「emission microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

FIELD EMISSION TYPE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電界放射型走査電子顕微鏡 - 特許庁

CONFOCAL ELECTRIC LIGHT EMISSION SPECTRAL MICROSCOPE例文帳に追加

共焦点電気発光分光顕微鏡 - 特許庁

EMISSION MICROSCOPE AND ITS ANALYSIS例文帳に追加

エミッション顕微鏡およびその分析方法 - 特許庁

SCANNING TUNNELING MICROSCOPE EMISSION CONVERGING APPARATUS例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡発光集光装置 - 特許庁

COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE FOR CHEMICAL ANALYSIS例文帳に追加

化学分析用複合放出電子顕微鏡装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF ORGANIC EL ELEMENT BY EMISSION MICROSCOPE METHOD例文帳に追加

エミッション・マイクロスコープ法による有機ＥＬ素子の検査法 - 特許庁

FIELD EMISSION ELECTRON SOURCE AND MICROSCOPE USING THIS例文帳に追加

電界放射電子源およびこれを用いた顕微鏡 - 特許庁

IN SITU OBSERVATION SYSTEM IN COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

複合放出電子顕微鏡におけるその場観察システム - 特許庁

EMITTED ELECTRON ACCELERATING METHOD IN COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

複合放出電子顕微鏡における放出電子加速方法 - 特許庁

FIELD-EMISSION ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加

電界放出型電子銃、電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機 - 特許庁

MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM MEASURING METHOD, MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPE, AND MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

磁気円二色性測定方法、磁気円二色性光電子放出顕微鏡、及び磁気円二色性光電子放出顕微鏡システム - 特許庁

Such defective part can be measured by an emission microscope.例文帳に追加

このような欠陥部はエミッション顕微鏡により測定することができる。 - 特許庁

Such a defective part can be measured by an emission microscope.例文帳に追加

このような欠陥部はエミッション顕微鏡により測定することができる。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE IMAGE AND LASER EXCITATION EMISSION DISTRIBUTION IMAGE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡像及びレーザ励起発光分布像測定装置 - 特許庁

The field-emission point-projection microscope was invented by Morton and Ramberg (1939). 例文帳に追加

電界放出型 点投影顕微鏡は、MortonとRamberg(1939年)によって発明された。 - 科学技術論文動詞集

The emission of light from each transistor with the rejunction of a small number of carriers is detected by an emission microscope 25.例文帳に追加

各トランジスタからの少数キャリアの再結合による発光は、エミッション顕微鏡２５により検出される。 - 特許庁

EMISSION MICROSCOPE EQUIPMENT FOR HIGH-CURRENT PULSE PHENOMENON, AND METHOD FOR OPERATING IT例文帳に追加

高電流パルス現象用のエミション顕微鏡装置およびその動作させる方法 - 特許庁

MICROSPOT EMISSION GENERATING DEVICE, DISTANCE CONTROLLING METHOD AND SCANNING PROXIMITY MICROSCOPE例文帳に追加

微小点発光発生装置および距離制御方法と走査型近接場顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SEPARATING DIFFERENT EMISSION WAVELENGTHS IN SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査顕微鏡において複数の異なる放射波長を分離するための方法及び装置 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING CARBON NANO-STRUCTURAL MATERIAL, FIELD EMISSION DISPLAY AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

カーボンナノ構造材の製造方法、フィールドエミッションディスプレイおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

The scanning tunneling microscope emission converging apparatus includes a scanning tunneling microscope and a plurality of optical fibers 2 arranged radially about the end of a scanning tunneling microscope probe 1 and around the scanning tunneling microscope probe 1 to converge emission caused by the operation of the scanning tunneling microscope.例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡発光集光装置において、走査トンネル顕微鏡と、この走査トンネル顕微鏡の操作での発光を集光するために、前記走査トンネル顕微鏡探針１の先端を中心として前記走査トンネル顕微鏡探針１の周りに放射状に配置される複数の光ファイバー２を具備する。 - 特許庁

To provide an emission microscope which allows an observation of a sample in a good condition.例文帳に追加

良好な状態で試料の観察を行なうことができるエミッション顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Furthermore, layout information 52 of failure candidate node is prepared using a navigation tool 50 and an emission image 62 is formed using an emission microscope.例文帳に追加

さらに、ナビゲーションツール５０を用いて、故障候補ノードのレイアウト情報５２を作成し、エミッション顕微鏡を用いて発光画像６２を作成する。 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS METHOD USING EMISSION MICROSCOPE AND ITS SYSTEM, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

エミッション顕微鏡を用いた不良解析方法およびそのシステム並びに半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a field-emission electron gun which can control the deterioration of electron emission characteristics and is low cost, and to provide an electron microscope and an electron beam exposure apparatus.例文帳に追加

電子放出特性の劣化を抑制可能であり、低コストな電界放出型電子銃、電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機を提供する。 - 特許庁

The nano-structure is utilized in a field emission type electronic source, a mold for nano imprint and a probe for a probe microscope.例文帳に追加

前記ナノ構造体を利用した電界放出型電子源、ナノインプリント用モールド、プローブ顕微鏡用探針。 - 特許庁

The electron microscope and the electron beam exposure apparatus are provided with this field-emission electron gun.例文帳に追加

一実施の形態の電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機は、この電界放出型電子銃を備えている。 - 特許庁

To provide a photoelectron emission microscope good in both of time and space resolving powers and generating no discharge.例文帳に追加

時間および空間分解能のいずれも良好で放電の発生しない光電子放出顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a simple, convenient, and downsized integrated high-performance electron microscope in which function as a scanning electron microscope and function of detection of vacuum ultraviolet light emission are made compatible.例文帳に追加

走査電子顕微鏡としての機能と真空紫外発光検出の機能を両立させた、簡便で小型化された一体型の高性能の電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope base with a fluorescence scale that is high in two-point resolution, emission intensity and contrast, and that is superior in fading resistance.例文帳に追加

高い２点分解能、発光強度と、コントラストを有し、耐退色性に優れた蛍光目盛り付き顕微鏡基盤を提供する。 - 特許庁

This nano-structure is utilized in a field emission type electronic source, a mold for nano imprint, a probe for a probe microscope and a magnetic recording medium.例文帳に追加

前記ナノ構造体を利用した電界放出型電子源、ナノインプリント用モールド、プローブ顕微鏡用探針、磁気記録媒体。 - 特許庁

To provide an electron source used for an electron microscope capable of causing field emission of an electron beam at a low voltage and high efficiency.例文帳に追加

低電圧で高効率に電子ビームを電界放出することができる電子顕微鏡などに用いられる電子源を実現する。 - 特許庁

To provide a confocal electric light emission spectral microscope capable of simultaneously obtaining a spectrum for an electric light emitting element and a mechanical external structure for the element and also capable of obtaining an electric light emission video with high resolution.例文帳に追加

電気発光素子の分光スペクトルと素子の機械的外形構造を同時に得ることができ、かつ高分解能の電気発光映像を得ることができる電気発光分光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an image-forming emission microscope which can select or change an aperture diameter according to the measuring object sample or the purpose of experiment.例文帳に追加

測定対象試料や実験目的に応じてアパーチャーの径を選択または交換できる結像型のエミッション顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A current flows in the defect portions if a reverse bias voltage is applied to the light emitting elements having the defect portions, and emission of light which occurs from the current is measured by using an emission microscope, specifying the position of the defect portions, and short-circuited portions can be repaired by applying a laser to the defect portions.例文帳に追加

この電流から生じる発光をエミッション顕微鏡により測定して欠陥部を特定し、欠陥部にレーザーを照射することによりショート箇所を修理するという発光装置の作製方法である。 - 特許庁

The emission generated from this reverse current is measured by an emission microscope and the defective part is identified, and the defective part is insulated by irradiating a laser beam and, thereby, the short circuit area is repaired.例文帳に追加

この逆方向電流から生じる発光をエミッション顕微鏡により測定して欠陥部を特定し、欠陥部にレーザーを照射して絶縁化させることによりショート箇所を修理するという発光装置の作製方法。 - 特許庁

By observing the light emission of the dummy circuit 3 formed on the semiconductor chip 2 under failure analysis by an emission microscope or the like, the semiconductor chip 2 under failure analysis can be easily identified within a short time.例文帳に追加

エミッション顕微鏡などにより、不良解析中の半導体チップ２に設けられたダミー回路３の発光を観察することによって、不良解析中の半導体チップ２を容易に、かつ短時間で確認することができる。 - 特許庁

To provide a scanning tunneling microscope emission converging apparatus having a higher light converging efficiency in a vacuum without impairing the high space resolution of an STM.例文帳に追加

ＳＴＭのもつ高い空間分解能を犠牲にすることなく、真空中でより高い集光効率をもった走査トンネル顕微鏡発光集光装置を提供する。 - 特許庁

In this analysis method, by observing phenomenon with an emission microscope and liquid crystal analyzer, the power supply drop occurrence part in the semiconductor integrated circuit is estimated.例文帳に追加

この現象をエミッション顕微鏡、液晶解析装置で観測することによって、半導体集積回路内の電源ドロップ発生箇所を推測する解析手法を提案する。 - 特許庁

The titanium dioxide has 1-3 ratio D_top/D_50 of the maximum particle diameter D_top to the average particle diameter D_50 when the primary particles thereof are observed by a field emission-type scanning electron microscope.例文帳に追加

電界放射型走査電子顕微鏡で観察した一次粒子の最大粒子径Ｄ_topと平均粒子径Ｄ_50の比Ｄ_top／Ｄ_50が１以上３以下であることを特徴とする二酸化チタン。 - 特許庁

To provide a microscope in which an illumination head can be fixed at a predetermined position, when transmission illumination observation is performed and the illumination head can be freely turned when biased emission illumination observation is performed.例文帳に追加

本発明では、透過照明観察時には照明ヘッドを所定位置で固定し、偏射照明観察時には照明ヘッドを自由に回動することができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an electron-emitting element capable of long-term stabilization of an emission current at a high yield, an electron gun, an electron microscope device and an electron beam patterning device using it.例文帳に追加

エミッション電流の長期的な安定化が可能で、高歩留まりな電子放出素子，電子銃、それを用いた電子顕微鏡装置及び電子線描画装置を提供する。 - 特許庁

To provide radial clusters of sharp-ended multiwalled carbon nanotubes, which are new carbon nanostructures useful as a probe for STM (scanning tunneling microscope) or AFM (atomic force microscope), a field emission electron source of a display element, a display, or the like, and to provide a method for preparing the radial clusters.例文帳に追加

ＳＴＭやＡＦＭ用探針、表示素子、ディスプレイ等の電界放出電子源などとして有用な、新規なカーボンナノ構造物である鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an in situ observation system in a composite emission electron microscope capable of facilitating LEEM or XPEEM observation under a catalytic reaction condition by utilizing such a characteristic that an electron microscope forms the focal point in a specified position and putting an aperture having a small opening radius in this position.例文帳に追加

電子顕微鏡が特定位置で焦点を結ぶことを利用し、その位置に開口半径の小さいアパーチャーを入れ、ＬＥＥＭやＸＰＥＥＭ観察を触媒反応条件下で容易に行えるようにした複合放出電子顕微鏡におけるその場観察システムを提供する。 - 特許庁

An illumination device is equipped with: a light guide 40 having emission ends 42a-42d emitting illumination lights La-Ld to enter the sample 2 obliquely with respect to the optical axis AX of the objective lens of the microscope; and an emission end rotation part 50 for rotating each position of the emission ends 42a-42d by using the optical axis AX as a rotation axis.例文帳に追加

照明装置は、顕微鏡の対物レンズの光軸ＡＸに対して斜めに試料２に入射するように照明光Ｌａ〜Ｌｄが出射する出射端４２ａ〜４２ｄを有する光ガイド４０と、光軸ＡＸを回転軸として出射端４２ａ〜４２ｄの位置を回転させる出射端回転部５０と、を備える。 - 特許庁