「detection process」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

The surface flaw repairing method includes a detection process for detecting surface flaws 14 on the metal rod material by a leakage flux flaw detection test, and a process for inspecting the surface flaws by confirming visually the degree of the surface flaws 14 by an operator.例文帳に追加

この表面疵補修方法は、漏洩磁束探傷試験によって金属製棒材の表面疵１４を検知する検知工程と、この表面疵１４の程度を作業者が目視で確認して表面疵の検査をする工程とを含む。 - 特許庁

If the water level detection unit 40 does not detect water level equal to or higher than second predetermined water level even after a lapse of predetermined time from the commencement of the water supply process, the water supply process is suspended and the weight detection unit 73 detects the weight of the inside of the water tank again.例文帳に追加

給水過程が開始されてから所定時間が経過しても、水位検出部４０が第２所定水位以上の水位を検出しない場合、給水過程中断後、重量検出部７３は再び水槽内重量を検出する。 - 特許庁

To implement error detection and a recovery process even if a communication sequence of commands/messages fails during the process of supplying data from a host to a target via a common buffer, thereby preventing the process of supplying the data from stopping.例文帳に追加

ホストからターゲットへの共通バッファを介したデータ供給処理において、コマンド／メッセージの通信シーケンスが異常になった場合でも、エラー検出とリカバリ処理を行ってデータ供給処理を停止させないようにする。 - 特許庁

A control part provides control to perform recording in each predetermined recording unit, detect record interrupts in each predetermined detection unit, and perform a record terminating process upon detection of the record interrupt.例文帳に追加

所定の記録単位毎に記録し、所定の検知単位毎に記録中断を検知し、前記記録中断を検知した際に記録終了処理を行うように制御部により制御する。 - 特許庁

Thereby the process cartridge B has compatibility of being attachable to/detachable from both the image forming device A main body for the electrode bar detection type and the image forming device A' main body for the electrode plate detection type.例文帳に追加

これにより、電極棒検出型用の画像形成装置Ａ本体と、電極板検出型用の画像形成装置Ａ′本体の双方に着脱可能な互換性を有する。 - 特許庁

A control circuit 20 stores an information about whether or not ink quantity detection terminals 114 and 115 are detected in a memory, for every ink cartridge 70 being an object of the ink quantity detection process.例文帳に追加

制御回路２０は、インク量の検出処理の対象となったインクカートリッジ７０毎に、インク量被検出端子１１４、１１５が検出されたか否かをメモリに記憶する。 - 特許庁

Furthermore, a clip processing section 5 estimates detection deterioration from the base band signal obtained from the CONT section 1 and caused by a time constant in a detection circuit section 4 to process the data.例文帳に追加

またＣＯＮＴ部１より得られるベースバンド信号に対し、クリップ処理部５において検波回路部４での時定数によって生じる検波劣化を推測しデータの加工を行う。 - 特許庁

To provide an interpolation processing apparatus capable of obtaining a correct pulldown detection result, and carrying out an interpolation process corresponding to the detection result; an interpolation method; and a picture display device.例文帳に追加

正確なプルダウン検出結果を求め、検出結果に対応した補間処理を行なうことができる補間処理装置及び補間処理方法及び映像表示装置を提供する。 - 特許庁

When the lock arm 25 is deflected and deformed in a fitting process of both housings 10, 80, this detection member 50 includes a detection body 51 deflected and deformed in interlocking with this lock arm 25.例文帳に追加

この検知部材５０は、両ハウジング１０、８０の嵌合過程でロックアーム２５が撓み変形したときに、このロックアーム２５に連動して撓み変形する検知本体５１を有している。 - 特許庁

The delay analysis equipment 500 executes critical path detection process by a detection part 503 when a timing analysis result (a timing list 400) is input by an input part 501.例文帳に追加

遅延解析装置５００は、入力部５０１により、タイミング解析結果（タイミングリスト４００）が入力された場合、検出部５０３により、クリティカルパス検出処理を実行する。 - 特許庁

The game control means 56A and the putting-out control means 371A input a detection signal from a putting-out game medium detection means 301C during a power supply stoppage process.例文帳に追加

遊技制御手段５６Ａおよび払出制御手段３７１Ａは、電力供給停止時処理において、払出遊技媒体検出手段３０１Ｃからの検出信号の入力処理も行う。 - 特許庁

Thus, the passive and active distance measurements can be executed by inputting photo detection data twice at the maximum and the inputting of photo detection data and the curtailing of the housing process are possible, thereby achieving the shortening of the distance measuring time.例文帳に追加

最大２回の受光データの取込みで、パッシブ測距とアクティブ測距が実行でき、受光データの取り込み、格納工程が削減でき、測距時間を短縮することが可能になる。 - 特許庁

When failure detection for the downstream oxygen sensor is requested (step 100), a target sensor element temperature is set at a low-temperature preset value (400 °C) for execution of a low-temperature side failure detection process (steps 102, 104).例文帳に追加

下流酸素センサの異常検出が要求されたら（ステップ１００）、センサ素子温の目標を低温設定値（４００℃）とし、低温側異常検出処理を行う（ステップ１０２，１０４）。 - 特許庁

Also, a failure detection means 104 detects the failure of a monitor target process by accepting the notification of the invalidation of the file descriptor from the file descriptor status detection program 14.例文帳に追加

また故障検出手段１０４が、ファイル記述子の無効の通知をファイル記述子状態検出プログラム１４から受け付けて監視対象プロセスの故障を検出する。 - 特許庁

The put-out control means 371A does not execute the subtraction process of the number of game balls yet to be put out if the control state is the error state even if the detection signal is outputted from the put-out detection means 301A.例文帳に追加

払出制御手段３７１Ａは、エラー状態であるときには、払出検出手段３０１Ａからの検出出力があっても、未払出個数の減算処理を行わない。 - 特許庁

To correct a coordinate detection processing process based on the shape of an oscillation input waveform and to reduce the influence of a change in an oscillation waveform upon the detection accuracy of coordinates.例文帳に追加

振動入力波形の形状に基づいて座標検出処理の過程における補正を行うことを可能とし、振動波形の変化による座標検出精度への影響が低減する。 - 特許庁

When a detection signal indicating that a document has been set is transmitted from the document detection circuit 51, the recording control section 40 controls a fixing control section 402 to perform a preliminary heating process.例文帳に追加

記録制御部４０は、原稿検知回路５１から原稿がセットされたことを示す検知信号が送信されると、定着制御部４０２を制御して予備加熱処理を行う。 - 特許庁

The process part, if it has been determined that another object exists between the front and back surfaces of the collision detection target object when viewed from a predetermined viewpoint on the basis of the result of drawing process of the collision detection target object, determines that the collision detection target object has collided with the other object.例文帳に追加

処理部は、衝突検出対象オブジェクトの描画処理の結果に基づいて、衝突検出対象オブジェクトの所定の視点から見たときの前面と背面の間に、他のオブジェクトが存在すると判断した場合に、衝突検出対象オブジェクトが他のオブジェクトに衝突したと判定する。 - 特許庁

To provide a detection method capable of simplifying the detection process of biochemical samples with good reproducibility using biochips, not requiring excessive techniques for users, to upgrade the precision of an operation and the effect thereof for a hybridization and a label modifying process so as to be able to upgrade finally the detection precision of a target sample.例文帳に追加

バイオチップを用いた生化学検体の検出工程を再現性よく簡素化し、測定者に過度の技量を要求ぜず、ハイブリダイゼーションと標識修飾工程における施術とその効果の精度を高め、最終的に目的検体の検出精度の向上が可能となる検出方法の提供。 - 特許庁

Since an output of the microwave transmitted in the transmission process 13 is high, a solid matter sticking to the detection face of the probe is heated to be decomposed in a solid matter eliminating process 14 according to the same principle as heating by a microwave oven, so that the solid matter sticking to the detection face of the probe is eliminated for cleaning the detection face.例文帳に追加

この発信工程１３から発信されたマイクロ波は、高出力であるため、プローブの検出面に付着した固形物を、固形物除去工程１４で電子レンジによる加熱と同じ原理で加熱分解し、プローブの検出面に付着した固形物を除去し、検出面の洗浄が行われる。 - 特許庁

To provide a detection method capable of simplifying the detection process of biochemical samples with good reproducibility using biochips, not requiring excessive techniques for users, to upgrade the precision of an operation and the effect thereof for a hybridization and a label modifying process so as to be able to upgrade finally the detection precision of a target sample.例文帳に追加

バイオチップを用いた生化学検体の検出工程を再現性よく簡素化し、測定者に過度の技量を要求せず、ハイブリダイゼーションと標識修飾工程における施術とその効果の精度を高め、最終的に目的検体の検出精度の向上が可能となる検出方法の提供。 - 特許庁

This flaw detection method of the semiconductor wafer has a longitudinal direction specifying process for specifying the longitudinal direction of a flaw, by observing the surface of the semiconductor wafer and a flaw detection process for scanning a light along the longitudinal direction of the flaw specified in the longitudinal direction specifying process, to detect the flaw present on the surface of the semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェーハの表面を観察して欠陥の長手方向を特定する長手方向特定工程と、長手方向特定工程で特定された欠陥の長手方向に沿って、光を走査することにより、半導体ウェーハ表面に存在する欠陥を検出する欠陥検出工程とを行う。 - 特許庁

The process abnormality detection part 112 is a block detecting the kind of the abnormality about each of the plurality of pieces of abnormality including each the abnormality of a different kind from each other, generated in the process.例文帳に追加

工程異常検出部１１２は、工程において発生し、互いに異なる種類の各異常を含んだ複数の異常の各々について、異常の種類を検出するブロックである。 - 特許庁

Heat treatment is applied to the repair welded part, and it is preferable that the inspection in the electromagnetic acoustical type ultrasonic flaw detection is continued from the process of build up welding to the process of heat treatment.例文帳に追加

また、補修溶接部には熱処理が施されるが、肉盛り溶接の工程からこの熱処理の工程まで、電磁超音波探傷法による検査を継続することが好ましい。 - 特許庁

The detection method of the hydrophobic region of the target substance includes a process for bringing the target substance capable of forming the hydrophobic region into contact with a chemiluminescent substance and a process for measuring chemiluminescence.例文帳に追加

疎水部位を形成し得る標的物質と化学発光物質とを接触させる工程、及び化学発光を測定する工程を含む、標的物質の疎水部位を検出する方法。 - 特許庁

A voltage control circuit (42A) acts so as to repeat the process of gradually reducing an adaptor voltage (V_ADP) and a process of raising the adaptor voltage as a first step, in response to the detection signal.例文帳に追加

電圧制御回路（４２Ａ）は、アダプタ電圧（Ｖ_ＡＤＰ）を徐々に落とす工程と、検出信号に応答して一旦アダプタ電圧を上昇させる工程とを繰り返すように動作する。 - 特許庁

In a substrate treating device having a light source, an optical system, and a scattered light detection device, a substrate is treated while changing the process conditions and a process margin for preventing particles is obtained.例文帳に追加

光源、光学系および散乱光検出装置を備えた基板処理装置において、プロセス条件を変化させながら基板処理を行い、パーティクルが発生しないプロセスマージンを求める。 - 特許庁

The control device performs the bubble detection process after performing the first jet process in which the washing pump is operated and cleaning fluid is spouted through the washing nozzle in the washing tank.例文帳に追加

制御装置は、洗浄ポンプを作動させて洗浄ノズルから洗浄槽内に洗浄水を噴出する第１噴出行程を実行した後に、泡検出処理を実行する。 - 特許庁

The electric inspection process S12 includes a coordinate detection process S13 for detecting a position coordinate of the unit region including the defect, when the defect of the unit region is detected.例文帳に追加

電気検査工程Ｓ１２には、単位領域の欠陥が検出された場合に、欠陥を含む単位領域の位置座標を検出する座標検出工程Ｓ１３が含まれる。 - 特許庁

To enable firm detection, also from application software side, of whether processing in a daemon process has been completed in a device control system where a device driver controls a device via the daemon process.例文帳に追加

デバイスドライバがデーモンプロセス経由でデバイスを制御するデバイス制御システムにおいて、デーモンプロセスでの処理が完了したか否かをアプリケーションソフトウェア側からでも確実に検知可能とすること。 - 特許庁

A simulation unit 22, when starting the cleaning process to either lot in-process at the cleaning device 1 on the basis of the information obtained by the detection unit 21, simulates the allocation of the lot in-process to each cleaning bath 4 to calculate a process completion time or a non-processing time of the lot in-process each lot in-process on the basis of the simulation results.例文帳に追加

シミュレーション部２２は、検知部２１が取得した情報に基づいて洗浄処理装置１において各仕掛かりロットのいずれかに対する洗浄処理を開始する場合の、当該仕掛かりロットの各洗浄処理槽４への割り当てをシミュレーションし、当該シミュレーション結果に基づいて仕掛かりロットの処理完了時間または不処理時間を仕掛かりロットごとに算出する。 - 特許庁

To provide a sensor system of increased transmission speed in transmission of detection signal to a process device from a sensor device.例文帳に追加

センサ装置から処理装置へ検出信号を送信するにあたり、その送信速度の高速化を図ったセンサシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device such that a defect detection test can be conducted even in a product state after a packaging process.例文帳に追加

パッケージング工程後の製品状態においても欠陥検出試験を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

An abnormality detection process for determining the presence or absence of the abnormality of the air/fuel ratio sensor 26 is performed in accordance with the following steps [a]-[c].例文帳に追加

空燃比センサ２６の異常の有無を判断するための異常検出処理は、以下の［ａ］〜［ｃ］の手順により行われる。 - 特許庁

When a suction recovery process is started (S52), a predetermined dot number corresponding to a suction amount is added to a residual detection counter beforehand (S53).例文帳に追加

吸引回復処理起動されると(Ｓ５２)、残検カウンタに、予め吸引量に相当する所定ドット数を加算する(Ｓ５３)。 - 特許庁

Prepared is a detected light quantity table for an end-point detection part by a polishing process recipe of a polished layer of a semiconductor wafer (S202).例文帳に追加

半導体ウェーハの被研磨層の研磨工程レシピによるエンドポイント検出部の検出光量テーブルを用意するＳ２０２。 - 特許庁

If an approaching object is not detected (S15: NO), the processing proceeds to S14 and the approaching object detection process is performed once again.例文帳に追加

また、接近物体を検知しなかった場合（Ｓ１５：ＮＯ）、Ｓ１４へ移行し、再度、接近物体検知処理が実行される。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus in which detection of density unevenness is stabilized and a process of correcting the density unevenness is simplified.例文帳に追加

濃度むら検出の安定化、および濃度むら補正の処理の簡素化が可能となる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The abnormality detection of the number of rotations is conducted by counting rotation-determination pulses in the disentangling treatment of the rinsing process.例文帳に追加

回転数の検知異常は、すすぎ行程でのほぐし処理において、回転判定パルスをカウントすることにより行われる。 - 特許庁

Subsequently, a detection processing process is performed to detect the detected body T in each direction to which the autonomous mobile apparatus R is turned.例文帳に追加

続いて、自律移動装置Ｒが向いた各方向毎で被検出体Ｔを検出させる検出処理工程を行う。 - 特許庁

An alarm detection section 103 supervises each constituent of a manufacturing apparatus 1, and detects the abnormality produced when an industrial process is executed.例文帳に追加

アラーム検知部１０３は、製造装置１の各構成を監視し、製造プロセスの実行にあたって発生した異常を検知する。 - 特許庁

A detection circuit optimum for each type of process variation is set, in a system constitution for performing adaptive voltage scaling.例文帳に追加

適応型電圧スケーリングを実施するシステム構成において、プロセスばらつきの種類毎に最適な検出回路を設置する。 - 特許庁

An inspection map is prepared by performing a defect detection process 32 to the surface of the substrate, and a data base 34a is provided.例文帳に追加

基板表面に対して欠陥検出プロセス３２を行って検査マップを製作し、またデータベース３４ａを提供する。 - 特許庁

A detection signal process circuit 10 includes: a rotational direction determination circuit 40; a mask circuit 50; and a phase difference determination circuit 76.例文帳に追加

検出信号処理回路１０は、回転方向判定回路４０と、マスク回路５０と、位相差判定回路７６を備えている。 - 特許庁

The process unit 400 includes a photoreceptor drum 3, an initial detection gear 411, a rotation stopper 32 and a stopper arm 440.例文帳に追加

本発明のプロセスユニット４００は、感光体ドラム３、イニシャル検知ギア４１１、回り止め３２およびストッパアーム４４０を備える。 - 特許庁