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「emission detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索
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emission detectionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 606



例文

A voltage regulating circuit VR regulates voltage obtained through the insulating transformer Trf intervening between the AC constant-current power source CCR and the beacon light LGT in accordance with detected output of a current detection means DET detecting the output current of the AC constant-current power source CCR, and such a voltage that the luminescence of the light emission diode LED becomes to be a predetermined luminous intensity ratio is output.例文帳に追加

電圧調整回路VRは、交流定電流電源CCRの出力電流を検出する電流検出手段DETの検出出力に応じて、交流定電流電源CCRおよび標識灯LGTの間に介在する絶縁トランスTrfを介して得られた電圧を調整し、発光ダイオードLEDの発光が所定の光度比率になるような電圧を出力する。 - 特許庁

The detection means 5 comprises a detecting light emission part 51 which emits detecting laser light LL' toward the light reflection surface of the first direction scanning part 41 through a light path different from that of the drawing laser light LL and a light receiving element 52 which receives the detecting laser light LL' reflected from the light reflection surface at a predetermined swing angle of the light reflection surface of the first direction scanning part 41.例文帳に追加

検出手段5は、描画用レーザー光LLとは異なる光路で第1方向走査部41の光反射面に向けて検出用レーザー光LL’を出射する検出用光出射部51と、第1方向走査部41の光反射面が所定の振れ角のときに該光反射面によって反射された検出用レーザー光LL’を受光する受光素子52とを有している。 - 特許庁

An illumination device 10 has: a light storage member provided to a portable terminal and emitting light; illuminance detection means detecting the illuminance obtained by light emission of the light storage member; illumination means illuminating the portable terminal by using power supplied from a power supply; and control means controlling illumination of the illumination means based on the illuminance of the light storage member, which is detected by the illuminance detecting means.例文帳に追加

照明装置10は、携帯端末に設けられ、発光する蓄光部材と、蓄光部材の発光による照度を検出する照度検出手段と、電源から供給される電力を用いて、携帯端末の照明を行う照明手段と、照度検出手段により検出された蓄光部材の照度に基づいて、照明手段の照明を制御する制御手段と、を備えている。 - 特許庁

The light emission part EU emits irradiation light LT with a first intensity distribution pattern PID1 and irradiation light LT with a second intensity distribution pattern PID2 when determining that the distance of the object OB from an object surface 20 on which the detection area RDET is set is short, and emits irradiation light LT with a third intensity distribution pattern PID3 when determining that the distance of the object OB from the object surface 20 is long.例文帳に追加

光出射部EUは、検出エリアRDETを設定する対象面20からの対象物OBの距離が短いと判断された場合には、第1の強度分布パターンPID1の照射光LTと第2の強度分布パターンPID2の照射光LTとを出射し、対象面20からの対象物OBの距離が長いと判断された場合には、第3の強度分布パターンPID3の照射光LTを出射する。 - 特許庁

例文

To provide a resin composition for sealing optical semiconductors which is less susceptible to disturbance light, exhibits enhanced light transmitting efficiency between the internal light emission and detection devices, prevents malfunctions, exhibits excellent flame resistance, moisture resistance, moldability, physical properties of the hardened products while achieving excellent environmental soundness in manufacturing not only single channel optical semiconductor devices but also multi-channel optical semiconductor devices.例文帳に追加

単チャンネル型の光半導体装置を製造する場合はもちろん、特に多チャンネル型の光半導体装置を製造する場合には、外乱光の影響を受けにくく、内部受発光素子間の光伝達効率を高めることができると共に、誤動作を防止することができ、且つ環境性能を発揮しつつ良好な耐炎性、耐湿信頼性、成形性、硬化物物性をも発揮することができる光半導体封止用樹脂組成物を提供する。 - 特許庁


例文

The defect detector comprises: XY coordinate transformation means 112 as coordinate transformation means for exciting an epitaxial growth substrate 17 where a compound semiconductor layer is grown epitaxially on a single crystal substrate by applying exciting light from above and then mapping the light emission intensity of photoluminescence over the whole epitaxial growth substrate; and defect detection means 113 for sequentially detecting defective pixels by using the difference between multiple pixels divided into coordinates by the coordinate transformation means 112 and multiple pixels adjacent thereto.例文帳に追加

単結晶基板上に化合物半導体層をエピタキシャル成長させたエピタキシャル成長基板17の上方より励起光を照射して励起した後に、フォトルミネッセンスによる発光強度のマッピングをエピタキシャル成長基板全体に渡って行う座標変換手段としてのXY座標変換手段112と、座標変換手段112により座標に分割された複数のピクセルのそれぞれとこれに隣接する複数ピクセルとの差を用いて、欠陥検出すべきピクセルが欠陥ピクセルかどうかを順次検出する欠陥検出手段113とを有している。 - 特許庁




  
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