「defect formation」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

When each streak defect emphasized by the streak defect emphasizing means 300 is a nearly linear defect and the formation direction of the streak defect is nearly coincident with the rubbing treatment direction of the panel, the defect distinguishing means 400 distinguishes the streak defect as the rubbing streak defect and distinguishes the defect as the streak defect in the other case.例文帳に追加

欠陥分別手段４００は、スジ欠陥強調手段３００で強調された各スジ欠陥が、ほぼ直線状の欠陥であり、かつ、スジ欠陥の形成方向がそのパネルに対してラビング処理された方向にほぼ一致する場合にはラビングスジ欠陥と判別し、それ以外の場合にはスジ欠陥と判別する。 - 特許庁

To screen a readout reliability defect which is caused by a defect of insulation characteristics due to a defect at ferroelectric film formation time at the time of an initial inspection.例文帳に追加

強誘電体膜形成時の欠陥による絶縁特性不良で起こる読み出し信頼性不良を、初期検査時にスクリーニングする。 - 特許庁

To obtain a method for analyzing a defect of a mask blank, which is capable of accurately specifying which process a defect occurred during formation of a thin film for pattern formation in.例文帳に追加

パターン形成用薄膜の際、どのプロセスで欠陥が発生したのかを正確に特定することができるマスクブランクの欠陥分析方法を得る。 - 特許庁

RECORDING MEDIUM, IMAGE FORMING APPARATUS, IMAGE DEFECT POSITION DETERMINATION DEVICE, IMAGE FORMATION PROGRAM, AND IMAGE DEFECT POSITION DETERMINATION PROGRAM例文帳に追加

記録媒体、画像形成装置、画像欠陥位置判定装置、画像形成プログラム、及び画像欠陥位置判定プログラム - 特許庁

PARTIAL FORMATION METHOD OF THIN FILM, PARTIAL DEFECT RESTORATION METHOD OF THIN FILM AND DEFECT RESTORATION DEVICE OF THIN FILM例文帳に追加

薄膜の部分的形成方法および薄膜の部分的欠陥修復方法ならびに薄膜の欠陥修復装置 - 特許庁

To provide a method and a system for suppressing defect formation in liquid immersion lithography.例文帳に追加

液浸リソグラフィにおける欠陥形成を抑制する方法とシステムを提供する。 - 特許庁

Accordingly, image quality defect due to image formation is reduced and image quality defect due to screen processing is also reduced.例文帳に追加

これにより、画像形成に起因する画質欠陥が軽減されるとともにスクリーン処理に起因する画質欠陥が軽減される。 - 特許庁

To provide a surface defect detector and a surface defect detection method which improve detection accuracy of a surface defect by setting a threshold value adapted to a frequency distribution of brightness of a surface image according to a variation of formation.例文帳に追加

地合の変動による表面画像における輝度の度数分布に適合した閾値を設定することにより、表面欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

To more securely prevent the formation of a defect where silicon tungsten abnormally grows outward.例文帳に追加

より確実に、シリコン化タングステンが外向きに異常成長した欠陥の形成を防ぐ。 - 特許庁

To prevent a development defect due to sticking of dust on an image formation medium.例文帳に追加

画像形成媒体への塵埃の付着に起因する現像不良の発生を防止する。 - 特許庁

An identification of a low-defect density region and a positioning of a semiconductor device formation region are performed by using alternate and periodical formation of a low-defect density region and a high-defect density region.例文帳に追加

横方向成長工程において、低欠陥密度領域と高欠陥密度領域とが交互に周期的に形成されることを利用して、低欠陥密度領域の特定、および半導体素子形成領域の位置決めを行う。 - 特許庁

To provide a tablet capable of reducing the formation of leek defect, and excellent in properties to be stamped by YAG laser.例文帳に追加

リーク不良の発生を低減し、ＹＡＧレーザー捺印性に優れたタブレットを提供すること。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus that reduces image quality defect due to image formation, and reduces image quality defect due to screen processing.例文帳に追加

画像形成に起因する画質欠陥を軽減するとともにスクリーン処理に起因する画質欠陥を軽減する画像処理装置を提供する。 - 特許庁

TEG (TEST EXPERIMENTAL GROUP) FOR DETECTING PIPING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS PIPING DEFECT DETECTION METHOD, AND ITS VOID FORMATION STATE DETERMINATION METHOD例文帳に追加

半導体装置のパイピング不良検出用ＴＥＧ並びにそのパイピング不良検出方法およびそのボイド形成状態判定方法 - 特許庁

To provide an inspection device which can stably inspect a dross defect of a molten metal plating steel plate by being separated from formation noise and a slight defect.例文帳に追加

溶融金属メッキ鋼板のドロス欠陥を地合ノイズや軽度の欠陥と分離して、安定して検査することができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for speedily detecting a defect of a sheet material having a formation pattern such as a fine uneven shape on a surface with good reproducibility.例文帳に追加

表面に微細な凹凸形状等の地合パターンを有するシート材の欠陥を、迅速かつ再現性良く検査する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor package preventing a defect from occurring easily in the formation process of a resin package.例文帳に追加

樹脂パッケージの形成過程で欠陥が生じにくい半導体パッケージの提供を課題としている。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a highly reliable semiconductor device by avoiding the formation of a defect.例文帳に追加

欠陥の発生を回避して高い信頼性を有する半導体装置を製造する方法を提供する。 - 特許庁

CRYSTAL DEFECT RESTORATION METHOD, CRYSTAL PRODUCTION METHOD, PATTERN FORMATION METHOD, AND X-RAY DOSE DETECTION BODY例文帳に追加

結晶欠陥の回復方法、結晶体の作製方法、パターン形成方法、Ｘ線量の検出体 - 特許庁

An inspector (P) for determining the existence of the formation defect of the resist pattern 12 is positioned on the light source part S side.例文帳に追加

レジスト・パターン１２の形成不良の有無を判定する検査者(Ｐ)は、光源部Ｓ側に位置する。 - 特許庁

To provide a surface layer defect detector which accurately discriminates between formation noises of a metal analyte and detection signals due to scab defects.例文帳に追加

金属被検体の地合ノイズとヘゲ欠陥に起因する検出信号とを精度良く弁別する。 - 特許庁

To simply mount and demount a shelf unit when a defect is generated in the shelf unit in the case of the continuous formation of shelves or after the formation of the shelves, and to easily form the shelves.例文帳に追加

棚連続形成時もしくは棚形成後に一棚ユニットに不備が生じた場合に簡単に取り付け、取り外しができ、棚形成を容易にする。 - 特許庁

This method for preventing the seed from causing the defect in germination and the rosette formation comprises leaving the seed of plant causing the defect in germination or the rosette formation when growing in a high-moisture content state in a low-temperature and dark condition and then carrying out drying treatment.例文帳に追加

発芽不良、または、生育時にロゼット化を起こす植物体種子を、高水分状態で低温・暗黒条件下に放置したのち、乾燥処理する種子の発芽不良・ロゼット化防止方法。 - 特許庁

To form a surface-protecting coat capable of readily removing formation defect when the formation defect occurs, being curable at a low temperature and having high ultraviolet light transmittance, high chemical resistance, high hardness and a high mold release property.例文帳に追加

形成不良を生じた場合に容易に除去することが可能で、低温で硬化させることができ、かつ高い紫外線透過率、高い耐薬品性、高硬度、高離型性を有する表面保護コートを形成する。 - 特許庁

To provide a method for preventing a seed from causing a defect in germination and rosette formation which can easily be performed and allows simply seeding after treating without requiring a large-scale equipment in relation to the seed easy to cause the defect in germination and the rosette formation.例文帳に追加

発育不良、ロゼット化を生じやすい種子に関して、すなわち、大がかりな設備が不要で容易に実施でき、処理後の播種が容易な種子の発芽不良・ロゼット化防止方法を提供する。 - 特許庁

To realize the formation of a uniform coating layer, which is excellent in gas resistance and free of defect on a recording medium.例文帳に追加

耐ガス性に優れ、記録媒体上で欠陥が無く均一な被覆層形成を行うことを可能とする。 - 特許庁

To provide a method or automatically operating a welding robot by which the formation of a weld joint with a welding defect is preliminarily prevented.例文帳に追加

溶接不良となる溶接継手の形成を未然に防ぐ溶接ロボットの自動運転方法を提供する。 - 特許庁

The formation of the crystalline defect is controlled, so as to preferably control the temperature of the substrate, layer or both.例文帳に追加

結晶欠陥の形成は、好ましくは、基板、層、又は両者の温度を制御することにより、制御される。 - 特許庁

The flap formation takes the form of a continuous tubular body having a diameter D approximating the diameter of a valve with a defect.例文帳に追加

組織弁は、欠陥のある弁の直径に近似する直径Ｄを有する連続管状体の形をとる。 - 特許庁

To provide a technique for contributing to facilitate determining portions of foreign particles deposition that causes an image formation defect.例文帳に追加

画像形成不良の原因となるゴミの付着箇所の特定の容易化に寄与する技術を提供する。 - 特許庁

The formation defect of the contact hole can be inspected by measuring the discharged charges with an array tester.例文帳に追加

放電された電荷量をアレイテスタで測定することでコンタクトホールの形成不良を検査することができる。 - 特許庁

To simultaneously prevent an adhesive layer coverage defect in groove wiring formation and generation of a void after liner etching.例文帳に追加

溝配線形成の際の密着層カバレッジ不良とライナーエッチング後にボイドが発生することを同時に防止する。 - 特許庁

To provide a system and a method for pattern defect inspection which can speed up detailed analysis of detected pattern defect in semiconductor circuit pattern formation process, by skipping visual reinspection through a review device.例文帳に追加

半導体回路パターン形成工程において、レビュー装置による目視再検査を省略して、検出したパターン欠陥の詳細な解析を迅速化する。 - 特許庁

A region including the defect location coordinates on the second coordinate system of the element formation surface is imaged by the defect imaging device (S8, S9).例文帳に追加

前記欠陥撮影装置により前記素子形成面の前記第２の座標系上における前記欠陥位置座標を含む領域の撮影を行う（Ｓ８、Ｓ９）。 - 特許庁

The coordinate value data S11 are inputted into an image data formation part 12, and graphics showing a defect of the wafer are formed relative to each chip to form image data S12 by the image data formation part 12.例文帳に追加

座標値データS11 は画像データ生成部12に入力され、該画像データ生成部12でウエハの欠陥を示す図形が各チップ毎に作成されて画像データS12 が生成される。 - 特許庁

The arrangement of a formation area of the circuit pattern is determined avoiding a detected defect to remove a continuous pattern formed outside the formation area of the circuit pattern.例文帳に追加

検出された欠陥を避けるように回路パターンの形成領域の配置を決定し、回路パターンの形成領域外に形成された連続パターンを除去する。 - 特許庁

To prevent the defect of the reproducibility of an image due to the local defect of transfer caused at the time transfer such as the one like a wormhole in image formation using an intermediate transfer system.例文帳に追加

中間転写方式を用いた画像形成において、虫喰い等の転写時に発生する局所的な転写不良による画像の再現性不良を防止することにある。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting defect of a resist pattern capable of easily detecting a defect caused only by a resist formation process by comparing the surface of a resist pattern efficiently.例文帳に追加

レジストパターン表面を効率よく比較し、レジスト形成工程に起因する欠陥のみを容易に検出するレジストパターンの欠陥検査方法及びその欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The transcribed surface includes the surface defect, and this method further includes formation of a film on the transcribed surface including the surface defect, and polishing processing relative to the surface of the formed film.例文帳に追加

上記被転写面は表面欠陥を含み、該表面欠陥を含む被転写面上に被膜を形成し、かつ形成された被膜表面に研磨処理を施すことを更に含む。 - 特許庁

To solve such a problem that even if hydrogen molecule is added to quartz glass for ultraviolet resistance, the addition has only a terminating effect on a structural defect but is incapable of suppressing the formation of structural defect.例文帳に追加

耐紫外線性のために水素分子を石英ガラス中に含有させても、構造欠陥をターミネートする効果があるのみで、構造欠陥の生成そのものを抑制することができない。 - 特許庁

The phosphor material is suited for an EL element because of less variation of characteristic since there is no defect formation process in which stress is applied externally to form a defect inside of a phosphor material.例文帳に追加

このような蛍光体材料は、外部から応力を付与して内部に欠陥をつくる欠陥生成工程がないため、特性ばらつきが少なく、ＥＬ素子に好適である。 - 特許庁

To provide a pattern formation method that can form fine patterns simply and effectively and is reduced in the occurrence of a defect.例文帳に追加

微細パターンを簡易で、効率よく形成することができ、かつ、欠陥の発生が少ないパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

The formation of the glass defect within the core of the optical waveguide is suppressed in the manner described above and therefore the UV transmittance is enhanced.例文帳に追加

このようにして光導波路のコア内におけるガラス欠陥生成が抑えられるので、紫外光透過率が高まる。 - 特許庁

To provide a surface defect examining device capable of detecting a signal corresponding to formation noise, and analyzing the characteristics such as the magnitude and frequency of the signal corresponding to formation noise.例文帳に追加

地合ノイズ相当の信号を検出し、この地合ノイズ相当の信号の量や周波数等の特徴を分析することが可能となる表面欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

The Si layer 11 can suppress the formation of a surface defect level on the surface of the n+-GaAs layer 8 and can prevent the formation of an unnecessary potential barrier effectively.例文帳に追加

Ｓｉ層１１によってｎ^＋ −ＧａＡｓ層８の表面に表面欠陥準位が形成されるのを抑制することができ、不要な電位障壁の形成を有効に防止できる。 - 特許庁