「inspection error」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The error processing means 240 executes an error processing when an inspection result by the means 230 is non- coincidence.例文帳に追加

エラー処理手段２４０は、チェックサム検査手段２３０による検査結果が不一致の場合に、エラー処理を実行するためのものである。 - 特許庁

A registration error correcting section 64 corrects the registration error of the inspection image information based on the magnitude of the detected registration error, and a comparing and checking section 65 carries out the comparison of the inspection image information with the reference image information in order to judge the quality of the printed matter.例文帳に追加

検出した位置ズレ量をもとに位置ズレ修正部６４で検査画像情報の位置ズレを修正し、比較照合部６５で参照画像情報との照合を行い、印刷物の良否を判定する。 - 特許庁

If the personal computer 1 to be inspected is not a personal computer corresponding to the inspection information recorded in the inspection medium 3, the comparison result will not be "the same", and the personal computer 1 executes error display as error notification, and it stops execution of inspection.例文帳に追加

検査対象のパソコン１が、検査媒体３に記録された検査情報に対応したパソコンでないと、比較結果は「同じ」とならず、パソコン１は、エラー通知としてのエラー表示を実行して、検査の実行を停止する。 - 特許庁

To surely carry out re-inspection for a specimen having the possibility affected by carry-over without generating waste in inspection, to shorten an inspection time, to reduce an inspection cost, to enhance reliability for the inspection, and to prevent an inspection error.例文帳に追加

キャリーオーバーの影響が危惧される検体の再検査を、検査の無駄を生じることなく確実に行なうことができ、検査時間の短縮および検査コストの低減を図ることができると共に、検査の信頼性の向上および検査過誤の防止を図ることができる分析装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR ADJUSTING INSTRUMENTAL ERROR FOR VISUAL INSPECTION DEVICE IN SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING LINE例文帳に追加

半導体デバイス製造ラインにおける外観検査装置の機差調整方法及びそのシステム - 特許庁

Since the inspection is performed by every 1 bit resistance element, an influence of a measurement error is made small.例文帳に追加

１ビット抵抗要素ずつ検査を行うので、測定誤差の影響を小さくすることができる。 - 特許庁

To prevent the accuracy of detection of a pattern for an inspection from being decreased, for example, due to an error of mounting of a sensor.例文帳に追加

センサの取付誤差等の影響により、検査用パターンの検出精度が低下する。 - 特許庁

To provide an inspection result printing system for a vehicle, an inspection result printing method for a vehicle and an inspection result printing program preventing a man-caused error and capable of performing collective management of the daily schedule concerning automobile inspection.例文帳に追加

人為的な錯誤を未然に防止し、自動車検査に関する日程の一括管理が可能な車両の点検結果印刷システム、車両の点検結果印刷方法及び点検結果印刷プログラムを提供すること。 - 特許庁

At the time of power supply, error inspection is operated by using the CRC for each data stored in the data memory 412, and when any error data are present, the error data are deleted.例文帳に追加

そして、電源投入時において、上記データメモリ４１２に記憶されている各データごとにＣＲＣを用いて誤り検査を行い、誤りデータがある場合にはこれを消去する。 - 特許庁

When an error occurs in recording and reproduction of the magnetic tape, a cause of the error is estimated from an inspection result of the factor estimation signal.例文帳に追加

磁気テープの記録再生の際にエラーが発生した場合に、要因推定信号の検査結果からエラーの原因を推定することができる。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device capable of measuring the size of a flaw on an inspection object portion by correcting an error of an ultrasonic beam path length caused by a curvature of the surface of the inspection object.例文帳に追加

被検査体の表面の曲率による超音波ビーム路程の誤差を補正し被検査体部位のきずの大きさを測定できる超音波検査装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an article shape inspection device capable of easily specifying a portion of an inspection object having an error with deviation from a designed shape larger than a tolerance directly on the inspection object.例文帳に追加

検査体において設計形状との誤差が公差から外れている箇所を検査体上で容易に特定できる物品の形状検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Since data write due to the other processor 400 does not occur during memory inspection due to one processor 300, the memory inspection can be executed without error.例文帳に追加

一個のプロセッサ３００によるメモリ検査中に他のプロセッサ４００によるデータ書込が発生しないので、エラーなくメモリ検査を実行できる。 - 特許庁

Thus, work for installing a short circuit member after circuit inspection is eliminated and human error is prevented in advance.例文帳に追加

回路検査後に短絡部材の組み付け作業を行わずに済み、人為的ミスが未然に防止される。 - 特許庁

The mask is inspected to create and analyze mask inspection data and to determine systematic mask error parameters (process 212).例文帳に追加

マスクを検査しマスク検査データを生成、分析し、系統的マスクエラーパラメータを決定する（工程２１２）。 - 特許庁

To provide a flange fastening state inspection method capable of estimating a gasket compression quantity in a little error.例文帳に追加

ガスケット圧縮量を少ない誤差で推定できるフランジ締付状態検査方法を提供する。 - 特許庁

When a result without error can not be obtained even after error inspection and correction processing, the temporary data are replaced on the basis of the fuzzy indicator data.例文帳に追加

誤り検査および訂正処理を行っても誤りのない結果が得られない場合には、ファジー示標データに基づいて一時データを置換える。 - 特許庁

To provide an inspection system and an error correction program which loads an integrated type sensor and easily corrects an accumulated error of the integrated type sensor.例文帳に追加

積算型センサを搭載するととともに、積算型センサの累積誤差を容易に補正することを可能とする点検システム及び誤差補正プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an operation inspection system that can reduce a burden on an operator and eliminate the possibility of an error in inspection of an operation.例文帳に追加

作業者の負担を軽減させることができ、かつ作業の検査ミスが生じる可能性をなくすことができる作業検査システムを提供すること。 - 特許庁

To realize highly precise inspection by compensating for a signal error in the inspection of a magnetic disk or a magnetic head which uses the parallel operation of the number N of A/D conversion circuits.例文帳に追加

N個のA/D変換回路の並列動作を用いた磁気ディスクまたは磁気ヘッドの検査において、信号の誤差を補償し、高精度な検査を実現する。 - 特許庁

To provide a flexible sheet visual inspection apparatus adapted to improve yield rate in visual inspection by reducing error determination of the flexible sheet.例文帳に追加

可撓性シートの誤判定を減少して、外観検査での歩留まり率を向上させるようにした可撓性シートの外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an interface inspection technology for inspecting an interface at a high speed, and for reducing an inspection error without being affected by the base of an interface.例文帳に追加

インタフェースの基数に左右されることなく、検査作業を迅速化でき且つ検査ミスを低減できるインタフェース検査技術を提供すること。 - 特許庁

To provide a piping airtightness inspection device, capable of rapidly conducting air-tightness inspection in a narrow space a human being cannot go into, while reducing failure detection error.例文帳に追加

人が入り込めない狭隘部での気密検査が行え、またその作業が迅速で、しかも欠陥発見誤差の少ない配管気密検査装置を提供する。 - 特許庁

The inspection of the electrode floating is carried out at respective detecting positions and when there is no error in the inspection (S6), the detecting position is obtained in production program data (S7).例文帳に追加

各検出位置で電極浮き検査が実施され、検査にエラーがない場合には（Ｓ６）、その検出位置が生産プログラムデータに取得される（Ｓ７）。 - 特許庁

To improve authenticity of inspection results or reliability of execution using inspected concrete by preventing a clerical error or erroneous input of the inspection results or a false act.例文帳に追加

検査結果の誤記や誤入力または虚偽の行為を防いで検査結果の信憑性や検査したコンクリートを用いた施工の信頼性を向上する。 - 特許庁

When the mounting error is detected by this inspection, the substrate inspection apparatus 5 transmits defection judgment to the mounters 3A and 3B whose information transmission is received.例文帳に追加

この検査において、実装間違いが検出されると、基板検査装置５は情報送信を受けたマウンタ３Ａ，３Ｂに、不良判定を送信する。 - 特許庁

To determine a memory causing a writing error as a defective product, and to improve the reliability of memory inspection in a memory inspection device.例文帳に追加

メモリ検査装置において、書込みエラーを生じるメモリを不良品として判定することができ、メモリ検査の信頼性を向上させることを可能にする。 - 特許庁

To provide a drawing data inspection method and a drawing data inspection device, capable of easily detecting an error of drawing data created from design data in a short time.例文帳に追加

設計データから作成された描画データのエラーを容易かつ短時間に検出できる描画データ検査方法および描画データ検査装置を提供する。 - 特許庁

To propose an optical disk inspection method and inspection device capable of detecting the physical position of an error even in a CLV (constant linear velocity) type optical disk.例文帳に追加

ＣＬＶ方式光ディスクにおいてもエラーの物理的位置検出が行える光ディスクの検査方法及び検査装置を提案することを目的とする - 特許庁

To provide a discharge lamp control unit inspection device resistant to high voltage insulation capable of reducing inspection cost and preventing outflow of defective products due to human error.例文帳に追加

高電圧絶縁に耐えると共に、検査コストの低減や人的ミスによる不良品流出防止が可能な放電灯制御ユニットの検査装置を得る。 - 特許庁

To provide a pattern inspection apparatus and pattern inspection method for detecting with high sensitivity line width defect that generates error of line width in pattern transferred on a wafer.例文帳に追加

ウエハに転写されたパターンに線幅の誤差が発生する線幅欠陥を高感度に検出するパターン検査装置及びパターン検査方法を提供する。 - 特許庁

In the error detector 108, a multiplication of inspection matrix is carried out to an initial address signal and the generated redundant codes, and it is detected whether error is generated or not, to obtain the error output 3.例文帳に追加

誤り検出器１０８では、元のアドレス信号と生成された冗長符号に対して検査行列の掛け算を行い、エラーが発生したか否かを検出し、エラー出力３を得る。 - 特許庁

Accordingly, the inspection error of the circuit board is thereby appropriately determined as being the defective contact error of the contact pin or defective error of the circuit board, and the defective state of the contact pin can be discriminated and notified.例文帳に追加

したがって、回路基板の検査エラーがコンタクトピンの接触不良エラーであるか回路基板の不良エラーであるかを適切に判別し、コンタクトピンの不良状態を判別して通知することができる。 - 特許庁

At the time of the reproduction, an inspection is made by using an error detecting code whether an error is included in the information of sub-data units, then the information in the sub-data units having no error is outputted to a post-stage circuit.例文帳に追加

再生時は、誤り検出用コードを用いてサブデータユニット中の情報に誤りが含まれているか検査し、誤りが無いサブデータユニット中の情報を後段回路に出力する。 - 特許庁

In addition, an inspection image read-out section 62 reads out the image of the printed matter as inspection image information, and a registration error information generating section 63 detects the registration error between the reference image information and the inspection information by recognizing the registration checking pattern information printed by yellow.例文帳に追加

また、検査画像読取部６２で印刷物の画像を検査画像情報として読み取り、位置ズレ情報生成部６３において、イエローで印刷された位置照合パターンを認識して参照画像情報と検査画像情報の位置ズレ量を検出する。 - 特許庁

Then, the first controlling device transmits a correction factor for correcting measuring error of the second inspection device to the second controlling device according to the quality inspection result by the second inspection device and the quality inspection result by the first inspection device both collected through the communication line.例文帳に追加

そして第１の管理装置においては、通信回線を介して収集した第２の検査装置による品質検査結果と第１の検査装置による検査結果とに従って第２の検査装置の測定誤差を補正する補正係数を第２の管理装置に通知する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device and a substrate inspection method capable of highly efficiently executing inspection before component mounting when a substrate is reentered, and preventing a system error.例文帳に追加

基板が再投入された場合に効率よく部品搭載前検査を行うことができ、システムエラーの発生も防止することができる基板検査装置及び基板検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the substrate inspection, the substrate inspection is performed without being affected by a shift caused by an error by specifying an inspection position on the scanned image based on the coordinate data acquired by the coordinate data acquiring means.例文帳に追加

基板検査において、座標データ取得手段で取得した座標データに基づいて走査画像上の検査位置を特定することで、誤差によるずれに影響されることなく基板検査を行う。 - 特許庁

The aggregation server 1 aggregates the error occurrence data 75A received from plural information processing terminals and sets an inspection area as an inspection target in the memory 71 to create individual inspection area data 16A in which the inspection area is recorded.例文帳に追加

集計サーバ１は、複数の情報処理端末から受信したエラー発生データ７５Ａを集計して、メモリ７１において検査対象となる検査領域を設定し、検査領域が記録された個別検査領域データ１６Ａを作成する。 - 特許庁

Then reinspection is performed by the visual observation of the operator based on the inspection result data displayed on this display 15, and the inspection result data is corrected to be inputted with a data correction inputting means when the inspection result data of the inspection device 2 has an error.例文帳に追加

そして、このディスプレイ１５に表示された検査結果データに基づいてオペレータが目視で再検査を行い、検査装置２の検査結果データに誤りがあったときに、該検査結果データをデータ修正入力手段により修正入力する。 - 特許庁

This operation direction matches the read direction of the user data when an error inspection code EDC is calculated.例文帳に追加

この演算方向は、誤り検査符号ＥＤＣを算出した時のユーザデータの読み出し方向と一致している。 - 特許庁

A method for correcting an epi-illumination image edge position error in a precision machine vision inspection system is disclosed.例文帳に追加

精密マシンビジョン検査システムにおける落射照明画像エッジ位置誤差を補正するための方法が開示される。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus capable of reducing or avoiding error input of data on the size of articles to be inspected.例文帳に追加

検査対象物品の寸法に関するデータの誤入力を低減又は回避し得る検査装置を得る。 - 特許庁

During encoding function inspection, a CPU 4 writes data having an inspection bit added thereto by an error correction circuit 12 into the memory 3 of a writing speed higher than that of an EEPROM 2, and performs inspection by reading and collating without operating the error correction circuit 12.例文帳に追加

符号化機能検査時には、ＣＰＵ４は、誤り訂正回路１２により検査ビットの付加されたデータをＥＥＰＲＯＭ２よりも書き込み速度の速いメモリ３に対して書き込ませ、誤り訂正回路１２を機能させない状態で読み出し照合することにより検査を行う。 - 特許庁

When the CRC code generation/inspection 32 detects an error, it is judged that a retransmission request is the software error by the memory and the data is output from the host device again.例文帳に追加

ＣＲＣ符号生成／検査３２がエラーを検出した場合、再送要求がメモリによるソフトエラーと判別し、上位装置１から再度データを出力する。 - 特許庁