「inspection mirror」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

MIRROR SURFACE INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

鏡面検査方法およびその装置 - 特許庁

CONDUIT INSIDE SURFACE INSPECTION APPARATUS USING MIRROR例文帳に追加

ミラーを用いた管渠内面検査装置 - 特許庁

MIRROR ELECTRON MICROSCOPE, AND INSPECTION DEVICE USING MIRROR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ミラー電子顕微鏡およびミラー電子顕微鏡を用いた検査装置 - 特許庁

BOTTLE INSPECTION APPARATUS WITH IMAGE-CORRECTED MIRROR CABINET例文帳に追加

画像補正ミラーキャビネットを有するボトル検査装置 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING MIRROR SURFACE PRECISION FOR CURVED SURFACE MIRROR, INSPECTION DEVICE FOR MIRROR SURFACE PRECISION FOR FOR CURVED SURFACE MIRROR, PREPARATION METHOD FOR MIRROR SURFACE PRECISION INSPECTING PATTERN FOR CURVED SURFACE MIRROR, AND MIRROR SURFACE PRECISION INSPECTING PATTERN FOR CURVED SURFACE MIRROR例文帳に追加

曲面鏡の鏡面精度検査方法、曲面鏡の鏡面精度検査装置、曲面鏡の鏡面精度検査用パターンの作成方法および曲面鏡の鏡面精度検査用パターン - 特許庁

To provide an inspection mirror which allows the easy inspection work in a drain pipe.例文帳に追加

排水管内の点検作業が容易にできる点検鏡を提供する。 - 特許庁

COMPOUND MIRROR PRISM FOR VISUAL INSPECTION AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

目視検査用複合ミラープリズム及びその製造方法 - 特許庁

APPEARANCE IMAGE EXPANSION MIRROR APPARATUS AND APPEARANCE IMAGE AUTOMATIC INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

外観像展開ミラー装置及び外観像自動検査システム - 特許庁

MIRROR ELECTRON MICROSCOPE, AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT例文帳に追加

ミラー電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置 - 特許庁

To easily, surely and quickly perform inspection of a current mirror circuit.例文帳に追加

カレントミラー回路の検査を容易かつ確実に素早く行う。 - 特許庁

The pattern for the inspection is reflected on the inspection-objective curved surface mirror, a reflection image therein is picked up by the imaging means, and the mirror surface precision of the inspection-objective curved surface mirror is inspected based on the picked-up reflection image.例文帳に追加

検査用パターンを作製された検査対象曲面鏡で反射し、その反射像を前記撮像手段で撮像し、該撮像された反射像に基づき該検査対象曲面鏡の鏡面精度を検査する。 - 特許庁

REFLECTING MIRROR FOR FUEL ASSEMBLY VISUAL INSPECTION APPARATUS AND THE FUEL ASSEMBLY VISUAL INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

燃料集合体の外観検査装置用反射鏡および燃料集合体の外観検査装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM OF PATTERN DEFECT INSPECTION BY USING ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE AND MIRROR ELECTRON PROJECTION TYPE OR MULTIPLE BEAM TYPE ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE例文帳に追加

電子線検査装置を用いたパターン欠陥検査方法及びそのシステム、並びに写像投影型又はマルチビーム型電子線検査装置 - 特許庁

Inspection light from a sensor head 20 is reflected to the mirror surface 35b side of the circular cone body 35 by the mirror surface 12a of a mirror 12 disposed on the optical axis.例文帳に追加

センサヘッド２０からの検査光は、光軸上に配設されているミラー１２のミラー面１２ａにて、円錐体３５のミラー面３５ｂ側へ反射される。 - 特許庁

To provide a fuel rod spacing inspection method for facilitating inspection of the spacing of fuel rods even if the fuel rods are mirror-finished, and to provide a fuel rod spacing inspection device.例文帳に追加

燃料棒間隔検査方法およびその装置において、鏡面仕上げが施された燃料棒であっても燃料棒間隔を容易に検査できる。 - 特許庁

An image pick-up means is arranged targeting a main inspection part of the container, or targeting the main inspection part of the container through a mirror.例文帳に追加

容器の主要検査部を狙って、又は鏡を介して容器の主要検査部を狙って撮像手段を配置する。 - 特許庁

An arrangement position of the inspection-objective curved surface mirror, an imaging position of an imaging means, and an arrangement position of a pattern for inspection are supposed respectively.例文帳に追加

検査対象曲面鏡の配置位置、撮像手段の撮像位置、検査用パターンの配置位置をそれぞれ想定する。 - 特許庁

An aspheric mirror 50 is provided in a projection optical system 40 for inspection and an original image for inspection is displayed on a transmission type liquid crystal panel 30.例文帳に追加

検査用投影光学系４０内に非球面ミラー５０を配設し、透過型液晶パネル３０に検査用原画像を表示する。 - 特許庁

To enable an effective automatic inspection of a semiconductor device by means of an optical inspection device even when the rear surface of the semiconductor device is subjected to mirror finishing.例文帳に追加

裏面が鏡面化処理された場合であっても、光学式検査装置による効率的な自動検査を可能とすること。 - 特許庁

To provide a compound mirror prism for visual inspection causing no conduction failure between faces.例文帳に追加

面と面との間で導通不良の生じない目視検査用複合ミラープリズムを提供する。 - 特許庁

To provide a sunlight irradiation apparatus capable of easily performing cleaning work for a reflection mirror and maintenance and inspection work for a driving part to rotate the reflection mirror.例文帳に追加

反射鏡の清掃作業や反射鏡を回動させる駆動部の保守点検作業が容易な太陽光照射装置を提供する。 - 特許庁

The inspection implement for sewerage is constituted of a bar-shaped lever, an elastic material-made inspection mirror holder which is fitted to the tip end of the lever so as to project forward and deformed in an arc-shape by a pushing pressure, and an inspection mirror fitted to the part except the front end and rear end of the mirror holder through the mirror mounting implement.例文帳に追加

棒状の柄と、この柄の先端部に前方へ突出するように取付けられた、押し圧力によって弧状に変形する弾性材性の点検ミラー支持具と、この点検ミラー支持具の先端部および後端部を除く部位にミラー取付具を介して取付けられた点検ミラーとで下水設備用点検具を構成している。 - 特許庁

In a method for shaping full-length mirror of inspection jig, the shape of the full-length mirror 10 of a jig which is used for inspecting parts W having successively provided bent flange surfaces Wa and Wb is formed.例文帳に追加

折曲した連設フランジ面Ｗ_a ，Ｗ_b を有する部品Ｗを検査するための治具における姿見１０の形状を作成する。 - 特許庁

To provide a machine for glass container inspection enabling to perform easily necessary washing to a mirror or the like.例文帳に追加

ミラーなどに必要な洗浄を容易に行えるようにする、ガラス容器検査用の機械を提供する。 - 特許庁

To provide an electron beam type measurement and inspection apparatus and a measurement and inspection method featuring a reduced divergence in electron beam scanning caused by a mirror body current noise.例文帳に追加

鏡体電流ノイズで発生する電子ビーム走査ずれを低減した電子ビーム式計測および検査装置と計測および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a distortion inspection method and a distortion inspection device capable of inspecting a distortion direction as well as a distortion amount, and performing fine inspection on a peripheral part, concerning a method for inspecting distortion of a reflecting surface of a mirror or the like such as a plane mirror or a curved surface mirror with higher accuracy than hitherto, and the inspection device.例文帳に追加

本発明は、例えば平面鏡と曲面鏡をミラー等の反射面の歪みを、従来よりも高精度に検査する方法及び歪み検査装置に関するものであり、歪み量の検査とともに、歪みの方向も検査することができ、又、周辺部においても細かい検査を行うことができる歪み検査方法およびゆがみ検査装置を提供することにある。 - 特許庁

It was submitted to the emperor for inspection on May 5, 1312 ("Masukagami" (The Clear Mirror)), and completed in October 1313 after some further editing. 例文帳に追加

正和元年3月28日(旧暦)（1312年5月5日）に奏覧され（『増鏡』）、切継作業を経て同2年10月に完成。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

A reflector 2D is disposed on a diagonal position of each of mirror chips 2, in order to reflect inspection light for inspecting the parallelism and displacement between the pair of mirror chips 2.例文帳に追加

一対のミラーチップ２間の平行度及び位置ずれを検出するための検査光を反射させる反射部２Ｄを各ミラーチップ２の対角の位置に設ける。 - 特許庁

The total inspection path distance for the ultrasonic radiation includes a first portion defined by the transducer-to-mirror distance, and a second portion including the mirror-to-object distance.例文帳に追加

超音波放射線の総検査経路距離は、トランスデューサ−ミラー距離によって定まる第１の部分とミラー−対象物距離を含む第２の部分とを含む。 - 特許庁

A inspection device of a tape reel is provided with a light projector 11, a first inspection device 10 constituted of a mirror 12 and a light receiver 13, a light projector 21, a second inspection device 20 constituted of a mirror 22 and a light receiver 23, and a rotating device 30 rotating a tape reel 40.例文帳に追加

テープリールの検査装置は、投光器１１、ミラー１２及び受光器１３から構成される第１の検査装置１０と、投光器２１、ミラー２２及び受光器２３から構成される第２の検査装置２０と、テープリール４０を回転させる回転装置３０とを備えて構成されている。 - 特許庁

Selection of the acoustic mirror is at least partly dependent on the selected transducer 20, the total inspection path distance, and curvature of the incident surface 26 of the inspection object 24.例文帳に追加

音響ミラーの選択は、少なくとも部分的に選択トランスデューサ（２０）、総検査経路距離、及び検査対象物（２４）の入射表面（２６）の曲率に応じて決まる。 - 特許庁

To provide a pattern inspection technology enabling inspecting the surface shape by the inspection device of mirror electron projection type even though the resist material is formed on the sample.例文帳に追加

試料上にレジスト材料が形成されていても、その表面形状を、ミラー電子プロジェクション式検査装置によって検出可能にするパターン検査技術を提供する。 - 特許庁

The ring-shaped laser beam is reflected by the oval doughnut-shaped mirror 18, arranged so that the inspection target 20 pierces the opening of the inspection target for irradiating the desired position P of the inspection target 20.例文帳に追加

検査対象物２０でその開口が貫通されるように配置された楕円ドーナツ状ミラー１８でリング状レーザビームを反射し、検査対象物２０の所望の位置Ｐにリング状レーザビームを照射する。 - 特許庁

The optical inspection device 1 includes a light source 4 generating a light beam, a beam splitter 2, a reference mirror 3, a detector 8, or the like.例文帳に追加

光学検査装置１は、光ビームを発生する光源４、ビームスプリッタ２、参照鏡３、検出器８等を有する。 - 特許庁

Thus, the preceding formation of the mirror face and the deflecting face, and the handlings in the inspection and the packing are made easier.例文帳に追加

そのため、その後の蒸着による鏡面や偏向面形成、検査、梱包作業時の取り扱いが容易となる。 - 特許庁

To provide an objective mirror replacing device capable of replacing an objective mirror simply as much as possible, and at the same time, bringing a free space which is large as much as possible in the periphery of the objective mirror and an inspection sample placed on an operation position, and to provide a microscope including the objective mirror replacing device.例文帳に追加

できるだけ簡単な対物鏡交換を可能にし、一方で操作位置に置かれた対物鏡と検査標本の周囲に出来るだけ大きな自由空間をもたらす、対物鏡交換装置及び当該対物鏡交換装置を備えた顕微鏡を具体化することである。 - 特許庁

Before installing the aluminum glaze or the acrylic mirror, the surrounding environment is inspected and a sort of mirror and a place are selected depending on the inspection of flying routes and nests of crows.例文帳に追加

アルミ薬またはアクリルミラーの設置事前に、周辺の環境調査を行い、カラスの飛来ルートやねぐら、営巣の存在の調査によってミラーの種類や場所を選定する。 - 特許庁

The inspection pedestal has a base section having a mirror plane inclined so that the normal points to an oblique upside, and a frame section for arranging the sheet in front of the mirror plane of the base section substantially horizontally.例文帳に追加

上記検査台は、法線が斜め上方を向くよう傾斜した鏡面を有する基台部と、その鏡面の前方に薄板を略水平に配置する架台部とを有している。 - 特許庁

The inspection-objective curved surface mirror prepared actually based on the design data, the imaging means and the prepared pattern for the inspection are arranged in corresponding positions estimated respectively when preparing the pattern for the inspection.例文帳に追加

設計データに基づき実際に作製された検査対象曲面鏡と、撮像手段と、前記作成された検査用パターンを、前記検査用パターンの作成時に想定した各対応する位置またはこれと同等な位置に配置する。 - 特許庁

The method of inspecting the communication system includes the steps of connecting a fault inspection device to an ECU (S11), changing a vehicle mode into a communication system inspection mode (S12), and equipping with a metal shield implement to a rearview mirror carrying a receiver of non-inspection object (S13).例文帳に追加

ＥＣＵに異常検査装置を接続し（Ｓ１１）、車両モードを通信システム検査モードに変更して（Ｓ１２）、非検査対象の受信装置を搭載するサイドミラーに対して金属製のシールド具を装着する（Ｓ１３）。 - 特許庁

To provide a mirror electron projection type ( including an MPJ type (also including an SEPJ type)) electron beam inspection device which is made possible to optimize a condition and a pattern defect inspection method and system by using the above electron beam inspection device.例文帳に追加

条件出しができるようにした写像投影型（ＭＰＪ型（ＳＥＰＪ）型も含む））電子線検査装置並びにこれら電子線検査装置を用いたパターン欠陥検査方法及びそのシステムを提供することにある。 - 特許庁

The pattern for the inspection in an arrangement position of the pattern for the inspection is found by a ray tracing computation to be prepared, so as to bring a reflection image of the pattern for the inspection imaged in the imaging position into a linear or a truly round pattern having no distortion, based on a design data for the inspection-objective curved surface mirror.例文帳に追加

検査対象曲面鏡の設計データを基に、撮像位置で撮像される検査用パターンの反射像がゆがみのない直線状または真円状のパターンとなるように、検査用パターン配置位置での該検査用パターンを光線追跡演算で求めて作成する。 - 特許庁

An open part 10b is provided on a second substrate 10B facing the mirror 10E, a light source for inspection 14 is installed in a way that inspection light can be introduced into the open part 10b.例文帳に追加

ミラー１０Ｅに面して第２基板１０Ｂには開口部１０ｂが設けられており、この開口部１０ｂに検査光を入射可能にして検査用光源１４が設置される。 - 特許庁

Since both mirror surfaces 12a, 35b are disposed in parallel, the inspection light reflected by the mirror surface 35b of the circular cone body 35 is irradiated orthogonally toward the flat surface 2b of the cylindrical body 2, and scans around the flat surface 2b by rotation of the mirror 12.例文帳に追加

両ミラー面１２ａ，３５ｂは平行に配設されているため、円錐体３５のミラー面３５ｂで反射された検査光は、円筒体２の平坦面２ｂに直角に照射され、ミラー１２の回転により平坦面２ｂを周回して走査する。 - 特許庁

By employing the same holding as used for the multilayer mirror, accurate inspection and correction of the mirror for EUV exposure wherein influence of heat is little, strain by holding is not present, and small dead weight deformation is enabled.例文帳に追加

多層膜ミラーのホールディングを同一に行うことで、熱の影響が少なく、ホールディングによるひずみもなく、自重変形も少ない正確なＥＵＶ露光用ミラーの検査及び修正が可能となる。 - 特許庁