意味 | 例文 (338件) |
inspection errorの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 338件
INSPECTION SYSTEM AND ERROR CORRECTION PROGRAM例文帳に追加
点検システム及び誤差補正プログラム - 特許庁
MAP DATA ERROR INSPECTION SYSTEM, MAP DATA ERROR INSPECTING TERMINAL DEVICE, AND MAP DATA ERROR INSPECTION METHOD例文帳に追加
地図データ誤り検査システム、地図データ誤り検査用端末装置、地図データ誤り検査方法 - 特許庁
ERROR INSPECTION AND RECOVERY SYSTEM OF BATCH PROCESSING例文帳に追加
バッチ処理のエラー検査復旧システム - 特許庁
INSTALLATION ERROR INSPECTION METHOD FOR FLOOR HEATING SYSTEM例文帳に追加
床暖房システムの施工異常検査方法 - 特許庁
METHOD OF CORRECTING INITIAL DRIFT ERROR IN LEAK INSPECTION DEVICE, AND LEAK INSPECTION DEVICE例文帳に追加
洩れ検査装置の初期ドリフト誤差補正方法及び洩れ検査装置 - 特許庁
DETECTION METHOD OF CRC INSPECTION ERROR OUT OF RANGE例文帳に追加
CRC検査範囲外エラーを検出する方法 - 特許庁
An error inspection portion 14 performs CRC error inspection about the reception packet with the memorized data.例文帳に追加
誤り検査部14は、記憶されているデータで当該受信パケットについてCRC誤り検査を行う。 - 特許庁
When removing "an error with an inclination" from the inspection coordinate, "an error without any inclination" is left for the inspection coordinate.例文帳に追加
検査座標より、「傾向を持つ誤差」を除去すると、検査座標には、「傾向を持たない誤差」が残る。 - 特許庁
WEIGHT INSPECTION METHOD, WEIGHT INSPECTION APPARATUS, AND METRIC ERROR REDUCTION METHOD例文帳に追加
重量検査方法、重量検査装置および計量誤差低減方法 - 特許庁
METHOD FOR INSPECTION OF MOUNTING ERROR, AND SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS USING THIS METHOD例文帳に追加
実装間違い検査方法およびこの方法を用いた基板検査装置 - 特許庁
ERROR INSPECTION DEVICE AND REPRODUCING APPARATUS EMPLOYING THE SAME例文帳に追加
誤り検査装置およびそれを用いた再生装置 - 特許庁
Error inspection and correction processing is then executed again.例文帳に追加
その後、誤り検査および訂正処理を再実行する。 - 特許庁
INITIAL ERROR CORRECTION METHOD AND DEVICE OF LEAK INSPECTION DEVICE例文帳に追加
洩れ検査装置の初期誤差補正方法及び装置 - 特許庁
To provide a much more highly reliable page error inspection device and page error inspection method by improving the precision of matching inspection between pages.例文帳に追加
ページ間の整合性検査の精度を向上させ、より信頼度の高いページ誤り検査装置およびページ誤り検査方法を提供する。 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT, AND INSPECTION METHOD OF MARGIN DEGREE OF HOLD TIME ERROR例文帳に追加
集積回路、及びホールドタイムエラーの余裕度の検査方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING OVERLAY ERROR, INSPECTION APPARATUS, AND LITHOGRAPHIC APPARATUS例文帳に追加
オーバレイエラーの測定方法、検査装置及びリソグラフィ装置 - 特許庁
To provide an error inspection and recover system of batch processing, which is flexible to error processing.例文帳に追加
エラー処理に柔軟性をもつバッチ処理のエラー検査復旧システムを提供する。 - 特許庁
The difference of the inspection coordinate from the absolute coordinate is an error included in the inspection coordinate.例文帳に追加
絶対座標に対する検査座標の偏差が検査座標に含まれる誤差である。 - 特許庁
Error inspection processing and error recovery processing at the inspection points and the recovery points can be set arbitrarily to execute flexible error processing.例文帳に追加
検査ポイント及び復旧ポイントでのエラー検査処理とエラーの復旧処理とは任意に設定でき、柔軟なエラー処理を実行することができる。 - 特許庁
The transmission data error inspection information is sent together with the data from the first error inspection information based on the unit data and the second error inspection information based on the number of the unit data.例文帳に追加
単位データに基づく第1の誤り検査情報と、単位データの数に基づく第2の誤り検査情報とに基づいて、送信データ誤り検査情報を、データと共に送信する。 - 特許庁
In such a case, inspection points M1 and M2 are set arbitrarily, and error inspection processing is executed in each of the inspection points.例文帳に追加
その際に、検査ポイントM1、M2を任意に設定し、該検査ポイントごとに定義されたエラー検査処理を実行する。 - 特許庁
To provide an error inspection device which efficiently executes error inspections applied to 32-bit header packets and 64-bit body packets.例文帳に追加
32ビットのヘッダパケットと64ビットのボディパケットに対する誤り検査を効率よく実行する。 - 特許庁
To provide an integrated substrate inspection apparatus which is automated and carries out all of EBR/EEW inspection, pattern defect inspection, and reticle error inspection on a substrate.例文帳に追加
基板のEBR/EEW検査、パターンの欠陥検査及びレティクルエラー検査を全部実施することができる自動化された統合基板検査装置を提供する。 - 特許庁
In an automatic inspection step 31, an imaging inspection obstruction factor determination part determines whether an imaging inspection obstruction factor such as an alignment error, a contact error and a stuck foreign substance exists or not.例文帳に追加
自動検査工程31では、撮像検査阻害要因判定部は、アライメントエラー、コンタクトエラーおよび付着異物などの撮像検査阻害要因の有無を判定する。 - 特許庁
To enable file full error inspection prior to the shipment of a prepaid card unit.例文帳に追加
プリペイドカードユニットの出荷前のファイルフルエラー検査を可能とする。 - 特許庁
To improve efficiency and precision of an inspection of a mounting ERROR.例文帳に追加
実装間違い検査にかかる効率および精度を向上する。 - 特許庁
To provide an ultrasonic inspection device that has low device costs and can reduce an inspection error and hence improve inspection accuracy.例文帳に追加
装置コストが低く、また検査誤差を低減して高精度に検査を行うことができる超音波検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a map data error inspection system, etc., accurately inspecting whether there exists an error in map data.例文帳に追加
地図データに誤りがあるか否か高精度に検査する地図データ誤り検査システム等を提供する。 - 特許庁
To provide a rapid inspection device of a degree of crystallization reduced in error, and an inspection method of the degree of crystallization.例文帳に追加
迅速、且つ、誤差の少ない結晶化度検査装置及び結晶化度検査方法を提供する。 - 特許庁
To obtain an exact inspection result by correcting the error due to swing during visual inspection of a fuel assembly.例文帳に追加
燃料集合体の外観検査時において、揺れによる誤差を補正して精確な検査結果を得る。 - 特許庁
To easily overcome a central error, and improve the efficiency in a lighting inspection work.例文帳に追加
中心誤差を容易に解消して、点灯検査作業の効率化を図る。 - 特許庁
To facilitate the reproducibility of an error by improving an inspection effect by a simulation.例文帳に追加
シミュレーションによる検証効果を向上させ、エラーの再現性を容易にする。 - 特許庁
A second parity inspection part 470 detects the error of the processing data which is retained using the retained second error detection code as a second error.例文帳に追加
第2パリティ検査部470は、保持された第2のエラー検出符号を使用して保持された処理データのエラーを第2のエラーとして検出する。 - 特許庁
A first parity inspection part 460 detects the error of the processing data which is retained using the retained first error detection code as a first error.例文帳に追加
第1パリティ検査部460は、保持された第1のエラー検出符号を使用して保持された処理データのエラーを第1のエラーとして検出する。 - 特許庁
A header inspection section 120 and a body inspection section 200 of the error inspection device 500 use the same 32 clocks to obtain a syndrome of the header packet and the body packet.例文帳に追加
誤り検査装置500において、ヘッダ検査部120およびボディ検査部200は、同じ32クロックにてヘッダパケットおよびボディパケットのシンドロームを求める。 - 特許庁
An image processing section 140 carries out the EBR/EEW inspection on the substrate based on the first image, and carries out the pattern defect inspection and the reticle error inspection based on the second image.例文帳に追加
イメージ処理部140は第1イメージから基板のEBR/EEW検査を実施し、第2イメージからパターンの欠陥検査及びレティクルエラー検査を実施する。 - 特許庁
To eliminate an influence of a pseudo-defect generated by an error in a pattern inspection condition to enhance the sensitivity of pattern inspection.例文帳に追加
パターン検査条件の誤差により発生する疑似欠陥の影響を排除してパターン検査の感度を高めること。 - 特許庁
To provide a technology of efficiently correcting an error such as a magnification error and a positional deviation of inspection image data obtained by reading a print result of paper for the inspection of the print result.例文帳に追加
印刷結果の検査のために、用紙の印刷結果を読み取ることで得られた検査画像データの位置ズレや倍率誤差などの誤差の補正を効率的に行う。 - 特許庁
The data for the inspection is created based on the mask creating data and the error data.例文帳に追加
そしてマスク作成データとこの誤差データに基づいて検査用データを作成する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit, an error inspection method, an error inspection program and a recording medium, for detecting a function module wherein an error occurs of a plurality of function modules with a simple configuration.例文帳に追加
本発明は、複数の機能モジュールのうちどの機能モジュールでエラーが発生しているかを簡単な構成で検出する半導体集積回路、エラー検査方法、エラー検査プログラム及び記録媒体に関する。 - 特許庁
To provide an efficient inspection by preventing the occurrence of quasi-defects due to a position alignment error.例文帳に追加
位置合わせミスによる擬似欠陥の発生を抑制し、効率の良い検査を行うこと。 - 特許庁
To provide an efficient inspection by preventing the occurrence of false defects caused by a position alignment error.例文帳に追加
位置合わせミスによる擬似欠陥の発生を抑制し、効率の良い検査を行うこと。 - 特許庁
To provide an inspection apparatus and an inspection method capable of minimizing a measurement error and accurately measuring a stage position.例文帳に追加
測定誤差を最小限にしてステージ位置を正確に測定することのできる検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁
The shop of the mask is usable as an inspection tool made adaptable to customers and as a printable error inspection tool.例文帳に追加
マスクのショップは顧客に適合した検査ツールとして、及び印刷可能な誤り検出ツールとしてそれを使用可能である。 - 特許庁
When receiving a packet for replying inspection results from the inspection device 90, an error detection means 85 compares the inspection packet with the packet for replying the inspection results so as to detect the presence of errors in the communication port.例文帳に追加
エラー検出手段85は、検査装置90から検査結果返信用パケットを受信したときに、検査用パケットと検査結果返信用パケットとを比較して、通信ポートのエラーの有無を検出する。 - 特許庁
An error correction section 46 corrects an error in a code word and an inspection section 47 checks whether or not the block code after correction is corrected in excess of the error correction capability.例文帳に追加
誤り訂正部46は符号語の誤り訂正を行い、検査部47は訂正後のブロック符号が誤り訂正能力を超えて訂正されているかのチェックを行う。 - 特許庁
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