「defect-inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

To measure, effectively in a short time, an internal defect or a surface flaw generated in the diameter direction or the like by an ultrasonic inspection method relative to the side part of a rotor inspection object.例文帳に追加

回転体被検査物の側面部に対する超音波探傷方法で径方向等に生じた内部欠陥や表面傷を短時間で効率よく測定する。 - 特許庁

To provide a can body inspection device and a can body inspection method capable of inspecting exactly a defect of a shape generated in a can body formed with unevenness in a side face.例文帳に追加

側面に凹凸が形成された缶体に生じる形状の欠陥を的確に検査することが可能な缶体検査装置及び缶体検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection method and a visual inspection apparatus, capable of speedily classifying defects into types of defect according to the form of objects to be inspected, without having to raise the apparatus cost.例文帳に追加

装置コストが増大することなく、検査対象の形態に応じた欠陥種別に迅速に分類可能な外観検査方法および外観検査装置の提供。 - 特許庁

To allow imaging/inspection at a high speed, in an ultrasonic imaging system for emitting an ultrasonic wave toward an inspection object and for imaging a reflected echo to inspect a defect or the like.例文帳に追加

超音波を検査対象に照射しその反射エコーを画像化して欠陥等を検査する超音波画像化装置において、より高速に画像化・検査すること。 - 特許庁

The inspection device is structured to correct the positional coordinates of a detected foreign matter or defect based on the central coordinates of the inspection object, in accordance with the detected positional condition when inspected.例文帳に追加

そして、検出された被検査時の位置状態に応じて、検出された異物や欠陥の位置座標を、被検査物の中心座標を基に補正するように構成した。 - 特許庁

To shorten a time required for determining the optimum device condition, concerning an inspection device for inspecting a defect on an inspection object such as a wafer.例文帳に追加

本発明は、ウエハ等の被検物体の欠陥検査を行う検査装置に関し、最適な装置条件の決定に掛かる時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

To provide a contamination and defect inspection/observation system that can suppress a great increase of a footprint and easily perform fast, high-resolution confirmation of inspection conditions by including a sample edge portion.例文帳に追加

フットプリントの大幅な増大を抑え、エッジ部分を含む高速・高分解能で、検査条件の確認を簡便に行える異物・欠陥検査・観察システムを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection accuracy verification system capable of verifying whether a defect to be detected can be detected properly by a printed matter inspection system easily and accurately.例文帳に追加

検出すべき欠陥が印刷物検査システムによって適切に検出できるか否かを容易かつ正確に検証することができる検査精度検証システムを提供する。 - 特許庁

The defect in the electric circuit of the device inside is determined when the defect is detected by electric inspection when the negative pressure of the decompression chamber 4 is sufficient, and the defect of the electric connection between the both electrodes is thereby determined discriminatedly from the defect in the electric circuit of the device inside.例文帳に追加

減圧室４の負圧が足りているときに、電気的検査により不良が検出されたときは、デバイス内部の電気回路の不良であることがわかるので、両電極の間の電気的接続の不良であるか、デバイス内部の電気回路の不良であるかが判別できる。 - 特許庁

To provide a defect marking device for a film and a defect marking method capable of reducing man-hours for visual inspection without lowering yield by improving greatly marking accuracy on a defect position in comparison with a conventional technology, and by marking on a fine defect itself.例文帳に追加

従来技術に比べて欠陥位置へのマーキング精度を飛躍的に向上することで歩留りを下げることなく、かつ、微小欠陥そのものにマーキングすることで目視検査の工数を削減できるフィルム用欠陥マーキング装置及び欠陥マーキング方法を提供すること。 - 特許庁

A defect data analytic method analyzes the defect distribution state based on defect location coordinates detected by the inspection apparatus and categorizes the defect distribution state into one of distribution feature categories including repetitive defects, aggregate defects, circular distribution defects, radial distribution defects, linear distribution defects, ring or cluster distribution defects and random defects.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、円弧状分布欠陥、放射状分布欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

To provide an inspection method for a recording medium by which a defect actually causing a recording and reproducing defect or a tracking defect, etc., in the recording medium such as an optical disk or a magneto- optical disk is surely detected and the detailed factor causing the defect can be grasped.例文帳に追加

光ディスクや光磁気ディスクのような記録媒体における記録再生不良やトラッキング不良などを実際に生じさせる欠陥を確実に検出することができ、また欠陥の詳細な発生要因を把握することができる記録媒体の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a mask defect with which a defect is inspected with high accuracy and within a minimum time length by automatically inspecting a minimum region on the mask to be subjected to EB defect inspection, a device for inspecting the mask defect, and a method for manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

ＥＢ欠陥検査をしなければならないマスク上の最小限の領域を自動的に検査することを可能にし、高精度の欠陥検査を最小時間で行うマスク欠陥検査方法、マスク欠陥検査装置、および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Inspection results and inspection addresses, regarding each of m inspection regions 15 in a plurality of semiconductor wafers 1 having strong possibility of generation of opening defect of a contact hole 16, are stored in the database 9.例文帳に追加

データベース９には、コンタクトホール１６の開口不良が発生する可能性の高い、複数の半導体ウェハ１における各ｍ個の検査領域１５に関する検査結果及び検査アドレスが蓄積されている。 - 特許庁

To provide a pattern forming board and a pattern forming method which offer a precision inspect pattern useful to an inspection device with a broader scope of inspection, such as a defect inspection device using an ultraviolet light source or an ultraviolet laser light source.例文帳に追加

紫外光源または紫外レーザ光源を用いた欠陥検査装置のように視野が広い検査装置の精度点検パタンとして使用可能なパタン形成基板およびパタン形成方法を提供する。 - 特許庁

Then, as in step 2, compare checks regarding each inspection unit block at inspection modes respectively equivalent to the defect inspection devices used in an actual manufacturing line of the device are carried out in a plurality of chip areas.例文帳に追加

次に、ステップ２のように、実際のデバイスの製造ラインで使用される欠陥検査装置にてそれぞれ相当する検査モードで各検査単位ブロックに関する比較検査を複数のチップ領域について行う。 - 特許庁

To provide an active matrix substrate and a defect inspection method therefor which allow the presence of defects to be surely inspected.例文帳に追加

欠陥の有無を確実に検査することができるアクティブマトリクス基板およびその欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To detect a low-contrast striped defect included in an inspection image, with high accuracy, without being influenced by noise.例文帳に追加

検査画像に含まれる低コントラストのスジ状の欠陥を、ノイズの影響を受けることなく高精度に検出する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT WITH REFERENCE TO FILM AS WELL AS FILMLIKE PRODUCT AND METHOD AND SYSTEM OF WORKING THE SAME例文帳に追加

フィルムに対する欠陥検査方法およびその装置並びにフィルム状製品、その加工方法およびその加工システム - 特許庁

To provide a defect inspection method and a device improving detection sensitivity by restraining temperature rise on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の温度上昇を抑えて検出感度を向上させる欠陥検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provided an improved highly sensitive optical inspection system for detecting a defect on a diffraction face including a surface pattern.例文帳に追加

表面パターンを含む回折面上の欠陥を検出するための改良された高感度光学検査システムの提供 - 特許庁

To provide a vessel appearance inspection device capable of inspecting in compliance with the actual situation, an appearance defect of a vessel including a new bottle can.例文帳に追加

ニューボトル缶を含む容器の外観不良を実情に合った検査のできる容器外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide ultrasonic test equipment capable of improving accuracy with which an internal defect of an inspection object is detected.例文帳に追加

被検査体の内部欠陥を検出する精度を向上させることができる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device capable of inspecting color shading and irregularity of a sample surface with high accuracy.例文帳に追加

試料表面の色むらと凹凸とを精度よく検査を行うことのできる表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To enable a defect inspection pattern circuit to detect a defective contact for both a p-side contact and an n-side contact.例文帳に追加

欠陥検査パターン回路に関し、ｐ側コンタクト及びｎ側コンタクトのいずれのコンタクト不良も検出可能にする。 - 特許庁

To provide a circuit pattern defect inspection method of substrate capable of reducing the risk of wrong measurements and reducing the measurement time.例文帳に追加

誤測定の可能性を減少させ、測定時間を節減する基板の回路パターン欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device capable of displaying inspection patterns for a plurality of defect modes at the same time.例文帳に追加

複数の不良モードに対する検査パターンを同時に表示することができる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern inspection apparatus capable of rapidly and conveniently creating a recipe and checking a defect.例文帳に追加

レシピ作成及び欠陥確認の使い勝手がよく、かつ迅速に行うことのできるパターンの検査装置を提供する。 - 特許庁

Defect inspection is conducted for a liquid crystal panel 11 performing a gray scale display by controlling fluctuation of transmitted light quantity.例文帳に追加

光透過量の増減を制御することにより階調表示を行う液晶パネル１１の欠陥検査を行う。 - 特許庁

To stably generate an image having brightness suitable for defect detection without affecting the accuracy of inspection.例文帳に追加

検査の精度に影響を及ぼすことなく、欠陥の検出に適した明るさの画像を安定して生成できるようにする。 - 特許庁

To provide a glass bottle inspection device which can inspect a defect of two or more parts of an open part of the glass bottle with a high speed.例文帳に追加

ガラス瓶の瓶口の複数部位の不良を高速に検査することができるガラス瓶検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a ROM inspection system capable of detecting a defect in each individual ROM and facilitating management of sum values.例文帳に追加

各ＲＯＭ別に不良の検出が可能であり、サム値の管理も容易となるＲＯＭ検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method by which an observer can easily and precisely inspect a defect in a cholesteric liquid crystal layer by visual checks.例文帳に追加

コレステリック液晶層の欠陥を観察者の目視により簡易で精密に検査できる検査方法を提供する。 - 特許庁

The defect generation place in the second inspection wafer is observed, thus detecting the margin of the lithography conditions (S7).例文帳に追加

第２検査ウエハにおける前記欠陥発生箇所を観察することで、リソグラフィー条件のマージンを検出する（Ｓ７）。 - 特許庁

To provide a paper cup appearance inspection device capable of detecting a shape defect generated on a top curled part of a paper cup.例文帳に追加

紙カップのトップカール部に発生する形状不良を検出することができる紙カップ外観検査装置の提供。 - 特許庁

The pattern data only of a place where this defect is detected can be output to an external device from the inspection device 100.例文帳に追加

この欠陥の検出された箇所のみのパターンデータは、検査装置１００から外部装置に出力可能である。 - 特許庁

To provide a solar battery inspection apparatus capable of identifying the position of a strip-shaped defect, inside a solar battery cell.例文帳に追加

太陽電池セル内の帯状の欠陥の位置を特定することが可能な太陽電池の検査装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING GLASS SUBSTRATE FOR MASK BLANK, METHOD FOR MANUFACTURING MASK BLANK, METHOD FOR MANUFACTURING EXPOSURE MASK, AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

マスクブランク用ガラス基板の製造方法、マスクブランクの製造方法、露光用マスクの製造方法、及び欠陥検査装置 - 特許庁

A main controller 65 relates thumbnail image data of a review inspection image to defect data and stores the thumbnail image data into a storage section 66.例文帳に追加

主制御部６５はレビュー検査画像のサムネイル画像データを欠陥データと関連付けて記憶部６６に格納する。 - 特許庁

Thereby a small defect in the lip 1a can be easily detected and checked, enabling the accurate inspection to be performed.例文帳に追加

これによりリップ１ａの小さな欠陥を容易に検出確認することができ、精度よく検査することが可能となる。 - 特許庁

To obtain a defect-inspecting semiconductor substrate facilitating detection of defects, without changing the function and constitution of an inspection unit.例文帳に追加

検査装置の機能や構成を変えることなく、欠陥を検出しやすくする欠陥検査用半導体基板を得る。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a defect of a display panel, that facilitate repairing and reworking after an inspection step.例文帳に追加

検査ステップ後に修理または再生をより容易に行うことのできるディスプレイパネルの欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of discriminating whether a defect of a substrate is one on a front surface or one on a rear surface.例文帳に追加

基板の欠陥が表面の欠陥なのか裏面の欠陥なのかを区別できる検査装置を提供することにある。 - 特許庁

A device 31 for implementing this defect inspection method by image recognition is constituted of an image picking-up means 13 and a computer 14.例文帳に追加

画像認識による不良検査方法を実施する装置３１は撮像系１３とコンピュータ１４から構成される。 - 特許庁

The inspection device 1 extracts a defect (dirt or chip) from the differences between the reference region image (am) and similar region images (bm).例文帳に追加

検査装置１は基準領域画像ａｍと類似領域画像ｂｍとの差異から、欠陥（汚れ、欠け）を抽出する。 - 特許庁