「inspection mirror」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a three-dimensional shape inspection device for detecting the three-dimensional shape of an object irradiated with a spectrally separated white light by use of a wavelength selecting mirror, and projecting the lights obtained by spectral separation from irradiating angles differed for every wavelength.例文帳に追加

白色光を波長選択ミラーを用いて分光し、分光して得た光を波長毎に異なる照射角度から物体に投光して照物体の立体形状を検知する、三次元形状検査装置を提供する。 - 特許庁

The illumination system 51 of a microscopic inspection system includes an actuator 81 configured to change the angle β_2 of illumination light beams 72, and a mirror assembly 87 that can be selectively positioned in the beam path of the illumination light beams.例文帳に追加

顕微鏡検査システムの照明システム５１は、照明光ビーム７２の角度β_2を変更するように構成されたアクチュエータ８１と、照明光ビームのビーム経路中に選択的に位置決め可能な鏡アセンブリ８７とを含む。 - 特許庁

The light, emitted by a laser oscillator, is throttled by a lens, to be covered directionally by 90° by the mirror 31 provided to the rotating body 22 to irradiate an inspection surface through the moving body 28 attached to the rotary body 22, in a turnable and positionally adjustable manner.例文帳に追加

レーザ発振器で発光された光はレンズで絞られて回転体２２に設けたミラー３１で向きを９０°転換し、回転体２２に回動かつ位置調整可能に取付けた移動体２８を通して検査面に照射される。 - 特許庁

To provide an exposure method by which a mask pattern can be formed with high resolution on the objective surface in a mirror surface state to be processed and automatic inspection of the mask pattern with high accuracy is made possible, and to provide a method for manufacturing a transfer molding die.例文帳に追加

鏡面状態にある被加工面に対し高い解像度でマスクパターンを形成でき、自動かつ高精度なマスクパターン検査を可能とする露光方法及び転写成形用型の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a technology capable of detecting all curved shapes of an inspected surface by one inspection by reflecting a mirror image of an image object at an arbitrary position on the inspected surface caught by a light receiving means, in the surface shape inspection using a complicated curved surfaces such as a concave curved surface or convex curved surface such as a vehicle body surface as the inspected surface.例文帳に追加

車両ボディ表面などの凹曲面又は凸曲面等の複雑な曲面を被検査面とする面形状検査において、受光手段が捉えた被検査面の任意の位置において像対象物の鏡像が映るようにして、一度の検査で被検査面の曲面形状を残らず検出することのできる技術を提案する。 - 特許庁

The ultraviolet light reflected by the semi-transparent mirror 4 into a conical surface reflector 5 along the optical path axis of the image capturing means 6 is reflected by the conical surface reflector 5 and irradiated on an outer circumferential surface of the inspection target object 1.例文帳に追加

半透鏡４を反射し画像取り込み手段６の光路軸上に沿って円錐面状反射鏡５へ入射された紫外光は、円錐面状反射鏡５で反射され検査対象物１の外周表面を照射する。 - 特許庁

To provide a pattern drawing apparatus which is inexpensive and in which pattern forming processes are reduced, when patterns in mirror image relation with respect to a substrate are formed on both faces of the substrate and a pattern drawing method, and to provide an inspection apparatus in the pattern drawing apparatus.例文帳に追加

基板に関して鏡像関係となるパターンを基板の両面に形成する場合において、低コストで、工程が短縮化されたパターン描画装置およびパターン描画方法、ならびにこのパターン描画装置における検査装置を実現する。 - 特許庁

For this reason, after the semiconductor device is mounted on the mounting board, the mounted circumstances of the solder are subjected to visual inspection, but at this time, the second insulating substrate 48 serves as a back mirror, thereby grasping the depth of the mounted circumstances of the solder.例文帳に追加

そのことで、半導体装置を実装基板に実装後、半田の実装状況を外観検査するが、この時、第２の絶縁基板４８はバック鏡としての役割を果たし、半田の奥行き実装状況を把握することができる。 - 特許庁

To provide a marking inspection device capable of shortening the measuring time, and measuring the depth of a marked character formed with a V-groove shape or a U-groove shape, and having less influence on measurement accuracy, even with a mirror-reflecting marked surface.例文帳に追加

測定時間を短縮することができ、Ｖ字溝やＵ字溝状で形成された刻印文字の深さ計測を可能とするとともに、鏡面反射する刻印面であっても測定精度への影響が少ない刻印検査装置を提供する。 - 特許庁

In this graph of the spectral function, a peak part corresponding to a prescribed spatial frequency which the original image for inspection has is specified, and based on the height and the half-value width of the peak part, it is decided whether the shape of the aspheric mirror 50 is appropriate or not.例文帳に追加

このスペクトル関数のグラフにおいて、検査用原画像が有する所定の空間周波数に対応したピーク部を特定し、そのピーク部の高さおよび半値幅に基づき、非球面ミラー５０の形状が適格か否かを判定する。 - 特許庁

To provide a multiple beam scanning color inspection device which can acquire a three-dimensional color image, and the beam scanning device performs a scan deflecting the beam from a light emitting element by a rotating polygon mirror, and reads information on a light beam irradiated object.例文帳に追加

発光素子からのビームを回転するポリゴンミラーにて偏向させて走査を行い、このビームが照射された物体の情報を読み取る、ビーム走査装置であって、３次元カラー画像を取得可能なマルチビーム走査カラー検査装置を提供することである。 - 特許庁

The inspection apparatus 10 includes: a camera 11 for photographing an oral part 2 of a bottle 1 which is the object to be inspected, through the fisheye lens 15 in the axial direction; and a cylindrical mirror 12 which is disposed between the fisheye lens 15 and the bottle 1 so as to be coaxial with the oral part 2.例文帳に追加

検査対象物としてのボトル１の口部２を軸線方向から魚眼レンズ１５を介して撮像するカメラ１１と、魚眼レンズ１５とボトル１との間にて口部２と同軸的に配置される円筒ミラー１２とを検査装置１０に設ける。 - 特許庁

Since laser drivers 21 and 22 respectively adjust the coherence lengths of inspection light rays generated from semiconductor lasers 12a and 12b, interference fringes can only be formed with respect to the surface of the object to be measured having an optical path near the optical path on a reference planar mirror 16 side.例文帳に追加

レーザドライバ２１、２２が半導体レーザ１２ａ、１２ｂから発生させる検査光のコヒーレンス長を調整するので、コヒーレンス長を所定範囲内に短くした場合、参照平面ミラー１６側の光路に近い光路を有する面のみに関して干渉縞を形成することができる。 - 特許庁

The ultrasonic inspection system 10 is constituted by including: a laser drive device 12; a galvanometer mirror 14 which scans the surface of the front board member 62 with a laser beam; ultrasonic probes 16, 18 which are arranged at parts where a rear board member 64 is exposed seen from the front board member 62; and a controller 30 and the like.例文帳に追加

超音波検査システム１０は、レーザ駆動装置１２、表板部材６２の表面にレーザ光を走査させるガルバノミラー１４、表板部材６２から見て裏板部材６４が露出している箇所に配置される超音波探触子１６，１８、制御装置３０等を含んで構成される。 - 特許庁

By moving the image pick-up means or the mirror in a direction to be closer to or separating from the container according to the change quantity by a moving means, the image pick-up means can always focus the main inspection part of the container and pick up a clear image, thus attaining accurate quality level determination.例文帳に追加

移動手段により、撮像手段又は鏡を前記変化量に対応して容器に対して接近又は離隔する方向に移動させることで、撮像手段は常に容器の主要検査部に対してピントが合い、鮮明な画像を撮像することができ、正確な良否判定が可能となる。 - 特許庁

Light containing a reference light reflected by the semi-transparent mirror 22 and inspection light reflected by the measured object 3 is branched by a beam splitter 32, transmission branch light is guided to the first branch optical path 33, and reflection branch light is guided to the second branch optical path 34 provided with an optical path length-variable means.例文帳に追加

半透鏡２２で反射された参照光と被測定物３で反射された検査光とを含む光を、ビームスプリッタ３２で分岐し、透過分岐光を第１の分岐光路３３へ、反射分岐光を光路長可変手段を備えた第２の分岐光路３４へ導く。 - 特許庁

An inspection unit 11 constituted of the test lens 8, a plane mirror 9, and a Z-stage 10 has an inclined constitution centered at an approximately pupil position of the test lens 8, and each I-Z curve on the axis and out of the axis of the test lens 8 is determined corresponding to the tilt angle at that time.例文帳に追加

被検レンズ８、平面ミラー９およびＺステージ１０で構成される被検出ユニット１１を被検レンズ８の略瞳位置を中心に傾ける構成とし、この時の傾斜角度に対応させて被検レンズ８の軸上軸外のそれぞれのＩ−Ｚカーブを求める。 - 特許庁

To provide inexpensively a method and a device for inspecting automatically the existence of minute irregularities on the surface of an inspection object having a non-mirror finished surface such as a rolled band steel, and to increase an object region where the minute irregularities are to be inspected in the whole length of the band steel.例文帳に追加

圧延帯鋼のように非鏡面の表面を有する被検査体について、表面の微小凹凸の有無を自動的に検査する方法及び装置を安価に提供するとともに、帯鋼全長のうち微少凹凸を検査する対象領域を増大する。 - 特許庁

The welding electrode inspection device is constituted such that the camera 2 can detect the image of one welding electrode tip 501 of the pair of welding electrode tips 5 directly and can detect the image of the other welding electrode tip 502 indirectly through the reflection mirror 3.例文帳に追加

一対の溶接電極チップ５のうちの一方の溶接電極チップ５０１を、カメラ２によって直接的に画像検出すると共に、他方の溶接電極チップ５０２を、反射鏡３を介してカメラ２によって間接的に画像検出することができるよう構成されている。 - 特許庁

An optical fiber end face inspection device includes a body having a magnifying lens for observing an end face 10a of an optical fiber 10; and an optical fiber holder 2 attachable/detachable to/from the body for holding the optical fiber 10, and having a mirror 24 for observing the end face 10a of the optical fiber 10.例文帳に追加

光ファイバ１０の端面１０ａを観察するための拡大レンズを備える本体部と、本体部に着脱可能であるとともに光ファイバ１０を把持し、光ファイバ１０の端面１０ａを観察するための鏡２４が設けられた光ファイバ把持具２と、を備える。 - 特許庁

To accurately discriminate when using a laser light scattering surface inspection device whether a light scattering bodies on a mirror-finished silicon wafer surface, is caused by sticking foreign objects such as sticking dust or caused by minute defects.例文帳に追加

レーザ光散乱式表面検査装置を用いて測定検出された鏡面加工シリコンウエハ表面上の光散乱体が、付着ダスト等の異物付着に起因する光散乱体であるか、または、微細欠陥に起因する光散乱体であるかを正確に識別できるシリコンウエハ表面微細欠陥の評価方法を提供する。 - 特許庁

The welding electrode inspection device 1 has a camera 2 as an image sensor arranged such that its light axis is oblique to the axial direction of the pair of welding electrode tips 5, and a reflection mirror 3 arranged opposedly to the camera 2 on the opposite side of the camera 2 interposing a gun space 52 formed between the pair of welding electrode tips 5.例文帳に追加

溶接電極検査装置１は、一対の溶接電極チップ５の軸方向に対して光軸が斜めになるように配設した画像センサとしてのカメラ２と、一対の溶接電極チップ５の間に形成されるガンスペース５２を挟んでカメラ２と反対側において、該カメラ２に対向配置される反射鏡３とを有する。 - 特許庁

In the inspection method of the nonmetal inclusion in steel, the surface of steel subjected to mirror surface polishing is observed using an optical microscope using a single wavelength laser beam source as an illumination light source and the nonmetal inclusion is discriminated on the basis of the brightness difference between steel and the nonmetal inclusion in the observed variable density image.例文帳に追加

本発明に係る鋼中非金属介在物検査方法は、照明光源として単波長レーザ光源を使用した光学顕微鏡を用いて鏡面研磨した鋼の表面を観察し、観察した濃淡画像における鋼と非金属介在物との輝度差に基づいて、非金属介在物を識別することを特徴とする。 - 特許庁

Priority order of mask inspection accuracy is decided for an element graphic, included in layout data from net list information (differential pair circuit and current mirror circuit) of a quality priority circuit which is extracted by a quality priority circuit net list extracting device 3, and layout information (row/column/array structure) of the quality priority circuit which is extracted by a quality priority circuit layout extracting device 5.例文帳に追加

品質優先回路ネットリスト抽出装置３で抽出した品質優先回路のネットリスト情報（差動対回路、カレントミラー回路）と品質優先回路レイアウト抽出装置５で抽出した品質優先回路のレイアウト情報（行／列／アレイ構造）から、レイアウトデータに含まれる素子図形に対してマスク検査精度の優先順位を決定する。 - 特許庁

Accordingly, the inspection light with which one reflector 2D of the pair of reflectors 2D is irradiated, is reflected toward the other reflector 2D, and the intensity of light reflected by the other reflector 2D and its intensity distribution are detected, thereby the parallelism and displacement between the mirror chips 2 can be determined in a single measurement procedure.例文帳に追加

これにより、一対の反射部２Ｄのうちいずれか一方の反射部２Ｄに照射された検査光を他方の反射部２Ｄに向かうように反射させるとともに、他方の反射部２Ｄで反射した光の光量及び光量分布を検出することにより、ミラーチップ２間の平行度と位置ずれを一度の測定で判断することができる。 - 特許庁

The defect inspection device of the present invention is equipped with a laser light source 1, emitting optical beam; a one-dimensional diffraction grating converting light into one-dimensional multi-beam; an objective lens 9 for converging multi-beams; a half-mirror 6a separating the optical beam reflected from a sample from the optical beam entering into the sample; and a wedge 17 bifurcating the separated optical beams.例文帳に追加

本発明にかかる欠陥検査装置は光ビームを発生するレーザー光源１と、光を１次元のマルチビームに変換する１次元回折格子と、マルチビームを集束する対物レンズ９と、試料で反射した光ビームを試料に入射する光ビームから分離するハーフミラー６ａと、分離された光ビームを分岐するウェッジ１７を備えている。 - 特許庁

To provide a highly flexible substrate inspection device capable of reducing a cost by remarkable size reduction of an image focusing lens and by simple constitution using a usual compact PSD, capable of realizing a precise measuring system able to cancel an error such as face failure by passing measuring light again through a scan mirror, and capable of changing freely an image formation magnification.例文帳に追加

結像レンズを大幅に小型化し、通常の小型ＰＳＤを用いた簡単な構成とすることによりコストを低減し、また測定光を再度走査ミラーに通すことにより面倒れなどの誤差をキャンセルできる高精度な測定系を実現し、さらに結像倍率を自由に変更できる柔軟性の高い基板検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

This inspection device 1 is constituted to inspect the shape of the external lead, using the electronic component as an object to be inspected, and is provided with a laser beam irradiating means 11 for irradiating lead groups 4 arrayed with the external leads 2 by a laser beam, and a mirror 10 for reflecting the transmission beam transmitted through the lead groups 4 to a direction different from a package part 3.例文帳に追加

検査装置１は、電子部品を被検査対象として外部リードの形状検査を行うよう構成されており、外部リード２が列設されたリード群４に対してレーザ光を照射するレーザ光照射手段１１と、リード群４を通過した通過光をパッケージ部３とは異なる方向に反射させるミラー１０が設けられた構成をなしている。 - 特許庁

To provide an evaluating method of a minute defect in a silicon wafer that can detect the minute defect that is smaller than the detection lower limit of a light scattering type surface inspection apparatus on a silicon wafer surface that is smoothed by mirror machining, and can further detect the minute defect that exists not only on the wafer surface but also inside a wafer surface layer that influences the performance of a device formed on the wafer surface.例文帳に追加

鏡面加工により平滑化されたシリコンウエハ表面において、光散乱式表面検査装置の検出下限界よりも小さいサイズの微小欠陥を検出することができ、しかも、ウエハ表面だけでなく、その上に形成されるデバイスの性能に影響を及ぼすウエハ表層内部に存在する微小欠陥をも検出することができるシリコンウエハの微小欠陥の評価方法を提供する。 - 特許庁

The demand consisted of the removal of 12 'evil subjects trying to disturb the world in agreement with Yukiie and Yoshitsune' such as TAIRA no Chikamune and TAKASHINA no Yasutsune, governmental management by the Imperial Court by 10 giso kugyo (Noble Council) (Kanezane KUJO, Sanesada TOKUDAIJI, Sanefusa SANJO, FUJIWARA no Muneie, Tadachika NAKAYAMA, FUJIWARA no Saneie, MINAMOTO no Michichika, Tsunefusa YOSHIDA, FUJIWARA no Masanaga, and FUJIWARA no Kanemitsu), and the Imperial edict of inspection to Kanezane (the item of December six of "Azuma Kagami" [The Mirror of the East], the item of December 27 of "Gyokuyo" [Diary of Kanezane KUJO]). 例文帳に追加

内容は「行家義経に同意して天下を乱さんとする凶臣」である平親宗・高階泰経ら12名の解官、議奏公卿10名による朝政の運営（九条兼実・徳大寺実定・三条実房・藤原宗家・中山忠親・藤原実家・源通親・吉田経房・藤原雅長・藤原兼光）、兼実への内覧宣下だった（『吾妻鏡』12月6日条、『玉葉』12月27日条）。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス