning work even if a shape of a received pressure dispersion face is curved and to provide a tension force inspection method and a re-tensioning method by use of the pressure receiving member.例文帳に追加

高所作業に適して、被受圧分散面の形状が、湾曲していても、良好な定着荷重の検査若しくは、再緊張施工作業を行うことが出来る受圧部材、該受圧部材を用いた緊張力検査方法及び再緊張施工方法を提供する。 - 特許庁

To provide a coordinate correction method between different apparatuses which enables access to a defective position simply and precisely with a defective review system, based on coordinate information of an arbitrary defect obtained by a shape defective inspection device, and to provide an inspection method using the coordinate correction method.例文帳に追加

外観欠陥検査装置で取得した任意の欠陥の座標情報に基づき欠陥レビュー装置で当該欠陥位置に容易に且つ精度良くアクセス可能にする異なる装置間の座標補正方法及びこの座標補正方法を用いた検査方法を提供する。 - 特許庁

The mounting inspection apparatus 3 which inspects the connection state of the mounting body 1 to the board 2 measures the abnormality of a surface shape such as the warpage amount or the like of the mounting body 1, and it detects whether the solder shape of the connection part of the mounting body 1 to the board 2 and the shape of the board 2 are normal or not.例文帳に追加

また、電子部品実装体１と基板２との接続状態を検査する実装検査装置３は、電子部品実装体１の反り量等、表面形状の異常を測定することで、電子部品実装体１と基板２との接続部分のはんだ形状、及び基板２の形状が正常か否かを検出している。 - 特許庁

To provide a sectional shape of rail measuring device capable of a quantitative evaluation without resorting to the operator's sense, measuring the sectional shape of the rail with high precision, and reducing the cost to a great extent by decreasing the time and/or manhours required to conduct the inspection.例文帳に追加

作業者の勘に頼らない定量的な評価ができるとともに、高精度のレール断面形状測定が可能であり、検査に要する時間や人員を減らすことにより、コストを大幅に低減できるレール断面形状測定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A groove wherein an upper edge 17 of an inspection panel 15 is fitted is formed in the lower surface of the upper sash bar, and the noncombustible sheet plates 7, etc. formed in the shape of the grain pattern are stuck on the surfaces of the sash bars.例文帳に追加

そして上桟下面には点検パネル１５の上縁１７が嵌る溝を形成し、そして上記各桟の表面には木目模様を形成した不燃性シート板７，７・・を貼り合わせている。 - 特許庁

To provide a pattern inspection method, extracting an edge shape of a pattern from an image obtained by a scanning type microscope, and estimating the electric performance of a device from the extracted information to inspect the pattern.例文帳に追加

走査型顕微鏡で得られる画像からパターンのエッジ形状を抽出し、その抽出情報からデバイスの電気的性能を予測し、パターンを検査するパターン検査方法を提供する。 - 特許庁

In the CTP plate accuracy inspection method, the accuracy of the outer shape dimension and exposure position on the CTP plate is inspected on the basis of the mark attached at the four corners of the CTP plate or the exposure limit area.例文帳に追加

ＣＴＰ版またはその露光限界領域の４隅に付されたマークに基づいてＣＴＰ版における外形寸法と露光位置の精度を検査するようにしたＣＴＰ版精度検査方法。 - 特許庁

In the image processing device 24, an inspection frame having the same shape and the same angle is set corresponding to a parallelogram-shaped pattern formed by the sealing line relative the acquired image data.例文帳に追加

画像処理装置２４においては、前記得られた画像データに対して、シール線によって形成された平行四辺形状の模様に対応して同一形状かつ同一角度の検査枠が設定されている。 - 特許庁

To provide an inspection method of a substrate for an electro-optical device, and the like, generating little measurement error, and having a short measuring time, when inspecting the shape of a step on the substrate by using an optical interference measuring device.例文帳に追加

光干渉測定装置を用いて基板上の段差の形状を検査する際に、測定エラーが少なく、測定時間の短い電気光学装置用基板の検査方法等を提供する。 - 特許庁

To make it possible to constitute an endoscope system which is capable of detecting an endoscope shape with high accuracy, eliminates the laboriousness in an inspection chamber and is excellent in workability.例文帳に追加

精度の高い内視鏡形状の検出が可能で、検査室内の煩雑さを解消して、作業性に優れた内視鏡システムの構成を可能にする内視鏡形状検出装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe card which enables to use probe pins in the shape of a horizontal type cantilever on the occasion of performing continuity inspection of an integrated circuit having a plurality of electrodes arranged in grid disposition, and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

複数の電極がグリッド配置された集積回路を導通検査する際に水平型カンチレバー形状のプローブピンを使用することができるプローブカードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The second inspection pattern 120 corresponds to the connection verification electrodes 211-213 in terms of position, which are electrically independent as three measurement electrodes 121-123 being formed in a stripe shape.例文帳に追加

第２検査パターン１２０は、上記接続確認電極２１１〜２１３に位置的に対応し、それぞれが電気的に独立して短冊状に形成された３本の測定電極１２１〜１２３とする。 - 特許庁

To provide a contour shape inspection method of a component and its device capable of acquiring an accurate silhouette image of a test object component even if another component is arranged on the position near the test object component.例文帳に追加

検査対象部品の近傍位置に別の部品が配置されていても検査対象部品の正確なシルエット画像が得られる部品の輪郭形状検査方法及びその装置を供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of certainly detecting a defect such as foreign matter or the like having mixed in an object to be detected without being affected by the shape of the object to be detected or the position of the defect.例文帳に追加

検出対象の形状や、欠点の位置に影響されず、検出対象に混入している異物等の欠点を確実に検出することができる欠点検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection method capable of detecting even a recess formed on an end face of a pair of glass substrates, and capable of detecting abnormality of an outer shape irrespective of a size of the pair of glass substrates.例文帳に追加

一対のガラス基板の端面に形成された凹部をも検出することができ、一対のガラス基板の大きさによらず外形の異常を検出可能な基板検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device, system, and method for inspecting shapes, capable of performing accurate shape inspection, even if there is a part impossible of imaging partially on the surface of an object.例文帳に追加

対象物の表面の一部に撮像不可能な部分があっても、精度の良い形状検査を行うことが可能な形状検査装置、形状検査システムおよび形状検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a minor diameter measuring device capable of acquiring accurate measurement results by performing correction operation at every measurement, even when minor diameter measurement is performed in the shape of total number inspection on a production line.例文帳に追加

製造ライン上での全数検査という形で内径を測定する場合であっても、測定のたびに校正作業を行って精密な測定結果を得ることのできる内径測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a turbine part scale removing method capable of efficiently removing scale formed on a surface of a turbine part having a complicated shape and a turbine part scale inspection method capable of efficiently inspecting the same.例文帳に追加

複雑な形状をしたタービン部品の表面に形成されたスケールを作業性よく除去し検査することのできるタービン部品のスケール除去方法および検査方法を提供する。 - 特許庁

After completion of inspection, the fruit vegetable A placed between the conveying body 20 and the support 50 is pushed up with a pushing up body 42 to return to a shape before pushing up, and placed again on the conveying body 20.例文帳に追加

検査終了後に於て、搬送体２０と支持体５１との間に載置された果菜物Ａを突上げ体４２で突上げ、突上げ前の姿勢に回転復帰させて、搬送体２０に再び載置する。 - 特許庁

A position controller 122 of this shape inspection device 100 changes a light source direction by moving a light source, the source direction being a direction from a solder ball of a BGA which is an inspecting object to the light source.例文帳に追加

形状検査装置１００の位置制御部１２２は、光源を移動させることにより、検査対象となるＢＧＡのはんだボールから光源に向かう方向である光源方向を変化させる。 - 特許庁

To provide an inspection device of a weld zone in a nuclear reactor pressure vessel capable of accessing easily the weld zone on a complicated narrow part having a shape changing three-dimensionally, and performing precisely flaw detection thereof.例文帳に追加

３次元的に形状変化する複雑かつ狭隘部にある溶接部に、容易にアクセスでき、的確に探傷検査することができる原子炉圧力容器における溶接部の検査装置を提供する。 - 特許庁

To realize a device for non-destructive inspection capable of more accurately detecting exfoliated portions of a coating by removing an effect of variations in measured data owing to the shape of a specimen or the thickness of its coating.例文帳に追加

被検体の形状、コーティングの厚さに起因した測定データのばらつきの影響を排除し、コーティングの剥離部分をより正確に検出可能な非破壊検査装置を実現すること。 - 特許庁

If it is determined to be an area to perform three dimensional inspection by the determination process, the inspection area is photographed a plurality of times by the photographing part while projecting the lattice fringe by a lattice fringe projection part and shifting the projection location of the lattice fringe, and the three dimensional shape is inspected from the image photographed a plurality of times.例文帳に追加

また、判断処理で３次元検査を行う領域と判断した場合に、格子縞投射部で格子縞を投射させると共にその格子縞の投射位置をシフトさせながら、該当する検査領域を撮影部で複数回撮影して、その複数回撮影された画像から３次元形状を検査する。 - 特許庁

To provide a concrete structure quality inspection method and a concrete structure quality inspection device, which inspects "covering thickness" even if a magnetic body is included in concrete, and also inspects highly accurately a concrete strength without being influenced by the shape of the concrete structure or by mutual reinforcements.例文帳に追加

コンクリート中に磁性体が含まれていても「かぶり厚さ」を検査することができると共に、コンクリート構造物の形状の影響や鉄筋相互の影響を受けることなくコンクリートの強度を高精度で検査することができるコンクリート構造物品質検査方法及びコンクリート構造物品質検査装置を得る。 - 特許庁

The surface of the disk (12) held to a vertical posture is irradiated with illumination light having an illumination pattern becoming an irradiation range, which has a shape almost the same to that of an inspection region containing an edge, from illumination devices (112, 114, 116 and 118) and the reflected light from the inspection region containing the edge is imaged by cameras (102 and 104).例文帳に追加

垂直姿勢で保持されたディスク（12）の面に対し、照明装置（112，114,116,118）からエッジを含んだ検査領域の形状と略同一形状の照射範囲となる照明光パターンの照明光を照射し、当該エッジを含んだ検査領域部分からの反射光をカメラ（102,104）によって撮像する。 - 特許庁

To provide a wafer chamfering grinding wheel inspecting method and a device shortening inspection time and improving accuracy by automatically measuring surface run-out, center run-out, a groove position, groove shape and the unbalance quantity by the same measuring apparatus.例文帳に追加

面振れ・芯振れ測定、溝位置・形状測定とアンバランス量測定を同一測定機により自動で測定し、検査時間の短縮と精度向上を図るウエーハ面取り用砥石の検査方法と装置を提供する。 - 特許庁

To provide a feature quantity extraction technique strong to environmental fluctuation and suitable for use in processing of feature quantity extraction technique used in pattern search, automatic processing area determination, outer shape inspection or the like.例文帳に追加

環境変動に強く、パターンサーチ、自動処理領域決定、外形検査等で用いる特徴量抽出の技術の処理で使うのに適した特徴量抽出技術を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method using Rayleigh waves for the purpose of detecting a smaller flaw or flaw shape because the height of a flaw capable of being measured by a TOFD method noticed as a new inspection method is about three times a wavelength.例文帳に追加

新しい検査手法として注目されているＴＯＦＤ法で測定可能な欠陥高さは波長の３倍程度とされており、より小さな欠陥や欠陥形状などの検出が望まれる。 - 特許庁

Further, by evaluating correlation with read-write test results in advance, a final failure part may be specified upon the inspection and measurement of the pattern cross sectional shape to prevent the generation of failure in advance.例文帳に追加

さらに、リードライトテスト結果との相関を予め評価しておくことにより、パターン断面形状の検査・測定時に最終的な不良箇所の特定を可能とし、不良の発生を事前に防止することができる。 - 特許庁

To provide a Barkhausen noise inspecting device for performing accurate inspection, without having to depend on the ununiformity of the interval between an exciting coil and an inspecting object, resulting from the shape, or the like, of the inspecting object and a detection head.例文帳に追加

検査対象物や検出ヘッドの形状などに起因する励磁コイルと検査対象物の間隔の不均一に左右されることなく、高精度の検査が可能なバルクハウゼンノイズ検査装置を提供する。 - 特許庁

In the connection structure of a wiring board, a specific connection terminal 12Aa of the wiring board has a shape different from that of each of the other connection terminals 12Ba, 12Ca, 12Da and includes an inspection portion 12Aaa in which a distance with the connection terminal 12Ba adjacent thereto becomes partially smaller.例文帳に追加

配線基板の特定の接続端子１２Ａａは、他の接続端子１２Ｂａ，１２Ｃａ，１２Ｄａ，・・・と異なる形状を有し、それの隣の接続端子１２Ｂａとの間隔が部分的に小さくなる検査部分１２Ａａａを備える。 - 特許庁

To provide an optical member inspection device capable of extracting precisely a shape of a component or the like such as an optical member, and capable of acquiring a quality determination result of no dispersion.例文帳に追加

光学部材をはじめとする部品等の形状を高い精度をもって抽出することができ、さらにはばらつきのない良否判定結果を取得することができる光学部材検査装置を提供すること。 - 特許庁

In this inspection device for the semiconductor element of the present invention, the plurality of contact pins 10 are arranged with a space in a support substrate 6, and ceramic insulators 2 with a tip part of sharpened shape are arranged between the contact pins 10.例文帳に追加

本発明の半導体素子の検査装置では、支持基板６に間隔をあけてコンタクトピン１０が複数配置され、コンタクトピン１０の間に先端部が尖った形状であるセラミック絶縁体２が配置されている。 - 特許庁

To provide a method for inspecting defects in a three-dimensional shape capable of accurately executing defect inspection on a work surface without changing settings according to temperature changes or actively controlling a temperature environment.例文帳に追加

温度変化に応じて設定を変えたり、温度環境を積極的に制御したりしなくても、ワーク表面の欠陥検査を的確に実行することのできる三次元形状の欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an intraocular lens measuring method and an inspection device for performing intraocular lens shape measurement in a space-saving manner with high measurement accuracy while drastically shortening time for measuring and inspecting an intraocular lens.例文帳に追加

眼内レンズの形状計測を省スペースかつ高い測定精度で行うことができ、眼内レンズの計測及び検査時間を大幅に短縮することができる眼内レンズの計測方法、検査装置を提供する。 - 特許庁

To detect the shape of fluorophor layer formed on a substrate by non-destructive inspection during the manufacturing process of a plasma display panel, with respect to a method for evaluating the application state of the fluorophor of a plasma display panel.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの蛍光体塗布状態を評価する方法に関し、基板に形成された蛍光体層の形状を非破壊検査によって、プラズマディスプレイパネルの製造工程中に検出することを課題とする。 - 特許庁

ALIGNING METHOD AND APPARATUS FOR MATERIAL OF TRUNCATED CONICAL SHAPE, AND MACHINING DEVICE, EXTERNAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE, PRODUCT PACKAGING DEVICE THEREWITH, AND MANUFACTURING METHOD OF FORGED PRODUCT AND FORGING MACHINE EMPLOYING THE ALIGNING METHOD例文帳に追加

円錐台形状素材の整列方法と整列装置およびそれを備えた機械加工装置、外観検査装置、製品梱包装置、並びに当該整列方法を用いた鍛造製品の製造方法および鍛造装置 - 特許庁

Thus, the wafer W is inspected while temporarily fixed to the stage surface, so the inspection is hardly affected by vibration propagated from the wafer shape inspecting device and the wafer W can be inspected in a free posture.例文帳に追加

このように、ウェーハＷをステージ面に仮止めした状態で検査するため、ウェーハ形状検査装置１０から伝わってくる振動の影響をほとんど受けず、ウェーハＷをフリーな姿勢のまま検査できる。 - 特許庁

The spring for measuring is used for inspection of electronic device and is provided with a first conductive body 1 to be in contact with the object to be measured, and a second conductor body 3 for controlling the shape variation of a first conductor body.例文帳に追加

電子装置の検査に用いられる測定用バネであり、被測定物に接触する第１の導電体１と、第１の導電体の形状変化を制御する第２の導電体３とを備えている。 - 特許庁

To provide a method for automatically confirming a data mark easily and accurately and performing automatic measurement more highly accurately without using information on the shape of a data mark from an observation image, in the inspection for a recording medium.例文帳に追加

記録媒体の検査において、観察像からデータマーク形状に関する情報を用いずに、容易かつ高精度にデータマークを自動認識し、より高精度に自動計測を行う方法を提供すること。 - 特許庁

The omens such as displacement of a red emission layer 15CR and green emission layer 15CG are discovered in an early stage based on change of EL or PL emission chrominance or spectral shape in the inspection pixels Px2.例文帳に追加

検査用画素Ｐｘ２のＥＬまたはＰＬ発光の色度またはスペクトル形状の変化に基づいて、赤色発光層１５ＣＲ，緑色発光層１５ＣＧの位置ズレなどの予兆を早期に発見する。 - 特許庁

When inspecting the quality of the conductive pattern 2 arranged in a row shape on a glass substrate 3 in a noncontact state, a power supply part 12 for supplying an inspection signal and a sensor 13 for detecting its signal, are arranged in close vicinity to each other.例文帳に追加

ガラス基板３上に列状に配設された導電パターン２の良否を非接触で検査する際、検査信号を供給する給電部１２と、その信号を検知するためのセンサ１３とを近接して配する。 - 特許庁

As an encoder for inspection 10b, one equipped with a first property variation region 15 having a property border in a "<" figure shape and a second property variation region 16 having a property border parallel to an axial direction is used.例文帳に追加

検査用エンコーダ１０ｂとして、「く」字形の特性境界を有する第一特性変化領域１５と、軸方向に平行な特性境界を有する第二特性変化領域１６とを備えたものを使用する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus, for the inspection of a defect, wherein the existence of the defect in even a weld in a nuclear reactor can be detected surely and the shape or the size of the defect can be found.例文帳に追加

原子炉の溶接部であってもその溶接部の欠陥の有無を確実に検出することができ、しかも、その欠陥の形状や大きさを求めることのできる欠陥検査方法と欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

In this shape-measuring method and this device for the optical element and its type, a three-dimensional coordinate measuring means 30 for measuring the three-dimensional coordinates of the optical element which is an inspection object or its type O is used, and processing for applying measurement data acquired by the three-dimensional coordinate measuring means 30 to a function for expressing the shape is carried out.例文帳に追加

被検物たる光学素子あるいはその型Ｏの３次元座標を測定する３次元座標測定手段３０を用い、３次元座標測定手段３０により得られた測定データを形状を表わす関数にあてはめる処理を行う光学素子及びその型の形状測定方法と装置。 - 特許庁